DE2444644A1 - Verfahren und vorrichtung zur ermittlung und groessenbestimmung von einschluessen in edelsteinen - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur ermittlung und groessenbestimmung von einschluessen in edelsteinenInfo
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Description
D 22/4
DIHACO
Diamanten Handels Compagnie Est. Liechtenstein/Mauren
Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung und Größenbestimmung von Einschlüssen in Edelsteinen
Die Erfindung "betrifft ein Verfahren zur Ermittlung und Größenbestimmung
von Einschlüssen in Edelsteinen und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
Die sogenannte Reinheit von Edelsteinen, d. h. das Freisein
von Einschlüssen xtfird von einem Fachmann üblicherweise mit
dem Auge - gewöhnlich unter Benutzung einer Lupe - festgestellt und beurteilt» Es liegt auf der Hand, daß diese Beurteilung
selbst bei strengster Beachtung der Beurteilungsregeln unterschiedlich
ausfallen kann, da die Einschlüsse oftmals in Größenordnungen vorliegen, die mit dem bloßen Auge auch unter
Hinzunahme einer Lupe nicht eindeutig festlegbar ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens der oben genannten Gattung
zu schaffen, mit dem bzw. der es möglich ist, eventuell in einem untersuchten Edelstein vorhandene Einschlüsse objektiv
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und unabhängig von menschlichen Bewertungseinflüssen zu ermitteln und deren Größe zu bestimmen, so daß die ermittelten
Einschlüsse sowohl ihrer Größe als auch ihrer Lage nach beliebig oft mit der gleichen Genauigkeit festgestellt werden können.
Hierbei ist zu berücksichtigen, daß die Lage eines Einschlusses in einem Edelstein ebenfalls von wesentlicher
Bedeutung· sein kann, da der Wert des Edelsteins in Abhängigkeit von dieser Lage einerseits stark beeinträchtigt oder
andererseits unbeeinflußt sein kann, je nachdem, ob und wie
stark dieser Einschluß für das bloße Auge oder beim Gesamteindruck des Edelsteins bemerkbar ist oder nicht.
Erfindungsgemäß ist zur Lösung dieser Aufgabe vorgesehen,
daß der jeweils untersuchte Edelstein mit einem eng gebündelten Lichtbündel, dessen Bündelquerschnitt in der Größonordnung
der kleinsten festzustellenden Einschlüsse liegt, über seine gesamte, senkrecht zum einfallenden Lichtbündel liegende Querschnittsebene
entlang Abtastbahnen abgetastet \fird, deren
gegenseitiger Abstand höchstens gleich dem Bündelquerschnitt ist und daß die Intensität des Lichtbündels, nachdem es von
untersuchten Edelstein beeinflußt worden ist, gemessen wird.
Vorteilhafterweise wird der untersuchte Edelstein mit seiner Tafel rechtwinklig zur Bündelachse ausgerichtet und von dem
einfallenden Lichtbündel abgewendet abgetastet.
Es ist nun möglich, bei der Ausübung dieses Verfahrens den Totalreflektionswinkel auszunutzen"und das Lichtbündel unter
einem solchen Winkel in den Edelstein einzuführen, daß er im störungsfreien Fall an der unteren Fläche des Edelsteins,
d. h. der Tafel, total reflektiert wird. Sobald das Lichtbündel auf einen Einschluß trifft, wird es gestreut und so-E3.it
eine Totalreflektion für einen Teil des Lichtbündels
unmöglich gemacht. Dieser Teil des Lichtbündels tritt durch
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die untere Fläche, d. Jh.. die Tafel des Edelsteins aus. Es
ist nun möglich, sowohl die Intensität des total reflektierten Lichtbündels als auch die Intensität des bei einer
Streuung durchtretenden Teils des Lichtbündels zu messen.
Besonders bevorzugt wird jedoch der jeweils zu untersuchende
Edelstein abgetastet, während er in einer Immersionsflüssigkeit einschließlich seiner obersten Spitze vollständig untergetaucht
ist, und die Intensität des durch den Edelstein hindurchtre— tenden Lichtbündels ständig gemessen. Vorteilhafterweise ist
dabei die Brechzahl der Immersionsflüssigkeit der Brechzahl des Edelsteins für die Wellenlänge des einfallenden Lichtbündels
soweit als möglich angenähert und liegt bei der Untersuchung von Diamanten vorteilhafterweise zwischen 2 und 2,4-
und beträgt bevorzugt wenigstens 2,2.
Dieses Verfahren weist die folgenden Vorteile auf. Sie Einrichtung,
die die Intensität des von dem zu untersuchenden Edelstein beeinflußten Lichtbündels mißt, registriert somit nicht
ständig Untergrundrauschen, sondern das maximale Signal, da im störungsfreien Fall, d. h. wenn keine Einschlüsse vorliegen,
das Lichtbündel praktisch ungehindert durch den Edelstein hindurchtreten kann. Denn im Bereich des Übergangs von der
Immersionsflüssigkeit zu den Flächen des Edelsteins tritt praktisch keine Brechung mehr auf und es wird somit eine Totalreflektion
unterbunden. Wenn Einschlüsse festgestellt xverden,
treten die hierdurch verursachten Signale als sogenannte "Einbrüche" in dem ständig gemessenen Maximalsignal auf. Es ist
somit ein optimales Signal/Rausch-Verhältnis erreichbar.
Weiterhin werden bei diesem letztgenannten Verfahren die Schwierigkeiten vermieden, die ohne die Verwendung der erfindungsgemäß
vorgesehenen Immersionsflüssigkeit mit hohem Brechungsindex auftreten würden, nämlich sowohl iia Bereich
der mittleren Spitze eines geschliffenen Edelsteins als auch
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in den Randbereichen der Rondistebene, und nur durch ständiges Anpassen des Totalreflektionswinkels an die jeweils vorhandenen
örtlichen Gegebeneheiten vermieden werden könnten.
Wenn jedoch der zu untersuchende Edelstein erfindungsgemäß in eine stark brechende Flüssigkeit vollständig eingetaucht
ist, so daß der Flüssigkeitsspiegel oberhalb der obersten Spitze des Edelsteins sich befindet, und der Brechungsindex
der Flüssigkeit dem Brechungsindex des Edelsteins soweit als möglich angenähert ist, werden die Reflektionsprobleme beim
Übergang des Lichtbündels von der Flüssigkeit in den Edelstein praktisch vermieden. Das Lichtbündel kann somit ungehindert
durch den Edelstein selbst in dessen Randbereichen hindurch bis zu der die Intensität messenden Einrichtung hindurchtreten.
Nur wenn das Liontbündel auf einen Einschluß auftrifft, wird es gestreut und dadurch die Menge des durchtretenden
Lichtes stark verringert.
Bevorzugt wird der jeweils untersuchte Edelstein ein zweites Mal unter einem anderen vorgewählten Raumwinkel zur Lichtbündelachse
angeordnet vollständig abgetastet.
Hierbei wird der Vorteil erreicht, daß die genaue räumliche
Lage eines bei dem ersten Abtasten festgestellten Einschlusses in einem untersuchten Edelstein unter Berücksichtigung
der beiden gewählten Raumwinkel berechnet werden kann.
Außerdem wird bevorzugt der jeweils untersuchte Edelstein unter demselben Raumwinkel wenigstens ein zweites Mal abgetastet,
nachdem die Teilchen der Immersionsflüssigkeit statistisch verschoben worden sind, wozu die Immersionsflüssigkeit
bevorzugt zwischen den Abtastvorgängen mit einem eingetauchten Ultraschallsender durchstrahlt oder, wenn sie hierfür
zu zäh ist, durch Kippen des Behälters verschoben wird.
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Bei Ausführungen dieses Verfahrensschrittes ist es möglich, durch entsprechenden Vergleich der "beiden Meßergebnisse
miteinander Störeffekte durch Pestkörperteilchen in der
Immersionsflüssigkeit oder an der Oberfläche von dieser bzxtf.
des Edelsteins zu eliminieren und die Signale, die von ortsfest gebliebenen festkörperteilchen, d. h. Einschlüssen in
dem Edelstein verursacht worden sind, klar herauszuholen.
Vorteilhafterweise beträgt der Querschnitt des Lichtbündels etwa 0,03 mm und der gegenseitige Abstand der Abtastbahnen·
0,02 mm.
Hierdurch wird der Vorteil erreicht, daß selbst solche Einschlüsse,
die im Grensbereich dessen liegen, was für das betrachtete Auge im Extremfall feststellbar ist, noch ermittelt
werden können, wobei durch das teilweise Überlagern der Abtastbahnen eine hohe Sicherheit gegeben ist, daß jegliche
Art von Einschlüssen festgestellt wird.
Gans besonders bevorzugt ist das Lichtbündel ein Laserbündel.
Das einfallende Lichtbündel und der jeweils untersuchte Edelstein
können während dessen Abtasten relativ zueinander entlang einer Spiralenbahn verschoben werden. Bevorzugt werden jedoch
das einfallende Lichtbündel und der jeweils untersuchte Edelstein während dessen Abtasten relativ zueinander entlang einer
streifenförmigen oder mäanderförmigen Bahn verschoben, so daß
der Edelstein entlang parallelen Querschnittsebenen abgetastet
xvird.
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Ermittlung und Größenbestimmung
von Einschlüssen in Edelsteinen zeichnet sich aus durch einen Behälter, in welchen der jeweils zu untersuchende
Edelstein in einer vorgewählten Ausrichtung einsetzbar und
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eine "bis über die oberste Spitze des Edelsteins hinaus reichende
Immersionsflüssigkeit einfüllbar ist, eine Lichtquelle, die
ein Lichtbündel mit einem Bündelquerschnitt in der Größenordnung der kleinsten festzustellenden Einschlüsse liefert, eine Einstelleinrichtung,
mit der das Lichtbündel unter einem, vorgewählten Raumwinkel zu dem in den Behälter eingesetzten
Edelstein ausrichtbar ist, und eine Bewegungseinrichtung, die den Edelstein und das Lichtbündel relativ zueinander entlang
einer vorgewählten Abtastbahn bewegt.
Bevorzugt ist in dem Behälter ein Ultraschallsender angeordnet,
der zwischen den Abtastvorgängen die eingefüllte Immersionsflüssigkeit statistisch durchschüttelt.
Die Lichtquelle ist vorteilhaftertieise ein Laser, während
bevorzugt die Bewegungseinrichtung wenigstens einen Spiegel umfaßt, der das vom Laser kommende Lichtbündel zu dem in
den Behälter eingesetzten Edelstein umlenkt, x^ährend der
Spiegel selbst schwenkbar ist, so daß das zu dem Edelstein reflektierte Lichtbündel in vorgewählten Ebenen über den
Edelstein verschwenkbar ist.
Zum Verschwenken des Spiegels kann dieser auf einer von einer Antrieb betätigten Schwenkachse angeordnet sein. Ebenso ist
es gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung möglich, zum Verschwenken des Spiegels eine Einrichtung mit
elektromechanischen wie piezoelektrischen Elementen vorzusehen, die in Abhängigkeit von der Beaufschlagung mit elektrischen
Signalen ihre Lage oder Abmessungen und somit die jeweilige Lage des Spiegels verändern.
Gemäß einer anderen vorteilhaften Weiterbildung weist die Bewegungseinrichtung einen Drehkörper, beispielsweise einen
Zylinderstab auf, an dessen einer Stirnfläche eine Vielzahl
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gleicher Spiegel facettenartig unter einem vorbestimmten Winkel zur Zylinderlängsachse ausgebildet ist. Hierbei können
die Winkel der Spiegel alle gleich oder abgestuft sein. Wenn die Winkel alle gleich sind, ist es erforderlich, nach
jedem Verschwenken des Lichtbündels über den Edelstein den Drehkörper um eine vorgewählte Schrittlänge vorzuschieben.
Wenn dagegen die Winkel der Spiegel abgestuft sind, ist es möglich, bei einer vollständigen Umdrehung des Drehkörpers
mehrere Ebenen des Edelsteins hintereinander abzutasten und dann den Drehkörper um einen größeren Schritt, nämlich die
Summe der Abstände der bei einer Umdrehung abgetasteten Ebenen vorzuschieben.
Deshalb umfaßt vorteilhafterweise die Bewegungseinrichtung eine Vorschubeinrichtung, die den Spiegel nach jedem Schwenkschritt
um eine vorgewählte Schrittlänge, die höchstens gleich dem Bündelquerschnitt ist, senkrecht zu der Abtastebene verschiebt, viobei die Vorschubabrichtung bevorzugt
nach Art einer Mikrometerschraube ausgebildet ist.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
ist eine die Intensität des durch den zu untersuchenden Edelstein hindurchgetretenen Lichtbündels messende, lichtempfindliche
Einrichtung auf der vom einfallenden Lichtbündel abgewendeten Seite des Edelsteins, z. B. im Bereich des Bodens des
Behälters angeordnet und erstreckt sich hierbei vorteilhafterweise über eine Querschnittsfläche, die wenigstens gleich
der Projektion der größten Querschnittsflache des zu untersuchenden
Edelsteins in Richtung des einfallenden Lichtbündels auf dem Boden des Behälters ist.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung beispielsweise
beschrieben; in dieser zeigt schematisch:
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Fig. 1 eine Vorrichtung zur Ermittlung und Größenbestimmung von Einschlüssen in Edelsteinen mit einem Laser als
Lichtquelle, "bei der der in den Behälter eingesetzte Edelstein und das auf diesen einfallende Lichtbündel
relativ zueinander entlang einer Spiralenbahn oder einer mäanderförmigen Bahn bewegbar sind,
Fig. 2 einen geschliffenen Edelstein in Draufsicht mit zwei
Einschlüssen,
Fig. 3 eine schematische Aufzeichnung einer spiralenförmigen
Abtastbahn, in deren Bereich die beiden Einschlüsse liegen, und
Fig. 4 ein Diagramm des von der unter dem Edelstein angeordneten lichtempfindlichen Einrichtung abgegebenen
Signals, wobei die Intensität des Signals I über den Spiralenbahnen, die von innen nach außen gezählt und
deren Winkellage angegeben ist, aufgetragen ist.
Nach der"Zeichnung umfaßt eine Vorrichtung 10 zur Ermittlung
und Größenbestimmung von Einschlüssen in Edelsteinen einen Laser 12, einen Spiegel 14 und einen Behälter 16. Im Behälter
16 ist parallel zu dessen Boden eine Platte 18 angeordnet, auf die ein zu untersuchender Edelstein 20 aufgelegt werden
kann. In die Platte 18 ist eine lichtempfindliche Einrichtung 22 eingesetzt, die Fotowiderstände, Fotodioden oder Fotoelemente
umfaßt. Die flächenmäßige Ausdehnung der lichtempfindlichen Einrichtung 22 in der Platte 18 ist so gewählt, daß selbst
die größten zu untersuchenden Edelsteine mit ihrer Projektionsfläche auf die Platte 18 innerhalb dieser lichtempfindlichen
Einrichtung 22 angeordnet werden können.
In Fig. 1 ist ein Lichtbündel 24 dargestellt, das von dem Laser 12 zu dem Spiegel 14 verläuft und von diesem zu dem
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in den Behälter 16 angeordneten Edelstein 20 reflektiert
wird.
Außerdem ist an einer Seitenwand des in Fig. 1 dargestellten
Behälters 16 ein Ultraschallsender 26 angeordnet.
Es ist nun möglich, "beispielsweise durch einen entsprechenden, in der Zeichnung nicht dargestellten Drehantrieb der Platte 18
im Behälter 16 und eine ebenfalls nicht dargestellte Vorschubeinrichtung am Spiegel 14 den zu untersuchenden Edelstein 20
zu drehen und gleichzeitig den Laserstrahl 24- in eine Richtung zu verschieben, so daß eine spiralenförmige Abtastbahn hervorgerufen
wird. Das heißt, das von der lichtempfindlichen Einrichtung 22 bei diesem Bewegungsvorgang abgegebene Signal, das
direkt abhängig ist von der Intensität des durch den Edelstein 20 hindurchgetretenen Lichtbündels, stellt eine Art
spiralenförmiger Abwicklung des Volumens des in Fig. 2 im
vergrößerten Maßstab dargestellten Edelsteins 20 dar, was in Fig. 3 durch die Spirallinie 28 angedeutet ist. Ein solches
Signal ist in Fig. 4 dargestellt, in welcher die Abszisse des
Diagramms die Zahl der Spiralenwindungen von 1,2,3 usw. von innen nach außen der Spirallinie 28, die nach Winkelgraden
unterteilbar sind, und die Ordinate die Größe des Signals, d. h. die Intensität des jeweils durchgetretenen Lichtbündels
angibt.
Wenn ein Edelstein zwei Einschlüsse 30 und 32 aufweist, wie
es in Fig. 3 dargestellt ist, dann tritt der kleine Einschluß 30 infolge der durch ihn bewirkten Streuung des Laserstrahls
als ein Einbruch 34 in dem sonst ständig gemessenen Maximalst
gnal zwischen der dritten und vierten Spiralwindung bei etwa 27Ο0 in Erscheinung, während der große Einschluß 32 im
Bereich der Spiralwindungen 3 his 8 und folgende jeweils
kurz vor 180 mehrfach, nämlich erst zunehmend und dann wieder abnehmend bei 36, 36', 36", 36"' ebenfalls in Form eines
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Einbruchs in dem sonst ständigen gemessenen Maximalsignal auftritt. Sowohl die Breite als auch das mehrfache Auftreten
von Signaleinbrüchen hintereinander an der gleichen Winkel-■stellung
aufeinanderfolgenden Spiralwindungen sind Anzeichen für die Ausdehnung des festgestellten Einschlusses.
Es ist ebenso möglich, bei der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung
sowohl die Platte 18 als auch den Behälter 16 ortsfest zu halten, d. h. ebenfalls den zu untersuchenden Edelstein
20 ortsfest zu lagern und stattdessen den Spiegel 14· so
mittels einer Schwenkeinrichtung zu schwenken, daß das Lichtbündel
24 in Ebenen senkrecht zur Zeichenebene hin- und herzu schwenken, während gleichzeitig eine Vorschubeinrichtung
vorgesehen ist, die den Spiegel 14- insgesamt in Richtung des von dem Laser 12 zum Spiegel 14 verlaufenden Teils des Lichtbündels
24 in vorgewählten kleinen Schritten nach jedem. Abtastschritt
verschiebt.
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Claims (1)
- Pat entansprücheVerfahren zur Ermittlung und Größenbestimmung von Einschlüssen in Edelsteinen, dadurch gekennzeichnet, daß der jeweils untersuchte Edelstein (20) mit einem eng gebündelten Lichtbündel (24), dessen Bündelquerschnitt in der Größenordnung der kleinsten festzustellenden Einschlüsse (30, 32) liegt, über seine gesamte, senkrecht zxim einfallenden Lichtbündel (24*) liegende Querschnittsebene entlang Abtastbahnen (28) abgetastet wird, deren gegenseitiger Abstand höchstens gleich dein Bündelquerschnitt ist, und daß die Intensität des Lichtbündels (24'), nachdem es vom untersuchten Edelstein (20) beeinflußt worden ist, gemessen wird.2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der jeweils zu untersuchende Edelstein (20) abgetastet wird, während er in einer Immersionsflüssigkeit (38) einschließlich seiner obersten Spitze (40) vollständig untergetaucht ist, und daß die Intensität des durch den Edelstein (20) hindurch tretenden Lichtbündels (24') gemessen wird.3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Brechzahl der Immersionsflüssigkeit (38) der Brechzahl des Edelsteins (20) für die Wellenlänge des einfallenden Lichtbündels (241) soweit als möglich angenähert ist.4. Verfahren nach Anspruch 35 dadurch gekennzeichnet, daßdie Brechzahl der Immersionsflüssigkeit (38) bei der Untersuchung von Diamanten zwischen 2 und 2,4 liegt.60981 5/04995· Verfahren nach Anspruch 4-, dadurch gekennzeichnet, daß
die Brechzahl der Immersionsflüssigkeit (38) wenigstens
2,2 beträgt.5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der untersuchte Edelstein (20) mit
seiner Tafel (42) rechtwinklig zur Bündelachse ausgerichtet und von dem einfallenden Lichfbündel (24-') abgewendet
abgetastet wird.7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der jeweils untersuchte Edelstein (20) ein zweites Mal unter einem anderen, vorgewählten Räumwinkel zur Lichtbündelachse angeordnet, vollständig abgetastet wird.8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der jeweils untersuchte Edelstein (20) unter demselben Raumwinkel wenigstens ein zweites Mal abgetastet wird, nachdem die Teilchen der Immersionsflüssigkeit (38) statistisch verschoben worden sind.9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Immersionsflüssigkeit (38) zwischen den Abtastvorgängen
mit einem eingetauchten Ultraschallsender (26) durchstrahlt oder durch Kippen des Behälters (16) verschoben wird.10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Querschnitt des Lichtbündels (24, 24') etwa 0,03 mm und der gegenseitige Abstand der Abtastbahnen (28) 0,02 mm beträgt.11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Lichtbündel (24, 24') ein Laserbündel ist.609815/04 9912. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das einfallende Lichtbündel (24-') und der jeweils untersuchte Edelstein (20) während dessen Abtasten relativ zueinander entlang einer Spiralenbahn (28) verschoben werden.13· Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das einfallende Lichtbündel (2V) und der jeweils untersuchte Edelstein (20) während dessen Abtasten relativ zueinander entlang einer streifenförmigen oder mäanderförmigen Bahn verschoben werden, so daß der Edelstein (20) entlang parallelen Querschnittsebenen abgetastet wird.14. Vorrichtung zur Ermittlung und Größenbestimmung von Einschlüssen in Edelsteinen zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 1J, gekennzeichnet durch einen Behälter (16), in welchen der jeweils zu untersuchende Edelstein (20) in einer vorgewählten Ausrichtung einsetsbar und eine bis über die oberste Spitze (40) des Edel steins (20) hinaus reichende Immersionsflüssigkeit (38) einfüllbar ist, eine Lichtquelle (12), die ein Lichtbündel (24, 24') mit einem Bündelquerschnitt in der Größenordnung der kleinsten festzustellenden Einschlüsse (30, 32) liefert, eine Einstelleinrichtung, mit der das Lichtbündel unter einem vorgewählten Raumwinkel zu dem in den Behälter (17) eingesetzten Edelstein (20) ausrichtbar ist, und eine Bewegungseinrichtung (14), die den Edelstein (20) und das Lichtbündel (24*) relativ zueinander entlang einer vorgewählten Abtastbahn bewegt.15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Behälter (16) ein Ultraschallsender (26) angeordnet ist, der zwischen den Abtastvorgängen die eingefüllte Immersionsflüssigkeit (38) statistisch durchschüttelt.609815/0499— Jf —16. Vorrichtung nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (12) ein Laser ist.17- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 "bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegungseinrichtung (14-) wenigstens einen Spiegel umfaßt, der das vom Laser (12) kommende Lichtbündel (24, 24') zu dem in den Behälter (16) eingesetzten Edelstein (20) umlenkt.18. Vorrichtung nach Anspruch 17» dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel (14) schwenkbar ist, so daß das zu dem Edelstein (20) reflektierte Lichtbündel (24') entlang vorgewählten Ebenen über den Edelstein (20) verschwenkbar ist.19- Vorrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß zum Verschwenken des Spiegels (14) eine Einrichtung mit elektromechanischen wie piezoelektrischen Elementen vorgesehen ist.20. Vorrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegungseinrichtung das Laserbündel elektrooptisch, ζ. B. mittels Flüssigkristalleilen, verschwenkt.21- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegungseinrichtung einen Drehkörper wie einen Zylinderstab aufweist, an dessen einer Stirnfläche eine Vielzahl gleicher Spiegel facettenartig unter einem vorbestimmten Winkel zur Körperlängsachse ausgebildet ist.22. Vorrichtung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Winkel der Spiegel alle gleich sind.60981 5/0499"f 24U64423. Vorrichtung nach. Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Winkel der Spiegel abgestuft sind.-24. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegungseinrichtung eine Vorschubeinrichtung umfaßt, die den Spiegel nach jedem
Schwenkschritt um eine vorgewählte Schrittlänge, die
höchstens gleich dem Bündelquerschnitt ist, senkrecht zu den Abtastebenen verschiebt.25· Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß - die Vorschubeinrichtung nach Art einer Mikrometerschraube ausgebildet ist.26. Vorrichtung .nach einem der Ansprüche 14 bis 24, dadurch gekennzeichnet, daß eine die Intensität des durch den zu untersuchenden Edelstein hindurchgetretenen Lichtbündels (24*) messende, lichtempfindliche Einrichtung (22) auf der dem Lichtbündel (24') abgewendeten Seite des Edelsteins (20) angeordnet ist.27- Vorrichtung nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß die lichtempfindliche Einrichtung (22) eine flächenmäßige Ausdehnung aufweist, die wenigstens gleich der Ausdehnung der zu ihr parallel liegenden größten Querschnittsebene des zu untersuchenden Edelsteins (20) ist.6098 15/0499Leerseite
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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ID=5926123
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (12)
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JP (1) | JPS524283A (de) |
AT (1) | AT354137B (de) |
BE (1) | BE833519A (de) |
CA (1) | CA1052885A (de) |
CH (1) | CH600330A5 (de) |
DE (1) | DE2444644A1 (de) |
DK (1) | DK412275A (de) |
FR (1) | FR2285609A1 (de) |
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IL48106A0 (en) | 1975-11-25 |
CH600330A5 (de) | 1978-06-15 |
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ATA711575A (de) | 1979-05-15 |
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Legal Events
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8126 | Change of the secondary classification | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |