DE3108239A1 - "anordnung und verfahren zur messung optischer wellenlaengen" - Google Patents
"anordnung und verfahren zur messung optischer wellenlaengen"Info
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Description
Licentia Patent-Verwaltungs-GmbH Z13-UL/Ja/rß
Theodor-Stern-Kai 1 UL 8l/lO
D-6OOO Frankfurt (Main) 70 Ulm, 03.03.1981
Anordnung und Verfahren zur Messung
optischer Wellenlängen __
optischer Wellenlängen __
Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren
zur Messung optischer Wellenlängen nach den Oberbegriffen
der Patentansprüche 1 und 19.
zur Messung optischer Wellenlängen nach den Oberbegriffen
der Patentansprüche 1 und 19.
Derartige Anordnungen bzw. Verfahren sind bekannt als
Spektralphotometer bzw. als Spektralphotometrxe. Dabei
Spektralphotometer bzw. als Spektralphotometrxe. Dabei
wird die Intensität des Lichts als Funktion der Wellenlänge bzw. Frequenz gemessen. Bekannte Anordnungen, bei denen
ZoB. Monochrometoren verwendet werden, benutzen beispielsweise
optische Gitter, bei denen zur Erzielung einer spektral
en Auflösung lange Strahlwege nötig sind. Es sind auch
einfache Anordnungen zur Messung der Lichtwellenlänge bekannt O
Eine derartige Anordnung, wie sie in dor Schrift, D.J.
- 8 - UL 81/10
Mal yon et. al., Electronics Letters _l6 (198O), S. 744-746,
beschrieben ist^ zeigt FIG. 1-
Das Licht, im folgenden als ausgezogener Pfeil dargestellt,
einer Lichtquelle Q gelangt zunächst zu einem Strahlteiler S und von dort zu einem ersten Photodetektor D sowie über
ein optisches Transmissionsfilter F zu einem zweiten Photodetektor
D . Aus den Photoströmen X1, iQ bzw. anderen elekirischen
Signalen der beiden Photodetektoren D , D wird
1 Ct
dann in einer Auswerteeinheit A z.B. der Logarithmus des Verhältnisses i /i gebildet, woraus dann mit Hilfe der
J. Ct
bekannten Filtercharakteristik des Transmissionsfilters F die Wellenlänge des Lichts bestimmbar ist. Zwei Photodetektoren
D , D sind notwendig, damit Schwankungen der Lichtleistung der Lichtquelle Q nicht zu Verfälschungen des
Meßergebnisses führen.
Diese bekannte Anordnung weist einige Nachteile auf. Ein Nachteil besteht darin, daß zur Bestimmung der Wellenlänge
des Lichts die Gleichströme i , io der Photodetektoren D ,
\ et 1
D0 herangezogen werden. Diese Gleichströme werden z.B.
vom temperaturabhängigem Dunkelstrom sowie von Streulicht
beeinflußt, so daß das Meßergebnis verfälscht wird. Weiterhin ist an der bekannten Anordnung nachteilig, daß die
Teillichtstrahlen zwischen der Lichtquelle Q und den Pho-. todetektoren D , D0 jeweils verschiedene optische Elemente,
insbesondere den Strahlenteiler S, unterschiedlich durchlaufen,
so daß sich beispielsweise Interferenzen ausbilden
können, die zu einer fehlerhaften Lichtaufteilung zwischen den Photodetektoren D D führen.
X Ct
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine An-Ordnung und ein Verfahren der genannten Gattung anzugeben,
die insbesondere für die optische Nachrichtenübertragungs-
■-"--■ ■■'■■ "" 3108233
- 9 - UL 81/10
technik anwendbar sind, und die eine nohe Betriebssicherhext
aufweisen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die in den kennzeichnenden
Teilen der Patentansprüche 1 und 19 angegebenen
Merkmale gelöst. Zweckmäßige Ausführungsformen sind
in den Unteransprüchen zusammengestellt.
Ein erster Vorteil der Erfindung besteht darin, daß die Anordnung derart klein und mechanisch stabil ausführbar
ist. daß Z0B. einfach zu handhabende Geräte für die Kontrolle
und Wartung von Lichtleitfaserübertragungsstrecken herstellbar sind«
Ein zweiter Vorteil besteht darin, daß die Anordnung in
integrierter Bauweise herstellbar ist und daß aufwendige Justierarbeiten weitgehendst entfallen.
Ein dritter Vorteil besteht darin, daß die Anordnung nahezu wartungsfrei ist«
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf schematische Zeichnungen
näher erläutert» Es zeigen
FIG0 2 bis FIG«, 9 Ausführungsbeispiele, das in FIG. 10 dargestellte
Diagramm dient der Erläuterung des Verfahrens.
In dem Ausführungsbeispiel gemäß FIG. 2 wird das von einer
Lichtquelle Q, ζ„B. eines Halbleiterlasers, ausgesandte Licht
über einen nicht dargestellten Lichtwellenleiter sowie über
eventuell nötige Koppelstellen (Spleiße, Steckverbindungen)
- 10 - UL 81/10
einem Eingang 21 eines optischen Bauelements ST, z.B. Verzweigungsglied
oder Umschalter, zugeführt,das das Licht in
einem zweiten Teillichtweg 23 und einem ersten Teillichtweg 22 zuführt, an dessen einem Ende sich ein optisches
Transmissionsfilter F. z.B. ein Interferenzfilter, befindet.
Das vom Transmissionsfilter F bzw. vom zweiten Teillichtweg
23 durchgelassene Licht wird einer optischen Detektoranordnung
D zugeführt/ die z.B. aus mehreren Photodetektoren oder einem optischen Umschalter sowie einem
Photodetektor besteht. Die von der Detektoranordnung D erzeugten sogenannten Photoströme und/oder* Photospannungen
werden einer Auswerteeinheit A, z.B. einem Mikroprozessor,
zugeführt, die unter Berücksichtigung des optischen Filtercharakters des gewählten Transmissionsfilters F aus den
Photoströmen, wie eingangs beschrieben, die Wellenlänge und/oder Frequenz des Lichtes berechnet. Dieser Wert wird
auf einer nicht dargestellten Anzeigeeinheit dargestellt bzw. weiterverarbeitet. Außerdem ist es möglich, die Auswert
eeinheit derart auszuführen, daß Messungen mit Hilfe eines Multiplexbetriebes möglich werden. Dazu sind z.B. optische
Umschalter nötig, die sich in dem Bauelement ST bzw. der Detektoranordnung D befinden und mittels der Auswerteeinheit
A angesteuert werden. Dieses ist in FIG. 2 mittels der gestrichelt gezeichneten Verbindungen dargestellt. Eine
weitere gestrichelt gezeichnete Verbindung führt von der Auswerteeinheit A zur Lichtquelle Q, beispielsweise ein
Halbleiterlaser oder einelichtemittierende Diode. Durch
diese Verbindung ist dargestellt, daß es erfindungsgemäß
möglich ist, die Intensität des Lichts zu modulieren, das von der Lichtquelle Q ausgesandt wird. Diese Modulation
ist möglich, z.B. durch eine periodische Änderung des in die Lichtquelle Q injizierten Stromes. Diese Änderung wird
z.B. durch die Auswerteeinheit A bewirkt. Eine derartige
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Modulation bewirkt eine Unabhängigkeit der Anordnung von
möglichen Störgrößen z.B. einfallendes Streulicht und/ oder temperaturabhängiger Dunkelstrom einer in der Detektoranordnung
D enthaltenen Photodiode. Gemäß FIG. 10 wird beispielsweise die Lichtintensität I der Lichtquelle Q
mit einem periodischen, sinusförmigen Signal der Frequenz f um den Mittelwert der Lichtintensität moduliert.
Es ist möglich, die SchwankungSamplitude aufgrund der Modulation
klein zu wählen im Vergleich zur mittleren von der Lichtquelle Q abgegebenen Lichtleistung. Durch eine
derartige Modulation wird erreicht, daß optische und/oder elektrische Arbeitspunkte der Anordnung im wesentlichen
unverändert bleiben, so■daß Störungen z.B. Nichtlinearitäten
und/oder Störimpulse, vermieden werden. In der Aus-Werteeinrichtung
A (FIG. 2) werden dann lediglich die Sigaalkomponenten
der Detektoranordnung D ausgewertet, die su der Frequenz f gehören. Durch Quotientenbildung der
su den Teillichtwegen 22, 23 gehörenden Signalkomponente
wird die Auswertung im wesentlichen unabhängig von der Modulationshilfe.
Bei Anordnungen, in denen Lichtquelle Q und Auswerteeinheit A räumlich weit entfernt sind, z.B. bei optischen
Nachrichtenübertragungsstrecken, ist es alternativ möglich, die Intensität der Lichtquelle Q derart zu ntodulieren,
daß die Modulation nicht von der Auswerteeinheit gesteuert wird. In diesem Falle ist es zweckmäßig, die
Modulationsfrequenz f. in einem Frequenzbereich zu wählen,
für den die Auswerteeinheit A empfindlich genug ist.
Für einen störungsunempfindlichen Aufbau der Anordnung ist ©s vorteilhaft, wenn die Anordnung aus möglichst wenigen
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optischen und/oder elektrischen Bausteinen, z.B. optische Umschalter, besteht. Derartige Ausführungsbeispiele sind
in den FIG. 3 bis FIG. 9 dargestellt. Bei diesen Ausführungsbeispielen
besteht die Detektoranordnung D (FIG. 2) aus Photodetektoren D bzw. D , die sich jeweils an einem
Ende der Teillichtwege 22 bzw. 23 befinden. Das Transmissionsfilter
F befindet sich jeweils in dem ersten Teillichtweg 22. Die von den Photodetektoren D , D0,beispielsweise
Photodioden., erzeugten elektrischen Signale werden einer nicht dargestellten Auswerteeinheit, z.B. einem
Mikroprozessor, zugeführt und dort ausgewertet, z.B. mit Hilfe einer Quotientenbildung, wobei entweder intensitätsmoduliertes
oder unmoduliertes Licht verwendet wird.
Gemäß FIG. 3 fällt das von der Lichtquelle Q ausgesandte
Licht unmittelbar auf das Transmissionsfilter F, dessen Charakteristik, die Kennlinien, derart gewählt ist, daß
die Wellenlänge des Lichts im Übergangsbereich äes Filters
der sogenannten Filterflanke, liegt. Das Licht wird transmittiert bzw. reflektiert und über den ersten Teillichtweg
22 bzw. den zweiten Teillichtweg 23 den Photodetektoren D bzw. D„ zugeleitet. Eine Änderung der Lichtwellenlänge
bewirkt daher eine Änderung der Intensitäten des transmittierten bzw. reflektierten Lichts. Durch eine
entsprechende Eichung der Anordnung ist es daher möglich, den absoluten Wert der Lichtwellenlänge zu bestimmen.
Das spektrale Auflösungsvermögen der Anordnung ist im wesentlichen
abhängig von der Steilheit der Filterflanke des Transmissionsfilters F sowie der spektralen Empfindlichkeit
der Photodetektoren D , D . Für ein hohes Auflösungsvermögen
ist es zweckmäßig, das Transmissionsfilter F z.B. als Interferenzfilter auszubilden , da ein derartiges Filter
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eine große Flankensteilheit besitzt„
In der beschriebenen Anordnung ist die Normale des Filters um den Winkel α gegenüber der Strahlrichtung des Lichts
geneigt. Bei zu großem Winkel α werden dabei die Signale an den Photodetektoren D , D zu stark polarisationsabhängig
und damit die Wellenlängenbestimmung unsicher. Zur Vermeidung eines derartigen Effektes ist es zweckmäßig,
den Winkel (X kleiner als 15 zu wählen.
Eine weitere Verbesserung wird erreicht, wenn das Licht der Lichtquelle Q unpolarisiert ist, bzw. wenn sich im
Strahlengang zwischen der Lichtquelle Q und den Photodetektoren D , D2 depolarisierende optische Elemente befinden.
Für einen räumlich kleinen sowie mechanisch unempfindlieben
Aufbau der erfindungsgemäßen Anordnung ist es weiterhin
vorteilhaft, das Transmissionsfilter F faseroptisch zu
realisieren» Eine derartige Anordnung ist in FIG. 4 dargestellt.
Das Licht der Lichtquelle Q wird in ein Ende 21 einer Lichtleitfaser eingekoppelt, deren andere Endfläche
mit einem optischen Transmissionsfilter F versehen ist. Das transmittierte Licht gelangt zum Photodetektor D . während
Licht für den Photodetektor D zumindest einem der Ausgänge 4l, 42 eines optischen Teilers T entnommen wird. Wird
beispielsweise als Transmissionsfilter F ein Interferenzfilter verwendet, so hat eine Anordnung eines Photodetektors
D_ am Ausgang 4l den Vorteil, daß die Filterwirkung des reflektierenden Lichtes mit ausgenutzt wird.
In dem Ausführungsbeispiel gemäß FIG. 5 ist eine Lichtleitfaser
51 mit dem lichtführenden Faserkern 511 sowie
dem Mantel 512 dargestellt , wobei eine Endfläche 513 der
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Lichtleitfaser 51 schräg angeschliffen ist, und auf diese
Endfläche 513 ein Transmissionsfilter F aufgebracht ist.
Der durch das Transmissionsfilter F hindurchtretende Teillichtstrahl
gelangt zum Photodetektor D und der reflektierende Teillichtstrahl zum Photodetektor D . Für eine
möglichst optimale Detektion ist es zweckmäßig. den Photodetektor D2 unmittelbar an der Lichtleitfaser 51 bzw. an
einer die Faser unmittelbar umgebenden,nicht dargestellten
optischeüKapillare anzuordnen, um eventulelle störende
Totalreflexionen zu vermeiden.
In dem Ausführungsbeispiel gemäß FIG. 6 wird eine Lichtleitfaser
51 fest mit einem optischen Stab 6l mit abbildenden Eigenschaften verbunden. Dieser Stab 6l transformiert
das in die Lichtleitfaser 51 eingekoppelte Licht
in einen im wesentlichen parallelen Lichtstrahl. Die Eigenschaften eines derartigen optischen Stabes sind z.B.
aus dem Artikel von T. Uchida et. al., "Optical Characteristics of a light focusing fiber guide and its applications",
IEEE Journal of Quantum Electronics QE-6 (l97O),
S. 606 - 612, bekannt. An einem Ende 613 des optischen Stabes 6l ist ein Transmissionsfilter F angebracht. Eine
derartige Anordnung hat insbesondere den Vorteil, daß das auf das Transmissionsfilter F fallende Licht im wesentlichen
divergenzfrei (parallel) ist. Eine derartige Eigenschaft erhöht insbesondere bei Interferenzfiltern deren
Wirksamkeit.
Insbesondere die Anordnungen nach den FIG. 3i 5>
6 haben den Nachteil, daß das Transmissionsfilter F nicht senkrecht
durchstrahlt wird. Eine Weiterbildung der Erfindung besteht daher gemäß den FIG. 7 bzw. 8 darin , einen Teil
des von der Lichtquelle Q ausgesandten und in einen Licht-
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wellenleiter 51 eingekoppelten Lichts im wesentlichen
senkrecht durch· ein Transmissionsfilter F zum Photodetector
D gelangen zu lassen, während ein anderer Teil des Lichts unmittelbar bzw. nach Reflexion zum Photodetektor
D gelangt. Auf den zur Lichtrichtung senkrecht stehenden Teilen 72 einer Endfläche des Lichtwellenleiters
51 ist daher das Transmissionsfilter F angebracht,
während das zur Lichtrichtung abgeschrägte Teil 73 der Endfläche derart ausgebildet ist, daß der Teillichtweg
23 gebrochen (FIG. 7) bzw. reflektiert (FIG. 8) wird. Bei einem Lichtwellenleiter 51 gemäß den FIG. 7 bzw. 8
ist es zweckmäßig (- den Durchmesser des licht führ end en
Faserkerns möglichst groß zu wählen, damit eine möglichst große Anzahl von Lichtwellen ausbreitungsfähig ist derart,
ßlXL
daß/an der Faserendfläche eventuell entstehendes Interferenzmuster
die Aufteilung des Lichts zwischen den Photodetektoren D., D0 möglichst wenig beeinflußt. Licht-1
d>
leitfasern haben normalerweise Kerndurchmesser bis etwa %00 ,mn, Werden noch größere Kerndurchmesser benötigt, ist
es zweckmäßig, z.B. zu lichtleitenden Glasstäben überzugehen mit Durchmessern von einigen mm.
In dem Ausführungsbeispiel gemäß FIG. 9 wird das Transmissionsfilter
F durch eine definierte Krümmung des Lichtwellenleiters 51 realisiert, wobei die Filterwirkung eines
derart gekrümmten Lichtwellenleiters z.B. in der Patentanmeldung P 29 26 977.0 beschrieben ist. Vorteilhafterweise
sollte dann der Lichtwellenleiter 51 einwellig sein. Das
Licht der Lichtquelle Q befindet sich dabei zunächst im Faserkern 511 des Lichtwellenleiters 5I und je nach Verformung
des Lichtwellenleiters 51 gelangt ein mehr oder weniger großer Lichtanteil in den Mantel 512 des Lichtwellenleiters
51» Die Lichtenergie im Fasermantel 512 wird
- 16 - UL 81/IO
schließlich mit Hilfe einer Lichtleitfaser 90 zum Photodetektor
D2 geleitet, während die im Faserkern 511 verbleibende
Lichtenergie zum Photodetektor D gelangt. Die Überkopplung
des Lichts vom Kern 511 in den Mantel 512 ist wellenlängenabhängig,
so daß auch das Verhältnis der Lichtleistungen an den Photodetektoren D , D„ wellenlängenabhängig
wird. Dieser Effekt ist zur Messung der Wellenlänge des Lichts ausnutzbar.
Bei großem Brechzahlunterschied zwischen Kern 511 und Mantel
512 der Lichtleitfaser 51 wird die Divergenz der Lichtstrahlen
in der Lichtleitfaser 51 derart groß daß insbesondere bei Verwendung eines Interferenzfilters dessen Filterqualität
beeinträchtigt wird.
Die Erfindung ermöglicht, daß mindestens ein Photodetektor D , D (FIG. 8) unmittelbar an dem Lichtwellenleiter
51 befestigt ist. Bei einem derartigen Aufbau werden eventuelle Störungen, z.B. durch mechanische Erschütterungen
und/oder Luftstrecken, weitgehendst vermieden. Die erfindungsgemäße Anordnung ist weiterhin derart klein und kompakt
aufbaubar, daß eine derartige Anordnung als Bestandteil eines Meßgerätes ausbildbar ist, das der Bestimmung
anderer physikalisch meßbarer Größen dient. Beispielsweise ist eine derartige Anordnung in einem sogenannten
Lichtleitfaserringinterferometer einsetzbar, das zur Be-Stimmung
absoluter Drehraten benutzt wird.
Wie eingangs beschrieben ist das Auflösungsvermögen einer erfindungsgemäßen Anordnung im wesentlichen von der Flankensteilheit
des Transmissionsfilters sowie der Empfindlichkeit der Photodetektoren abhängig. Mit einer derzeit mogliehen
Anordnung ist daher z.B. eine Änderung der Lichtwellenlänge von ungefähr IA meßbar.
Leerseite
Claims (1)
- Licentia Patent-Verwaltungs-GmbH Z13-UL/Ja/rßTheodor-Stern-Kai 1 UL 81/IOD-6000 Frankfurt (Main) 70 TJIm, 03.03.1981Pat entansprücheIy Anordnung zur Messung optischer Wellenlängen mittels eines optischen. Filters, insbesondere für die optische Nachrichtenübertragungstechnik, gekennzeichnet durcha) mindestens ein optisches Bauelement (ST), das in dessen Eingang (21) eingekoppeltes Licht im wesentlichen verlust- und/oder störungsfrei auf mindestens zwei Teillichtwege (22, 23) aufteiltb) mindestens in einem ersten Teillichtweg (22) ist mindestens ein optisches Transmissionsfilter (F) vorhanden derart, daß die Wellenlänge des transmittierten Lichts im wesentlichen in den Wellenlängenbereich einer Filterflanke des Transmissionsfilters (F) fällte) mindestens einen zweiten Teillichtweg (23), der das mittels des Bauelementes (ST) eingekoppelte Licht im wesentlichen verlust- und/oder störungsfrei weiterleitet bzw. im wesentlichen das vom Transmissionfilter (F) reflektierte Licht überträgt- 2 - UL 81/10d) mindestens eine an den Enden der Teillichtwege (22,
23) vorhandene Detektoranordnung (D), die das über
die Teillichtwege (22, 23) übertragene Licht gleichzeitig bzw. im wesentlichen alternierend detektiert.2. Anordnung nach Anspruch I1 dadurch gekennzeichnet, daß das Bauelement (ST) und mindestens ein Te,il mindestens eines Teillichtweges (23) in einer optischen Einheit (51)
zusammengefaßt sind (FIG. 5)·3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einheit (51) ein Lichtwellenleiter ist.4. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einheit (51) ein im wesentlichen einwelliger Lichtwellenleiter ist.5. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Transmissionsfilter (F) ein Interferenzfilter ist.6. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Transmissionsfilter aus einem schrauben- und/oder spiralförmig gebogenen Lichtwellenleiter gebildet ist (FIG. 9),7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der gebogene Lichtwellenleiter ein einwelliger Lichtwellenleiter ist.8. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Detektoranordnung (D) vorhanden ist, die aus mindestens einem optischen Schalterund mindestens einem Photodetektor besteht.- 3 - UL 81/109o Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoreiordnung (D) aus Photodetektoren (D , D) besteht, die jeweils am Ende eines Teillichtweges (22, 23) angeordnet sind.10„ Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine Auswerteeinheit (A) vorhanden ist, die zumindest ein von mindestens einem Photοdetektor erzeugtes Signal derart auswertet, daß die Intensität des Lichtes von mindestens zwei Teillichtwegen (22, 23) auswertbar ist.llo Anordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß in der Auswerteeinheit (A) mindestens ein Mikroprozessor vorhanden ist.12., Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Lichtwellenleiter (51) vorhanden ist, an dessen einer Endfläche mindestens ein Transmissionsfilter (F) angebracht ist und daß mindestens zwei Photodetektoren (D-p D2)dex~artangeordnet sind, daß vom Transmissionsfilter (F) reflektiertes bzw. transmittiertes Licht auswertbar ist (FIG.5).13ο Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Transmissionsfilter (F) gegenüber der Längsachse des Lichtwellenleiters (51) derart geneigt ist. daß das transmittierte Licht einen Ausfallwinkel ( ε£) von kleiner als 15 besitzt.l4„ Anordnung nach Anspruch 12 oder 13 dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtwellenleiter (6l) ein optischer Stab mit lichtabbildenden Eigenschaften ist.- 4 - UL 81/1015. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Lichtwellenleiter (71) mit einer ersten Endfläche (72) auf der ein TransmissionsTilter (F) angebracht ist, und einer geneigten Endfläche (73) vorhanden ist, die Licht transmittiert und/oder reflektiert, und daß vom Transmissionsfilter (F) durchgelassenes bzw. von der geneigten Endfläche (73) transmittiertes und/oder reflektiertes Licht mindestens einem Photodetektor (D , D_ )zuführbar ist (FIG. 7; FIG. 8).16. Anordnung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Photodetektor (Dp) unmittelbar an dem Lichtwellenleiter (51) bzw. an einer den Lichtwellenleiter (51) zumindest teilweise· umgebenden optischen Kapillare angeordnet ist.17. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche. dadurch gekennzeichnet, daß bei einem Transmissionsfilter1
(F) das aus einem gekrümmten; aus Kern- und Mantelbereich bestehenden Lichtwellerileiter (9I) besteht, an dessen einer Endfläche ein erster Photodetektor (D ) angeordnet ist. und an dessen Mantelbereich vor und/oder nach der Krümmung mindestens ein zweiter Photodetektor (Dp) angekoppelt ist (FIG. 9).18. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Endfläche eines Licht-Wellenleiters teilweise mit einem Transmissionsfilter bedeckt ist und daß das durch die Endfläche transmittierte Licht mindestens einem Photodetektor zuführbar ist.19. Verfahren zur Messung optischer ¥ellenlängen mittels- 5 - UL δι/ίοeiner Anordnung nach einem oder mehrsren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß intensitätsmoduliertes Licht verwendet wird, dessen Modulationsgrad kleiner als eins ist (FIG. 10).SO» Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet daß das Licht im wesentlichen mit einer monofrequenten Schwingung der Frequenz f. moduliert wird und daß in der Detektoranordnung (D) und/oder in einer nachgeschalteten Auswerteeinheit (A) im wesentlichen die zur Frequenz f gehörenden Signalkomponenten ausgewertet werden.21O Verfahren nach Anspruch 19 oder Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß ein.Modulationsgrad derart gewählt wird daß eine dadurch bewirkte Änderung des Mittelwertes der Lichtintensität vernachlässigbar wird.22. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß während der Messung mindestens ein optischer Arbeitspunkt eines Meßobjektes im wesentlichen unverändert bleibt«23. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtquelle mindestens ein Halbleiterlaser und/oder mindestens eine lichtemittierende Diode verwendet wird.24ο Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß eine Modulation der Lichtintensität durch Modulation des injizierten elektrischen Stromes bewirkt wird.25«. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 2k dadurch gekennzeichnet, daß unpolarisiertes Licht und/oder minde-- 6 - UL 81/10stens ein Licht depolarisierendes Bauelement verwendet wird. *26. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 25, dadurch gekennzeichnet» daß in mindestens einer Auswerteeinheit (A) die mittels eines ersten bzw. zweiten Teillichtweges (22, 23) erzeugten Signale im wesentlichen dividiert werden und daß unter Berücksichtigung des Filterverlaufes des Transmissionsfilters (F) die Wellenlänge und/oder Frequenz des Lichtes bestimmbar wird.27. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 26, dadurch gekennzeichnet, daß aus mindestens einer Änderung mindestens einer Wellenlänge und/oder Frequenz des Lichts mindestens eine die Änderung bewirkende Meßgröße bestimmbar wird.28. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 271 dadurch gekennzeichnet, daß als Meßgröße eine absolute Drehung bestimmt wird.
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Cited By (5)
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