DE2219395C3

DE2219395C3 - Electrical test device

Info

Publication number: DE2219395C3
Application number: DE2219395A
Authority: DE
Inventors: George Michael Bournemouth Hampshire Ettinger
Original assignee: Plessey Overseas Ltd Ilford Essex; Plessey Overseas Ltd
Current assignee: Plessey Overseas Ltd
Priority date: 1971-04-20
Filing date: 1972-04-20
Publication date: 1981-08-13
Also published as: FR2133876A1; DE2219395B2; FR2133876B1; DE2219395A1; GB1386092A

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein elektrisches Prüfgerät gemäß dem Oberbegriff des Patenanspruchs 1.The invention relates to an electrical test device according to the preamble of the patent claim 1.

Da elektronische und elektrische Einrichtungen, in Computern, automatischen Fernsprechvermittlungsanlagen und anderen automatischen Steuergeräten verwendet werden, immer komplizierter werden, müssen zu ihrem Aufbau sehr viele elektrische Verbindungen hergestellt werden, die dann einzeln auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft werden müssen. Wenn beispielsweise eine Verbindung zwischen zwei Punkten oder Klemmen infolge einer fehlerhaften Verbindungsstelle unterbrochen ist, muß dieser Fehler festgestellt werden. Eine andere Fehlerart, die festgestellt werden muß, ist eine Verbindung zwischen Punkten, die nicht verbunden sein dürfen.As electronic and electrical equipment, in computers, automatic telephone exchanges and other automatic control devices used have to become more and more complicated a large number of electrical connections must be made to set them up, and these must then be checked individually for their functionality. For example, if a connection between two points or terminals as a result of a faulty connection point is interrupted, this error must be detected. Another type of error to be detected is a connection between points that must not be connected.

Aus der DE-OS 16 16 386 ist ein elektrisches Prüfgerät bekannt, mit dessen Hilfe Fehler eines Prüflings festgestellt werden können, die in Form von unerwünschten Kurzschlüssen oder Unterbrechungen zwischen auswählbaren Kontaktpunkten oder Anschlußklemmen am Prüfling in Erscheinung treten. Dieses bekannte Prüfgerät enthält Register, die in Adressierschaltungen benutzt werden und dazu dienen, die Adressen der Prüfpunkte zeitweilig zu speichern, damit beim Feststellen eines Fehlers der gerade adressierte Prüfpunkt genau identifiziert werden kann. Das bekannte Prüfgerät ist jedoch nicht dafür ausgelegt, einen Prüfvorgang jeweils automatisch in Abhängigkeit von der gerade zu prüfenden Anlage durchzuführen.From DE-OS 16 16 386 an electrical tester is known, with the help of which errors a DUTs can be identified in the form of undesired short circuits or interruptions appear between selectable contact points or terminals on the device under test. This well-known test device contains registers that are used in addressing circuits and serve to to temporarily store the addresses of the test points so that if an error is detected, the current addressed test point can be precisely identified. However, the known test device is not designed to to carry out a test process automatically depending on the system to be tested.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Prüfgerät der eingangs geschilderten Art so auszugestalten, daß es äußerst flexibel eine schnelle und zuverlässige Fehlerprüfung an Prüflingen durchführen kann. Diese Aufgabe wird mit den im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst. Beim erfindungsgemäßen Prüfgerät dient die Datenspeichereinrichtung der Speicherung eines vorbestimmten Programms, das praktisch von vornherein angibt, welche Signale an den einzelnen Prüfpunkten auftreten müssen, wenn kein Fehler vorhanden ist. Das Programm ist also in Abhängigkeit von der zu prüfenden AnlageThe invention is based on the object of designing a test device of the type described at the outset in such a way that that it is extremely flexible to carry out a fast and reliable error test on test objects can. This object is achieved with the features specified in the characterizing part of claim 1. In the test device according to the invention, the data storage device is used to store a predetermined one Program that specifies from the outset which signals will occur at the individual test points must if there is no error. The program is therefore dependent on the system to be tested

^ri5 vorbestimmt. Dieser Aufbau des Prüfgeräts ermöglicht nicht nur eine sehr schnelle Durchführung der Prüfarbeit, sondern er gestattet auch eine äußerst große Flexibilität hinsichtlich der Art der zu prüfenden Anlage. Es können einfach für verschiedene Anlagen verschiedene Programme auf Vorrat bereit gehalten werden, so daß als einzige Änderung bei einer Änderung der zu prüfenden Anlage ein neues Programm in der Datenspeichereinrichtung verwendet werden muß. ^r i5 predetermined. This construction of the test device not only enables the test work to be carried out very quickly, but also allows extremely great flexibility with regard to the type of system to be tested. Different programs can easily be kept in stock for different systems, so that the only change in the event of a change in the system to be tested is a new program that has to be used in the data storage device.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.Advantageous further developments of the invention are characterized in the subclaims.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, deren einzige Figur das Blockschaltbild eines Prüfgeräts nach der Erfindung zeigt.An embodiment of the invention is shown in the drawing, the only figure of which is the block diagram shows a test device according to the invention.

Die Zeichnung zeigt eine zu prüfende Anlage 1, die über ein vieladriges Kabel 3 mit einer adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 verbunden ist Ein Kurzschluß bzw. eine Masseverbindung zu einem Punkt oder einer Klemme der zu prüfenden Anlage 1 wird von der adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 aufgrund von Signalen hergestellt, die der Vorrichtung 2 zugeführt werden und von Daten abgeleitet werden, die in einem zuvor aufgezeichneten Programm einer Datenspeichereinrichtung 4 enthalten sind, die als Speicherorgan sine Bandkassette enthalten kann. Die einzelnen Schalter der Kurzschlußvorrichtung 2, welche die Kurzschlüsse herstellen, sind durch Halbleiter-Schaltglieder gebildet die aus den bipolaren Transistorelementen einer integrierten TTL- Logikschaltung bestehen.The drawing shows a system to be tested 1, which has a multi-core cable 3 with an addressable Short circuit device 2 connected is a short circuit or a ground connection to a point or a Terminal of the system to be tested 1 is from the addressable short-circuit device 2 due to Signals produced which are fed to the device 2 and are derived from data which is in a previously recorded program of a data storage device 4 are included, which sine as a storage organ May contain tape cartridge. The individual switches of the short circuit device 2, which the short circuits produce are formed by semiconductor switching elements that consist of the bipolar transistor elements of a integrated TTL logic circuit exist.

Nachdem in der adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 ein vorbestimmter Punkt oder eine vorbestimmte Klemme der zu prüfenden Anlage mit Masse verbunden worden ist, werden alle anderen Klemmen oder ausgewählte Klemmen der zu prüfenden Anlage von einer elektrischen Abtastschaltung 5 abgetastet, die einen binär codierten Dezimalzähler mit TTL-Logikschaltungen enthält, damit das Vorhandensein eines Kurzschlusses zwischen der an Masse gelegten adressierten Klemme und irgendeiner anderen Klemme überprüft wird. Die elektronische Abtastschaltung 5 arbeitet unter der Steuerung durch Signale aus einer Taktimpulsgeneratoranordnung 11, die einen Impulsgenerator 11a enthält, der einen vierstufigen dekadischen Zähler lib speist. Obgleich bei der hier beschriebenen Ausführungsform die Abtastschaltung 5 einen binär codierten Dezimalzähler enthält, kann auch in manchen Anwendungsfällen ein umlaufender Ringzähler für die Zwecke der Abtastung verwendet werden.After a predetermined point or a predetermined in the addressable short-circuit device 2 Terminal of the system to be tested has been connected to ground, all other terminals are or selected terminals of the system to be tested scanned by an electrical scanning circuit 5, the includes a binary coded decimal counter with TTL logic circuitry to allow for the presence of a Short circuit between the grounded addressed terminal and any other terminal is checked. The electronic scanning circuit 5 operates under the control of signals from a Clock pulse generator arrangement 11, which contains a pulse generator 11a, which has a four-stage decadic Feeds counter lib. Although in the embodiment described here, the sampling circuit 5 contains a binary coded decimal counter, a rotating ring counter can also be used in some applications can be used for the purposes of scanning.

Die Ausgangssignale der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 werden über eine Leitung 7 einer Koinzidenzschaltung 6 zugeführt, die an ihrem anderen Eingang über eine Direktverbindung 8 voraufgezeichnete Signale empfängt, die in dem in der Datenspeichereinrichtung 4 enthaltenen Programm erzeugt werden, und die ein Ausgangssignal erzeugt, wenn die programmierte Adresse mit der von der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 angegebenen Adresse übereinstimmt; die Koinzidenzschaltung 6 kann daher herkömmliche Koinzidenzgatter enthalten. Die Ausgangssignale werden von der Koinzidenzschaltung 6 also jedesmal dann abgegeben, wenn ein vom Programm bezeichneter Punkt unter der Steuerung der Taktimpulsgeneratoranordnung abgetastet wird.The output signals of the clock pulse generator arrangement 11 are fed via a line 7 to a coincidence circuit 6, which at its other input receives via a direct link 8 pre-recorded signals stored in the data storage device 4 contained in the program, and which generates an output signal when the programmed Address matches the address specified by the clock pulse generator arrangement 11; the Coincidence circuit 6 can therefore contain conventional coincidence gates. The output signals are so emitted by the coincidence circuit 6 each time a designated by the program Point under the control of the clock pulse generator arrangement is scanned.

Die Ausgangssignale der Koinzidenzschaltung 6 werden über eine Leitung 10 einer Vergleichseinrichtung 9 zugeführt, die einfach Gatterschaltungen enthält und an ihrer anderen Eingangsklemme Signale aus der Abtastschaltung 5 empfängt Wenn ein von der Koinzidenzschaltung 6 abgegebenes Signal gleichzeitig mit einem Ausgangssignal der elektronischen Abtastschaltung 5 an die Vergleichseinrichtung 9 angelegt wird, wird von dieser an der Leitung 12 ein Ausgangssignal erzeugt das die Weiterschaltung der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 verhindert und ein Anzeigegerät 13 sowie ein von einem Schnelldrucker gebildetes Aufzeichnungsgerät 14 betätigt, damit der Fehler angezeigt und aufgezeichnet wird. Somit kann entsprechend einem in der Bandkassette der Datenspeichereinrichtung 4 enthaltenen vorbestimmten Programm jede Klemme einer zu prüfenden Anlage der Reihe nach mit Masse verbunden und jede andere Klemme abgetastet werden, damit das Vorhandensein von unerwünschten Verbindungen zwischen den Klemmen festgestellt wird. Natürlich werden das Anzeigegerät 13 und das Aufzeichnungsgerät 14 ebenfalls unter Steuerung durch die Taktimpulsgeneratoranordnurig betrieben, wie es bei synchronen Systemen üblich ist, jedoch sind die entsprechenden Verbindungen in der Zeichnung nicht gezeigt.The output signals of the coincidence circuit 6 are transmitted via a line 10 to a comparison device 9, which simply contains gate circuits and at its other input terminal signals from the Sampling circuit 5 receives when a signal output from coincidence circuit 6 at the same time with an output signal of the electronic sampling circuit 5 is applied to the comparison device 9 is, an output signal is generated by this on the line 12 that the forwarding of the Clock pulse generator arrangement 11 prevents and a display device 13 and one from a high-speed printer formed recording device 14 is operated so that the error is displayed and recorded. Thus can in accordance with a predetermined program contained in the tape cassette of the data storage device 4 each terminal of a system to be tested is connected to ground in sequence and each other Terminal are sensed to avoid the presence of undesired connections between terminals is detected. Of course, the display device 13 and the recording device 14 are also under Control by the clock pulse generator only operated as it is common in synchronous systems, however, the corresponding connections are not shown in the drawing.

Es ist offensichtlich, daß das beschriebene Gerät sich insbesondere für die Verdrahtung von Schalttafeln und gedruckten Schaltungsplatten eignet. Durch die Anwendung der elektronischen Abtastung in der zuvor beschriebenen Weise wird eine schnelle Prüfung erleichtert, und es kann die elektrische Verbindung zwischen einem bestimmten Punkt und einem weiteren Punkt geprüft werden; ebenso kann die Beziehung eines bestimmten Punktes mit einer größeren Anzahl von anderen Punkten im Hinblick auf elektrische Verbindungen überprüft werden, so daß sowohl fehlerhafte Querverbindungen als auch Unterbrechungen festgestellt werden können.It is obvious that the device described is particularly useful for wiring switchboards and printed circuit boards. By using electronic scanning in the previously a quick test is facilitated and the electrical connection can be established be checked between a certain point and another point; likewise the relationship can be one certain point with a greater number of other points with regard to electrical connections are checked so that both faulty cross-connections and interruptions are detected can be.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims

Patent claims:

1. Electrical test device with a circuit arrangement equipped with switching elements for scanning related to a number of points or terminals in an electrical installation under test another point or another clamp of the system to determine the presence or the lack of electrically conductive connections between the one points or terminals and the other point or the other terminal, characterized in that a data storage device (4) is provided in which a predetermined program is stored that a Comparison device (9) is provided, the signals at a predetermined point or a predetermined Terminal assigned to the system to be tested (1) and corresponding to the one saved Program derived, compares with signals sent to the other point or the other terminal belong and are generated during a scanning process so that a connection field between one point or one terminal and the other point or the other terminal in Depending on the determination of the presence or absence of a conductive connection is displayed in between, and that the switching elements used for scanning are semiconductor switches are.

2. Apparatus according to claim 1, characterized in that signals from the comparison device (9) can be derived and assigned to a point or a terminal for which a Connection error is displayed, a record J5 tion device (14) are supplied.

3. Apparatus according to claim 1 or 2, characterized by a short-circuit device (2) for applying a predetermined electrical potential to one of several terminals of the system to be tested (1), wherein the data storage device (4) contains a program according to which the terminals of the To be switched over to the scanning circuit (5) in sequence, so that the terminals of the system to be tested (1) are switched over in sequence with respect to the terminal to which the predetermined potential is currently applied, and so that an output signal is provided, the one indicates faulty or undesired electrical connection between these terminals, a clock pulse generator arrangement (11) for the synchronous operation of the scanning circuit (5), a coincidence circuit (6) which compares signals derived from the program with signals generated by a counter (11b) , and which, when a match occurs, provides an output signal that identifies a particular terminal, u nd by an error display device (13) which responds to the output signal of the comparison device (9) and indicates the detection of an error, the output signal of the comparison device (9) also being used to block the further operation of the clock pulse generator (11).

4. Apparatus according to claim 3, characterized in that the sampling circuit (5) has a binary contains encoded decimal counter with TTL logic circuits, and that the short-circuit device (2) the contains bipolar transistor elements of integrated TTL logic circuits.