JP2000076690A - 光学ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザ光を変調回折格子によって３ビームに
回折した後に記録媒体の記録面に光スポットとして集光
させ、両側の光スポットに非点収差を発生させる光学ヘ
ッド装置において、光学素子の位置調整を簡単に行える
ようにすること。 【解決手段】 光学ヘッド装置では、レーザ光源２から
のレーザ光Ｌを変調回折格子５によって３ビームに回折
し、記録媒体４の記録面４ａに形成される＋−１次光の
光スポットｂ、ｃに非点収差を発生させる。記録媒体４
からの戻り３ビームを回折格子６でそれぞれ３ビームに
回折して得られた＋−１次光によって形成される戻り光
の光スポットａ１、ａ２からＲＦ信号を検出する。光ス
ポットｂ１、ｃ１の非点収差の変化に基づきＦＥ、ＴＥ
信号を形成する。ＦＥ、ＴＥ信号用の光検出器３６、３
７はレーザ光源２の片側にのみ形成されているので、両
側に配置されている場合に比べて、光スポットｂ１、ｃ
１を光検出器の適切な位置に形成するための光学素子間
の位置調整が簡単になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤやＤＶＤ等の
光記録媒体の記録再生を行うための光学ヘッド装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】光学ヘッド装置においては、その光源か
ら出射したレーザ光を対物レンズを介して、光記録媒体
の記録面に光スポットとして集光させ、そこを反射した
戻り光を光検出器によって検出して当該光記録媒体に記
録された情報を再生している。また、これと同時に、レ
ーザ光を焦点ずれを伴うことなく記録面に集光させるよ
うに対物レンズのフォーカシング方向の位置を制御して
いる。さらには、レーザ光が記録面のトラックを正確に
走査するように対物レンズのトラッキング方向の位置も
制御している。これらのトラッキングおよびフォーカシ
ング制御は、光記録媒体からの戻り光からトラッキング
エラーおよびフォーカシングエラーに対応する光情報を
検出して当該光情報に基づき行われる。

【０００３】トラッキングエラーの検出方法としては、
一般に３ビーム法が採用されている。３ビーム法では、
レーザ光を回折格子等によって記録面のトラック方向に
向けて３ビームに分割し、これらに含まれる＋−１次光
の反射光に基づき、トラッキングエラー（ＴＥ）信号を
生成している。

【０００４】フォーカシングエラー（ＦＥ）信号の検出
方法としては、例えば、円筒レンズ（シリンドリカルレ
ンズ）を用いた非点収差法、ホログラム素子を用いたナ
イフエッジ法あるいはスポットサイズ法等が知られてい
る。これらの方法においては、光記録媒体からの戻り光
に、非点収差等のフォーカシングエラー成分を光学的に
含ませ、このエラー成分を光検出器で検出するようにし
ている。

【０００５】非点収差法によるＦＥ信号の検出方法にお
いては、受光面が４分割された４分割型光検出器が使用
され、４分割された各受光面での受光量に基づき、ＦＥ
信号と共に、記録（ＲＦ）信号を検出している。しか
し、この４分割型光検出器は受光面に分割不感帯ができ
るので、ＲＦ信号を検出する場合には、それが原因とな
ってＲＦ信号の高域周波数特性が劣化する恐れがある。
また、ナイフエッジ法やスポットサイズ法によるＦＥ信
号の検出方法においても、分割型光検出器を用いるた
め、同様のＲＦ信号の劣化の恐れがある。

【０００６】本出願人は、このような弊害を回避できる
光学ヘッド装置を特開平８−１６７０３７号公報におい
て提案している。この公開公報に開示された光学ヘッド
装置では、光源から出射されたレーザ光を変調回折格子
によって３ビームに回折した後に記録媒体の記録面に光
スポットとして集光させ、両側の光スポットに非点収差
を発生させる。この非点収差が付与された光スポットに
対応する反射光を検出してＦＥ信号およびＴＥ信号を生
成するようにしている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ここで、光学ヘッド装
置では、フォーカシングエラーおよびトラッキングエラ
ーを正確に反映したＦＥ信号およびＴＥ信号を検出する
ことが重要であり、したがって、記録面からの戻り光を
受光面上の適切な位置に光スポットとして集光させる必
要がある。このため、回折格子によってレーザ光を３ビ
ームに分離する形式の光学ヘッド装置では、戻り光の集
光位置が最適な位置となるように、回折格子等の光学素
子間の位置調整が行われる。この位置調整を容易に行う
ことができれば、光学ヘッド装置の光学系の組み立てを
効率良く行うことができる。

【０００８】そこで、本発明の課題は、レーザ光を変調
回折格子によって３ビームに回折した後に記録媒体の記
録面に光スポットとして集光させ、両側の光スポットに
非点収差を発生させる形式の光学ヘッド装置において、
光学素子間の位置調整を容易に行えるようにすることに
ある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明の光学ヘッド装置では、レーザ光源と、この
レーザ光源から出射されたレーザ光を光記録媒体の記録
面に集光させる対物レンズと、前記記録面で反射した戻
り光を検出する光検出手段とを有する光学ヘッド装置に
おいて、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を０次
光および＋−１次光を含む３ビームに分割し、当該＋−
１次光に対して非点収差を発生させる変調回折格子と、
前記記録面で反射した戻り３ビームを前記光検出手段に
導く導光素子とを有し、前記光検出手段は、前記戻り３
ビームに含まれる０次光を受光する記録信号再生用の第
１の光検出部と、前記戻り３ビームに含まれる＋−１次
光を受光して当該＋−１次光に含まれる非点収差に基づ
きフォーカシングエラー信号を検出する第２の光検出部
とを備えており、前記第２の光検出部は前記レーザ光源
の片側に配置されていることを特徴とする。

【００１０】本発明の光学ヘッド装置では、第２の光検
出部をレーザ光源の片側にのみ配置してあるので、その
両側に第２の光検出部を配置した場合に比べて、第２の
光検出部の最適位置に戻り光スポットを位置させるため
に行われる、変調回折格子、導光素子等の光学素子の取
り付け時の位置調整が容易になる。

【００１１】ここで、前記変調回折格子による回折方向
が、前記光記録媒体の記録面におけるトラック方向とな
るようにすれば、＋−１次光の戻り光に基づきＴＥ信号
を検出できる。従って、フォーカシングエラー検出用の
光検出部をトラッキングエラー検出用の光検出部として
兼用できる。

【００１２】次に、前記導光素子として、前記変調回折
格子による回折方向（記録面におけるトラック方向）と
直交する方向に前記戻り３ビームのそれぞれを回折する
回折格子を採用した場合は、前記第１の光検出部とし
て、前記回折格子による回折方向において前記レーザ光
源の両側に配置した２つの光検出器を備えたものを採用
し、前記第２の光検出器として、前記変調回折格子によ
る回折方向（記録面におけるトラック方向）において、
前記第１の光検出部の一方の光検出器の両側に配置した
２つの光検出器を備えたものを採用することができる。
この場合には、前記第１の光検出部の光検出器に、前記
戻り３ビームに含まれる０次光を前記回折格子により回
折して得られる＋−１次光を導びき、前記第２の光検出
部の光検出器に前記戻り３ビームに含まれる＋−１次光
を前記回折格子により回折して得られる＋１次光または
−１次光を導けばよい。

【００１３】一方、前記回折格子は、前記変調回折格子
と前記対物レンズの間に配置して、前記戻り３ビームの
それぞれを回折して得られる＋−１次光が前記変調回折
格子を通過しないように設定しておくことが望ましい。
この理由は、＋−１次光が、変調回折格子を通過して再
度変調および回折されて光量が低下してしまうことを回
避できるからである。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明を
適用した光学ヘッド装置を説明する。

【００１５】図１には、本発明による光学ヘッド装置の
光学系の概略構成を示してある。本例の光学ヘッド装置
１は、レーザ光源２から出射されたレーザ光Ｌを変調回
折格子５によって３ビームに回折した後に対物レンズ３
を介して光記録媒体４の記録面４ａに光スポットとして
集光させ、両側の光スポットに非点収差を発生させる。

【００１６】レーザ光源２と対物レンズ３の間の光路上
には、レーザ光源２の側から変調回折格子５および回折
格子６がこの順序で配列されている。本例では、ガラス
基板７を挟み、一方の面に変調回折格子５が形成され、
他方の面に回折格子６が形成されている。また、本例の
回折格子６は偏光性回折格子である。図１（Ｂ）および
（Ｃ）には、それぞれ、変調回折格子５の格子パターン
および回折格子６の格子パターンを示してあり、これら
の回折方向は直交する方向となっている。また、変調回
折格子５による回折方向は光記録媒体４における記録面
４ａのトラック方向となっている。

【００１７】回折格子６の対物レンズ３の側には１／４
波長板８が配置されている。本例では、レーザ光Ｌは変
調回折格子５によって回折作用を受けるが、回折格子６
によっては回折作用を受けないように、レーザ光Ｌの偏
光方向と回折格子６の配向方向が設定されている。レー
ザ光Ｌは１／４波長板８を通過して円偏光となり、記録
媒体４の記録面４ａで反射された後に再度１／４波長板
８を通過して再び直線偏光に戻るが、偏光方向が直交す
る方向になる。このために、記録媒体４からの戻り光
は、回折格子６による回折作用を受ける。

【００１８】記録媒体４からの戻り光は、回折格子６に
よって回折された後に、光検出装置１０によって受光さ
れる。光検出装置１０による受光量に基づき、ＲＦ信号
が検出され、また、ＦＥ信号およびＴＥ信号が検出され
る。

【００１９】図１（Ｄ）に示すように、光検出装置１０
はシリコン等からなる半導体基板１１を有している。こ
の半導体基板１１の表面にはレーザ光源２が搭載され、
また、その表面には記録面４ａからの戻り光を検出する
複数の光検出器が作り込まれている。

【００２０】図２（Ａ）に示すように、レーザ光源２は
半導体基板１１の表面部分の略中央に配置されている。
このレーザ光源２は半導体基板１１の表面部分に固定さ
れた半導体基板等からなるサブマウント２１を備えてい
る。このサブマウント２１の上面にはレーザダイオード
チップ２２が載置されている。このレーザダイオードチ
ップ２２の出射光軸２２Ｌは半導体基板１１の基板面と
平行な方向に設定されている。半導体基板１１の表面部
分において、レーザダイオードチップ２２の出射端面２
２ａと出射光軸２２Ｌの方向に所定の距離だけ離れた位
置には、三角柱状のマイクロミラー２３が接着剤等によ
って固定されている。このマイクロミラー２３はレーザ
ダイオードチップ２２の出射光軸２２Ｌに対して４５度
傾斜した反射面２３ａを備えている。この反射面２３ａ
はレーザダイオードチップ２２の出射端面２２ａと対峙
している。従って、レーザダイオードチップ２２の出射
端面２２ａから射出されたレーザ光Ｌは、反射面２３ａ
で半導体基板１１の表面に垂直な方向に立ち上げられ
る。

【００２１】なお、レーザ光源２としては、サブマウン
ト２１およびマイクロミラー２３を備えたものの代わり
に、図２（Ｂ）に示すように、半導体基板１１のサブマ
ウント２１が固定されるべき部分に凹状のチップ取付け
部２４をエッチングによって形成し、この底面部分にレ
ーザダイオードチップ２２を固定した構成のレーザ光源
２ａであっても良い。この場合、レーザダイオードチッ
プ２２の出射端面２２ａと対峙する壁面２４ａをレーザ
ダイオードチップ２２の出射光軸２２Ｌに対して４５度
傾斜する反射面とすれば良い。このようにすれば、レー
ザダイオードチップ２２から射出されたレーザ光Ｌを、
壁面２４ａで半導体基板２の表面に垂直な方向に立ち上
げることができる。

【００２２】再び図１（Ｄ）に戻って説明する。半導体
基板１１の表面部分には、２つの光検出器３２、３３を
備えたＲＦ信号検出用の光検出部（第１の光検出部）３
１と、２つの光検出器３６、３７を備えたフォーカシン
グエラーおよびトラッキングエラー検出用の光検出部
（第２の光検出部）３５が作り込まれている。ＲＦ信号
検出用の光検出部３１の２つの光検出器３２、３３は、
記録面４ａにおけるトラック方向に直交する方向におい
て、レーザ光源２を挟み左右対称に配列されている。フ
ォーカシングエラーおよびトラッキングエラー検出用の
光検出部３５の２つの光検出器３６、３７は、記録面４
ａにおけるトラック方向において、ＲＦ信号検出用の光
検出部３１の光検出器３２の両側に配列されている。

【００２３】ここで、ＲＦ信号検出用の光検出器３１の
２つの光検出器３２、３３は非分割型光検出器である。
すなわち、光検出器３２、３３は、それぞれ、単独の受
光面３２ａ、３３ａを備えている。これに対して、フォ
ーカシングエラーおよびトラッキングエラー検出用の光
検出器３５の２つの光検出器３６、３７は、３分割型の
光検出器である。すなわち、光検出器３６は３つの受光
面３６ａ、３６ｂおよび３６ｃを備えており、同様に、
光検出器３７も３つの受光面３７ａ、３７ｂおよび３７
ｃを備えている。

【００２４】図３には、変調回折格子５による出射光の
回折作用、回折格子６による戻り光の回折作用、および
記録面上および光検出器の受光面上に形成される光スポ
ットの状態を示してある。図１および図３を参照して、
本例の光学ヘッド装置１における光信号の検出動作を説
明する。

【００２５】レーザ光源２からのレーザ光Ｌは、まず、
変調回折格子５を通過して回折作用を受け、主として、
０次光Ｌ（０）および＋−１次光Ｌ（＋１）、Ｌ（−
１）の３ビームに分割される。変調回折格子５の回折方
向は記録媒体４の記録面４ａにおけるトラック４ｂの方
向となるように設定されている。

【００２６】分割された３ビームは、回折格子６を素通
りした後、１／４波長板８を通過して円偏光に変換され
た後に、対物レンズ３に入射する。対物レンズ３を介し
て、３ビームは記録媒体４の記録面４ａに形成されてい
る記録トラック４ｂ上に光スポットａ、ｂ、ｃとして集
光する。

【００２７】記録媒体４で反射した戻り３ビームＬｒ
（０）、Ｌｒ（＋１）、Ｌｒ（−１）は、対物レンズ３
を経て１／４波長板８に戻り、ここを通過して、再び直
線偏光に変換される。しかるに、これらの戻り３ビーム
の偏光方向はレーザ光Ｌとは直交する方向に切り換わっ
ている。この結果、戻り３ビームＬｒ（０）、Ｌｒ（＋
１）、Ｌｒ（−１）は、回折格子６を通過する際に回折
作用を受けて、それぞれ３ビームに回折される。この回
折方向は、変調回折格子５の回折方向とは直交する方
向、すなわち、記録面４ａにおけるトラック方向に直交
する方向となるように設定されている。

【００２８】この結果、戻り３ビームに含まれる０次光
Ｌｒ（０）は、０次光Ｌｒ（０）０、および＋−１次光
Ｌｒ（０）＋１、Ｌｒ（０）−１の３ビームに回折され
る。同様に、＋１次光Ｌｒ（＋１）は、０次光Ｌｒ（＋
１）０、および＋−１次光Ｌｒ（＋１）＋１、Ｌｒ（＋
１）−１の３ビームに回折され、−１次光Ｌｒ（−１）
は、０次光Ｌｒ（−１）０、および＋−１次光Ｌｒ（−
１）＋１、Ｌｒ（−１）−１の３ビームに回折される。

【００２９】これらの回折光のうち、＋１次光Ｌｒ
（０）＋１は、ＲＦ信号検出用の光検出部３１を構成し
ている光検出器３３の受光面３３ａに光スポットａ２と
して集光する。−１次光Ｌｒ（０）−１は、ＲＦ信号検
出用の光検出部３１を構成している光検出器３２の受光
面３２ａに光スポットａ１として集光する。−１次光Ｌ
ｒ（＋１）−１は、フォーカシングエラーおよびトラッ
キングエラー信号検出用の光検出部３５を構成している
光検出器３７の受光面に光スポットｂ１として集光す
る。−１次光Ｌｒ（−１）−１は、フォーカシングエラ
ーおよびトラッキングエラー信号検出用の光検出部３５
を構成している光検出器３６の受光面に光スポットｃ１
として集光する。

【００３０】なお、図３（Ａ）に示すように、＋１次光
Ｌｒ（＋１）＋１、Ｌｒ（−１）＋１は、−１次光Ｌｒ
（＋１）−１、Ｌｒ（−１）−１とレーザ光源２を挟ん
で左右対称の位置に光スポットｂ２、ｃ２を形成する。
但し、光学ヘッド装置１では、これらの光スポットｂ
２、ｃ２が形成される位置には光検出器が形成されてい
ないので、＋１次光Ｌｒ（＋１）＋１、Ｌｒ（−１）＋
１はＲＦ信号、ＦＥ信号およびＴＥ信号の生成には関与
しない。

【００３１】ここで、本例においては、＋１次光Ｌｒ
（０）＋１、Ｌｒ（＋１）＋１、Ｌｒ（−１）−１が変
調回折格子５を通過しないように、回折格子６による回
折方向、および回折格子６と変調回折格子５の間の光路
長が設定されている。

【００３２】本例の光学ヘッド装置１では、レーザ光Ｌ
を変調回折格子５を用いて回折して３ビームとしてい
る。この結果、図４から分かるように、記録面４ａを除
いて考えた場合のメリジオナル像面の位置は破線４ａ１
で示す位置となり、記録面４ａによる反射後のメリジオ
ナル像面は破線４ａ２で示す位置となる。このために、
記録媒体４の記録面上に形成される各ビームの光スポッ
トのうち、両側に位置している光スポットｂ、ｃには非
点収差が発生する。これらの光スポットの戻り光による
各光検出器の受光面の側におけるメリジオナル像面は破
線１０ａで示す位置となる。従って、これらの光スポッ
トの戻り光が結像することによって光検出器の受光面に
形成される光スポットｂ１と、光スポットｃ１における
メリジオナル非点収差の横収差の幅は焦点ずれの方向に
応じて、逆方向に変化する。なお、光スポットｂ２と光
スポットｃ２におけるメリジオナル非点収差の横収差の
幅も焦点ずれの方向に応じて、逆方向に変化する。

【００３３】すなわち、図３（Ｄ）に示すように、焦点
があっている状態では、光スポットｂ１と、光スポット
ｃ１は同一寸法の楕円形になる。これに対して、前焦点
位置では、光スポットｂ１の幅が狭くなるのに対して、
光スポットｃ１の側は幅が広くなる。逆に、後焦点位置
では、光スポットｂ１の幅は狭くなる。なお、光スポッ
トｂ２、ｃ２の関係も光スポットｂ１、ｃ１の関係と同
一である。

【００３４】従って、光検出装置１０では、これらの光
スポットの幅の変化を各光検出部を構成している光検出
器の受光量変化として検出してＦＥ信号を生成するよう
にしている。例えば、図５（Ａ）に示すように、光検出
器３６の両側の受光面３６ｂおよび３６ｃでの受光量
と、反対側の光検出器３７の中央の受光面３７ａでの受
光量の和Ｓ１を取る。また、光検出器３６の中央の受光
面３６ａでの受光量と、反対側の光検出器３７の両側の
受光面３７ｂおよび３７ｃでの受光量の和Ｓ２を取る。
そして、これらの和信号Ｓ１、Ｓ２の差を求めることに
より、ＦＥ信号が生成される。

【００３５】次に、ＴＥ信号は、一般的に採用されてい
る３ビーム法によって生成される。すなわち、図５
（Ｂ）に示すように、光検出装置１０における光検出器
３６での受光量Ｓ３と、反対側の受光部３７の受光量Ｓ
４との差を求めることにより、ＴＥ信号が生成される。

【００３６】一方、ＲＦ信号は、光検出装置１０におい
て中央に配置されている非分割型の光検出器３２、３３
の総受光量に基づき生成される。

【００３７】ここで、光検出器３６、３７に加えて、光
スポットｂ２、ｃ２が形成される位置にＦＥ信号および
ＴＥ信号を検出するための光検出器を形成しても良い。
このようにレーザ光源２の両側に光検出器があると、戻
り３ビームに含まれる＋−１次光Ｌｒ（＋１）、Ｌｒ
（−１）を回折して得られる＋−１次光Ｌｒ（＋１）＋
１、Ｌｒ（＋１）−１、Ｌｒ（−１）＋１、Ｌｒ（−
１）−１の全てを対応する光検出器の最適な位置に光ス
ポットｂ２、ｂ１、ｃ２、ｃ１として集光させる必要が
ある。

【００３８】これに対して、本例の光学ヘッド装置１で
は、戻り３ビームに含まれる＋−１次光Ｌｒ（＋１）、
Ｌｒ（−１）の−１次光Ｌｒ（＋１）−１、Ｌｒ（−
１）−１を、レーザ光源２の片側に配置してある光検出
器３６、３７の最適な位置に光スポットｂ１、ｃ１とし
て集光させれば良い。このように、レーザ光源２の一方
の側に形成される光スポットｂ１、ｃ１の位置のみを考
慮し、他方の側は考慮しなくても良いので、レーザ光源
２の両側に光検出器が配置されている場合に比べて、変
調回折格子５、回折格子６等の光学素子間の位置調整を
容易にでき、その調整作業を簡略化できる。

【００３９】また、光学ヘッド装置１では、変調回折格
子６の回折方向を記録面４ａにおけるトラック方向に合
わせてあるので、従来の３ビーム法と同様にして、＋−
１次光の戻り光を用いてＴＥ信号を生成できる。また、
ＴＥ信号およびＦＥ信号を共用の光検出部３５によって
生成しているので、光検出装置１０の小型化を図ること
ができる。

【００４０】さらに、光学ヘッド装置１では、回折格子
６によって回折して得られる戻り３ビームのそれぞれの
＋−１次光が変調回折格子５を通過しないようになって
いる。このため、それらの＋−１次光が変調回折格子５
を通過して再度変調および回折されて光量が低下してし
まうことを回避できる。

【００４１】（その他の実施の形態）なお、上記の例に
おいては、戻り３ビームに含まれる＋−１次光Ｌｒ（＋
１）、Ｌｒ（−１）の−１次光Ｌｒ（＋１）−１、Ｌｒ
（−１）−１に基づきＦＥ信号およびＴＥ信号を形成し
ている。この代わりに、戻り３ビームに含まれる＋−１
次光Ｌｒ（＋１）、Ｌｒ（−１）の＋１次光Ｌｒ（＋
１）＋１、Ｌｒ（−１）＋１に基づきＦＥ信号およびＴ
Ｅ信号を形成しても良い。この場合、光検出器３６、３
７を、＋１次光Ｌｒ（＋１）＋１、Ｌｒ（−１）＋１の
光スポットｂ２、ｃ２が形成される位置に形成すれば良
い。

【００４２】また、ＲＦ信号検出用の光検出部３１を、
いずれか一方の光検出器３２または３３から構成するこ
とも可能であるが、上記の例では、２つの光検出器３
２、３３から構成しているので、ＲＦ信号を検出する感
度が高い。

【００４３】さらに、上記の例においては、戻り光を光
検出装置に導くための導光素子として１／４波長板と回
折格子６を用いている。この代わりに、回折格子のみで
あっても良いし、ハーフミラーを用いて戻り光を分離し
ても良い。

【００４４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光学ヘッ
ド装置においては、ＦＥ信号を検出するための光検出部
をレーザ光源の片側にのみ配置してある。これにより、
ＦＥ信号を検出するための光検出器がレーザ光源の両側
に配置されている場合に比べて、変調回折格子や導光素
子等の光学素子間の位置調整を容易に行うことができ
る。換言すれば、光記録媒体からの戻り光を光検出器の
適切な位置に光スポットとして集光させるための調整作
業を簡略化できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（Ａ）は本発明を適用した光学ヘッド装置の光
学系の概略構成図、（Ｂ）は変調回折格子の格子パター
ンを示す説明図、（Ｃ）は戻り光を回折する回折格子の
格子パターンを示す説明図、および（Ｄ）は光検出装置
の構成を示す説明図である。

【図２】（Ａ）はレーザ光源の概略断面構成図、（Ｂ）
は（Ａ）とは異なるレーザ光源の概略断面構成図であ
る。

【図３】（Ａ）は図１の光学系における動作を説明する
ための概念図、（Ｂ）は記録面に形成された光スポット
を示す説明図、（Ｃ）は光検出装置の側に形成される光
スポットの例を示す説明図、（Ｄ）は光検出装置の側に
形成される光スポットの形状の変化を示す説明図であ
る。

【図４】変調回折格子によって回折された１次光の光束
の光路を示すための光束説明図である。

【図５】（Ａ）はフォーカスエラー信号を形成するため
の回路構成を示す説明図、（Ｂ）はトラッキングエラー
信号を形成するための回路構成を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 光学ヘッド装置 ２ レーザ光源 ３ 対物レンズ ４ 光記録媒体 ４ａ 記録面 ５ 変調回折格子 ６ 回折格子 ８ １／４波長板 １０ 光検出装置 ３１ ＲＦ信号検出用の光検出部（第１の光検出部） ３２、３３ ＲＦ信号検出用の光検出器 ３５ ＦＥ信号およびＴＥ信号検出用の光検出部（第２
の光検出部） ３６、３７ ＦＥ信号およびＴＥ信号検出用の光検出器 Ｌ（０）、Ｌ（＋１）、Ｌ（−１） レーザ光Ｌの回折
光 Ｌｒ（０）＋１、Ｌｒ（＋１）＋１、Ｌｒ（−１）＋１
戻り光の回折光 Ｌｒ（０）−１、Ｌｒ（＋１）−１、Ｌｒ（−１）−１
戻り光の回折光 ａ、ｂ、ｃ 記録トラック上の光スポット ａ１、ａ２、ｂ１、ｃ１ 光検出器上の光スポット

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光源と、このレーザ光源から出射
   されたレーザ光を光記録媒体の記録面に集光させる対物
   レンズと、前記記録面で反射した戻り光を検出する光検
   出手段とを有する光学ヘッド装置において、 前記レーザ光源から出射されたレーザ光を０次光および
   ＋−１次光を含む３ビームに分割し、当該＋−１次光に
   対して非点収差を発生させる変調回折格子と、前記記録
   媒体の記録面で反射した戻り３ビームを前記光検出手段
   に導く導光素子とを有し、 前記光検出手段は、前記戻り３ビームに含まれる０次光
   を受光する記録信号再生用の第１の光検出部と、前記戻
   り３ビームに含まれる＋−１次光を受光して、当該＋−
   １次光に含まれる非点収差に基づきフォーカシングエラ
   ー信号を検出する第２の光検出部とを備えており、 前記第２の光検出部は前記レーザ光源の片側に配置され
   ていることを特徴とする光学ヘッド装置。
2. 【請求項２】 請求項１において、前記変調回折格子に
   よる回折方向は前記記録面におけるトラック方向であ
   り、前記第２の光検出部はトラッキングエラー信号検出
   用の光検出部を兼用していることを特徴とする光学ヘッ
   ド装置。
3. 【請求項３】 請求項２において、前記導光素子は、前
   記変調回折格子による回折方向と直交する方向に前記戻
   り３ビームのそれぞれを回折する回折格子であり、 前記第１の光検出部は、前記回折格子による回折方向に
   おいて前記レーザ光源の両側に配置された２つの光検出
   器を備え、 前記第２の光検出部は、前記変調回折格子による回折方
   向において、前記第１の光検出部の一方の前記光検出器
   の両側に配置された２つの光検出器を備え、 前記第１の光検出部の光検出器には、前記戻り３ビーム
   に含まれる０次光を前記回折格子により回折して得られ
   る＋−１次光が導かれ、前記第２の光検出部の光検出器
   には前記戻り３ビームに含まれる＋−１次光を前記回折
   格子により回折して得られる＋１次光または−１次光が
   導かれるようになっていることを特徴とする光学ヘッド
   装置。
4. 【請求項４】 請求項３において、前記回折格子は、前
   記変調回折格子と前記対物レンズの間に配置されている
   と共に、前記戻り３ビームのそれぞれを回折して得られ
   る＋−１次光が前記変調回折格子を通過しないように設
   定されていることを特徴とする光学ヘッド装置。