DE4013421A1 - Beleuchtungsoptik fuer ein remissionsmessgeraet - Google Patents
Beleuchtungsoptik fuer ein remissionsmessgeraetInfo
- Publication number
- DE4013421A1 DE4013421A1 DE19904013421 DE4013421A DE4013421A1 DE 4013421 A1 DE4013421 A1 DE 4013421A1 DE 19904013421 DE19904013421 DE 19904013421 DE 4013421 A DE4013421 A DE 4013421A DE 4013421 A1 DE4013421 A1 DE 4013421A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- lens
- illumination optics
- measuring
- spot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 title description 6
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 title description 6
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 title 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 22
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
- G01N2021/4752—Geometry
- G01N2021/4757—Geometry 0/45° or 45/0°
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungsoptik fur ein
Remissionsgerät mit einer Lampe, deren Licht unter einem
Winkel von 45° auf einen Meßfleck aufgestrahlt wird, und
mit einer das vom Meßfleck remittierte Licht in der 0°-Achse
aufnehmenden Auskoppeloptik.
Zur Unterbindung von Fehlmessungen durch Spiegelungen sieht
die DIN-Norm (DIN 5033/Tei1 7 und DIN 16536) für Remissions
messungen eine Beleuchtungsgeometrie vor, bei welcher die
Beleuchtung des Meßfleckes unter 45° erfolgt und die Auskop
pelung des Meßstrahls unter 0° erfolgt bzw. umgekehrt: Man
mißt dann reines Streulicht unter definierten Bedingungen.
Bei einer 0°-Beleuchtung und Messung des unter 45° gestreuten
Lichtes bereitet es Schwierigkeiten, einen möglichst großen
Teil dieses rundum gestreuten Lichtes zu erfassen, so daß das
zur Auswertung verfügbare Signal nur relativ klein ist. Es
ist daher zweckmäßig, die Beleuchtung des Meßfleckes mit
Licht unter 45° vorzunehmen und den Meßstrahl aus der 0°-
Achse auszukoppeln. Dabei wird aber die Beleuchtungseinrich
tung relativ groß, wenn man eine möglichst rundum erfolgende
Einstrahlung im Sinne einer großen Helligkeit auf dem Meß
fleck erreichen will, so daß man solche Anordnungen nur da
benutzen kann, wo genügend Platz vorhanden ist.
Der im Anspruch 1 angegebenen Erfindung liegt die Aufgabe
zugrunde, eine Beleuchtungsoptik für ein Remissionsgerät mit
45° Beleuchtungseinstrahlung und 0°-Auskopplung des Meß
strahls anzugeben, die bei kleinen Geräteabmessungen eine
helle Beleuchtung auch eines kleinen Meßfleckes mit hoher
Lichtausbeute und gleichmäßiger Ausleuchtung erlaubt.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
gekennzeichnet.
Durch die erfindungsgemäße Umwandlung des von einer üblichen
Projektionsoptik gelieferten parallelen Lichts in einen
Lichtmantel, also einen zylinder- oder kegelförmigen "Hohl
körper", in dessen endlich dicker Wandung die Lichtstrahlen
verlaufen und dessen Inneres praktisch lichtleer ist, erhält
man die Möglichkeit, mit Hilfe eines innen verspiegelten
Ringspiegels die diese Wandung bildenden Lichtstrahlen all
seitig unter 45° auf den Meßfleck zu projizieren, der also
praktisch von einem sich über 360° erstreckenden Lichtkegel
mantel beleuchtet wird, an dessen Spitze er sich befindet.
Der lichtfreie Innenraum erlaubt die Unterbringung der Aus
koppeloptik in der optischen Achse, ohne ein Hindernis im
Nutzlichtstrahlengang zu bilden, so daß das Beleuchtungslicht
ohne Einbuße auf den Meßfleck gelangt. Eine solche Optik läßt
sich mit relativ geringem Durchmesser realisieren, so daß man
sie auch bei beengten Platzverhältnissen noch unterbringen
kann. Infolge des ungehinderten Strahlungsgangs für das Be
leuchtungslicht erhält man ferner eine hohe Lichtausbeute,
so daß sich Erwärmungsprobleme durch Verwendung leistungs
armer Lampen in Grenzen halten lassen.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung sei nach
folgend anhand der beiliegenden Zeichnung erläutert, die eine
Schnittdarstellung durch die Beleuchtungsoptik zeigt.
Man erkennt eine Halogenlampe 1, die als Lichtquelle dient
und in einer Meßfassung zentriert und verkittet ist, so daß
sich die Lampenwendel 2 an einem definierten Ort des opti
schen Systems befindet. Von der Lampenwendel 2 kann wahl
weise mit Hilfe eines sphärischen Hilfsspiegels 3 ein Wendel
bild 4 erzeugt werden, dessen einzelne Wendeln zwischen den
jenigen der tatsächlichen Lampenwendel 2 liegen.
Das von der Lampenwendel 2 und dem Wendelbild 4 abgestrahlte
Licht wird mittels mechanischer Blenden begrenzt, wobei seine
Randstrahlen mit 5 und 8 bezeichnet sind. Als erstes treffen
die Begrenzungsstrahlen auf eine asphärische Kollektorlinse 9
mit großem Öffnungsverhältnis, durch die sie parallel zur opti
schen Achse 10 ausgerichtet werden. Die nachfolgende asphäri
sche Feldlinse 11 hat zwei Aufgaben zu erfüllen. Neben einer
Fokussierung des parallelen Strahlengangs hat diese Linse
durch ihre Form auch eine prismatische Wirkung, wodurch sämt
liche Strahlen zur optischen Achse hin gebrochen werden. Eine
Ausgleichslinse 12 bringt die beiden Randstrahlen 5 und 8
jeweils mit einem weiteren zunächst zwischen den Randstrah
len 5 und 8 verlaufendem Strahl 6 bzw. 7 zum Schneiden.
An den Schnittpunkten der Strahlen 5 und 6 bzw. der Strahlen
7 und 8 sind nun jeweils die freien Durchmesser 13 und 14
der Doppelblende 15 angeordnet, welche dazu dient, die geo
metrischen Abbildungsfehler des Ringspiegels 16 auszugleichen.
Zwischen der Doppelblende 15 und dem Ringspiegel 16 befindet
sich eine Tubuslinse 17, welche die die Doppelblende durch
laufenden Strahlen zur optischen Achse hin bricht, so daß
der Durchmesser des nachfolgenden Ringspiegels 16 klein ge
halten werden kann. Die Reflektorfläche des Ringspiegels 16
ist als Teil eines Ellipsoids ausgebildet, wobei sich das
Zentrum des Meßfleckes 18 im unteren Brennpunkt der Ellipse
befindet. Zwischen Ringspiegel 16 und Meßfleck 18 ist noch
eine Schutzscheibe 19 vorgesehen, welche die Spiegelfläche
des Ringspiegels vor Verschmutzung schützt.
Die sich jeweils in der Doppelblende schneidenden Strahlen 5
und 6 sowie 7 und 8 schneiden sich nochmals in der Ebene des
Meßobjektes und bilden mit diesen weiteren Schnittpunkten die
Begrenzung des Meßfleckes. Verfolgt man nun die beiden den
Meßfleck definierenden Strahlenpaare 5 und 6 sowie 7 und 8
wieder zurück nach oben zur Halogen-Lampenwendel hin, so
sieht man, daß beide Begrenzungspunkte und somit auch alle
dazwischenliegenden Punkte des Meßfleckes Licht von der ge
samten Wendelfläche erhalten. Damit wird zweierlei erreicht:
erstens ist eine hohe Lichtausbeute des Beleuchtungssystems
sichergestellt, was bedeutet, daß mit einer Halogenlampe
relativ kleiner elektrischer Leistung eine hohe Beleuchtungs
stärke des Meßfleckes erzielt wird; zweitens wird auch eine
hohe Gleichmäßigkeit der Meßfleckausleuchtung erreicht, was
für die Genauigkeit der Remissionsmessungen von großer Bedeu
tung ist.
Das vom Meßobjekt, welches mit Licht unter 45° beleuchtet
wird, remittierte Licht wird durch eine Empfangsoptik unter
0° aufgenommen. Als erstes optisches Glied dieser Optik dient
ein zweilinsiges Objektiv 23, das durch seine Öffnungsblende
das bewertbare Lichtbündel durch die beiden Strahlen 27 und
wieder zurück nach oben zur Halogen-Lampenwendel hin, so
sieht man, daß beide Begrenzungspunkte, und somit auch alle
dazwischenliegenden Punkte des Meßfleckes Licht von der ge
samten Wendelfläche erhalten. Damit wird zweierlei erreicht:
erstens ist eine hohe Lichtausbeute des Beleuchtungssystems
sichergestellt, was bedeutet, daß mit einer Halogenlampe
relativ kleiner elektrischer Leistung eine hohe Beleuchtungs
stärke des Meßfleckes erzielt wird; zweitens wird auch eine
hohe Gleichmäßigkeit der Meßfleckausleuchtung erreicht, was
für die Genauigkeit der Remissionsmessungen von großer Bedeu
tung ist.
Das vom Meßobjekt, welches mit Licht unter 45° beleuchtet
wird, remittierte Licht wird durch eine Empfangsoptik unter
0° aufgenommen. Als erstes optisches Glied dieser Optik dient
ein zweilinsiges Objektiv 23, das durch seine Öffnungsblende
das bewertbare Lichtbündel durch die beiden Strahlen 27 und
28 begrenzt. Nach dem Objektiv ist ein unter 45° stehender
Auskoppelspiegel 24 angeordnet, der das Meßlicht zur Seite
umlenkt. Im folgenden durchläuft es eine Blende 25, die so
angeordnet ist, daß das Objektiv das Blendenbild scharf in
die Meßebene abbildet. Ist dieses Blendenbild in der Meßebene
nun kleiner als der Durchmesser des beleuchteten Meßfleckes,
so erreicht man ein gutes Tiefenschärfeverhalten des Meß
kopfes, d. h. Veränderungen des Meßabstandes wirken sich nur
gering auf das Meßsignal aus. Nach der Blende 25 folgt noch
eine Kollimatorlinse 26. Der objektseitige Brennpunkt dieser
Linse liegt in der Blendenebene, wodurch sich ein parallel
zur optischen Achse der Auskoppeloptik verlaufendes Strahlen
bündel mit einem kleinen Durchmesser ergibt. Dieses Strahlen
bündel kann dann je nach Anwendungsfall einer Densitometer
oder Farbmeßgerätauswerteeinheit zugeführt werden.
Zwischen den beiden asphärischen Linsen 9 und 11 verlaufen
die für die Beleuchtung des Meßfleckes benötigten Strahlen
in einem Hohlzylinder. Die Strahlen in der näheren Umgebung
der optischen Achse werden für die Meßfleckbeleuchtung nicht
benötigt. Deshalb ist es möglich, an dieser Stelle durch
einen Umlenkspiegel 20 ein Strahlenbündel auszukoppeln, das
durch die beiden Randstrahlen 21 und 22 begrenzt wird. Mit
Hilfe dieses Strahlenbündels kann die Farbtemperatur über
wacht und konstant geregelt werden.
Claims (7)
1. Beleuchtungsoptik für ein Remissionsmeßgerät mit einer
Lampe, deren Licht unter einem Winkel von 45° auf einen Meß
fleck aufgestrahlt wird, und mit einer das vom Meßfleck
remittierte Licht in der 0°-Achse aufnehmenden Auskoppel
optik,
gekennzeichnet durch einen das von der Lampe (1) kommende
Licht in einen rotationssymmetrischen Lichtmantel lenkenden
Lichtformer (9-17) und einen derart angeordneten Ringspiegel
(16), daß der Lichtmantel auf seine spiegelnde Innenfläche
fällt und unter 45° auf den Meßfleck (18) reflektiert wird.
2. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Lampenlicht durch eine Kollektorlinse (9)
in paralleles Licht umgewandelt wird und daß der Lichtformer
eine asphärische Feldlinse (11), welche das parallele Licht
zur optischen Achse des Systems hinlenkt und fokussiert,
eine auf die Feldlinse (11) folgende Doppelblende (15) mit
einer der Feldlinse zugewandten kleineren Öffnung und einer
der Feldlinse abgewandten größeren Öffnung sowie eine auf
die Doppelblende (15) folgende Tubuslinse (17), welche die
von der Doppelblende kommenden Lichtstrahlen auf den Ring
spiegel (16) lenkt, aufweist.
3. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß zwischen der Feldlinse (11) und der Doppel
blende (15) eine Ausgleichslinse (12) angeordnet ist.
4. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß zwischen der Kollektorlinse (9) und der Peld
linse (11) ein um 45° gegen die optische Achse geneigter
Ausblendspiegel (20) für einen zur Lampenregelung ausge
blendeten Lichtstrahl (21, 22) angeordnet ist.
5. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß zwischen dem Ringspiegel (16) und dem Meßfleck
(18) eine Schutzscheibe (19) angeordnet ist.
6. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Auskoppeloptik ein innerhalb des Ring
spiegels in der optischen Achse angeordnetes Ausblend
objektiv (23) mit nachgeschaltetem, unter 45° zur optischen
Achse angeordneten Auskoppelspiegel (24) für den Meßstrahl
aufweist.
7. Beleuchtungsoptik nach Anspruch 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß dem Auskoppelspiegel (24) eine Blende (25)
und eine Kollimatorlinse (26) für den Meßstrahl nachge
schaltet sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904013421 DE4013421A1 (de) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | Beleuchtungsoptik fuer ein remissionsmessgeraet |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904013421 DE4013421A1 (de) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | Beleuchtungsoptik fuer ein remissionsmessgeraet |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4013421A1 true DE4013421A1 (de) | 1991-10-31 |
Family
ID=6405197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904013421 Withdrawn DE4013421A1 (de) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | Beleuchtungsoptik fuer ein remissionsmessgeraet |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4013421A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4320177A1 (de) * | 1993-06-18 | 1994-12-22 | Laser Applikationan Gmbh | Optische Vorrichtung zur Erzeugung einer Linie und Verfahren zu ihrer Herstellung |
DE19544481A1 (de) * | 1995-11-29 | 1997-06-05 | Laser Sorter Gmbh | Beleuchtungseinrichtung mit Halogen-Metalldampflampen |
US6499862B1 (en) | 1999-01-15 | 2002-12-31 | Dedo Weigert Film Gmbh | Spotlight with an adjustable angle of radiation and with an aspherical front lens |
US7626724B2 (en) | 2004-05-05 | 2009-12-01 | X-Rite, Inc. | Auto-tracking spectrophotometer |
-
1990
- 1990-04-26 DE DE19904013421 patent/DE4013421A1/de not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4320177A1 (de) * | 1993-06-18 | 1994-12-22 | Laser Applikationan Gmbh | Optische Vorrichtung zur Erzeugung einer Linie und Verfahren zu ihrer Herstellung |
DE19544481A1 (de) * | 1995-11-29 | 1997-06-05 | Laser Sorter Gmbh | Beleuchtungseinrichtung mit Halogen-Metalldampflampen |
US6499862B1 (en) | 1999-01-15 | 2002-12-31 | Dedo Weigert Film Gmbh | Spotlight with an adjustable angle of radiation and with an aspherical front lens |
US7626724B2 (en) | 2004-05-05 | 2009-12-01 | X-Rite, Inc. | Auto-tracking spectrophotometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3527322C2 (de) | ||
DE69317103T2 (de) | Beleuchtungssystem zur Inspektion von Kontaktlinsen | |
DE69102941T2 (de) | Strahlungsthermometer. | |
DE2901738C2 (de) | Spektralphotometer | |
DE3307380C2 (de) | ||
DE10309269B4 (de) | Vorrichtung für Totale Interne Reflexions-Mikroskopie | |
DE69622588T2 (de) | Fluorometer | |
EP0311561B1 (de) | Messkopf | |
EP0264404B1 (de) | Vorrichtung zum selbsttaetigen fokussieren eines auflichtmikroskopes | |
DE69608066T2 (de) | Optisches Gerät zum Abstandsmessen | |
DE4421783C2 (de) | Optische Einrichtung und Verfahren zum Bestimmen der Lage einer reflektierenden Zielmarke | |
DE3214268A1 (de) | Optisches justierelement | |
DE69334168T2 (de) | Spektrometer für linsenmesser | |
DE3536700A1 (de) | Geraet zum ermitteln des lokalen abstandes einer pruefflaeche von einer referenzflaeche | |
DE3019477C2 (de) | Augenrefraktometer | |
DE4013421A1 (de) | Beleuchtungsoptik fuer ein remissionsmessgeraet | |
DE2739676C3 (de) | Laser-Anemometer | |
EP1372012A2 (de) | Optische Anordnung zur Beobachtung einer Probe oder eines Objekts | |
DE2656417A1 (de) | Vorrichtung zur messung der strahlung einer probe | |
DE2608176C2 (de) | ||
DE9421343U1 (de) | Vorrichtung zum Einkoppeln von Licht in einen Lichtleiter | |
DE3708647C2 (de) | ||
DE4124003C2 (de) | Beleuchtungseinrichtung zum Beleuchten von klar-transparenten Prüfobjekten, für die Untersuchung der Prüfobjekte auf Fehler | |
DE19914495B4 (de) | Spaltlampe oder Spaltleuchtenprojektor mit einer Anordnung zur Ermittlung und Regelung der Lichtstärke | |
DE4130698C2 (de) | Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: MAN ROLAND DRUCKMASCHINEN AG, 63075 OFFENBACH, DE |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |