DE4005314C2 - - Google Patents
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- B23K26/032—Observing, e.g. monitoring, the workpiece using optical means
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Mikrolöten mittels eines Lasers,
bei dem die Temperatur der Lötstelle gemessen und durch Verändern
der Laserleistung variiert wird, gemäß dem Gattungsbegriff des Anspruches
1.
Die zunehmende Automatisierung und Miniaturisierung in der Mikroelektro
nik erfordert die Entwicklung neuer Verbindungstechniken. Das Laserlöten
bietet aufgrund der Reproduzierbarkeit, der örtlichen und zeitlichen
Steuerbarkeit der Strahlung besonders im Mikrobereich Vorteile gegenüber
konventionellen Verbindungstechniken bei Anschlußgrößen bis in den Bereich
von 50 µm, wie z. B. aus
Ploner, L., "Ein Fall für sich", Elektronikpraxis Nr. 12, S. 26,
Dezember 1986,
bekannt ist. Temperatur- und rechnergesteuertes Laserlöten mit 4- bis
6achsigen Fertigungsrobotern ermöglicht zudem eine Prozeßkontrolle und
wird bereits in der Leiterkartenproduktion eingesetzt, wie in
Ringle, Heinz; Vayhinger, Kai Uwe: "Präzisionsinstrument", Elektronikpraxis
Nr. 15, S. 33, August 1989 oder
Möller, W.; Knödler, D.; Vayhinger, K. U.: "Laser-Mikrolöten mit Temperatur- und Zeitsteuerung", OPTO-Elektronik Magazin, Vol. 4, No. 8, S. 68, 1988
Möller, W.; Knödler, D.; Vayhinger, K. U.: "Laser-Mikrolöten mit Temperatur- und Zeitsteuerung", OPTO-Elektronik Magazin, Vol. 4, No. 8, S. 68, 1988
berichtet wurde.
Es sind also bereits verschiedene Vorschläge zum Laser-Löten bekanntge
worden, von denen die meisten nach dem Prinzip der Steuerung der Löttem
peratur arbeiten, wie aus den Druckschriften "Laserlötanlage", Prospektblatt
der Fa. IEF Werner GmbH, Furtwangen vom 15. 01. 1990 und Baier W.,
"Elektronik Lexikon", 1982, Frank'sche Verlagsh., Stuttgart, Seiten 292
bis 293, 406 bis 407, 435, 494 und 670 hervorgeht. Es hat sich jedoch
gezeigt, daß für anspruchsvolle Arbeiten diese bekannten Verfahren nicht
immer die optimalen Ergebnisse bringen.
Es ist deshalb das Ziel der Erfindung,
ein Verfahren anzugeben, bei dem bei sehr unterschiedlichen
Lötgeometrien, Substraten und Kontakten eine gleichmäßige optimierte
Qualität der Lötstellen zu erzielen und gleichzeitig mittels einer Auswertung
des Stellsignales Aussagen über Prozeß- und Lötfehler zu erhalten.
Gemäß der Erfindung wird dies dadurch erreicht, daß
die Temperaturmessung
der Lötstelle mittels einer Pyrometerkamera mit einer Ansprechzeit von
<1 ms erfolgt,
der Regler nach einer PID-Charakteristik arbeitet, und
zur Anpassung der eingekoppelten Laserenergie die
Laserleistung durch Änderung des Lampenstromes des Pumpsystems des Lagers gesteuert wird.
Dagegen gab es bisher von Laserspezialisten Bedenken, so daß eine derartige
Anwendung bis heute abgelehnt wurde, weil durch das Variieren des
Lampenstromes Instabilitäten, ein Verstimmen des Lasers oder eine Verschlechterung
der Strahlqualität befürchtet wurde. Es ist jedoch nicht
erkannt worden, daß beim Laserlöten eine gute Strahlqualität nicht erforderlich
ist, sondern eine breite Strahlleistungsverteilung zum Abgleich
von großen Temperatur- und kleinen Positionierungsstreuungen erwünscht
ist.
Die Regelung der Löttemperatur über die zugeführte Laserleistung ermög
licht vor allem die exakte Einhaltung der optimierten Lötkurven und damit
eine Verbesserung der Reproduzierbarkeit und Qualität.
Nachstehend werden die Erfindung und die ihr zugrundeliegenden Messungen, Beobachtungen
und Überlegungen
anhand der Zeichnung erläutert. Es zeigt
Fig. 1 den experimentellen Aufbau zur Messung der Reflexion eines externen
Sondenlasers oder des Lötlasers unter einem festen Raumwinkel,
Fig. 2 den zeitlichen Verlauf der Reflexion eines externen Sondenlasers,
Fig. 3 den zeitlichen Verlauf der Reflexion des Lötlasers,
Fig. 4a den Temperaturverlauf mehrerer fehlerfreier Lötstellen,
Fig. 4b den Mittelwert nach Fig. 4a,
Fig. 5 den schematischen Aufbau des Regelkreises,
Fig. 6 den Verlauf von Soll-, Ist- und Stellsignal für eine fehler
freie und
Fig. 7 für eine nicht vollständig benetzte Kammlötung mit Regelung,
Fig. 8 die Regelsignale einer guten und
Fig. 9 die Regelsignale einer schlechten Lötung beim geregelten
Löten.
Für das Löten mit Laserstrahlung werden überwiegend kontinuierliche (cw)
Festkörperlaser (Nd-YAG) mit einer Ausgangsleistung im Bereich von 50 W
eingesetzt. In Sonderfällen können bei spezieller Geometrie der Lötstel
le mit gepulsten Festkörperlasern oder mit kontinuierlichen CO2-Lasern
zufriedenstellende Ergebnisse erzielt werden. Der Festkörperlaser bietet
die Möglichkeit der Strahlführung mittels Lichtleitfaser, wodurch der
Einsatz in der flexiblen Fertigung vereinfacht wird. Daneben wird das
Intensitätsprofil beim Durchgang durch die Faser homogenisiert, was
speziell beim Löten gewünscht wird, um lokale Temperaturüberhöhungen zu
vermeiden. Aufgrund der kürzeren Wellenlänge ist die Absorption der
Nd-YAG-Strahlung in Metallen größer als die der CO-2-Strahlung, so daß
die Ausgangsleistung des Nd-YAG-Lasers bei gleichen Prozeßzeiten gerin
ger sein kann. Die meisten Substratmaterialien absorbieren die
Nd-YAG-Strahlung wesentlich weniger als die Lötstellen, so daß kaum
Beschädigungen durch die Laserstrahlung auftreten können, die zudem
durch Temperaturbegrenzung bzw. -steuerung vermieden werden.
Beim Laserlöten wird die Prozeßenergie durch die Laserstrahlung in die
Lötzone eingebracht. Zur Minimierung der Prozeßzeit wird eine Überschuß
heizung durchgeführt, wodurch Prozeßzeiten je nach Größe der Lötstelle
und der Laserleistung im Bereich <1 s, bei kleinen Lötstellen <50 ms
erreicht werden können.
Der Prozeßablauf konnte anhand von Hochgeschwindigkeitsaufnahmen zeit
lich charakterisiert werden, wie z. B. in
Horneff, P.; Knödler, D.: "Thermische Kontrolle beim Weichlöten",
Interconnection Technology and Electronics, Fellbach BRD
23.-25. 02. 1988 und
Horneff, P.; Treusch, H.-G.; Knödler, D.; Möller, W.: "Process control in laser soldering", Proceedings Laser Assisted Processing, ECO 1, S. 48, 19.-20. September 1988
Horneff, P.; Treusch, H.-G.; Knödler, D.; Möller, W.: "Process control in laser soldering", Proceedings Laser Assisted Processing, ECO 1, S. 48, 19.-20. September 1988
berichtet wurde. Dabei zeigte sich ein fester Ablauf der einzelnen
Unterprozesse: Aufschmelzen des Lotes, Schmelzdynamik und Benetzung der
Lötstelle. Dieser Ablauf ist unabhängig von der Geometrie der Lötstelle
und der Zuführung des Lotes. Das Lot erwärmt sich mit Beginn der
Bestrahlung und beginnt zu schmelzen. Dieser Schmelzvorgang setzt sich
fort, bis kein festes Lot mehr vorhanden ist. Dabei zieht sich das
flüssige Lot aufgrund der Oberflächenspannung und der Temperaturvertei
lung zur heißesten Stelle hin zusammen und bildet eine Kugel. Erst wenn
die gesamte Lötstelle ausreichend aufgeheizt und durch Flußmittel die
Reduktion der Oberfläche abgeschlossen ist, zerfließt die Lotkugel
wieder und das Lot benetzt die Lötstelle. Je nach Temperaturführung bzw.
Oberflächenspannung werden Form, Meniskus und Gefüge bzw. Qualität des
Lotes gebildet und somit einstellbar.
Bei der Verwendung von Lotpaste ändert sich aufgrund der Inhomogenität
des Konglomerats bzw. anisotropen Wärmeleitung der Aufheizvorgang und
damit die Temperaturführung und -verteilung. Lokal kann der Feststoff
anteil des Lotes bei zu kleinem Laserspot aufschmelzen, ohne daß das
umgehende Lot mit aufgeschmolzen wird. So bleiben Bereiche mit Festlot
innerhalb des flüssigen Lotes noch bestehen, was durch starke Unter
schiede im Intensitätsprofil dazu führen kann, daß Teile der Lotpaste
schon verdampfen, bevor andere Bereiche überhaupt aufschmelzen.
Dieses Problem wird durch eine Anpassung des Laserfleckes an die Pad
größe durch gezielte Defokussierung gelöst. Innerhalb des Lötprozesses
werden durch Schwankungen, z. B. der Lotmenge, der Positionierung von
Lötstelle, Bauteil und Laserstrahl zueinander und der Oberflächen
qualität bei optimalen Laserparametern die Zeiten der einzelnen Unter
prozesse beeinflußt. Daher können sich bei der Verwendung fest einge
stellter Laserparameter aufgrund der Schwankungen in diesen anderen
Einflußgrößen starke Unterschiede im Lötergebnis ergeben. Im folgenden
sind die verschiedenen Einflußfaktoren und deren Auswirkungen auf den
Zeitablauf bei festen Laserparametern dargestellt:
- - Fehlpositionierung reduziert die eingekoppelte Prozeßenergie und verlängert damit die minimale Prozeßzeit und muß durch ein Visionsystem korrigiert werden.
- - Schwankungen in der Lotmenge verändern die benötigte Prozeßenergie.
- - Schlechte Oberflächenqualität kann im Extremfall zur Nichtbenetzbar keit führen, vergrößert aber immer die Prozeßenergie und damit die Prozeßzeit.
Durch Anpassung der Laserleistung oder der Prozeßdauer und damit der
eingekoppelten Energie werden diese Schwankungen bei der temperatur
gesteuerten Kontrolle des Prozesses durchgeführt, wofür relevante
Signale verfügbar sein müssen. Sowohl die Änderung der Oberflächentem
peratur als auch der reflektierten Strahlung sowohl eines externen
Sondenlasers als auch des eigentlichen Lötlasers beinhalten die Prozeß
informationen, jedoch bietet nur die Oberflächentemperatur eine ausrei
chende Reproduzierbarkeit für den Einsatz in einer Steuerung bzw.
Regelung. Fig. 1 zeigt den experimentellen Aufbau zur Messung der
Reflexion in einem festen Raumwinkel, Fig. 2 und 3 das Reflexionssignal
eines externen Sondenlasers bzw. des Lötlasers. In Fig. 2 korrespondie
ren die starken Maxima 1 und 2 zu Oberflächenänderungen während der
Aufschmelzphase; das Maximum 3 korrespondiert zum Benetzungsvorgang.
Auch bei Fig. 3, also beim zeitlichen Verlauf der Reflexion des Löt
lasers, korrespondieren die Änderungen mit dem Aufschmelzen 1 und dem
Benetzen des Lotes 2.
Fig. 4a zeigt die Temperatursignale für mehrere gute Lötungen, sowie
deren Mittelwert in Fig. 4b. Der Mittelwert hat eine ähnliche Form wie
die einzelnen Verläufe; Minima und Maxima zeigen keine zeitliche Ver
schiebung.
Während nun aber bei der IR-Pyrometer-Steuerung die Temperatur-Zeit-Ver
läufe für die verschiedenen Lötstellen unterschiedlich sind, können bei
einer entsprechenden Regelung die Verläufe gleichartig, die Lötqualität
noch konstanter sein.
Fig. 5 zeigt schematisch den Aufbau und die Komponenten des
Regelkreises, zur Anpassung der eingekoppelten Laserenergie.
Die Temperaturmessung
erfolgt mittels einer Pyrometerkamera mit einer Ansprechzeit von 1 ms.
Der Vergleich von Soll- und Ist-Signal Tsoll und Tm (gemessene
Temperatur) und Tw (Oberflächentemperatur am Werkstück) geschieht
durch einen PID-Regler. Mit e ist die Regelabweichung, mit U die Stell
größe, mit PL die Laserleistung, mit nL die Störung der Laserlei
stung und mit nw die Störung der Oberflächen- und Materialeigenschaf
ten am Werkstück, und zwar jeweils in Abhängigkeit von der Zeit, be
zeichnet. Durch Vergleich mit einem Sollsignal ergibt sich ein tempera
turgeregelter Laserlötprozeß, der über die Sollwertvorgabe sowohl im
zeitlichen Verlauf der Lötstellentemperatur als auch der Maximaltempera
tur an verschiedene Lötstellengeometrien und Randbedingungen anpaßbar
ist. Eventuell auftretende Schwankungen in der Lötstellenvorbereitung
können durch die Regelung innerhalb großer Grenzen kompensiert werden.
Durch Kontrolle des Ist- und Stellsignals werden Kontakte, die trotz
Regelung nicht gelötet werden können, direkt sichtbar.
Eine Möglichkeit zur Realisierung des temperaturgeregelten
Laserlötens besteht darin, die Laserleistung über eine Änderung des
Lampenstromes des Pumpsystems des Lasers zu steuern. Hierbei wird
die über ein Pyrometer erfaßte Temperatur der Lötstelle zur Steuerung
der Laserleistung verwendet. Durch die Änderung des Lampenstromes wird
die Laserleistung den Erfordernissen angepaßt.
Im folgenden wird anhand der Kammgeometrie und dem Löten von SMDs mit
Lotpaste das temperaturgeregelte Laserlöten dargestellt. Diese Geome
trien sind sehr unterschiedlich, zudem kommt das Lot sowohl in fester
Form als auch als Paste zum Einsatz.
Der Einfluß falscher Vorbereitung auf das Lötergebnis beim Einsatz des
Regelkreises wird systematisch an der Kammgeometrie untersucht. Dazu
werden die einzelnen Einflußfaktoren definiert verändert und Soll-,
Ist- und Stellsignal sowie das Lötergebnis überprüft. Fig. 6 und 7
zeigen den Verlauf dieser Signale sowie die Lötungen für je eine gute
und schlechte Lötung.
Dabei zeigt Fig. 6 den Signalverlauf von Soll-, Ist- und Stellsignal
für eine fehlerfreie Kammlötung mit Regelung. Ist- und Soll-Signal
liegen übereinander, ihr zeitlicher Verlauf ist bis auf einen kurzen
Überschwinger in der Anstiegsphase identisch.
Fig. 7 zeigt hingegen den entsprechenden Signalverlauf für eine nicht
vollständig benetzte Kammlötung mit Regelung.
Die verschiedenen Fehler bzw. Schwankungen in der Lötstellenvorbereitung
werden also in Stell- und Ist-Signal sichtbar. So führt z. B. ein
dezentrierter Bauteilanschluß oder eine zu geringe Lotmenge zu steilerem
Temperaturanstieg, was zur Reduzierung der Laserleistung im geregelten
Lötprozeß führt. Im Gegensatz dazu ergeben größere Schichtdicken oder
Lotmengen und Fehlpositionierung eine Erhöhung des Energiebedarfs,
wodurch der Temperaturanstieg verringert, die Laserleistung erhöht wird.
Zu große Fehlpositionierung kann durch Leistungserhöhung nicht mehr
kompensiert werden und führt, z. B. bei einem fehlenden Bauteil zu einer
charakteristischen Form des Stellsignals, so daß diese Fehler erkannt
werden können.
Im Vergleich zu konventionellen Lötverfahren wird beim Laserlöten die
Energie viel schneller eingebracht. Dies führt beim Laserlöten ohne
Temperatur- bzw. Zeitsteuerung zu großen Unterschieden im Lötergebnis.
Örtlich starke Überhitzungen und Lotspritzer sind möglich. Durch Einsatz
der Steuerung können diese Schwankungen reduziert, durch eine Regelung
aber nahezu kompensiert werden. Bei der Lötung eines SMD-Anschlusses
ohne Regelung sind örtlich starke Überhitzungen und Lotspritzer möglich.
Durch Einsatz der herkömmlichen Steuerung können diese Schwankungen zwar
reduziert, durch die erfindungsgemäße Regelung aber nahezu völlig
kompensiert werden. Die Fig. 8 und 9 zeigen Regelsignale und Löt
stellen je einer guten und schlechten Lötung beim geregelten Löten.
Die Inhomogenität der Lotpaste führt zu starken Änderungen in der
Temperaturverteilung, abhängig von den Randbedingungen. Liegt etwa der
SMD-Kontakt nicht plan auf, so schmilzt das umgebende Lot zwar, jedoch
kommt keine Verbindung mit der Metallisierung zustande, da diese nicht
erwärmt wird. Lokale Überhitzung führt zum explosionsartigen Ausgasen
der Flüssigkeitsanteile der Lotpasten, wobei Feststoffanteile mit
ausgetrieben werden können, wobei immer das Lot von der Stelle verdrängt
wird. Durch Einsatz der Temperaturregelung kann dieses explosive Aus
gasen durch Vorgabe von Temperaturverlauf und Maximaltemperatur vermie
den werden. Daher ist gerade beim Löten von SMDs mit Lotpasten eine
Temperaturregelung wünschenswert. Während bei der Temperatursteuerung
noch die SMD-Typen, Anschlußarten (leadless, gullwing etc.) berücksich
tigt werden, erlaubt die Regelung den Verzicht auf diese "teach in"-Vor
gaben und vereinfacht wesentlich die Programmierung und Automatisierung.
Die Temperaturregelung beim Laserlöten gemäß der Erfindung erlaubt bei
sehr unterschiedlichen Lötgeometrien, Bauelementen, Substraten und
Kontakten einheitliche, optimierte Lötkurven und damit eine gleichmäßige
Qualität der Lötstellen. Das temperaturgeregelte Laserlöten ermöglicht
bei einer gleichzeitigen Auswertung des Stellsignales Aussagen über
Prozeß- und evtl. auch Lötfehler und damit eine verbesserte
Qualitäts- und Prozeßkontrolle.
Claims (1)
- Verfahren zum Mikrolöten mittels eines cw-Nd : YAG-Festkörperlasers mit Lichtleitfaser-Strahlführung, bei dem die Temperatur der Lötstelle mittels Infrarot-Strahlungspyrometer gemessen und durch Verändern der in die Lötstelle eingekoppelten Laserleistung mittels eines Regelkreises, der mittels eines Reglers das Soll- und Ist-Signal (Tsoll und Tm bzw. Tw) miteinander vergleicht, vorzugsweise durch Vorgabe von Temperaturverlauf und Maximaltemperatur, variiert wird, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) die Temperaturmessung der Lötstelle mittels einer Pyrometerkamera mit einer Ansprechzeit von 1 ms erfolgt,
- b) der Regler nach einer PID-Charakteristik arbeitet, und
- c) zur Anpassung der eingekoppelten Laserenergie die Laserleistung durch Änderung des Lampenstromes des Pumpsystems des Lasers gesteu ert wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904005314 DE4005314A1 (de) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Verfahren zum mikroloeten mittels eines lasers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904005314 DE4005314A1 (de) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Verfahren zum mikroloeten mittels eines lasers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4005314A1 DE4005314A1 (de) | 1991-08-22 |
DE4005314C2 true DE4005314C2 (de) | 1993-03-25 |
Family
ID=6400578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904005314 Granted DE4005314A1 (de) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Verfahren zum mikroloeten mittels eines lasers |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4005314A1 (de) |
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-
1990
- 1990-02-20 DE DE19904005314 patent/DE4005314A1/de active Granted
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