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DE2606108A1 - Cid- oder bcid-sensoranordnung - Google Patents

Cid- oder bcid-sensoranordnung

Info

Publication number
DE2606108A1
DE2606108A1 DE19762606108 DE2606108A DE2606108A1 DE 2606108 A1 DE2606108 A1 DE 2606108A1 DE 19762606108 DE19762606108 DE 19762606108 DE 2606108 A DE2606108 A DE 2606108A DE 2606108 A1 DE2606108 A1 DE 2606108A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
overflow channel
pixel
sensor arrangement
substrate
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19762606108
Other languages
English (en)
Inventor
Rudolf Dipl Ing Koch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19762606108 priority Critical patent/DE2606108A1/de
Publication of DE2606108A1 publication Critical patent/DE2606108A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14887Blooming suppression
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14862CID imagers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

  • CID- oder BCII)-Sensoranordnung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine CID- oder BCID-Sensoranordnung, bei der auf einer Oberfläche eines mit einem Substratanschluß versehenen Substrats aus dotiertem Halbleitermaterial ein oder mehrere matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordnete, durch Abstände voneinander getrennte Bildpunkte vorhanden sind, wobei jeder Bildpunkt aus mindestens einem Isolierschichtkondensator besteht und bei der die Kondensatorelektroden dieser Isolierschichtkondensatoren in einer jeden Bildpunktzeile (-spalte) elektrisch leitend miteinander verbunden sind.
  • Unter einer CIt-Sensoranordnung (CID steht für Charge Injection Device) versteht man eine Anordnung der eingangs genannten Art, bei der die in den Bildpunkten gespeicherten mformationsladungstrager beim Auslesen in das Substrat injiziert werden.
  • Unter einer BCII)-Sensoranordnung (BCID steht für Buried Channel Charge Injection I)evice) versteht man eine spezielle CII)-Sensoranordnung, bei der die in das Substrat injizierten Ladungsträger von entgegengesetzt zum Substrat dotierten vergrabenen Kanälen aufgenommen werden. Eine CID-Sensoranordnung wird in der Veröffentlichung Charge Injection Imaging" von G.J. Michon und H.K. Burke in 1973 IEEE International Solid State Circuits Conference, S. 138 und 139 beschrieben und dargestellt. Nach Figur 1 dieser Veröffentlichung besteht jeder Bildpunkt aus dem Isolierschichtkondensator (dort mit Vy bezeichnet) und einem dicht daneben angeordneten zusätzlichen Isolierschichtkondensator (dort mit Vx bezeichnet) der mit dem Isolierschichtkondensator durch ein entgegengesetzt zum Substrat dotiertes Gebiet (dort p-Gebiet) gekoppelt ist. Die Kondensatorelektroden der Isolierschichtkondensatoren in einer jeden Bildpunktzeile (-spalte) sind elektrisch leitend miteinander verbunden. Die Kondensatorelektroden der zusätzlichen Isolierschichtkondensatoren in einer jeden Bildpunktspalte (-zeile) sind ebenfalls elektrisch leitend miteinander verbunden. Während der Bildaufnahme werden an beide Kondensatorelektroden eines Bildpunktes solche Spannungen gegenüber Substratpotential angelegt, daß darunter eine Verarmungszone entsteht. In dieser Verarmungszone sammeln sich die vom Licht erzeugten Informationsladungsträger und bilden an der Oberfläche des Substrats eine Inversionsrandschicht.
  • Das Auslesen wird dadurch vorbereitet, daß eine der beiden Kondensatorelektroden eines Bildpunktes in Richtung auf Substratpotential gebracht wird ~wodurch die darunter gespeioherten Informationsladungsträger über das entgegengesetzt zum Substrat dotierte Gebiet unter die andere Kondensatorelektrode abfließen und dort gespeichert werden. Beim Auslesen wird diese andere Kondensatorelektrode ebenfalls mindestens auf Substratpotential gebracht, wodurch die darunter gespeicherten Informationsladungsträger in das Substrat injiziert werden. Der Substratstrom wird zum Auslesesignal weiterverarbeitet.
  • Eine BCID-Sensoranordnung ist in der Veröffentlichung Ihres Terminal Charge Injection Device" von Paul Jespers und Jean-Narie Millet in 1975 IEEE International Solid State Circuits Conference S. 28 und 29 beschrieben und dargestellt. Die Figur 1 auf S. 29 dieser Veröffentlichung zeigt einen Querschnitt durch eine solche Sensoranordnung: Auf einer Oberfläche eines mit einem Substratanschluß versehenen n-dotierten Substrats befinden sich die durch Abstände voneinander getrennten Isolierschichtkondensatoren. Jeder dieser Isolierschichtkondensatoren stellt einen Bildpunkt dar. Unterhalb der Isolierschichtkondensatoren verläuft in einem Abstand zur Substratoberfläche ein vergrabener Kanal in Form eines entgegengesetzt zum Substrat dotierten streifenförmigen Bereiches (in der Veröffentlichung mit Buried Collector bezeichnet). Dieser vergrabene Kanal ist mit einem Aluminiumkontakt als externem Ansohlußkontakt elektrisch leitend verbunden. Die Betriebsweise einer BCII)-Sensoranordnung ist im wesentlichen folgende: Der vergrabene Kanal wird gegenüber dem am Substratanschluß anliegenden Potential in Sperrichtung vorgespannt. Während der Bildaufnahme wird wie bei der CID-Sensoranordnung an die Kondensatorelektrode eines jeden Bildpunktes eine solche Spannung gegenüber Substratpotential angelegt, daß darunter eine Verarmungszone erzeugt wird. Von einfallendem Licht erzeugte Löcher sammeln sich in dieser Verarmungszone an der Substratoberfläche unter der Kondensatorelektrode und bilden wieder eine Inversionsrandschicht. Wie auch bei der CID-Sensoranordnung ist die Ladung dieser Inversionsrandschicht im wesentlichen proportional zur Intensität des einfallenden Lichtes. Beim Auslesen der Information wird wie der der CID-Sensoranordnung die Kondensatorelektrode des betreffenden Bildpunktes mindestens auf Substratpotential gelegt, wodurch die in der Inversionsrandschicht gesammelten Ladungsträger wieder in das Substrat injiziert werden. Diese injizierten Ladungsträger werden aber nun vom negativ vorgespannten vergrabenen Kanal aufgesammelt und der darin erzeugte Strom wird zum Ausgangssignal weiterverarbeitet. In der Figur 5 auf S. 29 dieser Veröffentlichung ist in Draufsicht eine vollständige BCID-Sensoranordnung dargestellt: Im Substrat sind in Abständen nebeneinander verlaufende vergrabene Kanäle (dort Buried Collectors Stripes) vorhanden. Auf der Oberfläche des Substrats ist eine elektrisch isolierende Schicht vorhanden, auf der quer zu den vergrabenen Kanälen in Abständen nebeneinander verlaufende Siliziumstreifen (Silicium-Gate-Stripes) aufgebracht sind. Jede Überkreuzungsfläche eines solchen Streifens mit einem vergrabenen Kanal bildet einen Bildpunkt. Diese Bildpunkte sind also matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordnet, wobei die Kondensatorelektroden der Isolierschichtkondensatoren einer Bildpunktzeile (-spalte) elektrisch leitend miteinander verbunden sind und wobei unter jeder Bildpunktspalte (Zeile) ein vergrabener Kanal verläuft.
  • Eine SCID-Sensoranordnung unterscheidet sich von einer CID-Sensoranordnung im wesentlichen nur durch das Vorhandensein mindestens eines vergrabenen Kanals.
  • Unter einem Isolierschichtkondensator versteht man eine Anordnung, die so aufgebaut ist, daß auf einer Oberfläche eines Substrats aus dotiertem Halbleitermaterial mindestens eine elektrisch isolierende Schicht aufgebracht ist, auf der eine Kondensatorelektrode aus elektrisch leitendem Material aufgebracht ist.
  • Selbstverständlich müssen bei Sensoren der eingangs genannten Art wenigstens in der Nähe der Bildpunkte lichtdurchlässige Stellen vorhanden sein. Zweckmäßigerweise verwendet man, wie dies auch bei den in den Veröffentlichungen angegebenen Sensoranordnungen der Fall ist, für die elektrisch isolierenden Schichten und die Kondensatorelektroden lichtdurchlässiges Material, so daß die Bildpunkte selbst lichtdurchlässig sind.
  • Wie bei anderen optoelektronischen Sensoranordnungen tritt auch bei Sensoranordnungen der eingangs genannten Art Ub#erbestrahlen (Blooming) auf. Unter Überbestrahlen versteht man dabei die Tatsache, daß bei punktweise übermäßig heller Beleuchtung so viele Informationslaeungsträger erzeugt werden, daß ein Teil davon von der Inversionsrandschicht des Bildpunktes an dieser Stelle nicht mehr aufgenommen werden kann.
  • Die überschüssigen Informationsladungsträger wandern durch das Substrat und werden in Bildpunkten mit noch nicht gesättigter Inversionsrandschicht aufgenommen. Dies führt zu störenden Informationsverfälschungen. Im ausgewerteten Bild erscheinen statt des hellen Punktes Streifen und/oder Flecken. Im Extremfall kann das ganze Bild gestört werden. Von den optoelektronischen Sensoranordnungen, die nach dem Prinzip der ladungsgekoppelten Verschiebevorrichtung arbeiten, ist bekannt, daß die überschußladungsträger von Überlaufkanälen aufgenommen und abgeführt werden können. In der Veröffentlichung ~Controle of Blooming in Charge Coupled Images" von W.F.Kosonocki et al.
  • in RCA Revue, Vol. 35, March 1974, S. 3 bis 24 sind solche Sensoranordnungen mit Überlaufkanälen angegeben. Danach besteht ein solcher Uberlaufkanal aus einem entgegengesetzt zum Sub- strat dotierten streifenförmigen Gebiet an der Substratoberfläche, welches an einer Bildpunktreihe in einem Abstand davon entlanggeführt ist (siehe insbesondere Figur 4 auf S. 4, Figur 6 auf S. 10 und Figur 9 auf S. 12 der genannten Veröffentlichung). Der Zwischenraum zwischen der Biidpunktreihe (gleichbedeutend mit dem Übertragungskanal der ladungsgekoppelten Verschiebevorrichtung) und dem Überlaufkanal ist dort durch eine Elektrode überdeckt, mittels der eine feste Potentialschwelle zwischen dem Übertragungskanal und dem Überlaufkanal durch Anlegen einer entsprechenden Spannung an sie einstellbar ist. An den Überlaufkanal selbst wird eine solche Spannung angelegt, daß er von Majoritätsladungsträgern fast völlig ausgeräumt ist. Unter einer Elektrode der ladungsgekoppelten Verschiebevorrichtung können nur so lange Informationsladungsträger (Minoritätsladungsträger) gesammelt werden, bis das Oberflächenpotential unter dieser Elektrode den Wert der Potentialschwelle zwischen ihr und dem Überlaufkanal erreicht hat. Zusätzlich erzeugte Informationsladungsträger fließen nun über diese Schwelle hinweg in den Uberlaufkanal und werden von dort abgeführt.
  • Eine einfache Übernahme des vorstehend beschriebenen Prinzips mit Überlaufkanälen ist jedoch bei den Sensoranordnungen der eingangs genannten Art nicht möglich, weil bei diesen die Informationsladungsträger durch Injektion in das Substrat ausgelesen werden. Mit den vorstehend genannten Schutzvorrichtungen gegen Überbestrahlen würde beim Auslesen ein unzulässig großer Teil der gespeicherten Informationsladungsträger in die Überlaufkanäle abfließen und die gesamte Sensoranordnung untauglich machen.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Schutzvorrichtung gegen Überbestrahlen für Sensoranordnungen der eingangs genannten Art anzugeben.
  • Die Aufgabe wird dadurch gelöst, daß an jedem Bildpunkt ein Überlaufkanal in einem Abstand davon vorbeigeführt ist und daß eine Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen zwischen dem Bildpunkt und dem überlaufkanal vorhanden ist.
  • Vorzugsweise ist eine solche Sensoranordnung so aufgebaut, daß entlang einer jeden Bildpunktzeile und/oder -spalte an wenigstens einer Längsseite ein Überlaufkanal entlanggeführt ist.
  • Vorzugsweise besteht dabei die Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen aus einer streifenförmigen Elektrode, die den gesamten Zwischenraum zwischen der Bildpunktzeile oder -spalte und dem Überlaufkanal überdeckt. Zweckmäßig ist es, wenn der Überlaufkanal zugleich den überlaufkanal für eine an seiner anderen Längsseite entlanggeführte Bildpunktzeile oder -spalte bildet. In diesem Zusammenhang ist es aus Platzersparnisgründen von Vorteil, wenn als Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen ein einziger Elektrodenstreifen verwendet wird, der den gesamten Zwischenraum zwischen den beiden Bildpunktzeieln oder -spalten vollständig überdeckt.
  • Weiter ist es aus Platzersparniagründen allgemein von Vorteil, wenn nur in jedem zweiten Bildpunktzeilenroder -spalten-Zwlschenraum ein Überlaufkanal vorhanden ist und wenn in jedem anderen Bildpunktzeilen-oder -spalten-Zwischenraum eine Sperreinrichtung vorhanden ist, die einen Fluß von Informationsladungsträgern über diesen Bildpunktzeilen- oder-spalten-Zwischenraum hinweg verhindert. Vorzugsweise besteht dabei diese Sperrvorrichtung aus einem gleich dem Substrat, aber dazu hochdotierten streifenförmigen Bereich, der parallel zu den Bildpunktzeilen oder -spalten verläuft.
  • Vorzugsweise ist jeder Überlaufkanal als entgegengesetzt zum Substrat dotierter streifenförmiger Bereich an der Substratoberfläche ausgebildet.
  • Eine vorstehend angegebene CID- oder BCID-Sensoranordnung wird so betrieben, daß die Sensoranordnung selbst und der Überlaufkanal in an sich bekannter Weise betrieben werden, daß während der Bildaufnahme an jede der Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen eine solche Spannung angelegt wird, daß in an sich bekannter Weise eine Überlaufpotentialschwelle darunter erzeugt wird und daß während der Zeitdauer des Auslesens einer Bildpunktzeile (-spalte) eine solche Spannung an die zugehörige(n) Elektrode(n) zum Einstellen variabler Potentialschwellen angelegt wird, daß darunter eine Akkumulationsschicht zwischen den Bildpunkten und dem oder den benachbarten Überlaufkanälen erzeugt wird.
  • Die angegebenen CID- oder BCID-Sensoranordnungen weisen einen Schutz gegen Überbestrahlen auf und kennen trotzdem ohne erhebliche informationsverluse ausgelesen werden. Die Schutzvorrichtung selbst ist ebenso einfach aufgebaut wie die bei anderen Sensoranordnungen schon bekannten Schutzvorrichtungen und benötigt daher bei ihrer Herstellung gegenüber diesen keine zusätzlichen Verfahrensschritte. Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß die Auflösung der CID- oder BCID-Sensoranordnungen gegenüber solchen ohne Schutz gegen überbestrahlen nur unwesentlich vermindert wird. Die Betriebsweise ist höchst einfach und erfordert nur unwesentlichen zusätzlichen Schaltungsaufwand.
  • Die Erfindung wird anhand von zwei Ausführungsbeispielen in den Figuren näher erläutert.
  • Figur 1 zeigt in Draufsicht einen Ausschnitt aus einer CID-Sensoranordnung mit Überlaufkanälen.
  • Figur 2 zeigt einen Querschnitt durch das Ausführungabeispiel nach Figur 1 entlang der Schnittlinie I - I.
  • Figur 3 zeigt in Draufsicht einen Ausschnitt aus einer BCID-Sensoranordnung mit Überlaufkanälen.
  • Figur 4 zeigt einen Querschnitt durch das Ausführungsbeispiel nach Figur 3 entlang der Schnittlinie III - III.
  • In der Figur 1 ist in Draufsicht ein Ausschnitt aus einer CID-Sensoranordnung mit Uberlaufkanälen dargestellt. Auf einer Oberfläche eines Substrats 1 aus dotiertem Halbleitermaterial, beispielsweise p-detiertes Silizium, ist sinne lichtdurchlässige elektrisch isolierende Schicht 2, beispielsweise Siliziumdioxid, aufgebracht. Diese elektrisch isolierende Schicht trägt in Abständen Elektroden 11 bis 16, beispielsweise aus Aluminium, die matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordnet sind. Jeweils Elektroden einer Zeile (Spalte) sind durch je eine Zeilenleitung (Spaltenleitung) 3, 4, beispielsweise aus Aluminium, miteinander elektrisch leitend verbunden. Jede der Elektroden 11 bis 16 bildet die Kondensatorelektrode eines der Isolierschichtkondensatoren. Entlang einer jeden Spalte (Zeile) ist an der-einen Längsseite dicht neben den Elektroden je ein elektrisch leitender Elektrodenstreilen 5, 6, , beispielsweise aus Polysilizium,als Spaltenleitung (Zeilenleitung) entlanggeführt. Jeweils der Bereich eines solchen Streifens neben einer der dicht daneben liegenden Elektroden bildet die Kondensatorelektrode eines der zusätzlichen Isolierschichtkondensatoren.
  • Diese Bereiche sind in der Figur 1 gestrichelt umrahmt eingezeichnet und mit den Bezugszeichen 21 bis 26 versehen. Jedes der Elektrodenpaare 11 und 21, 12 und 22 bis 16 und 26 bildet einen Bildpunkt der Sensoranordnung. Die Zeilenleitungen sind über die Spaltenleitungen geführt und von diesen durch eine hier nicht gezeichnete elektrisch isolierende Schicht getrennt. Die Kopplung der beiden Isolierschichtkondensatoren eines Bildpunktes kann wie in der genannten Veröffentlichung von Michon und Burke durch ein entgegengesetzt zum Substrat dotiertes Gebiet erfolgen. Auf dieses Gebiet kann aber verzichtet werden, wenn man den Zwischenraum zwischen den beiden Kondensatorelektroden hinreichend schmal macht (d.h. so schmal, daß die elektrischen Randfelder der Elektroden beim Betrieb des Sensors über diesen Zwischenraum hinweggreifen) oder sie gar sich überlappen läßt. Entlang einer Längsseite einer jeden Bildpunktspalte (-zeile) ist ein Überlaufkanal 8, 9, 10 in einem Abstand von den Bildpunkten entlanggeführt. In der Figur 1 ist dies die der Spaltenleitung gegenüberliegende Längsseite.
  • Jeder Überlaufkanal besteht aus einem entgegengesetzt zum Substrat dotierten streifenförmigen Bereich, der mit einem hier nicht gezeichneten Anschlußkontakt elektrisch leitend verbunden ist. Der Abstand d zwischen einer Bildpunktspalte (-zeile) und dem überlaufkanal ist von einer streifenförmigen Elektrode 80, 90, 100 zum Einstellen variabler Potentialschwellen, beispielsweise aus Polysilizium, überdeckt.
  • Selbstverständlich muß diese Elektrode vom Substrat und damit dem Überlaufkanal und den Kondensatorelektroden isoliert sein.
  • In der Figur 2 ist nun ein Querschnitt durch das in Figur 1 dargestellte Ausführungsbeispiel entlang der Schnittlinie I - 1 dargestellt. Anhand dieser Figur wird zugleich ein Herstellungsverfahren als Beispiel mit erläutert. Das Substrat 1 besteht aus p-dotiertem Silizium mit einer Dotierung von etwa 1015 com'3. In einer Oberfläche dieses Substrats werden die Überlaufkanäle 8, 9, 10 mittels Diffusion oder Ionenimplantation hergestellt. Als Dotierungsstoff wird vorzugsweise Phosphor verwendet. Die Dotierung wird etwa 1018 bis 102°cm 3 gewählt. Anschließend wird auf der Oberfläche durch Oxidation eine Siliziumdioxidschicht 2 mit einer Schichtdicke von etwa O,12#um erzeugt. Die Oberfläche dieser Schicht wird mit einer Polysiliziumschicht von etwa 0,6/um bedeckt, die anschließend mittels Diffusion oder Ionenimplantation dotiert wird. Als Dotierungsstoff wird vorzugsweise Phosphor verwendet. Die Dotierung wird etwa 1018 bis 1020cm#3 gewählt. Die Polysiliziumschicht wird nun bis auf die Elektrodenstreifen 5, 6, 7 und 80, 90, 100 mit Hilfe einer Ätzmaske weggeätzt.
  • Die so entstandene Oberfläche wird erneut oxidiert, so daß sich die Polysiliziumgebiete mit einer Oxidschicht 20 von 0,12/um Dicke überziehen. Es werden nun an geeigneten Stellen (z.B. an der Peripherie der gesamten Anordnung) Kontaktlöcher zur Kontaktierung der Überlaufkanäle und der Polysiliziumgebiete geöffnet und anschließend mittels Metallbedampfung die Elektroden 11 bis 16 und die sie verbindenden Zeilenleitungen (Spalt-enleitungen) 3, 4 und die Kontakte hergestellt. Beispielsweise kann zum Bedampfen Aluminium verwendet werden. Als Pedampfungsmaske verwendet man vorzugsweise Photolaek.
  • Die Figur 3 zeigt in Draufsicht einen Ausschnitt aus einer BCID-Sensoranordnung. Auf einem Substrat 101 aus dotiertem Halbleitermaterial, beispielsweise p-dotiertes Silizium, ist ebenfalls eine lichtdurchlässige elektrisch isolierende Schicht 102, beispielsweise Siliziumdioxid, aufgebracht. Diese elektrisch isolierende Schicht trägt in Abständen nebeneinander verlaufende Elektrodenstreifen 31 bis 36 aus elektrisch leitendem Material, beispielsweise aus dotiertem Polysilizium. Quer zu diesen Elektrodenstreifen verlaufen in Abständen nebeneinander entgegengesetzt zum Substrat dotierte vergrabene Kanäle 41 bis 43. Ein Bildpunkt der Sensoranordnung ist jeweils durch eine ÜberkreuzungsSläche eines Elektrodenstreifens mit einem darunterliegenden vergrabenen Kanal gegeben. Diese Überkreuzungaflächen sind mit den Bezugszeichen 311 bis 363 versehen. Bis hierher stimmt die angegebene Sensoranordnung vollständig mit der in der genannten Veröffentlichung von Paul Jespers und Jean-Marie Millet, S. 29, Figur 5, überein. In jedem zweiten der Elektrodenstreifen-Zwischenräume 51 bis 55, die den Bildpunktzeilen(-spalten)-Zwischenräumen entsprechen, befindet sich je ein Überlaufkanal. Diese überlaufkanäle sind mit den Bezugszeichen 61 bis 63 versehen. Jeder dieser Überlaufkanäle besteht aus einem entgegengesetzt zum Substrat dotierten streifenförmigen Bereich an der Substratoberfl#che. Jeder dieser Überlaufkanäle ist weiterhin so ausgebildet, daß sein seitlicher Abstand zu den links und rechts davon liegenden Elektrodenstreifen und damit den Bildpunkten vorhanden ist. über jeden der Zwischenräume 51, 53 und 55 ist je eine Elektrode 71, 72 und 73 zum Einstellen variabler Potentialschwellen derart angeordnet, daß jeder der Abstände zwischen Elektrodenstreifenbereich und damit Bildpunktbereich und Überlaufkanal überdeckt ist. Selbstverständlich muß auch hier diese Elektrode vom Substrat und damit dem Überlaufkanal und dem Elektrodenstreifen und damit den Kondensatorelektroden der BildpuSfte elektrisch isoliert sein. Die Überlaufkanäle sind wieder mit einem Anschlußkontakt elektrisch leitend zu verbinden.
  • In der Figur 4 ist ein Querschnitt durch das Ausführungsbei spiel nach Figur 3 entlang der Schnittlinie III - III dargestellt. Anhand dieser Figur wird zugleich wieder ein Herstellungsverfahren mit erläutert. Das Substrat 1 ist so hergestellt, daß eine Oberfläche eines p-dotierten Siliziumsubstrats mit einer Dotierung von etwa 5 x 1014cm 3 in den Bereichen der vergrabenen Kanäle umdotiert wird, wobei eine Dotierung von 1018 bis 102°cm 3 verwendet wird. Vorzugsweise wird dabei Phosphor als Dotierungestoff verwendet. Auf dieser Oberfläche wird eine p-dotierte epitaktische Siliziumschicht mit einer Dotierung von ebenfalls etwa 5 x 10 cm erzeugt. Die Oberfläche dieser Schicht wird in den Bereichen der Elektrodenstreifen-Zwischenräume, unter denen sich keine Überlaufkanäle befinden, hoch p-dotiert, wobei eine Dotierung von beispielsweise 1018 bis 1020cm#3 verwendet wird. Diese hochdotierten Bereiche stellen sogenannte "Channel-Stop-Diffusionen" dar und dienen zur Isolierung und renn.ung der links und rechts von diesen Zwischenräumen liegenden Bildpunkten. In der Figur 4 sind diese Channel-Stop-Diffusionen mit den Bezugszeichen 82 und 84 versehen. Auf der Oberfläche der epitaktischen Siliziumschicht wird eine Siliziumdioxidschicht von einer Schichtdicke von etwa 0,12#um als elektrisch isolierende Schicht 102 erzeugt. Diese Schicht wird mit einer Polysiliziumschicht von einer Schichtdicke von etwa 0,6 /um bedeckt. Durch Wegätzen dieser Schicht an den richtigen Stellen werden daraus die Elektrodenstreifen 31 bis 36 erzeugt. In der Figur 2 sind nur die Elektrodenstreifen 32 bis 35 ganz oder teilweise im Querschnitt dargestellt. Die elektrisch isolierende Schicht wird nun an den Stellen, unter denen sich die vergrabenen Kanäle befinden, weggeätzt. Durch Diffusion werden die Polysiliziumstreifen leitend gemacht und die vergrabenen Kanäle selbst erzeugt. Als Dotierungsstoff wird vorzugsweise Phosphor verwendet und die Dotierung etwa 1018 bis 102°cm 3 gemacht. Die gesamte Oberfläche wird durch Oxidation mit einer zweiten Siliziumdioxidschicht 103 von einer Schichtdicke von etwa 0,3 /um bedeckt. Nach dem Öffnen von Kontaktlöchern für notwendige Kontakte werden die Elektroden zum Einstellen variabler Potentialwerte mittels Metallbedampfung, beispielsweise durch Bedampfen mit Aluminium, hergestellt. In der Figur 2 ist nur die Elektrode 72 gezeichnet.
  • Es sei an dieser Stelle ausdrücklich darauf hingewiesen, daß die in den Figuren dargestellten Sensoranordnungen Ausführungsbeispiele darstellen. Es sind eine Reihe von Varianten im Aufbau möglich. Bei der CID-Sensoranordnung nach Figur i ist es beispielsweise möglich, den überlaufkanal 8 als gemeinsamen überlaufkanal für beide Bildpunktzeilen (-spalten) zu verwenden. Es sind dann die Zeilenleitung 4 und die Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen zu vertauschen.
  • Mit dieser Anordnung kann man eine etwas größere Auflösung erreichen. In einer anderen Variante verlaufen die Überlaufkanäle und die Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen parallel zu den Spaltenleitungen. In diesem Falle ist es wegen der unvermeidlichen überkreuzungen der Zeilenleitungen mit den Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen zweckmäßig, letztere aus Polysilizium und die Elektroden 11 bis 36 aus Aluminium herzustellen, wobei die Aluminiumelektroden den Polysiliziumstreifen überlappen. Denkbar sind auch Ausführungen mit überlaufkanälen parallel zu den Zeilenleitungen und parallel zu den Spaltenleitungen. Eine solche Anordnung würde zwar Vorteile hinsichtlich des Informationsverlustes mit sich bringen, ist aber sehr schwer und nur unter großem Aufwand herzustellen. Im übrigen sind bei den CID-Sensoranordnungen im allgemeinen Channel-Stop-Diffusionen überflüssig.
  • Solche Channel-Stop-Diffusionen könnten im wesentlichen nur für den Fall erforderlich sein, daß eine Anordnung gewählt wird, in der beispielsweise die Elektroden 11 und 12 unmittelbar benachbart sind. Solche Anordnungen werden aber in der Regel vermieden.
  • Bei der in Figur 3 angegebenen BCID-Sensoranordnung sind ebenfalls eine Reihe von Varianten möglich. So können in jedem Bildpunktzeilen(-spalten)-Zwischenraum ein Überlaufkanal und Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen angeordnet werden. Diese Variante erfordert allerdings erheblich mehr Platzbedarf als die in Figur 3 und Figur 4 dargestellte Ausführungsform. Auf die Channel-Stop-Diffusionen im Ausführungsbeispiel nach Figur 4 kann verzichtet werden, wenn der Abstand zwischen den betreffenden Elektroden hinreichend groß gewählt wird. Eine solche Variante wtfrde allerdings ebenfalls erheblich mehr Platzbedarf benötigen.
  • Wie schon erwähnt, müssen die Überlaufkanäle mit einem Anschlußkontakt elektrisch leitend verbunden sein. Jedem einzelnen überlaufkanal einen eigenen Anschlußkontakt zuzuordnen, ist unzweckmäßig, vorteilhaft ist es, alle Überlaufkanäle an einen einzigen Anschlußkontakt anzuschließen. In der Figur 3 geschieht dies in der Weise, daß die überlaufkanäle an einem Rand der Sensormatrix in einen dort entlanggeführten, entgegengesetzt zum Substrat dotierten streifenförmigen Bereich 8, der einen Anschlußkontakt aufweist, einmünden. Auf diese Weise wird nur ein einziges Kontaktloch der Peripherie der Sensormatrix benötigt. Diese Lösung ist für alle Sensoranordnungen, also auch für CID-Sensoranordnungen, geeignet.
  • Allgemein kann der Überlaufkanal statt mit einem streifenförmigen dotierten Bereich auch durch eine an eine geeignete Spannung gelegte Elektrode über einer elektrisch isolierenden Schicht realisiert werden. Eine solche Variante erfordert aber im allgemeinen einen hohen Herstellungsaufwand.
  • Die CID- und SCID-Sensoranordnungen mit überlaufkanälen werden in an sich bekannter Weise betrieben.(siehe die entsprechenden angegebenen Veröffentlichungen). Während der Bildaufnahme (bei der CID-Sensoranordnung auch während der Phase, in der das Auslesen vorbereitet wird) werden an die Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen Spannungen angelegt, die geeignete Potentialschwellenwerte tg zwischen den Bildpunkten und den Überlaufkanälen erzeugen. An jeden überlaufkanal wird andauernd eine Spannung angelegt, die ihn von Majoritätsladungsträgern fast oder ganz ausräumt. Unter den entsprechenden Kondensatorelektroden der Bildpunkte können nur so viele durch Licht erzeugte Informationsladungsträger aufgenommen und gespeichert und gespeichert werden, bis das Oberflächenpotential in den Bildpunkten den Schwellenwert s erreicht. Zusätzlich erzeugte Ladungsträger fließen über die Schwelle hinweg in den überlaufkanal ab. In den in den Figuren angegebenen Ausführungsbeispielen sind eine Spannung von beispielsweise 10 Volt gegenüber Substratpotential für die Kondensatorelektroden und eine Spannung von +2 Volt gegenüber Substratpotential für die Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen geeignet. Beim Auslesen eines oder mehrerer Bildpunkte wird in an sich bekannter Weise die betreffende Kondensatorelektrode mindestens auf Substratpotential gebracht, wodurch die darunter gespeicherten Informationsladungs-,.träger in das Substrat inäiziert werden. Gleichzeitig wird mindestens an die den betreffenden Bildpunkten unmittelbar benachbarten Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen eine solche Spannung angelegt, daß in den Zwischenräumen zwischen den Bildpunkten und dem überlaufkanal eine abschirmende Akkumulationsschicht erzeugt wird, die verhindert, daß die in das Substrat injizierten Informationsladungsträger in den Überlaufkanal gelangen können. In den in den Figuren angegebenen Ausführungsbeispielen ist dafür eine Spannung von etwa -2 Volt gegenüber Substratpotential geeignet. Bei dem in Figur 5 und Figur 4 gezeigten Ausführungsbeispiel wird die Potentialechwelle jeweils für zwei Bildpunktzeilen (-spalten) gemeinsam eingestellt.
  • Es darf dabei während des Auslesens der einen Bildpunktzeile (-spalte) in der anderen nur so viel Ladung erzeugt werden, daß die Potentialmulden darunter-nicht überlaufen. Wird in einer Variante jeder Bildpunktzeile (-spalte) eine eigene Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen zugeordnet, so tritt dieses Problem nicht auf. Diese Lösung erfordert jedoch einen erheblich höheren Platzbedarf.
  • 10 Patentansprüche 4 Figuren L e e r s e i t e

Claims (10)

  1. ratentansprüc he SJCID- oder BCII?-Sensoranordnung, bei der auf einer Oberfläche eines mit einem Substratanschluß versehenen Substrats aus dotiertem Halbleitermaterial ein oder mehrere matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordnete, durch Abstände voneinander getrennte Bildpunkte vorhanden sind, wobei jeder Bildpunkt aus mindestens einem Isolierschiohtkondensator besteht und bei der die Kondensatorelektroden dieser Isoliersohicbtkondensatoren in einer jeden Bildpunktzeile (-spalte) elektrisch leitend miteinander verbunden sind, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß an jedem Bildpunkt ein Überlaufkanal ( 8,9,10,61, 62,63) in einem Abstand davon vorbeigeführt ist, und daß eine Elektrode ( 80,90,100,71,72,73) zum Einstellen variabler Potentialschwellen zwischen dem Bildpunkt und dem Überlaufkanal vorhanden ist.
  2. 2. CID- oder BCID-Sensoranordnung nach Anspruch 1, dadurch g e k e n n z e i o h n e t , daß entlang einer jeden Bildpunkt zeile und/oder Bildpunktspalte an wenigstens einer Längs-Seite ein Überlaufkanal entlanggeführt ist.
  3. 3. CID- oder.-BCID-Sensoranordnung nach Anspruch 2, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß die Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen aus einer streifenförmigen Elektrode besteht, die den gesamten Zwischenraum zwischen der Bildpunktzeile und/oder Bildpunktspalte und dem Überlaufkanal überdeckt.
  4. 4. CID- oder BCID-Sensoranordnung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß der Überlaufkanal zugleich den Überlaufkanal für eine auf der anderen Seite entlanggeführte Bildpunktzeile und/oder Bildpunktspalte bildet.
  5. 5. CID- oder BCID-Sensoranordnung nach Anspruch 4, dadurch g e -k e n n z e i c h n e t , daß als Elektrode zum Einstellen variabler Potentialschwellen ein einziger Elektrodenstreifen (71, 72, 73) verwendet wird, der den gesamten Zwischenraum zwischen den beiden Bildpunktzeilen oder Bildpunktspalten vollständig überdeckt.
  6. 6. CID-oder BCID-Sensoranordnung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch g e k e n n z e i c b n e t , daß nur in jedem zweiten Bildpunktzeilen- oder -spalten-Zwischenraum ein Uberlaufkanal vorbanden ist.
  7. 7. BCID-Sensoranordnung nach Anspruch 6, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß in jedem anderen Bildpunktzeilen- oder -spalten-Zwischenraum eine Sperreinrichtung vorhanden ist, die einen pluß von Informationsladungsträgern über diesen Bildpunktzeilen(-spalten)-Zwischenraum hinweg verhindert.
  8. 8. SCID-Sensoranordnung nach Anspruch 7, dadurch g e k e n t -z e i c h n e t , daß diese Sperrvorrichtung aus einem gleichartig wie das Substrat, aber höher dotierten streifenförmigen Bereich, der parallel zu den Bildpunktzeilen oder -spalten verläuft, besteht.
  9. 9.CID- oder BCII)-Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß jeder Uberlaufkanal als entgegengesetzt zum Substrat dotierter streifenförmiger Bereich an der Substratoberfläche ausgebildet ist.
  10. 10. Ver£ahren zum Betrieb einer CID- oder BCID-Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch g e k e n n z e i c h -n e t , daß die Sensoranordnung selbst und der Überlaufkanal in an sich bekannter Weise betrieben werden, daß während der Bildaufnahme an jede der Elektroden zum Einstellen variabler Potentialschwellen eine solche Spannung angelegt wird, daß in an sich bekannter Weite eine t}beriaufpotentialschwelle darunter erzeugt wird und daß während der Zeitdauer des Auslesens einer Bildpunktzeile (-spalte) eine solche Spannung an die zugehörige(n) Elektrode(n) zum Einstellen variabler Potentialschwellen angelegt wird, daß darunter eine Akkumulationsschicht zwischen den Bildpunkten und dem oder den benachbarten ttberlaufkanälon erzeugt wird.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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