[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

DE2029762C3 - Method for determining the simultaneous occupancy of two or more of several assemblies - Google Patents

Method for determining the simultaneous occupancy of two or more of several assemblies

Info

Publication number
DE2029762C3
DE2029762C3 DE19702029762 DE2029762A DE2029762C3 DE 2029762 C3 DE2029762 C3 DE 2029762C3 DE 19702029762 DE19702029762 DE 19702029762 DE 2029762 A DE2029762 A DE 2029762A DE 2029762 C3 DE2029762 C3 DE 2029762C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
address
module
control device
occupancy
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19702029762
Other languages
German (de)
Other versions
DE2029762B2 (en
DE2029762A1 (en
Inventor
Heinrich 7015 Korntal Halfmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alcatel Lucent Deutschland AG
Original Assignee
Standard Elektrik Lorenz AG
Filing date
Publication date
Application filed by Standard Elektrik Lorenz AG filed Critical Standard Elektrik Lorenz AG
Priority to DE19702029762 priority Critical patent/DE2029762C3/en
Priority to NL7108161A priority patent/NL7108161A/xx
Publication of DE2029762A1 publication Critical patent/DE2029762A1/en
Publication of DE2029762B2 publication Critical patent/DE2029762B2/en
Application granted granted Critical
Publication of DE2029762C3 publication Critical patent/DE2029762C3/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Description

3 43 4

sprechenden Decoders verbunden ist, dessen einziger sen sind. Wenn die Schaltglieder Hl... Hn einen Ausgang mit dem einen Eingang einer das Döppelbe- bestimmten Schaltzustand aufweisen, sind ihre Auslegungszeichen an die Steuereinrichtung liefernden gänge durch ein L-Signal blockiert. Der andere Ein-Prüfschaltung gekoppelt ist, daß die Schaltglieder gang der Und-Schaltung Vl ist an die Prüfabfrageüber eine Oder-Schaltung an den anderen Eingang 5 leitung PA angeschlossen, während der Ausgang dieder Prüfschaltung und an den einen Eingang einer ser Und-Schaltung mit dein Eingang eines Rangier-Und-Schaltung angeschlossen sind, deren anderer teldesRF verbunden ist. Das Rangierfeld ist ausEingang nri der Steuereinrichtung zwecks Übertra- gangsseitig derart mit dem Adressenleitungsvielfach gung eines Prüfabfragezeichens und deren Ausgang 1... m gekoppelt, das bei der Ansteuerung des Ranmit dem Eingang eines Rangierfeldes Verbunden ist, io gierfeldes die Adresse der betreffenden Baugruppe und daß das Rangierfeld ausgangsseitig derart mit (Bl) auf das Adressenleitungsvielfach gelangt. Die dem Adressenleitungsvielfach verbunden ist, daß bei Rangierungen innerhalb des Rangierfeldes können der Ansteuerung des Rangierfeldes die Adresse der bsipielsweise über Dioden geführt sein,
betreffenden Baugruppe auf das Adressenleitungsviel- Die Prüfschaltung kann aus Verknüpfungsschalfach gelangt. 15 tungen derart gebildet sein, daß ein L-Signal am Aus-
talking decoder is connected, the only ones of which are sen. When the switching elements Hl . The other one-test circuit is coupled that the switching elements output of the AND circuit Vl is connected to the test query via an OR circuit to the other input 5 line PA , while the output of the test circuit and to one input of a water AND circuit your input of a shunting and circuit are connected, the other teldesRF is connected. The jumper field is coupled from input nri of the control device for the purpose of the transmission side to the address line multiple generation of a test interrogation character and its output 1 ... the jumper field on the output side reaches the address line multiple with (B1). Which is connected to the address line manifold, so that when routing within the patch panel, the address of the patch panel can be controlled via diodes, for example,
The test circuit can come out of the link switch. 15 lines must be formed in such a way that an L signal at the output

Um die Sicherheit der Aussage, daß nur eine Bau- gang 51 erscheint, wenn die EingangsbedingungTo ensure the certainty of the statement that only one building passage 51 appears if the entry condition

gruppe belegt worden ist, zu erhöhen, kann die Prüf- HxA oder ΉχΑ besteht, und daß ein L-Signal amgroup has been assigned to increase, the test HxA or ΉχΑ exists, and that an L signal on

schaltung gemäß einer weiteren Ausbildung der Er- Ausgang Gl erscheint, wenn die Eingangsbedingungcircuit according to a further development of the Er output Gl appears if the input condition

findung derart ausgebildet sein, daß bei gleichzeitigem HxA oder ΉχΑ~ auftritt.Finding be designed in such a way that HxA or ΉχΑ ~ occurs at the same time.

Auftreten von L-Signalen oder O-Signalen an ihren »o Neben der Prüfschaltung PS mit ihren Ausgängen beiden Eingängen an ihrem Ausgang ein Zeichen ge- 51, Gl kann noch eine Prüfeinrichtung PE mit entbildet wurde, welches das Fehlen der Doppelbelegung sprechenden Ausgängen 52, G 2 vorgesehen sein, die anzeigt und zur Steuereinrichtung übertragen wird. mit ihren Eingängen an die Schaltglieder Hl... Hn Occurrence of L-signals or O-signals at their »o In addition to the test circuit PS with its outputs, two inputs at its output a character 51, Gl can also be created a test device PE , which indicates the lack of double occupancy speaking outputs 52, G 2 may be provided, which displays and is transmitted to the control device. with their inputs to the switching elements Hl ... Hn

Es ist ferner möglich, die Teile der Anordnung ge- angeschlossen ist. Die Prüfeinrichtung PE dient zurIt is also possible for the parts of the arrangement to be connected. The test facility PE is used for

maß der Erfindung für die Feststellung mitauszunut- 35 Feststellung, ob mehr als ein Schaltglied innerhalbmeasure of the invention for the determination of the 35 determination of whether more than one switching element within

zen, ob innerhalb einer Baugruppe mehr als ein der Baugruppe den bestimmten Schaltzustand auf-zen whether within a module more than one of the module has the particular switching state.

Schaltglied den bestimmten Schaltzustand aufweist. weist. Bei einer derartigen Doppelbelegung gibt sieSwitching element has the specific switching state. shows. With such a double occupancy it gives

Eine Weiterbildung der Erfindung ist daher dadurch an ihrem Ausgang 5 2 ein L-Signal ab, während einA further development of the invention is therefore an L signal at its output 5 2, while a

gekennzeichnet, daß die Schaltglieder ferner mit einer L-Signal vom Ausgang G 2 abgegeben wird, wenn nurcharacterized in that the switching elements are also emitted with an L signal from output G 2, if only

Prüfeinrichtung verbunden sind, die ein Doppel- 30 ein Schaltglied den bestimmten Schaltzustand auf-Test equipment are connected, which have a double 30 a switching element on the specific switching state.

belegungszeichen abgibt, wenn mehr als ein Schalt- weist.gives assignment character if more than one switching point.

glied den bestimmten Schaltzustand aufweist, und die Die Ausgänge 51, 52 sind mit den Eingängen einermember has the specific switching state, and the outputs 51, 52 are connected to the inputs of a

ein das Fehlen der Doppelbelegung anzeigendes Zei- Oderschaltung O 2 verbunden, deren Ausgang mit dem a timing circuit O 2 indicating the absence of double occupancy, the output of which is connected to the

chen abgibt, wenn nur ein Schaltglied den bestimm- einen Eingang einer Undschaltung UZ gekoppelt ist.Chen outputs when only one switching element is coupled to the specific input of an AND circuit UZ.

ten Schaltzustand aufweist, daß die einander entspre- 35 Die Ausgänge Gl, G 2 sind an die Eingänge einerth switching state has that the 35 The outputs Gl, G 2 are connected to the inputs of a

chenden Ausgänge der Prüfeinrichtung und der Prüf- Oderschaltung O 3 angeschlossen, deren Ausgang mitcorresponding outputs of the test device and the test OR circuit O 3 connected, their output with

schaltung jeweils über eine Oder-Schaltung mit dem dem einen Eingang einer Undschaltung 1/3 verbun-circuit connected via an OR circuit to the one input of an AND circuit 1/3

einen Eingang einer zugehörigen Und-Schaltung ver- den ist. Die anderen Eingänge der Undschaltung 1/2,an input of an associated AND circuit is connected. The other inputs of the and circuit 1/2,

bunden ist daß daß die zweiten Eingänge dieser Und- 1/3 sind mit der Prüf abfrageleitung PA gekoppelt,tied is that the second inputs of this and 1/3 are coupled to the test interrogation line PA,

Schaltungen an die Prüf abfrageleitung angeschlossen 40 während der Ausgang der Undschaltung t/2 mit derCircuits connected to the test interrogation line 40 during the output of the and circuit t / 2 with the

sind. Vielfachleitung 5 und der Ausgang der Undschaltungare. Multiple line 5 and the output of the and circuit

An Hand eines Ausführungsbeispieles wird die Er- 1/3 mit der Vielfachleitung G verbunden ist. EinThe Er- 1/3 is connected to the multiple line G using an exemplary embodiment. A

findung näher erläutert. L-Signal auf der Vielfachleitung 5 zeigt an, daß einefinding explained in more detail. L signal on the trunk line 5 indicates that a

Die erfindungsgemäße Anlage besteht aus mehreren Doppelbelegung vorliegt, während ein L-Signal aufThe system according to the invention consists of several double occupancy while an L signal is on

Baugruppen B1... Bx und einer gemeinsamen 45 der Vielfachleitung G auf das Nichtvorliegen einerAssemblies B 1 ... Bx and a common 45 of the multiple line G for the absence of a

Steuereinrichtung ST. Von den Baugruppen, die bei- Doppelbelegung hinweist.Control device ST. Of the assemblies that indicates double occupancy.

spielsweise Gestelle sein können, ist nur die Bau- Bei diesem Ausführungsbeispiel wird die Festgruppe B1 ausführlicher dargestellt, das Vorhanden- stellung einer Doppelbelegung durch zwei verschissein anderer gleichartiger Baugruppen ist durch die dene Anordnungen vorgenommen, und zwar die Fest-Baugruppe Bx angedeutet. 50 stellung einer Doppelbelegung von SchaltgliedernIn this embodiment, the fixed group B 1 is shown in more detail, the presence of a double occupancy by two other similar assemblies is indicated by the particular arrangements, namely the fixed assembly Bx . 50 position of a double assignment of switching elements

Jede Baugruppe ist mit der Steuereinrichtung unter innerhalb einer Baugruppe durch die Prüfeinrichtung anderem mittels eines Adressenleitungsvielfachs PE und die Feststeilung der Doppelbelegung der Ge-1... m, mittels einer Priifabfragevielfachleitung PA, stelle untereinander mit Hilfe der Prüfschaltungen mittels einer Vielfachleitung G und mittels einer Viel- PS. Die baugruppeninterne Feststellung von Doppelfachleitung 5 verbunden. Das Adressenleitungsviel- 55 belegungen (bestimmter Schaltzustand der Schaltgliefach 1... m ist in der Steuereinrichtung 5Γ an der) ist hier nur insofern für die Erfindung wichtig, einen Adressensender AS angeschlossen, während die als sich die Ausgangssignale der Prüfeinrichtung PE Vielfachleitung G, 5 dort mit einer Auswerteeinrich- und der Prüfschaltung PS ohne weiteres mischen lastung A W verbunden sind. sen; für die Ausbildung der Prüfeinrichtung PE gibtEach module is connected to the control device within a module by the test device, among other things, by means of an address line multiple PE and the fixed division of the double assignment of Ge-1 ... m by means of a test interrogation multiplexer PA , interrelated with the help of the test circuits by means of a multiplexer line G and by means of a Much- PS. The assembly internal detection of double line 5 connected. The address line multipliers (certain switching state of the switchgear 1 ... m is in the control device 5Γ on the) is only important for the invention to the extent that an address transmitter AS is connected, while the output signals of the test device PE multiple line G, 5 there with an evaluation device and the test circuit PS without further mixing load AW are connected. sen; for the training of the PE test facility

In jeder Baugruppe ist das Adressenleitungsviel- 60 es bekannte Vorbilder. Sie kann beispielsweise aus fach 1... m mit den Eingängen eines auf die züge- analogen Prüfkreisen wie Brückenschaltungen behörige Baugruppenadresse ansprechenden Decoders D stehen. Analoge Prüfungen stellen zwar erhöhte Anverbunden, dessen einziger Ausgang mit einem Ein- forderungen an die Güte der Bauelemente, können gang A einer Prüfschaltung PS gekoppelt ist. Jede aber innerhalb einer Baugruppe mit vertretbarem Baugruppe weist eine Anzahl Schaltglieder Hl... 65 Aufwand realisiert werden. Auch entfallen innerhalb Hn auf, die über eine Oder-Schaltung 01 an einen einer Baugruppe weitgehend die Leitungsprobleme, anderen Eingang H der Prüfschaltung PS und an den die jedoch bei der baugruppenexternen Prüfung aufeinen Einsang einer Und-Schaltung Vl angeschlcs- treten und insbesondere in der Störanfälligkeit desIn every module, the multitude of address lines is a well-known example. For example, it can consist of compartment 1 ... m with the inputs of a decoder D that responds to the train-analog test circuits such as bridge circuits. Analog tests are indeed more connected, the only output of which is linked to the quality of the components, output A of a test circuit PS can be coupled. Each but within an assembly with a justifiable assembly has a number of switching elements Hl ... 65 effort to be implemented. Also accounted for within Hn, via an OR circuit 01 to a an assembly largely line problems, other input H of the test circuit PS and to which, however, aufeinen in modules external examination einsang an AND circuit Vl occur angeschlcs- and particularly in the Susceptibility to failure of

J 5 6 J 5 6

Analogsignals auf der Leitung zu sehen sind. Aus gruppe liefert in diesem FaIiI entweder ein »Schlecht«-Analog signal can be seen on the line. In this case, out of group either delivers a "bad" -

diesem Grunde ist eine Lösung mit digitaler Zeichen- oder »Gut«-Signal zur Steuereinrichtung ST. For this reason, there is a solution with a digital character or "good" signal to the control device ST.

gäbe außerhalb der Baugruppen vorteilhaft. An Hand dreier Beispiele werden die möglichenwould be advantageous outside of the assemblies. The possible ones are illustrated using three examples

Die Baugruppen B1... Bx werden beim normalen Kombinationsarten erläutert, wobei zehn BaugruppenThe modules B 1 ... Bx are explained in the normal combination types, with ten modules

Funktionsablauf von dem Adressensender AS über 5 und ein vierdrähtiges Adiressenleitungsvielfach vor-Functional sequence from the address sender AS via 5 and a four-wire address line multiple

das Adressenleitungsvielfach 1. .. m mit parallel- ausgesetzt werden:the address line multiple 1. .. m with parallel- are exposed:

codierten Zeichen, z. B. Binärcodezeichen, aufge- a) Die Baugruppe 5 sendet ihre eigene Adressecoded characters, e.g. B. binary code characters, recorded a) The module 5 sends its own address

rufen. Zur Feststellung der Doppelbelegung von Bau- OLOL, während alle übrigen Baugruppen das Zeichencall. To determine the double assignment of construction OLOL, while all other assemblies use the symbol

gruppen wird nun dieses Adressenleitungsvielfach 0000 senden. Damit führt das Adressenleitungsviel-gruppen will now send this address line multiple 0000. This leads the address line diversity

mitbenutzt. Dabei wird die Tatsache ausgenutzt, daß io vielfach das Zeichen OLOL, daher sendet die Bau-shared. This takes advantage of the fact that io often uses the OLOL character, which is why the building

zur gleichen Zeit jeweils nur eine Information (Bau- gruppe 5 ein Zeichen über die Vielfachleitung G;only one piece of information at a time (module 5 one character via multiple line G;

gruppenaddresse) übertragen werden kann. Beim auch alle anderen Baugruppen senden dies Zeichengroup address) can be transmitted. All other assemblies also send this character

normalen Betrieb arbeitet also nur ein Adressen- (weil voraussetzungsgemäß die Prüfschaltung auchNormal operation only works with an address (because, according to the prerequisites, the test circuit also works

sender in der Steuereinrichtung ST mit den Decodern bei der Eingangsbedingung ΉχΆ ein Zeichen am Aus-transmitter in the control device ST with the decoders with the input condition ΉχΆ a sign on the output

D aller Baugruppen zusammen. 15 gang G1 abgibt). D of all assemblies together. 15 output G1).

Soll eine Einfach- oder Doppelbelegung von Bau- b) Die Baugruppe 5 sendet ihre eigene Adresse gruppen festgestellt werden, so wird für die Dauer OLOL, während die Baugruppe 2 ihre eigene Adresse der Prüfung der Adressensender AS abgeschaltet und 00LO sendet. Das überlagerte Zeichen auf der Adresgleichzeitig über die Vielfachleitung PA ein Prüf- senvielfachleitung heißt QLLL, welches die Adresse abfragezeichen von der Steuereinrichtung ST zu den 20 der Baugruppe 7 ist. Das Ergebnis für die
Undschaltungen Ul... U3 aller Baugruppen gegeben. In jeder durch das Vorliegen des bestimmten Baugruppe 5 = HxA == Zeichen auf Leitung 5,
Schaltzustandes eines Schaltgliedes gekennzeichneten Baugruppe 2 = HxÄ -- Zeichen auf Leitung S,
Baugruppe ist nun die Undbedingung für die Und- Baugruppe 7 = ΉχΑ == Zeichen auf Leitung S,
schaltung U1 erfüllt. Das Auseanessienal dieser Und- 25 .... -π -r ^ · x. ■* ^-
schaltung gelangt zum Rangierfeld RF, welches die ubn8en = Ή** == ^ichm auf Leitun8 G'
eigene Baugruppenadresse auf das Adressenleitungs- . . _ , .. . . ,
vielfach 1... m gibt. Liegt nur in einer Baugruppe 7 n c) n Oie.?™T?Pl sendet*re eige"e ü™* ein Kennzeichen von einem Schaltglied vor, d.h., ist ">L°. wahrend die Baugruppe2 ihre eigene Adresse die betreffende Undschaltung I/l nur einer Bau- 30 0^0 abg'bt· Auf der Adressenvielfachleitung steht gruppe aktiviert, dann arbeitet auf dem Adressen- demnach das Zeichen LOLO welches die Baugruppe leitungsvielfach nur ein Adressensender (durch RF ' 10 bezeichnet. Das Ergebnis fur die
gebildet). Dies bedeutet, daß die Information wohl an _ ,_ „ . „ . . tT·* /-den Decodern D aller Baugruppen liegt, jedoch nur Baugruppe 10 = HxA = Zeichen auf Leitung G, von dem Decoder der sendenden Baugruppe wieder- 35 Baugruppe 2 = HxA = Zeichen auf Leitung S, erkannt wird. Der sich einstellende Zustand »Bau- übrigen = ΉχΆ = Zeichen auf Leitung G. gruppenkennzeichnung (H) liegt vor« und »eigene
If a single or double assignment of the b) The module 5 sends its own address groups is to be determined, OLOL is switched off for the duration, while the module 2 switches off its own address to check the address transmitter AS and sends 00LO. The superimposed character on the address at the same time via the multiple line PA a test multiple line is called QLLL, which is the address query character from the control device ST to the 20 of the assembly 7. The result for the
And circuits Ul ... U3 of all assemblies given. In each by the presence of the specific assembly 5 = HxA == sign on line 5,
Switching state of a switching element marked assembly 2 = HxÄ - symbol on line S,
The assembly is now the and condition for the AND assembly 7 = ΉχΑ == character on line S,
circuit U 1 fulfilled. The auseanessienal of this And- 25 .... -π -r ^ · x. * τ ■ * ^ -
circuit arrives at the patch panel RF, which the ubn 8 en = Ή ** == ^ ichm on line 8 G '
own module address on the address line. . _, ... . ,
there are often 1 ... m. Is only in one assembly 7 n c ) n Oie .? ™ T? P l sends * re eige " e ü ™ * an identifier of a switching element, ie, is"> L °. while module 2 has its own address the relevant and circuit I / l of only one module 30 0 ^ 0 from g ' bt denoted by RF '10 . The result for the
educated). This means that the information is probably sent to _, _ “. ". . · t T * / -den decoders D is all modules, but only assembly 10 HXA = = sign on line G from the decoder of the sending module 35 re-assembly 2 = HXA = sign on line S, is detected. The status that emerges »Construction rest = ΉχΆ = sign on line G. group identification (H) is present« and »own

Adresse erkannt (A)« wird von der Prüfschaltung Ist mehl als eine Baugiruppe gekennzeichnet (H), PS zur Ableitung eines L-Signals am Ausgang G T so liefert mindestens eine Baugruppe ein Zeichen auf verarbeitet, welches bedeutet, daß keine Baugruppen 40 der Leitung S. Die Feststellungsergebnisse aller Baudoppelbelegung vorhanden ist (»Gut«-Anzeige). In gruppen können sehr einfach in der Steuereinrichtung diesem Fall übermitteln alle Baugruppen die »Gut«- ST ausgewertet werden. Wenn alle Baugruppen ein Anzeige über die Vielfachleitung G zur Steuereinrich- Zeichen auf die Leitung G geben, so bedeutet dies, tung 57". daß nur eine Baugruppe belegt wurde. Geben die Bau-Ist dagegen mehr als eine Baugruppe gekennzeich- 45 gruppen sowohl Zeichen auf die Leitung G als auch net (H), so senden diese Baugruppen auf Grund des Zeichen auf die Leitung 5 oder nur auf die Leitung 5, Prüfabfragezeichens ihre eigenen Adressen auf das so bedeutet dies, daß eine Doppelbelegung von Bau-Adressenleitungsvielfach 1... m. Diese Adressen gruppen vorliegt.Address recognized (A) « is identified by the test circuit as a component (H), PS for deriving an L signal at output GT so at least one component supplies a signal that has been processed, which means that no components 40 on line S . The determination results of all Baudoppelbelegung present ( "good" indicator). In groups, it is very easy in the control device in this case that all modules transmit the "good" ST are evaluated. If all assemblies give a display over the multiple line G to the control device character on the line G, this means, device 57 ". That only one assembly has been occupied. In contrast, if the assembly is more than one assembly, both groups and characters on line G as well as net (H), then these modules send their own addresses based on the character on line 5 or only on line 5, test query characters. . m. This address group is available.

überlagern sich und führen zwangläußg mindestens Es sei noch erwähnt, diiß in dem Fall, in dem in-superimpose and inevitably lead at least It should also be mentioned that in the case in which

in einer Baugruppe zur Veränderung der gesendeten 50 nerhalb einer Baugruppe mehr als ein Schaltgliedin an assembly for changing the transmitted 50 within an assembly more than one switching element

Adresse. Diese Veränderung wird in der jeweiligen den bestimmten Schaltzustand aufweisen darf, dieAddress. This change is allowed to show the particular switching state in the respective

Prüfschaltung erkannt, die dann ein L-Signal am Aus- baugruppeninterne Prüfung mit der PrüfeinrichtungTest circuit recognized, which then sends an L signal to the internal test with the test device

gang 52 (»SchlechU-Anzeige) abgibt Jede Bau- PE entfallen kann.Aisle 52 (»SchlechU-Advertisement) gives off. Each construction PE can be omitted.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims (4)

zugehörigen Undschaltung (D2, U 3) verbundenassociated and circuit (D 2, U 3) connected Patentansoriiche· ist und daß dic^zweiten Eingänge dieser Undschal,Patent approach is and that the ^ second inputs of this undschal, Patentansprucne. ^^ m ^ ρ^Η^«,^ (Pi4) ^Claims. ^^ m ^ ρ ^ Η ^ «, ^ (Pi4) ^ L Verfahren zur Feststellung der gleichzeitigen schlossen sind.L procedures for determining the simultaneous closed. Belegung von zwei oder mehr aus mehreren Bau- 5 Occupancy of two or more of several building 5 gruppen von einer gemeinsamen Steuereinnch- ——- - rung aus, bei dem die Baugruppen jeweils einegroups from a common tax bill- ——- - where the modules each have a Anzahl belegbarer Schaltglieder aufweisen und . 'mit der Steuereinrichtung mittels eines gemein- Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine samen Leitunpvielfachs zur Übertragung par- *> Schaltungsanordnung zur Feststellung der gleichzeiallelcodierter* ^Baugruppenadressen verbunden lägen Belegung von zwei oder mehr aus mehreren sind, da'aüjrcn gekennzeichnet, daß bei Baugruppen von einer gemeinsamen Steuereinrichder durch einen bestimmten Schaltzustand (Be- tung aus, bei dem die Baugruppen jeweils eine Anlegung) eines Schaltgliedes gekennzeichnete Be- zahl belegbarer Schaltglieder aufweisen und mit der legung einer Baugruppe in jeder derart belegten 15 Steuereinrichtung iaittels eines gemeinsamen Lei-Baugruppe auf Veranlassung der Steuereinnch- tungsvielfachs zur Übertragung parallelcodierter Bautung die Baugruppenadresse nachgebildet und auf gruppenadressen verbunden sind, das Adressenleitungsvielfach gegeben wird, daß ta derartigen Anlagen, die beispielsweise Teil von danach das sich auf dem Adressenleitungsviel- Fernmelde- oder Rechenanlagen sein können, arbeifach einstellende Codewort in jeder Baugruppe »o ten die Baugruppen mit der Steuereinrichtung so zumit der eigenen Baugruppenadresse verglichen sammen, daß jeweils nur eine Baugruppe je Zeitwird und daß bei der Feststellung der Nichtiden- abschnitt von der Steuereinrichtung über das allen tität zwischen Codewort und Baugruppenadresse Baugruppen gemeinsame Leitungsvielfach mit der abhängig vom Vorliegen eines Schaltglied-Bele- Baugruppenadresse angesteuert wird; zu dieser Baugungskennzeichens ein Doppelbelegungszeichen »5 gruppe t><erden dann die nötigen Steuerbefehle überzur Steuereinrichtung übertragen wird. tragen. Die Ansteuerung der Baugruppen erfolgt mitHave number of assignable switching elements and. 'with the control device by means of a common- The invention relates to a method and a seed line multiplexer for transmission par- *> Circuit arrangement for determining the simultaneously coded * ^ module addresses would be an occupancy of two or more of several are, da'aüjrcn that in assemblies from a common control device by a certain switching state (operation in which the assemblies each apply) of a switching element have a number of assignable switching elements and with the Placement of a module in each such occupied control device ia by means of a common line module at the instigation of the control unit multiples for the transmission of parallel-coded structure, the module addresses are reproduced and linked to group addresses, the address line multiple is given that ta such systems, which are, for example, part of then that there can be telecommunication or computer systems on the multiple address line, working code words in each assembly, the assemblies with the control device are compared with their own assembly address so that only one assembly is used at a time and that when the non-idioms are determined - section of the control device over the all between the code word and the module address is controlled depending on the presence of a switching element Bele module address; In addition to this building code, a double occupancy symbol »5 group t> <then earths the necessary control commands is transmitted to the control device. carry. The modules are controlled with 2. Schaltungsanordnung zur Durchführung des parallelcodierten Zeichen, z. B. mit Binärcodezei-Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekenn- chen, die von allen Baugruppen empfangen werden; zeichnet, daß in jeder Baugruppe (B 1...Bx) 2. Circuit arrangement for carrying out the parallel-coded characters, e.g. B. with binary code character method according to claim 1, characterized marked, which are received by all assemblies; indicates that in each assembly (B 1 ... Bx) das jeweils übertragene Zeichen wird jedoch nur von das Adressenleitungs\ ielfach (1... m) mit den 3» einer bestimmten, auf dieses Zeichen eingestellten Eingängen eines auf die zugehörige Baugruppen- Baugruppe ausgewertet.However, the character transmitted in each case is only evaluated by the address line multiple (1 ... m) with the 3 »of a specific input set to this character on the associated module. adresse ansprechenden Decoders (D) verbunden Jede Baugruppe weist eine Anzahl Schaltgliederaddress responsive decoder (D) connected Each assembly has a number of switching elements ist, dessen einziger Ausgang mit dem einen Ein- auf, die beispielsweise durch Register oder Verbingang einer das Doppelbelegungszeichen (Sl) an dungssätze gebildet sein können. Diese Schaltglieder die Steuereinrichtung (ST) liefernden Prüfschal- 35 können einen bestimmten Schaltzustand einnehmen, tung (PS) gekoppelt ist, daß die Schaltglieder durch den die Baugruppe als belegt gekennzeichnet (Hl...Hn) über eine Oderschaltung (01) an sein soll. Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verden anderen Eingang der Prüfschaltung und den fahren anzugeben, mit dem die gleichzeitige Belegung einenEingangeinerUndschaltung(I/l)angeschlos- von zwei oder mehr Baugruppen von der Steuersen sind, deren anderer Eingang mit der Steuer- +0 einrichtung aus festgestellt werden kann. Dies wird einrichtung zwecks Übertragung eines Prüfab- gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß bei der fragezeichens (PA) und deren Ausgang mit dem durch einen bestimmten Schaltzustand (Belegung) Eingang eines Rangierfeldes (RF) verbunden ist, eines Schaltgliedes gekennzeichneten Belegung einer und daß das Rangierfeld ausgangsseitig derart Baugruppe in jeder derart belegten Baugruppe auf mit dem Adressenleitungsvielfach verbunden ist, 45 Veranlassung der Steuereinrichtung die Baugruppendaß bei der Ansteuerung des Rangierfeldes die adresse nachgebildet und auf das Adressenleitungs-Adresse der betreffenden Baugruppe auf das vielfach gegeben wird, daß danach das sich auf dem Adressenleitungsvielfach gelangt. Adressenleitungsvielfach einstellende Codewort inis whose only output with the one input, which can be formed, for example, by register or verb input of the double occupancy symbol (S1) to training sentences. These switching elements supplying the control device (ST) can assume a certain switching state, device (PS) is coupled so that the switching elements through which the assembly is marked as occupied (Hl ... Hn) should be on via an OR circuit (01) . The object of the invention is to provide a connection to the other input of the test circuit and the drive, with which the simultaneous assignment of one input of an output circuit (I / I) of two or more modules are connected to the control, the other input to the control +0 facility can be determined from. This is device for the purpose of transmitting a Prüfab- according to the invention achieved in that the question mark (PA) and its output is connected to the input of a patch panel (RF) through a certain switching state (occupancy), a switching element marked occupancy and that the On the output side of the jumper field, such a module is connected to the address line manifold in every module that is occupied in this way, 45 The control device causes the module that the address is reproduced when the jumper field is controlled and the address line address of the module in question is given many times over the address line multiple arrives. Address line multiple setting code word in 3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, da- jeder Baugruppe mit der eigenen Baugruppenadresse durch gekennzeichnet, daß die Prüfschaltung (PS) 50 verglichen wird und daß bei der Feststellung der derart ausgebildet ist, daß bei gleichzeitigem Auf- Nichtidentität zwischen Codewort und Baugruppentreten von L-Signalen oder O-Signalen an ihren adresse abhängig vom Vorliegen eines Schaltgliedbeiden Eingängen an ihrem Ausgang ein Zei- 'Belegungskennzeichens ein Doppelbelegungszeichen chen (G 1) gebildet wird, welches das Fehlen der zur Steuereinrichtung übertragen wird. Doppelbelegung anzeigt, und zur Steuereinrich- 55 Das vorhandene Adressenleitungsvielfach und die rung übertragen wird. vorhandenen Adressenempfangseinrichtungen in den3. Circuit arrangement according to claim 2, there- each module with its own module address characterized in that the test circuit (PS) 50 is compared and that, when the is determined, it is designed in such a way that at the same time there is no identity between the code word and the module occurrence of L- Signals or O-signals at their address depending on the presence of a switching element both inputs at their output a sign 'occupancy identifier a double occupancy character (G 1) is formed, which the lack of is transmitted to the control device. Double occupancy indicates, and to the control device 55 The existing address line multiple and the tion is transferred. existing address receiving devices in the 4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2 oder Baugruppen können bei diesem Verfahren mitaus-3, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalfglieder genutzt werden. Die Störanfälligkeit ist infolge der ferner mit einer Prüfeinrichtung (PE) verbunden Verwendung von digitalen Signalen sehr gering, sind, die ein Doppelbelegungszeichen (52) abgibt, 60 Außerdem ergibt sich eine gute Anpassungsfähigkeit wenn mehr als ein Schaltglied den bestimmten bei der Erweiterung der Anlage, da nur relativ wenige Schaltzustand aufweist, und die ein das Fehlen Vielfachleitungen zusätzlich erforderlich werden.4. Circuit arrangement according to claim 2 or assemblies can mitaus-3 in this method, characterized in that the switching elements are used. The susceptibility to failure is very low as a result of the use of digital signals connected to a test device (PE) , which emits a double occupancy code (52), 60 In addition, there is good adaptability if more than one switching element is used in the expansion of the system, since it has only relatively few switching states and the lack of multiple lines is also required. der Doppelbelegung anzeigendes Zeichen (G 2) Der Aufwand an Schaltmitteln in den BaugruppenCharacter indicating double occupancy (G 2) The amount of switching equipment in the assemblies abgibt, wenn nur ein Schaltglied den bestimmten kann gering gehalten werden, wenn die Schaltungs-Schaltzustand aufweist, daß die einander entspre- 65 anordnung zur Durchführung dieses Verfahrens gechenden Ausgänge der Prüfeinrichtung (PE) und maß der Erfindung so ausgebildet ist, daß in jeder Bauder Prüfschaltung (PS) jeweils über eine Oder- gruppe das Adressenleitungsvielfach mit den Einganschaltung (O 2, O 3) mit dem einen Eingang einer gen eines auf die zugehörige Baugruppenadresse an-outputs, if only one switching element the specific can be kept low if the switching state has that the corresponding outputs of the test device (PE) and measure of the invention are designed so that in each building Test circuit (PS) each via an OR group the address line multiple with the input connection (O 2, O 3) with one input of a gene one to the associated module address.
DE19702029762 1970-06-16 1970-06-16 Method for determining the simultaneous occupancy of two or more of several assemblies Expired DE2029762C3 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19702029762 DE2029762C3 (en) 1970-06-16 Method for determining the simultaneous occupancy of two or more of several assemblies
NL7108161A NL7108161A (en) 1970-06-16 1971-06-15

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19702029762 DE2029762C3 (en) 1970-06-16 Method for determining the simultaneous occupancy of two or more of several assemblies

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2029762A1 DE2029762A1 (en) 1971-12-23
DE2029762B2 DE2029762B2 (en) 1976-01-02
DE2029762C3 true DE2029762C3 (en) 1976-08-05

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19743709B4 (en) IC tester
DE2634792C2 (en) Method for the systematic testing of crosspoints in multi-stage switching networks in centrally controlled telecommunication systems, in particular telephone systems, with the help of central control and storage devices
DE2029762C3 (en) Method for determining the simultaneous occupancy of two or more of several assemblies
DE3219900A1 (en) COMPUTER INTERFACE
EP0590182B1 (en) Method for operating a time stage or a combined time-space stage of the switching network of a time division telecommunication exchange
DE2029762B2 (en) Monitor detecting double-occupancy of telephone groups - compares group code with constructed address of called group
DE10303654A1 (en) Integrated semiconductor circuit with built-in self-test function and associated system
DE2733027A1 (en) Testing of computer controlled PBX - uses test equipment reading specific system data stored in memory, and derives from them parameters for PBX testing
DE3424124A1 (en) Circuit arrangement for checking the functions of telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems
DE4007460C2 (en) Method and circuit arrangement for quick decommissioning of modules in the event of a fault
DE3335695C1 (en) Testing device for monitoring the data channel during data interchange between central processors in microprocessor-controlled telephone switching systems
DE4317367C1 (en) Switching network for a digital time-division multiplex telephone exchange
DE2633986C3 (en) Method for checking line multiples in centrally controlled telecommunications, in particular telephone switching systems
DE2720081C2 (en) Circuit arrangement for signaling in telecommunications, in particular telephone systems
EP0624022B1 (en) Apparatus for testing the speech path in the switching network of a digital time-multiplex telephone exchange
DE2312706A1 (en) ARRANGEMENT FOR TESTING TELEPHONE LINES
DE10338677B3 (en) Method for testing a circuit unit to be tested and a test device
DE2364071C2 (en) Circuit arrangement for a test device to be interconnected with a test object in computer-controlled telecommunications, in particular telephone switching systems
DE3330889A1 (en) Circuit arrangement for testing the functional capability of a computer-controlled telephone exchange
DE3428603C2 (en) Method for testing the signal converter multiplexer in a PCM transmission link and test arrangement for carrying out the method
DE3241175A1 (en) Test system for testing control unit assemblies containing processors and/or memory assemblies forming peripheral complements to such control unit assemblies
DE2848853C3 (en) Method for the systematic testing of crosspoints in multi-stage switching networks
DE3139514C1 (en) Method and circuit arrangement to carry out the method, for testing switching network devices in centrally controlled telecommunications systems
DE2736119C3 (en) Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular telephone switching systems with individual central devices that are common to them
DE102005007580A1 (en) Integrated circuit unit e.g. memory circuit, testing device, has connecting unit for connecting tester circuit to circuit subunits, where one subunit has compression/decompression unit to exchange test and response signals between subunits