DE2451100C2

DE2451100C2 - Self-monitoring device for a safety device for controlling a machine as a function of the penetration of an object into a protection zone

Info

Publication number: DE2451100C2
Application number: DE2451100A
Authority: DE
Inventors: James L. Ann Arbor Mich. Lignell; George L. Schofield Jun.
Original assignee: Xenex Corp
Current assignee: Xenex Corp
Priority date: 1973-10-29
Filing date: 1974-10-28
Publication date: 1983-01-13
Also published as: GB1482567A; DE2451100A1; CA1036686A

Description

Die Erfindung betrifft eine Selbstüberwachungseinrichtung für eine Sicherungseinrichtung zur Steuerung einer Maschine in Abhängigkeit vom Eindringen eines Gegenstandes in eine Schutzzone, mit mehreren je eine Lichtquelle und einen Fotodetektor umfassenden, jeweils einen Kanal bildenden Einheiten, wobei das Licht einer Lichtquelle bei hindernisfreiem Durchgang auf den zugeordneten Fotodetektor fällt, der beim Auftreffen eines von einem Impulsgenerator erzeugten und von der Lichtquelle ausgesandten Lichtimpulses einen elektrischen Impuls erzeugt, mit einem Senderkanal-Multiplexer. dessen Eingang mit dem Impulsgenerator verbunden ist und der mehrere, je mit einer der Lichtquellen verbundene Ausgänge und Kanalschaltmittel mit einem Kanaladresseneirigang hat, mit einem Taktgeber, der mit dem Kanaladresseneingang zum aufeinanderfolgenden Anlegen der Lichtquellen an den Impulsgenerator verbunden ist, mit einer Impulserfassungseinrichtung, deren Eingang je mit einem der Fotodetektoren verbindbar ist, mil einem Empfängerkanal-M.iltiplexer mit Kanalschaltmitteln, einem Kanaladresseneingang und mit mehreren Ausgängen, die jeThe invention relates to a self-monitoring device for a safety device for control of a machine depending on the penetration of an object into a protection zone, with several one each Light source and a photodetector, each comprising a channel forming units, wherein the Light from a light source falls on the assigned photodetector when there is unobstructed passage Impact of a light pulse generated by a pulse generator and emitted by the light source an electrical pulse is generated using a transmitter channel multiplexer. whose input is connected to the pulse generator and the several, each with one of the Light sources connected outputs and channel switching means with a channel address input has, with one Clock generator connected to the channel address input for successive application of the light sources to the Pulse generator is connected, with a pulse detection device, the input of which is connected to one of the Photodetectors can be connected to a receiver channel M.iltiplexer with channel switching means, a channel address input and with several outputs, each

cjnfciTi der Fotodetektoren zugeordnet sind, mit Schaltern, die je zwischen einen der Fotodetektoren und die Impulserfassungseinrichtung geschaltet und die je durch den entsprechenden Kanalausgang des Empfängerkanal-Multiplexers gesteuert sind, wobei der Taktgeber auch mit dem Kanaladresseneingarig des Empfängerkanal-Multiplexers zum aufeinanderfolgenden Anlegen der Fotodetektoren an den Eingang der Impulserfassiiigseinrichtung verbunden ist, so daß beide Multiplexer durch den Taktgeber synchron geschaltet und die Kanäle nacheinander aktiviert werden, wobei jeder Kanal für ein vom Taktgeber bestimmtes Intervall aktiviert wird und der vom Taktgeber synchronisierte Impulsgenerator während des Aktivierungsintervalls für jeden Kanal einen Impuls zum Obermitteln des Lichtimpulses von der Lichtquelle zu dem Fotodetektor der gleichen Einheit erzeugt, wobei alle Fotodetektoren nacheinander von Lichtimpulsen erregt werden und die Impulserfassungseinrichtung am Eingang eine Kette von Impulsen erhält, die für jeden aktivierten Kanal einen impuls umfaßt, wenn sich im Bereich dieses Kanals kein Hindernis befindet, und wobei die Impulserfassungseinrichtung Einrichtungen umfaßt, die auf einen in der Kette fehlenden Impuls ansprechen, und mit einer Abschalteinrichtung, deren Eingang mit der Impulserfassungseinrichtung und deren Ausgang mit dem Steuerkreis der zu sichernden Maschine verbunden ist, um diese beim Fehlen eines Impulses zu stoppen.cjnfciTi of the photodetectors are associated with Switches each connected between one of the photodetectors and the pulse detection device and each are controlled by the corresponding channel output of the receiver channel multiplexer, the Clock also with the channel address in-memory of the Receiver channel multiplexer for successive Applying the photodetectors is connected to the input of the Impulserfassiiigseinrichtung so that both multiplexers are switched synchronously by the clock generator and the channels are activated one after the other each channel is activated for an interval determined by the clock and that of the Clock synchronized pulse generator during the activation interval for each channel one pulse for conveying the light pulse generated by the light source to the photodetector of the same unit, wherein all of the photodetectors are sequentially excited by light pulses and the pulse detection means receives a chain of pulses at the input, which includes a pulse for each activated channel, if there is no obstacle in the area of this channel, and said pulse detection means comprising means responsive to a pulse absent from said chain respond, and with a shutdown device, whose input with the pulse detection device and whose Output is connected to the control circuit of the machine to be secured, in order to prevent this in the absence of a Stop the impulse.

Bei einer bekannten Einrichtung dieser Art (US-PS 37 04 396) ist ebenfalls das Erzeugen eines Lichtvorhanges vor einer Schutzzone vorgesehen. Auch diese Einrichtung umfaßt Lichtquellen und mit diesen zusammenwirkende Fotodetektoren. Jedoch ist die den Lichtquellen und Fotodetektoren zugeordnete Auswertungsschaltung insofern nicht sicher, als beim Auftreten eines Fehlers in der Schaltung kein Abschalten der zu sichernden Maschine erfolgen kann. Bei einem bekannten Feueraufspürsystem (US-PS 35 43 260), bei dem zwei Uluavioleit-Detektoren verwendet werden, ist eine Selbstüberprüfungsschaltung vorgesehen, die jedoch an das Feueraufspürsystem angepaßt ist und nur für dieses geeignet ist.In a known device of this type (US-PS 37 04 396) is also the generation of a light curtain provided in front of a protection zone. This device also includes light sources and with them cooperating photodetectors. However, the evaluation circuit assigned to the light sources and photodetectors is not insofar as it is not safe to switch off the to when an error occurs in the circuit securing machine can be done. In a known fire detection system (US-PS 35 43 260) in which two Uluavioleit detectors are used a self-checking circuit is provided, however is adapted to the fire detection system and is only suitable for this.

Bei einem bekannten Koordinaten-Aufnahmesystem (US-PS 37 64 813). wie es in Verbindung mit Computern verwendet wird, werden die Koordinaten durch Lichtstrahlen gebildet. Diese dienen jedoch nicht dazu, die Anwesenheit von Fremdkörpern anzuzeigen und bei deren Auftreten, beispielsweise eine Stanzmaschine abzuschalten. Diese bekannte Vorrichtung wird vielmehr in Verbindung mit Fernsehschirmen oder Mikrofilmschirmen oder Kathodenstrahlröhren be nutzt. Dabei werden die L.ichtdioden durch Signale gesteuert, die ihnen von einem Schieberegister zugeführt werden. Die Lichtdetektoren hingegen sind mit den Eingängen von Multipkxern verbunden. Eine gemeinsame Steuerung des Schieberegisters und der Multiplexer ist nicht vorgesehen.In a known coordinate recording system (US-PS 37 64 813). like it in connection with computers is used, the coordinates are formed by rays of light. However, these are not used to to indicate the presence of foreign bodies and when they occur, for example a punching machine switch off. This known device is rather used in connection with television screens or Microfilm screens or cathode ray tubes uses. The light diodes are controlled by signals that are fed to them from a shift register will. The light detectors, on the other hand, are connected to the inputs of multiplexers. One joint control of the shift register and the multiplexer is not provided.

Bei einer weiteren bekannten Lichtschranke (DE-OS 19 41905), durch die em LicHtvorhang gebildet wird, umfaßt dieser eine Vielzahl Von Lichtquellen, die ihr Licht auf Lichteintrittsstellen richten. Diese lenken das Licht in einem stabförmigen Lichtleiter und zu einem an einer Stirnfläche des Lichtleiters Angeordneten Empfänger hin. Bei diese·· bekannten Lichtschranke wird eine stetige Überwachung des Empfängers und der eine.i sich an diesen anschließenden Auswertungsschaltung mit geringem Aufwand erreicht, da nur ein einziger Empfänger und eine einzige Auswertungsschaltung vorhanden sind.In another known light barrier (DE-OS 19 41905), through which a light curtain is formed, this includes a plurality of light sources that direct their light to light entry points. These steer it Light in a rod-shaped light guide and to a receiver arranged on an end face of the light guide there. With this ·· well-known light barrier, a constant monitoring of the receiver and the evaluation circuit connected to it Achieved with little effort, since only a single receiver and a single evaluation circuit available.

Beim Anmeldungsgegenstand ist demgegenüber eine der Anzahl der den Lichtvorhang bildenden Einheiten entsprechende Anzahl von Empfängern, nämlich Fotodetektoren, vorgesehen.In contrast, the subject of the application is one of the number of units forming the light curtain A corresponding number of receivers, namely photodetectors, are provided.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die bekannten mit einem Lichtvorhang wirkenden Sicherungseinrichtungen, insbesondere die Auswertungsschaltung der Einrichtung so zu verbessern, daß die zu sichernde Maschine auch dann durch die Sicherungseinrichtung abgeschaltet wird, wenn sich kein Gegenstand in der Schutzzone befindet, die Sicherungseinrichtung selbst jedoch einen Fehler aufweist, durch den eine sichere Überwachung der Schutzzone nicht mehr möglich istThe invention is based on the object of the known safety devices acting with a light curtain, in particular to improve the evaluation circuit of the device so that the to The securing machine is also switched off by the safety device if there is no object is in the protection zone, but the security device itself has an error through which a safe monitoring of the protection zone is no longer possible

Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch eine Sicherungseinrichtung gelöst, die gekennzeichnet ist durch einen binären Komparator zum Vergleichen des binären Zustandes mehrerer bearer Signale, der mehrere Eingänge und einen Ausgang hat, durch eine Leitung, die den Ausgang des Senderkanal-Multiplexers mit einem dieser Eingänge verbindet, durch eine Leitung, die den Ausgang des Empfängerkaml-Multiplexe>-s mit einem anderen dieser Eingänge verbindet, und durch eine Leitung, die den Impulsgenerator mit einem weiteren der Eingänge verbindet, und durch eine Sperrschaltung, deren Eingang mit dem Ausgang des binären Komparator und deren Aas.cang mit einem der Eingänge einer Abschalteinrichtung verbunden ist, um die Maschine durch ein Ausgangssignal des Komparators abzuschalten.This object is achieved according to the invention by a safety device which is characterized by a binary comparator for comparing the binary state of several bearer signals, the has multiple inputs and one output, through a line that is the output of the transmitter channel multiplexer connects to one of these inputs, through a line that connects the output of the receiver chamber multiplexes connects to another of these inputs, and through a line that connects the pulse generator with another of the inputs connects, and by a blocking circuit, the input of which is connected to the output of the binary comparator and its Aas.cang with one of the Inputs of a shutdown device connected to the machine by an output signal of the comparator switch off.

Auf diese Weise ist die Bedienungsperson der zu sichernden Maschine auch dann geschützt, falls ein Funktionsfehler in der Einrichtung auftritt. D\s wird durch Wählen von Testpunkten in der Sicherungseinrichtung erreicht, die einen binären Zustand bei einem bestimmten Betriebspunkt im Betriebszyklus für jeden Kanal haben, wenn die Einrichtung ordnungsgemäß funktioniert. Wenn die bestimmten binären Zustände a τι besagten Betriebspunkt nicht alle auftreten, zeigt sich ein Funktionsfehler an und die Einrichtung wird selbsttätig abgeschaltet und die Bedienungsperson alarmiert.In this way, the operator of the machine to be secured is protected even if a Malfunction occurs in the facility. D \ s will achieved by selecting test points in the security device that have a binary state at a have specific operating point in the duty cycle for each channel when set up properly functions. If the specific binary states a τι said operating point do not all occur, shows a functional error occurs and the device is automatically switched off and the operator alarmed.

Über die genannten Merkmale hinausgehende Einzelheiten zur Weiterbildung der Sicherungseinrichtung ergeben sich aus den Unteransprüchen.Details going beyond the features mentioned for further development of the safety device result from the subclaims.

Ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Sicherungseinrichtung ist in der Zeichnung dargestellt. In den Zeichnungen zeigtAn embodiment of the safety device according to the invention is shown in the drawing. In the drawings shows

F i g. 1 die Anordnung der Sicherungseinrichtung vor der zu sichernden Schutzzone einer Maschine:F i g. 1 provides the arrangement of the security device the protection zone of a machine to be secured:

F ι %. 2 ein Zeitdiagramm der elektrischen Impulsformen der Einrichtung;F ι %. Figure 2 is a timing diagram of the electrical waveforms of the device;

F i g 3 ein Blockschaltbild der gesamten Einrichtung undF i g 3 a block diagram of the entire device and

Fig.4a und Fig.4b eine Darstellung von Einzelhei ten der Einrichtung.Fig.4a and Fig.4b a representation of detail the establishment.

Das in der 7--ichnung dargestellte Ausführungsbeispiel der Sicherurgseinrichtung arbeitet mit lichtaussendenden Dioden, die vorherrschend im infraroten Teil des Spektrums ausstrahlen. Der in d';r Beschreibung verwendete Begriff »Licht« bedeutet Strahlungsenergie, ob sie nun vom menschlichen Auge wahrnehmbar ist oder nicht.The exemplary embodiment shown in FIG. 7 the safety device works with light emitting devices Diodes that emit predominantly in the infrared part of the spectrum. The one in d '; r description The term "light" used means radiant energy, whether it can be perceived by the human eye or not.

In Fig. 1 ist die zu sichernde Schutzzone der Vorrichtung angedeutet, vor der eine Lichtschranke erzeugt werden soll. Diese Lichtschranke soll beimIn Fig. 1, the protection zone of the device to be secured is indicated, in front of which a light barrier should be generated. This light barrier should be used when

Eindringen einer Hand der Bedienungsperson oder eines anderen Gegenstandes in die Schutzzone ein sofortiges Stehenbleiben der Maschine bewirken. Die Einrichtung 12 ist an einer Stanze 10 angebracht und bildet einen Lichtvorhang, der sich über eine Zugangsöff- s nung zur Stanzstelle der Maschine erstreckt. Die Einrichtung umfaßt einen Sendemast 16, der an der in der Zeichnung rechts liegenden Seite der Zugangsöffnung 14 angeordnet ist, und einen Empfangsmast 18 an der gegenüberliegenden Seite der Zugangsöffnung. Innerhalb des Sendemastes 16 ist eine Anzahl im engen Abtand voneinander angeordneter Lichtquellen in Form von lichtaussendenden Dioden 20a, 2Of), 20c usw. vorgesehen. Der Empfangsmast 18 enthält die gleiche Anzahl von Fotodetektoren, in Form von Fototransistoren 22a, 226, 22c usw. Die Diode 20a ist so angeordnet, daß sich der Lichtstrahl über die Öffnung 14 erstreckt und auf den Fototransistor 22a auftrifft. Diode und Transistor bilden eine Einheit, die einen Kanal zum Senden und zum Empfangen eines Lichtstrahles darstellt. Die folgenden Dioden 206, 20c und die folgenden Fototransistoren 22b, 22c bilden weitere Einheiten. Fig. 1 zeigt, daß die Lichtstrahlen so verlaufen, daß sie einen Lichtvorhang über die gesamte öffnung 14 hinweg bilden. Es ist jedoch zu beachten, daß nur ein solcher Lichtstrahl im Augenbick auftritt und daß die Strahlen in einer schnellen Folge erzeugt werden und deshalb können, was die menschliche Reaktion oder das menschliche Auge anbelangt, die Lichtstrahlen als gleichzeitig auftretend angesehen werden. Die elektronische Schaltung zum Betrieb der Einrichtung ist in den Masten 16 und 18 angeordnet, wobei sich jedoch einige Verbindungsdrähte zwischen diesen beiden erstrecken.If a hand of the operator or another object enters the protection zone, the machine will stop immediately. The device 12 is attached to a punch 10 and forms a light curtain which extends over an access opening to the punching point of the machine. The device comprises a transmission mast 16, which is arranged on the right-hand side of the access opening 14 in the drawing, and a receiving mast 18 on the opposite side of the access opening. A number of light sources in the form of light-emitting diodes 20a, 20f), 20c, etc., arranged in close spacing from one another, are provided within the transmission mast 16. The receiving mast 18 contains the same number of photodetectors, in the form of phototransistors 22a, 226, 22c, etc. The diode 20a is arranged so that the light beam extends over the opening 14 and impinges on the phototransistor 22a. Diode and transistor form a unit that represents a channel for sending and receiving a light beam. The following diodes 206, 20c and the following phototransistors 22b, 22c form further units. 1 shows that the light rays run in such a way that they form a light curtain over the entire opening 14. It should be noted, however, that only such a light beam occurs at the eye and that the beams are generated in rapid succession and therefore, as far as the human reaction or the human eye is concerned, the light beams can be regarded as occurring simultaneously. The electronic circuitry for operating the device is located in masts 16 and 18, but with some connecting wires extending between the two.

Die Sicherungseinrichtung umfaßt eine Kontroll- oder Steuerschaltung und eine Selbstüberprüfungsschaltung, die in einei Wechselbeziehung zueinander stehen. Die Steuerschaltung umfaßt die lichtaussendenden Dioden 20a, 20£>... und 2On sowie die Fototransistoren 22a, 22f>... und 22n. Jeder Fo.otransistor fluchtet mit einer Diode und bildet eine Einheit, die als Kanäle a. b... und η bezeichnet sind. Die Steuerschaltung umfaßt ferner einen Senderkanal-Multiplexer 26 und einen Empfängerkanal-Multiplexer 28. die von einem Taktgeber 30 gesteuert werden, um die Kanäle a. b ... und η nacheinander zu aktivieren. Der Taktgeber steuert ferner einen Impulsgenerator 32, der mit der Aktivierung der betreffenden Kanäle aufeinanderfolgende Aktivierungsimpulse für die Dioden erzeugt. Die von den Fototransistoren erzeugten Signale werden nacheinander einer Impulserfassungseinrichtung zugeführt. die Analog/Digital-Wandler 36 und 38 sowie einen Fehlimpulsdetektor 40 umfaßt. Zu Kontrollzwecken wird das Ausgangssignal des Fehlimpulsdetektors 40 über einen Relaisantrieb 42 an ein Steuerrelais 44 gelegt. Die Steuerschaltung weist ferner einen als Ganzes mit 46 bezeichneten Rückkopplungskreis auf, der einen Rückkopplungsverstärker 48 sowie einen elektronischen Schalter in Form eines Feldeffekttransistors 50 umfaßt, der durch den Impulsgenerator 32 gesteuert ist Der Rückkopplungskreis 46 ist mit den Steuerelektroden der Fototransistoren verbunden.The security device comprises a control circuit and a self-checking circuit which are interrelated with one another. The control circuit comprises the light-emitting diodes 20a, 20 £> ... and 2On and the phototransistors 22a, 22f> ... and 22n. Each Fo.otransistor is aligned with a diode and forms a unit, which as channels a. b ... and η are designated. The control circuit further comprises a transmitter channel multiplexer 26 and a receiver channel multiplexer 28, which are controlled by a clock generator 30 to set the channels a. b ... and η to activate one after the other. The clock generator also controls a pulse generator 32 which, when the relevant channels are activated, generates successive activation pulses for the diodes. The signals generated by the phototransistors are successively fed to a pulse detection device. the analog / digital converters 36 and 38 and a missing pulse detector 40 comprises. For control purposes, the output signal of the missing pulse detector 40 is applied to a control relay 44 via a relay drive 42. The control circuit also has a feedback circuit, designated as a whole by 46, which comprises a feedback amplifier 48 and an electronic switch in the form of a field effect transistor 50, which is controlled by the pulse generator 32. The feedback circuit 46 is connected to the control electrodes of the phototransistors.

Die Selbstüberprüfungsschaltung umfaßt einen binären Komparator 51, der, gesteuert vorn impulsgenerator 3Z Testsignale von ausgewählten Betriebspunkten der Einrichtung empfängt Die Selbstüberprüfungsschaltung umfaßt ferner einen Sendertest-Multiplexer und einen Empfängertest-Multiplexer 54, die Testsignale für den binären Komparator erzeugen. Darüber hinaus werden Testsignale vom Impulsgenerator 32 und indirekt vom Fehlimpulsdetektor 40 für die Eingabe in den binären Komparator abgeleitet. Die Selbstüberprüfungsschaltung weist ferner einen Fehlimpulsdetektor 56 auf, dessen Eingang mit dem Ausgang des binären Komparators verbunden ist. Ein zweiter Eingang des Fehlimpulsdetektors 56 ist mit einer Relaisteststufe 59 verbunden. Der Ausgang des Fehlimpulsdetektors 56 ist über eine Sperrsohaltung 58 mit dem Relaisantrieb 42 verbunden.The self-checking circuit comprises a binary comparator 51 which is controlled by the pulse generator 3Z receives test signals from selected operating points of the device further includes a transmitter test multiplexer and a receiver test multiplexer 54, the Generate test signals for the binary comparator. In addition, test signals from the pulse generator 32 and derived indirectly from missing pulse detector 40 for input to the binary comparator. the Self-checking circuit also has a missing pulse detector 56, the input of which is connected to the output of the binary comparator is connected. A second input of the missing pulse detector 56 is connected to a Relay test stage 59 connected. The output of the missing pulse detector 56 is via a locking latch 58 connected to the relay drive 42.

Die Kontroll- oder Steuerschaltung wird durch den Senderkanal-Multiplexer 26 und den tmpfängerkanal-Multiplexer 28 zusammen mit dem Taktgeber 30 sowie dem Impulsgenerator 32 in Funktion gesetzt, um die Kanäle a, b ... und η aufeinanderfolgend zu aktivieren. Während der Aktivierungszeit wird für jeden Kanal die Diode mit einem impuls eifigcscnaiict. Wenn irr, betreffenden Kanal kein Hindernis vorhanden ist, wird der zugeordnete Fototransistor wirksam, so daß ein Ausgangsimpuls an diesem entsteht. Das in Fig. 2 dargestellte Zeitdiagramm veranschaulicht Einzelheiten während eines vollständigen Betriebsablaufs für einen Kanal. Jeder Zyklus dieser Art hat eine Zeitdauer T, die im dargestellten Ausführungsbeispiel 400 Mikrosekunden beträgt. Es ist klar, daß die in einer bestimmten Einrichtung zu verwendende Zahl von Kanälen von den Gegebenheiten abhängt, beispielsweise von der Größe der zu sichernden Fläche und dem Abstand zwischen aufeinanderfolgenden Strahlen. Die in der Zeichnung dargestellte Sicherungseinrichtung ist für jede beliebige Anzahl von Kanälen verwendbar, wobei die ausgewählte Zahl vorzugsweise ein Mehrfaches von acht sein sollte, da die Multiplexer kommerziell in integrierten Schaltkreischips mit acht Kanälen pro Chip erhältlich sind. Bei einer Kanalzykluszeit Tvon 400 Mikrosekunden beträgt die Grundtakt-Frequenz 40 kHz. Wie dem Zeitdiagramm zu entnehmen ist, handelt es sich bei dem Grundzeitgabesigr.al daher um eine Kette von Impulsen mit einem Intervall von 25 Mikrosekunden zwischen den Impulsen. Der Taktgeber 30 weist Frequenzteilerschaltungen auf. die Taktsignale A. B. C. Ti und T2 erzeugen, die aufeinanderfolgend eine Teilung der Taktgeberfrequenz durch zwei darstellen. Die Taktsignale DX und D2 sind identisch. Wie der Fig. 3 zu entnehmen ist, wird das Taktsignal D1 über einen Stoppschalter 60 an den Kanaladresseneingang 62 des Senderkanal-Multiplexers 26 sowie an den Kanaladresseneingang 64 des Empfängerkanal-Muhiplexers 28 angelegt. Der Senderkanal-Multiplexer 26 sprichi auf den negativen Teil des Taktsignals D1 am Kanaladresseneingang 62 an. um die Kanalschaltmittel zu veranlassen, die Verbindung des Eingangs 66 des Senderkanal-Multiplexers 26 von einem Kanalausgang zum nächsten Kanalausgang weiterzuschalten. Entsprechend bewirkt das Anliegen des negativen Teils des Taktsignals Dl am Kanaladresseneingang 64 des Empfängerkanal-Multiplexers 28 ein Weiterschalten der Verbindung des Eingangs 68 des Empfängerkanal-Multiplexers 28 durch die Schaltmittel von einem Kanalausgang zum nächsten Kanalausgang. Jeder der Kanäle a.b... und π weist einen elektronischen Schalter in Form eines Feldeffekttransistors 70a, 706... und 70n auf. Im Kanal a ist der Feldeffekttransistor mit einer Kathode und mit seiner Anodenelektrode in Reihe zwischen den Ausgang des Fototransistors 22a und den Eingang eines Vorverstärkers 72 geschaltet Die Gitterelektrode des Feldeffekttransistors 70a ist mitThe monitoring or control circuit is activated by the transmitter channel multiplexer 26 and the receiver channel multiplexer 28 together with the clock generator 30 and the pulse generator 32 in order to activate the channels a, b ... and η in succession. During the activation time, the diode is activated with a pulse for each channel. If there is no obstacle in the relevant channel, the associated phototransistor becomes effective, so that an output pulse is generated at this. The timing diagram shown in FIG. 2 illustrates details during a full operational sequence for a channel. Each cycle of this type has a duration T, which in the illustrated embodiment is 400 microseconds. It is clear that the number of channels to be used in a particular installation depends on the circumstances, for example on the size of the area to be secured and the spacing between successive beams. The security device shown in the drawing can be used for any number of channels, the selected number should preferably be a multiple of eight, since the multiplexers are commercially available in integrated circuit chips with eight channels per chip. With a channel cycle time T of 400 microseconds, the basic clock frequency is 40 kHz. As can be seen from the timing diagram, the basic timing signal is therefore a chain of pulses with an interval of 25 microseconds between the pulses. The clock generator 30 has frequency divider circuits. generate the clock signals ABC Ti and T2 which successively represent a division of the clock frequency by two. The clock signals DX and D2 are identical. As can be seen from FIG. 3, the clock signal D 1 is applied via a stop switch 60 to the channel address input 62 of the transmitter channel multiplexer 26 and to the channel address input 64 of the receiver channel multiplexer 28. The transmitter channel multiplexer 26 responds to the negative part of the clock signal D 1 at the channel address input 62. to cause the channel switching means to switch the connection of the input 66 of the transmitter channel multiplexer 26 from one channel output to the next channel output. Correspondingly, the application of the negative part of the clock signal Dl at the channel address input 64 of the receiver channel multiplexer 28 causes the connection of the input 68 of the receiver channel multiplexer 28 to be switched on by the switching means from one channel output to the next channel output. Each of the channels ab .. and π has an electronic switch in the form of a field effect transistor 70a, 706 ... and 70n. In channel a, the field effect transistor is connected with a cathode and with its anode electrode in series between the output of the phototransistor 22a and the input of a preamplifier 72. The grid electrode of the field effect transistor 70a is connected to

dem Kanalausgang a des Multiplexers 28 verbunden. Entsprechend ist der Feldeffekttransistor 706 mit seiner Kathode und seiner Anodenelektrode in Reihe zwischen den Ausgang des Fototransistors 226 und den Eingang des Vorverstärkers 72 geschaltet, während die Gitterelektrode mit dem Kanalausgang 6 des Empfäryirkanal-Multiplexers 28 verbunden ist.the channel output a of the multiplexer 28 is connected. Correspondingly, the field effect transistor 706 is connected with its cathode and its anode electrode in series between the output of the phototransistor 226 and the input of the preamplifier 72, while the grid electrode is connected to the channel output 6 of the receiver channel multiplexer 28.

Wie aus dem in F i g. 2 dargestellten Zeitdiagramm ersichtlich ist, erzeugt der Impulsgenerator 32 eine Kette von Treibimpulsen £ wobei ein 'mpuls während jedes Kanalzyklus auftritt._ Im Zeitdiagramm ist zu beachten, daß der Impuls E etwas nach der Mitte des Zyklus auftritt. Wenn also angenommen wird, daß der Senderkanal-Multiplexer 26 und der Empfängerkanal-Multiplexer 28 gerade einen Betriebszyklus am Kanal a beendet haben, bewirkt das Taktsignal D1 an den Kanaladresseneingängen 62 und 64 der Multiplexer eine Verbindung des Eingangs 66 mit dem Kanalausgang b im Multiplexer 26 und des Eingangs 68 mit dem Kanalausgang ödes Multiplexers 28. Entsprechend wird der Kanal b während seiner aktiven Periode aktiviert, das heißt während der Zykluszeit T, wobei der Impuls E vom Impulsgenerator 32 durch den Eingang 66 des Senderkanal-Multiplexers 26 geht und durch den Kanalausgang b sowie den Treibverstärker 746 zum Eingang der Diode 206 wandert. Zu diesem Zeitpunkt wird der Kanalschalter bzw. der Kanal b, das heißt der Feldeffekttransistor 706 durch das innere Vorspannungssignal geschlossen, das vom Empfängerkanal-M Itiplexer 28 kommt, der aufgrund des Taktsignals D 1 mit seinem Eingang 68 mit dem Ausgangskanal b während der gesamten Dauer des Zyklus für den Kanal b verbunden ist. Wie aus dem Zeitdiagramm ersichtlich ist, erzeugt der Impulsgenerator 32 eine Kette von Impulsen G, wobei ein solcher Impuls während jedes Kanalzyklus an einem spät im Zyklus liegenden Punkt auftritt. Entsprechend bleibt der Feldeffekttransistor 706 geschlossen, außer während des Impulses C, und zwar aus Gründen, die später näher erläutert werden.As shown in FIG. As can be seen in the timing diagram shown in FIG. 2, the pulse generator 32 generates a train of drive pulses £ with one pulse occurring during each channel cycle. Note in the timing diagram that the pulse E occurs somewhat after the middle of the cycle. So if it is assumed that the transmitter channel multiplexer 26 and the receiver channel multiplexer 28 have just ended an operating cycle on channel a , the clock signal D 1 at the channel address inputs 62 and 64 of the multiplexer causes a connection of the input 66 to the channel output b in the multiplexer 26 and the input 68 with the channel output of the multiplexer 28. Correspondingly, the channel b is activated during its active period, i.e. during the cycle time T, the pulse E from the pulse generator 32 going through the input 66 of the transmitter channel multiplexer 26 and through the Channel output b and the drive amplifier 746 to the input of the diode 206 migrates. At this point in time, the channel switch or channel b, i.e. the field effect transistor 706, is closed by the internal bias signal that comes from the receiver channel M itiplexer 28, which due to the clock signal D 1 with its input 68 with the output channel b for the entire duration of the cycle for channel b is connected. As can be seen from the timing diagram, the pulse generator 32 generates a train of pulses G, one such pulse occurring late in the cycle during each channel cycle. Correspondingly, the field effect transistor 706 remains closed, except during the pulse C, for reasons which will be explained in more detail later.

Wenn der Impuls E während des Kanalzyklus des Kanals b auftritt, wenn im Lichtweg kein Hindernis vorhanden ist, erzeugt der Fototransistor 22b einen Ausgangsimpuls, der dem Impuls E entspricht, und der Ausgangsimpuls wird durch den Vorverstärker 72 an den Eingang des RückkopplungsverMürkers 48 angelegt. Der Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 ist mit dem Eingang 76 des Analog/Digital-Wandlers 38 verbunden. Während des Impulses Eist der Rückkopplungsschalter, d. h. der Feldeffekttransistor 50, geöffnet und die Rückkopplungsiichaltung 46 ist inaktiv. Im Zeitdiagramm ist zu beachten, daß ein Schaltimpuls H gleichzeitig mit dem Impuls £ auftritt und eine längere Dauer als dieser hat und durch den Impulsgenerator 32 erzeugt wird. Die Arbeitsweise der Impulserfassungseinrichtung 34 wird nachstehend noch im einzelnen beschrieben. Hier reicht es aus, festzustellen, daß dann, wenn der Impuls E, der am die Diode 206 angelegt wird, den Fototransistor 226 zur Erzeugung eines Ausgangsimpulses veranlaßt, das System weiter normal durch den Rest des Zyklus des Kanals b arbeitet und den Zyklus des Kanals c unter der Steuerung des Taktimpulses D1 beginnt Der Senderkanal-Multiplexer 26 und der Empfängerkanal-Multiplexer 28 durchlaufen also die Kanalzyklen in einer Folge und eins Kette von Ausgangsimpulsen wird an den Eingang 76 des Analog/Digital-Wandlers 38 angelegt und eine entsprechende Kette von Impulsen wird an den Eingang 78 des Fehlimpulsdetektors 40 angelegt Solange alle Impulse in einer Impulskette vorhanden sind, hält der Fehlimpulsdetektor 40 das Relais 44 erregt und damit läuft die zu sichernde Maschine weiter. Wenn jedoch ein Hindernis in einem der Lichtsendekanäle auftritt, beispielsweise die Hand einer Bedienungsperson, erzeugt der Fototransistor dieses Kanals keinen Impuls während des Kanalzyklus und die Impulskette am Eingang 78 des Fehlimpulsdetektors hat einen Fehlimpuls und der Fehlimpulsdetektor 40 bewirkt das Entregen des Relais 44. Dieses Entregen des Relais 44 bewirkt ein sofortiges Anhalten der Maschine. Die Maschine kann, wie später erläutert werden wird, nicht in Betrieb genommen werden, bis die Bedienungsperson ihre Hand aus dem Lichtvorhang herausgenommen und die Steuerschaltung zurückgestellt hat.When pulse E occurs during the channel b cycle when there is no obstruction in the light path, phototransistor 22b produces an output pulse corresponding to pulse E and the output pulse is applied to the input of feedback converter 48 through preamplifier 72. The output of the feedback amplifier 48 is connected to the input 76 of the analog / digital converter 38. During the pulse E, the feedback switch, ie the field effect transistor 50, is open and the feedback circuit 46 is inactive. In the timing diagram it should be noted that a switching pulse H occurs simultaneously with the pulse £ and has a longer duration than this and is generated by the pulse generator 32. The operation of the pulse detector 34 will be described in detail below. Suffice it to say here that if the pulse E applied to diode 206 causes phototransistor 226 to generate an output pulse, the system continues to operate normally through the remainder of the cycle of channel b and the cycle of channel c under the control of the clock pulse D 1 begins The transmitter channel multiplexer 26 and the receiver channel multiplexer 28 run through the channel cycles in a sequence and a chain of output pulses is applied to the input 76 of the analog / digital converter 38 and a corresponding chain of Pulses are applied to the input 78 of the missing pulse detector 40. As long as all the pulses are present in a pulse train, the missing pulse detector 40 keeps the relay 44 energized and the machine to be protected continues to run. However, if an obstacle occurs in one of the light transmission channels, for example the hand of an operator, the phototransistor of this channel does not generate a pulse during the channel cycle and the pulse train at input 78 of the missing pulse detector has a missing pulse and the missing pulse detector 40 causes the relay 44 to be de-energized. This de-energizing of relay 44 causes the machine to stop immediately. As will be explained later, the machine cannot be operated until the operator has removed his hand from the light curtain and reset the control circuit.

Um die Einrichtung gegen Änderungen in den Umweltbedingungen, beispielsweise Licht und Temperatur, unabhängiger zu gestalten, ist der als Ganzes mit 46 bezeichnete Rückkopplungskreis vorgesehen. Der Rückkopplungskreis ist in Einzelheiten aus dem in Fig.4a dargestellten Schaltdiagramm ersichtlich. Die Fototransistoren 22a, 226 ... 22n sind mit ihren Kollektoren an dem positiven Pol einer Spannungsquelle angeschlossen, während die Emitter durch den zugeordneten Feldeffekttransistor mit einer Sammelschiene verbunden sind, die zum Eingang des Vorverstärkers 72 führt. Zu den Feldeffekttransistoren 70a, 706 ... 70/j sind spannungsbegrenzende Dioden 78a, 786... 78/7 parallel geschaltet. Die Basis des Fototransistors 22 ist über einen begrenzenden Widerstand 82a mit einer Leitung 84 verbunden, die durch den Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 und einem Widerstand 86 mit dem Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 verbunden ist. Während der Zeit, während der Rückkopplungs-Feldeffekttransistor 50 leitend ist, wird die Vorspannung an der Basis des Fototransistors 22a durch den Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 bestimmt. Entsprechend ist die Basis des Fototransistors 226 durch einen Widerstand 826, die Leitung 84, den Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 und dr,i Widerstand 86 mit dem Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 verbunden. Die übrigen Fototransistoren sind in gleicher Weise mit dem Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 verbunden. Der Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 ist mit einem Kondensator 88 parallel zu dessen Kathode und mit einer spannungsbegrenzenden Diode 82 parallel zu dessen Anodenelektrode versehen. Wie aus Fig.3 ersichtlich ist. ist die Kathode des Rückkopplungsschalt· Feldeffekttransistors 50 mit dem Impulsgenerator 32 verbunden, um den Rückkopplungsschaltimpuls H zu erhalten. Wie aus dem Zeitdiagramm in F i g. 2 ersichtlich ist, hat der Schaltimpuls H während jedes Kanalzyklus eine vordere Flanke, die mit der vorderen Flanke des Impulses E zusammenfällt und eine hintere Flanke, die zeitlich später als die hintere Flanke des Impulses E auftritt Während des Impulses H ist der Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 offen und damit wird der Ausgang des Rückkopplungsverstärkers in dieser Zeit nicht an die Vorspannungsschaltungen der Fototransistoren angelegt Vor und nach dem Auftreten des Impulses //wird während jedes Kanalzyklus jedoch der Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 durch den Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 an die Vorspannungsschallung für den Fototransistor im aktivierten Kanal angelegt Wenn beispielsweise der Multiplexer, gesteuert durch den Taktgeber, den Kanal b aktiviert hat und der Fototransistor 226 entsprechendIn order to make the device more independent of changes in the environmental conditions, for example light and temperature, the feedback circuit designated as a whole by 46 is provided. The feedback circuit can be seen in detail from the circuit diagram shown in Figure 4a. The collectors of the phototransistors 22a, 226. Voltage-limiting diodes 78a, 786 ... 78/7 are connected in parallel with the field effect transistors 70a, 706 ... 70 / j. The base of the phototransistor 22 is connected via a limiting resistor 82a to a line 84 which is connected to the output of the feedback amplifier 48 through the feedback switching field effect transistor 50 and a resistor 86. During the time that the feedback field effect transistor 50 is conducting, the bias voltage at the base of the phototransistor 22a is determined by the output of the feedback amplifier 48. Correspondingly, the base of the phototransistor 226 is connected to the output of the feedback amplifier 48 through a resistor 826, the line 84, the feedback switching field effect transistor 50 and dr, i resistor 86. The remaining phototransistors are connected to the output of the feedback amplifier 48 in the same way. The feedback switching field effect transistor 50 is provided with a capacitor 88 in parallel with its cathode and with a voltage-limiting diode 82 in parallel with its anode electrode. As can be seen from Fig.3. For example, the cathode of the feedback switching field effect transistor 50 is connected to the pulse generator 32 to obtain the feedback switching pulse H. As can be seen from the timing diagram in FIG. 2, during each channel cycle the switching pulse H has a leading edge which coincides with the leading edge of the pulse E and a trailing edge which occurs later than the trailing edge of the pulse E. During the pulse H the feedback switching field effect transistor 50 is open and thus the output of the feedback amplifier is not applied to the bias circuits of the phototransistors during this time.Before and after the occurrence of the pulse // during each channel cycle the output of the feedback amplifier 48 is passed through the feedback switching field effect transistor 50 to the bias noise for the phototransistor in the activated channel applied If, for example, the multiplexer, controlled by the clock, has activated channel b and the phototransistor 226 accordingly

durch seinen Feldeffekttransistor 706 mit dem Eingang des Vorverstärkers 72 verbunden ist, dessen Ausgang an den Eingang des Rückkopplungsvertärkers 48 angelegt ist, ist der Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 während des ^Teils des Kanalzyklus vor der vorderen Flanke des Impulses H leitend. Als Rückkopplungsverstärker 48 wird ein Differential- oder Komparatorverstärker verwendet. Der Verstärker 48 ist mit einem Bezugsspannungseingang 94 versehen, der mit einer Bezugsspannungsquelle 96 verbunden ist. Der Signaleingang 98 des Rückkopplungsverstärkers 48 ist mit dem Ausgang des Vorverstärkers 72 verbunden. Ein Rückkopplungswiderstand 102 ist zwischen dem Ausgang des Rückkopplungsvertärkers 48 und dem Bezugsspannungseingang 94 geschaltet. In dieser Anordnung wirkt der Rückkopplungsverstärker 48 so. daß der Ausgang auf einer solchen Spannung gehalten wird, daß die an den Signaleingang 98 angelegte Signalspannung in gleicher Größe und in gleicher Polarität wie die Bezugsspannung am Eingang 94 vorhanden ist. Entsprechend ändert sich die durch den Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 durch den Rückkopplungsschalt- Feldeffekttransistor 50 an die Basis des Fototransistors 22b angelegte Spannung mit Änderungen im Ausgang des Fototransistors 226 als Folge von Umgebungsbedingungen beim Fehlen eines Licht>mpulssignals von der Diode 20b. Wenn beispielsweise das auf den Fototransistor 22f> auftreffende Umgebungslicht oder die Umgebungstemperatur zunehmen, erhöht sich der Ausgang des Fototransistors als Folge einer solchen Änderung und der Signalspannungseingang zum Rückkopplungsvertärker 48 wird stärker negativ. Dies führt zu einer Zunahme der negativen Rückkopplung des Verstärkers und die Vorspannung, die an die Basis des Fototransistors 226 angelegt wird, wird verringert, bis der Signalspannungseingang zum Rückkopplungsverstärker 48 erneut in seiner Größe dem Bezugsspannungseingang gleich wird. Der als Speicherkondensator dienen-1 e Kondensator 88 wird auf eine Spannung aufgeladen, die dem Ausgang des Rückkogplungsverstärkers 48 während des Teils des Zyklus vor der vorderen Flanke des Impulses H entspricht. Während des Auftretens des Rückkopplungsschaltimpulses H, und folglich während der Periode, in der der Rückkopplungsschalt-Feldeffekttransistor 50 geöffnet bzw. nicht leitend ist, ist die an die Basis des Fototransistors 22b angelegte Spannung die Spannung des Kondensators 88 und hat folglich einen Wert, der durch die Umgebungsbedingungen unmittelbar vor dem Impuls E bestimmt wird, der die lichtaussendende Diode 206 erregt, um das Lichtimpulssignal für den Fototransistor 226 zu erzeugen. Zum Ausgleichen von Änderungen in dem Umgebungslicht und in der Umgebungstemperatur bewirkt der Rückkopplungskreis 46 zusätzlich, daß jeder Fototransistor ein im wesentlichen identisches Ansprechen erzeugt bezogen auf das, da* durch die anderen Fototransistoren erzeugt wird, selbst dann, 'venn die Fototransistoren in ihren Charakteristiken nicht genau übereinstimmen.is connected by its field effect transistor 706 to the input of the preamplifier 72, whose output is applied to the input of the Rückkopplungsvertärkers 48, the feedback switching field effect transistor 50 is conducting during the ^T Eils the channel cycle before the front edge of the pulse H. A differential or comparator amplifier is used as the feedback amplifier 48. The amplifier 48 is provided with a reference voltage input 94 which is connected to a reference voltage source 96. The signal input 98 of the feedback amplifier 48 is connected to the output of the preamplifier 72. A feedback resistor 102 is connected between the output of the feedback amplifier 48 and the reference voltage input 94. In this arrangement, the feedback amplifier 48 functions. that the output is held at such a voltage that the signal voltage applied to the signal input 98 is present in the same magnitude and in the same polarity as the reference voltage at the input 94. Correspondingly, the voltage applied through the output of the feedback amplifier 48 through the feedback switching field effect transistor 50 to the base of the phototransistor 22b changes with changes in the output of the phototransistor 226 as a result of environmental conditions in the absence of a light pulse signal from the diode 20b. For example, if the ambient light incident on the phototransistor 22f> or the ambient temperature increases, the output of the phototransistor increases as a result of such a change and the signal voltage input to the feedback amplifier 48 becomes more negative. This increases the negative feedback of the amplifier and the bias applied to the base of phototransistor 226 is decreased until the signal voltage input to feedback amplifier 48 again becomes equal in magnitude to the reference voltage input. The storage capacitor 88 is charged to a voltage equal to the output of the feedback amplifier 48 during the portion of the cycle before the leading edge of the H pulse. During the occurrence of the feedback switching pulse H, and consequently during the period in which the feedback switching field effect transistor 50 is open or non-conductive, the voltage applied to the base of the phototransistor 22b is the voltage of the capacitor 88 and thus has a value that is through the environmental conditions are determined immediately prior to the pulse E which energizes the light emitting diode 206 to generate the light pulse signal for the phototransistor 226. Additionally, to compensate for changes in ambient light and temperature, the feedback circuit 46 causes each phototransistor to produce a substantially identical response to that produced by the other phototransistors, even if the phototransistors do not have their characteristics match exactly.

Die in der Zeichnung dargestellte Sicherungseinrichtung ermöglicht weiterhin, daß wahlweise ein Kanal oder mehrere Kanäle des Lichtvorhanges ausgeschaltet werden können. Dies wird in einfachster Weise dadurch erreicht, daß ein simuliertes Ausgangssignal vom Fototransistor in dem Kanal geschaffen wird, azr abzuschalten ist. F i g. 4a zeigt, daß jeder der Fototransistoren 22a, 226... 22n mit einem Abschalter 104a, 1046 ... 104/7 in Reihe mit einem Widerstand mit dem Ausgang Ede:. Impulsgenerators verbunden ist. Wenn beispielsweise der Kanal b abgeschaltet werden soll, wird der Abschalter 1046 von Hand geschlossen und der Impuls £ wird durch den Vorverstärker 72 und den Rückkopplungsverstärker 48 an die Impulserfassungseinrichtung 34 angelegt. Selbst dann, wenn der Sendekanal b gestört ist und der Lichtimpuls von der Diode 206 den Fototransistor 226 nicht erreicht, ist der Impuls vorhanden, der den Ausgang des Fototransistors 226 simuliert, und es ist in dem gewählten Kanal kein Fehlimpuls vorhanden in der Impulskette. die an den Fehlimpulsdetektor 40 angelegt wird. Der gewählte Kanal ist damit effektiv abgeschaltet. Ein solches Abschalten von Kanälen ist erwünscht, wenn beispielsweise eine Wartung oder ein Versuchsbetrieb an der Maschine vorgenommen werden soll.The safety device shown in the drawing also enables one or more channels of the light curtain to be switched off. This is achieved in the simplest manner in that a simulated output signal from the phototransistor is created in the channel to which azr is to be switched off. F i g. 4a shows that each of the phototransistors 22a, 226 ... 22n with a switch 104a, 1046 ... 104/7 in series with a resistor with the output Ede :. Pulse generator is connected. If, for example, the channel b is to be switched off, the switch 1046 is closed by hand and the pulse £ is applied to the pulse detection device 34 through the preamplifier 72 and the feedback amplifier 48. Even if transmission channel b is disturbed and the light pulse from diode 206 does not reach phototransistor 226, the pulse is present which simulates the output of phototransistor 226 and there is no missing pulse in the pulse train in the selected channel. which is applied to the missing pulse detector 40. The selected channel is effectively switched off. Such a switching off of channels is desirable if, for example, maintenance or trial operation is to be carried out on the machine.

Die als Ganzes mit 34 bezeichnete Impulserfassunjseinrichtung ist in Fig. 4a und Fig. 4b in Einzelheiten dargestellt. Bei der Erläuterung der F i g. 3 wurde angegeben, daß der Ausgang des Vorverstärkers 72 und der Ausgang des Rückkopplungsverstiirkers 48 Impulsketten sind, die durch aufeinanderfolgende Lichtimpulssignale von den Kanälen erzeugt werden. Wenn keiner der Lichtstrahlen im Lichtvorhang du^rch ein Hindernis unterbrochen wird, bestehen die Impulsketten vom Vorverstärker 72 und vom Rückkopplungsverstarker 48 aus im gleichen Abstand aneinandergereihten Impulsen mit Wellenform. Wenn ein Impuls oder mehrere Impulse aus den Impulsketten fehlen, ist ein Eindringen in die Schutzzone oder ein Hindernis angezeigt und die Kontroll- oder Steuerschaltung wird durch die Impulserfassungseinrichtung 34 das Relais 44 entregen und die Maschine sofort stillsetzen. In Fig.4a ist der Analog/ Digital-Wandler 38 in Einzelheiten dargestellt. Der Wandler umfaßt eine Differenzierschaltung 110. die die vom Rückkopplungsverstarker 48 eingehende Impulskette empfängt und die Impulse differenziert. Der Ausgang der Differenzierschaltung ist an einen Komparator 112 angelegt, der einen Ausgang erzeugt, wenn am Eingang eine gegebene Polarität vorausgesetzt ist, die eine vorbestimmte Amplitude übersteigt. Die Differenzierschaltung 110 umfaßt einen Operationsverstärker mit einem positiven Eingang, der mit Masse verbunden ist Die Impulskette vom Ausgang des Rückkopplungsverstärkers 48 wird über einen Kopplungskondensator 114 und einen in Reihe geschalteten Widerstand 116 an den negativen Eingang des Operationsverstärkers angelegt. Der Verstärkerausgang wird durch einen Rückkopplungswiderstand 118 und einen diesem parallelgeschalteten Kondensator 120 an den negativen Eingang des Verstärkers angelegt Der Ausgang der Differenzierschaltung 110 ist mit dem Komparator 112 verbunden. Dieser umfaßt einen Operationsverstärker und ist mit einer Schwellwertspannung an seinem Bezugseingang durch Anleger, an den positiven Pol einer Spannungsquelle versehen. Das von der Differenzierschaltung 110 kommende Signal wird durch einen Kopplungswiderstand 124 an einen invertierenden Eingang des Operationsverstärkers angelegt Dieses Eingangssignal wird Oh·?!· eine Zenerdiode 126 angelegt um die positiven Impulse durchzulassen und die Amplitude der negativen Impulse am invertierenden Eingang zu begrenzen. Der Operationsverstärker erhält femer an einem Auswerteeingang vom impulsgenerator 32 ein Impulssignal F. Die Impulssignale F und F sind in dem Zeitdiagramm dargestellt Der Impuls F, der den Komparator 112 tastet hat eine vordere Ranke, die mit der hinterenThe pulse detection device designated as a whole by 34 is shown in detail in FIGS. 4a and 4b. In explaining the FIG. In Figure 3, the output of preamplifier 72 and the output of feedback amplifier 48 were indicated to be trains of pulses generated by successive light pulse signals from the channels. If none of the light beams in the light curtain you ^r ch a barrier is broken, there are the pulse trains from the preamplifier 72 and the Rückkopplungsverstarker 48 of rows of equidistant pulses waveform. If a pulse or several pulses from the pulse train are missing, a penetration into the protection zone or an obstacle is indicated and the control or control circuit will de-energize the relay 44 through the pulse detection device 34 and stop the machine immediately. The analog / digital converter 38 is shown in detail in FIG. The transducer includes a differentiating circuit 110 which receives the pulse train from the feedback amplifier 48 and differentiates the pulses. The output of the differentiating circuit is applied to a comparator 112 which produces an output if a given polarity is assumed at the input which exceeds a predetermined amplitude. The differentiating circuit 110 includes an operational amplifier having a positive input connected to ground. The pulse train from the output of the feedback amplifier 48 is applied to the negative input of the operational amplifier through a coupling capacitor 114 and a series connected resistor 116. The amplifier output is applied to the negative input of the amplifier through a feedback resistor 118 and a capacitor 120 connected in parallel. The output of the differentiating circuit 110 is connected to the comparator 112. This includes an operational amplifier and is provided with a threshold value voltage at its reference input by investor, to the positive pole of a voltage source. The signal coming from the differentiating circuit 110 is applied through a coupling resistor 124 to an inverting input of the operational amplifier. This input signal is applied to a Zener diode 126 to let the positive pulses through and to limit the amplitude of the negative pulses at the inverting input. The operational amplifier also receives a pulse signal F from the pulse generator 32 at an evaluation input . The pulse signals F and F are shown in the timing diagram

Flanke des Impulses £ zusammenfällt. Damit fallen die den Komparator 112 tastenden Impulse mit den legativen Eingangsimpulsen am invertierenden Eingang des Komparator zusammen. Infolgedessen liegt am Komparator 112 eine Kette positiver Impulse, wobei ein Impuls für jeden Eingangsimpuls zu der Differenzierschaltung tlO auftritt, vorausgesetzt, daß solche Eingangsimpulse eine hintere Flanke haben, die eine Zeitänderungsgeschwindigkeit hat, die einen Sollwert überschreitet. Wenn die Änderungsgeschwindigkeit kleiner als der Sollwert ist, beträgt das an den invertierenden Eingang des Komparators angelegte differenzierte Signal weniger als die Schwellwertspannung und es entsteht kein Ausgangssignal. Der Analog/Digital-Wandler 38 läßt ein Ausgangssignal nur bei Eingangsimpulsen entstehen, die zusammenfallend mit dem Tastimpuls Fauftreten, und nur dann, wenn die hintere Flanke des Eingangsimpulses eine ZeitänderungsgeschwinHigkeit hat. die den Sollwert überschreitet. Da die !rhtaussendenden Dioden extrem schnelle Anstiegs- und Abschwellzeiten haben, besteht kaum die Wahrscheinlichkeit, daß ein Geräuschimpuls oder ein Fehlsignal die erforderliche Zeitänderungsgeschwindigkeit hat und außerdem innerhalb des Tastimpulses auftritt. Der Ausgang des Analog/Digital-Wandlers ist dem Eingang des Fehlimpulsdetektors 40 verbunden.Edge of the pulse £ coincides. With that they fall the comparator 112 sampling pulses with the legal input pulses at the inverting input the comparator together. As a result, there is a chain of positive pulses at the comparator 112, where one pulse occurs for each input pulse to the differentiating circuit t10, provided that such Input pulses have a trailing edge that has a rate of time change that has a set point exceeds. If the rate of change is less than the target value, it will amount to the inverting input of the comparator applied differentiated signal less than the threshold voltage and there is no output signal. The analog / digital converter 38 leaves an output signal only occur with input pulses that coincide with the key pulse F, and only when the trailing edge of the input pulse a rate of change in time Has. which exceeds the setpoint. Since the emitting diodes are extremely fast Have rise and fall times, there is little likelihood of a noise impulse or a Missing signal has the required rate of time change and also within the key pulse occurs. The output of the analog / digital converter is connected to the input of the missing pulse detector 40.

Der Analog/Digital-Wandler 36 dient der Erzeugung eines Prüfsignals, das die Funktionsfähigkeit der Feldeffekttransistoren 70a, 70b... 70n anzeigt. Aus dem Zeitdiagramm nach F i g. 2 ist ersichtlich, daß der Impulsgenerator 32 einen Impuls G zum Ende jedes Kanalzyklus hin erzeugt und zwar nachdem der Impuls G an die lichtaussendende Diode angelegt worden ist. Der Impuls G wird, wie aus F i g. 3 ersichtlich ist, an den Eingang 68 des Empfängerkanal-Multiplexers 28 angelegt. Entsprechend wird der Impuls G durch den Multiplexerkanalausgang an die Kathode des Feldeffekttransistors 70a. 70b ... 70/7 angelegt, je nachdem, welcher der Kanäle aktiviert ist. Der Impuls G bewirkt ein Öffnen des als Kanalschalter dienenden Feldeffekttransistors und zwar für die kurze Dauer des Impulses. Als Folge davon läßt der Vorverstärker 72 eine Kette von Ausgangsimpulsen entstehen, wobei während jedes Kanalzyklus ein Impuls auftritt, was mit dem Auftreten des Impulses G zusammenfällt. Vom Vorverstärker 72 wird diese Impulskette an den Eingang des Analog/Digital-Wandlers 36 angelegt. Aus F i g. 4a ist ersichtlich, daß der Wandler 36 einen Operationsverstärker umfaßt, der einen invertierenden Eingang hat, welcher mit der Schwelle ertspannungsquelle 122 verbunden ist. Ein Eingang des Verstärkers ist über einen Wklcritsrid 132 mit dem Ausgang des Vorverstärkers 72 verbunden und über einer. Kondensator 134 an Masse gelegt Eine Zenerdiode 138 ist an den Eingang angeschlossen, um die negativen Bereiche der Eingangsspannung auf einen Sollwert zu begrenzen. Damit erreicht die Spannung am besagten Eingang des Operationsverstärkers den Wert Null, wenn der Feldeffekttransistor geöffnet wird, und er bleibt auf Null, bis der als Kanalschalter dienende Feldeffekttransistor geschlossen wird. Infolgedessen bewirk: H-e Spannung am lnveriieiciiden Eingang, daß der Operationsverstärker einen positiven Rechteckweilenimpuls während der öffnung des Kanalschalters erzeugt Das Ausgangssignal des Änalog/Digital-Wandiers 36 ist eine Keife ·0" Impulsen K, wobei während jedes Kanalzyklus ein Impuls auftritt vorausgesetzt daß der Kanalschalter ordnungsgemäß arbt.tetThe analog / digital converter 36 is used to generate a test signal which indicates the functionality of the field effect transistors 70a, 70b ... 70n. From the timing diagram according to FIG. 2, it can be seen that the pulse generator 32 generates a pulse G towards the end of each channel cycle, after the pulse G has been applied to the light emitting diode. The momentum G is, as shown in FIG. 3 is applied to the input 68 of the receiver channel multiplexer 28. The pulse G is correspondingly transmitted through the multiplexer channel output to the cathode of the field effect transistor 70a. 70b ... 70/7 created, depending on which of the channels is activated. The pulse G causes the field effect transistor serving as a channel switch to open for the short duration of the pulse. As a result, the preamplifier 72 creates a train of output pulses with one pulse occurring during each channel cycle, which coincides with the occurrence of the G pulse. The preamplifier 72 applies this pulse train to the input of the analog / digital converter 36. From Fig. 4a it can be seen that the converter 36 comprises an operational amplifier which has an inverting input which is connected to the threshold voltage source 122. One input of the amplifier is connected to the output of the preamplifier 72 via a Wklcritsrid 132 and via a. Capacitor 134 Grounded A zener diode 138 is connected to the input to limit the negative ranges of the input voltage to a set point. The voltage at said input of the operational amplifier thus reaches the value zero when the field effect transistor is opened, and it remains at zero until the field effect transistor serving as a channel switch is closed. Consequently bewirk: He voltage at lnveriieiciiden input, that the operational amplifier produces a positive rectangular Because pulse during the opening of the channel switch, the output signal of the Änalog / digital Wandiers 36 is a Keife · 0 "pulses K, where occurs during each passage cycle, a pulse provided that the channel switch works properly

Der Fehlimpulsüeiektor 40 ist inThe missing pulse detector 40 is in

F i g. 4b dargestellt. Er spricht auf das Fehlen eines oder mehrerer Impulse in der Kette von Impulsen / an, die vom Analog/Digital-WVidlcr J8 ausgehen. Der Fehlimpulsdetektor 40 erzeugt ein Steuersignal, wenn einer der Lichtstrahlen im Lichtvorhang auf ein Hindernis au^rtrifft. Der Fehlimpulsdetektor 40 umfaßt eine Flip-Flop-Schaltung 140, deren /-Eingang mit dem Ausgang des Analog/Digital-Wandlers 38 verbunden ist. Der Av-Eingang ist mit dem Ausgang des Wandlers über einen Wechselrichter 142 verbunden. Der Takteingang der Flip-Flop-Schaltung 140 ist mit dem Ausgang für die Tastimpulse F des Impulsgenerator 32 über einen Wechselrichter 144 verbunden. Der freie Eingang der Fiip-Flop-Schaltung erhält das Taktgebersignal DI vom Taktgeber 30. Entsprechend ist der Q-Ausgang der Flip-Flop-Schaltung ein positiver Impuls, der jedem Signalimpuls / entspricht und eine vordere Flanke hat, die mit diesem zusammenfällt, während eine hintere Hanke mit dem negativen Teil des Takigeuo impulses D 1 zusammenfällt. Der Fehlimpulsdetektor 40 umfaßt ferner eine UND-Schaltung 146, deren einer Eingang mit dem Ausgang der Flip-Flop-Schaltung 140 verbunden ist. Einem weiteren Eingang der UND-Schaltung wird eine Kette von Impulsen K vom Analog/Digital-Wandler 36 über Pufferschaltungen 148 und 152 zugeführt. Wenn der Signalimpuls / und der Testimpuls K vorhanden ist, erzeugt die UND-Schaltung 146 einen Ausgangsimpuls. Dieser ist eine Impulskette, wobei für jeden Kanalzyklus ein Impuls während des Testimpulses K auftritt (teilweise den Impuls G überlappend), wobei die Impulskette kontinuierlich ist, das heißv, keinen fehlenden Impuls aufweist, außer dann, wenn einer der Lichtstrahlen auf ein Hindernis stößt, oder wenn der Kanalschalter nicht funktioniert. Um das Fehlen eines Impulses G3 an der UND-Schaltung 146 festzutellen, sind eine Flip-Flop-Schaltung 154 und eine identische Redundanz-Flip-Flop-Schaltung 156 vorgesehen. Diese Flip-Flop-Schaltungen erzeugen einen hohen Ausgang, wenn der positive Teil de:. Impulses G zu einer Zeit erhalten wird, wenn kein G3-lmpuls anliegt. Zu diesem Zweck ist der D-Eingang beider Flip-Flop-Schaltungen 154 und 156 mit dem Ausgang der UND-Schaltung 146 verbunden, um die Kette der Impulse G3 zu e;/alten. Die C-Eingänge der Flip-Flop-Schaltungen 154 und 156 werden mit einer Kette von Impulsen G vom Impulsgenerator 32 gespeist, wobei die Impulse über Wechselrichter 158 bzw. 160 angelegt werden. Die freien Eingänge der Flip-Flop-Schaltungen 154 und 156 sind mit der Sperrschaltung 158 verbunden. Wie noch erläutert werden wird, sind die Testpunkte hoch, wenn die Startschaltung eine Fehlfunktion hat und infolgedessen bewirken die freien Eingänge kein Hochgehen der Q 2- und Q3-Ausgänge der Flip-Flop-Schaltungen, solange die Startschaltung keinen Fehler hat. Die Q2- und Q 3-Ausgänge der Flip-Flop-Schaltungen 154 und 156 sind niedrig, außer dann, wenn ein negativer Impuls an die C-Eingänge der Flip-Flop-Schaltungen angelegt wird, ohne daß ein positiver Impuls an den D-Eingängen anliegt Wenn also der Signalimpuls G 3 vorhanden ist und den positiven Teü von G überlappt, bleiben die Ausgänge Q2 und Q3 niedrig. »Venn ein Signalimpuls G 3 fehlt, steigen die Ausgänge Q 2 und (?3 an und bleiben hoch, bis die Startschaltung von Hand zurückgestellt wird. Die Q 2- »nd Q 3-Ausgänge sind mitF i g. 4b. It responds to the absence of one or more impulses in the chain of impulses / from the analog / digital WVidlcr J8. The missing pulse detector 40 generates a control signal when one of the light beams in the light curtain with an obstacle au ^r meets. The missing pulse detector 40 comprises a flip-flop circuit 140, the / input of which is connected to the output of the analog / digital converter 38. The Av input is connected to the output of the converter via an inverter 142. The clock input of the flip-flop circuit 140 is connected to the output for the key pulses F of the pulse generator 32 via an inverter 144. The free input of the flip-flop circuit receives the clock signal DI from the clock 30. Correspondingly, the Q output of the flip-flop circuit is a positive pulse that corresponds to each signal pulse / and has a leading edge that coincides with this while a rear flank coincides with the negative part of the Takigeuo pulse D 1. The missing pulse detector 40 further comprises an AND circuit 146, one input of which is connected to the output of the flip-flop circuit 140. A chain of pulses K from the analog / digital converter 36 via buffer circuits 148 and 152 is fed to a further input of the AND circuit. When the signal pulse / and the test pulse K are present, the AND circuit 146 generates an output pulse. This is a pulse train, with a pulse occurring for each channel cycle during the test pulse K (partially overlapping the pulse G ), the pulse train being continuous, which means that there is no missing pulse, except when one of the light beams hits an obstacle, or if the channel switch does not work. In order to determine the absence of a pulse G3 at the AND circuit 146, a flip-flop circuit 154 and an identical redundancy flip-flop circuit 156 are provided. These flip-flops produce a high output when the positive part de :. Pulse G is obtained at a time when there is no G3 pulse. For this purpose, the D input of both flip-flop circuits 154 and 156 is connected to the output of AND circuit 146 in order to alter the chain of pulses G3. The C inputs of flip-flops 154 and 156 are fed a train of G pulses from pulse generator 32, the pulses being applied through inverters 158 and 160, respectively. The free inputs of the flip-flop circuits 154 and 156 are connected to the blocking circuit 158. As will be explained, the test points are high when the start circuit malfunctions and consequently the free inputs do not cause the Q 2 and Q 3 outputs of the flip-flop circuits to go high as long as the start circuit does not have a fault. The Q2 and Q 3 outputs of flip-flops 154 and 156 are low except when a negative pulse is applied to the C inputs of the flip-flops without a positive pulse being applied to the D- If the signal pulse G 3 is present and overlaps the positive part of G, the outputs Q2 and Q3 remain low. If a signal pulse G 3 is missing, the outputs Q 2 and (? 3 rise and remain high until the start circuit is reset manually. The Q 2 and Q 3 outputs are with

6= den Stoppschaltung^ *δ, r,■-" -:*> verbunden, wie F i g. 3 zeig¹. V-'r- ·πη H;e Q 2- und ζ/3-Ai'sgänge hoch wandern, :■;"'-*<·( -ie Sio-npaü-haltungen βθ und 19C- Dl und D 2 cbentaSi roch i'nri die Muli^:plexer stoppen den Kanal.6 = the stop circuit ^ δ *, r, ■ - "- *> connected as F i g 3 show ^V-1 ·'r- πη H e Q 2 and ζ / 3 Ai'sgänge high.. wander,: ■; "'- * <· (-ie Sio-npaü-attitudes βθ and 19C- Dl and D 2 cbentaSi smelled i'nri the Muli ^: plexers stop the channel.

t4t4

Der Ausgang des Fehlimpulsdetektors 40 ist mit dem Eingang des Relaisantriebes 42 verbunden, der nachstehend erläutert wird.The output of the missing pulse detector 40 is with the Connected input of the relay drive 42, which will be explained below.

Einzelheiten des Relaisantriebes 42 und des Relais 44 sind in Fig.4b dargestellt und zwar innerhalb des strichpunktiert umrandeten Rechtecks, das mit 42—44 bezeichnet ist Dieser Relaisteil der Kontroll- oder Steuerschaltung steuert die Maschine, an die die Sicherungseinrichtung angebaut ist Das Relais selbst bildet einen Teil der Steuerschaltung und bewirkt den to Stillstand der Maschine oder deren Antrieb in Abhängigkeit des Zustands des Relais. Der Relaisantrieb umfaßt eine NOR-Schaltung 164 und eine identische Redundanz-NOR-Schaltung 166. Ein Eingang der NOR-Schaltung 164 ist mit dem Q2-Ausgang des FehlimpuLdetektors 40 verbunden, der niedrig ist solange kein Fehlimpuls Festgestellt wird. Der andere Eingang der NOR-Schaltung 164 ist über die Leitung 168 mit der Sperrschaltung 58 verbunden, der niedrig ist wenn kein« Fehlfunktion anliegt Wenn also kein Impuls fehlt was durch den niedrigen Ausgang des Fehlimpulsdetektors 40 angezeigt wird, und wenn keine Fe!.(funktion anliegt was durch die Sperrschaltung 58 angezeigt wird, erhält die NOR-Schaltung 164 niedrige Eingänge und erzeugt einen hohen Ausgang. In gleicher Weise erhält die Redundanz-NOR-Schaltung 166 einen niedri gen Eingang von der Redundanz-Flip-Flop-Schaltung 156 des Fehlimpulsdetektors 40 und sie erhält einen niedrigen Eingang vom Ausgang der Sperrschaltung 58 über eine Leitung 172, wenn keine Fehlfunktion anliegt. Die NOR-Schaltung 166 erzeugt unter diesen Umständen ein Hoch. Der Relaisantrieb umfaßt einen Transistorverstärker 174. dessen Basis dem Ausgang der NOR-Schaltung 164 über einen Widerstand 176 verbunden ist der über einen Widerstand 178 und einer. Kondensator 180 mit Masse verbunden ist. Der Transistorverstärker stauen das Erregen eines Steuerrelais R 1. Zu diesem Zweck ist der Emitter geerdet und der Kollektor über die W cklung 182 des Steuerrelais mit einer Spannungsquelle verbunden. Eine schützende Diode 184 überbrückt die Wicklung 182. IJas Steuerre- · lais R 1 weist Relaiskontakte 183 (F i g. 4a) auf. Die NOR-Schaltung 166 ist mit ihrem Ausgang mit dem Eingang eines Redundanz-Transistorverstärkers 174' verbunden, der das Erregen eines Redundanz-Steuerre- 4$ lais R 2 steuert. Der Transistorverstärker 174' ist dem Transistorverstärker 174 identisch und entsprechende Teile haben die gleichen Bezugszeichen, denen jedoch ein Strich hinzugefügt wurde. Ist der Ausgang der NOR-Schaltung hoch, ist der Transistorverstärker 174' leitend und das Steuerrelais R 2 wird erregt. Die Selbstüberprüiungsschaltung wird in Finzelheiten unter Hinweis auf F i g. 3. F i g. 4a und 4b beschreiben. Die Selbstüberprüfungsschaltung soll Testsignale von ausgewählten Punkten der Steuerschaltung ableiten, so daß diese anzeigen, ob irgendein Defekt in der Einrichtung aufgetreten ist. Zu diesem Zweck ist der Scndertest-Multiplexer 52 vorgesehen und mit meinem Kanaladrcsseneingang mit dem Tastgeber über eine Stoppschaltung 190 mit dem D2-Taktgebersignalausgang verbun- den. Da das Taktgebersignal D 2 mit dem Taktgeber D1 identisch ist, wird der Sendertest-Multiplexer 52 synchron mit dem Senderkanal-Multiplexer 26 betätigt. Die Kanalausgänge a, b, c, usw. des Senderkanal-Multiplexers 26 sind jeweils mit den Kanaleingängen a', b', c', usw. des Sendertest-Multiplexers 52 verbunden. Auf diese Weise erhält der Ausgang 92 des Sendertest-Multiplexers 52 eine Kette von Impulsen P. die. wie bereitsDetails of the relay drive 42 and the relay 44 are shown in FIG. 4b, namely within the rectangle outlined by dash-dotted lines, which is denoted by 42-44. This relay part of the control circuit controls the machine to which the safety device is attached. The relay itself forms part of the control circuit and causes the machine or its drive to come to a standstill, depending on the state of the relay. The relay drive includes a NOR circuit 164 and an identical redundancy NOR circuit 166. One input of NOR circuit 164 is connected to the Q2 output of misspulse detector 40, which is low as long as no misspulse is detected. The other input of the NOR circuit 164 is connected via the line 168 to the blocking circuit 58, which is low if there is no malfunction, i.e. if no pulse is missing, which is indicated by the low output of the missing pulse detector 40, and if no Fe!. ( function is present, which is indicated by the inhibitor circuit 58, the NOR circuit 164 receives low inputs and produces a high output. Similarly, the redundancy NOR circuit 166 receives a low input from the redundancy flip-flop circuit 156 of the Missing pulse detector 40 and it receives a low input from the output of interlock circuit 58 on line 172 when there is no malfunction. NOR circuit 166 produces a high under these circumstances 164 is connected via a resistor 176 which is connected to ground via a resistor 178 and a capacitor 180. The transistor orverstärker stow the energization of a control relay R 1. For this purpose, the emitter is grounded and the collector on the W cklung 182 connected to the control relay with a voltage source. A protective diode 184 bridges the winding 182. The control relay R 1 has relay contacts 183 (FIG. 4a). The output of the NOR circuit 166 is connected to the input of a redundancy transistor amplifier 174 'which controls the energization of a redundancy control relay R 2. The transistor amplifier 174 'is identical to the transistor amplifier 174 and corresponding parts have the same reference numerals with the addition of a prime. When the output of the NOR circuit is high, the transistor amplifier 174 'is conductive and the control relay R 2 is energized. The self-checking circuit is discussed in detail with reference to FIG. 3. F i g. Describe 4a and 4b. The purpose of the self-checking circuit is to derive test signals from selected points in the control circuit so that these indicate whether any defect has occurred in the device. The scanner test multiplexer 52 is provided for this purpose and is connected to my channel address input with the pushbutton via a stop circuit 190 with the D2 clock signal output. Since the clock signal D 2 is identical to the clock D 1, the transmitter test multiplexer 52 is operated synchronously with the transmitter channel multiplexer 26. The channel outputs a, b, c, etc. of the transmitter channel multiplexer 26 are each connected to the channel inputs a ', b', c ', etc. of the transmitter test multiplexer 52. In this way, the output 92 of the transmitter test multiplexer 52 receives a chain of pulses P the. as already erläutert wurde, durch den Senderkanal-Multiplexer 26 vom Impulsgenerator 32 herrührt Die Impulse E sind die Treiberimpulse für die lichtaussendenden Dioden. Der Ausgang 192 des Sendertest-Multiplexers erzeugt somit eine Kette von Impulsen MD, die gemäß der Darstellung MD im Zeitdiagramm nach F i g. 2 invertiert mit der Kette der Impulse E zusammenfällt abgesehen von der der Schaltung innewohnenden Verzögerung. Das Testsignal MDwird vom Augang 192 des Sendertest-Multiplexers über eine Leitung 194 an eine Flip-Flop-Schaltung 1% angelegt die MD erzeugt und dieses Signal wird wiederum an den Eingang des binären Komparators 51 angelegt In gleicher Weise ist ein Empfängertest-Multiplexer 54 zum Entwickeln eines Testsignals für die Verwendung in der Sicherungseinrichtung vorgesehen. Der Empfängertest-Multiplexer 54 hr,t einen Kanaladresseneingang 198, der mit dem Taktgeber 30 verbunden ist um das D2-Taktgebersignal über die Stoppschaltung 190 zu erhaltea Infolgedessen wird der Empfängertest-Multiplexer 54 synchron mit dem Sendertest-Multiplexer 52 sowie synchron mit den Multiplexers 28 und 26 betrieben. Die Kanalausgän ge a. b. c usw. des Empfängerkanal-Multiplexers 28 sind ην' 0·?ίΐ Kanaleingängen a'. b'. c'usw. des Empfängertest Multiplexers 54 verbunden. Der Ausgang 200 des Empfängertest-Multiplexers 54 erhält eine Kette von Impulsen MT. die durch die Kette von Im-viisen G erzeugt wird, wek-iie vom Impulsgenerator 32 über den Empfängerkanal-Multiplexer 21} übertragen wird. Nach dem Zeitdiagramm (F 1 g. 2) liegen die Impulse MT synchron zu den Impulsen C und fallen mit diesen i-usjmmcn. abgesehen von der der Schaltung innewoh nenden Zeit verzögerung. Das Test-signal AfTwird durch eine Flip-F-iop-Schaltung 202 geleitet um das Signal zu invertieren und damit das Testsignal AfTan den Eingang des binären Komparators 51 anzulegen. Ferner wird der Impuls £ vom Impulsgenerator 32 über eine Leitung 204 als Testsignal an den binären Komparator 51 angelegt. Außerdem werden drei Testsignale G 3. K und Q(PX) vom Fehlimpulsdetekior 40 abgeleitet und über Leitungen 206,208 bzw. 210 an den Eingang des binären Komparators 51 angelegt.was explained by the transmitter channel multiplexer 26 from the pulse generator 32. The pulses E are the drive pulses for the light-emitting diodes. The output 192 of the transmitter test multiplexer thus generates a chain of pulses MD which, according to the representation MD in the timing diagram according to FIG. 2, inverted, coincides with the chain of pulses E apart from the delay inherent in the circuit. The test signal MD is applied from the output 192 of the transmitter test multiplexer via a line 194 to a flip-flop circuit 1%, the MD is generated and this signal is in turn applied to the input of the binary comparator 51 Developing a test signal intended for use in the security device. The receiver test multiplexer 54 hr, t has a channel address input 198 which is connected to the clock generator 30 in order to receive the D2 clock generator signal via the stop circuit 190a As a result, the receiver test multiplexer 54 becomes synchronous with the transmitter test multiplexer 52 as well as synchronous with the multiplexer 28 and 26 operated. The channel outputs from c etc. of the receiver channel multiplexer 28 are ην '0 ·? Ίΐ channel inputs a'. b '. c'etc. of the receiver test multiplexer 54 connected. The output 200 of the receiver test multiplexer 54 receives a train of pulses MT. which is generated by the chain of Im-viisen G, which is transmitted from the pulse generator 32 via the receiver channel multiplexer 21}. According to the timing diagram (F 1 g. 2), the pulses MT are synchronous with the pulses C and fall with these i-usjmmcn. apart from the time delay inherent in the circuit. The test signal AfT is passed through a flip-f-iop circuit 202 in order to invert the signal and thus apply the test signal AfT to the input of the binary comparator 51. Furthermore, the pulse £ from the pulse generator 32 is applied to the binary comparator 51 as a test signal via a line 204. In addition, three test signals G 3. K and Q (PX) are derived from the missing pulse detector 40 and applied to the input of the binary comparator 51 via lines 206, 208 and 210, respectively.

Die Selbstüberprüfungsschaltung mit den Flip Flop-Schaltungen '96 und 20Z dem binären Komparator 51. dem Fehlimpulsdetektor 56 und der Sperrschaltung 58 ist in F i g. 4b in Einzelheiten dargestellt. Die Flip-Flop-Schaltung 196 umfaßt eine Flip-Flop Schaltung 214 und eine Redundanz-Flip Hop-Schaltung 216. die zum Invertieren des Testsignals MD dient, das an den binären Komparator 51 angelegt wird. Der Voreinstelleingang der Flip-Flop-Schaltungen ist durch eine Leitung mit dem Impulsgenerator 32 verbunden, um eine Kette von Impulsen / /ti erhalten, die unmittelbar nach dem Impuls P. für die lichtaussendenden Dioder auftritt. Während jedes Kanalzyklus und in Vorberei tung auf den nächstfolgenden Kanal/vklus wtrden J.. Flip-Flop-Schaltungen 214 und 216 so voreingestellt daß deren (?-Ausgang niedrig ist. Die O-Eingange dei Flip-Flop-Schaltungen 214 und 216 .ind über einer Leiter geerdet und die C-Eingange der Hip-Flop-Schal tungen erhalten das Λ/D-Testsignal vom Ausgang 19; des Senderiest-Multiplexers 52. In dieser Anordnunj erzeugen die (^-Ausgänge der Flip-Flop-Schaltungei 214 und 216 eine Umkehrung des an den C-Eingängci anliegenden Signals. Aus dem Zeitdiagramm is ersichtlich, daß das MD-Testsignal bei richtigem Betriel der Einrichtung niedrig ist. bis der Impuls £ auftritt un< dann wird das Testsignal MD hoch. Infolgedessen isThe self-checking circuit with the flip-flop circuits '96 and 20Z, the binary comparator 51, the missing pulse detector 56 and the blocking circuit 58 is shown in FIG. 4b shown in detail. The flip-flop circuit 196 comprises a flip-flop circuit 214 and a redundancy flip-hop circuit 216 which is used to invert the test signal MD which is applied to the binary comparator 51. The preset input of the flip-flop circuits is connected by a line to the pulse generator 32 in order to obtain a train of pulses / / ti which occurs immediately after the pulse P. for the light emitting diode. During each channel cycle and in preparation for the next channel cycle, J .. flip-flops 214 and 216 are preset so that their (? Output is low. The 0 inputs of flip-flops 214 and 216. Ind grounded via a conductor and the C inputs of the hip-flop circuits receive the Λ / D test signal from the output 19 of the Senderiest multiplexer 52. In this arrangement, the (^ outputs of the flip-flop circuit 214 and 216 an inversion of the signal applied to the C inputs C. It can be seen from the timing diagram that the MD test signal is low when the device is operated correctly, until the pulse £ occurs and then the test signal MD goes high

wegen seiner mit dem F-Signal zusammenfallenden Periode die Umkehr des Impulses MD niedrig, d. h. der Testimpuls MD ist während der Zeitspanne niedrig, in der er mit dem Ε-Impuls zusammenfällt. because of its coinciding with the F-signal period of the pulse low reverse MD, ie the MD test pulse is low during the period in which it coincides with the Ε pulse.

Die Flip-Flop-Schaltung 202 umfaßt eine Flip-Flop-Schaltung 222 und eine Redundanz-Flip-Flop-Schaltung 224. Diese Flip-Flop-Schaltungen arbeiten in der gleichen Weise, wie auch die Flip-Flop-Schaltungen 214 und 216. Die C-Eingänge der Flip-Flop-Schaltungen 222 und 224 erhalten das Testsignal MT vom Empfängertest-Multiplexer 54. Wenn kein Defekt vorhanden ist, sind die (^-Ausgänge der Flip-Flop-Schaltungen 222 und 224 während der Periode niedrig, in der der Ausgang mit dem Signal E zusammenfällt Die Ausgänge der Flip-Flop-Schaltungen 214 und 216 an den Leitungen 226 und 228 entsprechend groß MD sind bei NichtVorhandensein eines Defektes niedrig. Infolgedessen stellen die Ausgänge der Flip-Flop-Schaltungen 222 und 224 an den Leitungen 230 und 232 das Testsignal MT und sind niedrig, wenn kein Defekt vorhanden ist. Diese Ausgänge werden an den Eingang des binären (Comparators 51 zusammen mit den anderen Testsignalen angelegt.The flip-flop circuit 202 includes a flip-flop circuit 222 and a redundancy flip-flop circuit 224. These flip-flop circuits operate in the same way as the flip-flop circuits 214 and 216. The C inputs of flip-flops 222 and 224 receive test signal MT from receiver test multiplexer 54. If there is no defect, the (^ outputs of flip-flops 222 and 224 are low during the period in the output coincides with the signal E. The outputs of the flip-flop circuits 214 and 216 on the lines 226 and 228 correspondingly large MD are low in the absence of a defect Lines 230 and 232 carry the test signal MT and are low if there is no defect. These outputs are applied to the input of the binary comparator 51 together with the other test signals.

Der binäre Komparator 51 ist eine Kombination aus NOR-Schaltungen und einer NAND-Schaltung, die so zusammenwirken, daß dann, wenn alle an den binären Komparator angelegten Testsignale niedrig sind, dessen einziger Ausgang ebenfalls niedrig ist. Die als eine An/ ^e eines Defektes von den Punkten in der Kontroll- oder Steuerschaltung ausgehenden Testsignale sind entweder niedrig, wenn kein Defekt vorhanden ist. und zwar während des Zusammenfallens mit dem h lpuls E, oder wenn im Falle von Testsignalen MD und MT. wenn die Signale immer bei einem Defekt oder bei keinem während des Zusammenfallens mit dem Signal E niedrig sind, dann wird das Signal vor dem Anlegen an den binären Komparator 51 invertiert. Ii binären Komparator 51 wird der Impuls E in der Art eines Tastsignales verwendet, so daß die Prüfung nach einem Defekt während des Impulses fm jedem Kanal/yklus vorgenommen wird. Die Testimpulse MD werden im Komparator an die Eingänge 226 und 228 der NOR-Schaluing 234 angelegt und das Testsignal MT wird an die Eingänge der NOR Schaltung 234 über Leitungen 250 und 232 angelegt. Die gleichen Signale werden an die Eingänge der Redunda.iz-NOR-Schal tung 236 angelegt. Wenn alle Eingänge dieser NORSchaltiingen niedrig sind, sind auch deren Ausgänge niedrig. Die Ausgänge der NOR Schaltungen 234 und 2Jh werden an Eingänge der NAND Schaltung 238 angelegt. Der Testimpuls F. der als Tastsignal für den Komparator dient, wird an einen Eingang der NOr< Schaltung angelegt und die Testsignale Kf und C 3 vom Fchlimpulsdetektor 40 werden an getrennte Eingänge der NOR-Schaltung 240 angelegt. Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist. sind die Signale K. / und (7 1 normalerweise niedrig, das heißt bei Nichiauftreten eines Defektes während des Anliegens des Tasi- oder Testimpulses f'. Die gleichen Signale, die an die NOR-Schaltung 240 angelegt werden, werden auch an die Redundanz-NOR-Schaltung 242 angelegt. Wenn alle Eingangssignale niedrig sind, erzeugen die NOR-Schaltungen 240 und 242 niedrige Ausgangssignale und wenn eines der Eingangssignale hoch ist, sind die Ausgänge ebenfalls hoch. Die Ausgänge der NOR-Schaltungen 242 und 240 sind an getrennte Eingänge der NAND-Schaltung 238 angelegt. Dadurch entsteht ein hoher Ausgang während jedes der f-lmpulse, vorausge- The binary comparator 51 is a combination of NOR circuits and a NAND circuit which work together so that when all of the test signals applied to the binary comparator are low, its only output is also low. The test signals emanating from the points in the control circuit as an indication of a defect are either low when there is no defect. namely during the coincidence with the pulse E, or when in the case of test signals MD and MT. if the signals are always low on a defect or none while coinciding with signal E , then the signal is inverted prior to being applied to binary comparator 51. In the binary comparator 51, the pulse E is used in the manner of a key signal, so that the test for a defect is carried out during the pulse fm every channel / cycle. The test pulses MD are applied to the inputs 226 and 228 of the NOR circuit 234 in the comparator and the test signal MT is applied to the inputs of the NOR circuit 234 via lines 250 and 232. The same signals are applied to the inputs of the Redunda.iz-NOR circuit 236. If all of the inputs to these NOR circuits are low, their outputs are also low. The outputs of NOR circuits 234 and 2Jh are applied to inputs of NAND circuit 238. The test pulse F., which serves as a key signal for the comparator, is applied to an input of the NOr <circuit and the test signals Kf and C 3 from the Fchlimpulsdetektor 40 are applied to separate inputs of the NOR circuit 240. As can be seen from FIG. 2. the signals K. / and (7 1 are normally low, i.e. if a defect does not occur during the application of the Tasi or test pulse f '. The same signals that are applied to the NOR circuit 240 are also applied to the redundancy NOR circuit 242. When all inputs are low, NOR circuits 240 and 242 produce low outputs and when either input is high the outputs are also high. The outputs of NOR circuits 242 and 240 are connected to separate inputs of the NAND circuit 238. This creates a high output during each of the f-pulses, preceded by

setzt, daß alle Eingangssignale niedrig sind. Solange kein Defekt auftritt, ergibt der Ausgang der NAND-Schaltung 238 und folglich der des binären Komparators 51 eine Kette positiver Impulse. Tritt jedoch ein Defekt während des Anliegens des Impulses E auf, hört die Kette von Ausgangsimpulsen am Komparator 51 auf. Der Ausgang des binären Komparators 51 ist mit dem Eingang des Fehlimpulsdetektors 56 verbunden. sets all input signals to be low. As long as no defect occurs, the output of the NAND circuit 238 and consequently that of the binary comparator 51 results in a chain of positive pulses. However, if a defect occurs while the pulse E is being applied, the chain of output pulses at the comparator 51 stops. The output of the binary comparator 51 is connected to the input of the missing pulse detector 56.

Der Fehlimpulsdetektor 56 dient der Feststellung des Fehlens eines Impulses im Ausgangssignal des binären Komparators 51. Dies wird durch einen wieder auslösbaren monostabilen Multivibrator 250 erreicht Der Multivibrator 250 ist mit seinem Α-Eingang mit dem Ausgang des binären Komparators 51 verbunden und mit seinem CL/?-Eingang über eine Leitung 324 mit der Relaisteststufe 59 verbunden. Dieser Ausgang ist beim Nichtauftreten eines Defektes des R -'ais normal und infolgedessen beeinflußt er den (^-Ausgang des Multivibrators 250 nicht. Der Multivibrator 250 arbeitet beim Eingang eines hohen Signales an seinem /l-Eingang, um einen niedrigen Ausgang zu erzeugen, solange der hohe Eingang vorhanden ist und danach um einen bestimmten Zeitintervall anch dem Ende des hohen Eingangs. Dieses bestimmte Zeitintervall ist größer als das normale Intervall zwischen Ausgangsimpulsen vom binären Komparator 51. Solange kein Fehlimpuls in der Kette von Impulsen vom binären Komparator 51 vorhanden ist. ist der (^-Ausgang des Multivibrators 250 niedrig. Wenn jedoch ein Fehlimpuls vorhanden ist. geht der Ausgang des Multivibrators hoch und bleibt so. bis er zurückgestellt wird.The missing pulse detector 56 is used to determine the Absence of a pulse in the output signal of the binary comparator 51. This is indicated by a again triggerable monostable multivibrator 250 reached The multivibrator 250 is with its Α-input with connected to the output of the binary comparator 51 and to its CL /? input via a line 324 with the relay test stage 59 connected. This output is normal if there is no defect in the R -'ais and as a result it affects the (^ output of the Multivibrators 250 do not. The multivibrator 250 works on its when a high signal is received / l input to produce a low output while the high input is present and after that at a certain time interval after the end of the high input. This particular time interval is greater than the normal interval between output pulses from binary comparator 51. As long as none Missing pulse in the chain of pulses from binary comparator 51 is present. is the (^ output of the Multivibrators 250 low. However, if there is a missing pulse. goes the output of the multivibrator high and stay that way. until it is put back.

Ein wiederauslOsbarer monostabiler Redundanz-Multivibrator 252 ist ebenfal Is in dem Fehlimpulsdetektor 56 vorgesehen und mit dem gleichen Eingang gespeist, so daß er in der gleichen Weise wie der Multivibrator 250 wirkt.A retriggerable redundant monostable multivibrator 252 is also Is in the misspulse detector 56 provided and fed with the same input so that it works in the same way as the multivibrator 250 works.

Die Sclbstüberprüfungsschaltung umfaßt ferner eir·j Sperrschaltung 58. die in F.in/elheiten in F ι g. 4b veranschaulicht ist. Der Ausgang des Fehlimpiilsdetektors 56 ist mit dem Eingang der Spcrrschaltung 58 verbunden. Der Ausgang des Multivibrators 250 ist mit einem Eingang einer NAND-Schaltung 260 verbunden. Der andere Eingang der NAND-Schaltung 260 ist mit dem Ausgang 262 der Startschaltung verbunden. Der Ausgang der Startschaltung ist während des Betriebes normalerweise hoch und bleibt hoch, außer dann. » enn in der Startschaltung ein Defekt vorhanden ist. Entsprechend erhält die NAND-Schaltung 260 einen niedrigen Eingang vom Multivibrator 250 und bei normalen Betriebsbedingungen einen hohen Eingang von dem Ausgang 262 der Startschaltung. Auf diese Weise erzeugt die NAND Schaltung 260 einen hohen Ausgang, der an den Voreinstelleingang einer Flip- Flop-Schaltung 266 angelegt ist. Der CLR- Eingang der Flip-Flop-Schaltung 26(i ist mit dem Ausgang 262 der Startschaltung verbunden und ist damit bei normalen Bedingungen hoch.The self-checking circuit also includes a blocking circuit 58 which is shown in detail in FIG. 4b is illustrated. The output of the faulty pulse detector 56 is connected to the input of the detection circuit 58. The output of the multivibrator 250 is connected to an input of a NAND circuit 260. The other input of the NAND circuit 260 is connected to the output 262 of the start circuit. The output of the startup circuit is normally high during operation and stays high except then. »Hen there is a defect in the starting circuit. Accordingly, the NAND circuit 260 receives a low input from the multivibrator 250 and, under normal operating conditions, a high input from the output 262 of the start-up circuit. In this manner, the NAND circuit 260 produces a high output which is applied to the preset input of a flip-flop circuit 266. The CLR input of the flip-flop circuit 26 (i is connected to the output 262 of the start-up circuit and is therefore high under normal conditions.

Mit diesen Eingängen der Flip-Flop-Schaltung 266 ist deren QJ-Ausgang niedrig. Dieser Ausgang ist über eine Leitung 172 mit dem tingang der NOR-Schaltung 164 der Relaisantriebsschaltung 42 verbunden. Wie vorstehend bereits erwähnt wurde, bewirkt dieser Eingang zur Relaisantriebsschaltung 42 von der Sperrschaltung 58 ein Erregtbleiben des Relais R 1. Wenn der Fehlimpulsdetektor 56 jedoch einen hohen Ausgang erzeugt, was dann der Fall ist, wenn ein Fehlimpuls einen Defekt anzeigt, erzeugt die Flip-Flop-Schaltung 266 einen hohen Ausgang, der bewirkt, daß die NOR-Schaltung With these inputs to flip-flop 266, its QJ output is low. This output is connected to the input of the NOR circuit 164 of the relay drive circuit 42 via a line 172. As mentioned above, this input means a remain energized 1. When the missing pulse detector 56, however, produced to the relay drive circuit 42 from the latch circuit 58 of the relay R a high output, which is the case when a missing pulse indicates a defect, produces the flip- Flop 266 has a high output which causes the NOR circuit

t64 auf niedrig schaltet, wodurch das Relais R1 entregt wird, um die Maschine stillzusetzen. Die Sperrscnaltung 58 weist eine Redundanz-N AN D-Schaltung 260' und eine Redundanz-Flip-Flop-Schaltung 266' auf, die mit der N AN D-Schaltung 260 bzw. mit der FHp-Flop-Schal- ϊ tung 266 identisch sind. Der Ausgang der Redundanz-Flip-Flop-Schaltung 266' wird Ober eine Leitung 168 mit dem Eingang der NOR-Schaltung 166 der Relaisantriebsschaltung 42 verbunden. Die Arbeitsweise der Redundanzschaltungen 260', 266' und 166 ist die gleiche, in wie diejenige, die in Verbindung mit den Schaltungen 260,266 und 164 beschrieben worden ist.t64 goes low, de-energizing relay R 1 to shut down the machine. The blocking circuit 58 has a redundancy N AN D circuit 260 'and a redundancy flip-flop circuit 266' which are identical to the N AN D circuit 260 and the FHp-flop circuit 266, respectively are. The output of the redundancy flip-flop circuit 266 'is connected to the input of the NOR circuit 166 of the relay drive circuit 42 via a line 168. The operation of redundancy circuits 260 ', 266' and 166 is the same as that described in connection with circuits 260, 266 and 164.

Die Startschaltung 264 umfaßt einen Schmitt-Trigger 280, an dessen Eingang eine Signalspannung über einen Widerstand 282 angelegt wird, der über einen π Kondensator 284 geerdet ist Die Eingangsspannung wird an den Eingang 286 nur dann angelegt, wenn die Maschine durch den Startschalter eingeschaltet wird. Der Ausgang des Schmitt-Triggers 280 ist Ober einen Wechselrichter 288 an den Ausgang 262 angelegt .*> Ferner ist ein Redundanz-Wechselrichter 230 für den Ausgang 262" vorgesehen. Wenn das Stromnetz zum ersten Mal am Eingang 286 des Schmitt-Triggers eingeschaltet wird, ist dessen Ausgang zunächst hoch, wird jedoch nach dem Schalten des Triggers niedrig. Die Wechselrichterausgänge 262 und 262' sind infolgedessen zunächst niedrig und werden dann für einen stabilen Betriebszustand auf Hoch geschaltet Die Arbeitsweise der Startschaltung 264 wird zum Rückstellen der Sperrschaltung 58 verwendet so daß deren Ausgang so niedrig ist. Die Startschaltung 264 wird verwendet um alle Zähler auf Null zurückzustellen, 'ie den Multiplexer η zugeordnet sind, um damit rtie Multiplexer mit dem ersten Kanal starten zu lassen. Um dir Startschaltung auf Funktionsfähigkeit zu überprüfen, wird der Ausgang r. des Wechselrichters 288 über eine Leitung 292 an den CLR-Eingang des Multivibrators 154 angelegt. In gleicher Weise wird der Ausgang des Wechselrichters 290 über eine Leitung 294 an den CLR- Eingang des Multivibrators 156 angelegt. Ist während des Betriebs *o der Ausgang der Startschaltung 264 niedrig, wird er hoch gestellt um damit einen Defekt oder ein Fehlsignal anzuzeigen und entsprechend werden die Relais entregt und die Maschine zum Stehen gebracht.The start circuit 264 comprises a Schmitt trigger 280, at the input of which a signal voltage is applied via a resistor 282 which is grounded via a π capacitor 284. The input voltage is applied to the input 286 only when the machine is switched on by the start switch. The output of the Schmitt trigger 280 is applied to the output 262 via an inverter 288. *> Furthermore, a redundancy inverter 230 is provided for the output 262 ". If the power supply is switched on for the first time at the input 286 of the Schmitt trigger, The output of the inverter 262 and 262 'are therefore initially low and are then switched to high for a stable operating state output is low. the starting circuit 264 is used for all counters to zero reset, ie 'the multiplexer associated η to be so rtie multiplexer start with the first channel. in order to check thee starting circuit for operability, the output is r. of the inverter 288 is applied via a line 292 to the CLR input of the multivibrator 154. In Eq Eicher way, the output of the inverter 290 is applied to the CLR input of the multivibrator 156 via a line 294. If the output of the start circuit 264 is low during operation * o , it is set high in order to indicate a defect or an incorrect signal and accordingly the relays are de-energized and the machine is brought to a standstill.

Die Selbstüberprüfungsschaltung weist ferner eine t; Relaisteststufe 59 auf. die in Fig.4a in Einzelheiten veranschaulicht ist. Die Relaisteststufe bestimmt ob die Relaiskontakte 283 des Relais R 1 und die Relaiskontakte 185 des Redundanzrelais Λ 2 in den gleichen oder in entsprechenden Stellungen liegen. Zu diesem Zweck ist >o eine Spannungsquelle über einen Widerstand 2% mitThe self-checking circuit further comprises at; Relay test level 59 on. which is illustrated in Figure 4a in detail. The relay test level determines whether relay contacts 283 of relay R 1 and relay contacts 185 of redundancy relay Λ 2 are in the same or corresponding positions. For this purpose> o is a voltage source via a resistor 2% with dem Festkontakt 302 des Relais R 1 und mit dem Festkontakt 304 des Relais R 2 vebunden. Der andere Festkontakt 306 des Relais /{1 ist durch ein Rotlichtsignal geerdet und ist außerdem über eine Diode 308 und einen Widerstand 310 mit einem Spannungsteiler eines Komparator 314 und eines Redundanzkomparators 314' verbunden. In gleicher Weise ist der andere Festkontakt 316 des Relsis R 2 durch ein Grünlichtsignal 318 mit Erde und über ei ie Diode 320 mit dem Widerstand 310 verbunden. Der Ausgang des Spannungsteilers 312 wird an einen invertierenden Eingang des Komparator 314 und an einen invertierenden Eingang des Redundanzkomparators 314' angelegt Die anderen Eingänge der Komparatorer. 314, 314' sind mit einer Bezugsspannungsquelle 220 verbunden. Wenn die Relaiskontakte 183 und 185 sich in entsprechenden Stellungen befinden, das heißt an den Festkontakten 302 bzw. 316 anliegen (Relais erregt und Maschine läuft), wird das grüne Licht 318 eingeschaltet und eine hohe bzw. positive Spannung durch den Spannungsteiler 312 erzeugt Entsprechend werden die invertierenden Eingänge der Komparatoren niedrig und durch die Komparatoren 314 und 314' wird ein niedriger Ausgang erzeugt Der Ausgang des Komparator* 314 führt über einen Wechselrichter 322 und eine Leitung 324 zum CLR-Eingang des Multivibrators 250. Entsprechend tu der Ausgang des Komparators 314' über einen Wechselrichter 322' und eine Leitung 324' an den CL/?-Eingang des Multivibrators 252 angelegt Eine hohe Spannung am CL/?-Eingang des Multivibrators 250 beeinflußt dessen Ausgang nicht Eine niedrige Spannung am CLfi-Eingang stellte den (^•Ausgang des Multivibrators jedoch auf hoch. Dies bewirkt einen Fehlimpuls und der Ausgang der" Sperrschaltune 58 wird auf Hoch gestellt und die Relais werden entregt, wodurch die Maschine stehenbleibt Beim Betrieb der Relaisteststufe 59 wird dann, wenn die Relaiskontakte 183 und 185 sich beide in der dargestellten Lage befinden oder -ich beide in gegenüberliegenden Stellungen befinden, das entsprechende rote oder grüne Signallicht eingeschaltet und der Ausgang der Relaisteststufe wird hoch sein. Demzufolge tritt keine Wirkung auf die Steuerrelais und die Maschine ein. Wenn der eine oder der andere der Relaiskontakte 185 oder 183 sich jedoch in der gegenüberliegenden zu den dargestellten Positionen befindet ist der Ausgang der Relaisteststufe 59 niedrig und die Multivibratoren 250 und 252 werden hochgestellt, wodurch die Sperrschaltung 58 ein Entregen der Relais und damit ein Anhalten der Maschine bewirkt.the fixed contact 302 of the relay R 1 and connected to the fixed contact 304 of the relay R 2 . The other fixed contact 306 of the relay / {1 is grounded by a red light signal and is also connected via a diode 308 and a resistor 310 to a voltage divider of a comparator 314 and a redundancy comparator 314 '. In the same way, the other fixed contact 316 of the Relsis R 2 is connected to ground by a green light signal 318 and to the resistor 310 via a diode 320. The output of the voltage divider 312 is applied to an inverting input of the comparator 314 and to an inverting input of the redundancy comparator 314 '. The other inputs of the comparators. 314, 314 ′ are connected to a reference voltage source 220. When the relay contacts 183 and 185 are in the corresponding positions, that is, they are applied to the fixed contacts 302 and 316 (relay energized and machine running), the green light 318 is switched on and a high or positive voltage is generated by the voltage divider 312 accordingly the inverting inputs of the comparators are low and a low output is generated by the comparators 314 and 314 '. The output of the comparator 314 leads via an inverter 322 and a line 324 to the CLR input of the multivibrator 250. The output of the comparator 314' is accordingly via an inverter 322 'and a line 324' to the CL /? input of the multivibrator 252. A high voltage at the CL /? input of the multivibrator 250 does not affect its output However, the multivibrator is set to high. This causes a misspulse and the output of the "Sperrschaltune 58" is set to high and d The relays are de-energized, causing the machine to stop.When the relay test stage 59 is in operation, if the relay contacts 183 and 185 are both in the position shown or -I are both in opposite positions, the corresponding red or green signal light is switched on and the output of the Relay test level will be high. As a result, there is no effect on the control relays and the machine. However, if one or the other of the relay contacts 185 or 183 is in the opposite position to the positions shown, the output of the relay test stage 59 is low and the multivibrators 250 and 252 are raised, whereby the blocking circuit 58 de-energizes the relays and thus stops the Machine causes.

Hierzu 4 Blatt ZeichnungenFor this purpose 4 sheets of drawings

Claims

Patent claims:

1. Self-monitoring device for a safety device for controlling a machine as a function of the intrusion of an object into a protection zone, with several units each comprising a light source and a photodetector, each forming a channel, the light of a light source falling on the assigned photodetector when it is unobstructed, which generates an electrical pulse when a light pulse generated by a pulse generator and emanating from the light source hits, with a transmitter channel multiplexer, the input of which is connected to the pulse generator and which has several outputs each connected to a light source and channel switching means with a channel address input, with a clock, which is connected to the channel address input zan »successive application of the light sources to the pulse generator. with a pulse detection device, the input of which can be connected to one of the photodetectors. with a receiver channel multiplexer with channel switching means, with a channel address input and with several outputs. i. which are each assigned to one of the photodetectors, with switches which are each switched between one of the photodetectors and the pulse detection device and which are each controlled by the corresponding channel output of the receiver-channel multiplexer, the clock generator also being connected to the Xanala measurement input of the receiver-channel mulliplexer for successive application the photodetector). ' Is connected to the input of the pulse acquisition device, so that both multiplexers are switched synchronously by the clock and the channels are activated one after the other, each channel being activated for an interval determined by the clock and the pulse generator synchronized by the clock, one pulse for each channel during the activation interval for transmitting the light pulse from the light source to the photodetector of the same unit, all photodetectors are excited one after the other by light pulses and the pulse detection device ^{receives a * 5} chain of pulses at the input, which includes a pulse for each activated channel if it is in the range of this Channel is no obstacle, and wherein the pulse detection device comprises devices which respond to a missing pulse in the chain, and with a disconnection device, the input of which is connected to the pulse detection device and the output of which is connected to the control circuit of the machine unden is. to stop this in the absence of a pulse, characterized by a binary comparator (51) for comparing the binary state of several binary signals, which has several inputs (MT. MD. £ .G3. K. Q (P \)) and one output . by a line (194) which connects the output (192) of the transmitter multiplexer (52) to one (IvID) of these inputs, by a line (200) which connects an output of the receiver multiplexer (54) to another (MT) of these inputs connects, and by a line (204) which connects the pulse generator (32) with another (E) of the inputs, and by a blocking circuit (58), whose input to the output of the binary comparator (51) and whose output to a the inputs of a shutdown device (42, 44) is connected to shutdown the machine by an output signal of the comparator (51).

2. Self-monitoring device according to claim l, characterized by a feedback device (46) which is connected to each of the photodetectors (22a to 22n) for varying the electrical display signal generated by a given light pulse, through a feedback amplifier (48), the input of which is connected to the output of the photodetectors (22a to 22 / j) and whose output is connected to the feedback device in such a way that a signal of a predetermined level is applied to the input of the feedback amplifier (48) by switching means (50) connected between the feedback amplifier (48 ) and the feedback device (46) are switched and the pulse generator (32) is controlled in such a way that the feedback amplifier (48) is connected to the feedback device (46) during the interval between the light pulses and is disconnected from it during the light pulses.

3. Self-monitoring device according to one of claims 1 or 2, characterized in that the missing pulse detector (40) is connected to a further input of the binary comparator (51) is

4. Self-monitoring device according to claim 1, characterized in that the channel outputs of the transmitter channel multiplexer (26) with the channel inputs of a transmitter test multiplexer (52) are connected and that the channel outputs of the receiver channel multiplexer (28) with the inputs a receiver test multiplexer (54).

5. Self-monitoring device according to claim 4, characterized by stop switches (60, 190) which are connected between the TaKtgebi. · (30) and the multiplexers (26, 28 and 52, 54) and with the missing pulse detector (40) for switching off the multiplexer when a missing pulse occurs.