DE2419157B2 - Metallischer traeger fuer halbleiterbauelemente und verfahren zu seiner herstellung - Google Patents
Metallischer traeger fuer halbleiterbauelemente und verfahren zu seiner herstellungInfo
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Description
60
Die Erfindung bezieht sich auf einen metallischen Träger für Halbleiterbauelemente, der mehrere Kontaktfahnen
und auf diesen eine metallische Bondschicht aufweist.
Metallische Träger der vorbeschriebenen Art werden zur Halterung von Halbleiterbauelementen, bcispiels-
65 weise aus Silizium, Germanium oder anderen halbleitenden
Stoffen in denen durch besondere Behandlungsprozesse die zur Ausübung von Schaltfunktionen notwendigen
Strukturen erzeugt s.nd. verwendet. Diese metallischen
Träger weisen eine Insel auf, die das Halbleiterbauelement trägt. Mit den Kontaktfahnen des metallischen
Trägers werden die Anschlußstellen des ha.bleiiers
mittels .ehr feiner Drähte aus Gold oder
Aluminium, deren Dicke üblicherweise zwischen 10 und
50 um liegt durch Bonden verbunden. Zu diesem Zweck befindet si.~h auf den Kontaktfahnen eine metallische
Bondschicht. Die elektrische Verbindung zwischen Halbleiterbauelement und Bondschicht erfolgt, unerwähnt
über einen dünnen Draht entweder nach dem Verfahren der Thermokompression, also durch Andriikken
des Drahtes auf die zu bondende Stelle bei gleichzeitiger Erwärmung, oder nach dem Ultraschall-Bondverfahren
(vgl. Lewicke A.: Neue Knnvicklungsrichtungen
in der Dickfilmtechnik. In; Mikroelektronik j (Vorträge zur 3. Mikroelektronik-Tagung des INEA in
München vom 11. bis 13. November 1968). Hrsg. von L Steipe, München/Wien 1969. Seiten 163 bis 176). Ls ist
bekanm, die Bondschichten auf den späteren Kontaktfahnen durch Walzplattieren. Galvanisieren (DT-OS
21 27 633) oder Aufdampfen aufzubringen. Das galvanische
Verfahren, das bei der Herstellung von Halbleiterträgern in der Praxis in betrachtlichem Umfang
eingesetzt wird, ermöglicht nur noch schwer eine kontinuierliche Fertigung. Außerdem müssen die
galvanisch hergestellten Bondbereiche immer unverhältnismäßig groß sein, weil im Randbereich nur eine
allmähliche Abnahme der Schichtdicke auf den Wert 0 erreicht werden kann. Des weiteren ist es auf
galvanischem Wege nicht möglich, die Zusammensetzung der Bondschicht in solch weiten Grenzen /u
variieren, wie es in der vorliegenden Erfindung gefordert wird. Diese galvanisch, durch Aufdampfen
oder Aufplat'ieren aufgebrachten Bondschichten sind auf Grund des angewendeten Aufbringungsverfahrens
sehr kompakt, so daß die Gefahr besteht, daß der dünne
Draht beim Einreiben in die Bondschicht bricht oder Risse erhält. Außerdem stören z. B. beim Walzplattieren
die bei dem Walzvorgang aufgebrachten Fremdschichten (Walzhaut), die die Verwendungsmöglichkeit des
fertigen Bauelements stark beeinträchtigen können und bei "mechanischer Einwirkung seine Zuverlässigkeit
herabsetzen. Darüber hinaus ist mit den bekannten Verfahren zum Aufbringen der Bondschicht ein nicht
unerheblicher Edelmetallverbrauch verbunden, so daß diese Verfahren die Herstellung der Bondschicht an
diskreten Stellen der Kontaklfahnen nicht in wirtschaftlicher Weise gestatten. Der metallische Träger wird
üblicherweise aus einem Band ausgestanzt, dessen eine Oberfläche wenigstens teilweise mit der Bondschicht
versehen ist. Aus diesem Band wird dann der metallische Träger mit seinen Kontaktfahnen gestanzt, wobei ein
Teil des mit Bondschicht aus Edelmetall versehenen Bandes als Stanzabfall anfällt. Die Rückgewinnung des
Edelmetalls aus diesem Stanzabfall ist mit zusätzlichen Kosten verbunden.
Aufgabe der Erfindung ist es, einerseits eine Bondschicht zu schaffen, die es gestattet, das Bonden,
also Verbinden der feinen Drähtchen mit der Bondschicht, zu erleichtern und qualitativ zu verbessern, und
andererseits soll ein Verlust an hochwertigem Bondmetall vermieden werden.
Für einen metallischen Träger der eingangs charakterisierten Art kennzeichnet sich die Lösung dieser
Aufgabe dadurch, daß die Bondschicht eine schwammartige, mikroporöse Struktur besitzt und an diskreten
Stellen der Kontaktfahnen mit diesen über eine Diffusionszone verankert ist.
Bondschichten aus einem Metal! .tus der Gruppe Gold, Palladium, Silber, Aluminium und Kupfer, einer
Legierung aus wenigstens zwei der Metalle dieser Gruppe oder aus einer Basislegierung eines Metalls
dieser Gruppe haben sich bewährt. Besonders gute Ergebnisse wurden für Bondschichten aus Gold erzielt,
die durch Aufdrucken einer Goldpaste erzeugt sind, deren Goldteilchen eine mittlere Korngröße von
weniger als 5 μιη besitzen. Zweckmäßigerweise liegt die
Dicke der Bondschicht im Bereich zwischen 2 und 30 μΐη, vorzugsweise beträgt sie 3 bis 10 um. Als
Werkstoff für den metallischen Träger kommen vorteilhafterweise ein Metall oder eine Legierung eines
oder mehrerer Metalle aus der Gruppe Kupfer. Nickel. Eisen oder Kobalt in Frage.
Erfindungsgemäß ausgebildete metallische Träger besitzen eine Reihe von Vorteilen, die sich nur durch die
Kombination der kennzeichnenden Merkmale ergeben. So ermöglicht die schwammartige, mikroporöse Struktur
der Bondschicht ein zeimlich leichtes Einreiben oder Andrücken des sehr feinen Drahtes aus Gold oder
Aluminium, der die Bondschicht mit dem Halbleiterbauelement elektrisch leitend verbindet. Das Brechen
des sehr feinen Verbindungsdrahies ist dadurch auf ein Minimum reduziert. Auch das Auftreten von Bruchstellen
oder Rissen im Draht ist beseitigt, so daß die fertigen Bauelemente eine sehr hohe Zuverlässigkeil auch be;
mechanischem Stoß aufweisen. Nicht zuletzt sei erwähnt, daß die Herstellung der Bondschicht im an sich
bekannten Siebdruckverfahren Edelmetallverluste völlig vermeidet, weil das Siebdruckverfahren unter
Verwendung einer Schablone es in einfachster Weise ermöglicht, die Bondschicht nur an diskreten Stellen der
Kontaktfahnen aufzubringen. Die Verankerung der Bondschicht mit der Kontaktfahne über eine Diffusionszone gewährleistet eine gute mechanische und elektri-
sehe Verbindung beider.
In der Figur ist eine Aufsicht auf ein Bauteil dargestellt unter Verwendung eines erfindungsgemäß
ausgebildeten metallischen Trägers für Halbleiterbauelemente.
Mit der Bezugsziffer 1 ist der metallische Träger bezeichnet, der die Kontaktfahne 2 und die Insel 3
aufweist. Auf der Insel 3 ist ein Halbleiterbauelement 4 befestigt. Die elektrische Verbindung zwischen dem
Halbleiterbauelement und den Konta.kifahnen wird mittels sehr feiner Drähte 5, beispielsweise aus Gold
oder Aluminium, bewerkstelligt. An diskreten Stellen weisen die Kontaktfahnen 2 Bondschichten 6 auf. die
eine schwammartige, netzförmige, mikroporöse Struktur besitzen. Die Herstellung der Bondschichten erfolgt
in der Weise, daß im an sich bekannten Siebdruckverfahren unter Verwendung einer Schablone eine Paste.
insbesondere eine Goldpaste, aufgedruckt wird. Die Goldpaste enthält das bondfähige Metall, also beispielsweise
Gold, in feinverieilter Form in einem organischen Medium suspendiert. Die mittlere Korngröße der
Bondmetallteilchen beträgt weniger als 5 μιη. Das
organische Siebdruckbindemittel besteht in an sich bekannter Weise aus einem Harz, das in einem
Lösungsmittel gelöst wird. Es können handlesübhJie
Siebdruekbindemiuel verwendet werden, es is! aber
vorzuziehen, ein Harz zu verwenden, das durch Hitze leicht verflüchtigt werden kann, um die Bildung
kohlenstoffreicher Zersetzungsprodukte in der Schicht des bondfähigen Metalls zu vermeiden. Als geeignet
haben sich beispielsweise Polymethacrylate, die in Terpineol gelöst sind, erwiesen. Nach dem Druckvorgang
wird die an diskreten Stellen aufgedruckte Schicht aus bondfähigem Metall getrocknet und anschließend in
einem Ofen einer Wärmebehandlung unterworfen, bei
der zunächst das organische Bindemine] ausgetrieben bzw. verflüchtigt wird und danach durch Diffusion
zwischen der metallischen Kontaktfahne und der Bondschicht beide miteinander verankert werden
Gegebenenfalls erfolgt die Wärmebehandlung in inerter oder reduzierender Atmosphäre, wenn man eine
Oxidation von unedlem Trägerwerkstoff vermeiden will. Zur Herstellung des metallischen Trägers bedient man
sich eines bandförmigen Ausgangsproduktes, aul das man an diskreten Stellen nach vorgegebenem Schablonenmuster
die Bondsehicht aufdruckt. Aus diesem Metallband wird dann nach erfolgter Wärmebehandlung
der metallische Träger ausgestanzt.
Auf ein Trägerband aus einer Legierung, die im wesentlicher, aus 53% Eisen, 28.7% Nickel. 17.5%
Kobalt und weniger als 1% Silizium und Mangan besteht, wird entsprechend einer Schablone an diskreten
Steilen eine Bondsehicht aus Gold aufgebracht. Hierzu wird eine Goldpaste an den diskreten Stellen
über ein Kunststoffsieb mit 90 Fäden pro Zentimeter aufgetragen. Das Trägerband mit aufgedruckter Paste
wird zunächst einer Wärmebehandlung bei 400'C unterworfen, um die Paste auszutrocknen und das
organische Bindemittel auszutreiben. Anschließend wird das Band reduzierend bei 650" C in einer
Wasserstoffatmosphäre geglüht. Die Glühdauer beträgt etwa 2 Minuten. Bei dieser Temperatur findet eine
Diffusion zwischen metallischem Träger und Bondsehicht statt, wodurch beide miteinander verankert
werden. Gleichzeitig sintern die feinen Goldteilchen der Paste zu einer mikroporösen Schicht mit schvvammartiger
Struktur zusammen, deren Dicke zwischen 3 und 10 μιη beträgt. Danach wird der metallische Träger aus
dem mit Bondsehicht versehenen Band ausgestanzt, so daß sich ein Träger ergibt, wie er in Aufsicht in der Figur
dargestellt ist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (10)
1. Metallischer Träger für Halbleiterbauelemente, der mehrere Kontaktfahnen und au auf diesen eine
metallische Bandschicht aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die Bandschicht schwammartige,
mikroporöse Struktur besitzt und an diskreten Stellen der Kontaktfahnen mit diesen über eine
Diffusionszone verankert sind.
2. Metallischer Träger nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, daß die Bondschicht aus einem
Metall aus der Gruppe Gold, Palladium, Silber, Aluminium und Kupfer, einer Legierung aus
wenigstens zwei der Metalle dieser Gruppe oder aus >5
einer Basislegierung eines Metalls dieser Gruppe besteht.
3. Metallischer Träger nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Bondschicht aus
Gold besteht.
4. Metallischer Träger nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der
mikroporösen, schwammartigen Bondschicht 2 bis 30μΐη beträgt.
5. Metallischer Träger nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß er aus einem Metall oder einer Legierung eines oder
mehrerer Metalle aus der Gruppe Kupfer, Nickel, Eisen und Kobalt besteht.
6. Verfahren zur Herstellung eines metallischen Trägers für Halbleiter-Bauelemente, der mit einer
Bondschicht versehen ist, nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Metallisierungspaste aus Metallpulver in einem organischen Bindemittel im Siebdruckverfahren
ausschließlich an den zum Bonden vorbestimmten Flächenbereichen aufgebracht wird, dann das
organische Bindemittel durch Erhitzen ausgetrieben wird und das abgeschiedene Metall durch Diffusion
mit dem Träger verbunden wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine Goldpaste im Siebdruckverfahren
aufgebracht wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die im Siebdruckverfahren
aufgebrachte Metallisierungspaste bei einer Temperatur zwischen etwa 400 und 65O0C mit dem Träger
verbunden wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Diffusionsglühung
in reduzierender Atmosphäre ausgeführt wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Diffusionsglühung
über eine Zeitdauer von mehreren Minuten durchgeführt wird, die ausreicht, um die Goldteilchen der
Paste zu einer mikroporösen Schicht mit schwammartiger Struktur in einer Dicke zwischen 3 und 10 μηι
zusammenzusintern.
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