DE2511923C3

DE2511923C3 - Circuit arrangement for functional testing and fault localization of flat groups

Info

Publication number: DE2511923C3
Application number: DE19752511923
Authority: DE
Inventors: Helmut 6454 Bruchkoebel Neumann
Original assignee: Telefonbau und Normalzeit GmbH
Current assignee: Tenovis GmbH and Co KG
Priority date: 1975-03-19
Filing date: 1975-03-19
Publication date: 1981-11-12
Also published as: DE2511923B2; DE2511923A1

Description

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung auf fehlerhaften Flachbaugruppen in vorwiegend binärer Logik in einer Anlage.The invention relates to a circuit arrangement for functional testing and fault localization for faulty ones Flat modules in predominantly binary logic in a system.

In der Vermittlungstechnik geht man immer stärker dazu über, dezentral gesteuerte Vermittlungsanlagen durch zentral gesteuerte, elektronisch arbeitende Anlagen zu ersetzen. Während bei älteren Vermittlungsanlagen die Steuerung im wesentlichen durch eine Vielzahl von Relais übernommen wurde, wird dies nun durch eine zentrale Steuerung bewirktIn switching technology, there is an increasing trend towards decentralized switching systems to be replaced by centrally controlled, electronically operating systems. While with older switching systems control was essentially taken over by a large number of relays, this will now be the case caused by a central control

Bei allen Vorteilen, die eine derartige zentrale elektronisch arbeitende Steuerung bringt ist sie doch in ihrer Arbeitsweise recht komplex und die Funktion einzelner Schaltelemente ist für einen Revisor oft nicht mehr ohne weiteres zu erkennen. Hinzu kommt daß zum einen die Schaltung elektronisch arbeitender Vermittlungsanlagen recht umfangreich ist, während zum anderen eine derartige Schaltung während eines Arbeitsablaufs unzählige Zustände einnehmen kann, die sich grafisch auf Schaltplänen nicht mehr sinnvoll aufzeichnen lassen. Es besteht daher das grundlegende Problem, einem Revisor für Vermittlungsanlagen ein Mittel an die Hand zu geben, mit welchem er auch bei den oben geschilderten neuartigen Vermittlungsanlagen in die Lage versetzt wird, in relativ einfacher Weise direkt an einer zu prüfenden Anlage eine Funktionsprüfung vornehmen zu können oder bestimmte Fehler zu lokalisieren.For all the advantages that such a central electronic control system brings, it is in their way of working is quite complex and the function of individual switching elements is often not for an auditor more easily recognized. In addition, on the one hand the circuit works electronically Switching systems is quite extensive, while on the other hand such a circuit during a Workflow can take on countless states that no longer make sense graphically on circuit diagrams let record. There is therefore the fundamental problem of having an auditor for a switching system To give means at hand, with which he also with the above-described new switching systems is enabled to perform a function test in a relatively simple manner directly on a system to be tested to be able to make or to localize certain errors.

Die Vermittlungsanlagen sind regelmäßig aus einzelnen steckbaren Flachbaugruppen aufgebaut, die durch mit elektronischen Bauelementen bestückte Leiterplatten gebildet sind. Aus der DE-AS 15 37 848 ist es bekannt zur Überwachung der ordnungsgemäßen Arbeitsweise und Ansteuerung einer Einrichtung zu dieser eine gleiche Einrichtung zusätzlich parallel zu betreiben und die Ausgangssignale der beiden parallelarbeitenden Einrichtungen miteinander zu vergleichen. Weichen die beiden Ausgangssignale voneinander ab, so muß entweder das Eingangssignal einer der beiden Einrichtungen oder deren Funktionsweise gestört sein. FJne derartige Verdopplung der einzelnen Einrichtungen ist aber in der Regel in großen Schaltungsanordnungen aus Kosten- und Platzgründen nicht möglich.The switching systems are regularly built up from individual plug-in flat modules, which through printed circuit boards equipped with electronic components are formed. From DE-AS 15 37 848 it is known to monitor the proper functioning and control of a facility to operate the same device in parallel and to compare the output signals of the two devices working in parallel with one another. If the two output signals differ, either the input signal must be one of the two Facilities or their functionality may be disrupted. No such duplication of the individual institutions but is usually not possible in large circuit arrangements for reasons of cost and space.

Außerdem läßt wegen der möglicherweise verschiedenen Eingangssignale der beiden Einrichtungen die Abweichung ihrer Ausgangssignale nur einen bedingten Rückschluß auf ihre Funktionstüchtigkeit zu. Ganz abgesehen davon, läßt sich in diesem Falle auch nicht sagen, welche der beiden Einrichtungen fehlerhaft arbeitetAlso leaves because of the possibly different Input signals of the two devices, the deviation of their output signals only conditional Conclusion about their functionality. Quite apart from that, it cannot be done in this case either say which of the two facilities is malfunctioning

Aus der DE-AS 11 91 437 ist es bekannt, elektronische Bauelemente auf ihre Funktionstüchtigkeit dadurch zu überprüfen, daß dem zu überprüfenden Bauelement ein als Normal dienendes Bauelement parallel geschaltet wird und beide an einen Sender angeschlossen sind. Die Ausgangssignale der beiden Bauelemente werden dann zueinander ins Verhältnis gesetzt, wobei aus dem sich ergebenden Verhältnis ein Rückschluß auf die Qualität des zu prüfenden Bauelementes möglich istFrom DE-AS 11 91 437 it is known electronic To check components for their functionality by the fact that the to be checked Component a component serving as a standard is connected in parallel and both to a transmitter are connected. The output signals of the two components are then related to each other set, whereby from the resulting ratio a conclusion about the quality of the component to be tested is possible

Nachteilig bei dieser bekannten Schaltungsanordnung ist es, daß mittels dieser Schaltungsanordnung immer nur ein einziges Bauelement geprüft werden kann, welches zudem nicht rückwirkungsfrei mit dem als Normal dienenden Bauelement gekoppelt ist Dieses Prüfungsverfahren ist somit im wesentlichen nur für passive Bauelemente geeignet Auch werden in diesem Falle an den verwendeten Sender erhebliche Anforderungen gestellt, damit nicht durch einen Kurzschluß am Eingang des Prüflings der Sender zerstört wird oder trotz dieses offensichtlichen Fehlers am Prüfling an beiden Bauelementen das gleiche (vernachlässigbar kleine) Ausgangssignal erscheintThe disadvantage of this known circuit arrangement is that by means of this circuit arrangement only a single component can be tested, which is also not retroactive with the as Normally serving component is coupled. This test method is therefore essentially only for Passive components suitable In this case, too, considerable demands are placed on the transmitter used set so that the transmitter is not destroyed by a short circuit at the input of the test object or Despite this obvious error on the test item, the same on both components (negligible small) output signal appears

Das in der DE-AS 11 91 437 beschriebene Verfahren ist insbesondere dann nicht geeignet, wenn statt eines Bauelements eine aktiv wirkende Flachbaugruppe verwendet wird und wenn zusätzlich noch verlangt wird, daß während des Prüfvorganges die Anlage ordnungsgemäß weiterarbeiten soll, zu der die fehlerhafte Flachbaugruppe gehörtThe method described in DE-AS 11 91 437 is particularly unsuitable when instead of a component an actively acting flat module is used and if it is additionally required that the system is properly operated during the test process should continue to work to which the faulty printed circuit board belongs

Aus der DE-AS 11 62 427 ist es bekannt mehrere Bauelemente nacheinander mit einem geeigneten Signal zu beaufschlagen und das sich ergebende Ausgangssignal mit einem Sollwert zu vergleichen. Dieses bekannte Verfahren arbeitet selbsttätig und ist damit relativ schnell, bedingt aber einen recht hohen Aufwand, da sämtliche Meßwerte in gespeicherter Form vorliegen müssen. Das gleiche gilt für die Toleranzwerte. Soweit mit dem bekannten Verfahren ständig immer wieder eine relativ kleine Anzahl von Meßwerten gemessen wird, bringt dieses Verfahren sicherlich erhebliche Vorteile. Sollen aber eine oder mehrere fehlerhafte Flachbaugruppen einer großen elektronisch arbeiten- so den Anlage überprüft werden, so bringt dieses bekannte Verfahren eine Reihe von Nachteilen.From DE-AS 11 62 427 it is known several To apply a suitable signal to components one after the other and the resulting output signal to compare with a target value. This known method works automatically and is therefore relative fast, but requires a lot of effort, since all measured values are available in stored form have to. The same applies to the tolerance values. So much with the known method over and over again If a relatively small number of measured values is measured, this method certainly brings considerable benefits Advantages. But if one or more faulty flat modules of a large one should work electronically - so the system are checked, this known method has a number of disadvantages.

Zum einen sind die Sollwerte schwer festzulegen, da die Anlagen vielfach unter unterschiedlichen Bedingungen betrieben werden. Zum anderen variieren die Werte an den einzelnen Meßpunkten während des Betriebes der Anlage ständig, so daß deren Vergleich mit einem statischen Sollwert keine sinnvollen Rückschlüsse mehr zuläßt. ' .On the one hand, the setpoints are difficult to set because the systems are often under different conditions operate. On the other hand, the values vary at the individual measuring points during operation the system constantly, so that comparing it with a static setpoint no longer makes any meaningful conclusions allows. '.

Aus der DE-OS 22 62 504 ist eine Schaltungsanordnung zum Prüfen von im Betrieb befindlichen logischen Schaltungen bekannt, bei der einer zu prüfenden logischen Schaltung eine ordnungsgemäß arbeitende Bezugsschaltung parallel geschaltet wird. Die zuletzt genannte Offenlegungsschrift beschäftigt sich mit dem Problem, wie die noch im steuernden Betrieb befindliche zu prüfende logische Schaltung auch dann mit der Bezugsschaltung verglichen werden kann, wenn die mit den Ausgangssignalen der Bezugsschaltung zu vergleichenden Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung durch außerhalb der zu prüfenden Schaltung liegende Einflüsse abgeändert werden. Die bekannte Schaltungsanordnung weist insofern Nachteile auf, als für den Fall, daß die zu prüfende Schaltung tatsächlich Fehler besitzt diese weiterhin auch während des Prüfverfahrens auf die Gesamtanlage einwirken können.From DE-OS 22 62 504 a circuit arrangement is known for testing logic circuits in operation, in the case of which one is to be tested logic circuit a properly working reference circuit is connected in parallel. The last mentioned patent application deals with the problem of how that is still in the controlling operation logic circuit to be tested can also be compared with the reference circuit if the with the output signals of the reference circuit to be compared to output signals of the circuit to be tested can be modified by influences outside the circuit to be tested. The known circuit arrangement has disadvantages in that the circuit to be tested actually has faults these can continue to have an effect on the entire system during the test procedure.

Aus der Literaturstelle »h ρ Meßtechnik News« Heft Mai/Juni 1972, S. 7, rechte Spalte, ist es bekannt innerhalb einer Schaltungsanordnung einzelne ICs auf ihre Arbeitsfähigkeit dadurch zu untersuchen, daß das zu bewertende IC zusammen mit einem Bezugs-IC auf einen sogenannten Komparator aufgesteckt und dieser dann dem zu prüfenden IC parallel geschaltet wird. Abgesehen davon, daß auch hier wieder das möglicherweise fehlerhafte, zu prüfende IC auch während des Prüfungsvorgangs weiterhin auf die Gesamtanlage einwirkt muß der Komparator mit einer relativ aufwendigen Steuereinrichtung versehen sein, welche aufgrund eines vorgegebenen Ablaufdiagramms die einzelnen Meßpunkte der beiden ICs miteinander vergleichtIt is known from the literature reference "h ρ Meßtechnik News", May / June 1972, p. 7, right column to examine individual ICs within a circuit arrangement for their ability to work in that the IC to be assessed is attached to a so-called comparator together with a reference IC and this then connected in parallel to the IC to be tested. Apart from the fact that that again possibly defective IC to be tested continues to affect the entire system during the test process acts, the comparator must be provided with a relatively complex control device, which the individual measuring points of the two ICs with each other on the basis of a given flow chart compares

Aus der DE-OS 20 43 139 ist es schließlich bekannt, mittels eines anstelle einer zu prüfenden Baugruppe einsteckbaren Prüfadapters einzelne Meßpunkte einer zu prüfenden Baugruppe zugängig zu machen, indem die Baugruppe auf den eingesteckten Prüfadapter selbst aufgesteckt wird. Ein Vergleich mit einer zweiten Baugruppe findet hier allerdings nicht stattFrom DE-OS 20 43 139 it is finally known by means of an assembly to be tested instead of a insertable test adapter to make individual measuring points of an assembly to be tested accessible by the Module is plugged onto the inserted test adapter itself. A comparison with a second Assembly does not take place here, however

Die Erfindung geht daher aus von einer Schaltungsanordnung zur Bestimmung von fehlerhaften Einheiten (z. B. ICs oder auch Leiterplatten) in einer eine Vielzahl solcher Einheiten aufweisenden Anlage, wobei die elektrischen Werte einer als Normal dienenden Einheit mit elektrischen Werten der zu prüfenden Einheit verglichen werden und bei abweichendem Ergebnis eine Anzeige gegeben wird.The invention is therefore based on a circuit arrangement for determining defective units (z. B. ICs or printed circuit boards) in a system having a large number of such units, the electrical values of a unit serving as a standard with electrical values of the unit to be tested Unit can be compared and a display is given if the result deviates.

Aufgabe der Erfindung ist es, Revisoren der bezeichneten Anlage eine Schaltungsanordnung der genannten Art an die Hand zu geben, durch welche steckbare Leiterplatten auf fehlerhaft arbeitende Anschlüsse überprüft werden können und dabei die Anlage mit der ordnungsgemäß arbeitenden Leiterplatte zusammenarbeitet.The object of the invention is to provide auditors of the specified system with a circuit arrangement mentioned type to give hand, through which pluggable circuit boards on faulty working Connections can be checked while keeping the system with the properly working circuit board cooperates.

Die Aufgabe wird durch die in dem Hauptanspruch angegebene Merkmalskombination gelöst Die Erfindung besteht also im Prinzip darin, die ordnungsgemäße Leiterplatte direkt mit den entsprechenden Anschlüssen der Anlage zu verbinden und gleichzeitig die zu prüfende Leiterplatte von der Anlage in geeigneter Weise zu entkoppeln. Dabei gehen dann Prüfleitungen von einer Vergleichseinrichtung ab, die die paarweise Abtastung miteinander zu vergleichender Meßstellen auf den beiden Leiterplatten gestatten.The object is achieved by the combination of features specified in the main claim. The invention So basically consists in connecting the proper circuit board directly with the appropriate connections to connect the system and at the same time the circuit board to be tested from the system in a suitable Way to decouple. Test leads then go from a comparison device, which pairs the Allow scanning of measuring points to be compared with one another on the two circuit boards.

Der Vorteil der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung liegt u. a darin, daß die möglicherweise fehlerhafte, gerade zu prüfende Leiterplatte nicht durch ihre Ausgangssignale auf die Anlage während des Prüfvorganges zurückwirken kann und somit den Schaltungsablauf innerhalb der Anlage verfälscht, was nicht nur eine fehlerhafte Wirkungsweise der Anlage selbst sondern auch u. U. des Prüfablaufs zur Folge haben kann.The advantage of the circuit arrangement according to the invention is, inter alia, that the possibly faulty circuit board to be tested is not transmitted to the system during the Test process can have an effect and thus falsify the circuit sequence within the system, what This not only results in a faulty operation of the system itself but also, under certain circumstances, of the test sequence may have.

Hinsichtlich der gestörten Leiterplatte wirkt die Anlage somit wie ein Prüfsender. Dies ist insofern zulässig, als die Anlage wegen des Einsatzes der ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe (Leiter-With regard to the faulty circuit board, the system thus acts like a test transmitter. This is so permissible than the system due to the use of the properly working flat module (conductor

platte), wieder in der vorgeschriebenen Weise arbeitet Die beiden parallel betriebenen und in ihrem Aufbau übereinstimmenden Flachbaugruppen werden nun miteinander verglichen. Dabei werden jeweils zwei einander entsprechende Meßstellen auf den Flachbaugruppen abgetastet und die anliegenden Signale auf eine Vergleichseinrkhtung gegeben. Soweit diese Signale, die sich durchaus zeitabhängig ändern können, miteinander, zumindest in bestimmten Grenzen übereinstimmen, läßt sich sagen, daß wenigstens an dieser Meßstelle die gestörte Flachbaugruppe ordnungsgemäß arbeitet Durch eine sinnvolle Auswahl der Meßstellen kann somit der Revisor relativ schnell das gestörte Bauelement auf der Flachbaugruppe ausfindig machen.plate), works again in the prescribed manner The two operated in parallel and in their structure Matching printed circuit boards are now compared with one another. There are two corresponding measuring points are scanned on the printed circuit boards and the signals present on a Comparison unit given. As far as these signals, which can change depending on time, with each other, agree at least within certain limits, it can be said that at least at this measuring point the faulty printed circuit board is working properly By a sensible selection of the measuring points thus the auditor can find the faulty component on the printed circuit board relatively quickly.

Vorteilhafterweise ist die Wirkungsweise der erfindungsgernäBen Schaltungsanordnung auch dann noch sinnvoll, wenn außer der gerade geprüften Flachbaugruppe noch weitere Flachbaugruppen in der Anlage gestört sind In diesem Fall muß damit gerechnet werden, daß von der Anlage zu den beiden miteinander zu vergleichenden Flachbaugruppen abgegebene Ausgangssignale nicht vorschriftsmäßig sind. Da aber diese möglicherweise unvorschriftsmäßigen Signale auf beide Flachbaugruppen gleichzeitig einwirken, sollten sie auch auf beiden Flachbaugruppen, soweit sie störungsfrei sind, die gleichen Meßwerte bedingen. Es lassen sich aber auch mehrere erfindungsgemäße Schaltungsanordnungen gleichzeitig einsetzen, so daß möglicherweise unerlaubte, fehlerhafte Messungen bedingende Zustände der Anlage von vornherein ausgeschlossen werden können.The mode of operation is advantageously that of the invention Circuit arrangement also makes sense if apart from the flat module that has just been tested other flat modules in the system are disturbed. In this case, this must be expected that output signals emitted by the system to the two printed circuit boards to be compared with one another are not in accordance with regulations. However, since this could cause improper signals to both Flat modules act at the same time, they should also act on both flat modules, insofar as they are fault-free require the same measured values. However, several circuit arrangements according to the invention can also be used use at the same time, so that possibly forbidden, erroneous measurements conditions the system can be excluded from the outset.

Um die Arbeitsweise der Vergleichseinrichtung zu verbessern, welche die einander entsprechenden elektrischen Werte auf den beiden Leiterplatten miteinander vergleicht empfiehlt es sich in Weiterbildung der Erfindung eine sich aus Anspruch 2 ergebende Merkmalskombination anzuwenden. Hierdurch wird zum einen nur dann eine Meldung gegeben, wenn eine Ungleichheit zwischen den betreffenden Meßwerten auftritt wobei die Meldung auch noch davon abhängig gemacht wird, daß die Unterschiede zwischen den Meßwerten bestimmte Toleranzen überschreiten, da die zu der Vergleichseinrichtung übertragenen, miteinander zu vergleichenden Meßwerte zueinander verzögert dort eintreffen können und da geringfügige Amplitudenabweichungen der Meßwerte einer Leiterplatte diese nicht unbedingt funktionsuntüchtig machen müssen.In order to improve the operation of the comparison device, which the corresponding electrical Comparing values on the two circuit boards with each other is recommended in continuing education Invention to use a combination of features resulting from claim 2. This will On the one hand, a message is only given if there is an inequality between the relevant measured values occurs whereby the message is also made dependent on the differences between the Measured values exceed certain tolerances, since those transmitted to the comparison device are mutually exclusive Measured values to be compared can arrive there with a delay and there may be slight amplitude deviations the measured values of a printed circuit board do not necessarily have to make them inoperable.

Der Toleranzprüfer kann dabei in vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung derart ausgestattet sein, daß der Vergleicher bei Ungleichheit der verglichenen Signale ein Steuersignal abgibt, dessen Dauer der Größe der Ungleichheit entspricht Die Dauer des Signals wird über ein UND-Glied mit der einstellbaren Verzögerungseinheit einer monostabilen Kippstufe verglichen. Die Verzögerungszeit entspricht also der vorgebbaren Toleranz. Überschreitet die Dauer des Steuersignals die Verzögerungszeit so wird Alarm ausgelöstIn an advantageous development of the invention, the tolerance tester can be equipped in such a way that that the comparator emits a control signal when the compared signals are inequality, the duration of which is the The size of the inequality corresponds to the duration of the signal via an AND element with the adjustable Compared delay unit of a monostable multivibrator. The delay time therefore corresponds to specifiable tolerance. If the duration of the control signal exceeds the delay time, an alarm is triggered triggered

Wie weiter unten noch erläutert wird, kann das Zwischenglied derart ausgestaltet sein, daß es in seinem mit den beiden Flachbaugruppen versehenen Zustand so breit ist daß es sich nicht mehr in die Anlage einstecken läßt da der vorgesehene Raum nur für eine einzige Flachbaugruppe bemessen ist Hier kann in vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung Abhilfe dadurch geschaffen werden, daß zwischen die Anlage und das Zwischenglied ein im wesentlichen die Abmessungen der Flachbaugruppe aufweisendes Verlängerungsglied geschaltet istAs will be explained below, the intermediate member can be designed such that it is in his with the two flat modules provided state is so wide that it is no longer in the system You can plug in the space provided for only one only flat module is dimensioned. This can be remedied in an advantageous embodiment of the invention be created in that between the system and the intermediate member a substantially Dimensions of the flat module having extension member is switched

Hinsichtlich der Entkoppler ist es besonders vorteilhaft wenn sowohl erste als auch zweite Entkopplungsmittel vorgesehen sind. Wie weiter oben schon erläutert, werden diese Entkoppler nur in die Verbindungen zwischen den Steckerkontakten des Zwischengliedes und die Leistenkontakte geschaltet, die der gestörten Flachbaugruppe zugeordnet sind. Dabei wird vorzugsweise in jeder der zueinander parallel laufendenIt is particularly advantageous with regard to the decoupler when both first and second decoupling means are provided. As already explained above, these decouplers are only used in the connections between the plug contacts of the link and the strip contacts that are assigned to the faulty printed circuit board are switched. It is preferred in each of the parallel running

ίο Verbindungen ein Verstärker geschaltet, dessen Eingang zu dem zugehörigen Steckkontakt und dessen Ausgang zu dem zugehörigen Leistenkontakt gerichtet ist Auf diese Weise wird verhindert, daß die Eingänge der gestörten Flachbaugruppe auf die Anlage und dieίο connections an amplifier switched whose input directed to the associated plug contact and its output to the associated strip contact In this way it is prevented that the inputs of the faulty flat module on the system and the

is Eingänge der Normflachbaugruppe zurückwirken können. Diese Entkopplung reicht aber für die Ausgänge der gestörten Flachbaugruppe nicht aus. Bei zu den Ausgängen dieser Baugruppe führenden Verbindungen ist zusätzlich jeweils ein zweites Entkopplungsmittel vorgesehen, das in einfacher Weise in einer Unterbrechung der Verbindung besteht Die ersten und ggf. zweiten Entkopplungsmittel liegen in jeder Verbindung in Reihe, wobei vorzugsweise die Unterbrechung zwischen dem Verstärker und dem Leistenkontakt angeordnet ist Es sind somit die Ausgänge der fehlerhaft arbeitenden Baugruppe durch die zweiten Entkopplungsmittel vollkommen von der Anlage abgetrennt Die zweiten Entkopplungsmittel lassen sich günstig durch ein Rangierfeld darstellen, welches beispielsweise mit abziehbaren Kurzschlußsteckern oder mit einsteckbaren Schnüren gebildet sein kann.is inputs of the standard flat module can have a retroactive effect. However, this decoupling is not sufficient for the outputs of the faulty flat module. At to the The connections leading to the outputs of this assembly are each additionally provided with a second decoupling means provided, which consists in a simple manner in an interruption of the connection. second decoupling means are in series in each connection, preferably the interruption is arranged between the amplifier and the strip contact It is thus the outputs of the malfunctioning assembly completely from the system by the second decoupling means separated The second decoupling means can be represented favorably by a patch panel, which can be formed, for example, with removable short-circuit plugs or with insertable cords.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung erläutert. Darin zeigt
F i g. 1 in stark vereinfachter Darstellung ein Zwischenglied, ein Verlängerungsglied sowie zwei miteinander zu vergleichende Flachbaugruppen,An exemplary embodiment of the invention is explained below with reference to the drawing. In it shows
F i g. 1 in a greatly simplified representation an intermediate link, an extension link and two flat modules to be compared with one another,

Fig.2 in vereinfachter räumlicher Darstellung ein Zwischenglied mit Flachbaugruppen, Entkopplungsmitteln, Vergleichseinrichtung und Verlängerungsglied,2 in a simplified three-dimensional representation, an intermediate element with flat modules, decoupling means, Comparison device and extension link,

F i g. 3 in vereinfachter symbolischer Darstellung die Vergleichseinrichtung,F i g. 3 in a simplified symbolic representation the comparison device,

F i g. 4 ein Beispiel für eine Fehlersuchstrategie und
F i g. 5 ein Schema für die Festlegung der Toleranzen. In Fig.1 ist ganz links ein Teil der Anlage A dargestellt, von der im wesentlichen nur die Steckerleiste L 3 mit den Leistenkontakten L3Kl,L3K2,L3K3 usw. bis L3Kn zu sehen ist Diese Leistenkontakte der Steckerleiste L 3 sind fiber ein Verbindungsglied VG mit den Steckkontakten S3K1, S3K2,S3K3 des SteckersF i g. 4 shows an example of a troubleshooting strategy and
F i g. 5 a scheme for defining the tolerances. In Figure 1 a part of the system A to the left is shown, from the essentially only the power strip L 3 with the strip contacts L3K3 etc. to see to L3Kn L3Kl, L3K2, this ridge contacts of the connector strip L 3 are fiber a connecting member VG the plug contacts S3K 1, S3K2, S3K3 of the plug

so 53 von einem Zwischenglied ZG durchverbunden. Die Verbindung erfolgt über Verbindungsleitungen VLi, VL2, VL3usw.bis yLüindemVerlängenjnpglied VG, wobei die Verbindungsleitungen von den Steckkontakten des Stecken 54 zueinander parallel zu den entsprechenden Leistenkontakten der Kontaktleiste L 4 verlaufen. Jede der einzelnen Steckkontakte S3Ki, S3K2, S3K3 usw. bis S3Kn ist einmal mit einem entsprechenden Leistenkontakt L2K\, L2K2, L2K3 usw. bis LIKn der Leiste L2 und zum anderen jeweils mit einem Leistenkontakt LiKi, LiK2, LIK3 usw. bis LiKn der Leiste Li auf dem Zwischenglied ZG verbunden. Die Verbindung zu den Kontakten der Leiste L1 erfolgt über Entkoppkr VS1, VS2, VS3 usw. bis KSn sowie weitere Entkoppler Ui, 1/2, U3 usw. bis Un, so daß diese Verbindungen Vl, V2, V3 bis Vn zur Leiste Li stark entkoppelt sind. Aus Gründen der beseren Übersichtfichkert sind die einzelnen Stecker 51 bis 54 nicht in die gemäß der Fig. 1 zugehörigenso 53 through-connected by an intermediate link ZG. The connection is made via connecting lines VLi, VL2, VL 3 etc. to yLüindemVerlängenjnpglied VG, the connecting lines from the plug contacts of the plug 54 running parallel to each other to the corresponding strip contacts of the contact strip L 4. Each of the individual plug-in contacts S3Ki, S3K2, S3K3 etc. to S3Kn is once with a corresponding bar contact L2K \, L2K2, L2K3 etc. to LIKn of bar L2 and on the other hand with a bar contact LiKi, LiK2, LIK3 etc. to LiKn of the bar Li connected on the intermediate link ZG . The connection to the contacts of the bar L 1 is made via Entkoppkr VS 1, VS2, VS3 etc. to KSn and further decouplers Ui, 1/2, U3 etc. to Un, so that these connections V1, V2, V3 to Vn to the bar Li are strongly decoupled. For the sake of clarity, the individual plugs 51 to 54 are not included in those associated with FIG. 1

Steckerleisten Li bis L 4 eingesteckt. Alle Stecker 51 bis 54 sind gleichartig ausgestaltet: das gleiche gilt auch für die Kontaktleisten L 1 bis L 4, so daß jeder Stecker zu jeder Kontaktleiste paßt.Plug strips Li to L 4 plugged in. All plugs 51 to 54 are designed in the same way: the same also applies to the contact strips L 1 to L 4, so that each plug fits every contact strip.

In der Steckerleiste L 2 steckt ein entsprechender Stecker 52 mit den Steckerkontakten 52/Cl, S2K2, S2K3 usw. bis S 2Kn. Dieser Stecker ist mit einer ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe OAF verbunden, die als Norm-Flachbaugruppe dient und voraussetzungsgemäß über das Zwischenglied ZC und das Verlängerungsglied VG ordnungsgemäß mit der Anlage A zusammenarbeitet. Mit der Steckerleiste L1 ist ein Stecker 51 mit seinen Steckkontakten SiKi, SiK2, SiK3 usw. bis SiKn befestigt, der die zu prüfende Flachbaugruppe ZPF trägt, welche Ursprunglieh mittels ihres Steckers 51 und der Kontaktleiste L 3 direkt mit der Anlage verbunden war, wobei allerdings die Anlage A einen gestörten Betrieb aufwies. Dieser gestörte Betrieb ist nun, nachdem die Norm-Flachbaugruppe OAF direkt mit der Anlage, die zu prüfende Flachbaugruppe ZPF aber nur über die Entkoppler mit der Anlage A zusammenarbeitet, nicht mehr gegeben, da wegen der Entkoppler die Störungen auf der Flachbaugruppe ZPF nicht mehr auf die Anlage einwirken können. Die Entkoppler bestehen zum einen aus ersten Entkopplungsmitteln VSI, V52, V53 usw. bis VSn, die durch Verstärker gebildet sind und zum anderen aus zweiten Entkopplungsmitteln Ui, LJ2 usw. bis Un, die durch Unterbrechungen der Verbindungen Vl, V2, V3 usw. bis Vn dargestellt sind. Soweit die Kontakte SiKi, SiK2, SiK3 usw. bis SiKn Eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe bilden, sind diese nur durch die Verstärker VS1, VS2, VS3 usw. bis VSn entkoppelt. Die entsprechenden Ausgänge an der Kontaktleiste L 3 der Anlage A können also über die Verstärker VS auf die Eingänge der zu prüfenden Flachbaugruppe einwirken, da bei den zu diesen Eingängen gehörenden Verbindungen V die zweiten Entkopplungsmittel l/nicht eingeschaltet sind.A corresponding plug 52 with the plug contacts 52 / Cl, S2K2, S2K3 etc. up to S 2Kn is plugged into the connector strip L 2. This plug is connected to a properly functioning flat module OAF , which serves as a standard flat module and, as required, works properly with the system A via the intermediate link ZC and the extension link VG . A plug 51 with its plug contacts SiKi, SiK 2, SiK3 , etc. to SiKn is attached to the plug connector L 1, which carries the flat module ZPF to be tested, which was originally connected directly to the system by means of its plug 51 and the contact strip L 3, however, the installation A showed a disrupted operation. This disrupted operation is no longer given after the standard flat module OAF works directly with the system, but the flat module ZPF to be tested only works with system A via the decoupler, since the interference on the flat module ZPF no longer occurs because of the decoupler the system can act. The decouplers consist on the one hand of first decoupling means VSI, V52, V53 etc. to VSn, which are formed by amplifiers and on the other hand of second decoupling means Ui, LJ2 etc. to Un, which are interrupted by the connections V1, V2, V3 etc. to Vn are shown. Insofar as the contacts SiKi, SiK2, SiK3 etc. to SiKn form inputs of the printed circuit board to be tested, these are only decoupled by the amplifiers VS1, VS2, VS3 etc. to VSn. The corresponding outputs on the contact strip L 3 of the system A can thus act on the inputs of the printed circuit board to be tested via the amplifier VS, since the second decoupling means I / are not switched on in the connections V belonging to these inputs.

Dies gilt aber nicht für die Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe ZPF, die von den entsprechenden Eingängen an der Kontaktleiste L 3 der Anlage A durch zweite Entkopplungsmittel U abgetrennt sind, welche aus Unterbrechungen bestehen.However, this does not apply to the outputs of the flat module to be tested ZPF, which are separated from the corresponding inputs on the contact strip L 3 of the system A by second decoupling means U , which consist of interruptions.

In F i g. 1 ist angenommen, daß an den Steckerkontakten SiKi und SiKn sich Eingänge und an den Steckerkontakten SiK2, SiK3 Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe ZPFbefinden. Dementsprechend sind auf den Verbindungen Vl und Vn die Unterbrechungen Ui und Un durch Überbrückung ausgeschaltet, während sie in den Verbindungen V2 und V3 beispielsweise durch Ziehen eines Kurzschlußstekkers eingeschaltet sind. Wegen der Unterbrechung i/2 und 1/3 können also die genannten Ausgänge der zu prüfenden Flachbaugruppe nicht auf die Eingänge L3K2 und L3K3 einwirken, während dies nicht für die Ausgänge S2K2, S2K3 oder ordnungsgemäß arbeitenden Flachbaugruppe gilt, die direkt mit diesen Eingängen verbunden sind. Auf diese Weise läuft die zu prüfende Flachbaugruppe mit der ordnungsgemäßen Flachbaugruppe mit, ohne durch Fehler den Arbeitsablauf der Anlage A zu stören. In Fig. 1 it is assumed that the connector contacts SiKi and SiKn have inputs and the connector contacts SiK2, SiK3 have outputs of the flat module to be tested ZPF. Accordingly, the interruptions Ui and Un are switched off on the connections Vl and Vn by bridging, while they are switched on in the connections V2 and V3, for example by pulling a short-circuit plug. Because of the interruption i / 2 and 1/3, the named outputs of the flat module to be tested cannot affect the inputs L3K2 and L3K 3, while this does not apply to the outputs S2K2, S2K3 or properly working flat modules that are directly connected to these inputs are. In this way, the flat module to be tested runs with the correct flat module without disturbing the work flow of system A through errors.

In Fig.2 sind noch wesentliche Teile der Fig. 1 perspektivisch dargestellt Stecker und Kontaktleisten sind in verbundenem Zustand gezeigt, wobei allerdings der Stecker S4 des Verbindungsgliedes VG ohne die zugehörige Leiste L 3 der Anlage gezeigt ist Die weiter oben beschriebenen entkoppelnden Verstärker VS1 bis VSn sind mittels Karten ebenfalls auf das Zwischenglied aufgesteckt. Weiterhin ist ein Rangierfeld gezeigt, welches es ermöglicht, die Anschaltung der zweiten Entkopplungsmittel an die jeweilige Ausgestaltung der gerade zu prüfenden Flachbaugruppen anzupassen, indem auf dem Rangierfeld RF entsprechend der Lage der Ausgänge auf der zu prüfenden Flachbaugruppe Kurzschlußstecker gezogen oder gesteckt werden.In FIG. 2, essential parts of FIG. 1 are shown in perspective. Plugs and contact strips are shown in the connected state, although the plug S4 of the connecting element VG is shown without the associated strip L 3 of the system. The decoupling amplifiers VS1 to VSn described above are also attached to the pontic by means of cards. Furthermore, a patch panel is shown, which enables the connection of the second decoupling means to be adapted to the respective configuration of the flat modules to be tested by pulling or plugging short-circuit plugs on the patch panel RF according to the position of the outputs on the flat module to be tested.

Weiter oben wurde schon erläutert, daß während des Prüfvorgangs die beiden Flachbaugruppen OAF und ZPFmiteinander parallel arbeiten, so daß es möglich ist, durch Vergleich der Signalverläufe an einander entsprechenden Meßstellen AiS auf den beiden Flachbaugruppen Fehlerstellen auf der Flachbaugruppe ZPF zu finden. Hierzu werden vorzugsweise durch Anklemmen zweier Prüfspitzen an miteinander vergleichbare Meßstellen die zu vergleichenden Signale auf eine Vergleichseinrichtung VE gegeben, die in Fig.2 ebenfalls in Form einer auf das Zwischenglied ZG aufgesteckten Karte dargestellt ist Die Vergleichseinrichtung VE selbst ist mit einem Vergleicher V sowie einem Alarmgerät AG versehen, welches wiederum einen Toleranzprüfer TP enthält. Einzelheiten der Vergleichseinrichtung VE werden weiter unten beschrieben. It has already been explained above that the two flat modules OAF and ZPF work in parallel with each other during the test so that it is possible to find fault locations on the flat module ZPF by comparing the signal curves at corresponding measuring points AiS on the two flat modules. These preferably two by clamping test probes to mutually comparable measuring points, the added signals to be compared in a comparison device VE, which is shown in Figure 2 also in the form of an attached to the intermediate member ZG map comparison means VE itself is connected to a comparator V, and an alarm device AG provided, which in turn contains a tolerance tester TP . Details of the comparison device VE are described further below.

Bei den miteinander zu vergleichenden Signalen, die über die Meßleitungen ML zu der Vergleichseinrichtung VE gelangen, handelt es sich nicht um statische sondern im wesentlichen um dynamische Signale, die durch den Arbeitsablauf der störungsfrei arbeitenden Anlage bedingt sind.The signals to be compared with one another, which arrive at the comparison device VE via the measuring lines ML , are not static, but essentially dynamic signals which are caused by the operational sequence of the fault-free system.

Die beiden beispielsweise durch eine Kette von Impulsen gebildeten Signale kommen (siehe Fig.3) über die Meßleitungen zu den beiden getrennten Eingängen des Vergleichers V. Dieser Vergleicher ist nicht Gegenstand der Erfindung und soll hier nicht näher erläutert werden. Er kann beispielsweise aus einem TTL-Baustein bestehen, wie er unter der Nummer SN 74 86 im Handel erhältlich ist Der Vergleicher V gibt an seinem Ausgang ein Steuersignal SS ab, dessen Dauer im wesentlichen proportional dem zeitlichen Abstand zweier vergleichbarer Impulsflanken der beiden miteinander zu vergleichenden Signale ist Dabei wird ein Steuersignal SS ausgesendet unabhängig davon, ob die Impulsflanke des Signals der OAFder entsprechenden Impulsflanke der ZPFfolgt oder dieser vorangeht In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist somit die Dauer des Steuersignals ein Maß für den Abstand zweier miteinander vergleichbarer Impulsflanken der beiden Signale. Wie aus Fig.3 ersichtlich, schaltet das Steuersignal SS eine monstabile Kippstufe MK, deren invertierter Ausgang mit einem UND-Glied UG verbunden ist während der zweite Eingang dieses Gliedes ebenfalls von dem Steuersignal beaufschlagt wird. An dem Ausgang dieses UND-Gliedes UG erscheint nur dann ein Signal, wenn das Steuersignal SS noch wirksam ist die Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe MK aber bereits abgelaufen ist Dabei muß dafür gesorgt werden, daß die monostabile Kippstufe nur durch die Anstiegsflanke des Steuersignals SS eingeschaltet werden kann. Das Ausgangssignal UG gelangt auf einen Eingang einer bistabilen Kippstufe BK, welche eine mit einer Spannungsquelle SQ verbundenen Lampe L einschaltet Die Einschaltung der Lampe zeigt also an, daß die Dauer des Steuersignals SS einen die Verzögerungszeit MK überschreitenden Wert aufweist Durch diese Verzögerungszeit ist also ein Toleranzwert festgelegt bei dessenThe two signals formed, for example, by a chain of pulses (see FIG. 3) come via the measuring lines to the two separate inputs of the comparator V. This comparator is not the subject of the invention and will not be explained in more detail here. It can consist, for example, of a TTL module, as is commercially available under the number SN 74 86. The comparator V emits a control signal SS at its output, the duration of which is essentially proportional to the time interval between two comparable pulse edges of the two to be compared Signals is A control signal SS is sent out regardless of whether the pulse edge of the signal of the OAF follows or precedes the corresponding pulse edge of the ZPF.In the present embodiment, the duration of the control signal is a measure of the distance between two comparable pulse edges of the two signals. As can be seen from FIG. 3, the control signal SS switches a monstable multivibrator MK, the inverted output of which is connected to an AND element UG , while the second input of this element is also acted upon by the control signal. A signal only appears at the output of this AND element UG if the control signal SS is still effective, but the delay time of the monostable multivibrator MK has already expired. It must be ensured that the monostable multivibrator is only switched on by the rising edge of the control signal SS can. The output signal UG arrives at an input of a bistable multivibrator BK, which switches on a lamp L connected to a voltage source SQ . Switching on the lamp thus indicates that the duration of the control signal SS has a value that exceeds the delay time MK . This delay time is therefore a tolerance value fixed at his

Unterschreitung kein Alarm erfolgt. Die Überprüfung auf Toleranzwerte erfolgt unabhängig von der Form und der Periodizität der vorzugsweise impulsförmigen, miteinander zu vergleichenden Signale.If the value falls below the limit, there is no alarm. The check for tolerance values is independent of the shape and the periodicity of the preferably pulse-shaped signals to be compared with one another.

Ist durch Aufleuchten der Lampe L oder irgendeines anderen Anzeigers eine Abweichung der beiden Signale festgestellt worden, so kann der Fehler durch eine geeignete Strategie eingekreist werden, wie weiter unten noch beschrieben wird. Nach Registrierung der Störungsanzeige durch die Lampe L kann diese mittels eines Rückstellkontaktes R über die bistabile Kippstufe BK wieder gelöscht werden, woraufhin ein weiterer Vergleich gegebenenfalls zwischen anderen Meßstellen erfolgen kann.If a discrepancy between the two signals has been detected by the lighting up of the lamp L or some other indicator, the error can be circled by means of a suitable strategy, as will be described further below. After the fault indication has been registered by the lamp L , it can be deleted again by means of a reset contact R via the bistable flip-flop BK , whereupon a further comparison can be made, if necessary, between other measuring points.

In Fi g. 4 ist eine günstige Strategie zur Lokalisierung von Fehlern unter Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens dargestellt Fig.4 zeigt einen Auszug aus einem Schaltplan, in dem die Gatter G1 bis G14 mit ihren Verbindungsleitungen dargestellt sind. Bei der Oberprüfung der Flachbaugruppe muß nun der Revisor bestrebt sein, als erstes einen gestörten Ausgang Ag zu Finden und dann von diesem aus die Meßstellen MS allmählich zu den zugeordneten Eingängen E hin zu verlegen. In Fig.4 sind einzelne Meßpunkte (MS\ bis MS13) dargestellt, wie sie bei dem angenommenen Fehler von dem Revisor in vorteilhafter Reihenfolge abgetastet werden würden. Es versteht sich von selbst, daß die Abtastung der einzelnen Meßpunkte MS1 bis MS13 auf den beiden miteinander zu vergleichenden Rachbaugruppen gleichzeitig geschieht, wobei ein Meßstellenpaar nach dem anderen angetastet wird. Ausgehend von dem gestörten Ausgang Ag, der beispielsweise durch den Steckkontakt 51 K 2 des Steckers 51 gebildet sein kann, wird erst die Meßstelle MS 1 überprüft, die wie durch eine dick herausgezeichnete Leitungslinie angedeutet ist, als fehlerhaft befunden wird, während angenommen werden soll, daß bei den dünn herausgezeichneten Leitungen der Revisor mittels der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung keinen Fehler Findet Nach der Meßstelle MS1 tastet der Revisor nacheinander die Eingänge der vorangegangenen Bauelemente (hier der Gatter Gt, G 2, G 3) ab bis er schließlich zu dem Meßpunkt MS12 (Eingang des Gatters GIl) kommt. Da beide Eingangssignale des Gatters G11 keine Fehler aufweisen, das Ausgangssignal von G11 aber falsch ist, muß entweder das Gatter GIl selbst oder dessen Ausgangsleitung fehlerhaft beschaltet sein, wobei — wie hier angenommen werden soll — der Fehler in einem Kurzschluß der Ausgangsleitung liegtIn Fi g. 4 shows a favorable strategy for localizing errors using the method according to the invention. FIG. 4 shows an extract from a circuit diagram in which the gates G1 to G14 are shown with their connecting lines. When checking the printed circuit board, the auditor must first try to find a faulty output Ag and then gradually relocate the measuring points MS to the assigned inputs E from this. In FIG. 4, individual measuring points (MS 1 to MS 13) are shown as they would be scanned by the auditor in an advantageous sequence in the event of the assumed error. It goes without saying that the scanning of the individual measuring points MS 1 to MS13 on the two rake assemblies to be compared with one another takes place simultaneously, one measuring point pair being touched after the other. Starting from the disturbed output Ag, which can be formed, for example, by the plug contact 51 K 2 of the plug 51, the measuring point MS 1 is checked first, which, as indicated by a thick line line, is found to be faulty, while it should be assumed that the auditor does not find an error with the thin lines drawn out by means of the circuit arrangement according to the invention. After the measuring point MS 1, the auditor successively scans the inputs of the previous components (here the gates Gt, G 2, G 3) until he finally reaches the measuring point MS 12 (Entrance of the gate GIl) comes. Since both input signals of the gate G11 have no errors, but the output signal of G11 is wrong, either the gate GIl itself or its output line must be wired incorrectly, whereby - as should be assumed here - the error is a short circuit of the output line

In Fig.5 ist noch schematisch die Wirkung des Toleranzprüfers anhand eines SOLL-Signals dargestellt, das mit unterschiedlichen IST-Signalen /57" 1 bis IST4 verglichen wird. Die in ihrer Länge ständig gleichbleibende Verzögerungszeit der monostabilen Kippstufe nach Fig.3 ist jeweils durch einen Pfeil gleichbleibender Länge angedeutet, wobei dieser Pfeil jeweils mit der zuerst ansteigenden oder zuerst abfallenden Flanke beginnt Hinsichtlich des Signals ISTt beginnt die Verzögerungszeit mit der Anstiegsflanke dieses Signals, (da die Flanke des Signals SOLL erst später kommt) und mit der Abstiegsflanke des Signals SOLL· Umgekehrtes gilt für das Signal ISTZ Da der Abstand der Anstiegsflanken bzw. Abstiegsflanken voneinander kleiner als die Länge des Pfeils VZ ist, wird bei diesen beiden ersten IST-Signalen kein Alarm ausgelöst.
Was anderes gilt allerdings für die beiden Signale IST3, IST4, bei denen der Abstand ihrer Anstiegs- bzw. Abstiegsflanken gegenüber den entsprechenden Flanken des Signals SOLL größer als die Dauer der Verzögerungszeit ist. Bei diesen beiden Signalen wird also Alarm ausgelöst. Dabei ist es nicht nötig, daß sowohl die Anstiegs- als auch die Abstiegsflanke einen zu großen Abstand von der entsprechenden Flanke des SOLL-Signals hat. Es genügt allein ein zu großer Abstand auf der Anstiegs- oder Abstiegsseite, um schon Alarm auszulösen. Wie weiter oben schon erläutert, werden die Eingangssignale ES von der Anlage abgegeben.In FIG. 5, the effect of the tolerance checker is also shown schematically on the basis of a target signal which is compared with different ACTUAL signals / 57 "1 to IST4. The delay time of the monostable multivibrator according to FIG An arrow of constant length is indicated, whereby this arrow begins with the first rising or first falling edge. With regard to the ISTt signal, the delay time begins with the rising edge of this signal (since the edge of the SOLL signal comes later) and with the falling edge of the SOLL signal · The opposite applies to the ISTZ signal. Since the distance between the rising and falling edges is smaller than the length of the arrow VZ , no alarm is triggered for these first two IST signals.
What is different, however, applies to the two signals IST3, IST4, in which the distance between their rising and falling edges relative to the corresponding edges of the signal SOLL is greater than the duration of the delay time. With these two signals an alarm is triggered. It is not necessary that both the rising and falling edges are too far apart from the corresponding edge of the DESIRED signal. Too great a distance on the ascent or descent side is enough to trigger an alarm. As already explained above, the input signals ES are emitted by the system.

Es ist nicht unbedingt notwendig, daß immer nur einzelne Meßpunkte manuell abgegriffen werden. Im Rahmen der Erfindung können auch gleichzeitig mehrere Meßpunkte, gegebenenfalls auch automatisch miteinander verglichen werden. Die Toleranz sollte bei elektronisch gesteuerten Vermittlungsanlagen nicht kleiner als 100 ns (Nanosekunden) gewählt werden, so daß in Systemen mit Grundtaktfrequenzen bis 10 MHz eine optimale Fehlereingrenzung durchgeführt werden kann. Auch Amplitudenunterschiede können bei den beiden miteinander zu vergleichenden Signalen ausgewertet werden, etv/a indem die Amplitude des Steuersignals proportional der Spannungsdifferenz der beiden miteinander zu vergleichenden Signale gewählt wird. In diesem Fall kann beispielsweise die Ansprechschwelle eines TTL-Bausteins zur Auswertung dieses Amplitudenunterschiedes und zur entsprechenden Alarmgebung eingesetzt werden.It is not absolutely necessary that only individual measuring points are tapped manually. in the Within the scope of the invention, several measuring points can also be used at the same time, possibly also automatically be compared with each other. The tolerance should not be with electronically controlled switching systems less than 100 ns (nanoseconds) can be selected, so that in systems with basic clock frequencies up to 10 MHz an optimal fault isolation can be carried out. Differences in amplitude can also occur in the two signals to be compared are evaluated, etv / a by the amplitude of the Control signal selected proportional to the voltage difference between the two signals to be compared will. In this case, for example, the response threshold of a TTL module can be used to evaluate this Amplitude difference and can be used for the corresponding alarm generation.

Die Signalverfolgung erfolgt zweckmäßigerweise rückwärts, also entgegen der Signalrichtung des zu prüfenden Signals in der Schaltung. Dabei werden vorteilhafterweise zunächst die Ausgänge nacheinander getestet, bis mindestens ein Ausgang einen Fehler anzeigt. Als nächstes sind, ausgehend von diesem Ausgang die Eingänge des Bauelementes zu testen, an dem der Fehler erstmals gemessen wurde. Sind die Eingänge fehlerfrei, so kann nur das Bauelement selbst bzw. die am gestörten Ausgang liegende Leitung der Fehlerort sein. Zeigt mindestens ein Eingang einen Fehler, so ist dieser »Zweig« weiter zu verfolgen und in gleicher Weise wie oben zu verfahren, bis der Fehlerort ermittelt istThe signal tracking is expediently carried out backwards, i.e. against the signal direction of the to test signal in the circuit. The outputs are advantageously first one after the other tested until at least one output indicates an error. Next are, starting from this Output to test the inputs of the component on which the error was first measured. Are the Inputs error-free, only the component itself or the line connected to the disturbed output can Be the fault location. If at least one input shows an error, this "branch" must be followed up and in Proceed in the same way as above until the location of the fault has been determined

Sind mehrere Ausgänge fehlerhaft, so ist noch nicht bewiesen, daß auch mehrere Fehlerorte auf der zu prüfenden Flachbaugruppe existieren, denn es kann ein einziger Fehler auf dieser Baugruppe auf mehrere Ausgänge ausstrahlen.If several outputs are faulty, it has not yet been proven that there are also several fault locations on the The PCB to be tested exist because a single fault on this module can affect several Broadcast outputs.

Es sind daher nach Beseitigung des Fehlers alle Ausgänge zu überprüfen, da hierdurch mehrere anfangs gestörte Ausgänge fehlerfrei geworden sein können. Es ist auch darauf zu achten, daß bei dynamischen Messungen nach jeder Vergleichsmessung mindestens die vorher gestörte Funktion erneut vollkommen abläuftAfter the error has been eliminated, all outputs must therefore be checked, as this will result in several at the beginning disturbed outputs may have become error-free. It must also be ensured that with dynamic measurements after each comparison measurement, at least the previously disturbed function runs completely again

Anstatt durch manuelle Rückstellung mittels einer Rückstelltaste kann das Alarmgerät auch gegebenenfalls automatisch zurückgestellt werden.Instead of a manual reset using a reset button, the alarm device can also if necessary automatically reset.

Hierzu 2 Blatt ZeichnungenFor this purpose 2 sheets of drawings

Claims

Patent claims:

1. Circuit arrangement for determining faulty Units in a multi-unit system, with electrical values a unit serving as a standard with the electrical values of the unit to be tested be compared and if the result is different, a notification is given, characterized in that

that in a manner known per se in the system (A) instead of the unit to be tested, formed by a plug-in printed circuit board (ZPF), a known intermediate element (ZG), which has a connector strip (Li) to accommodate the printed circuit board to be tested (Zf79 , is plugged in,

that the intermediate member (ZG) also has a connector strip (Li) to accommodate the printed circuit board (OAF) serving as a standard, that mutually corresponding connector points (L XK 1, L2K2 or LXK 2, L2K2 etc.) of the strips (Li, L 2) in pairs, if necessary via a decoupling device (VSi to VSn, Ui to Un) to the electrical connection points (S3K 1 to 53ATn; of the intermediate link (ZG) in the system (A) and
that from a comparison device (VE ) connected to the intermediate element (ZG) two test lines (ML) for pairwise scanning of corresponding measuring points (MS) on the printed circuit boards (OAF, ZPF) to be compared.

2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that an alarm device (AG ) assigned to the comparison device (VE) is provided with a tolerance tester (TP) which prevents the transmission of an alarm caused by the control signal of the comparison device (VE) for as long as this Control signal does not exceed a certain value corresponding to a predetermined deviation of the measured values.

3. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that the tolerance tester (TP) is provided with a monostable multivibrator (MK) , the delay time of which is compared by means of an AND element (UG) with the duration of the control signal (SS) which forms the variable, wherein the AND element (UG) emits an alarm signal (AS) in the alarm device when the duration of the control signal (SS) Ak exceeds the delay time

4. Circuit arrangement according to one of claims 1 to 3, characterized in that between the system (A) and the intermediate member (ZG) an extension member (VG) having substantially the dimensions of a printed circuit board is connected.

5. Circuit arrangement according to one of claims 1 to 4, characterized in that the decoupling device CVS1 - VSn, U 1 - Un) is formed by first and second decoupling means (VS 1 - VSn, U 1 to Un) , that the first decoupling means is amplifier (VS X - VSn) , which are connected in the individual connections (Vi-Vn) between the plug contacts (S3K X-S3Kn) and the strip contacts (LiKi-LXKn) assigned to the flat module to be tested (ZPF) , with the amplifier inputs connected the plug contacts (S3K X-S3Kn) are connected, that the second decoupling means are interruptions (Ui-Un) of the connections (VX-Vn) and that each for the printed circuit boards to be tested (ZPF) provided rail contact

(LtKi-LXKn) a first decoupling device (VSi-VSn) is assigned and a second decoupling device (Ui-Un) is assigned to the strip contacts (LiKi-LiKn) belonging to the outputs of the printed circuit board to be tested, each of which is assigned a first decoupling device (VSi and VSn) is connected in series

6. Circuit arrangement according to claim 5, characterized in that the intermediate member (ZG) is provided with a jumper field (RF) to create the interruptions (Ui-Un)

7. Circuit arrangement according to claim 6, characterized in that the patch panel (RF) is formed by removable short-circuit plugs or by cords