DE4441023C2 - Gasanalysator nach dem Kreuzmodulations-Modus - Google Patents
Gasanalysator nach dem Kreuzmodulations-ModusInfo
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- DE4441023C2 DE4441023C2 DE19944441023 DE4441023A DE4441023C2 DE 4441023 C2 DE4441023 C2 DE 4441023C2 DE 19944441023 DE19944441023 DE 19944441023 DE 4441023 A DE4441023 A DE 4441023A DE 4441023 C2 DE4441023 C2 DE 4441023C2
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Description
Die Erfindung betrifft einen Gasanalysator, wie beispielswei
se einen nichtdispersiven Infrarotanalysator, der gleichzei
tig mehrere Gaskomponenten in einem Kreuzmodulations-
Einzelzellen-Modus messen kann, wobei mehrere nichtdispersive
Infrarotanalysatoren in Kombination verwendet werden können.
Nichtdispersive Infrarotanalysatoren werden allgemein in ei
nem Erfassungsmodus mit einem einzelnen optischen Pfad für
eine einzelne Komponente verwendet. Wenn mehrere Komponenten
zu messen sind, wird, selbst bei einem Einzelzellen-Modus, ein
Erfassungsmodus mit zwei optischen Pfaden für zwei Komponen
ten verwendet, und infolgedessen ist eine große Anzahl opti
scher Teile erforderlich. Darüber hinaus ist es zum gleich
zeitigen Messen von drei oder vier Komponenten selbst unter
Verwendung eines Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus, bei dem
ein Probengas und ein Bezugsgas abwechselnd über ein Drehven
til in zwei Zellen eingeführt werden, verwendet wird, erfor
derlich, zwei Gasanalysatoren und zwei Strecken zum Zuführen
von Probengas von einer Probengaszuführanordnung bereitzu
stellen. Demgemäß sind nicht nur die Strömungsrate des Pro
bengases erhöht, die Anzahl optischer Teile erhöht und die
Probengaszuführanordnung kompliziert und damit die Herstel
lungskosten erhöht, sondern es ist auch eine Wartung der meh
reren Gasanalysatoren erforderlich, weswegen die Betriebsko
sten erhöht sind. Darüber hinaus tritt bei einem Modus mit
intermittierendem Licht eine Schwierigkeit hinsichtlich einer
Ansprechverzögerung auf, wenn insbesondere eine Reihenanord
nung vorliegt.
Die US 4 914 719 beschreibt einen Gasanalysator mit einer In
frarotlichtquelle und mit einer Meßzelle für ein Probengas.
Im Lichtweg hinter der Meßzelle sind drei Strahlteiler ange
ordnet, die jeweils einen Teil des auftreffenden Lichtes zu
einem Detektor reflektieren und einen anderen Teil zum nach
folgenden Strahlteiler bzw. zu einem weiteren Detektor durch
lassen. Vor den einzelnen Detektoren sind dabei optische Fil
ter für jeweils bestimmte Wellenlängen angeordnet. Durch die
Verwendung mehrerer hintereinander geschalteter üblicher
Strahlteiler, die in der Umgebungsluft angeordnet sind, wird
nicht nur die Intensität des zu den einzelnen Detektoren ge
langenden Lichtes geschwächt, sondern es besteht auch die Ge
fahr, daß sich auf den Strahlteilern Störkomponenten oder so
gar die zu messenden Komponenten niederschlagen und so das
mit dem bekannten Gasanalysator erhältliche Analyseergebnis
erheblich verfälschen können.
Die DE 35 44 015 A1 zeigt einen weiteren Gasanalysator, bei
dem zwischen einer Infrarotlichtquelle und einer Küvette ein
Filterpaar angeordnet ist. Hinter der Küvette, die mit einem
zu analysierenden Gas oder Gasgemisch beströmt werden kann,
ist vor einem Lichtsensor ein Gasfilter vorgesehen. In diesem
Gasfilter kann sich beispielsweise CO2 befinden, um das in
der Küvette befindliche CO querempfindlichkeitsfrei messen zu
können. Aus dieser Druckschrift ist es also bekannt, Gasfil
ter zwischen einer Meßzelle oder Küvette und einem Detektor
anzuordnen, um eine querempfindlichkeitsfreie Messung einer
im Probengas befindlichen Komponente durchführen zu können.
Aus der GB 979 850 ist ein Gasanalysator bekannt, bei dem ei
ne Probenzelle und eine Referenzzelle abwechselnd von einer
Lichtquelle bestrahlt werden. Hinter der Meß- und der Refe
renzzelle ist ein Detektor angeordnet, der einen teildurch
lässigen Spiegel umfaßt, um das aus Meß- bzw. Referenzzelle
austretende Licht teilweise zu einer ersten Fotozelle zu re
flektieren und teilweise zu einer zweiten Fotozelle durchzu
lassen. Vor den beiden Fotozellen sind Filter angeordnet. Die
Reflexions-Transmissions-Charakteristik des teildurchlässigen
Spiegels ist so gewählt, daß die beiden Fotozellen in etwa
mit der gleichen Intensität beaufschlagt werden, solange kei
ne selektive Absorption in der Meß- bzw. Referenzzelle auf
tritt.
Die US 5 153 436 A beschreibt eine Detektoreinheit mit einem
Strahlteiler, der so beschichtet ist, daß Licht mit einer
Wellenlänge größer als ein ausgewählter Wert reflektiert
wird, während Licht mit einer Wellenlänge kürzer als der aus
gewählte Wert durchgelassen wird. Im Reflexions- und Trans
missionslichtweg sind hinter dem Strahlteiler jeweils ein
Bandpaßfilter und ein Fotodetektor angeordnet. Der Strahltei
ler, die Filter und die Fotodetektoren sind dabei in einem
gemeinsamen Gehäuse untergebracht.
Ein ähnliches Filterabstrahlteil wie in der Detektoreinheit
der US 5 153 436 A ist auch aus der EP 0 462 755 A1 bekannt.
Schließlich zeigt die DE 30 26 953 A1 einen weiteren Gasana
lysator vom Einzellen-Typ, bei dem hinter einer Meßzelle, die
von einer Lichtquelle bestrahlt wird, in Reihe drei Detekto
ren angeordnet sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen weiteren
Gasanalysator zu schaffen, der insbesondere bei einfachem
Aufbau gleichzeitig mehrere Komponenten in einem Probengas in
einem Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus messen kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Gasanalysator
mit den Merkmalen des Patentanspruches gelöst.
Der erfindungsgemäße Gasanalysator enthält mindestens eine
Gasfilterzelle, die einen Lichtseparator und ein Gas mit Stö
rungskomponenten aufweist, die die Erfassung der zu messenden
Komponenten behindern. Der Lichtseparator kann ein optisches
Filter sein, das unter einem bestimmten Winkel (von z. B. 45°
bezogen auf die Richtung des optischen Pfads) angeordnet ist.
Wenn mehrere Gasfilterzellen vorhanden sind, sind sie in Rei
he hintereinander entlang dem optischen Transmissionspfad an
geordnet. Wenn die Gasfilterzellen so arbeiten, daß sie zur
längerwelligen Seite hin ausblenden, sind sie so hintereinan
der angeordnet, daß das Filter mit der kürzesten Grenzwellenlänge
am weitesten vorne entlang dem Transmissionspfad ange
ordnet ist. Wenn die Filter dagegen so wirken, daß sie
kürzerwelliges Licht aussenden, sind sie in der entgegenge
setzten Reihenfolge in Reihe angeordnet.
Durch das Störungskomponenten enthaltende Gas in jeder Gas
filterzelle werden Einflüsse durch Störungskomponenten auf
die Erfassung der eigentlich zu messenden Komponenten besei
tigt.
Mit jedem Gasanalysator kann eine Komponente mehr gemessen
werden, als Gasfilterzellen vorhanden sind, da für jede Gas
filterzelle ein Detektor auf der Reflexionsseite vorhanden
ist und ein einzelner weiterer Detektor entlang dem gemeinsa
men Transmissionspfad aller Detektorzellen vorhanden ist.
Durch ein Umschaltventil kann ein erster Gasanalysator mit
einem zweiten Gasanalysator oder einem herkömmlichen Analysa
tor zum abwechselnden Zuführen von Probengas und Bezugsgas
gekoppelt werden, um im Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus
zu arbeiten.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Fig. näher er
läutert.
Fig. 1 bis 3 sind jeweils ein Gesamtblockdiagramm eines er
sten bis dritten Gasanalysators;
Fig. 4 ist ein Charakteristikdiagramm, das das Transmissions
vermögen optischer Filter zeigt; und
Fig. 5 ist ein Gesamtblockdiagramm eines bevorzugten Ausfüh
rungsbeispiels der Erfindung.
Fig. 1 zeigt einen Gasanalysator für den Fall, daß höchstens
vier Komponenten gleichzeitig durch zwei Meßzellen in einem
Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus gemessen werden.
Gemäß Fig. 1 weist dieser Gasanalysator, in welchem die ge
nannten vier Komponenten gemessen werden, folgendes auf: zwei
Meßzellen 2, 3, in die über ein Dreh- bzw. Umschaltventil 1
abwechselnd ein Probengas S und ein Bezugsgas R eingeleitet
werden; Lichtquellen 4, 5, die an einer Endseite jeder Meß
zelle 2, 3 angeordnet sind; Gasfilterzellen 6, 7 mit Gasen
von Störungskomponenten, die die Erfassung zu messender, ein
geschlossener Komponenten behindern und die an der anderen
Endseite jeder der Meßzellen 2, 3 vorhanden sind; Strahltei
ler 8, 9 in den Gasfilterzellen 6, 7 und ein erster und vier
ter Detektor 10, 13 sowie ein zweiter und dritter Detektor
11, 12, die auf der Seite der Transmissionsposition bzw. der
Seite der Reflexionsposition der jeweiligen Strahlteiler 8, 9
angeordnet sind; und eine Probengaszuführanordnung Q1, die
mit dem Drehventil 1 verbunden ist. Darüber hinaus ist eine
Reinigungseinrichtung M für das Bezugsgas vorgesehen.
Ferner sind die innerhalb der Gasfilterzellen 6, 7 vorhande
nen Strahlteiler 8, 9 mit Transmissions- und Reflexionsflä
chen 8a, 9a versehen, die einen Neigungswinkel von 45° zu den
optischen Achsen X1, X2 der jeweiligen Meßzellen 2, 3 aufwei
sen, und der erste und vierte Detektor 10, 13, die die erste
bzw. vierte zu messende Komponente messen, sind jeweils auf
der optischen Achse X1 bzw. X2 angeordnet, während der zweite
und dritte Detektor 11, 12, die die zweite bzw. dritte Kompo
nente messen, auf einer unter 90° stehenden Reflexionsachse
Y1 bzw. Y2 angeordnet sind.
Obwohl das Teilungsverhältnis für die Lichtmenge zum ersten
und zweiten Detektor 10, 11 durch den Strahlteiler 8 sowie
zum dritten und vierten Detektor 12, 13 durch den Strahlteiler
9 im allgemeinen auf 1 : 1 eingestellt ist, werden dann,
wenn zwischen den Detektoren 10, 11 bzw. 12, 13 charakteri
stische Unterschiede hinsichtlich der Empfindlichkeit beste
hen, die Reflexionsfaktoren so eingestellt, daß das Teilungs
verhältnis 1 : 2 oder mehr beträgt, wodurch die Lichtmengen
abhängig von den Meßempfindlichkeiten der beiden Detektoren
10, 11 bzw. 12, 13 verteilt werden.
Da der vorliegende Gasanalysator über den vorstehend be
schriebenen Aufbau verfügt, werden das Probengas S und das
Bezugsgas R abwechselnd in die Meßzelle 2 oder die Meßzelle 3
eingeleitet. Das Probengas S wird durch ein System der Pro
bengaszuführanordnung Q1 zugeführt. Die Änderung der von den
zu messenden Komponenten innerhalb der Meßzellen 2, 3 absor
bierten Lichtmenge wird durch die Strahlteiler 8, 9 gleichmä
ßig in die jeweiligen Detektoren 10 bis 13 aufgeteilt, um
verstärkt ein Signal aus jedem Detektor auszugeben.
Dabei sind die gasförmigen Störungskomponenten, die die Mes
sung jeder zu messenden Komponente behindern, in den Gasfil
terzellen 6, 7 mit den darin vorhandenen Strahlteilern 8, 9
enthalten, um Einflüsse durch Störungskomponenten zu beseiti
gen. Z.B. ist bei einer Messung von Schornsteinabgas dann,
wenn NO2 oder SO2 zu messen sind, CO2 in den Gasfilterzellen
6, 7 enthalten.
Gemäß dem vorliegenden Gasanalysator können, da die Strahl
teiler 8, 9 an der anderen Endseite der Meßzellen 2 bzw. 3
auf die vorstehend beschriebene Weise vorhanden sind, insge
samt vier Detektoren 10 bis 13 auf der Seite der Transmissi
onsposition und der Seite der Reflexionsposition der jeweili
gen Strahlteiler 8, 9 angeordnet werden. Demgemäß können das
Probengas S und das Bezugsgas R abwechselnd in die zwei Meß
zellen 2, 3 im Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus eingelei
tet werden, wodurch man in der Lage ist, gleichzeitig höch
stens vier Komponenten durch zwei Meßzellen zu messen. Dar
über hinaus kann das Probengas S durch ein System der Proben
gaszuführanordnung Q1 zugeführt werden. Obwohl für eine her
kömmliche Messung von vier Komponenten im Kreuzmodulations-
Einzelzellen-Modus zwei Gasanalysatoren und zwei Probengaszu
führsysteme erforderlich waren, kann gemäß dem vorliegenden
Fall die Messung durch einen Gasanalysator und eine Proben
gaszuführanordnung Q1 erzielt werden. Darüber hinaus sind die
Störungskomponenten, die die Messung der jeweiligen zu mes
senden Komponenten behindern, in den Gasfilterzellen 6, 7 mit
den darin vorhandenen Strahlteilern 8, 9 vorhanden, damit
Einflüsse durch die Störungskomponenten beseitigt werden kön
nen. Außerdem verkompliziert die Reinigungseinrichtung M zum
Herstellen des Bezugsgases den Gasanalysator nicht auf die
selbe Weise, wie es für die Probengaszuführanordnung Q1 gilt.
Fig. 2 zeigt einen zweiten Gasanalysator. D.h., daß Fig. 2
einen Gasanalysator für den Fall zeigt, daß höchstens drei
Komponenten gleichzeitig durch zwei Meßzellen in einem
Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus gemessen werden.
Gemäß Fig. 2 weist dieser Gasanalysator, durch den die ge
nannten drei Komponenten gemessen werden, folgendes auf: zwei
Meßzellen 2, 3, in die ein Probengas S und ein Bezugsgas R
abwechselnd über ein Drehventil (Umschaltventil) 1 eingeführt
werden; Lichtquellen 4, 5, die an einer Endseite jeder der
Meßzellen 2, 3 angeordnet sind; eine Gasfilterzelle 6, in die
Störungskomponenten, die die Erfassung zu messender Komponen
ten behindern, eingeschlossen sind und die an der anderen End
seite einer Meßzelle 2 angeordnet ist; einen Strahlteiler 8
innerhalb der Gasfilterzelle 6; zwei Detektoren 10, 11, die
auf der Seite der Transmissionsposition und der Seite der Re
flexionsposition des Strahlteilers 8 angeordnet sind; einen
dritten Detektor 14, der auf der anderen Endseite der anderen
Meßzelle 3 angeordnet ist; und eine Probengaszuführanordnung
Q1, die mit dem Drehventil 1 verbunden ist.
Ferner ist der Strahlteiler 8 innerhalb der Gasfilterzelle 6
mit einer transmittierenden, reflektierenden Oberfläche 8a
versehen, die zur optischen Achse der Meßzelle 2 einen Nei
gungswinkel von 45° aufweist, wobei der erste Detektor 10 zum
Messen einer ersten Komponente auf der optischen Achse X1 an
geordnet ist und der zweite Detektor 11 zum Messen einer
zweiten Komponente auf einer optischen Reflexionsachse Y1,
die um 90° versetzt ist, angeordnet ist, während der dritte
Detektor 14 auf einer optischen Achse X2 an der anderen End
seite der anderen Meßzelle 3 angeordnet ist.
Obwohl im allgemeinen das Teilungsverhältnis für die Licht
mengen zum ersten und zweiten Detektor 10, 11 durch den
Strahlteiler 8 auf 1 : 1 eingestellt wird, werden dann, wenn
hinsichtlich der Empfindlichkeit der Detektoren charakteri
stische Unterschiede bestehen, die Reflexionsfaktoren so ein
gestellt, daß das Teilungsverhältnis 1 : 2 oder mehr ist, wo
durch die Lichtmenge abhängig von den Meßempfindlichkeiten
der beiden Detektoren 10, 11 verteilt wird.
Da der vorliegende Gasanalysator den vorstehend beschriebenen
Aufbau aufweist, werden das Probengas S und das Bezugsgas R
abwechselnd in die Meßzelle 2 oder die Meßzelle 3 eingelei
tet. Das Probengas S wird durch das System der Probengaszu
führanordnung Q1 zugeführt. Die Änderung der Menge des durch
die zu messenden Komponenten innerhalb der Meßzelle 2 absor
bierten Lichts wird durch den Strahlteiler 8 auf gleiche Wei
se in die jeweiligen Detektoren 10, 11 aufgeteilt, um aus je
dem Detektor 10, 11 ein verstärktes Signal auszugeben. Ande
rerseits wird die Änderung der Menge des durch die zu messen
den Komponenten innerhalb der Meßzelle 3 absorbierten Lichts
direkt vom dritten Detektor 14 empfangen, um aus diesem ein
verstärktes Signal auszugeben.
Dabei sind die Störungskomponenten, die die Erfassung jeder
zu messenden Komponente behindern, in der Gasfilterzelle 6
mit dem darin enthaltenen Strahlteiler 8 eingeschlossen, um
Einflüsse durch die Störungskomponenten zu beseitigen. Z.B.
ist bei einer Messung von Schornsteinabgas, wenn NO2 oder SO2
zu messen sind, CO2 in der Gasfilterzelle enthalten.
Gemäß dem vorliegenden Gasanalysator können, da der Strahl
teiler 8 an der anderen Seite der einen Meßzelle der zwei
Meßzellen 2, 3 auf die vorstehend beschriebene Weise angeord
net ist, insgesamt drei Detektoren angebracht werden, d. h.
ein Detektor 10 auf der Seite der Transmissionsposition des
Strahlteilers 8, ein Detektor 11 auf der Seite der Refle
xionsposition des Strahlteilers 8 und ein Detektor 14 auf der
anderen Endseite der anderen Meßzelle 3. Demgemäß können das
Probengas S und das Bezugsgas R abwechselnd im Kreuzmodulati
ons-Einzelzellen-Modus in die zwei Meßzellen 2, 3 eingeleitet
werden, wodurch gleichzeitig höchstens drei Komponenten durch
zwei Meßzellen gemessen werden können. Darüber hinaus kann
das Probengas S durch ein System der Probengaszuführanordnung
Q1 zugeführt werden. Obwohl bei einer herkömmlichen Messung
von drei Komponenten im Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus
zwei Gasanalysatoren und zwei Probenzuführsysteme erforder
lich waren, kann die Messung im vorliegenden Fall durch einen
Gasanalysator und eine Probenzuführanordnung Q1 ausgeführt
werden. Darüber hinaus sind die die Erfassung der jeweiligen
zu messenden Komponente behindernden Störungskomponenten in
der Gasfilterzelle 6, die den Strahlteiler 8 enthält, einge
schlossen, so daß Einflüsse durch Störungskomponenten besei
tigt werden können.
Fig. 3 zeigt einen dritten Gasanalysator zur Verwendung bei
der Messung der Konzentrationen von drei Komponenten (z. B. CO,
NO und SO2) durch einen Fluidmodulationsmodus.
Gemäß Fig. 3 weist dieser Gasanalysator folgendes auf: eine
Meßzelle 21, in der ein Probengas S und ein Bezugsgas R ab
wechselnd eingeleitet werden; eine Lichtquelle 22, die an ei
ner Endseite der Meßzelle 21 angeordnet ist; zwei Gasfilter
zellen 23, 24, in die Störungskomponenten, die die Erfassung
zu messender Komponenten behindern, eingeschlossen sind, und
die in Reihe im optischen Pfad an der anderen Endseite der
Meßzelle 21 angeordnet sind; optische Filter 25, 26 zum Er
halten eines Spektrums von Infrarotwellenlängen, die in den
jeweiligen Gasfilterzellen 23, 24 enthalten sind; zwei Detek
toren 27, 28, die an der Seite der Reflexionsposition der je
weiligen Gasfilterzellen angeordnet sind; ein Detektor 29,
der im optischen Pfad auf der Seite der Transmissionsposition
angeordnet ist; und eine Probengaszuführanordnung Q1, die mit
der Meßzelle 21 verbunden ist, in die das Probengas S und das
Bezugsgas R abwechselnd über ein Drehventil (Umschaltventil)
1 eingeleitet werden.
Da der dritte Gasanalysator den vorstehend beschriebenen Auf
bau aufweist, sind zum Messen von Komponenten mit drei Wel
lenlängen die optischen Filter 25, 26 für kurze Wellenlängen
ausgehend von der Seite der Lichtquelle 22 her angeordnet,
wobei die Grenzfrequenzen der optischen Filter 25, 26 entlang
dem optischen Pfad hin zur längerwelligen Seite verschoben
sind, so daß Wellenlängen, die kürzer als eine Wellenlänge a
sind, durch die Oberfläche des ersten optischen Filters 25 re
flektiert werden, wodurch Infrarotenergien mit einer kleine
ren Wellenlänge als der Wellenlänge a auf den Detektor 27
fallen. Anschließend wird Infrarotstrahlung, die durch das
erste optische Filter 25 hindurchgeht, zum folgenden opti
schen Filter 26 geführt, wo Wellenlängen kürzer als eine Wel
lenlänge b auf ähnliche Weise durch die Oberfläche dieses op
tischen Filters 26 reflektiert werden, wodurch Infrarotener
gien mit einer Wellenlänge kürzer als der Wellenlänge b auf
den weiteren Detektor 28 fallen und der Rest so hindurchge
strahlt wird, daß er auf den noch weiteren Detektor 29 fällt,
der im optischen Pfad angeordnet ist. So kann das Spektrum
der drei zu messenden Komponenten erhalten werden.
Dabei sind in den Detektoren 27, 28 und 29 Komponenten zu
messen, die Infrarotabsorptionen an Positionen aufweisen, wie
es in Fig. 4 dargestellt ist. Was die spektrale Leistungsfä
higkeit z. B. des optischen Filters 25 betrifft, wird, wenn
das maximale Transmissionsvermögen desselben 90% beträgt, 90%
der Infrarotenergie innerhalb eines langwelligen Bereichs mit
Ausnahme des Wellenlängenbereichs einer zu messenden Kompo
nente von der Lichtquelle zum dahinter liegenden optischen
Filter 26 durchgelassen und der Rest wird so reflektiert, daß
er auf den Detektor 27 fällt. D.h., daß, da das Transmissi
onsvermögen des optischen Filters 25 für Wellenlängen auf der
Seite kürzer als es der Wellenlänge a entspricht, nahezu 0
ist, eine verlustfreie Reflexion zum Detektor 27 erfolgt.
Entsprechend werden im optischen Filter 26, da das Transmis
sionsvermögen desselben für Wellenlängen auf der Seite, die
kürzeren Wellenlängen als der Wellenlänge b entspricht, nahezu
0 ist, diese Wellenlängen ohne Verlust zum Detektor 28 reflek
tiert. Demgemäß kann das Spektrum auf dieselbe Weise wie beim
optischen Filter 25 erhalten werden. Insgesamt gesehen wird
das Spektrum der zu messenden Komponenten 1, 2 in den opti
schen Filtern 25, 26 erhalten, damit es dann durch die Detek
toren 27 bzw. 28 erfaßt wird, während der Rest, also die
dritte Komponente 3, durch den Detektor 29 erfaßt wird. Dar
über hinaus weist das optische Filter 25 eine Filtercharakte
ristik auf, wie sie durch die Kurve A dargestellt ist, und das
optische Filter 26 weist eine Filtercharakteristik auf, wie
sie durch die Kurve B dargestellt ist.
Wie vorstehend beschrieben, können beim dritten Gasanalysator
insgesamt drei Detektoren, d. h. die Detektoren 27, 28 auf der
Seite der Reflexionsposition jedes der optischen Filter 25,
26 sowie der Detektor 29 auf der Seite der Transmissionsposi
tion der optischen Filter 25, 26 angeordnet werden. Demgemäß
können das Probengas S und das Bezugsgas R abwechselnd in die
eine Meßzelle 21 eingeleitet werden, wodurch es möglich ist,
gleichzeitig drei Komponenten durch eine Meßzelle im Fluidmo
dulations-Einzelzellen-Modus zu messen. Darüber hinaus kann
das Probengas S durch ein System der Probengaszuführanordnung
Q1 zugeführt werden. Obwohl beim Stand der Technik optische
Filter parallel zur Oberfläche der Meßzelle zwischen dersel
ben und den Detektoren angeordnet wurden, um Störungen zu
verringern, wodurch zwei Gasanalysatoreinheiten und zwei Pro
bengaszuführsysteme erforderlich waren, um drei Komponenten
zu messen, sind im vorliegenden Fall die optischen Filter 25,
26 für den kurzwelligen Bereich von der Lichtquelle 22 her
angeordnet und die Grenzfrequenzen der optischen Filter 25,
26 sind von der Lichtquelle weg zur längerwelligen Seite hin
verschoben, so daß eine Messung durch den einen Gasanalysator
und die eine Probengaszuführanordnung Q1 erzielt werden kann.
Darüber hinaus sind Störungskomponenten, die die Messung der
jeweiligen zu messenden Komponenten behindern, in den Gasfil
terzellen 23, 24 mit dem optischen Filter 25 bzw. 26 enthal
ten, um Einflüsse durch Störungskomponenten verhindern zu
können.
Kurz gesagt, können im Gasanalysator mit einem optischen Sy
stem mehrere Komponenten (z. B. CO, NO und SO2) gemessen wer
den. Darüber hinaus kann ein kompakter, billiger Gasanalysa
tor mit verringertem Empfindlichkeitsverlust geschaffen wer
den, da Infrarotenergien, die bei der herkömmlichen Messung
durch die optischen Filter ausgeblendet wurden, als Energie
für andere Messungen verwendet werden. Ferner kann im vorlie
genden Fall die Messung unter Verwendung einer Zelle mit her
kömmlicher Größe für die Messung einer Komponente verwendet
werden, obwohl herkömmlicherweise zum Messen mehrerer Kompo
nenten in einer Zelle eine Zelle mit vergrößertem Durchmesser
zu verwenden war, und zwar wegen der Größe des Sensors, wo
durch die Strömungsrate der Probe erhöht werden mußte/oder
Energie verlorenging, wenn Halbleiter oder pyroelektrische
Elemente für die mehreren Komponenten vorhanden waren.
Außerdem kann beim vorstehend beschriebenen dritten Gasanaly
sator noch ein Gasanalysator, wie er in Fig. 3 durch eine
Phantomlinie dargestellt ist, mittels eines Drehventils 1
hinzugefügt werden, um ein Paar Gasanalysatoren aufzubauen,
wodurch es möglich ist, Komponenten bei sechs Wellenlängen zu
messen.
Fig. 5 zeigt ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfin
dung, bei dem Komponenten bei vier Wellenlängen durch einen
Gasanalysator gemessen werden, der folgendes aufweist: eine
Meßzelle 21, in die ein Probengas S und ein Bezugsgas R ab
wechselnd eingeleitet werden; eine Lichtquelle 22, die an ei
ner Endseite der Meßzelle 21 vorhanden ist; drei Gasfilter
zellen 23, 24, 33, die Störungskomponenten enthalten, die die
Erfassung zu messender Komponenten behindern und die der Rei
he nach entlang dem optischen Pfad an der anderen Endseite
der Meßzelle 21 angeordnet sind; optische Filter 25, 26, 32
in den Gasfilterzellen 23, 24, 33 zum Erhalten eines Spek
trums infraroter Wellenlängen; drei Detektoren 27, 28, 34 auf
der Seite der Reflexionsposition der jeweiligen Gasfilterzel
len 23, 24, 33 und einen Detektor 35, der im optischen Pfad
auf der Seite der Transmissionsposition der jeweiligen Gas
filterzellen 23, 24, 33 angeordnet ist; und eine Probengaszu
führanordnung Q1 die mit der Meßzelle 21 verbunden ist.
Auch gemäß diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel können meh
rere Komponenten durch ein optisches System gemessen werden.
D.h., daß drei optische Filter 25, 26, 32 unter einem be
stimmten Winkel von z. B. 45° dichter an der Seite der Zelle
angeordnet sind, als es bei der herkömmlichen Messung der
Fall ist, um das Spektrum der von der Lichtquelle 22 emit
tierten Energien zu erhalten, wodurch die spektralen Wellen
längen der optischen Filter 25, 26, 32 gegeneinander verscho
ben sind, um Komponenten innerhalb der jeweiligen Wellenlän
genbereiche zu messen.
Darüber hinaus können ein pneumatischer Detektor, ein pyro
elektrischer Detektor, ein Thermoelement oder ein Halbleiter
sensor bei den vorstehend beschriebenen Gasanalysatoren als
Detektor verwendet werden. Ferner kann beim vorstehend be
schriebenen dritten Gasanalysator und dem Gasanalysator des
Ausführungsbeispiels anstelle eines optischen Filters, das zu
längeren Wellenlängen hin ausblendet, ein solches verwendet
werden, das zu kürzeren Wellenlängen hin ausblendet. In die
sem Fall ist das optische System zum Messen einer Komponente
auf der langwelligen Seite weiter vorne im Strahlengang ange
ordnet.
Wie vorstehend beschrieben, ist ein Strahlteiler an der ande
ren Endseite einer Zelle vorhanden, so daß nicht nur ein er
ster Detektor, der eine erste zu messende Komponente erfaßt,
auf der Seite der Transmissionsposition der optischen Achse
angeordnet werden kann, sondern auch ein zweiter Detektor an
geordnet werden kann, der eine zweite Komponente mißt und der
auf der optischen Achse der Reflexionsseite angeordnet ist,
wodurch zwei Komponenten gleichzeitig in einem Einzelzellen-
Modus gemessen werden können. Darüber hinaus sind Störungs
komponenten, die die Messung der ersten und zweiten zu mes
senden Komponente behindern, in den Gasfilterzellen mit dem
jeweils darin angeordneten Strahlteiler enthalten, die sich
bei der Erfassung beider zu messender Komponenten auswirken.
Außerdem ist ein Strahlteiler an der anderen Endseite jeder
der zwei Meßzellen angeordnet, so daß insgesamt vier Detekto
ren, d. h. zwei Detektoren auf der Seite der Transmissionspo
sition der jeweiligen Strahlteiler und zwei Detektoren auf
der Seite der Reflexionsposition der jeweiligen Strahlteiler,
angeordnet werden können. Demgemäß können das Probengas S und
das Bezugsgas R abwechselnd in zwei Meßzellen über ein Dreh
ventil eingeleitet werden, so daß es möglich ist, gleichzei
tig höchstens vier Komponenten durch zwei Meßzellen zu mes
sen. Darüber hinaus kann das Probengas durch eine Probengas
zuführanordnung zugeführt werden. Obwohl für eine herkömmli
che Messung von vier Komponenten im Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus
zwei Gasanalysatoren und zwei Probengaszu
führanordnungen erforderlich waren, kann die Messung wie be
schrieben durch einen Gasanalysator und eine Probengaszu
führanordnung ausgeführt werden. Darüber hinaus sind Stö
rungskomponenten, die die Erfassung der jeweils zu messenden
Komponenten behindern, in den Gasfilterzellen mit den darin
enthaltenen Strahlteilern angeordnet, so daß Einflüsse durch
Störungskomponenten beseitigt werden können.
Wenn ein Strahlteiler nur auf einer Endseite einer Meßzelle
zweier Meßzellen vorhanden ist, können insgesamt drei Detek
toren, d. h. ein Detektor auf der Seite der Transmissionsposi
tion des Strahlteilers, ein Detektor auf der Seite der Refle
xionsposition des Strahlteilers und ein Detektor an der ande
ren Endseite der anderen Meßzelle angeordnet werden. Demgemäß
können das Probengas und das Bezugsgas abwechselnd im
Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus in zwei Meßzellen einge
leitet werden, wodurch es möglich ist, gleichzeitig höchstens
drei Komponenten durch zwei Meßzellen zu messen. Darüber hin
aus kann das Probengas durch ein System einer Probengaszu
führanordnung zugeführt werden. Obwohl bei einer herkömmli
chen Messung von drei Komponenten im Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus
zwei Gasanalysatoren und zwei Abtastsyste
me erforderlich sind, kann die Messung wie beschrieben durch
einen Gasanalysator und eine Probengaszuführanordnung Q1 aus
geführt werden. Darüber hinaus sind Störungskomponenten, die
die Messung der jeweils zu messenden Komponenten behindern,
in der Gasfilterzelle mit dem darin enthaltenen Strahlteiler
eingeschlossen, wodurch es möglich ist, die Einflüsse durch
Störkomponenten zu beseitigen.
Kurz gesagt, kann wie beschrieben eine Messung durch einen
Gasanalysator und eine Probengaszuführanordnung ausgeführt
werden, obwohl für eine herkömmliche Messung von drei oder
vier Komponenten im Kreuzmodulations-Einzelzellen-Modus zwei
Gasanalysatoren und zwei Probengaszuführanordnungen erforder
lich sind. Demgemäß können nicht nur die Herstellungskosten
für die Erzeugnisse verringert werden, sondern es kann auch
die Probengaszuführanordnung vereinfacht werden, was die War
tung erleichtert. Darüber hinaus verkompliziert auch die Rei
nigungseinrichtung zum Herstellen des Bezugsgases den Gasana
lysator nicht auf dieselbe Weise, wie es für das Probengaszu
führsystem gilt.
Darüber hinaus sind wie beschrieben mehrere optische Filter
unter einem Winkel dichter an der Zelle angeordnet, als es
den Positionen optischer Filter bei herkömmlicher Messung
entspricht, um ein Spektrum von von der Lichtquelle emittier
ten Energien zu erhalten, wobei die spektralen Wellenlängen
der optischen Filter verschoben sind, so daß ein optisches
System aufgebaut werden kann, mit dem auf wirkungsvolle Weise
das Spektrum der zu messenden Komponenten in den Zielwellen
längen erhalten werden und eine Messung mehrerer Komponenten
ausgeführt werden kann, wodurch der Gasanalysator kompakt
ausgebildet werden kann. D.h., daß mehrere Komponenten in ei
nem Gasanalysator mit einem optischen System gemessen werden
können. Darüber hinaus kann ein kompakter, billiger Gasanaly
sator mit verringertem Empfindlichkeitsverlust geschaffen
werden, da Infrarotenergien, die bei herkömmlichen Messungen
durch ein optisches Filter ausgeblendet wurden, als Energien
für andere Messungen verwendet werden. Ferner kann eine Mes
sung unter Verwendung einer Zelle herkömmlicher Größe für die
Messung einer Komponente ausgeführt werden, obwohl beim Stand
der Technik eine Zelle mit vergrößertem Durchmesser wegen der
Größe eines Sensors zu verwenden war, weswegen die Probe mit
erhöhter Strömungsrate zugeführt werden mußte oder Energie
dann verlorenging, wenn Halbleiter- oder pyroelektrische Ele
mente für mehrere Komponenten in einer Zelle angeordnet wur
den. Darüber hinaus sind in den Gasfilterzellen mit dem darin
vorhandenen optischen Filter Störungskomponenten, die die Er
fassung der jeweils zu messenden Komponenten behindern, ent
halten, was für die Erfassung der jeweils zu messenden Kompo
nenten von Vorteil ist.
Claims (1)
- Gasanalysator nach dem Kreuzmodulations-Modus, mit:
- - einer oder zwei Meßzellen (2, 3; 21), in die abwechselnd ein Probengas und ein Referenzgas einleitbar sind,
- - je einer an einer Endseite der jeweiligen Meßzelle (2, 3; 21) angeordneten Lichtquelle (4, 5; 22),
- - ferner mit im Strahlengang hintereinander angeordneten Gasfilterzellen (6, 7; 23, 24; 23, 24, 33), die die Mes sung behindernde Störkomponenten enthalten und die auch je ein als Strahlteiler wirkendes optisches Filter (25, 26, 32) aufweisen,
- - wobei das optische Filter (25, 26, 32) kürzer- oder län gerwelliges Licht unter- oder oberhalb einer bestimmten Grenzwellenlänge im wesentlichen verlustfrei reflektiert und Licht ober- oder unterhalb der Grenzwellenlänge durchläßt, und
- - wobei das Teilungsverhältnis der Strahlteiler entspre chend den Meßempfindlichkeiten von Detektoren (10, 11, 12, 13; 27, 28, 29; 27, 28, 34, 35), die jeweils im Transmissionslichtweg und auf der Reflexionsseite jedes Strahlteilers angeordnet sind, eingestellt ist.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6672493 | 1993-11-20 | ||
JP35428893A JP2903457B2 (ja) | 1993-11-20 | 1993-12-31 | ガス分析計およびガス分析機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4441023A1 DE4441023A1 (de) | 1995-06-01 |
DE4441023C2 true DE4441023C2 (de) | 1998-07-02 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944441023 Expired - Fee Related DE4441023C2 (de) | 1993-11-20 | 1994-11-17 | Gasanalysator nach dem Kreuzmodulations-Modus |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5572032A (de) |
JP (1) | JP2903457B2 (de) |
DE (1) | DE4441023C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011055001A1 (de) * | 2011-11-02 | 2013-05-02 | Hygrosens Instruments GmbH | Messgerät und Verfahren zum Erfassen des Kohlenwasserstoffanteils in Gasen |
DE102023107812A1 (de) | 2023-03-28 | 2024-10-02 | Inficon Gmbh | Strahlungsabsorptions-Gasanalysator und Verfahren zur Gasanalyse |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5693945A (en) * | 1994-07-30 | 1997-12-02 | Horiba Ltd. | Gas analyzer |
JP3299089B2 (ja) * | 1995-08-24 | 2002-07-08 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
DE19605054C2 (de) * | 1996-02-12 | 1999-09-02 | Palocz Andresen | Mehrkanalgasanalysator zur Bestimmung von Gaskomponenten eines Gases in Kompaktform |
US5747809A (en) * | 1996-06-11 | 1998-05-05 | Sri International | NDIR apparatus and method for measuring isotopic ratios in gaseous samples |
US5811812A (en) * | 1996-11-01 | 1998-09-22 | Andros, Incorporated | Multiple-gas NDIR analyzer |
DE19732470C2 (de) * | 1997-07-28 | 1999-11-18 | Siemens Ag | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator |
DE10023639A1 (de) * | 2000-05-13 | 2001-11-15 | Arnold Gerd H | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Gemischzusammensetzung beliebiger Medien bzw. zur Stoffmengenmessung |
EP1649265A1 (de) * | 2003-07-28 | 2006-04-26 | Symyx Technologies, Inc. | Vorrichtung und verfahren zur parallelen infrarotspektroskopie |
JP4218954B2 (ja) | 2003-10-10 | 2009-02-04 | 株式会社堀場製作所 | 吸光式分析計 |
CN1295494C (zh) * | 2004-07-04 | 2007-01-17 | 华中科技大学 | 集成化微型光学分析仪 |
JP4411599B2 (ja) * | 2004-10-26 | 2010-02-10 | 横河電機株式会社 | 赤外線ガス分析計および赤外線ガス分析方法 |
JP4722513B2 (ja) * | 2005-03-15 | 2011-07-13 | 倉敷紡績株式会社 | 過酢酸を含む酸溶液の濃度測定のための装置および方法 |
EP1952125A1 (de) * | 2005-11-25 | 2008-08-06 | FOSS Analytical AB | Optisches analysegerät |
JP5443701B2 (ja) * | 2008-04-03 | 2014-03-19 | パナソニック株式会社 | ガス濃度測定装置 |
CN102661921B (zh) * | 2012-05-24 | 2014-03-26 | 南京国电环保科技有限公司 | 直接测量法烟气分析仪全系统在线标定装置 |
CN102734414B (zh) * | 2012-05-24 | 2014-09-10 | 南京国电环保科技有限公司 | 一种平面传动转向装置 |
EP3637103A1 (de) * | 2016-01-13 | 2020-04-15 | Inficon GmbH | Gasnachweis mit breitem spektrum unter verwendung eines elektrochemischen gasdetektors |
JP6168172B2 (ja) * | 2016-01-29 | 2017-07-26 | 株式会社島津製作所 | 赤外線ガス分析装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB979850A (en) * | 1960-06-03 | 1965-01-06 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Improvements in methods and apparatus for measuring the relative amount of a given component of a mixture of substances by selective absorption of infrared radiation |
DE3026953A1 (de) * | 1979-07-20 | 1981-01-22 | Horiba Ltd | Nichtdispersiver infrarot-analysierer |
DE3544015A1 (de) * | 1985-12-13 | 1987-06-19 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Gasanalysevorrichtung |
US4914719A (en) * | 1989-03-10 | 1990-04-03 | Criticare Systems, Inc. | Multiple component gas analyzer |
EP0462755A1 (de) * | 1990-06-21 | 1991-12-27 | Laser Monitoring Systems Limited | Erfassung der Anwesenheit einer Substanz in einem Fluid |
US5153436A (en) * | 1990-05-23 | 1992-10-06 | Ntc Technology, Inc. | Temperature controlled detectors for infrared-type gas analyzers |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2808033A1 (de) * | 1978-02-24 | 1979-08-30 | Siemens Ag | Einrichtung zur unterdrueckung der wasserdampf-querempfindlichkeit bei einem nicht dispersiven infrarot-gasanalysator |
US4355233A (en) * | 1979-02-22 | 1982-10-19 | Beckman Instruments, Inc. | Method and apparatus for negating measurement effects of interferent gases in non-dispersive infrared analyzers |
US4687337A (en) * | 1981-09-02 | 1987-08-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Atmospheric Aerosol extinctiometer |
JPS5892843A (ja) * | 1981-11-26 | 1983-06-02 | Horiba Ltd | 二成分測定用非分散型赤外線分析計 |
JPS62126329A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-08 | Horiba Ltd | 吸光分析計 |
DE3918994C1 (de) * | 1989-06-10 | 1990-06-13 | Draegerwerk Ag, 2400 Luebeck, De | |
US5332901A (en) * | 1991-03-15 | 1994-07-26 | Li-Cor, Inc. | Gas analyzing apparatus and method for simultaneous measurement of carbon dioxide and water |
US5331409A (en) * | 1992-06-12 | 1994-07-19 | George Thurtell | Tunable diode laser gas analyzer |
-
1993
- 1993-12-31 JP JP35428893A patent/JP2903457B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-11-17 DE DE19944441023 patent/DE4441023C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-11-18 US US08/342,247 patent/US5572032A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB979850A (en) * | 1960-06-03 | 1965-01-06 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Improvements in methods and apparatus for measuring the relative amount of a given component of a mixture of substances by selective absorption of infrared radiation |
DE3026953A1 (de) * | 1979-07-20 | 1981-01-22 | Horiba Ltd | Nichtdispersiver infrarot-analysierer |
DE3544015A1 (de) * | 1985-12-13 | 1987-06-19 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Gasanalysevorrichtung |
US4914719A (en) * | 1989-03-10 | 1990-04-03 | Criticare Systems, Inc. | Multiple component gas analyzer |
US5153436A (en) * | 1990-05-23 | 1992-10-06 | Ntc Technology, Inc. | Temperature controlled detectors for infrared-type gas analyzers |
EP0462755A1 (de) * | 1990-06-21 | 1991-12-27 | Laser Monitoring Systems Limited | Erfassung der Anwesenheit einer Substanz in einem Fluid |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011055001A1 (de) * | 2011-11-02 | 2013-05-02 | Hygrosens Instruments GmbH | Messgerät und Verfahren zum Erfassen des Kohlenwasserstoffanteils in Gasen |
DE102023107812A1 (de) | 2023-03-28 | 2024-10-02 | Inficon Gmbh | Strahlungsabsorptions-Gasanalysator und Verfahren zur Gasanalyse |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4441023A1 (de) | 1995-06-01 |
JPH07190931A (ja) | 1995-07-28 |
JP2903457B2 (ja) | 1999-06-07 |
US5572032A (en) | 1996-11-05 |
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