EP1231500B1
(de)
|
1996-07-19 |
2007-03-07 |
E-Ink Corporation |
Elektronisch adressierbare mikroverkapselte Tinte
|
US6338809B1
(en)
|
1997-02-24 |
2002-01-15 |
Superior Micropowders Llc |
Aerosol method and apparatus, particulate products, and electronic devices made therefrom
|
WO1999019900A2
(en)
*
|
1997-10-14 |
1999-04-22 |
Patterning Technologies Limited |
Method of forming an electronic device
|
JP4003273B2
(ja)
*
|
1998-01-19 |
2007-11-07 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターン形成方法および基板製造装置
|
US7075502B1
(en)
|
1998-04-10 |
2006-07-11 |
E Ink Corporation |
Full color reflective display with multichromatic sub-pixels
|
AU3552699A
(en)
|
1998-04-10 |
1999-11-01 |
E-Ink Corporation |
Electronic displays using organic-based field effect transistors
|
CA2330950A1
(en)
|
1998-05-12 |
1999-11-18 |
E Ink Corporation |
Microencapsulated electrophoretic electrostatically-addressed media for drawing device applications
|
US20030148024A1
(en)
*
|
2001-10-05 |
2003-08-07 |
Kodas Toivo T. |
Low viscosity precursor compositons and methods for the depositon of conductive electronic features
|
US7323634B2
(en)
*
|
1998-10-14 |
2008-01-29 |
Patterning Technologies Limited |
Method of forming an electronic device
|
US6498114B1
(en)
|
1999-04-09 |
2002-12-24 |
E Ink Corporation |
Method for forming a patterned semiconductor film
|
ATE248388T1
(de)
*
|
1999-05-27 |
2003-09-15 |
Patterning Technologies Ltd |
Verfahren zur erzeugung einer maske auf einer oberfläche
|
DE60043441D1
(de)
|
1999-07-21 |
2010-01-14 |
E Ink Corp |
Bevorzugte methode, elektrische leiterbahnen für dellen
|
WO2001017041A1
(en)
*
|
1999-08-31 |
2001-03-08 |
E Ink Corporation |
Method for forming a patterned semiconductor film
|
TW468283B
(en)
*
|
1999-10-12 |
2001-12-11 |
Semiconductor Energy Lab |
EL display device and a method of manufacturing the same
|
TW471011B
(en)
|
1999-10-13 |
2002-01-01 |
Semiconductor Energy Lab |
Thin film forming apparatus
|
JP3622598B2
(ja)
|
1999-10-25 |
2005-02-23 |
セイコーエプソン株式会社 |
不揮発性メモリ素子の製造方法
|
US6319735B1
(en)
|
1999-11-30 |
2001-11-20 |
Philips Semiconductor, Inc. |
Photoresist dispense method by compensation for substrate reflectivity
|
KR100940110B1
(ko)
|
1999-12-21 |
2010-02-02 |
플라스틱 로직 리미티드 |
잉크젯으로 제조되는 집적회로 및 전자 디바이스 제조 방법
|
CN100379048C
(zh)
*
|
1999-12-21 |
2008-04-02 |
造型逻辑有限公司 |
形成互连
|
TW495808B
(en)
*
|
2000-02-04 |
2002-07-21 |
Semiconductor Energy Lab |
Thin film formation apparatus and method of manufacturing self-light-emitting device using thin film formation apparatus
|
JP2001217245A
(ja)
*
|
2000-02-04 |
2001-08-10 |
Sharp Corp |
電子部品およびその製造方法
|
GB2360489A
(en)
|
2000-03-23 |
2001-09-26 |
Seiko Epson Corp |
Deposition of soluble materials
|
DE10016132A1
(de)
|
2000-03-31 |
2001-10-18 |
Infineon Technologies Ag |
Elektronisches Bauelement mit flexiblen Kontaktierungsstellen und Verfahren zu dessen Herstellung
|
US20020083858A1
(en)
*
|
2000-05-15 |
2002-07-04 |
Macdiarmid Alan G. |
Spontaneous pattern formation of functional materials
|
DE10038895B4
(de)
*
|
2000-08-09 |
2006-04-06 |
Advanced Photonics Technologies Ag |
Verfahren und Verwendung einer Vorrichtung zur Herstellung eines halbleitenden und/oder Elektrolumineszenz zeigenden organischen Schichtaufbaus
|
GB2367788A
(en)
*
|
2000-10-16 |
2002-04-17 |
Seiko Epson Corp |
Etching using an ink jet print head
|
GB0030095D0
(en)
*
|
2000-12-09 |
2001-01-24 |
Xaar Technology Ltd |
Method of ink jet printing
|
JP2002216636A
(ja)
*
|
2001-01-15 |
2002-08-02 |
Samsung Sdi Co Ltd |
プラズマディスプレイ及びその製造方法
|
JP3958972B2
(ja)
*
|
2001-01-19 |
2007-08-15 |
矢崎総業株式会社 |
回路体の製造方法及び回路体の製造装置
|
GB2373095A
(en)
*
|
2001-03-09 |
2002-09-11 |
Seiko Epson Corp |
Patterning substrates with evaporation residues
|
US6973710B2
(en)
|
2001-08-03 |
2005-12-13 |
Seiko Epson Corporation |
Method and apparatus for making devices
|
US7629017B2
(en)
*
|
2001-10-05 |
2009-12-08 |
Cabot Corporation |
Methods for the deposition of conductive electronic features
|
JP2003124210A
(ja)
*
|
2001-10-15 |
2003-04-25 |
Seiko Epson Corp |
表面処理方法、半導体デバイス、電気回路、表示体モジュール、カラーフィルタおよび発光素子
|
JP4039035B2
(ja)
|
2001-10-31 |
2008-01-30 |
セイコーエプソン株式会社 |
線パターンの形成方法、線パターン、電気光学装置、電子機器、非接触型カード媒体
|
GB2381665B
(en)
*
|
2001-11-02 |
2005-06-22 |
Jetmask Ltd |
Method of forming a mask on a surface
|
JP4281342B2
(ja)
*
|
2001-12-05 |
2009-06-17 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターン形成方法および配線形成方法
|
ITUD20010220A1
(it)
|
2001-12-27 |
2003-06-27 |
New System Srl |
Sistema per la realizzazione di una stratificazione di materiale elettronicamente interattivo
|
JP2003237217A
(ja)
*
|
2002-02-19 |
2003-08-27 |
Konica Corp |
インクジェット記録装置及びインクジェット記録方法
|
JP2003266030A
(ja)
|
2002-03-15 |
2003-09-24 |
Seiko Epson Corp |
被処理物の洗浄方法および装置並びにデバイスの製造方法およびデバイス
|
JP2003283103A
(ja)
|
2002-03-22 |
2003-10-03 |
Seiko Epson Corp |
パターン形成方法および装置並びにデバイスの製造方法およびデバイス
|
JP3976598B2
(ja)
*
|
2002-03-27 |
2007-09-19 |
Nec液晶テクノロジー株式会社 |
レジスト・パターン形成方法
|
NL1020312C2
(nl)
|
2002-04-05 |
2003-10-07 |
Otb Groep B V |
Werkwijze en inrichting voor het vervaardigen van een display, zoals bijvoorbeeld een polymere OLED display, een display en een substraat ten gebruike bij de werkwijze.
|
JP4042497B2
(ja)
|
2002-04-15 |
2008-02-06 |
セイコーエプソン株式会社 |
導電膜パターンの形成方法、配線基板、電子デバイス、電子機器、並びに非接触型カード媒体
|
JP4168795B2
(ja)
*
|
2002-04-19 |
2008-10-22 |
セイコーエプソン株式会社 |
製膜方法、製膜装置、デバイス、デバイスの製造方法、及び電子機器
|
JP4068883B2
(ja)
|
2002-04-22 |
2008-03-26 |
セイコーエプソン株式会社 |
導電膜配線の形成方法、膜構造体の製造方法、電気光学装置の製造方法、及び電子機器の製造方法
|
JP2005527954A
(ja)
*
|
2002-05-27 |
2005-09-15 |
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ |
基板表面にパターン層を設ける方法
|
NL1020701C2
(nl)
*
|
2002-05-29 |
2003-12-02 |
Stichting Energie |
Werkwijze en inrichting voor het op een laag van een nanokristallijn eerste materiaal aanbrengen van een laag van een tweede materiaal.
|
US6858464B2
(en)
|
2002-06-19 |
2005-02-22 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Method of manufacturing light emitting device
|
US6972261B2
(en)
*
|
2002-06-27 |
2005-12-06 |
Xerox Corporation |
Method for fabricating fine features by jet-printing and surface treatment
|
US6951377B2
(en)
*
|
2002-07-24 |
2005-10-04 |
Frito-Lay North America, Inc. |
Inside printing of flexible packages
|
TWI256732B
(en)
*
|
2002-08-30 |
2006-06-11 |
Sharp Kk |
Thin film transistor, liquid crystal display apparatus, manufacturing method of thin film transistor, and manufacturing method of liquid crystal display apparatus
|
JP4098039B2
(ja)
|
2002-08-30 |
2008-06-11 |
シャープ株式会社 |
パターン形成基材およびパターン形成方法
|
JP4170049B2
(ja)
*
|
2002-08-30 |
2008-10-22 |
シャープ株式会社 |
パターン形成基材およびパターン形成方法
|
JP4615197B2
(ja)
*
|
2002-08-30 |
2011-01-19 |
シャープ株式会社 |
Tftアレイ基板の製造方法および液晶表示装置の製造方法
|
US7910469B2
(en)
|
2002-09-25 |
2011-03-22 |
Konica Minolta Holdings, Inc. |
Electrical circuit, thin film transistor, method for manufacturing electric circuit and method for manufacturing thin film transistor
|
JP4955919B2
(ja)
*
|
2002-09-30 |
2012-06-20 |
セイコーエプソン株式会社 |
配線形成方法
|
JP2004146796A
(ja)
|
2002-09-30 |
2004-05-20 |
Seiko Epson Corp |
膜パターンの形成方法、薄膜製造装置、導電膜配線、電気光学装置、電子機器、並びに非接触型カード媒体
|
CN100397580C
(zh)
*
|
2002-09-30 |
2008-06-25 |
精工爱普生株式会社 |
膜图案的形成方法、薄膜制造装置、导电膜布线
|
AU2003277541A1
(en)
*
|
2002-11-11 |
2004-06-03 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Process for fabricating light emitting device
|
ITUD20020238A1
(it)
*
|
2002-11-11 |
2004-05-12 |
New System Srl |
Metodo per la stesura controllata a getto d'inchiostro di polimeri per isolamento e/o protezione di circuiti stampati
|
JP4107198B2
(ja)
*
|
2002-11-20 |
2008-06-25 |
セイコーエプソン株式会社 |
液滴吐出装置、液滴吐出方法および電気光学装置
|
US20040135828A1
(en)
*
|
2003-01-15 |
2004-07-15 |
Schmitt Stephen E. |
Printer and method for printing an item with a high durability and/or resolution image
|
US6981767B2
(en)
*
|
2003-01-15 |
2006-01-03 |
Ssgii, Inc. |
Printed item having an image with a high durability and/or resolution
|
WO2004070820A1
(ja)
*
|
2003-02-05 |
2004-08-19 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
配線の作製方法
|
WO2004070819A1
(ja)
*
|
2003-02-05 |
2004-08-19 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
表示装置の製造方法
|
KR101186919B1
(ko)
*
|
2003-02-06 |
2012-10-02 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
표시장치의 제조 방법
|
CN101848594B
(zh)
|
2003-02-06 |
2013-03-13 |
株式会社半导体能源研究所 |
等离子体装置
|
KR101032338B1
(ko)
|
2003-02-06 |
2011-05-06 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
표시장치의 제작방법
|
US6932451B2
(en)
*
|
2003-02-18 |
2005-08-23 |
T.S.D. Llc |
System and method for forming a pattern on plain or holographic metallized film and hot stamp foil
|
JP4244382B2
(ja)
*
|
2003-02-26 |
2009-03-25 |
セイコーエプソン株式会社 |
機能性材料定着方法及びデバイス製造方法
|
JP3966293B2
(ja)
|
2003-03-11 |
2007-08-29 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターンの形成方法及びデバイスの製造方法
|
JP3966294B2
(ja)
*
|
2003-03-11 |
2007-08-29 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターンの形成方法及びデバイスの製造方法
|
JP4107248B2
(ja)
|
2003-03-12 |
2008-06-25 |
セイコーエプソン株式会社 |
膜形成方法、膜形成装置、液晶の配置方法、液晶の配置装置、液晶装置、液晶装置の製造方法、並びに電子機器
|
JP3966292B2
(ja)
*
|
2003-03-27 |
2007-08-29 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターンの形成方法及びパターン形成装置、デバイスの製造方法、導電膜配線、電気光学装置、並びに電子機器
|
JP3945440B2
(ja)
*
|
2003-03-31 |
2007-07-18 |
セイコーエプソン株式会社 |
燃料電池、その製造方法、電子機器および自動車
|
JP4120455B2
(ja)
*
|
2003-04-22 |
2008-07-16 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターンの形成方法及びデバイスの製造方法
|
JP2004321880A
(ja)
|
2003-04-22 |
2004-11-18 |
Seiko Epson Corp |
洗浄方法及び保管方法、パターンの形成方法及びデバイスの製造方法、電気光学装置及び電子機器
|
JP4675350B2
(ja)
*
|
2003-04-25 |
2011-04-20 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
液滴吐出装置
|
JP4628109B2
(ja)
*
|
2003-04-25 |
2011-02-09 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
US20040224541A1
(en)
*
|
2003-05-09 |
2004-11-11 |
Murata Co., Ltd. |
Apparatus and method for forming solder wicking prevention zone and electronic part
|
JP2004363560A
(ja)
|
2003-05-09 |
2004-12-24 |
Seiko Epson Corp |
基板、デバイス、デバイス製造方法、アクティブマトリクス基板の製造方法及び電気光学装置並びに電子機器
|
JP3823981B2
(ja)
*
|
2003-05-12 |
2006-09-20 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターンと配線パターン形成方法、デバイスとその製造方法、電気光学装置、電子機器及びアクティブマトリクス基板の製造方法
|
JP4593969B2
(ja)
*
|
2003-05-16 |
2010-12-08 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
配線の作製方法及び表示装置の作製方法
|
JP2004342935A
(ja)
*
|
2003-05-16 |
2004-12-02 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
配線の作製方法及び半導体装置の作製方法
|
JP2005012179A
(ja)
|
2003-05-16 |
2005-01-13 |
Seiko Epson Corp |
薄膜パターン形成方法、デバイスとその製造方法及び電気光学装置並びに電子機器、アクティブマトリクス基板の製造方法
|
US7192859B2
(en)
*
|
2003-05-16 |
2007-03-20 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Method of manufacturing semiconductor device and display device
|
JP3861854B2
(ja)
*
|
2003-05-28 |
2006-12-27 |
セイコーエプソン株式会社 |
電気回路の製造方法
|
JP2005012173A
(ja)
|
2003-05-28 |
2005-01-13 |
Seiko Epson Corp |
膜パターン形成方法、デバイス及びデバイスの製造方法、電気光学装置、並びに電子機器
|
JP2005019955A
(ja)
|
2003-05-30 |
2005-01-20 |
Seiko Epson Corp |
薄膜パターンの形成方法及びデバイスの製造方法、電気光学装置及び電子機器
|
CN100339914C
(zh)
*
|
2003-07-23 |
2007-09-26 |
夏普株式会社 |
银合金材料、电路基板、电子装置及电路基板的制造方法
|
JP4498835B2
(ja)
*
|
2003-07-23 |
2010-07-07 |
シャープ株式会社 |
回路基板及びその製造方法並びに電子装置
|
ES2347851T3
(es)
*
|
2003-09-02 |
2010-11-04 |
Pixdro B.V. |
Sistema para crear lineas finas usando tecnologia de chorro de tinta.
|
EP1665353A4
(de)
|
2003-09-09 |
2006-11-29 |
Csg Solar Ag |
Verbessertes verfahren zum ätzen von silicium
|
WO2005024920A1
(en)
*
|
2003-09-09 |
2005-03-17 |
Csg Solar, Ag |
Improved method of forming openings in an organic resin material
|
WO2005024959A1
(en)
|
2003-09-09 |
2005-03-17 |
Csg Solar, Ag |
Adjustment of masks by re-flow
|
TWI234842B
(en)
*
|
2003-09-09 |
2005-06-21 |
Ind Tech Res Inst |
Manufacturing method of chemical sensors
|
JP2005118769A
(ja)
*
|
2003-10-15 |
2005-05-12 |
Rohm & Haas Electronic Materials Llc |
パターン形成
|
EP1529648A1
(de)
*
|
2003-11-08 |
2005-05-11 |
Atlantic ZeiserGmbH |
Verfahren zur Herstellung von Informationsträgern, z.B. von Karten, und Einrichtung zur Durchführung
|
US7499117B2
(en)
|
2003-11-14 |
2009-03-03 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
|
JP4096868B2
(ja)
*
|
2003-11-25 |
2008-06-04 |
セイコーエプソン株式会社 |
膜形成方法、デバイス製造方法および電気光学装置
|
JP4583904B2
(ja)
*
|
2003-12-17 |
2010-11-17 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
表示装置の作製方法
|
JP2005268693A
(ja)
*
|
2004-03-22 |
2005-09-29 |
Seiko Epson Corp |
パターン形成方法、回路基板および電子機器
|
JP2007531979A
(ja)
*
|
2004-04-05 |
2007-11-08 |
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ |
基板への多数の個別のパターン要素からなる被印刷パターンの形成方法
|
JP4400290B2
(ja)
*
|
2004-04-06 |
2010-01-20 |
セイコーエプソン株式会社 |
膜パターンの形成方法及びデバイスの製造方法、アクティブマトリクス基板の製造方法
|
US7354845B2
(en)
*
|
2004-08-24 |
2008-04-08 |
Otb Group B.V. |
In-line process for making thin film electronic devices
|
NL1026013C2
(nl)
*
|
2004-04-23 |
2005-10-25 |
Otb Group Bv |
Werkwijze en inrichting voor het nauwkeurig aanbrengen van structuren op een substraat.
|
JP4652120B2
(ja)
*
|
2004-05-21 |
2011-03-16 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の製造装置、およびパターン形成方法
|
US20050257738A1
(en)
*
|
2004-05-21 |
2005-11-24 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Manufacturing apparatus of semiconductor device and pattern-forming method
|
US20050276911A1
(en)
*
|
2004-06-15 |
2005-12-15 |
Qiong Chen |
Printing of organometallic compounds to form conductive traces
|
EP1613136A1
(de)
*
|
2004-07-02 |
2006-01-04 |
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO |
Verfahren zum Auftragen von Material auf ein Substrat unter Verwendung einer Tröpfchendrucktechnik
|
US7547647B2
(en)
*
|
2004-07-06 |
2009-06-16 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Method of making a structure
|
EP1622435A1
(de)
*
|
2004-07-28 |
2006-02-01 |
ATOTECH Deutschland GmbH |
Verfahren zur Herstellung einer elektronischer Anordnung mittels Direktschreibtechniken
|
JP2006035173A
(ja)
*
|
2004-07-29 |
2006-02-09 |
Sharp Corp |
インクジェット装置およびパターン修正装置
|
JP3807425B2
(ja)
|
2004-08-27 |
2006-08-09 |
セイコーエプソン株式会社 |
配線パターン形成方法およびtft用ゲート電極の形成方法
|
JP3922280B2
(ja)
*
|
2004-09-30 |
2007-05-30 |
セイコーエプソン株式会社 |
配線パターンの形成方法及びデバイスの製造方法
|
JP4096933B2
(ja)
*
|
2004-09-30 |
2008-06-04 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターンの形成方法
|
US20060073337A1
(en)
*
|
2004-10-01 |
2006-04-06 |
Krzysztof Nauka |
Conductive path made of metallic nanoparticles and conductive organic material
|
JP4389747B2
(ja)
*
|
2004-10-12 |
2009-12-24 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターン形成方法および配線形成方法
|
JP4155257B2
(ja)
*
|
2004-10-21 |
2008-09-24 |
セイコーエプソン株式会社 |
パターン形成方法および機能性膜
|
JP3992038B2
(ja)
*
|
2004-11-16 |
2007-10-17 |
セイコーエプソン株式会社 |
電子素子の実装方法、電子装置の製造方法、回路基板、電子機器
|
JP2006150179A
(ja)
*
|
2004-11-26 |
2006-06-15 |
Seiko Epson Corp |
成膜装置及び成膜方法
|
US20060128165A1
(en)
*
|
2004-12-13 |
2006-06-15 |
3M Innovative Properties Company |
Method for patterning surface modification
|
US8481104B2
(en)
|
2004-12-30 |
2013-07-09 |
E I Du Pont De Nemours And Company |
Method of forming organic electronic devices
|
WO2006076610A2
(en)
*
|
2005-01-14 |
2006-07-20 |
Cabot Corporation |
Controlling ink migration during the formation of printable electronic features
|
WO2006076606A2
(en)
|
2005-01-14 |
2006-07-20 |
Cabot Corporation |
Optimized multi-layer printing of electronics and displays
|
US8167393B2
(en)
|
2005-01-14 |
2012-05-01 |
Cabot Corporation |
Printable electronic features on non-uniform substrate and processes for making same
|
US7575621B2
(en)
|
2005-01-14 |
2009-08-18 |
Cabot Corporation |
Separation of metal nanoparticles
|
US8383014B2
(en)
|
2010-06-15 |
2013-02-26 |
Cabot Corporation |
Metal nanoparticle compositions
|
US7824466B2
(en)
|
2005-01-14 |
2010-11-02 |
Cabot Corporation |
Production of metal nanoparticles
|
DE102005008574A1
(de)
*
|
2005-02-24 |
2006-09-07 |
Pötz, Thomas |
Verfahren und Vorrichtung zum digitalen Bedrucken von flächigen Materialien wie Textilien, Papier etc.
|
JP4337746B2
(ja)
|
2005-03-09 |
2009-09-30 |
セイコーエプソン株式会社 |
フォトマスクおよびその製造方法、電子機器の製造方法
|
JP2006289355A
(ja)
*
|
2005-03-18 |
2006-10-26 |
Ran Technical Service Kk |
薄膜形成装置及び薄膜形成方法
|
US20060214004A1
(en)
*
|
2005-03-24 |
2006-09-28 |
Tsujiden Co., Ltd. |
Person-verifying medium using a luminous body, and process for producing the same
|
US7691280B2
(en)
*
|
2005-03-25 |
2010-04-06 |
E. I. Du Pont De Nemours And Company |
Ink jet printing of etchants and modifiers
|
JP4232753B2
(ja)
*
|
2005-03-28 |
2009-03-04 |
セイコーエプソン株式会社 |
液滴吐出装置
|
JP2006272297A
(ja)
|
2005-03-30 |
2006-10-12 |
Seiko Epson Corp |
液滴吐出装置
|
JP2006293148A
(ja)
*
|
2005-04-13 |
2006-10-26 |
Ulvac Japan Ltd |
スペーサ塗布装置、スペーサ塗布方法
|
US7906722B2
(en)
|
2005-04-19 |
2011-03-15 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Concentrating solar collector with solid optical element
|
WO2006117909A1
(ja)
|
2005-04-28 |
2006-11-09 |
Sharp Kabushiki Kaisha |
パターン薄膜、半導体素子及び回路基板の製造方法、並びに、レジスト材料、半導体素子及び回路基板
|
JP2006343450A
(ja)
*
|
2005-06-08 |
2006-12-21 |
Seiko Epson Corp |
光学シート、バックライトユニット、電気光学装置及び電子機器、並びに光学シートの製造方法
|
US20070020395A1
(en)
*
|
2005-06-27 |
2007-01-25 |
Lang Charles D |
Process for making an electronic device
|
JP4935153B2
(ja)
*
|
2005-06-30 |
2012-05-23 |
セイコーエプソン株式会社 |
液滴吐出方法
|
US7972650B1
(en)
*
|
2005-07-13 |
2011-07-05 |
Nscrypt, Inc. |
Method for manufacturing 3D circuits from bare die or packaged IC chips by microdispensed interconnections
|
JP4914589B2
(ja)
*
|
2005-08-26 |
2012-04-11 |
三菱電機株式会社 |
半導体製造装置、半導体製造方法および半導体装置
|
TWI297513B
(en)
*
|
2005-10-06 |
2008-06-01 |
Ind Tech Res Inst |
Electrode and method for forming the same
|
KR100649445B1
(ko)
*
|
2005-10-17 |
2006-11-27 |
삼성전기주식회사 |
배선형성 방법 및 장치
|
US7799371B2
(en)
*
|
2005-11-17 |
2010-09-21 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Extruding/dispensing multiple materials to form high-aspect ratio extruded structures
|
US20070169806A1
(en)
*
|
2006-01-20 |
2007-07-26 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Solar cell production using non-contact patterning and direct-write metallization
|
US20070107773A1
(en)
*
|
2005-11-17 |
2007-05-17 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Bifacial cell with extruded gridline metallization
|
US7765949B2
(en)
*
|
2005-11-17 |
2010-08-03 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Extrusion/dispensing systems and methods
|
WO2007106699A1
(en)
*
|
2006-03-14 |
2007-09-20 |
Cabot Corporation |
Roll-to-roll manufacturing of electronic and optical materials
|
WO2007108364A1
(ja)
*
|
2006-03-16 |
2007-09-27 |
Lan Technical Service Co., Ltd. |
薄膜形成装置及び薄膜形成方法
|
JP2007289837A
(ja)
|
2006-04-24 |
2007-11-08 |
Seiko Epson Corp |
液滴吐出装置及び識別コード
|
US7855335B2
(en)
*
|
2006-04-26 |
2010-12-21 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Beam integration for concentrating solar collector
|
JP4961162B2
(ja)
*
|
2006-05-01 |
2012-06-27 |
有限会社 エスアイジェイテクノロジ |
電気接続体及びカートリッジ
|
US7638708B2
(en)
*
|
2006-05-05 |
2009-12-29 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Laminated solar concentrating photovoltaic device
|
US7851693B2
(en)
*
|
2006-05-05 |
2010-12-14 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Passively cooled solar concentrating photovoltaic device
|
US8105643B2
(en)
*
|
2006-05-31 |
2012-01-31 |
Cabot Corporation |
Process for printing features with smaller dimensions
|
JP5217122B2
(ja)
*
|
2006-07-11 |
2013-06-19 |
株式会社日立製作所 |
パターン形成装置および有機薄膜トランジスタの製造方法ならびに有機薄膜トランジスタ
|
US9615463B2
(en)
|
2006-09-22 |
2017-04-04 |
Oscar Khaselev |
Method for producing a high-aspect ratio conductive pattern on a substrate
|
US8226391B2
(en)
*
|
2006-11-01 |
2012-07-24 |
Solarworld Innovations Gmbh |
Micro-extrusion printhead nozzle with tapered cross-section
|
US7922471B2
(en)
*
|
2006-11-01 |
2011-04-12 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Extruded structure with equilibrium shape
|
US7780812B2
(en)
*
|
2006-11-01 |
2010-08-24 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Extrusion head with planarized edge surface
|
US8322025B2
(en)
*
|
2006-11-01 |
2012-12-04 |
Solarworld Innovations Gmbh |
Apparatus for forming a plurality of high-aspect ratio gridline structures
|
JP4519120B2
(ja)
*
|
2006-11-08 |
2010-08-04 |
大日本スクリーン製造株式会社 |
パターン形成装置
|
US20080119011A1
(en)
*
|
2006-11-20 |
2008-05-22 |
Industrial Technology Research Institute |
Method of film coating and device manufactured thereby
|
US20080116183A1
(en)
*
|
2006-11-21 |
2008-05-22 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Light Scanning Mechanism For Scan Displacement Invariant Laser Ablation Apparatus
|
US20080116182A1
(en)
*
|
2006-11-21 |
2008-05-22 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Multiple Station Scan Displacement Invariant Laser Ablation Apparatus
|
US20080136887A1
(en)
*
|
2006-12-11 |
2008-06-12 |
Schmitt Stephen E |
Printed item having an image with a high durability and/or resolution
|
US7638438B2
(en)
*
|
2006-12-12 |
2009-12-29 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Solar cell fabrication using extrusion mask
|
US7928015B2
(en)
*
|
2006-12-12 |
2011-04-19 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Solar cell fabrication using extruded dopant-bearing materials
|
JP2008176009A
(ja)
*
|
2007-01-18 |
2008-07-31 |
Seiko Epson Corp |
パターン形成方法
|
JP4470945B2
(ja)
*
|
2007-02-05 |
2010-06-02 |
セイコーエプソン株式会社 |
成膜方法及び配向膜形成方法
|
US7954449B2
(en)
*
|
2007-05-08 |
2011-06-07 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Wiring-free, plumbing-free, cooled, vacuum chuck
|
JP4748108B2
(ja)
*
|
2007-05-25 |
2011-08-17 |
セイコーエプソン株式会社 |
膜パターンの形成方法、膜パターン形成装置、導電膜配線、電気光学装置、電子機器、非接触型カード媒体
|
US8058195B2
(en)
*
|
2007-06-19 |
2011-11-15 |
Cabot Corporation |
Nanoglass and flame spray processes for producing nanoglass
|
JP2009000600A
(ja)
*
|
2007-06-20 |
2009-01-08 |
Seiko Epson Corp |
パターン形成方法及び電気光学装置製造方法並びに電子機器製造方法
|
JP5216261B2
(ja)
*
|
2007-07-03 |
2013-06-19 |
株式会社日本マイクロニクス |
配線形成装置、配線形成方法及び噴出制御装置
|
CN101772812B
(zh)
|
2007-08-03 |
2015-11-25 |
阿尔法金属有限公司 |
导电图形和使用方法
|
US8039052B2
(en)
*
|
2007-09-06 |
2011-10-18 |
Intermolecular, Inc. |
Multi-region processing system and heads
|
JP4375466B2
(ja)
*
|
2007-09-21 |
2009-12-02 |
セイコーエプソン株式会社 |
導電ポスト形成方法、多層配線基板の製造方法及び電子機器の製造方法
|
JP4442677B2
(ja)
*
|
2007-10-11 |
2010-03-31 |
セイコーエプソン株式会社 |
液滴吐出装置の液滴乾燥方法及び液滴吐出装置
|
US8356894B2
(en)
*
|
2007-10-16 |
2013-01-22 |
Seiko Epson Corporation |
Recording apparatus and liquid ejecting apparatus
|
WO2009067096A1
(en)
*
|
2007-11-19 |
2009-05-28 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Method and apparatus for improving printed image density
|
US8101231B2
(en)
*
|
2007-12-07 |
2012-01-24 |
Cabot Corporation |
Processes for forming photovoltaic conductive features from multiple inks
|
US8979257B2
(en)
*
|
2008-02-14 |
2015-03-17 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Printing or coating apparatus and method
|
JP4924526B2
(ja)
*
|
2008-04-25 |
2012-04-25 |
セイコーエプソン株式会社 |
液滴付与方法、液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
|
KR20090117249A
(ko)
*
|
2008-05-09 |
2009-11-12 |
삼성전기주식회사 |
인쇄회로기판 및 그 제조방법
|
WO2009139060A1
(ja)
*
|
2008-05-15 |
2009-11-19 |
株式会社島津製作所 |
光マトリックスデバイスの製造方法および光マトリックスデバイスの製造装置
|
US8272254B2
(en)
*
|
2008-08-04 |
2012-09-25 |
Brighton Technologies Group, Inc |
Device and method to measure wetting characteristics
|
JP5228715B2
(ja)
*
|
2008-09-04 |
2013-07-03 |
株式会社リコー |
インク塗布ユニット、インクジェット記録装置ならびにインクジェット記録方法
|
US7999175B2
(en)
*
|
2008-09-09 |
2011-08-16 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Interdigitated back contact silicon solar cells with laser ablated grooves
|
US20100105125A1
(en)
*
|
2008-10-24 |
2010-04-29 |
Bioprocessh20 Llc |
Systems, apparatuses and methods for cultivating microorganisms and mitigation of gases
|
US20100221435A1
(en)
*
|
2008-11-07 |
2010-09-02 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Micro-Extrusion System With Airjet Assisted Bead Deflection
|
US8117983B2
(en)
*
|
2008-11-07 |
2012-02-21 |
Solarworld Innovations Gmbh |
Directional extruded bead control
|
US20100118081A1
(en)
*
|
2008-11-07 |
2010-05-13 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Dead Volume Removal From An Extrusion Printhead
|
US20100117254A1
(en)
*
|
2008-11-07 |
2010-05-13 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Micro-Extrusion System With Airjet Assisted Bead Deflection
|
US9150966B2
(en)
*
|
2008-11-14 |
2015-10-06 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Solar cell metallization using inline electroless plating
|
US8080729B2
(en)
*
|
2008-11-24 |
2011-12-20 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Melt planarization of solar cell bus bars
|
US20100130014A1
(en)
*
|
2008-11-26 |
2010-05-27 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Texturing multicrystalline silicon
|
US20100139754A1
(en)
*
|
2008-12-09 |
2010-06-10 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Solar Cell With Co-Planar Backside Metallization
|
US8960120B2
(en)
*
|
2008-12-09 |
2015-02-24 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Micro-extrusion printhead with nozzle valves
|
US8089216B2
(en)
*
|
2008-12-10 |
2012-01-03 |
Linear Technology Corporation |
Linearity in LED dimmer control
|
JP5453793B2
(ja)
*
|
2008-12-10 |
2014-03-26 |
株式会社リコー |
積層構造体の製造方法、有機薄膜トランジスタの製造方法及び有機薄膜トランジスタアレイの製造方法
|
US20100178433A1
(en)
*
|
2009-01-14 |
2010-07-15 |
Gm Global Technology Operations, Inc. |
Method and apparatus for applying bonding adhesive
|
US20100206302A1
(en)
*
|
2009-02-18 |
2010-08-19 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Rotational Trough Reflector Array For Solar-Electricity Generation
|
US20100206356A1
(en)
*
|
2009-02-18 |
2010-08-19 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Rotational Trough Reflector Array For Solar-Electricity Generation
|
US20100206357A1
(en)
*
|
2009-02-18 |
2010-08-19 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Two-Part Solar Energy Collection System With Replaceable Solar Collector Component
|
US20100206379A1
(en)
*
|
2009-02-18 |
2010-08-19 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Rotational Trough Reflector Array With Solid Optical Element For Solar-Electricity Generation
|
JP5467855B2
(ja)
*
|
2009-03-09 |
2014-04-09 |
富士フイルム株式会社 |
ラインパターン形成方法
|
US20110083728A1
(en)
*
|
2009-10-14 |
2011-04-14 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Disordered Nanowire Solar Cell
|
US20110100419A1
(en)
*
|
2009-11-03 |
2011-05-05 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Linear Concentrating Solar Collector With Decentered Trough-Type Relectors
|
KR101678670B1
(ko)
*
|
2010-01-22 |
2016-12-07 |
삼성전자주식회사 |
박막트랜지스터 및 어레이 박막트랜지스터의 제조방법
|
US20110216401A1
(en)
*
|
2010-03-03 |
2011-09-08 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
Scanning System With Orbiting Objective
|
JP5462036B2
(ja)
*
|
2010-03-15 |
2014-04-02 |
株式会社フジクラ |
回路基板の製造方法、およびその回路基板
|
JP5462039B2
(ja)
*
|
2010-03-18 |
2014-04-02 |
株式会社フジクラ |
回路基板の製造方法、その回路基板、及び回路基板の製造方法
|
JP5685467B2
(ja)
*
|
2010-09-16 |
2015-03-18 |
富士フイルム株式会社 |
パターン形成方法及びパターン形成装置
|
KR20120052043A
(ko)
*
|
2010-11-15 |
2012-05-23 |
삼성전자주식회사 |
잉크젯 프린트용 기판의 표면 개질 방법
|
WO2012092301A2
(en)
*
|
2010-12-29 |
2012-07-05 |
Intevac, Inc. |
Method and apparatus for masking substrates for deposition
|
US8962424B2
(en)
|
2011-03-03 |
2015-02-24 |
Palo Alto Research Center Incorporated |
N-type silicon solar cell with contact/protection structures
|
CN103619597B
(zh)
|
2011-06-15 |
2016-08-17 |
惠普发展公司,有限责任合伙企业 |
打印系统
|
JP2013008851A
(ja)
*
|
2011-06-24 |
2013-01-10 |
Fujifilm Corp |
機能性液体パターン形成方法、導電性パターン形成方法、機能性液体パターン形成システム、導電性パターン形成システム、機能性液体パターン構造体製造方法、及び導電性パターン構造体製造方法
|
CN103747963B
(zh)
|
2011-07-01 |
2016-08-17 |
惠普发展公司,有限责任合伙企业 |
固化装置、图像形成装置、以及制品
|
JP6011962B2
(ja)
*
|
2012-08-30 |
2016-10-25 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
パターン印刷装置、パターン印刷方法、および試験装置
|
EP2946400A4
(de)
*
|
2013-01-21 |
2016-09-07 |
Camtek Ltd |
Oberflächenvorbehandlung und tropfenverteilungssteuerung auf oberflächen mit mehreren komponenten
|
EP2969244A2
(de)
*
|
2013-03-15 |
2016-01-20 |
Micronic Mydata AB |
Verfahren und vorrichtungen zur erzeugung eines viskosen mediums auf werkstücken
|
US9808822B2
(en)
|
2013-03-15 |
2017-11-07 |
Mycronic AB |
Methods and devices for jetting viscous medium on workpieces
|
JP6538649B2
(ja)
*
|
2014-03-10 |
2019-07-03 |
武蔵エンジニアリング株式会社 |
塗布装置および塗布方法
|
JP6476990B2
(ja)
*
|
2014-06-05 |
2019-03-06 |
大日本印刷株式会社 |
印刷版、印刷版の製造方法、機能性素子の製造方法および印刷装置
|
KR101636453B1
(ko)
*
|
2015-01-29 |
2016-07-05 |
한림대학교 산학협력단 |
유기 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
|
CN107340178B
(zh)
*
|
2017-07-24 |
2019-12-03 |
中国民用航空飞行学院 |
一种单液滴撞击织物机理研究实验装置
|
WO2019151975A1
(en)
*
|
2018-01-30 |
2019-08-08 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Alignment devices
|
KR102652755B1
(ko)
*
|
2018-04-09 |
2024-04-01 |
세메스 주식회사 |
액적 토출 방법 및 장치
|
US11255715B2
(en)
|
2018-07-20 |
2022-02-22 |
Brighton technologies, LLC |
Method and apparatus for determining a mass of a droplet from sample data collected from a liquid droplet dispensation system
|
KR102199011B1
(ko)
*
|
2018-12-20 |
2021-01-08 |
충남대학교산학협력단 |
역전압 전기수력학적 3d 패터닝 방법
|
CN113274856B
(zh)
*
|
2021-04-21 |
2022-08-05 |
西安交通大学 |
一种面向微重力环境的太空舱内3d打印装置
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