ES2972145T3

ES2972145T3 - Muestreador de aire microbiano ergonómico

Info

Publication number: ES2972145T3
Application number: ES21175424T
Authority: ES
Inventors: Arthur L Vellutato
Original assignee: Veltek Associates Inc
Current assignee: Veltek Associates Inc
Priority date: 2012-07-12
Filing date: 2013-06-07
Publication date: 2024-06-11
Anticipated expiration: 2033-06-07
Also published as: EP4249888A3; EP3885738A1; EP4249888A2; EP3885738B1; DK2872868T3; CA2878860A1; CN104428650A; SG11201500160UA; US10571369B2; EP2872868A4; US20140013866A1; CN109238792A; EP3885738C0; ES2894606T3; EP2872868B1; USD837397S1; IN2015DN00997A; WO2014011335A1; HK1208732A1; EP2872868A1

Abstract

Un dispositivo muestreador de gas tiene una placa superior con una pared exterior cóncava. La pared exterior cóncava permite a los usuarios levantar fácilmente la placa superior de la placa inferior sin alterar la placa inferior porque la superficie curva permite un contacto más positivo entre la pared exterior y los dedos de los usuarios. Además, el peso de la placa superior se reduce aproximadamente un veinte por ciento en comparación con las placas superiores convencionales, una característica que también facilita a los usuarios levantar la placa superior de la placa inferior. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN

Muestreador de aire microbiano ergonómico

Antecedentes de la invención

Campo de la invención

La presente invención hace referencia a un muestreador de gas microbiológico. Más en particular, la presente invención es para un muestreador de gas microbiológico que se utiliza en un entorno controlado que incluye una placa superior ergonómica con unas paredes laterales cóncavas. Las paredes laterales cóncavas permiten tanto un contacto más positivo cuando se intenta sujetar la placa superior como una reducción del peso del dispositivo.

Antecedentes de la técnica relacionada

Un entorno controlado es un área que se designa, mantiene o controla para evitar la contaminación microbiológica y de partículas de productos. Los entornos controlados incluyen, por ejemplo, salas blancas y campanas de aspiración limpias. Existen distintos niveles de limpieza en las salas blancas, en general en el intervalo de una sala de Clase 100 (es decir, una sala que no tiene más de 100 partículas de 0.5 micrones y mayores por pie cúbico de aire) a una sala blanca de Clase 10.000.

Las salas blancas se utilizan con diversos fines, tales como, en la fabricación de productos farmacéuticos y electrónicos, tales como semiconductores. Con frecuencia, las salas blancas se utilizan para trabajar en productos extremadamente complejos y costosos, y no es raro que haya productos valorados en millones de dólares en una sala blanca en cualquier momento dado. Las salas blancas deben mantener un nivel elevado de limpieza o se arriesgan a grandes pérdidas financieras. Si se contamina un producto que se desarrolla o fabrica en una sala blanca, con frecuencia se debe descartar todo el producto en la sala blanca.

Los muestreadores de aire microbiano se utilizan para monitorizar el nivel de limpieza (en términos de contaminación viable) en un entorno controlado. Uno o más muestreadores se posicionan alrededor de la sala blanca para recoger materiales particulados y organismos (o microorganismos), tales como, bacterias y hongos. Los muestreadores que trabajan con caudales elevados permiten la entrada de aire al muestreador con unos caudales tan elevados que es normal la pérdida de materiales particulados más pequeños que transportan microorganismos (es decir, los materiales particulados más pequeños no quedan retenidos en el medio). Al mismo tiempo, los muestreadores de aire de caudales elevados muestrean únicamente durante un corto período de tiempo y transmiten una captura corta de la situación del área. Los muestreadores que trabajan a 28.3 lpm (litros por minuto) deben funcionar durante un período más prolongado de tiempo que una unidad de trabaja a 322 lpm. Al hacerlo, estos muestrean un espectro más amplio del intervalo de llenado del fármaco y presentan mejores datos ya que el tiempo de muestreo recoge una captura más grande de la operación. Los muestreadores que trabajan a 28.3 lpm también ofrecen la posibilidad de capturar materiales particulados más pequeños que se pueden perder debido a una resistencia dinámica (o un efecto paraguas) en unidades de caudal más elevado.

En general, se conocen los sistemas de muestreo de aire, yVeltek Associates, Inc.ofrece un sistema de muestreo de aire conocido como sistema de muestreador de aire microbiano SMA (Atrio Microbiológico Esterilizable, por sus siglas en inglés). Un sistema de este tipo se muestra en la publicación US n.° 2011/0167931, presentada el 12 de enero de 2010, y en la patente US n.° 7.940.188, presentada el 26 de julio de 2010. Tal como se cita en esas solicitudes, el sistema de muestreador de aire incluye un controlador conectado con una bomba de vacío para controlar el flujo de aire a los dispositivos muestreadores de aire colocados en la sala blanca.

En las figuras 1(a), (b), se muestra un dispositivo muestreador de aire 5 de la técnica anterior, el cual está comercializado porVeltek Associates, Inc.El dispositivo muestreador de aire 5 ensamblado incluye una placa superior 10 con unos orificios 11 y una placa inferior 14. La placa superior 10 tiene una sección plana y un lado exterior. La sección plana forma la superficie superior de la placa superior 10 y se extiende de manera esencialmente horizontal cuando se utiliza. Las aberturas pasan a través de la sección plana. El lado exterior se extiende hacia debajo de modo que sea esencialmente ortogonal a la sección plana. El lado exterior tiene un único grosor uniforme que se extiende por la totalidad de la circunferencia de la placa superior 10. Las superficies exteriores de la placa superior 10 y la placa inferior 14 son planas y lisas. La placa inferior 14 está dimensionada y moldeada de manera esencialmente idéntica a la placa superior 10. Aunque se muestra el dispositivo 5 como circular, se pueden utilizar otras formas.

Durante el funcionamiento, se retira la placa superior 10, se coloca una placa de Petri sobre la placa inferior 14 y se vuelve a colocar la placa superior 10 sobre la placa inferior 14. Un tubo de vacío se fija a la boca de aire 22. A continuación, se succiona aire a través de los orificios 11 en la placa superior 10, de modo que el aire golpee un medio de ensayo contenido en la placa de Petri, que está dentro del dispositivo muestreador de aire 5, entre la placa superior 10 y la placa inferior 14. El aire sale a través de la boca de aire 22 y del tubo de vacío. Al final del período de ensayo, la placa superior 10 se separa de nuevo de la placa inferior 14, se retira la placa de Petri y se vuelve a colocar la placa superior 10. A continuación, se puede analizar la placa de Petri para determinar el nivel de limpieza de la sala blanca.

Todo el dispositivo 5 es metálico, de modo que se pueda esterilizar el dispositivo 5 mediante calor, vapor, peróxido de hidrógeno vaporizado (VHP) u óxido de etileno (EtO). La placa de Petri tiene un diámetro de aproximadamente 8.89 cm (3.5 pulgadas). La placa superior 10 tiene un diámetro exterior de 11.43 cm (4.5 pulgadas). Hay doce orificios 11 situados dentro de un área circular que tiene un diámetro de 7.62 cm (3 pulgadas) y cada orificio 11 tiene un diámetro de aproximadamente 1.27 cm (0.5 pulgadas).

No obstante, los lados de la placa superior 10 son lisos y la placa superior 10 es relativamente pesada, de manera específica, 572.66 g (1 libra y 4.2 onzas). En consecuencia, puede ser difícil de sujetar la placa superior 10 para una persona en el interior de la sala blanca que lleva puestos guantes.

Sumario de la invención

En consecuencia, un objetivo de la invención es proporcionar un dispositivo para el muestreo de células viables en el aire. Otro objetivo de la invención es proporcionar un muestreador de aire microbiano con un diseño mejorado, que disminuye el peso de la placa superior y permite un contacto más positivo cuando se sujeta la placa superior.

Por lo tanto, se proporciona un dispositivo muestreador de aire que tiene una pared lateral cóncava a lo largo de la circunferencia exterior de la placa superior. La pared lateral cóncava es particularmente útil debido a que con frecuencia es necesario que los usuarios lleven puestos guantes en todo momento mientras están dentro de la sala blanca. La pared lateral cóncava permite levantar con facilidad la placa superior de la placa inferior sin alterar la placa inferior, ya que se puede ejercer un contacto más positivo entre los dedos del usuario y la pared lateral de la placa superior.

Además, la pared lateral cóncava disminuye el peso del dispositivo aproximadamente un 20 por ciento. El menor peso de la placa superior también facilita que los usuarios despeguen la placa superior de la placa inferior.

Estos y otros objetivos de la invención, así como también muchas de sus ventajas previstas, se pondrán más claramente de manifiesto cuando se haga referencia a la siguiente descripción considerada junto con los dibujos adjuntos.

Breve descripción de las figuras

La figura 1(a) es una vista en perspectiva del dispositivo muestreador de aire de acuerdo con la técnica anterior;

la figura 1(b) es una vista de una sección transversal del dispositivo muestreador de aire según la técnica anterior;

la figura 2 es una vista en perspectiva superior de la placa superior del dispositivo muestreador de aire de acuerdo con una forma de realización ejemplificativa de la invención; y

la figura 3 es una vista lateral de una sección transversal del dispositivo muestreador de aire de la figura 2 que muestra el movimiento de aire dentro del dispositivo.

Descripción detallada de las formas de realización preferidas

Al describir forma de una realización preferida de la invención ilustrada en los dibujos, se acudirá a una terminología específica para una mayor claridad. No obstante, la invención no pretende estar limitada a los términos específicos seleccionados de este modo y se debe sobreentender que cada término específico incluye todos los equivalentes técnicos que funcionan de una manera similar para lograr un fin similar. Las realizaciones preferidas de la invención se describen con fines ilustrativos, se sobreentiende que la invención se puede materializar de otras formas que no se muestran de manera específica en los dibujos.

Tal como se muestra en la figura 2, se muestra una placa superior 100 de un dispositivo muestreador de aire 50. La placa superior 100 tiene una superficie superior 112. Se forman doce orificios 116 en la superficie superior 112. La placa superior 100 tiene una sección plana 130 y al menos un lado exterior 140. La sección plana 130 forma la superficie superior de la placa superior 100 y se extiende de manera esencialmente horizontal cuando se utiliza. Las aberturas 116 pasan a través de la sección plana 130. El lado exterior o la pared lateral 140 se extiende hacia abajo de modo que sea esencialmente ortogonal a la sección plana 130. La pared lateral 140 es cóncava o está curvada hacia dentro y define toda la circunferencia exterior de la placa superior 100. El lado exterior 140 cóncavo facilita la sujeción de la placa superior 100, de modo que un usuario pueda retirar y volver a colocar con facilidad la placa superior 100 con respecto a la placa inferior 150.

Con fines ilustrativos, en la figura 3 también se muestra la placa inferior 150. Una boca de aire de vacío 160 está posicionada en el lado de la placa inferior y se comunica con un orificio de aire 162. El orificio de aire 162 se extiende a través de la placa inferior 150, desde la boca de aire 160 hasta el pozo central 158. La boca de aire de vacío 160 se conecta con un tubo de vacío para succionar el aire a través del muestreador 50.

El funcionamiento del muestreador 50 se muestra mejor en la figura 3, donde las flechas muestran en general la dirección de desplazamiento del aire a medida que este fluye a través del dispositivo 50. Se introduce un dispositivo muestreador de aire esterilizado 50 en la sala blanca y se retira la placa superior 100. Se inserta la placa de Petri 52 sobre la placa inferior 150 y se vuelve a colocar la placa superior 100. A continuación, se inicia el flujo de aire durante un período de tiempo predeterminado. El tubo de vacío 162, a través de la boca de aire 160, succiona el aire al interior del dispositivo muestreador 50.

Una vez que el aire entra en los orificios 112 de la placa superior, este golpea el material capturado en la placa de Petri 52, a continuación sube alrededor de los lados de la placa de Petri 52, se desplaza a través de las ranuras alargadas 164 por debajo de la placa de Petri 52 y entra en el pozo central 158. A continuación, se succiona el aire a través del orificio de aire 162 y sale por la boca de aire de vacío 160. Una vez transcurrido el período de tiempo predeterminado (que puede ser de 10-60 minutos o mayor), se desconecta el flujo de aire. A continuación, se eleva la placa superior 100 y se retira la placa de Petri 52 para su ensayo. A continuación, si se desea, se puede esterilizar el muestreador 50 e introducir una nueva placa de Petri 52.

En consecuencia, la boca de aire 160 está en comunicación fluida con el paso 162, que está en comunicación fluida con el pozo 158. Y el pozo 158 está en comunicación fluida con las ranuras alargadas 164, que están en comunicación fluida con el aire que entra por los orificios 112 de la placa superior 100. La estructura y funcionamiento del dispositivo que tiene la placa inferior 150 mostrada se describe con más detalle en la publicación n.° 2011/016793. No obstante, cabe destacar que se puede proporcionar cualquier placa inferior adecuada 150 diferente de la mostrada, y no es necesario que la placa inferior 150 tenga un pozo central 158 ni un orificio de aire 162 ni unas ranuras 164.

Tal como se muestra en la figura 3, la pared lateral 140 define una superficie interior de la pared lateral 170 y una superficie exterior de la pared lateral 172. La superficie interior 170 define un diámetro interior de la placa superior 140. La superficie interior 170 es recta y no sobresale hacia dentro, de manera que no interfiera con la placa de Petri 52. Por tanto, no es necesario situar la pared interior 170 más alejada de la placa de Petri 52. La pared interior 170 recta también proporciona un conducto de aire recto con dimensiones uniformes (es decir, el ancho) entre la placa de Petri 52 y la pared interior 170, de modo que el aire pueda fluir de manera uniforme alrededor de la placa de Petri 52 hasta la boca de salida 160.

La superficie exterior 172 de la pared lateral 140 está curvada y, por lo tanto, la pared lateral 140 tiene un grosor variable. La pared lateral 140 es más gruesa en las partes superior e inferior y más delgada en la parte intermedia, donde está curvada hacia dentro. La superficie exterior 172 está curvada de modo que sea ergonómica y coincida con la forma de una mano de un usuario que lleva puestos guantes. La parte superior de la superficie exterior curvada 172 tiene un labio superior 142 curvado que se extiende alrededor de la totalidad de la circunferencia de la placa superior 100. El labio superior 142 sobresale hacia fuera desde la parte intermedia de la pared 140. El labio superior 142 se acopla con los dedos del usuario cuando se eleva la placa superior 100, lo que facilita así elevar y manipular la placa superior 100. El labio superior 142 está redondeado o biselado en el extremo 143 entre la superficie superior de la sección plana 130 y la pared lateral 140. El extremo 143 redondeado mejora la seguridad de la placa superior 100 y aumenta la comodidad del usuario mediante la eliminación de cualquier ángulo afilado. Un beneficio adicional de la superficie de pared 172 lateral curvada es que el usuario conoce de manera táctil que está manipulando la placa superior 100 (y no la placa inferior 150). Por tanto, por ejemplo, el usuario puede deslizar sus dedos desde la parte inferior del dispositivo 50 hasta que los dedos se acoplen con el labio superior 142.

La sección inferior de la superficie de pared 172 exterior curvada forma un labio inferior 144 que es relativamente afilado. Esto proporciona a la pared lateral 140 un pie plano 146 que forma una junta y coincide con la superficie superior de la placa inferior 150. La circunferencia exterior del pie 146 de la pared lateral 140, donde la placa superior 100 se encuentra con la placa inferior 150, está dimensionada y configurada de manera sustancialmente idéntica que la placa inferior 150. El pie de la pared lateral 140 de la placa superior 100 tiene un diámetro exterior de 11.43 cm (4.5 pulgadas). Hay doce orificios 116 posicionados dentro de aproximadamente un área circular que tiene un diámetro de 7.62 cm (3 pulgadas) y cada orificio 116 tiene un diámetro de aproximadamente 1.27 cm (0.5 pulgadas). El grosor de la parte superior y la parte inferior del lado cóncavo 140 es de aproximadamente 0.635 cm (0.25 pulgadas).

El lado exterior 140 cóncavo de la placa superior 100 es particularmente útil, ya que con frecuencia es necesario que los usuarios lleven puestos unos guantes (además de las prendas, capuchas y botines) en todo momento mientras se encuentran dentro de la sala blanca. Además, todo el dispositivo 50 se fabrica con metal, de modo que este se pueda esterilizar mediante calor, vapor, VHP o EtO. En consecuencia, la placa superior 100 (así como también la placa inferior) es relativamente pesada, lo que dificulta su retirada con una mano que lleva un guante puesto. Al proporcionar un lado exterior cóncavo hacia dentro 140, la presente invención permite que la placa superior 100 se despegue con facilidad de la placa inferior 150 sin alterar la placa inferior 150.

La pared lateral 140 curvada también reduce considerablemente el peso de la placa superior 100. El peso de la placa superior 100 es de 481.94 g (1 libra y una onza), que es aproximadamente una reducción de peso de un 20 % (18.82 %) con respecto a la placa superior 10 de la figura 1, que pesa 572.66 g (1 libra y 4.2 onzas). El radio de curvatura es de aproximadamente 0.856 cm (0.337 pulgadas).

La superficie exterior 172 curvada está preferentemente curvada por completo de manera uniforme alrededor de la placa superior 100. No obstante, no es necesario que la superficie exterior 172 esté curvada por completo y pueden estar curvadas únicamente unas partes de la superficie exterior 172. Por ejemplo, la pared lateral 140 puede estar curvada en dos partes opuestas de la placa superior 140. O, la pared lateral 140 puede estar curvada de manera diferente en partes diferentes de la pared lateral 140. Y, no es necesario que la curva tenga un labio superior 142 y un labio inferior 144. Por ejemplo, se puede proporcionar únicamente un labio superior 142.

La descripción y los dibujos anteriores se deberían considerar únicamente como ilustrativos de los principios de la invención. La invención se puede configurar con diversas formas y tamaños, y no se pretende que esté limitada por la realización preferida. Los expertos en la materia concebirán con facilidad numerosas aplicaciones de la invención. Por lo tanto, no se desea limitar la invención a los ejemplos específicos divulgados ni a la construcción y el funcionamiento exactos mostrados y descritos. Más bien, se puede acudir a todas las modificaciones y los equivalentes que se encuentren dentro del alcance de la invención.

Claims

REIVINDICACIONES

1. Dispositivo muestreador ergonómico (50), que comprende:

una placa superior (100) que incluye una superficie superior, una pared lateral con una superficie interior y una superficie exterior, siendo recta la superficie interior de la placa superior,

una pluralidad de orificios pasantes (11) a través de la superficie superior de la placa superior,

una placa inferior (150) que incluye una superficie superior, una superficie inferior, una superficie lateral y una parte de recepción en la superficie superior de la placa inferior para recibir una placa (52),

en el que la placa superior es separable de la placa inferior,

y coincidiendo la superficie superior de la placa inferior con la pared lateral de la placa superior, comprendiendo la superficie inferior de la placa inferior un canal que termina en un orificio (22) en la superficie lateral, conectando fluídicamente el canal la pluralidad de orificios pasantes de la placa superior con el orificio en la superficie lateral de la placa inferior,

caracterizado por que

la superficie exterior de la placa superior es cóncava hacia dentro, un labio redondeado entre la superficie superior de la placa superior y la pared lateral de la placa superior, en el que

la pared lateral presenta un labio afilado opuesto al labio redondeado, extendiéndose cada uno de los labios redondeado y afilado hacia fuera más allá de la superficie exterior, terminando la superficie exterior en los labios redondeado y afilado, respectivamente.

2. Dispositivo muestreador según la reivindicación 1, en el que toda la superficie exterior de la placa superior es cóncava.

3. Dispositivo muestreador según las reivindicaciones 1 o 2, en el que la placa superior es metálica.

4. Procedimiento para el muestreo de un gas por medio de un dispositivo muestreador de gas en un entorno controlado, comprendiendo el dispositivo muestreador de gas una placa superior que incluye una superficie superior, una pared lateral con una superficie interior y una superficie exterior, siendo recta la superficie interior y siendo la superficie exterior cóncava hacia dentro, un labio redondeado entre la superficie superior y la pared lateral, y una pluralidad de orificios pasantes a través de la superficie superior; y una placa inferior que incluye una superficie superior, una superficie inferior, una superficie lateral y una parte de recepción en la superficie superior de la placa inferior para recibir una placa, coincidiendo la superficie superior de la placa inferior con la pared lateral de la placa superior, comprendiendo la superficie inferior un canal que termina en un orificio en la superficie lateral, conectando fluídicamente el canal la pluralidad de orificios pasantes de la placa superior con el orificio en la superficie lateral de la placa inferior, presentando la pared lateral un labio afilado opuesto al labio redondeado, en el que cada uno de los labios redondeado y afilado se extiende hacia fuera más allá de la superficie exterior, en el que la superficie exterior termina en los labios redondeado y afilado, respectivamente, comprendiendo el procedimiento la etapa siguiente:

sujetar el labio redondeado de la placa superior con los dedos de un usuario; y

elevar la placa superior de la placa inferior una vez que los dedos de un usuario sujetan el labio redondeado para separar la placa superior de la placa inferior.

5. Procedimiento según la reivindicación 4, que comprende asimismo la etapa de utilizar un guante en los dedos del usuario cuando se sujeta el labio redondeado.

6. Procedimiento según las reivindicaciones 4 o 5, en el que el entorno controlado es una sala blanca.

7. Procedimiento según una de las reivindicaciones 4 a 6, en el que toda la superficie exterior de la placa superior es cóncava.