DE4421256C2 - Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung - Google Patents
Feldeffekt-MikrotriodenanordnungInfo
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- DE4421256C2 DE4421256C2 DE4421256A DE4421256A DE4421256C2 DE 4421256 C2 DE4421256 C2 DE 4421256C2 DE 4421256 A DE4421256 A DE 4421256A DE 4421256 A DE4421256 A DE 4421256A DE 4421256 C2 DE4421256 C2 DE 4421256C2
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Feldeffekt-
Mikrotriodenanordnung gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Derartige Feldeffekt-Mikrotriodenanordnungen können
beispielsweise als Schutzschalter gegen elektrostati
sche Entladungen (ESD) bei Halbleiterbauelementen bzw.
Halbleiterschaltkreisen sowie alternativ als schalten
des bzw. verstärkendes Hochfrequenzbauelement für Halb
leiterbauelemente in monolithiseh integrierten Schal
tungen eingesetzt werden.
Mikrodioden und Mikrotrioden, die im Vakuum arbeiten,
sind in zahlreicher Form vorbekannt: Veröffentlichungen
dazu erfolgten u. a. durch C. A. Spindt, C. E. Holland,
A. Rosengreen und I. Brodie, Field-Emitter Arrays for
vacuum microelectronics, IEEE Trans. Electron Devices
38 (1991) 2355; Helmuth Lemme, Integrierte Röhren -
Mikromechanische Vakuumtrioden als Transistor-Ersatz,
Elektronik 13 (1991) 40 und US 4 901 028.
Angewendet werden diese Bauelemente u. a. als Schutz
schalter gegen elektrostatische Entladungen für inte
grierte Mikrowellenschaltkreise und für den Aufbau von
Flachbildschirmen.
Das Design von konventionellen Mikrotrioden ist stark
am Design von normalen Vakuumröhren orientiert:
Zwischen der Feldemissionskathode und der Anode liegt
ein sogenanntes Grid (Gitter), das über eine ent
sprechend angelegte negative Spannung den Stromfluß
zwischen Kathode und Anode unterbrechen kann und somit
eine Modulation dieses Stromes ermöglicht. Diese Form
der Gitteranordnung erfordert allerdings eine Vielzahl
von Prozeßschritten für die Herstellung der notwendigen
Isolator- und Metallschichten.
Weiter gibt es ausgehend von bekannt gewordenen wissen
schaftlichen Veröffentlichungen Anhaltspunkte, daß eine
solche Lochblenden-Gitterelektrode die erzielbare
Grenzfrequenz auf Grund des relativ hohen Anodenwider
standes negativ beeinflußt.
In den üblichen, triodenähnlichen Mikrotrioden werden
die Steuerelektroden in der Nähe der Spitzen durch
Einziehen einer Lochblende erzeugt. Damit liegt aber -
bis auf den Bereich der Spitze - diese gesamte Fläche
auf einem vergleichbar negativen Potential wie die
Feldemitterspitze bzw. -kante, wodurch sich zwangsläu
fig ungünstigere Feldverhältnisse ergeben.
Schnittbilder bekannter Mikrotrioden-Konzepte zeigt
Fig. 1.
Die bekannten Bauelemente arbeiten meist mit sehr spit
zen Emittern und damit verbunden mit sehr hohen Strom
dichten. Der nutzbare Strom muß allerdings durch die
Parallelschaltung einer Vielzahl von elementaren Trio
den zu einem Array (FEA Field-Emitter Array) auf
brauchbare Werte erhöht werden. Die Modulation eines
solchen Arrays - gerade im Hochfrequenz-Bereich -
stellt wegen der großen technologischen und schaltungs
technischen Streuungen ein großes Problem (Rauschen,
Jitter) dar.
Darüber hinaus arbeiten die bekannten Bauelemente mit
relativ großen Kathoden-Anodenabständen im Bereich von
50 µm bis in den mm-Bereich.
Mikrotrioden, die ohne Vakuum arbeiten, sind bislang
nicht bekannt geworden.
Aus der amerikanischen Patentschrift US 5 227 699 geht
ein im Vakuum betriebener Feldeffekt-Transistor hervor,
der einen aus Silizium gefertigten Feldemitter aufweist
und bei dem die Gate-Elektroden relativ zu den Emitter
spitzen abgesenkt sind. Gleiche oder ähnliche Anordnun
gen gehen darüberhinaus aus folgenden Dokumenten her
vor: IEEE Electron devices meeting 1991, Seiten 213 bis
215 (H. H. Busta et. al. ), US 5 199 917, EP 0 520 780.
Der Vorteil einer derartigen geometrischen Anordnung
zwischen der Gate- und Emitterelektrode liegt darin,
daß die Feldemission durch die Anode (Drain) hervorge
rufen werden kann und der Strom zwischen Emitter und
Anode (Drain) durch die Gate-Elektrode moduliert werden
kann. Mit dieser Anordnung wird die Strommodulation
ohne auftretenden statistischen Emitter-Gate-Strom, der
den Eingangswiderstand des Bauelementes vergrößert,
möglich. Auf diese Weise kann die Emitter-Gate und
Anode-Gate-Kapazität verringert werden, wodurch der
Eingangs-Blindwiderstandeinsbesondere für hochfrequente
Eingangssignale gesteigert wird.
Die Auslegung der bekannten Mikrotriodenanordnungen ist
jedoch nicht an die Anforderungen des Hochfrequenzbe
reiches ausgelegt, so daß das Verarbeiten hochfrequen
ter Signale, z. B. Signale im Giga- und Tera-Hz-Be
reich, aufgrund der Bauelementestruktur nicht in ge
wünschter Weise erfolgen kann.
Eine weitere bekannte Mikroelektrodenanordnung ist der
US 4 721 885 zu entnehmen. Die als Dioden- oder Trio
denstruktur auszubildende Anordnung sieht ebenfalls
spitz zulaufende Emitterelektroden vor, deren Spitzen
von einer Anodenanordnung derart beabstandet sind, daß
der Abstand gleich oder kleiner der mittleren freien
Weglänge der Elektronen, auch unter normalen atmosphä
rischen Bedingungen, ist. Zwar kann diese Anordnung
grundsätzlich unter Normalbedingungen betrieben werden,
doch bestehen auch in diesem Fall die vorstehend be
schriebenen Nachteile.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine
Feldeffekt-Mikrotriode anzugeben, die in normaler At
mosphäre arbeitet und für den Einsatz hochfrequenter
Steuersignale geeignet ist.
Eine erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist im
Patentanspruch 1 angegeben. Weiterbildungen der Er
findung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Erfindungsgemäß wird eine Feldeffekt-Mikrotriodenanord
nung mit einer Feldemissionskanten aufweisenden Emit
tereinheit, einer Anodenanordnung (Drain) sowie einer
Steuerelektroden-Einheit (Gate), die planar zu den oder
unterhalb der Feldemissionskanten angeordnet ist, der
art ausgebildet, daß die Steuerelektrodeneinheit (Gate)
und die Emitter-Einheit als coplanare Hochfrequenzwel
lenleiterstruktur ausgebildet sind.
Die erfindungsgemäße Triode basiert auf der Idee, daß
es möglich ist, zwischen dem Gate und der Feldemis
sionskathode eine Welle zu führen. So ist die Feldemis
sionskathode auf Massepotential zu legen, so daß die
Gate-Elektrode mit den auf Masse liegenden Feldemis
sionskanten eingangsseitig einen am Design von Cop
lanarleitern orientierten Wellenleiter für das hoch
frequente Steuersignal bildet.
Um Hochfrequenzsignale mit geringem Pegel zu verstär
ken, muß die Ausführung des verstärkenden Bauelementes
die Eigenheiten von hochfrequenten elektromagnetischen
Wellen berücksichtigen. Um ein hochfrequentes Signal zu
führen, müssen spezielle Leitungsstrukturen (coplanare
Leitung oder Mikrostreifen-Leitung bzw. koaxiale Lei
tungen oder Hohlleiter) verwendet werden. Die Leitungen
und die aktiven Bauelemente müssen im Wellenwiderstand
anpaßbar sein, um Reflexionen zu vermeiden. Der er
findungsgemäße Triodenentwurf ist unter diesen Beson
derheiten ausgestaltet worden.
Das im Vorstehenden beschriebene, an sich bekannte
Tieferlegen des Gates weicht jedoch von Ausführungen
der normalen Coplanarleitungen ab und stellt eine Modi
fikation des Coplanarleiters dar.
Durch die erfindungsgemäße Geometrie der Feldemissions
trioden ist es möglich, daß neben geringster parasi
tärer Kapazitäten auch die Anschlußwellenleitungen und
die verstärkenden oder schaltenden aktiven Feldemis
sionstrioden auf den gleichen Wellenwiderstand abge
stimmt werden können. Damit werden geringste Reflexio
nen am Ein- und Ausgang ermöglicht, die für einen Be
trieb im Höchstfrequenzbereich oft die Begrenzung dar
stellen.
Durch den erfindungsgemäßen Entwurf auf der Basis von
Wellenleiterstrukturen bietet sich eine Realisierung
von Wanderwellen-Trioden an, die auf diese Weise als
mikroelektronisch integrierbares, nicht an Vakuum ge
bundenes und auf Feldemissionskathoden basierendes
Höchstfrequenzbauelement mit außerordentlich hohen
Ausgangsleistungen dienen kann.
Die erfindungsgemäße Triode basiert zudem auf einem
neuen Prinzip der Strommodulation. Forschungen mit
verschiedenen Feldemitteranordnungen haben ergeben, daß
es einen optimalen Abstand zwischen zwei Feldemissions
kanten beispielsweise in Klingenform gibt, so daß bei
einem entsprechenden Aufbau das für die Feldemission
von Elektronen aus dem Feldemitter benötigte elektri
sche Feld mit kleinstmöglicher angelegter Spannung
(zwischen Feldemissionskathode und Anode) erreicht
wird. Der optimale Abstand ist dabei abhängig von der
Höhe der emittierenden Klinge und dem Abstand zur An
ode. Weiterhin sind die Dotierung und die Spitzenform
von Einfluß.
Das Prinzip beruht nun darauf, daß dieses optimale Feld
durch eine jeweils coplanar zwischen den Feldemissions
klingen angeordnete Steuerelektrode entweder durch eine
geeignete Spannung erst erzeugt wird, wozu es notwendig
ist, den physikalischen Abstand der Feldemitter nicht
in das Optimum zu legen, oder das Optimum durch eine
geeignete Spannung gestört wird; in diesem Fall wird
der physikalische Abstand genau in das Optimum gelegt,
was eine wirksame Strommodulation ermöglicht.
Diese Steuerelektrode ist coplanar zur Basis der Feld
emitter ausgeführt und in einem optimalen Abstand DG
zwischen den Emitterkanten lokalisiert. Damit erzielt
man eine Beeinflussung des Feldemissionsstromes über
die Änderung der Feldstärke ET des an den Feldemittern
anliegenden Feldes.
Die Feldemitterelemente können dabei mittels Kontaktme
tall und die Steuerelektroden mittels Gatemetall auf
dem Trägerisolator aufgebracht sein.
Durch entsprechende Einstellung des Abstandes der Feld
emitterkanten DE untereinander kann die Feldstärke
maximiert werden. Wird nun zwischen diesen Feldemis
sionskanten auf einer Elektrode (Gate) ein von Null
verschiedenes Potential gelegt, so wird ein mehr oder
weniger großer Teil der Feldlinien ET an dieser Elek
trode enden. Damit wird die Feldliniendichte EE an der
Spitze der Feldemitterkanten variiert.
In einer bevorzugten Ausführungsform werden die Trioden
mit naß-chemisch geätzten Feldemissionsklingen ausge
führt. Diese Klingen werden aus dem hochdotierten (1
bis 3 1018) Halbleitermaterial oder höher dotiertem
GaAs geätzt. Eine hohe Dotierung ist vorteilhaft, aber
nicht funktionsbedingend. Die Klingen können auch aus
anderen Halbleitern hergestellt werden, bei Verzicht
auf den hilfreichen "Electronic Blunting"-Effekt sogar
aus Glas oder Kunststoffen mit aufgedampften Leiter
schichten. Es bieten sich auch kostengünstige epitakti
sche Schichten auf anderen Trägermaterialien an.
Unter Nutzung des "Elektronic Blunting"-Effekts ist es
möglich, trotz eventueller kleiner Inhomogenitäten in
der Höhe oder der Oberfläche der Klingen eine gleich
mäßige Emission über eine Klinge aus dotiertem Halblei
termaterial zu erzeugen. Durch die Dotierung ist ein
Sättigungsstrom eingestellt. Wird nun versucht, örtlich
begrenzt diesen Sättigungsstrom zu überschreiten, so
findet durch das Wegemittieren von Oberflächenladungen
ein Eindringen des Feldes in den Halbleiter statt. Dies
kommt einer örtlichen Widerstandserhöhung gleich, wo
durch die Emission von benachbarten Gebieten begünstigt
wird. Bei einer metallischen Feldemissions-Klinge würde
zuerst die Stelle zünden, welche der Anode am nächsten
ist. Der Strom steigt hier über die Zerstörungsgrenze
solange an, bis diese Stelle evaporiert wird. Die Folge
ist, daß eine metallische Kante kaum zu homogener Emis
sion zu veranlassen ist.
Von daher ist auch erklärlich, daß die meisten ver
öffentlichten Konzepte auf der Verwendung von Feldemis
sions-Spitzen beruhen, was für eine Anwendung als lei
stungstragende Bauelemente unbefriedigend ist.
Das "Electronic-Blunting"-Prinzip funktioniert aller
Voraussicht nach auch mit polykristallinen Halbleiter
materialen, welche durch sehr kostengünstige Verfahren
(CVD, PECVD, Epitaxie) auf Trägermaterialien wie Glas
und Kunststoffe aufgebracht werden können.
Durch das neuartige Prinzip der Erfindung ist es mög
lich, sehr kleine Abstände zwischen Kathode und Anode
in einem Wertebereich von 0,4 bis 0,5 µm einzustellen.
Daraus ergibt sich der Vorteil, daß diese Bauelemente
auch ohne Vakuum zuverlässig arbeiten. Der Abstand der
Elektroden liegt im Bereich der mittleren freien Weg
länge von Elektronen in Normal-Atmosphäre, was einem
Quasi-Vakuum entspricht.
Durch die sehr kleinen Abstände zwischen Kathode und
Anode ist es weiterhin möglich, relativ große und damit
stumpfe Spitzenradien mit einem Radius im Bereich von
25 bis 75 nm einzusetzen.
Diese erfindungsgemäße Dimensionierung der Feldemitter
elemente steht im Gegensatz zu konventionellen Trioden
prinzipien, die möglichst spitze Emitter mit einem
Krümmungsradius von 0,5-10 nm verlangen.
Durch Anwendung relativ stumpfer Spitzen kann der Vor
teil solcher Mikro-Trioden voll ausgeschöpft werden.
Neben der prinzipiell erzielbaren hohen Stromdichte
kann mit der größeren emittierenden Fläche auch ein
größerer nutzbarer Strom pro Emitter erzeugt werden.
Derartige relativ stumpfe Spitzen sind auch einfacher
herzustellen.
Die Steuerwirkung wird nach der erfindungsgemäßen Kon
figuration der Feldemitterelemente mittels Beeinflus
sung der Maximalfeldstärke an der Spitze der Feldemis
sionskante erreicht. Dies steht im Gegensatz zur Poten
tialschwellensteuerung von normalen Trioden. Daraus
ergeben sich entscheidende prinzipielle Vorteile, wie
- - hoher Steuereingangswiderstand,
- - nahezu leistungsloses Steuern und
- - hohe Integrationsfähigkeit, die auch wegen der geringen Abmessungen begünstigt wird.
Durch die Variation des Abstandes zwischen Kathode und
Anode und des Spitzenradius der Feldemissionskante
können verschiedene Schwellspannungen eingestellt wer
den. Eine weitere sehr exakte Variation der für Feld
emission aus der Kathode notwendigen Schwellspannung
ist mit einer entsprechenden DC-Gitterspannung möglich.
Weiterhin erlaubt die Erfindung die einfache Integra
tion von Anoden durch z. B. Luftbrückentechnologie.
Eine Luftbrücke ist eine aus der Halbleitertechnik her
bekannte und üblicherweise benutzte Form eine auf dem
Substrat aufgebrachte Leiterstruktur durch eine weitere
Leiterstruktur zu überkreuzen. Dabei sollen die beiden
sich kreuzenden Leitungen keinen direkten elektrischen
Kontakt aufweisen. Während bei der auf dem Wafer aufge
brachten Leiterstruktur das Substratmaterial als Di
elektrikum für die geführte Welle fungiert, ist das
Dielektrikum für die "durch die Luft geführte", in Form
einer metallischen Brücke ausgeführte Leiterstruktur
nur Luft. Auch ist es möglich, diese Technologie für
den Aufbau von Feldemissions-Flach-Bildschirmen einzu
setzen. Dabei wird die Anode z. B. als Glasscheibe mit
aufgedampftem Metallgitter auf das Halbleitermaterial
aufgebracht, wobei der optimale Abstand sich automa
tisch einstellt. Die hierzu notwendigen Technologie
schritte liegen hinsichtlich des Aufwandes beträchtlich
unter den derzeitig verfolgten Prinzipien der Multi
layer-Technology.
Weitere Anwendungsmöglichkeiten der erfindungsgemäßen
Feldeffekt-Mikrotriode sind neuartige Schutzschalter
gegen elektrostatische Entladungen (ESD) für monoli
thisch integrierte Mikrowellenschaltkreise sowie das
breite Einsatzfeld als schaltendes und/oder verstär
kendes Hochfrequenzbauelement.
Mit dem neuartigen Aufbau und der damit einhergehenden
Funktionsweise der Feldeffekt-Mikrotriode ergeben sich
folgende Vorteile:
Es wird auch ein sehr geringer Abstand zwischen Kathode
und Anode ermöglicht. Die geometrische Anordnung der
steuernden Gitterelektrode begrenzt nicht den minimal
möglichen Abstand zwischen Kathode (Feldemitter) und
Anode, wie es zwangsläufig bei den meisten der derzeit
üblichen Konzepte der Fall ist. Daraus wiederum ergibt
sich eine relativ geringe Schwellspannung (in der Regel
zwischen 7 und 25 Volt) zwischend Kathode und Anode, um
die für Feldemission von Elektronen aus der Kathode
notwendige Feldstärke an der Spitze des Feldemitters
der Kathode zu erreichen.
Mit der erfindungsgemäßen geometrischen Ausbildung der
Emitter werden je nach Bedarf relativ große Spitzenra
dien und einhergehend mit einer entsprechend großen
Emissionsfläche auch relativ hohe Emissionsströme mit
adäquater Leistung ermöglicht.
Damit im Zusammenhang stehen vergleichsweise geringe
Einsatzspannungen für die Bauelemente, z. B. für inte
grierte Feldemitterelektronik.
Durch die Verwendbarkeit der größeren Feldemitterspit
zenradien wird eine höhere Funktionssicherheit der
Feldemissionskanten gewährleistet, da bei Stößen mit
ionisierenden Teilchen die Wahrscheinlichkeit sehr
gering ist, daß die Spitze maßgeblich zerstört wird,
während dies bei sehr spitzen Feldemissionskanten ein
Hauptproblem hinsichtlich Zuverlässigkeit und Strom
rauschen ist.
Die Anode wird mittels der aus der MMIC (Monolithic
Microwave Integrated Circuit) Technologie bekannten
Luftbrückentechnologie sehr einfach und direkt auf dem
Wafer integriert. Der Abstand kann dabei mit den zur
Verfügung stehenden Fotolacken im Bereich von 0,3 µm
bis etwa 30 µm variiert werden.
Typisch ist jedoch der sehr geringe Abstand von zirka
0,5 µm, da sich hier die genannten Vorteile hinsicht
lich Quasi-Vakuum und höherer erzielbarer Stromstärken
unter Verwendung von relativ stumpfen Spitzen mit
großen Emissionsflächen ergeben.
Der Herstellungsaufwand für diese Anoden ist geringer
als bei konventionellen Feldemissionsbauelementen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungs
beispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung exempla
risch beschrieben, Es zeigen:
Fig. 1 eine Mikrotriode nach dem Stand der Technik
(bereits erläutert),
Fig. 2a ein Schnittbild einer erfindungsgemäßen Feld
emissions-Mikrotriode,
Fig. 2b eine Detailzeichnung von Fig. 2a,
Fig. 3a eine Aufsicht auf: die in Fig. 2a und 2b darge
stellte Feldemissions-Mikrotriode,
Fig. 3b eine Aufsicht auf die Version mit elektrischem
Anschluß der Feldemitter nur durch ohmschen
Kontakt an der Kathodenmesa,
Fig. 3c eine Aufsicht auf die Version mit elektrischem
Anschluß der Feldemitter durch ohmschen Kontakt
an der Kathodenmesa und zusätzlichen ohmschen
Kontaktstreifen parallel zu den Feldemittern,
Fig. 4 eine Feldemissionstriode basierend auf dem
Wander wellenprinzip mit langer Emissionskante,
und
Fig. 5 eine Feldemissionstriode basierend auf dem
Wander wellenprinzip mit definierten Abstand.
Zur Begriffserläuterung sei hier bemerkt, daß die Mesa
die Stelle ist, an der die aktive (dotierte) Halblei
terschicht nicht weggeätzt wird.
Die Fig. 2a und 2b zeigen den prinzipiellen Aufbau der
Feldemissions-Mikrotriode im Schnitt.
Die Steuerelektrode 2 ist coplanar zur Basis der Feld
emitter 1 in einem optimalen Abstand DG zu den Emitter
kanten angeordnet. Die Feldemitterelemente sind zur
Gewährleistung der Feldemitterkanten in Klingenform
ausgeführt. Die Feldemissionsklingen 1 sind dabei mit
tels Kontaktmetall 4 auf dem Trägerisolator 6 ange
ordnet und die Steuerelektrode (Gatemetall 2) ist auch
auf dem Trägerisolator angeordnet.
Der Abstand der Feldemitterkanten DE zueinander ist so
gewählt, daß eine maximale Feldstärke gegeben ist. Eine
Beeinflussung des Feldemissionstromes erfolgt über die
Änderung der Feldstärke ET. Wird die Steuerelektrode
mit einem von Null verschiedenen Potential beauf
schlagt, so wird ein bestimmter Teil der Feldlinien ET
in diese Elektrode eintreten. Auf diese Weise kann die
Feldliniendichte EE an der Spitze der Feldemitterkanten
variiert werden.
Der Abstand DA zwischen Kathode und Anode 3 ist so vor
gegeben, daß er im Bereich der mittleren freien Weg
länge der Elektronen in Normal-Atmosphäre liegt, was
einem Quasi-Vakuum entspricht.
Die Anode 3 ist nach der Luftbrückentechnologie ausge
führt.
Die Fig. 3a bis 3c komplettieren die Erläuterungen
durch Aufsichten auf die Feldemissions-Mikrotriode. Die
Fig. 3b und 3c sind dabei Detailzeichnungen von
Fig. 3a für zwei verschiedene Ausführungsformen. Fig.
3b zeigt eine Aufsicht auf eine Version mit elektri
schem Anschluß der Feldemitter durch ohmschen Kontakt
an der Kathodenmesa und Fig. 3c eine Version mit zus
ätzlichen ohmschen Kontaktstreifen parallel zu den
Feldemittern. Es sind jeweils Käthodenpad 7, Anodenpad
8 und Gatepad 9 eingezeichnet.
Das vorliegende Bauelement wurde auf GaAs realisiert.
Der GaAs-Ätzprozeß wurde naß-chemisch entwickelt, da
PTasma-Prozesse meist geschädigte Oberflächen hinter
lassen, die für den mit ungeschädigtem Halbleiterma
terial erzielbaren "Electronic Blunting"-Effekt nach
teilig sind.
Das zum Herstellen der GaAs-Feldemitter verwendete Naß-
Ätzverfahren erlaubt es allerdings, Spitzenradien von
kleiner als 25 nm zu ätzen und stellt somit ein Ver
fahren dar, welches zu einer ähnlich guten Struk
turierung führt wie das Plasma-Ätzverfahren, jedoch die
Nachteile dieses Verfahrens wie Oberflächenschäden,
hervorgerufen durch Ionenbombardement während des Pro
zesses, nicht aufweist.
Mit einem Triodendesign, welches auf vier Feldemis
sions-Klingen mit einer jeweiligen Länge von 35 µm und
einem Spitzenradius von ca. 70 nm beruht, wird bei
einer Spannung von 25 V zwischend Kathode 1 und Anode 3
ein Strom von 38 mA DC emittiert und mit einer Gatespan
nung (planar Grid) von 15 V auf weniger als die Hälfte
reduziert.
Das Bauelement benötigt eine Gesamtfläche von 85 µm ×
50 µm ohne Anschlußfelder (pads) kann somit unter Nor
mal-Atmosphäre zuverlässig eine Leistung von 1,4 Watt
DC zur Verfügung stellen.
Die Feldemissionskanten sind aus einkristallinem Halb
leitermaterial GaAs hergestellt; auch polykristallines
Halbleitermaterial oder metallbeschichteter Kunststoff
werden als nutzbar eingeschätzt. Daraus ergeben sich
weitere Vorteile für den Aufbau zuverlässiger Feldemis
sionsbauelemente, wie homogene Kantenemission und kein
Evaporieren der Spitzen bzw. Kanten, wie es bei Metall
emittern zu beobachten ist.
Die Steuerelektrode (Gate 2, siehe Fig. 2a) muß nicht
notwendigerweise mit Metall beschichtet werden, viel
mehr kann die elektrische Kontaktierung über den ohm
schen Kontakt an der Kathodenmesa erfolgen. Dadurch
kann der Stromfluß lateral durch die Feldemitterkante
erfolgen. Bei langen Emissionskathoden ist es optional
möglich, den ohmschen Kontakt zusätzlich parallel zu
der Basis der Feldemitter auszuführen. Genauso ist eine
ohmsche Kontaktierung der Feldemissionsklingen über die
Feldemitterkathodenmesa möglich.
Weiterhin ist es möglich die materialabhängige Aus
trittsarbeit der Feldemitterklingen durch Beschichtung
mit speziellen Materialien, wie Cs, CsO, Na, K oder C6 0
zu verringern. Gerade die Beschichtung mit Buckminster
fullerenen wie C6 0 hat den Vorteil, daß außer der Än
derung der Austrittsarbeit noch eine Verlängerung der
Zuverlässigkeit des Bauelements erreicht werden kann,
da diese Fullerene diamantähnliche Eigenschaften be
sitzen. Damit würde die Langzeitzuverlässigkeit hin
sichtlich Korrosion, Ionenstößen und Halbleiter- bzw.
Oberflächenveränderungen jeglicher Art, wie z. B. Aus
gasen von Arsen oder Dotierstoffen bei GaAs, auch in
hohen Temperaturbereichen zunehmen. Diese vorteilhafte
Beschichtung ließe sich z. B. auch mit einer Diamant
schicht, die auch dotiert sein kann, ausführen.
Aus Fig. 4 geht eine Feldemissionstriode basierend auf
dem eingangs erwähnten Wanderwellenprinzip hervor. Die
in der Fig. 4 dargestellte Feldemissiontriode besitzt
eine Wanderwellenstruktur für hohe Frequenzen im µm-
Wellenlängenbereich.
Der Gateleiter G (Innenleiter der Eingangs-Coplanarlei
tung) ist verbunden mit den eigentlichen Gateelektroden
GE der Triode. Die äußeren Massestreifen M der nähe
rungsweise coplanaren Leitung sind über die Zuleitungen
ZU mit den beiden Feldemissionsklingen F der eigentli
chen Triode verbunden. Die Anodenanschlußleitung A
(Innenleiter der Ausgangs-Coplanarleitung) ist über die
beiden Zuleitungluftbrücken LZ, die in Form einer sta
bilen metallischen Brückenstruktur (Luftbrücke) in
einer höheren Ebene die Zuleitung ZU überqueren (Lei
terüberkreuzung), mit den beiden Anodenzuleitungen AZ
verbunden. Von den beiden Anodenzuleitungen gehen im
Abstand der Wellenlänge λ Anodenluftbrücken LA
aus, die die Gateelektroden und Feldemissionskanten in
einer höheren Ebene überbrücken, ohne diese zu kontak
tieren. Diese Anodenluftbrücken bilden die eigentlichen
Anoden, die die von den Feldemissionskanten F emittier
ten Elektronen auffangen.
Die zu verstärkende Welle wird bei dieser ersten Ge
ometrie zwischen Gateleiter G und Masseelektroden M an
die Triode herangeführt. In der Triode wird die Welle
zwischen den Gateelektroden GE und den auf Masse-Poten
tial befindlichen und mit den Masseleitern M verbun
denen Feldemissionskanten F geführt. Die Länge der
Feldemissionskanten ist so bemessen, daß mehrere Wel
lenlängen der geführten Welle sich auf der Feldemis
sionskante befinden können.
Genau an den Stellen, an denen die Feldemissionskanten
von den Anodenluftbrücken überkreuzt werden, befindet
sich z. B. ein Wellenberg. Die Elektrodenlängen werden
so bemessen, daß sich die Wellenberge genau phasen
gleich zu der geführten, zu verstärkenden Eingangs-
Welle hinzuaddieren können (Wanderwelleneffekt). Die
verstärkte Welle wird über die Ausgangsleitung wegge
führt. Damit kommt das vorgeschlagene Konzept der idea
len "verstärkenden Leitung" sehr nahe.
Energiezufuhr erfolgt über die angelegte Gleichspannung
zwischen Feldemissionskante und Anode. Über eine zu
sätzliche Gleichspannung zwischen Gate und Feldemis
sionskanten kann ebenfalls der Arbeitspunkt beeinflußt
werden. Verstärkung erfolgt, da eine niederpegelige,
nahezu leistungslose Welle am Eingang sehr hohe Feld
emissionsströme in der Triode bewirken und steuern
kann. Die verstärkten Signale überlagern sich über die
reflexionslos weitergeführte Eingangs-Welle. Einzig ein
Rücklaufen der verstärkten Welle zum Eingang muß durch
geeignete Bauelemente (Zirkulator in passiver oder
elektronischer Art) verhindert werden.
In Fig. 5 ist ähnlich wie in Fig. 4 eine Feldemis
sionstriode für den Wanderwellenbetrieb vorgesehen.
Hierbei ist der Abstand zwischen den Feldemissionskan
ten F und den zugehörigen Gateelektroden G im Abstand
vor Vielfachen der Wellenlänge λ der zu ver
arbeitenden Signale ausgebildet.
Die gesamte Triode besteht aus mehreren einzelnen Trio
denzellen Z, die jeweils aus einer Feldemissionskante F
bestehen, welche auf beiden Langsseiten von einer Gate
elektrodenkante GE flankiert wird. Der Gateleiter G
(Innenleiter der Eingangs-Coplanarleitung) ist mit den
eigentlichen Gateelektroden GE der Triode verbunden.
Die äußeren Massestreifen M der näherungsweise coplana
ren Leitung sind mit den Feldemissionsklingen F der
eigentlichen Triodenzellen verbunden. Die Anodenan
schlußleitung A (Innenleiter der Ausgangs-Coplanarlei
tung) ist mit den Anodenluftbrücken L verbunden, die in
Form einer stabilen metallischen Brückenstruktur (Luft
brücke) in einer höheren Ebene die Feldemissionskanten
F und die jeweiligen Gateelektroden GE überqueren (Lei
terüberkreuzung).
Die zu verstärkende Welle wird bei dieser alternativen
Geometrie zwischen Gateleiter G und Masseelektroden M
an die Triode herangeführt. Die einzelne Triodenzelle
kann hier klein gegen die Wellenlänge sein, sodaß von
einem Führen der Welle in der Triodenzelle nicht ausge
gangen werden muß.
Die Triodenzellen befinden sich im Abstand der Wellen
länge unter den Anodenluftbrücken. Anders ausgedrückt
befindet sich an jeder Triodenzelle z. B. ein Wellen
berg. Die Elektrodenlängen der Gesamtanordnung werden
so bemessen, daß sich die Wellenberge genau phasen
gleich zu der geführten, zu verstärkenden Eingangs-
Welle hinzuaddieren können (Wanderwelleneffekt). Die
verstärkte Welle wird über die Ausgangsleitung A wegge
führt. Damit kommt das vorgeschlagene Konzept der idea
len "verstärkenden Leitung" ebenfalls sehr nahe.
Energiezufuhr erfolgt auch hier über die angelegte
Gleichspannung zwischen Feldemissionskante und Anode.
Über eine zusätzliche Gleichspannung zwischen Gate und
Feldemissionskanten kann ebenfalls der Arbeitspunkt
beeinflußt werden. Verstärkung erfolgt, da eine nieder
pegelige, nahezu leistungslose Welle am Eingang sehr
hohe Feldemissionsströme in den Triodenzellen bewirken
und steuern kann. Die verstärkten Signale der einzelnen
Triodenzellen überlagern sich über die reflexionslos
weitergeführte Eingangs-Welle. Einzig ein Rücklaufen
der verstärkten Welle zum Eingang muß auch bei dieser
Alternative durch geeignete Bauelemente (z. B. Zirkula
tor in passiver oder elektronischer Art) verhindert
werden.
Unter Ausnutzung des Wanderwelleneffektes lassen sich
auf diese Weise auch Oszillatoren (phasengleiche Rück
kopplung) oder Frequenzvervielfachung (Addition zweier
oder mehrerer leicht in der Phase verschobener Wellen
und deren geeignete Vertsärkung) verwirklichen.
Für die erfindungsgemäße Triodenkonfiguration werden
verschiedene Anwendungen vorgeschlagen:
Einmal kann die Feldeffekt-Mikrotriode als neuartiger
Schutzschalter gegen elektrostatische Entladungen (ESD)
für monolithisch integrierte Mikrowellenschaltkreise
(Monolthic Microwave Integrated Circuit MMIC) und dis
krete Mikrowellenbauelemente wie Transistoren und Dio
den auch im Mikrowellenbereich eingesetzt werden.
Für solche ESD-Schutzschaltungen muß das schaltende
Bauelement gleichzeitig sehr geringe Parasitäten (vor
wiegend eine geringe elektrische Kapazität) und die
Fähigkeit aufweisen, sehr schnell eine relativ große
Stromdichte zu schalten. Dies ist derzeit in solchem
Maße nur mit den erfindungsgemäßen Feldemissions-Trio
den möglich.
Durch die Gitterelektrode kann die Einschaltschwelle in
weiten Grenzen variiert werden und somit können Herste
llungstoleranzen ausgeglichen werden. Die Triode er
laubt dadurch auch den Einsatz von variablen Einschalt
spannungen mit demselben Schutzelement bei gleichem
Abstand zwischen Kathode und Anode auf einem Chip. Das
ist mit der einfachen Diodenform nicht möglich, da die
optimale Schaltspannung technologisch festgelegt werden
muß.
Variable Einschaltspannungen bei ESD-Schutzschaltungen
sind insbesondere in integrierten Schaltungen notwen
dig, wo unterschiedliche Arbeitsspannungsbereiche der
verwendeten Bauelemente vorkommen. Das betrifft bei
spielsweise MMIC, Integrierte optisch-elektronische
Mikrowellenschaltungen - Sender: Laser und Lasertreiber
- Empfänger: Detektor und entsprechende Verstärkerelek
tronik sowie hochfrequente Schaltungen mit integrierten
Leistungsendstufen im Hochfrequenzbereich.
Allgemein kann das Prinzip auch auf derzeit in Ent
wicklung befindliche, hochfrequente integrierte Sili
ziumschaltungen angewendet werden, da hier die konven
tionellen ESD-Schutzschaltungskonzepte ihre Leistungs
grenzen erreicht haben.
Zum anderen kann die Feldeffekt-Mikrotriode als schal
tendes und/oder verstärkendes Hochfrequenzbauelement
alternativ für Halbleiterbauelemente in monolithisch
integrierten Schaltungen eingesetzt werden.
Durch den geringen Abstand zwischen Kathode in Form der
Feldemissionskante und Anode kann Feldemission schon
bei sehr geringen Spannungen (4-5 V) erreicht werden.
Das hat den Vorteil, daß bei immer noch relativ ge
ringen Spannungen in Höhe von 15-20 Volt Feldemission
mit relativ stumpfen Kanten realisierbar ist. Bedingt
durch die relativ große Emissionsfläche dieser Kanten
können sehr große Emissionsströme erzeugt werden. Diese
Funktion ist von größtem Interesse für den Aufbau von
Leistungsbauelementen, wie Verstärkern, Sender-Endstu
fen für den Mikrowellenbereich oder als leistungsstarke
mikroelektronische Elektronenstrahlquellen für Flach-
Bildschirme.
Darüber hinaus haben sie auch für andere Elektronen
strahlanwendungen, wie Analysegeräte (STM scanning
tunnel microscope, SEM scanning electron mikroscope),
bei denen leistungsstarke Elektronenstrahlquellen ge
fordert sind, eine große Bedeutung.
Durch eine Array-Anordnung solcher Trioden als Elektro
nenstrahlquellen im SEM sind die verschiedensten Ver
besserungen des SEM hinsichtlich Auflösung, Filtermög
lichkeiten und Selektivität möglich.
Mit der neuen Triodengeometrie wird die technologische
Herstellung von Flachbildschirmen gravierend verein
facht.
Dabei wird die Anode 3 (siehe z. B. Fig. 2) z. B. als
Glasscheibe mit aufgedampftem Metallgitter und Leucht
stoff auf das Trägermaterial mit den Feldemittern und
den coplanar ausgeführten Gitterelektroden aufgebracht,
wobei der optimale Abstand sich automatisch einstellt.
Da das Zusammenbringen auch eine einfache Evakuierung
erlaubt, ist die Toleranz im Abstand zwischen Kathode
und Anode, die sich aus der Qualität der Glasscheibe
ergibt, unerheblich. Durch die Gitterelektrode ist
zudem eine chromatische Korrektur eines jeden Bildpunk
tes möglich, da sowohl der maximale Strom als auch die
Schwellspannung einstellbar sind.
Die hierzu notwendigen Technologieschritte liegen hin
sichtlich des Aufwandes beträchtlich unter den derzeit
verfolgten Prinzipien der Multilayer-Technologie, wobei
die derzeitige Form der Gitteranordnung eine Vielzahl
von Prozeßschritten für die notwendigen Isolator- und
Metallschichten erfordert.
Durch die coplanare Anordnung der Steuerelektrode 2 mit
der Basis der Feldemissionskanten auf dem isolierenden,
bei GaAs semiisolierenden Substrat 6 ist keine auf
wendige Mehrfachschichtung von Isolator und Metall
schichten (multilayer) einschließlich des damit ver
bundenen aufwendigen Justierens notwendig. Dadurch wird
die Herstellungstechnologie gegenüber derzeit bekannten
Verfahren erheblich vereinfacht. Das hat direkte Aus
wirkungen auf die Integrationsfähigkeit des Bauelemen
tes. Die Integrationsfähigkeit ist stark von der zu
erwartenden Ausbeute abhängig und diese ist wiederum
mit der Anzahl der notwendigen Prozeßschritte korre
liert. Nach dem neuen Konzept wird die Zahl der kriti
schen Herstellungsschritte erheblich minimiert.
Durch die coplanare Anordnung der steuernden Elektrode
sind sehr einfache Verbindungen der aktiven Elemente
möglich. Auch die Anordnung der Anoden in der aus der
MMIC Fertigung bekannten Luftbrückentechnologie unter
stützt diese Integrationsfähigkeit, da die Pfeiler
dieser Luftbrücken in derselben Ebene verankert sind
und damit für einfache Verbindungen und Durchkontak
tierungen zur Verfügung stehen.
Als weiteres Einsatzgebiet für die erfindungsgemäße
Mikrotriode kommt die Anwendung als Photonenemitter
infrage.
Um schließlich die erfindungsgemäße Feldeffekt-Mikro
triode als Sensor zu benutzen, sollte z. B. die Gitter
klinge in der Höhe variiert werden. Dadurch wird ein
bestimmter Arbeitspunkt eingestellt, der dafür verant
wortlich ist, daß z. B. erst mit einem bestimmten Git
terpotential Feldemission stattfinden kann. Dieses
Potential ist dann z. B. auch abhängig von anderen phy
sikalischen und chemischen Gegebenenheiten an der Trio
de.
Claims (18)
1. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung mit einer, Feld
emissionskanten (1) aufweisenden Emittereinheit, einer
Anodenanordnung (3) (Source) sowie einer Steuerelektro
deneinheit (Gate) (2), die planar zu den oder unterhalb
der Feldemissionskanten angeordnet ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektrodeneinheit
(Gate) (2) und die Emittereinheit (1) als coplanare
Hochfrequenzwellenleiterstruktur ausgebildet sind.
2. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Feldemissionskanten (1)
auf Massepotential liegen.
3. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Mikrotriode mit einer
maximalen Grenzfrequenz, die im THz-Bereich liegt,
betreibbar ist.
4. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Feldemissionskanten (1)
und die Steuerelektode (2) derart länglich ausgebildet
sind, so daß zwischen der Steuerelektrode (2) und der
Feldemissionskante (1) eine Welle führbar ist.
5. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Steuerelek
troden (2) der Steuerelektrodeneinheit jeweils planar
zwischen den Feldemissionskanten (1) angeordnet sind.
6. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Feldemissionskanten (1)
mittels Kontaktmetall (4) auf einem Trägerisolator (6)
angeordnet sind.
7. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektroden (2)
mittels Gatemetall oder dotiertem Halbleitermaterial
auf einem Trägerisolator (6) angeordnet sind.
8. Feldeffekt-Mikrotriodeananordnung nach einem der
Ansprüch 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektroden (2)
aus dotiertem Halbleitermaterial bestehen.
9. Feldeffekt-Mikrotriodeananordnung nach einem der
Ansprüch 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektroden (2)
scharfe Kanten aufweisen.
10. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand DA zwischen der
Feldemissionskante (1) und der Anode (3) im Bereich der
mittleren freien Weglänge von Elektronen unter atmos
phärischen Normalbedingungen liegt.
11. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand DA etwa 0,4 bis
0,5 µm beträgt.
12. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Feldemissionskanten (1)
an ihren Spitzen Krümmungsradien von maximal 75 nm
aufweisen.
13. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die Anode (3) mittels der
aus der MMIC (Monolithic Microwave Integrated Circuit)-
Technologie bekannten Luftbrückentechnologie direkt auf
einem Wafer integriert ist.
14. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 13,
dadurch gekennzeichnet, daß die Emittereinheit (1) aus
hochdotiertem (1 bis 3 . 1018 Dotieratome/cm3) Halblei
termaterial geätzt ist.
15. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleitermaterial GaAs
ist.
16. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 15,
dadurch gekennzeichnet, daß die Feldemissionskanten (1)
Glas oder Kunststoffe mit aufgedampften Leiterschichten
aufweisen.
17. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüch 1 bis 16,
dadurch gekennzeichnet, daß die Austrittsarbeit der
Feldemitter durch Beschichtung mit geeigneten Materia
lien wie z. B. Cs, CsO, K, C6 0 oder dotiertem Diamant
variierbar ist.
18. Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung nach einem der
Ansprüch 1 bis 17,
dadurch gekennzeichnet, daß die Emittereinheit (1) und
die Steuerelektrodeneinheit (2) als Streifenleiter
ausgebildet sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4421256A DE4421256C2 (de) | 1993-06-17 | 1994-06-17 | Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4320078 | 1993-06-17 | ||
DE4421256A DE4421256C2 (de) | 1993-06-17 | 1994-06-17 | Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung |
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---|---|
DE4421256A1 DE4421256A1 (de) | 1995-01-26 |
DE4421256C2 true DE4421256C2 (de) | 1998-10-01 |
Family
ID=6490542
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4421256A Expired - Fee Related DE4421256C2 (de) | 1993-06-17 | 1994-06-17 | Feldeffekt-Mikrotriodenanordnung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4421256C2 (de) |
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