[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2000082646A - Method and device for applying coating solution - Google Patents

Method and device for applying coating solution

Info

Publication number
JP2000082646A
JP2000082646A JP25072098A JP25072098A JP2000082646A JP 2000082646 A JP2000082646 A JP 2000082646A JP 25072098 A JP25072098 A JP 25072098A JP 25072098 A JP25072098 A JP 25072098A JP 2000082646 A JP2000082646 A JP 2000082646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
valve
substrate
coating
closing speed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25072098A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Ogura
浩之 小椋
Takuya Sanari
卓也 左成
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP25072098A priority Critical patent/JP2000082646A/en
Publication of JP2000082646A publication Critical patent/JP2000082646A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and device for applying coating solution by which the prevention of nonuniform application of the coating solution can be adjusted automatically and the occurrence of nonuniform application can be prevented continuously. SOLUTION: A substrate coator which forms a coating film on a substrate W by supplying a coating solution from a nozzle 5 is provided with an on-off valve 8 the closing speed of which can adjusted at the time of stopping the supply of the coating solution from the nozzle 5 and a CCD camera 13 which takes the picture of the space between the nozzle 5 and substrate W. The coator is also provided with an application stopping position detecting section 20 which detects the application stopping position of the coating solution based on the picture taken with the camera 13 when the supply of the solution from the nozzle 5 is stopped by means of the valve 8 and a control section 12 which adjusts the closing speed of the valve 8 so that the detected application stopping position may become a prescribed position.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に基板と称す
る)に対してフォトレジスト液などの塗布液を供給して
塗布被膜を形成するための塗布液供給方法及びその装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for applying a photoresist liquid or the like to a semiconductor wafer, a glass substrate for a photomask, a glass substrate for a liquid crystal display, a substrate for an optical disk (hereinafter simply referred to as a substrate). The present invention relates to a method and an apparatus for supplying a coating liquid for supplying a coating liquid to form a coating film.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板にフォトレジスト被膜を形成するに
は、例えば、基板塗布装置の回転支持部によって基板を
水平姿勢で低速回転させ、エア弁を開放してノズルから
フォトレジスト液の供給を開始する。そして、供給され
たフォトレジスト液が基板の表面全体を覆った後にエア
弁を閉止してノズルからのフォトレジスト液の供給を停
止し、高速回転に切り換えることによって余剰のフォト
レジスト液を振り切るとともに溶媒を揮発させて一定膜
厚のフォトレジスト被膜を基板の表面に形成するように
なっている。
2. Description of the Related Art In order to form a photoresist film on a substrate, for example, the substrate is rotated at a low speed in a horizontal posture by a rotation support portion of a substrate coating apparatus, an air valve is opened, and the supply of a photoresist liquid from a nozzle is started. I do. Then, after the supplied photoresist solution covers the entire surface of the substrate, the air valve is closed to stop the supply of the photoresist solution from the nozzle, and by switching to high-speed rotation, excess photoresist solution is shaken off and the solvent is removed. Is volatilized to form a photoresist film having a constant thickness on the surface of the substrate.

【0003】ところで、最近の半導体製造技術は線幅の
微細化に伴ってフォトレジスト被膜の薄膜化、つまりフ
ォトレジスト液の低粘度化が進んでいる関係上、フォト
レジスト被膜には塗布ムラが生じやすくなっている。こ
の塗布ムラとしては、円形状のムラ(レイク(lake)と呼
ばれる)や基板の周辺部に向かって放射状に生じる不均
一な線状のムラ(ストリエーション(striation) と呼ば
れる)が代表的なものである。これらの塗布ムラが生じ
ると膜厚が不均一となって後の工程に悪影響を与えるの
で、塗布ムラが発生した場合には一旦フォトレジスト被
膜を剥離するとともに、装置を調整してから再びフォト
レジスト被膜を形成するようになっている。
[0003] In recent semiconductor manufacturing techniques, the photoresist film has become thinner as the line width has become finer, that is, the viscosity of the photoresist solution has been reduced. It is easier. Typical examples of the coating unevenness include a circular unevenness (called a "lake") and a non-uniform linear unevenness (called a "striation") radially generated toward the periphery of a substrate. It is. If these coating irregularities occur, the film thickness becomes non-uniform and adversely affects subsequent processes. Therefore, when the coating irregularities occur, the photoresist film is once removed, and the photoresist is adjusted again after adjusting the apparatus. A coating is formed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、上述した調整を行うには、まず処理を
一時的に中断し、エア弁のニードルを操作して弁の閉止
速度を適宜に調整してからダミー基板に塗布を行なう。
そして、ダミー基板に塗布ムラが生じていないかを検査
し、塗布ムラが生じなくなるまでこれらの調整、塗布、
検査を繰り返し行う必要がある。したがって塗布ムラ防
止の調整が極めて煩雑で長時間を要するという問題点が
ある。
However, the prior art having such a structure has the following problems. That is, in order to perform the above adjustment, first, the process is temporarily interrupted, the needle of the air valve is operated to appropriately adjust the closing speed of the valve, and then the coating is performed on the dummy substrate.
The dummy substrate is inspected for uneven coating, and these adjustments, coating, and
Inspections need to be repeated. Therefore, there is a problem that adjustment for preventing coating unevenness is extremely complicated and requires a long time.

【0005】なお、上記のエア弁のニードルは自然に緩
んだりしないため調整したエア弁自体の閉止速度は略不
変であるが、ノズルにフォトレジスト液を供給する配管
には一般的にフィルタが取り付けられているためフィル
タの目詰まりに起因して吐出レート(時間当たりの吐出
流量など)が変動し、これによりエア弁のフォトレジス
ト液に対する相対的な閉止速度が経時的に変わる(速く
なる)。また、フォトレジスト液をノズルへ送り込むポ
ンプの経時変化によってもエア弁のフォトレジスト液に
対する相対的な閉止速度が変動することになり、上記の
ような塗布ムラ防止の調整を行う必要が生じる。
Since the needle of the air valve does not loosen spontaneously, the closing speed of the adjusted air valve itself is substantially invariable. However, a filter is generally attached to the piping for supplying the photoresist liquid to the nozzle. As a result, the discharge rate (discharge flow rate per time, etc.) fluctuates due to clogging of the filter, whereby the relative closing speed of the air valve with respect to the photoresist liquid changes over time (increases). In addition, the relative closing speed of the air valve with respect to the photoresist liquid also fluctuates due to a temporal change of a pump that sends the photoresist liquid to the nozzle, and it is necessary to perform the above-described adjustment for preventing the coating unevenness.

【0006】その上、塗布ムラの発生は塗布済みの基板
を目視検査しなければ判断できないため、複数枚の基板
を順次に処理してゆく場合には一旦塗布ムラが生じると
継続的に複数枚の基板に塗布ムラが生じるという問題も
ある。
In addition, since the occurrence of coating unevenness cannot be determined without visually inspecting the coated substrate, if a plurality of substrates are sequentially processed, once the coating unevenness occurs, a plurality of coated substrates are continuously generated. There is also a problem that uneven coating occurs on the substrate.

【0007】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、塗布液の液切れ位置を所定の位置に保
持するように自動的に調整することにより、塗布ムラ防
止の調整を自動的に行うことができ、継続的に塗布ムラ
が生じることを防止することができる塗布液塗布方法及
びその装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances, and an adjustment for preventing coating unevenness is performed by automatically adjusting a position at which a coating liquid runs out at a predetermined position. An object of the present invention is to provide a method and an apparatus for applying a coating liquid, which can be performed automatically and can prevent the occurrence of coating unevenness continuously.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の方法発明は、基板に対して塗布液
を供給して塗布被膜を形成するための塗布液供給方法に
おいて、ノズルからの塗布液の供給を開閉弁により停止
した際に、ノズルの吐出口と基板の表面との間で塗布液
が途切れる位置を液切れ位置として検出し、この液切れ
位置を所定の位置に保持するように前記開閉弁の閉止速
度を調節するようにしたことを特徴とするものである。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. That is, a method invention according to claim 1 is a coating liquid supply method for supplying a coating liquid to a substrate to form a coating film, wherein the supply of the coating liquid from a nozzle is stopped by an on-off valve. Detecting a position where the application liquid is interrupted between the discharge port of the nozzle and the surface of the substrate as a liquid-out position, and adjusting a closing speed of the on-off valve so as to maintain the liquid-out position at a predetermined position. It is characterized by having done.

【0009】また、請求項2に記載の方法発明は、請求
項1に記載の塗布液塗布方法において、前記液切れ位置
が所定の位置よりも上方の場合には前記開閉弁の閉止速
度を遅くし、前記液切れ位置が所定の位置よりも下方の
場合には前記開閉弁の閉止速度を速くするようにしたこ
とを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the method for applying a coating liquid according to the first aspect, when the liquid exhaustion position is above a predetermined position, the closing speed of the on-off valve is reduced. When the out-of-liquid position is lower than a predetermined position, the closing speed of the on-off valve is increased.

【0010】また、請求項3に記載の装置発明は、基板
に対してノズルの吐出口から塗布液を供給して塗布被膜
を形成する基板塗布装置において、前記ノズルからの塗
布液の供給を停止する際の閉止速度が調節可能な開閉弁
と、前記ノズルの吐出口と前記基板の表面との間を撮影
する撮影手段と、前記ノズルからの塗布液の供給を開閉
弁により停止した際に、前記撮影手段により撮影された
画像に基づいて前記ノズルの吐出口と基板の表面との間
で塗布液が途切れる位置を液切れ位置として検出する液
切れ位置検出手段と、前記液切れ位置検出手段が検出し
た液切れ位置を所定の位置に保持するように前記開閉弁
の閉止速度を調節する制御手段と、を備えたことを特徴
とするものである。
According to a third aspect of the present invention, in a substrate coating apparatus for forming a coating film by supplying a coating liquid to a substrate from a discharge port of a nozzle, the supply of the coating liquid from the nozzle is stopped. An opening / closing valve whose closing speed is adjustable, a photographing means for photographing between the discharge port of the nozzle and the surface of the substrate, and when the supply of the coating liquid from the nozzle is stopped by the opening / closing valve, A liquid-out position detecting unit that detects a position where the coating liquid is interrupted between the discharge port of the nozzle and the surface of the substrate as a liquid-out position based on an image photographed by the photographing unit, and the liquid-out position detecting unit. Control means for adjusting the closing speed of the on-off valve so as to maintain the detected liquid-running position at a predetermined position.

【0011】また、請求項4に記載の装置発明は、請求
項3に記載の基板塗布装置において、前記制御手段は、
前記液切れ位置が所定の位置よりも上方の場合には前記
開閉弁の閉止速度を遅くし、前記液切れ位置が所定の位
置よりも下方の場合には前記開閉弁の閉止速度を速くす
るようにしたことを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate coating apparatus according to the third aspect, the control means includes:
When the liquid out position is above a predetermined position, the closing speed of the on-off valve is reduced, and when the liquid out position is below the predetermined position, the closing speed of the on-off valve is increased. It is characterized by having made it.

【0012】[0012]

【作用】発明者等は、円形状の塗布ムラである『レイ
ク』や基板の周辺部に向かって放射状に生じる不均一な
線状の塗布ムラである『ストリエーション』がどのよう
なメカニズムで発生するのかを調べるために実験を行っ
た。具体的には、シャッタ速度を1/1000secに
設定した高速撮影用のビデオカメラにより、塗布液であ
るフォトレジスト液の吐出開始から吐出停止を経て被膜
が形成されるまでの間、ノズルの吐出口と基板面との間
を撮影した。すると、塗布ムラが生じた場合には、ノズ
ルの吐出口と基板面との間で図8に示すようなフォトレ
ジスト液の挙動が観察されていた。
What is the mechanism by which the inventor of the present invention generates "Rake" which is a circular coating unevenness and "Striation" which is an uneven linear coating unevenness radially generated toward the periphery of a substrate. An experiment was performed to see if it did. Specifically, a video camera for high-speed photography in which the shutter speed is set to 1/1000 sec, from the start of discharge of a photoresist solution as a coating solution to the discharge port of a nozzle from the stop of discharge to the formation of a film. An image was taken between the substrate and the substrate surface. Then, when application unevenness occurred, the behavior of the photoresist liquid as shown in FIG. 8 was observed between the discharge port of the nozzle and the substrate surface.

【0013】すなわち、ノズル5の吐出口5aから基板
Wの表面に対してフォトレジスト液Rの供給を行ってい
る状態(図8(a))から、その供給を停止するために
ある閉止速度でエア弁を閉止するとフォトレジスト液R
は即座に停止するではなく、エア弁の閉止速度に応じて
徐々に吐出幅が細くなってゆく(図8(a)中の点
線)。そして、遂にはフォトレジスト液Rがある位置で
途切れ(図8(b))、この液切れ位置Pcよりも上方
のフォトレジスト液Rが吐出口5aに引き戻される一
方、液切れ位置よりも下方のフォトレジスト液Rが基板
Wの表面に向かって細糸状となって落下してゆく(図8
(c))。このときフォトレジスト液Rの途切れた部分
に数滴分の液滴r(図では図示の関係上1個のみ示す)
が生じて、細糸状のフォトレジスト液Rの上端部分より
も遅れて落下する(図8(d))。つまり、フォトレジ
スト液Rが基板Wの表面に落下し終わった後に、遅れて
数滴の液滴rが落下していたことが判明した。しかも、
その落下時間が30msecより長い場合に顕著に塗布
ムラが生じていた。
That is, from the state where the photoresist liquid R is supplied from the discharge port 5a of the nozzle 5 to the surface of the substrate W (FIG. 8A), at a certain closing speed for stopping the supply. When the air valve is closed, the photoresist liquid R
Does not stop immediately, but the discharge width gradually narrows according to the closing speed of the air valve (dotted line in FIG. 8A). Finally, the photoresist liquid R is interrupted at a certain position (FIG. 8B), and the photoresist liquid R above the liquid exhaustion position Pc is drawn back to the discharge port 5a, while the photoresist liquid R below the liquid exhaustion position is lower. The photoresist liquid R falls in the form of fine threads toward the surface of the substrate W (FIG. 8).
(C)). At this time, several drops of the droplet r are shown in the interrupted portion of the photoresist liquid R (only one droplet is shown in the figure because of the illustration)
Occurs, and falls later than the upper end portion of the fine thread-shaped photoresist liquid R (FIG. 8D). In other words, it was found that after the photoresist liquid R was completely dropped on the surface of the substrate W, a few drops r were dropped with a delay. Moreover,
When the drop time was longer than 30 msec, coating unevenness was remarkable.

【0014】発明者等はさらに種々の実験を行ううち
に、主として遅延落下する液滴に起因した塗布ムラの発
生と、エア弁の閉止速度との間に関連性があることを見
出した。この関連性を示すのが図9のグラフであり、閉
止速度を変えて塗布ムラの発生を調べた結果である。
The present inventors have further conducted various experiments, and have found that there is a relationship between the occurrence of coating unevenness mainly caused by the delayed falling droplets and the closing speed of the air valve. This relationship is shown in the graph of FIG. 9, which is a result of examining the occurrence of coating unevenness while changing the closing speed.

【0015】つまり閉止速度V1〜V2の範囲では、弁
が高速で作動することによる極端な圧力変動に起因して
激しいキャビテーションが発生し、気泡とともに液滴が
多数落下して塗布ムラが発生した。閉止速度V2〜V3
の範囲では、液切れ位置Pcがノズル5の吐出口5aよ
り少し内部に入り込んだ状態となって塗布ムラは発生し
なかった。閉止速度V3〜V4の範囲では、液切れ位置
Pcがノズル5の吐出口5aと基板Wの表面との中間程
度となって塗布ムラが生じた。また、閉止速度V4〜V
5の範囲では、液切れ位置Pcが基板Wの表面付近とな
り、液切れ位置Pcより上のフォトレジスト液Rが全て
ノズル5内に戻ってフォトレジスト液Rが落下せず、塗
布ムラは生じなかった。閉止速度V5以下では、閉止速
度がポンプの吐出動作より遅くなって2度塗りによる塗
布ムラが生じた。
That is, in the range of the closing speeds V1 to V2, severe cavitation occurred due to extreme pressure fluctuation due to high-speed operation of the valve, and a large number of droplets fell along with bubbles, resulting in application unevenness. Closing speed V2-V3
In the range, the liquid-out position Pc entered the inside of the discharge port 5a of the nozzle 5 slightly, and application unevenness did not occur. In the range of the closing speeds V3 to V4, the liquid outflow position Pc was about halfway between the discharge port 5a of the nozzle 5 and the surface of the substrate W, and application unevenness occurred. Also, the closing speeds V4 to V
In the range of 5, the out-of-liquid position Pc is near the surface of the substrate W, all the photoresist liquid R above the out-of-liquid position Pc returns into the nozzle 5, the photoresist liquid R does not drop, and coating unevenness does not occur. Was. At a closing speed V5 or less, the closing speed was slower than the discharge operation of the pump, and application unevenness due to double coating occurred.

【0016】このようなエア弁の閉止速度と塗布ムラと
の関係から、塗布ムラが生じる範囲と、塗布ムラが生じ
ない均一な塗布が可能な範囲とが交互に存在しているこ
とが判った。なお、上記の閉止速度V3〜V4の範囲で
あっても、例えば、ノズル5の位置を高くすると液切れ
位置Pcが上記閉止速度V4〜V5の範囲と同様の位置
に生じて塗布ムラが生じなくなることから、塗布ムラの
発生は上述した液滴rの発生に関わらず液切れ位置Pc
に依存していることが判った。これはノズルを高くする
とフォトレジスト液の開閉弁の閉止速度が同じであって
もフォトレジスト液の落下速度が速まって相対的な閉止
速度が遅くなるためと考えられる。
From the relationship between the closing speed of the air valve and the coating unevenness, it was found that a range in which coating unevenness occurs and a range in which uniform coating without coating unevenness is possible exist alternately. . Even in the range of the closing speeds V3 to V4, for example, when the position of the nozzle 5 is raised, the out-of-liquid position Pc is generated at the same position as the range of the closing speeds V4 to V5, so that application unevenness does not occur. Therefore, the occurrence of the coating unevenness is not affected by the occurrence of the liquid drop position Pc regardless of the occurrence of the droplet r described above.
It turns out that it depends. This is presumably because when the nozzle is raised, even if the closing speed of the opening / closing valve for the photoresist liquid is the same, the falling speed of the photoresist liquid is increased and the relative closing speed is reduced.

【0017】請求項1に記載の方法発明は、上述したよ
うな知見に基づいてなされたものであり、開閉弁の閉止
速度などに応じて変位する液切れ位置を検出し、この位
置を塗布ムラの生じない範囲に保持するように開閉弁の
閉止速度を自動的に調節するので、塗布ムラ防止の調整
を自動的に行うことができる。
The method according to the first aspect of the present invention is based on the above-described knowledge, and detects a liquid-out position displaced in accordance with the closing speed of an on-off valve and determines this position as coating unevenness. Since the closing speed of the on-off valve is automatically adjusted so as to be maintained within the range where the occurrence of the unevenness does not occur, the adjustment for preventing the uneven coating can be automatically performed.

【0018】また、請求項2に記載の方法発明によれ
ば、液切れ位置が塗布ムラを生じない所定の位置よりも
上方に生じた場合には、開閉弁の塗布液に対する相対速
度が速まっているので閉止速度を遅くすることで液切れ
位置を所定の位置に戻すことができ、液切れ位置が所定
の位置よりも下方に生じた場合には、開閉弁の塗布液に
対する相対速度が低下しているので閉止速度を早めるこ
とにより液切れ位置を所定の位置に戻すことができる。
According to the second aspect of the present invention, when the liquid-out position occurs above a predetermined position where no coating unevenness occurs, the relative speed of the on-off valve to the coating liquid increases. As the closing speed is slowed, the out-of-liquid position can be returned to the predetermined position.If the out-of-liquid position occurs below the predetermined position, the relative speed of the on-off valve to the coating liquid decreases. Therefore, by increasing the closing speed, the out-of-liquid position can be returned to a predetermined position.

【0019】また、請求項3に記載の装置発明によれ
ば、撮影手段で撮影された画像に基づいて液切れ位置検
出手段が塗布液の液切れ位置を検出する。この検出され
た液切れ位置は、開閉弁の閉止速度や、塗布液に対する
相対的な閉止速度などに応じて変位するので、塗布ムラ
の生じない所定の位置で液切れが生じるように制御手段
が開閉弁の閉止速度を調節することによって、塗布ムラ
防止の調整を自動的に行うことができる。
According to the third aspect of the present invention, the liquid-out position detecting means detects the liquid-out position of the coating liquid based on the image photographed by the photographing means. The detected out-of-liquid position is displaced in accordance with the closing speed of the on-off valve, the relative closing speed with respect to the coating liquid, and the like. By adjusting the closing speed of the on-off valve, adjustment for preventing uneven coating can be automatically performed.

【0020】また、請求項4に記載の装置発明によれ
ば、液切れ位置が塗布ムラを生じない所定の位置よりも
上方に生じた場合には、開閉弁の塗布液に対する相対速
度が速まっているので、開閉弁の閉止速度を制御手段が
遅くすることで液切れ位置を所定の位置に戻すことがで
き、液切れ位置が所定の位置よりも下方に生じた場合に
は、開閉弁の塗布液に対する相対速度が低下しているの
で、開閉弁の閉止速度を制御手段が速めることで液切れ
位置を所定の位置に戻すことができる。
According to the apparatus of the fourth aspect of the present invention, when the liquid shortage position is located above a predetermined position where no coating unevenness occurs, the relative speed of the on-off valve with respect to the coating liquid increases. Since the control means slows the closing speed of the on-off valve, the out-of-liquid position can be returned to the predetermined position.If the out-of-liquid position occurs below the predetermined position, the on-off valve is closed. Since the relative speed with respect to the coating liquid is reduced, the liquid-out position can be returned to a predetermined position by increasing the closing speed of the on-off valve by the control means.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1は、実施例に係る基板塗布装置
の概略構成を示すブロック図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the substrate coating apparatus according to the embodiment.

【0022】基板Wは、吸引式スピンチャック1により
水平姿勢で吸着支持され、回転軸2を介して電動モータ
3により回転中心P周りに回転駆動される。基板Wの周
囲には、塗布液の一例であるフォトレジスト液の飛散を
防止するための飛散防止カップ4aが配設されている。
また、この飛散防止カップ4aの上部開口には、ダウン
フローを取り込むための複数個の開口を上部に形成され
た上部蓋部材4bが、この装置のフレームに固定されて
位置固定の状態で配設されている。また、図示しない搬
送機構が未処理の基板Wを吸引式スピンチャック1に載
置したり、処理済みの基板Wを受け取る際には、図示し
ない昇降機構が飛散防止カップ4aのみを下降させるこ
とによって、飛散防止カップ4aと上部蓋部材4bとを
離間させ、吸引式スピンチャック1を飛散防止カップ4
aの上部開口から上方に突出させるようになっている。
The substrate W is suction-supported in a horizontal posture by a suction-type spin chuck 1 and is driven to rotate about a rotation center P by an electric motor 3 via a rotation shaft 2. Around the substrate W, a scattering prevention cup 4a for preventing scattering of a photoresist liquid, which is an example of a coating liquid, is provided.
Further, an upper lid member 4b having a plurality of openings formed therein for taking in a downflow is fixed to the frame of the apparatus and fixed to the upper opening of the scattering prevention cup 4a. Have been. When a transport mechanism (not shown) places an unprocessed substrate W on the suction-type spin chuck 1 or receives a processed substrate W, a lifting mechanism (not shown) lowers only the scattering prevention cup 4a. Then, the scattering prevention cup 4a and the upper lid member 4b are separated from each other, and the suction type spin chuck 1 is moved to the scattering prevention cup 4a.
a is projected upward from the upper opening of the a.

【0023】飛散防止カップ4aの側方には、搬入され
た基板Wの回転中心Pの上方に相当する供給位置(図中
の実線)と、基板W上から側方に離れた退避位置(図中
の点線)との間で移動可能に構成されたノズル5が配設
されている。このノズル5はサックバックバルブ7、開
閉弁8、フィルタ9、ポンプ10を介して、フォトレジ
スト液を貯留している貯留タンク11に連通接続されて
いる。サックバックバルブ7は、開閉弁8の閉止後にノ
ズル5の吐出口5aから露出しているフォトレジスト液
を僅かに引き戻して乾燥・固化を防止したり、いわゆる
「ぼた落ち」を抑制するように作動するものである。
At the side of the scattering prevention cup 4a, a supply position (solid line in the figure) corresponding to above the rotation center P of the loaded substrate W, and a retracted position (see FIG. (Dotted line in the middle) is provided. The nozzle 5 is connected through a suckback valve 7, an on-off valve 8, a filter 9, and a pump 10 to a storage tank 11 storing a photoresist solution. The suck-back valve 7 slightly pulls back the photoresist liquid exposed from the discharge port 5a of the nozzle 5 after the on-off valve 8 is closed, to prevent drying and solidification, and to suppress so-called "drips". It works.

【0024】また、開閉弁8は制御部12によって開閉
動作が制御され、処理プログラム中の供給開始命令が実
行されると開放動作を行ない、供給停止命令が実行され
ると閉止動作を行うようになっている。開閉弁8の開閉
動作はモータ8aによって行われるようになっており、
閉止する際の速度がモータ8aの回転数を制御すること
によって調整可能になっている。具体的には、モータ8
aの回転数を調節することにより、図示しない螺軸の回
転及びこの螺軸に螺合した図示しない弁体の移動速度を
可変させて閉止速度を調節するようになっている。制御
部12は、処理プログラムに含まれている供給停止命令
を実行すると、記憶部12aに記憶されている適切な閉
止速度に応じてモータ8aを駆動することによって閉止
動作をおこなう。記憶部12aには、前回の基板処理時
に検出された液切れ位置(詳細後述)に応じて、次なる
基板の処理時に液切れ位置が塗布ムラを生じない位置と
なるようにするための『適切閉止速度』が記憶されてい
る。また、予め実験を行って、塗布ムラを生じなかった
場合における閉止速度(例えば、図9の示したV2〜V
3)と液切れ位置(例えば、閉止速度V2〜V3で閉止
した場合の液切れ位置)との関係を示す『変換情報』が
記憶されている。なお、制御部12は、本発明の制御手
段に相当する。
The opening / closing operation of the opening / closing valve 8 is controlled by the control section 12, so that the opening / closing operation is performed when a supply start command in a processing program is executed, and the opening / closing valve 8 is closed when a supply stop command is executed. Has become. The opening and closing operation of the on-off valve 8 is performed by a motor 8a.
The speed at the time of closing can be adjusted by controlling the rotation speed of the motor 8a. Specifically, the motor 8
By adjusting the rotation speed of a, the closing speed is adjusted by varying the rotation of a screw shaft (not shown) and the moving speed of a valve body (not shown) screwed to the screw shaft. When executing the supply stop command included in the processing program, the control unit 12 performs the closing operation by driving the motor 8a according to the appropriate closing speed stored in the storage unit 12a. The storage unit 12a stores the “appropriate” position in the next substrate processing according to the out-of-liquid position detected during the previous substrate processing so that the out-of-liquid position is a position where no coating unevenness occurs. Closing speed ”is stored. In addition, an experiment was performed in advance, and the closing speed when no coating unevenness occurred (for example, V2 to V shown in FIG. 9).
"Conversion information" indicating the relationship between 3) and the liquid out position (for example, the liquid out position when the liquid is closed at the closing speeds V2 to V3) is stored. Note that the control unit 12 corresponds to a control unit of the present invention.

【0025】上部蓋部材4bの上部内周面には、その左
側にCCDカメラ13が、その右側にストロボ15が配
設されている。本発明の撮影手段に相当するCCDカメ
ラ13は、固体撮像素子であるCCDと、高速度に対応
した電子シャッターと、レンズなどから構成されてお
り、その撮影視野がノズル5の吐出口5aを含む基板W
の表面付近に設定されている。例えば、図3に示すよう
に基板Wの表面が撮影可能なように広めの撮影視野が設
定されている。この撮影視野において、供給ノズル5の
吐出口5aから吐出されているフォトレジスト液が供給
停止命令により停止されて途切れる液切れ位置を捉えら
れるように矩形領域が処理領域D1として予め設定され
ている。
A CCD camera 13 is provided on the left side of the upper inner peripheral surface of the upper cover member 4b, and a strobe 15 is provided on the right side thereof. The CCD camera 13 corresponding to the photographing means of the present invention includes a CCD which is a solid-state image sensor, an electronic shutter corresponding to a high speed, a lens, and the like, and its photographing visual field includes the discharge port 5a of the nozzle 5. Substrate W
It is set near the surface of. For example, as shown in FIG. 3, a wide field of view is set so that the surface of the substrate W can be photographed. In this field of view, a rectangular area is set in advance as the processing area D1 so that the photoresist liquid discharged from the discharge port 5a of the supply nozzle 5 is stopped by the supply stop command and a liquid-breaking position where the photoresist liquid is interrupted can be captured.

【0026】ストロボ15は、フォトレジスト液が感光
しないように装置自体が暗室内に設置されているので、
撮影時の照明として用いるためのものであり、例えば、
キセノンランプと、500nm以上の波長を透過するバ
ンドパスフィルタとを組み合わせて構成されている。こ
れらのCCDカメラ13およびストロボ15は、液切れ
位置検出部20に接続されている。
The strobe 15 itself is installed in a dark room so that the photoresist solution is not exposed to light.
It is intended to be used as lighting when shooting, for example,
It is configured by combining a xenon lamp and a bandpass filter that transmits a wavelength of 500 nm or more. The CCD camera 13 and the strobe 15 are connected to a liquid out position detecting unit 20.

【0027】図2を参照して本発明の液切れ位置検出手
段に相当する液切れ位置検出部20について説明する。
Referring to FIG. 2, a description will be given of a liquid shortage position detecting section 20 corresponding to the liquid shortage position detecting means of the present invention.

【0028】ストロボ電源21は、ストロボ15に対し
て所要の電力を供給して連続的に点灯させる。カメラ制
御部22は、CCDカメラ13の動作制御、例えば、撮
影タイミングや電子シャッターの動作速度などの制御を
行う。カメラ制御部22への撮影開始の指示は、制御部
12がI/O制御部23へ『トリガ信号』を出力するこ
とによって行われる。詳細は後述するが、基板へのフォ
トレジスト液の供給停止命令とともにI/O制御部23
へトリガ信号が与えられ、その時点でCCDカメラ13
による周期的な撮影が開始される。なお、電子シャッタ
ーの速度は、フォトレジスト液の粘度や供給時の基板の
回転数、吐出口5aと基板表面との間隔などによって異
なるが、吐出口5aから供給されているフォトレジスト
液の液切れ位置を鮮明に捉えるために高速であるほど良
く、例えば、1/1000sec程度である。
The strobe power supply 21 supplies necessary power to the strobe 15 to continuously light it. The camera control unit 22 controls the operation of the CCD camera 13, for example, controls the shooting timing and the operation speed of the electronic shutter. The instruction to start shooting to the camera control unit 22 is issued by the control unit 12 outputting a “trigger signal” to the I / O control unit 23. Although the details will be described later, the I / O control unit 23 together with the instruction to stop the supply of the photoresist solution to the substrate is provided.
To the CCD camera 13 at that time.
, Periodic photographing is started. The speed of the electronic shutter varies depending on the viscosity of the photoresist liquid, the number of rotations of the substrate at the time of supply, the distance between the discharge port 5a and the substrate surface, and the like, but the photoresist liquid supplied from the discharge port 5a runs out. The higher the speed is, the better it is for capturing the position clearly, for example, about 1/1000 sec.

【0029】CCDカメラ13の撮影視野内の画像信号
は、カメラ制御部22およびI/O制御部23を介して
画像処理部24に伝送され、この画像信号のうちの処理
領域D1(図3参照)に相当する画像信号が2値化処理
されて静止画像データとして画像メモリ25に格納され
る。画像処理部24は、静止画像データの各画素値に基
づいてフォトレジスト液の流れが途切れた液切れ位置を
判断する。そして、予め記憶部12aに記憶されている
変換情報の液切れ位置の範囲内にあるか否かを制御部1
2が判断し、その範囲外である場合には範囲内の液切れ
位置となるように閉止速度を求めてこれを『適切閉止速
度』とする。
An image signal in the field of view of the CCD camera 13 is transmitted to an image processing unit 24 via a camera control unit 22 and an I / O control unit 23, and a processing area D1 of the image signal (see FIG. 3). ) Are binarized and stored in the image memory 25 as still image data. The image processing unit 24 determines a liquid out position where the flow of the photoresist liquid is interrupted based on each pixel value of the still image data. Then, the control unit 1 determines whether the conversion information stored in the storage unit 12a is within the range of the liquid out position.
2 is determined, and if the value is out of the range, the closing speed is determined so as to be in the liquid-out position within the range, and this is set as “appropriate closing speed”.

【0030】次に、図4のタイムチャートを参照して、
上述したように構成された装置の動作について説明す
る。なお、このタイムチャートでは、基板を回転させつ
つフォトレジスト液を供給する方法(いわゆるダイナミ
ック法)を例に採って説明しているが、本発明はこのよ
うなフォトレジスト液の供給形態に限定されるものでは
ない。
Next, referring to the time chart of FIG.
The operation of the device configured as described above will be described. In this time chart, a method of supplying a photoresist liquid while rotating a substrate (a so-called dynamic method) is described as an example, but the present invention is limited to such a supply form of the photoresist liquid. Not something.

【0031】制御部12は、t=0時点において回転開
始命令を実行するとともに、t1 時点において基板Wの
回転数がR1(例えば、1,500rpm)に達するよ
うに電動モータ3の回転を開始する。その後、tS 時点
において供給開始命令を実行すると、まず、サックバッ
クバルブ7を非動作にするとともにモータ8aを駆動し
て開閉弁8を開放し、さらにポンプ10を作動させるこ
とによってほぼ一定の流量でフォトレジスト液を貯留タ
ンク11から供給し、回転数R1で定速回転している基
板Wの回転中心にノズル5からフォトレジスト液を供給
し始める。
The controller 12 executes the rotation start command at time t = 0, and starts the rotation of the electric motor 3 at time t 1 such that the rotation speed of the substrate W reaches R1 (for example, 1,500 rpm). I do. Thereafter, when the supply start command is executed at time t S , first, the suckback valve 7 is deactivated, the motor 8 a is driven to open the on-off valve 8, and the pump 10 is further operated to operate a substantially constant flow rate. , The photoresist liquid is supplied from the storage tank 11, and the supply of the photoresist liquid from the nozzle 5 to the center of rotation of the substrate W rotating at a constant speed of R1 is started.

【0032】そして、一定時間が経過したtE 時点にお
いて制御部12が供給停止命令を実行すると、上述した
手順とほぼ逆の順序でフォトレジスト液の供給が停止さ
れ始めるが、供給停止命令が実行されるとともに制御部
12は液切れ位置検出部20に対してトリガ信号を出力
する。なお、上記の供給停止命令の際には、記憶部12
aに格納されている適切閉止速度で開閉弁8が閉止され
る。
When the control unit 12 executes the supply stop command at the point in time t E at which the predetermined time has elapsed, the supply of the photoresist liquid is started to be stopped in a substantially reverse order to the above-described procedure. At the same time, the control unit 12 outputs a trigger signal to the liquid shortage position detecting unit 20. When the supply stop command is issued, the storage unit 12
The on-off valve 8 is closed at the appropriate closing speed stored in a.

【0033】トリガ信号を与えられた液切れ位置検出部
20は、図5のフローチャートに示す液切れ位置検出処
理を実行する。
The out-of-liquid position detecting section 20 to which the trigger signal is applied executes the out-of-liquid position detecting process shown in the flowchart of FIG.

【0034】ステップS1(撮影・2値化処理) I/O制御部23はカメラ制御部22を介してCCDカ
メラ13を制御し、図3に示すように吐出口5aと基板
Wの表面を含む視野を高速シャッタで撮影する。次にC
CDカメラ13によって撮影された視野の画像信号を画
像処理部24が処理し、その中の処理領域D1(図3参
照)を2値化処理する。2値化処理された処理領域D1
の静止画像データは、画像メモリ25に格納される。
Step S1 (Shooting / Binary Processing) The I / O control unit 23 controls the CCD camera 13 via the camera control unit 22, and includes the discharge port 5a and the surface of the substrate W as shown in FIG. The field of view is photographed with a high-speed shutter. Then C
The image processing unit 24 processes the image signal of the visual field captured by the CD camera 13, and binarizes the processing area D1 (see FIG. 3) therein. Processing area D1 that has been binarized
Are stored in the image memory 25.

【0035】ステップS2(液滴が存在?) 画像処理部24は、静止画像データの各画素値に基づい
てフォトレジスト液の流れが途切れた液切れ位置が存在
するか否かを判断する。ここで言う液切れ位置とは、図
6に示すように吐出口5aから吐出されているフォトレ
ジスト液Rが最初に上下に分断された位置(液切れ位置
Pcで示す)のことである。
Step S2 (Drops Exist?) The image processing section 24 determines whether or not there is a liquid break position where the flow of the photoresist liquid is interrupted based on each pixel value of the still image data. The out-of-liquid position referred to here is a position where the photoresist liquid R discharged from the discharge port 5a is first divided vertically, as shown in FIG.

【0036】処理領域D1の静止画像データは、図7の
模式図に示すように複数個の画素pxに分割されてお
り、複数個の画素pxのうち横方向の画素群を一つのチ
ャンネルとして扱っている。つまり、上からチャンネル
H1,H2,………となっている。まず、各チャンネル
H1,H2,………を横方向にスキャンしつつ全チャン
ネル内の画素pxの画素値を調べる。そして、1つのチ
ャンネルを構成する全ての画素pxにフォトレジスト液
Rを示す黒画素(図7中のハッチングで示した部分)が
一つも存在しない場合、逆に言えば1つのチャンネルの
全ての画素pxの値が白画素である場合には液切れ位置
が存在しているものと判断する。
The still image data in the processing area D1 is divided into a plurality of pixels px, as shown in the schematic diagram of FIG. 7, and a horizontal pixel group among the plurality of pixels px is treated as one channel. ing. That is, the channels are H1, H2,... From the top. First, the pixel values of the pixels px in all the channels are checked while scanning the channels H1, H2,... In the horizontal direction. If there is no black pixel (shown by hatching in FIG. 7) indicating the photoresist liquid R in all pixels px constituting one channel, conversely, all the pixels of one channel If the value of px is a white pixel, it is determined that a liquid-out position exists.

【0037】その結果、液切れ位置Pcが存在する場合
にはステップS3に処理を移行し、存在しない場合には
ステップS1に戻る。なお、液切れ位置Pcが検出でき
ずにステップS1〜ステップS2を繰り返し実行するこ
とになっても、例えば、制御部12がt2 時点の回転上
昇命令の実行時にこの処理を強制的に停止するので、撮
影が無駄に繰り返し行われるような不都合は生じないよ
うになっている。
As a result, if the liquid out position Pc exists, the process proceeds to step S3, and if not, the process returns to step S1. Even supposed to solution break position Pc is repeatedly executes steps S1~ step S2 not be detected, for example, the control unit 12 forcibly stops the process when the execution of the rotation increase command t 2 time Therefore, the inconvenience that the photographing is repeatedly performed unnecessarily does not occur.

【0038】なお、この例では、図7に示すようにチャ
ンネルH5の位置に液切れ位置Pcが生じているものと
して説明する。
In this example, as shown in FIG. 7, a description will be given assuming that a liquid outflow position Pc occurs at the position of the channel H5.

【0039】ステップS3(液切れ位置は適切か?) 制御部12は、記憶部12aの『変換情報』を参照して
チャンネルH5が塗布ムラを生じない液切れ位置の範囲
内にあるか否かを判断する。所定の範囲内にある場合に
はこの処理を終了し、次なる基板の処理時にも開閉弁8
をこの処理時と同じ適切閉止速度(記憶部12aに記憶
されている)で作動させる。一方、所定の範囲から外れ
ている場合には、以下のようにして塗布ムラを防止する
ために閉止速度を調節する。
Step S3 (Is the out-of-liquid position appropriate?) The controller 12 refers to the "conversion information" in the storage unit 12a and determines whether or not the channel H5 is within the range of the out-of-liquid position where application unevenness does not occur. Judge. If it is within the predetermined range, the process is terminated, and the on-off valve 8 is also opened when the next substrate is processed.
Is operated at the same appropriate closing speed (stored in the storage unit 12a) as in this processing. On the other hand, if it is out of the predetermined range, the closing speed is adjusted in order to prevent coating unevenness as described below.

【0040】ステップS4(閉止速度の調節) 検出された液切れ位置Pcが所定の範囲から外れている
場合には、制御部12が現在の適切閉止速度を調節して
記憶部12aの『適切閉止速度』を更新する。具体的に
は、記憶部12aの『変換情報』と現在の液切れ位置で
あるチャンネルH5とに基づいて新たな閉止速度を決定
する。
Step S4 (Adjustment of Closing Speed) If the detected out-of-liquid position Pc is out of the predetermined range, the control unit 12 adjusts the current appropriate closing speed and stores the “appropriate closing speed” in the storage unit 12a. Speed ”is updated. Specifically, a new closing speed is determined based on the “conversion information” in the storage unit 12a and the channel H5 that is the current out-of-liquid position.

【0041】すなわち、現液切れ位置であるチャンネル
H5が変換情報の液切れ位置の範囲より上に位置する場
合には、開閉弁8の閉止速度が速くなっているので現在
の適切閉止速度を所定ステップ数だけ遅くし、チャンネ
ルH5が変換情報の液切れ位置の範囲より下に位置する
場合には、開閉弁8の閉止速度が遅くなっているので現
在の適切閉止速度を所定ステップ数だけ速くする。そし
て、調節した適切閉止速度を新たな『適切閉止速度』と
して記憶部12aに格納する。
That is, when the channel H5, which is the current liquid-out position, is located above the range of the liquid-out position in the conversion information, the closing speed of the on-off valve 8 is high. If the channel H5 is located below the range of the liquid out position of the conversion information by the number of steps, the closing speed of the on-off valve 8 is slow, so the current appropriate closing speed is increased by a predetermined number of steps. . Then, the adjusted appropriate closing speed is stored in the storage unit 12a as a new “appropriate closing speed”.

【0042】なお、このステップS4は、必ずしもこの
時点で実行する必要はなく次の基板を処理するまでに行
えばよい。また、上記のように求めた方向に所定ステッ
プだけ適切閉止速度を調節するのではなく、記憶部12
aに記憶されている『変換情報』により塗布ムラを防止
するのに必要なステップ数を求めて求めた方向に調節す
るようにしてもよい。
Step S4 does not necessarily have to be performed at this time, but may be performed until the next substrate is processed. Also, instead of adjusting the appropriate closing speed by a predetermined step in the direction determined as described above, the storage unit 12
The number of steps required to prevent the coating unevenness may be determined based on the “conversion information” stored in “a”, and the adjustment may be performed in the determined direction.

【0043】ステップS5(警報) ステップS3で液切れ位置が所定の範囲外にあると判断
された場合には、現在の基板を処理した際に塗布ムラが
生じているので、塗布ムラが生じたことをオペレータに
報知するための警報を出力する。具体的には、制御部1
2が液切れ位置検出部20を制御し、例えば、モニタ2
9に『液切れ位置変動! 塗布ムラ発生!』といった情
報を出力する。これによりオペレータは、処理中の基板
に塗布ムラが生じたことを知ることができ、同一処理ロ
ットの全ての基板に対する処理が完了した後に行う再処
理(剥離,再塗布)の準備を行うことができる。
Step S5 (Alarm) If it is determined in step S3 that the liquid out position is out of the predetermined range, coating unevenness has occurred when the current substrate is processed. An alarm for notifying the operator of the fact is output. Specifically, the control unit 1
2 controls the out-of-liquid position detecting unit 20 and, for example, the monitor 2
9 "The liquid out position fluctuates! Application unevenness occurs! Is output. Accordingly, the operator can know that the coating unevenness has occurred on the substrate being processed, and can prepare for the reprocessing (peeling and recoating) to be performed after the processing on all the substrates of the same processing lot is completed. it can.

【0044】なお、警報をモニタ29に出力するととも
に、画像メモリ25に記憶されている処理領域D1の静
止画像データを表示するようにしてもよい。これにより
液切れ位置が不適切であると判断された際の画像が表示
され、適切な判断がなされたか否かをオペレータが確認
することができる。
The alarm may be output to the monitor 29 and the still image data of the processing area D1 stored in the image memory 25 may be displayed. As a result, an image at the time when it is determined that the liquid draining position is inappropriate is displayed, and the operator can confirm whether or not an appropriate determination has been made.

【0045】そして、上述したステップS3における判
断の結果がYes/Noに関わらず図4のタイムチャー
トに示すように、t2 時点で電動モータ3の回転数をR
2に上昇させ、この回転数を一定時間保持して余剰のフ
ォトレジスト液を振り切るとともに溶媒を乾燥させた
後、t4 時点で回転停止命令を実行して塗布処理を完了
するようになっている。
[0045] Then, as a result of the determination in step S3 described above is shown in the time chart of FIG. 4 regardless of Yes / No, the rotational speed of the electric motor 3 at t 2 when R
After rotating the solvent to dry while removing the excess photoresist solution while maintaining the rotation speed for a certain period of time, a rotation stop command is executed at time t 4 to complete the coating process. .

【0046】このように開閉弁8の閉止速度に応じて変
位する液切れ位置PcをCCDカメラ13によって検出
し、この位置を塗布ムラの生じない範囲に保持するよう
に開閉弁8の閉止速度を制御部12が自動的に調節する
ので、塗布ムラ防止の調整を自動的に行うことができ
る。したがって、処理中の基板Wに対して塗布ムラが生
じたとしても自動的に調整されるため、次なる基板にも
同様の塗布ムラが生じることを防止でき、複数枚の基板
Wに対して継続的に塗布ムラが生じるような不都合を未
然に防止することができる。
As described above, the CCD camera 13 detects the out-of-liquid position Pc displaced in accordance with the closing speed of the on-off valve 8, and adjusts the closing speed of the on-off valve 8 so as to keep this position within a range where coating unevenness does not occur. Since the control unit 12 automatically adjusts, adjustment for preventing uneven coating can be automatically performed. Therefore, even if the coating unevenness occurs on the substrate W being processed, the adjustment is automatically performed, so that the same coating unevenness can be prevented from being generated on the next substrate, and the continuous coating can be performed on a plurality of substrates W. Inconveniences such as uneven application can be prevented beforehand.

【0047】また、処理を中断することなく自動的に塗
布ムラ防止の調整を行うことができるので、従来例に比
較して極めて短時間で調整を終えることができ、装置の
稼働率を大幅に高めることができる。
Further, since the adjustment for preventing the coating unevenness can be automatically performed without interrupting the processing, the adjustment can be completed in an extremely short time as compared with the conventional example, and the operation rate of the apparatus can be greatly reduced. Can be enhanced.

【0048】なお、上述した実施例装置では、撮影手段
としてCCDカメラを採用しているが、本発明ではこの
他に種々の撮像デバイスを用いることが可能である。
In the apparatus of the embodiment described above, a CCD camera is employed as a photographing means. However, in the present invention, various image pickup devices can be used.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の方法発明によれば、開閉弁の閉止速度に応じ
て変位する液切れ位置を検出し、この位置を塗布ムラの
生じない範囲に保持するように開閉弁の閉止速度を自動
的に調節するので、塗布ムラ防止の調整を自動的に行う
ことができる。したがって、塗布ムラが生じたとしても
自動的に調整されるため、複数枚の基板に対して継続的
に塗布ムラが生じるような不都合を未然に防止すること
ができる。
As is apparent from the above description, according to the first aspect of the present invention, a liquid-out position that is displaced in accordance with the closing speed of the on-off valve is detected, and this position is determined to cause uneven coating. Since the closing speed of the on-off valve is automatically adjusted so as to maintain the range, the adjustment for preventing the coating unevenness can be automatically performed. Therefore, even if the coating unevenness occurs, the adjustment is automatically performed, so that the problem that the coating unevenness continuously occurs on a plurality of substrates can be prevented.

【0050】また、請求項2に記載の方法発明によれ
ば、検出した液切れ位置に応じて開閉弁の閉止速度を遅
くしたり速めたりすることで液切れ位置を所定の位置に
戻すことができ、塗布ムラ防止の調整を自動的に行うこ
とができる。
According to the second aspect of the present invention, the out-of-liquid position can be returned to a predetermined position by decreasing or increasing the closing speed of the on-off valve in accordance with the detected out-of-liquid position. Thus, the adjustment for preventing the coating unevenness can be automatically performed.

【0051】また、請求項3に記載の装置発明によれ
ば、請求項1に記載の方法発明を好適に実施することが
でき、自動的に塗布ムラ防止の調整を行うことができる
ので、従来例に比較して極めて短時間で調整を終えるこ
とができ、装置の稼働率を大幅に高めることができる。
According to the third aspect of the present invention, the method of the first aspect can be suitably implemented, and the adjustment for preventing the uneven coating can be automatically performed. The adjustment can be completed in an extremely short time as compared with the example, and the operation rate of the apparatus can be greatly increased.

【0052】また、請求項4に記載の装置発明によれ
ば、請求項2に記載の方法発明を好適に実施することが
できる。
Further, according to the device invention of the fourth aspect, the method invention of the second aspect can be suitably implemented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例に係る基板塗布装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a substrate coating apparatus according to an embodiment.

【図2】液切れ位置検出部の概略構成を示すブロック図
である。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a liquid shortage position detection unit.

【図3】CCDカメラの撮影視野を示す図である。FIG. 3 is a view showing a field of view of a CCD camera.

【図4】塗布処理の一例を示すタイムチャートである。FIG. 4 is a time chart illustrating an example of a coating process.

【図5】液切れ位置検出処理を示すフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart illustrating a liquid-out position detecting process.

【図6】フォトレジスト液の液切れが発生した状態を示
す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a state in which the photoresist liquid has run out.

【図7】液切れ位置の検出を説明するための模式図であ
る。
FIG. 7 is a schematic diagram for explaining detection of a liquid shortage position.

【図8】塗布ムラの発生メカニズムの説明に供する図で
ある。
FIG. 8 is a diagram provided to explain a mechanism of occurrence of coating unevenness.

【図9】エア弁の閉止速度と塗布ムラの関係を示すグラ
フである。
FIG. 9 is a graph showing the relationship between the closing speed of an air valve and uneven coating.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

W … 基板 R … フォトレジスト液 Pc … 液切れ位置 5 … ノズル 5a … 吐出口 7 … サックバックバルブ 8 … 開閉弁 8a … モータ 9 … フィルタ 10 … ポンプ 11 … 貯留タンク 12 … 制御部(制御手段) 12a … 記憶部 13 … CCDカメラ(撮影手段) 20 … 液切れ位置検出部(液切れ位置検出手段) 21 … ストロボ電源 22 … カメラ制御部 24 … 画像処理部 W ... Substrate R ... Photoresist liquid Pc ... Liquid drain position 5 ... Nozzle 5a ... Discharge port 7 ... Suck back valve 8 ... Open / close valve 8a ... Motor 9 ... Filter 10 ... Pump 11 ... Storage tank 12 ... Control unit (control means) 12a: storage unit 13: CCD camera (photographing means) 20: liquid out position detection unit (liquid out position detection unit) 21: strobe power supply 22: camera control unit 24: image processing unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H025 AA03 AB16 EA05 4D075 AC64 AC79 CA48 DB13 DC22 EA45 4F042 AA07 BA00 BA12 CB08 EB18 5F046 JA02 JA27  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H025 AA03 AB16 EA05 4D075 AC64 AC79 CA48 DB13 DC22 EA45 4F042 AA07 BA00 BA12 CB08 EB18 5F046 JA02 JA27

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に対して塗布液を供給して塗布被膜
を形成するための塗布液供給方法において、 ノズルからの塗布液の供給を開閉弁により停止した際
に、ノズルの吐出口と基板の表面との間で塗布液が途切
れる位置を液切れ位置として検出し、この液切れ位置を
所定の位置に保持するように前記開閉弁の閉止速度を調
節するようにしたことを特徴とする塗布液塗布方法。
1. A coating liquid supply method for supplying a coating liquid to a substrate to form a coating film, wherein when the supply of the coating liquid from the nozzle is stopped by an on-off valve, the discharge port of the nozzle is connected to the substrate. Detecting a position where the coating liquid is interrupted between the coating liquid and the surface as a liquid-out position, and adjusting a closing speed of the on-off valve so as to maintain the liquid-out position at a predetermined position. Liquid application method.
【請求項2】 請求項1に記載の塗布液塗布方法におい
て、 前記液切れ位置が所定の位置よりも上方の場合には前記
開閉弁の閉止速度を遅くし、前記液切れ位置が所定の位
置よりも下方の場合には前記開閉弁の閉止速度を速くす
るようにしたことを特徴とする塗布液塗布方法。
2. The coating liquid applying method according to claim 1, wherein the closing speed of the on-off valve is reduced when the liquid out position is above a predetermined position, and the liquid out position is in a predetermined position. A method for applying a coating liquid, wherein the closing speed of the on-off valve is increased when the pressure is below the opening.
【請求項3】 基板に対してノズルの吐出口から塗布液
を供給して塗布被膜を形成する基板塗布装置において、 前記ノズルからの塗布液の供給を停止する際の閉止速度
が調節可能な開閉弁と、 前記ノズルの吐出口と前記基板の表面との間を撮影する
撮影手段と、 前記ノズルからの塗布液の供給を開閉弁により停止した
際に、前記撮影手段により撮影された画像に基づいて前
記ノズルの吐出口と基板の表面との間で塗布液が途切れ
る位置を液切れ位置として検出する液切れ位置検出手段
と、 前記液切れ位置検出手段が検出した液切れ位置を所定の
位置に保持するように前記開閉弁の閉止速度を調節する
制御手段と、 を備えたことを特徴とする基板塗布装置。
3. A substrate coating apparatus for supplying a coating liquid from a discharge port of a nozzle to a substrate to form a coating film, wherein the closing speed when stopping the supply of the coating liquid from the nozzle is adjustable. A valve, a photographing means for photographing between the discharge port of the nozzle and the surface of the substrate, and based on an image photographed by the photographing means when supply of the coating liquid from the nozzle is stopped by an on-off valve. A liquid out position detecting means for detecting, as a liquid out position, a position where the application liquid is interrupted between the discharge port of the nozzle and the surface of the substrate; and a liquid out position detected by the liquid out position detecting means to a predetermined position. Control means for adjusting a closing speed of the on-off valve so as to hold the same.
【請求項4】 請求項3に記載の基板塗布装置におい
て、 前記制御手段は、前記液切れ位置が所定の位置よりも上
方の場合には前記開閉弁の閉止速度を遅くし、前記液切
れ位置が所定の位置よりも下方の場合には前記開閉弁の
閉止速度を速くするようにしたことを特徴とする基板塗
布装置。
4. The substrate coating apparatus according to claim 3, wherein the control unit reduces a closing speed of the on-off valve when the liquid-running position is higher than a predetermined position, and controls the liquid-running position. Wherein the closing speed of the on-off valve is increased when the position is below a predetermined position.
JP25072098A 1998-09-04 1998-09-04 Method and device for applying coating solution Pending JP2000082646A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25072098A JP2000082646A (en) 1998-09-04 1998-09-04 Method and device for applying coating solution

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25072098A JP2000082646A (en) 1998-09-04 1998-09-04 Method and device for applying coating solution

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000082646A true JP2000082646A (en) 2000-03-21

Family

ID=17212058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25072098A Pending JP2000082646A (en) 1998-09-04 1998-09-04 Method and device for applying coating solution

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000082646A (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008183559A (en) * 2008-04-10 2008-08-14 Tokyo Electron Ltd Method and apparatus for treating substrate
CN101727009B (en) * 2008-10-21 2012-07-18 东京毅力科创株式会社 Liquid processing apparatus and liquid processing method
JP2016178238A (en) * 2015-03-20 2016-10-06 東京エレクトロン株式会社 Adjustment method for drug solution supply device, storage medium, and drug solution supply device
JP2019197846A (en) * 2018-05-11 2019-11-14 株式会社Screenホールディングス Processing liquid discharge device, determination device, processing liquid discharge method and determination method
JP2020061404A (en) * 2018-10-05 2020-04-16 株式会社Screenホールディングス Substrate processing method and substrate processing apparatus
WO2021096601A1 (en) * 2019-11-14 2021-05-20 Tokyo Electron Limited Systems and methods for automated video analysis detection techniques for substrate process
US11624607B2 (en) 2020-01-06 2023-04-11 Tokyo Electron Limited Hardware improvements and methods for the analysis of a spinning reflective substrates
US11738363B2 (en) 2021-06-07 2023-08-29 Tokyo Electron Limited Bath systems and methods thereof
CN116804611A (en) * 2023-08-22 2023-09-26 宁德时代新能源科技股份有限公司 Automatic evaluation method and system for detection equipment
US12123778B2 (en) 2020-03-10 2024-10-22 Tokyo Electron Limited Thermal imaging sensor for integration into track system

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008183559A (en) * 2008-04-10 2008-08-14 Tokyo Electron Ltd Method and apparatus for treating substrate
CN101727009B (en) * 2008-10-21 2012-07-18 东京毅力科创株式会社 Liquid processing apparatus and liquid processing method
JP2016178238A (en) * 2015-03-20 2016-10-06 東京エレクトロン株式会社 Adjustment method for drug solution supply device, storage medium, and drug solution supply device
US10155246B2 (en) 2015-03-20 2018-12-18 Tokyo Electron Limited Adjusment method of chemical liquid supply device, non-transitory storage medium, and chemical liquid supply device
CN112106174A (en) * 2018-05-11 2020-12-18 株式会社斯库林集团 Processing liquid ejecting apparatus, judging apparatus, processing liquid ejecting method, and judging method
JP7071209B2 (en) 2018-05-11 2022-05-18 株式会社Screenホールディングス Processing liquid discharge device, processing liquid discharge method, and substrate processing device
WO2019216310A1 (en) * 2018-05-11 2019-11-14 株式会社Screenホールディングス Processing fluid discharge device, evaluation device, processing fluid discharge method, and evaluation method
KR20200136450A (en) 2018-05-11 2020-12-07 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Treatment liquid discharge device, treatment liquid discharge method, substrate treatment device, and closing valve adjustment method
JP2019197846A (en) * 2018-05-11 2019-11-14 株式会社Screenホールディングス Processing liquid discharge device, determination device, processing liquid discharge method and determination method
JP2020061404A (en) * 2018-10-05 2020-04-16 株式会社Screenホールディングス Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP7179568B2 (en) 2018-10-05 2022-11-29 株式会社Screenホールディングス Substrate processing method and substrate processing apparatus
US11646212B2 (en) 2018-10-05 2023-05-09 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment device
WO2021096601A1 (en) * 2019-11-14 2021-05-20 Tokyo Electron Limited Systems and methods for automated video analysis detection techniques for substrate process
US11276157B2 (en) 2019-11-14 2022-03-15 Tokyo Electron Limited Systems and methods for automated video analysis detection techniques for substrate process
US11624607B2 (en) 2020-01-06 2023-04-11 Tokyo Electron Limited Hardware improvements and methods for the analysis of a spinning reflective substrates
US12123778B2 (en) 2020-03-10 2024-10-22 Tokyo Electron Limited Thermal imaging sensor for integration into track system
US11738363B2 (en) 2021-06-07 2023-08-29 Tokyo Electron Limited Bath systems and methods thereof
CN116804611A (en) * 2023-08-22 2023-09-26 宁德时代新能源科技股份有限公司 Automatic evaluation method and system for detection equipment
CN116804611B (en) * 2023-08-22 2024-01-26 宁德时代新能源科技股份有限公司 Automatic evaluation method and system for detection equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3578577B2 (en) Processing solution supply method and apparatus
US5843527A (en) Coating solution applying method and apparatus
US10155246B2 (en) Adjusment method of chemical liquid supply device, non-transitory storage medium, and chemical liquid supply device
JP2000082646A (en) Method and device for applying coating solution
TWI777287B (en) Substrate processing device and method for adjusting the same
US11914298B2 (en) Liquid processing apparatus and method of detecting liquid in liquid processing apparatus
JPH115056A (en) Treating liquid feeder
JP2023118878A (en) Monitoring device, substrate processing device, monitoring method, and storage medium
JPH11329936A (en) Substrate processing system
JPH1116810A (en) Method and device for applying liquid coat
JP2000070834A (en) Abnormality detection and substrate coating apparatus using the same
JPH11176734A (en) Resist applying apparatus
JP3544801B2 (en) Processing solution supply method and apparatus
JPH10135100A (en) Processing liquid supply device
JP3504089B2 (en) Processing solution supply method and apparatus
JP6353780B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP3093523B2 (en) Semiconductor device manufacturing equipment
JP3568360B2 (en) Processing liquid supply device
JPH11354419A (en) Coating device
JP2002177845A (en) Resist coating apparatus and method for controlling resist coating process
JP2000114138A (en) Substrate treatment device
JPH09153453A (en) Treating liquid feeder
JP3776796B2 (en) Substrate peripheral processing apparatus and substrate peripheral processing method
JPH0582431A (en) Photoresist applying device for semiconductor wafer
JP3680904B2 (en) Substrate processing equipment