DE7921541U1

DE7921541U1 - Instrumentenbasis fuer optische geraete

Info

Publication number: DE7921541U1
Application number: DE19797921541U
Authority: DE
Original assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Current assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date: 1979-07-27
Filing date: 1979-07-27
Publication date: 1979-10-31
Also published as: CH646810A5; US4363536A; GB2054898A; FR2462761B3; JPS5633614A; JPS6155373B2; GB2054898B; FR2462761A1

Description

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Instrumentenbasis für optische Geräte

Die Erfindung betrifft eine Instrumentenbasis für optische Geräte wie ophthalmologische oder intravitalmikroskopische Instrumente, mit einer horizontal verschiebbaren Grundplatte und einem darüber angeordnej ten, höhenverstell- und horizontal schwenkbaren Instrumententräger.

Instrumentenbasen für optische Geräte und insbesondere für ophthalmologische Untersuchungsinstrumente sind in verschiedenartigen Ausführungsformen bekannt. Die Konto struktion dieser Instrumentenbasen wird im wesentlichen von der Größe und dem Gewicht der darauf zu montierenden Bauteile und von der Präzision und Vielseitigkeit der Einstellmöglichkeiten bestimmt. Eine genaue optische und geometrische Einstellbarkeit des Instrumentes auf das zu untersuchende Objekt ist dabei unerläßlich. Dies gilt insbesondere dann, wenn optische Bauteile direkten Kontakt mit dem zu untersuchenden Organ bekommen sollen.

Ein typisches Beispiel für eine derartige Anordmms i-?·: ein UntersuchungsgerMt für vordere Augenabschnittc vic

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z.B. des Hornhaut-Epithels oder Endothels bei stärkeren Vergrößerungen. Dabei ist zur Erzielung optimaler Ergebnisse ein direkter Kontakt eines Beobachtungsobjektivs oder einer vom Objektiv getrennten Vorsatzlinse mit dem zu untersuchenden Auge oft unumgänglich.

Außer einer Grobfokussierung und der Möglichkeit eines ) schnellen Positionswechsels auf das jeweils zu untersuchende Auge sollte in diesem Fall eine anschließende Feinfokussierung und eine Feinstellung in Richtung der x-y-Koordinaten sowie unabhängig von den Gesamteinstellungen der Instrumentenbasis eine Justierbarkeit der Kontaktlinse in horizontaler und vertikaler Richtung gegeben sein.

Aus der DL-PS 6o 443 ist eine Vorrichtung zur Feineinstellung ophthalmologischer Instrumente mit einem zur Einstellung in der Horizontalebene allseitig schwenkbar gelagerten Hebel und einer mit einem Gewinde versehenen, in eine Nabe eingreifenden Spindel air Höhenverstellung bekannt. Der Hebel ist um seine Längsachse drehbar und mit der Spindel sowie der Nabe gekuppelt. Auf diese Weise kann der Hebel sowohl zur Horizontal- als auch zur Vertikalverstellung benutzt werden. Eine Untersuchung mit stärkeren Vergrößerungen im Mikrobereich, wie sie z.B. für das Hornhaut-Epithel oder -Endothel häufig erforderlich ist, und eine direkte Kontaktierung des zu untersuchenden A.uges, ist mit dieser Anordnung nicht möglich.

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Patentabteilung - 6 -

Das gleiche gilt für die aus der DE-AS 1 189 759 bekannte Anordnung mit einer um eine senkrechte Achse schwenkbaren Beleuchtungs- und Beobachtungseinrichtung, deren letztere außerdem um eine waagerecht durch das zu beobachtende Auge gehende und senkrecht auf der Beobachtungsrichtung stehende Achse schwenkbar ist. Auf diese Weise können zwar Einzelheiten v^r allem in den oberen und unteren Partien der vor- \ deren Augenteile gut beobachtet werden, aber wegen der änderlichen Höhe und Neigung des Einblicks ist diese Anordnung unbequem.

Aus der DE-OS 2 52o 445 ist eine Anordnung zur Augenuntersuchung mit einem an einem Tragarm befestigten MikroskoD bekannt, wobei der Tragarm am eine Schwenkachse drehbar ist. Zur Verstellung sind ein Daumenhebel, ein Rändelknopf und ein schwenkbarer Finger vorgesehen. Eine direkte Kontaktierung ist mit dieser Anordnung gleichfalls nicht möglich. Auch für die Verwendung ) von Mikroobjektiven mit starker Eigenverzcgerung oder für eine erschütterungsfreie Bildwiedergabe bei fotografischen Dokumentationen ist diese Anordnung aufgrund ihrer geringen Stabilität nicht geeignet.

Andere bekannte Anordnungen erlauben zwar ein schnelles Verstellen in der Horizontal- und Vertikalebene mit aus· reichender Genauigkeit, sind aber weder für eine horizor tale noch eine vertikale Schwenkbewegung ausgelegt oder nicht von einer Vertikal- auf eine Schrägbeobachtung u~- • stellbar. Gerade bei der Untersuchung der h

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tigen Endothelzellstruktur ist dies besonders vorteilhaft, wenn bei schrägem Lichteinfall auf die Ob- f jektebene die Beobachtung im Reflexionswinkel erfiigt. /

Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, eine stabile Instrumentenbasis zu schaffen, die schnell, funktionsgerecht und präzise in der Horizontal- und Vertikalebene verstellbar ist und es bei direktem Kontakt eines optischen Kontakteiements mit der Objektoberfläche ermöglicht, einen großen Bereich des Objekts auch im Mikrobereich zu untersuchen, und die außerdem leicht auf eine Schrägbeobachtung umstellbar ist.

Diese Aufgabe wird bei einer Instrumentenbasis der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, da?. zwischen der Grundplatte und dem Instrumententräger ein um eine Vertikalachse drehbarer Bügel und eine an diesem , befestigte, um eine Horizontalachse schwenkbare Aufnahmeplatte für den darauf verschiebbaren Instrumententräger sowie an der Aufnahmeplatte ein verstellbarer Träger für ein justierbares optisches Kontaktelement befestigt sind, und die Verschiebung der Grundplatte in der Horizontalebene nach zwei Koordinatenrichtungen mittels je eines koaxialen Grob-Feintriebes und die Höhenverstellung des Instrumententrägers mittels einer FeinverStellungshandhabe erfolgt, wobei die Grob-Feintriebe am Gehäuse und die Fein-Verstellungshandhabe auf der Grundplatte angeordnet sind.

Eine besonders bequeme und übersichtliche Handhabung wird | erreicht, wenn die Feinverstellungshandhabe gegenüber der

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Verbindungslinie zwischen den beiden koaxialen Grob-Feintrieben versetzt liegt und am Bügel eine horizontal wirkende Schwenkvorrichtung vorgesehen ist.

Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn an der Aufnahmeplatte zu deren Verschwenkung ein mittels eines Drehknopfes betätigbarer Trieb und am Träger für das optische Kontaktelement Mittel zu dessen Justierung in wenigstens einer Koordinatenrichtung vorgesehen sind. Jedem der zu bewegenden Teile sind damit die zugehörigen Stellmittel zugeordnet, wodurch Verwechselungen in der Bedienung weitgehend vermieden werden und die bei der Kontaktierung mit dem Objekt erforderliche präzise Einstellung ohne umständliches Suchen der dazu dienenden Stellmittel vorgenommen werden kann.

Mitunter ist es, vor allem im stationären klinischen Bereich, unumgänglich, Untersuchungen am liegenden Patienten vorzunehmen. Für diesen Zweck ist es von Vorteil, wenn der Bügel an der Vertikalachse lösbar gelagert und ein Winkelzwischenstück vorgesehen ist, mittels dessen der Bügel um 9o gedreht an der Grundplatte befestigbar ist.

Der Instrumententräger ist zweckmäßig so ausgebildet, daß er mindestens eine Aufnahme für ein optisches Beobachtnngsgerät, beispielsweise einen Mikroskop tubus, ein Objektiv, ein Okular oder eine fotografische Aufnahmeeinrichtung, sowie für eine Beleuchtungseinrichtung, beispielsweise ein Lampenhaus oder eine Blitzeinrichtung aufweist.

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In der Zeichnung sind zwei Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen Instrumentenbasis schematisch dargestellt. Es zeigen:

Fig. 1 eine perspektivische Gesamtdarstellung der Instrumentenbasis in horizontaler Anordnung,

Fig. 2 eine perspektivische Gesamtdarstellung in . vertikaler Anordnung, und

Fig. 3 eine schematische Funktionsdarstellung nach Fig. 1.

In tfen Figuren 1 und 2 ist eine Instrumentenbasis dargestellt, die eine von einem Gehäuse Io umgebene, etwa quadratische Grundplatte 11 aufweist. Zur Horizontalverschiebung der Grundplatte 11 nach zwei Koordinatenrichtungen ist am Gehäuse Io je ein koaxialer Grob-Feintrieb 12, 13 und 14, 15 vorgesehen, die das Gehäuse t» durchdringen und über an sich bekannte und hier nicht dargestellte Getriebemittel die Verschiebung der Grundplatte 11 bewirken. Eine FeinverStellungshandhabe 16 ist zwischen den beiden Grob-Feintrieben 12, 13, 14, 15 zur besseren Erfaßbarkeit gegenüber der Verbindungslinie derselben versetzt auf der Grundplatte 11 angeordnet und dient der Höhenfeinverstellung. Auf eine Höhengrobverstellung kann hier verzichtet werden, da diese in einfacher Weise durch Einstellung der üblicherweise an der Instrumentenbasis befestigten Kinnauflage und der Stirnstütze vornehmbarist, nachdem die Körpergröße der Untersuchungsperson für deren Einstellung

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die ersten Anhaltspunkte ergibt. Während bei einer Ver- % Schiebung der Instrumentenbasis in X-Richtung die Grund-

platte 11 zusammen mit dem Gehäuse Io über eine hier

nicht dargestellte Unterlage, beispielsweise eine Tisch-/ 5 platte, bewegt wird, verschiebt sich bei Betätigung des Grob- bzw. Feintriebes 14, 15 nur die Grundplatte 11 in § Y-Richtung, während das Gehäuse Io fest auf der Unterlage ruht. Aus diesem Grund ist das Gehäuse Io mit eimern Langloch 17 versehen, in dem die Feinverstellungshandhabe 16 hin- und hergleiten kann. Diese ist grundplattenseitig getrieblich und obenendig starr mittels einer Deckplatte 18 mit einem Stellzylinder 19 verbunden. Auf der Deckplatte 18 ist ein Drehzapfen 2o angeformt, dessen Vertikalachse 21 mit derjenigen des Ste11Zylinders 19 zusammenfällt. Bei Betätigung der Feinverstellungshandhabe 16 wird die Deckplatte 18 mit dem Drehzapfen 2o angehoben.

Auf den Drehzapfen 2o ist ein U-förmiger Bügel 22 aufsteckbar, der dazu eine zylinderische Aussparung 23 in seiner waagerecht verlaufenden Schiene 24 aufweist. An dieser ist ein Vorsprung 25 angeformt, an dem eine die Horizontalschwenkung des Bügels 22 bewirkende Schwenkvorrichtung 26 mit einem Rändelknopf vorgesehen ist. Am oberen Ende der beiden senkrechten Bügelarme ist eine um eine Horizontalachse 27 schwenkbare Aufnahmeplatte 28 befestigt, an deren Unterseite air Vertikalverschwenkung ein Drehknopf 29 im Bereich eines Bügelarmes angeordnet ist, mit dem er getrieblich zusammenwirkt. In der Mitte der Aufnahmeplatte 28 ist an der der Untersuchungsperson zugewandten Seite ein Träger 3o für ein Kontaktelement 31 angeordnet, an dc«??en

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Oberen Ende im vorliegenden Fall eine Kontaktlinse 32 vorgesehen ist. Der Träger 3o ist mittels auf entsprechende Triebe wirkender Rändelknöpfe 33, 34 in zur .Aufnahmeplatte 28 paralleler und senkrechter Richtung fein verstellbar. Das Kontaktelement 31 ist in einem Längsschlitz 35 des Trägers 3o bewegbar. Mittels eines Justiertriebes 36 ist der Auflagedruck auf das Objekt, beispielsweise das menschliche Auge, einstellbar.

Auf der Aufnahmeplatte 28 ist ein winkelförmiger Instrumententräger 37 befestigbar, der dazu an seiner Unterseite angeformte Stifte 38 aufweist, die in Schlitze 39 der Aufnahmeplatte 28 einsteckbar sind. Die Befestigung des Instrumententrägers 37 an der Aufnahmeplatte 23 erfolgt über die Stifte 38 und die Schlitze .39 mitt«!« Feststellschrauben 4o. Der Instrumententräger 37 ist mit einer Aufnahme 41 versehen, in die optische Beobachtungsgeräte wie Mikroskoptuben, Objektive, fotografische Aufnahmevorrichtungen sowie Beleuchtungseinrichtungen wie Lampenhäuser unterschiedlicher Typen und Größen, Blitzlichteinrichtungen usw. einsetzbar und untereinander austauschbar sind.

Das in Fig. 2 dargestellte Ausführungsbeispiel unterscheidet sich von demjenigen von Fig. 1 nur dadurch, daß der Bügel 22 und die Aufnahmeplatte 28 um 9o geschwenkt an der Grundplatte 11 befestigbar sind. Insofern sind gleiche Teile der beiden ^Äusführun^ormeti mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Zum Umsetzung des Bügels 22 und der Aufnahmeplatte 28 sowie des hier nicht sichtbaren In= tru-Tiententrägers 37 ist lediglich ein "inkelzwischenst-'ick -^Ί

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erforderlich, das mit einer zylindrischen Bohrung 43 einerseits auf den Drehzapfen 2n der Deckplatte 18 aufsteckbar und andererseits mit einem Zapfen 44 in die Aussparung 23 des Bügels 22 einsteckbar ist, wodurch eine leicht lösbare Verbindung gebildet wird. Diese vertikale Arbeitsstellung dient zur Untersuchung am liegenden Patienten und ist häufig bei Verwendung der Instrumentenbasis in der Intravitalmikroskopie erforderlich.

Die Arbeitsweise der erfindungsgemäßen Anordnung wird nachstehend anhand der Funktionsdarstellung von Fig. 3 erläutert, in der alle zum Verständnis der Erfindung nicht notwendigen Teile der Übersichtlichkeit wegen weggelassen wurden.

Die Grobeinstellung der Instrumentenbasis in Richtung der X-Achse und die Fokussierung in Richtung der Y-Achse wird durch Betätigen der Grobferiebe 12, 14 vorgenommen, während die Grobeinstellung in Richtung der Z-Achse durch die Sitzgröße der Untersuchungsperson in Verbindung mit einer Verstellung der hier nicht dargestellten Stirnstütze und Kinnauflage erfolgt. Nach dieser Grobeinstellung wird die Feineinstellung in Richtung der X- und Y-Achse mittels der Feintriebe 13, 15 und in Richtung der Z-Achse mittels der Feinverstellungshandhabe 16 vorgenommen. Ein verhältnis mäßig großer Bereich eines Objektes, beispielsweise eines Auges, kann durch Verdrehen des Bügels 22 uia seine Vertika!achse 21 in Verbindung mit einer Schwenkung der

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platte 28 um deren Horizontalachse 27 untersucht werden. Der Bügel 22 und die Aufnahmeplatte 28 beschreiben dabei horizontale bzw. vertikale Kreisbögen 45, 46, die sich in einem Punkt schneiden, der den Mittelpunkt einer Beobachtungsoptik 47 bildet. Die Vertikalachse 21 für die Drehbewegung des Bügels 22 und die Horizontalachse 27 für die Schwenkbewegung der Aufnahmeplatte 28 schneiden sich gleichfalls in einem Punkt, Bei Augenuntersuchungen bildet dieser Punkt den angenommenen Krümmungsmittelpunkt der Hornhaut des zu untersuchenden Auges. Zur Präzisionsverstellung des am Träger 3o angeordneten Kontaktelementes 31 und damit der Kontaktlinse 32 in Richtung der mit 48, 49 bezeichneten X¹- und Z¹-Koordinaten dienen die Rändelknöpfe 33, 34. Die Verstellung des Kontaktelementes 31 in Richtung der Y'-Koordinate 5o und damit die Einstellung des Auflagedruckes der Kontaktlinse 32 wird mittels des Justiertriebes 36 vorgenommen, der über eine Feder 51 mit dem Kontaktelement 31 verbunden ist.

Zur Untersuchung beispielsweise der hornhautrückseitigen Endothe1struktur eines Auges kann der Instrumententräger auf Schrägbeobachtung umgestellt werden, so daß das Licht auf die Objektebene schräg einfällt und die Beobachtung im Reflexionswinkel vorgenommen wird. Dazu genügt es, die Fest steilschrauben 4o zu lösen und den Instrumententräger in den Schlitzen 39 in dem gewünschten Maß zu schwenken. Es versteht sich, daß dabei die Gesamteinsteilung der Instrumentenbasis erhalten bleibt.

Patentabteilung

Bezugszeichenliste

Io	Gehäuse
11	Grundplatte
12, 14	Grobtrieb
13, 15	Feintrieb
16	Fe invers te1lungshandhabe
17	Langloch
18	Deckplatte
19	Ste11zylinder
2o	Drehzapfen
21	Vertikalachse
22	Bügel
23	Aussparung
24	Schiene
25	Vorsprung
26	Schwenkvorrichtung
27	Horizontalachse
28	Au fnahmeplatte
29	Drehknopf
3o	Träger
31	Kontaktelement
32	Kontaktlinse
33, 34	Rändelknöpfe
35	Längsschiitζ
36	Justiertrieb
37	Ins trumententräger
38	Stift
39	Schlitz

Patentabteilung

4o	Feststellschraube
41	Aufnahme
42	Winke1zwis chens tück
43	Bohrung
44	Zapfen
45, 46	Kreisbogen
47	Be obachtungs op t ik
48	X'-Koordinate
49	Z *-Koordinate
5o	Y'-Koordinate
51	Feder

Claims

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1. Instrumentenbasis für optische Geräte wie ophthalmologische oder intravitalmikroskopische Instrumente, mit einer horizontal verschiebbaren Grundplatte und einem darüber angeordneten, höhenverstell- und horizontal schwenkbaren Instrumententräger, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Grundplatte (11) und dem Instrumententräger (37) ein um eine Vertikalachse (21) drehbarer Bügel (22) und eine an diesem befestigte, um eine Horizontalachse (27) schwenkbare Aufnahmeplatte (28) für den darauf verschiebbaren Instrumententräger (37) sowie an der Aufnahmeplatte (28) ein verstellbarer Träger (3o) für ein justierbares optisches Kontaktelement (31) befestigt sind, und die Verschiebung der Grundplatte (11) in der Horizontalebene nach zwei Koordinatenrichtungen mittels je eines koaxialen Grob-Feintribs (12, 13, 14, 15) und die Höhenverstellung des Instrumententrägers mittels einer Feinverstellungshandhabe (16) erfolgt, wobei die Grob-Feintriebe (12 bis 15) am Gehäuse (lo) und die Feinverstellungshandhabe (16) auf der Grundplatte (11) angeordnet sind.

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Patentabteilung

2. Instrumentenbasis nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,, daß die Feinverstellungshandhabe (16) gegenüber der Verbindungslinie zwischen den Grob-Feintrieben (12 bis 15) versetzt angeordnet ist.

3. Instrumentenbasis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß am Bügel (22) eine horizontal wirkende Schwenkvorrichtung (26) vorgesehen ist.

4. Instrumentenbasis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an der Aufnahmeplatte (28) zu deren vertikaler Schwenkung ein mittels eines Drehknopfes (29) betätigbaren Trieb vorgesehen ist.

5. Instrumentenbasis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an dem Träger (3o) für das optische Kontaktelement (31) Mittel zu dessen Justierung und wenigstens einer Koordinatenrichtung vorgesehen sind.

6. Instrumentenbasis nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Bügel (22) an der Vertikalachse (21) lösbar gelagert und ΛρΚ. ein Winke!zwischenstück (42) vorgesehen ist, mittels dessen der Bügel (22) um 9o° gegen die Grundplatte (11) gedreht mon> tierbar ist.

7. Instrumentenhasi-5 nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der In = tr·^nt -.-·, träger (37) mindestens eine Aufnahme (41) für ein ontis--.:-·? ■ Beobachtung«? g<?rnt sowie für eine Beleuchtunaseipricb*:-: .<: aufweist.

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8. Instrumentenbasle nach einem oder mehreren der vor hergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Vertikalachse (21) für die Drehbewegung des Bügels (22) und die Horizontalachse (27) für die Schwenkbewegung der Aufnahmeplatte (28) in einem Punkt schneiden.