DE2758810C2 - Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher - Google Patents
Bewerterschaltung für HalbleiterspeicherInfo
- Publication number
- DE2758810C2 DE2758810C2 DE19772758810 DE2758810A DE2758810C2 DE 2758810 C2 DE2758810 C2 DE 2758810C2 DE 19772758810 DE19772758810 DE 19772758810 DE 2758810 A DE2758810 A DE 2758810A DE 2758810 C2 DE2758810 C2 DE 2758810C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistor
- inverter
- circuit
- flip
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356017—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356017—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit
- H03K3/356034—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit the input circuit having a differential configuration
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356086—Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes
- H03K3/356095—Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes with synchronous operation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
mehrerer, Ausführungsbeispiele für 12 die Erfindung zeigender Figuren erläutert.
F i g. 1 zeigt den grundsätzlichen Aufbau einer Inverterstufe mit dem eigentlichen Schaltinverter 11, die
mit einer vorgeschalteten Steuerschaltung 12 zusammenarbeitet, die gemeinsam eine Hälfte des in der
erfindungsgemäßen Bewerterschaltnng vorzusehenden
Flipflops darstellen.
Fig.2 zeigt ein Ausführungsbeispiel für die erfindungsgemäße
Bewerterschaltung, bei dem das Flipflop aus zwei Γϋρίΐορ-Hälften gemäß F i g. 1 gebildet ist.
F i g. 3 zeigt ein die Arbeitsweise der in F i g. 2 gezeigten Bewerterschaltung erläuterndes Impulsdiagramm.
Fig.4 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel für die
erfindungsgemäße Bewerterschaltung, bei dem zum Erzeugen einer von der Einsatzspannung der verwendeten
Transistoren abweichenden Referenzspannung ein besonderer Speisetransistor vorgesehen ist
Wie bereits erläutert, ist eine Flipflop-Hälfte der erfindungsgemäßen Bewerterschaitung in Fig. I gezeigt.
Sie besteht aus einem Schaltinverter 11 und aus einer Steuerschaltung 12. Die Steuerschaltung 12 ist aus
einem Steuertransistor 3 und einem Hilfstransistor 4 zusammengesetzt und bildet in sich einen Inverter,
wobei der Steuertransistor 3 als Schalttransistor und der Hilfstransistor 4 als Lastelement dient. Der Verbindungspunkt
10, der den Signalausgang des auf diese Art gebildeten Inverters darstellt, ist mit dem Steuergate
eines Lasttransistors 2 innerhalb des Schaltinverters 11 '°
verbunden. Das Steuergate des Hilfstransistors 4 Lt an einen Hilfssteuereingang 5 angeschlossen. Die Steuergates
des Steuertransistors 3 und des Schalttransistors 1 des Schaltinverters 11 sind gemeinsam mit einem
Steuereingang 6 verbunden. Der aus dem Schalttransistör 1 und einem Lasttransistor 2 gebildete Schaltinverter
11 ist mit einem weiteren Verbindungspunkt 9 auf einen Signalausgang 8 gelegt. Die Source-Anschlüsse
des Schalttransistors 1 und des Steuertransistors 3 sind in bekannter Weise auf ein gemeinsames Potential,
vorzugsweise Massepotential, gelegt. Die Drain-Anschlüsse des Lasttransistors 2 und des Hilfstransistors 4
sind gemeinsam mit einer Versorgungsspannungsklemme 7 verbunden.
Die in F i g. 1 gezeigte Grundstruktur der erfindungsgemäßen
Bewerterschaltung wird für die Zwecke der Bewerterschaltung vorzugsweise dynamisch betrieben.
Vor Anlegen einer Information an den Steuereingang 6 wird mit Hilfe eines Hilfssteuertaktes, der über den
Hilfssteuereingang 5 zuführbar ist, der Hilfstransistor 4 so leitend geschaltet. Wenn das daraufhin dem Steuereingang
6 zugeführte Signal einen niedrigen, den Binärwert »0« repräsentierenden Pegel hat, bleibt der Verbindungspunkt
10 und damit die zwangsläufig vorhandene Gatekapazität 13 des Lasttransistors 2 auf hohem w
Potential, da der Steuertransistor 3 nichtleitend ist. Wird dagegen an den Eingang ein Signal mit positivem, den
Binärwert »1« repräsentierenden Pegel gelegt — in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel sind n-Kanal-Transistoren
vorgesehen —, so entlädt sich der Verbindungs- w>
punkt 10 und damit in der Folge der weitere Verbindungspunkt 9. Hierbei ist der Lasltransistor 2
gesperrt, so daß ein Querstrom des Schaltinverters 11
unterbunden ist
Fig. 2 zeigt, wie bereits erläutert, ein Ausführungsbeispiel
für die erfindungsgemäße Bewerterschaltung, die mit Hilfe der gemäß Fig. I vorgesehenen
Inverterstufe aufgebaut ist. Jeweils ein Schaltinverter 11
und eine Steuerschaltung 12 bilden gemeinsam eine Flipflop-Hälfte. Dabei entspricht der Schalttransistor 31
bzw. 32 dem Schalttransistor 1, der Lasttransistor 33 bzw. 34 dem Lasuransistor 2, der Steuertransistor 35
bzw. 3δ dem Steuertransistor 3 und der Hilfstransistor 37 bzw. 38 dem Hilfstransistor 4. Die Transistoren 31,
33, 36 und 38 bilden dabei die eine Inverterstufe, die Transistoren 32, 34, 35 und 37 die andere Inverterstufe
des Flipflops der Bewerterschaitung. Mit Hilfe eines Quertransistors 40, dessen Steuergate über eine
Ausgleichstaktklemme 21 geladen werden kann, kann ein Ausgleich der Potentiale der Flipflop-Knoten 45,46
vorgenommen werden. Eine solche, mit einem Quertransistor realisierte Ausgleichsanordnung ist bereits
aus der deutschen Auslegeschrift 24 18 936 bekannt. Ein
vor einem Bewertungsvorgang vorzunehmendes Vorladen der betreffenden Bitleitung 28 ist vorteilhaft mit
Zusatztransistoren 41, 42 durchzuführen, deren Steuergates über eine Zusatztaktklemme 24 aufladbar sind. In
dem Ausführungsbei' ^iel gemäß Fig. 2 sind die
Drain-Anschlüsse der i^asttransistoren 33, 34 an eine
Versorgungsspannungsklemme 25, der Hilfstransistoren
37, 38 an eine ers'e Hilfsspannungsklemme 26 und der Zusatztransistoren 41, 42 an eine zweite Hilfsspannungsklemme
27 gelegt Als Beispiel zur Erläuterung der Wirkungsweise der Bewerterschaitung nach F i g. 2
ist ein Ein-Transistor-Speicherelement bestehend aus einem Speicherkondensator30 und einem Auswahltransistor
39 gezeigt, dessen eine Elektrode mit einer Bitleitung und dessen Steuergate mit der betreffenden
Auswahlleitur.g 29 verbunden ist. Die Auswahlleitung 29 ist ihrerseits mit einer Auslösetaktklemme 23 verbunden,
über die ein Auslösetaktimpuls zuführbar ist
Mit Hilfe des in Fig. 3 gezeigten Impulsdiagramrr.s soll im folgenden die Arbeitsweise der in F i g. 2
gezeigten Bewerterschaitung erläutert werden. Das Vorladen der Buieitung wird zum Zeitpunkt /1 durch
kurzzeitiges Leitendschalten der Hilfstransistoren 37,38 und des Quertransistors 40 mit Hilfe der Takte 21 und 22
bzw. der Zusatztransistoren 41, 42 und des Quertransistors 40 mit Hilfe der Takte 21 und 24 vorgenommen.
Mit dieser Maßnahme werden sowohl die Steuerknoten 43, 44 auf einen mittleren Wert entladen, als auch eine
den Einsalzspannungen LJTder beiden Schalttransistoren
31, 32 entsprechende Referenzspannung auf der Bitleitung eingestellt. Dabei sorgt der Quertransistor 40
für einen ausreichenden Potentialausgleich zwischen den Flipflop-Knoten 45 und 46. Nach diesem Vorgang
ist die Bewerterschaitung für den eigentlichen Bewertungsvorgang bereit. Nach dem Leitendschalten des
Auswahltransistors 39 zum Zeitpunkt /2 durch den Auslösetakt 23 ändert sich die Referenzspannung an der
Bitleitung je nach der im Speicherkondensator 30 gespeicherten Information um AU»\« b^w. — AU»0«.
Bei Vorliegen einer binären »1« — dieser Fall ist der Fig. 3 zugrundegelegt — tritt bei der erfindungsgemäßen
Bewerterschaitung eine Vor.erstärkung ein, die daraus resultiert, daß die über dem Wert ί/Γ liegende
Gate-Spannung am Schalttransistor 32 den Flipflop-Knoten 46 entlädt. Diese Vorverstärkung ist abhängig
von der Zeitdauer des Auslesevorganges und kann zum Zeitpunkt r3 maximal den Wert UT + AU»\«
erreichen. Zum Bwerten werden kurzzeitig die Hilfstransistoren 37 und 38 durch den Takt 22 eingeschaltet,
die die Steuerknoten 43 und 44 auf eine vorgegebene Spannung, beispielsweise die Versorgungsspannung
UDD aufladen. Damit werden die Flipflop-Knoten 45 und 46 auf ein höheres Potential gezogen. In den beiden
Inverterzweigen fließt der Strom /33 bzw. /34. Da sich der Steuerknoten 43 wegen des leitenden Steuertransistors
35 entlädt, wird der Lasttransistor 34 gesperrt. Der Strom /34 wird damit unterbrochen. Der Flipflop
Knoten 46 wird nicht mehr weiter auf höheres Potential gezogen und entlädt sich auf das Potential 0 Volt. Nach
dem Kippen des Flipflops wird der Strom /33 durch den sperrenden Schalttransistor 31 unterbrochen. Damit hat
die Bewerterschaltung ihren stationären Zustand erreicht. Für den Fall, daß eine binäre »0« mit dem
negativen Auslesehub — AU»0« vorliegt, tritt dagegen
keine Vorverstärkung auf. Wenn nach dem Vorladen der Bitleitung und dem Auslesen dieser Information die
Hilfstransistoren 37 und 38 leitend geschaltet werden, liegt der Flipflop-Knoten 46 früher über der Spannung
UT als der Flipflop-Knoien 45. Damit wird der
Flipflop-Knoten 45 entladen. Gleichzeitig entlädt der Steuertransistor 36 den Steuerknoten 44. Der Lasttransistor
33 sperrt, womit der Flipflop-Knoten 45 entladen wird.
Durch die Steuerung der Inverter sowohl vom Schalttransistor als auch vom Lasttransistor her lassen
sich hohe Verstärkungen der Flipflop-Zweige und/oder schnelle Schaltzeiten erzielen, da der Lasttransistor mit
entsprechend großem W/L-Verhältnis realisiert werden
kann.
Wenn aus besonderen Gründen eine von der Spannung UT abweichende Referenzspannung gewünscht
wird, kann die erfindungsgemäße Bewerterschaltung in Weiterbildung mit einem Speisetransistor
49 erweitert werden, mit dessen Hilfe die Source-Potentiale der Schalttransistoren 31, 32 und der Steuertransistoren
35,36 um die Schwellenspannung des Speisetransistors 49 angehoben werden können. Die Anordnung
eines solchen Speisetransistors ist an sich aus der deutschen Auslegeschrift 21 48 896 bekannt.
Prinzipiell kann die erfindungsgemäße Steuerung der Lasttransistoren durch eine entsprechend variierte
Steuerschaltung bei jeder anderen Bewerterschaltung, die nach dem Prinzip des Fiipflops arbeitet, angewendet
werden, wobei die Empfindlichkeit der jeweiligen Schaltung erhöht wird.
Bei den in den Figuren gezeigten Ausführungsbeispielen
für die erfindungsgemäße Bewerterschaltung wurden ausschließlich MOS-/)-Kanal-Transistoren verwendet.
Die Erfindung erlaubt jedoch auch die Verwendung von MOS-Transistoren des anderen Leitungstyps.
Claims (4)
1. Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher mit Ein-Transistor-Speicherelementen, mit einem Flipflop
aus zwei rückgekoppelten Inverterstufen, wobei diese Inverterstufen jeweils als Schaltinverter,
bestehend aus einem Schalttransistor und einem Lasttransistor, nach Art einer Gegentakt-Schaltstufe
zusammengesetzt sind, und mit einem die Signalausgänge
der Inverterstufen zum Zwecke des Potentialausgieichs verbindenden Quertransistor, wobei wenigstens
eine Bitleitung des Halbleiterspeichers mit einem der Flipflop-Knoten verbunden ist und wobei
eine einer ersten der beiden Inverterstufen beigeordneie Inverterschaltung aus einem Steuertransistor
und einem Hilfstransistor vorgesehen ist, die mit ihrem Steuereingang an den Flipflop-Knoten der
ersten Inverterstufe angeschlossen ist, dadurch
gekennzeichnet, daß auch der zweiten Inverterstufe (3t, 33) eine inverterschaltung aus einem
Steuertransistor (35) und einem Hilfstransistor (37) beigeordnet ist, deren Steuereingang an den
Flipflop-Knoten (45) der zweiten Inverterstufe (31, 33) angeschlossen ist und die als Steuerschaltung (12)
wirkt, daß die Signalausgänge (43, 44) beider beigeordneten Inverterschaltungen jeweils mit dem
Steuergate des Lasttransistors (33, 34) derjenigen Inverterstufe verbunden sind, der die jeweils andere
Inverterschaltung beigeordnet ist, wobei ein Verbindungspunkt zwischen dem Steuertransistor (35, 36)
und dem Hilfstransistor (37, 38) jeweils einen Steuerknoten (43 bzw. 44) der einen bzw. der
anderen Flipflop-Hälfte bildet, daß in Abhängigkeit von der in einem auszulesenden Speicherkondensator
(30) enthaltenden, die gespeichete Information repräsentierende Ladung eine Signalvorverstärkung
mit Hilfe der Steuerschaltung (12) durchführbar ist und daß das Steuergate des Hilfstransistors (37, 38)
an einen Hilfssteuereingang (22) angeschlossen ist, über den ein Hilfssteuertakt zuführbar ist.
2. Bewerterschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Zwecke eines einem
Bewertungsvorgang vorangehenden Vorladens der zwangsläufig vorhandenen Bitleitungskapazitäten
(47,48) den Bitleitungen (28) individuell zugeordnete Zusatztransistoren (41,42) vorgesehen sind, die über
eine Zusatztaktklemme (24) leitend zu schalten sind.
3. Bewerterschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Erzeugen einer von der Einsatzspannung der Schalttransistoren (31, 32) abweichenden Referenzspannung
ein zumindest den Schalttransistoren (31, 32) gemeinsam vorgeschalteter Sp^isetransistor (49)
vorgesehen ist, dessen Steuergate über eine Speisetaktklemme (50) ein Steuersignal zuzuführen
ist.
4. Bewerterschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
MOS-Transistoren entweder nur des einen oder nur des anderen Leitungstyps verwendet sind.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher nach dem Oberbegriff des
Patentanspruches 1.
Solche Bewerterschaltungen werden z. B. für Halbleiterspeicher
mit Ein-Transistor-Speicherelementen benötigt, um die gespeicherte Information regenerieren
und auslesen zu können. Bei symmetrischer Anordnung der Speicherelemente eines solchen Halbleiterspeichers
siiid Bewerterschaltungen nach dem Prinzip des Flipflops bekanntlich wegen der damit erzielbaren
günstigen Eigenschaften besonders gut geeignet, vergleiche
z. B. IEEE Journal of Solid-State Circuits,
OcL 75, VoL SC-10, pp. 255-261, Foss R. C Harland R.:
»Peripheral Circuits for One-Transistor Cell-RAM's«. Solche Bewerterschaltungen in Massivsilizium-Technik
haben jedoch einen relativ hohen Leistungsverbrauch, der besonders bei einer großen Anzahl von Bewerterschaltungen,
wie sie beispielsweise bei einem 64 K-Speicherbaustein vorkommen — hier sind 500 bis
1000 Bewerterschaltungen aufzuwenden — ungünstig sind. Wegen der aufgrund des bekanntlich äußerst
geringen Nutz-Siörsignal-Verhältnisses geforderten
Mindestverstärkung eines einzelnen Inverters sind bei der Dimensionierung der Lasttransistoren Grenzen
gesetzt. Damit kann aber der Bewertungsvorgang nicht beliebig schnell durchgeführt werden, wodurch bekanntlich
insbesondere bei Verwendung für Ein-Transistor-Speicherelemente Schwierigkeiten anderer Art entstehen
können. Bewerterschaltungen, die den Vorteil kurzer Schaltzeiten mit dem Vorteil geringer Verlustleistungen
vereinen, konnten bisher nur in CMOS-Technik realisiert werden.
Aus der deutschen Auslegeschrift 22 64 985 ist eine Regenerierschaltung für Binärsignale nach Art eines
getasteten Flipflops mit einem labilen und mit zwei stabilen Punkten und mit rückgekoppelten, invertierenden
Verstärkerstufen mit Schalttransistoren und Lastwiderständen, insbesondere für die gespeicherten
Signale bzw. für die Lesesignale von integrierten Ein-Transistor-Speicherelementen, die ein Speicherfeld
bilden, wobei die Speicherelemente eines Speicherfeldes über eine Digitleitung mit der Regenerierschaltung
verbunden sind, bekannt, die dadurch gekennzeichnet ist, daß die invertierenden Verstärkerstufen durch eine
Inverterschaltung in die Nähe des labilen Punktes der Schaltung einstellbar sind.
Mit dieser bekannten Regenerierschaltung steht eine Schaltungsanordnung zur Verfügung, mit deren Hilfe
kleine Lesesignale auch dann noch richtig bewertet werden können, wenn das Flipflop der Regenerierschaltung
Unsymmetrien aufweist. Sie ist allerdings nicht in Speichern mit symmetrischem Aufbau einsetzbar. Ihre
Struktur ist vielmehr darauf abgestellt, das Flipflop wahlweise monostabil oder bistabil schalten zu können,
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Vorteile bekannter CMOS-Bewerterschaltungen
durch eine Schaltungsanordnung für symmetrisch organisierte Ein-Transistor-Speicherelemente-Anordnungen
zu erreichen, die in bezug auf die Herstellungskosten und die Packungsdichte gegenüber
der CMOS-Technik vorteilhaft ist.
Diese Aufgabe wird durch eine wie eingangs erwähnte Bewerterschaltung gelöst, die durch die im
kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gekennzeichnet ist.
Ein Vorteil der erfindungsgemäßen Bewerterschaltung
besteht darin, daß eine hohe Schaltgeschwindigkeit bei geringer Verlustleistung durch eine kostengünstige
Technik, die außerdem eine große Packungsdichte erlaubt, realisierbar ist.
Die vorliegende Erfindung wird im folgenden anhand
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19772758810 DE2758810C2 (de) | 1977-12-30 | 1977-12-30 | Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19772758810 DE2758810C2 (de) | 1977-12-30 | 1977-12-30 | Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2758810A1 DE2758810A1 (de) | 1979-07-12 |
DE2758810C2 true DE2758810C2 (de) | 1982-05-27 |
Family
ID=6027687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19772758810 Expired DE2758810C2 (de) | 1977-12-30 | 1977-12-30 | Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2758810C2 (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2932605C2 (de) * | 1979-08-10 | 1982-12-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung mit MOS-Transistoren zum raschen Bewerten des logischen Zustandes eines Abtastknotens |
JPS6045499B2 (ja) * | 1980-04-15 | 1985-10-09 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
DE3028754C2 (de) * | 1980-07-29 | 1982-10-28 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Dynamischer Leseverstärker für MOS-Halbleiterspeicher |
-
1977
- 1977-12-30 DE DE19772758810 patent/DE2758810C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2758810A1 (de) | 1979-07-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3841944C2 (de) | ||
DE2324965C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Auslesen eines kapazitiven Datenspeichers | |
DE3102799C2 (de) | Halbleiter-Speichervorrichtung | |
DE69422915T2 (de) | Leseverstärker-organisation | |
DE2414917A1 (de) | Leseverstaerker | |
DE2409058A1 (de) | Regenerierschaltung fuer binaersignale nach art eines getasteten flipflops und verfahren zu deren betrieb | |
DE3034507A1 (de) | Cmos-lese- oder messverstaerker | |
DE10219649C1 (de) | Differentielle Strombewerterschaltung und Leseverstärkerschaltung zum Bewerten eines Speicherzustands einer SRAM-Halbleiterspeicherzelle | |
DE2643020A1 (de) | Schmitt-trigger | |
DE2646653C3 (de) | ||
DE69209498T2 (de) | Referenzspannungsgenerator für dynamischen Specher mit wahlfreien Zugriff | |
DE69523275T2 (de) | Digital-Analogwandlungsgerät mit Einheitsstromdifferentialschaltung und Spannungerzeugungsschaltungen | |
DE2623219A1 (de) | Leseverstaerkerschaltung fuer einen dynamischen mos-speicher | |
DE69426977T2 (de) | Abfühlverstärker mit Hysteresis | |
DE69021273T2 (de) | Integrierte Speicherschaltung mit einem Leseverstärker. | |
DE3886707T2 (de) | Übertragvorgriffsschaltung zur Anwendung in einem Addierer. | |
DE2835692B2 (de) | Binäres logisches ODER-Glied für programmierte logische Anordnungen | |
DE3307756C2 (de) | ||
DE2314015B2 (de) | Signalverstärker | |
EP0005743B1 (de) | Schaltung zum Nachladen des Ausgangsknotens einer Feldeffekt-Transistorschaltung und Anwendung der Schaltungsanordnung als Lastelement in einem Flip-Flop | |
DE1959374C3 (de) | Einspeicherungs- und Ausspeicherungsschaltungsanordnung für eine binäre Halbleiter -Speicherzelle | |
DE2758810C2 (de) | Bewerterschaltung für Halbleiterspeicher | |
DE3855792T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung mit verbesserter Ausgabeschaltung | |
DE2840329C2 (de) | Adreßpuffer in MOS-Technik | |
DE68905658T2 (de) | Schaltung zum Erzeugen eines impulsförmigen Signals. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAM | Search report available | ||
OC | Search report available | ||
OD | Request for examination | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G11C 7/06 |
|
8126 | Change of the secondary classification |
Ipc: ENTFAELLT |
|
D2 | Grant after examination | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |