DE19948837A1 - Verfahren zur Erfassung der mittleren Schichtdicke und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Abstract

Verfahren zur Erfassung der mittleren Schichtdicke oder von Schichtdickenänderungen einer im wesentlichen organischen Auflage auf einem bewegten flächigen Gut, insbesondere auf den Fasern oder Fäden eines textilen Gutes oder der Oberfläche eines metallischen Walzgutes, wobei das flächige Gut in einem bezüglich einer Förderrichtung feststehenden Erfassungsbereich mit einer Strahlung beleuchtet wird, die mindestens einen ersten vorbestimmten Teilbereich des Infrarot-Wellenlängenbereiches von 800 nm bis 4000 nm umfaßt, die emittierte oder die vom flächigen Gut remittierte Strahlung einer Bandfilterung für den ersten Teilbereich des Infrarot-Wellenlängenbereich unterzogen und die Remissionsintensität der remittierten Strahlung in dem ersten Teilbereich als Maß für die mittlere Schichtdicke oder Schichtdickenänderung erfaßt und in Echtzeit ausgewertet wird.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erfassung der mittle­ ren Schichtdicke einer im wesentlichen organischen Auflage auf einem bewegten flächigen Gut sowie eine Anordnung zur Durchfüh­ rung dieses Verfahrens.

Auf den Gebieten der Textilveredelung und -verarbeitung steigen die Qualitätsansprüche ständig, so daß eine umfassende und sys­ tematische Qualitätssicherung zunehmende Priorität für die auf diesem Gebiet tätigen Unternehmen gewinnt. Die Qualitätssiche­ rung umfaßt dabei zweckmäßigerweise neben der Wareneingangs- und -ausgangskontrolle auch die Überprüfung des jeweiligen Ver­ edelungsergebnisses während einzelner Behandlungsvorgänge.

Wachsende Bedeutung kommt dabei insbesondere der Produktüber­ wachung nach den einzelnen Prozeßstufen zu, die in der Ver­ gangenheit wegen des relativ hohen Aufwandes und der mangelnden Prozeßnähe der bekannten (in der Regel nicht zerstörungsfreien) Analyseverfahren nur in geringem Umfang praktiziert wurde. Die Vernachlässigung der Produktüberwachung während der Prozeß­ schritte führte dazu, daß Fehler in der Verfahrensführung nicht rechtzeitig erkannt werden konnten und teure Nachbehandlungen notwendig machten - wenn die Ware nicht sogar irreparabel ge­ schädigt war.

Es ist bereits bekannt, bestimmte relevante Größen bei der Ver­ edelung bzw. Verarbeitung von textilem Gut an einer durchlau­ fenden Warenbahn zu bestimmen bzw. zu überwachen.

So ist aus der EP 0 889 320 A2 der Anmelderin ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Abtasten einer textilen Warenbahn zur Überwachung ihrer Farbwerte bekannt. Die Warenbahn wird dabei mit einer vorzugsweise kontinuierlich strahlenden Lichtquelle beleuchtet und das remittierte Spektrum, bezogen auf die je­ weils abgetasteten Bereiche der Warenbahn, protokolliert. Auf diese Weise läßt sich ein Warenbahn-"Pass" erstellen, der zu­ sammen mit der Warenbahn einem Kunden oder an eine nachfolgende Prozeßstufe übergeben werden und dort für die weitere Verarbei­ tung berücksichtigt werden kann.

Aus der DE 41 31 835 A1 ist ein Gerät zur automatischen Erken­ nung von Oberflächen- und Transmissionsfehlern an einer lau­ fenden Warenbahn bekannt, welches eine Mehrzahl von Strahlungs­ quellen umfaßt, die die Warenbahn zeilenförmig bestrahlen. Den Strahlungsquellen ist eine gleiche Anzahl von Empfängern zuge­ ordnet, die die Strahlung aufnehmen, und es ist eine Auswer­ tungseinrichtung vorgesehen, in der eine Schwellwertverarbei­ tung zur Ausgabe von Fehlermeldungen bei intolerablen Trans­ missionsänderungen ausgeführt wird.

Weiterhin ist es bekannt, mittels eines Infrarot-Fotometers die Feuchte von Feststoffen, beispielsweise auch von textilem Mate­ rial, zu bestimmen; vgl. die Firmenschrift PIER-Electronic GmbH: "Bedienungsanweisung - Infrarot-Fotometer zur Messung der Feuchte von Feststoffen".

Aus der WO 99/30136 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung der Farbe und/oder Zusammensetzung eines flächigen Gutes, beispielsweise von Papier oder Pappe, auf optischem Wege bekannt. Hierbei wird das zu untersuchende Material sowie ein Referenzmaterial bei verschiedenen Wellenlängen, vorzugsweise innerhalb des sichtbaren Bereichs, beleuchtet und das reflek­ tierte oder transmittierte Licht erfaßt und einer Referenz-Aus­ wertung unterzogen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein einfaches und kostengünstig durchzuführendes Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, welches für die laufende Prozeßüberwachung, ins­ besondere bei der Veredelung und/oder Verarbeitung von textilem Gut, geeignet ist. Weiterhin liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine zweckmäßige Anordnung zur Durchführung eines solchen Verfahrens anzugeben.

Diese Aufgaben werden hinsichtlich ihres Verfahrensaspektes durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und hin­ sichtlich ihres Anordnungsaspektes durch eine Anordnung mit den Merkmalen des Anspruchs 9 gelöst.

Die Erfindung schließt den wesentlichen Gedanken ein, das an sich bekannte Verfahren der Infrarotspektroskopie - speziell im Bereich des nahen Infrarot (NIR), bis hinein in den Bereich des mittleren Infrarot (NIR), zur Schichtdickenbestimmung bzw. -überwachung einer Auflage auf flächigem Gut zu nutzen. Sie schließt weiter den Gedanken ein, dieses üblicherweise an ru­ henden Proben ("Off-Line") praktizierte Untersuchungsverfahren am durchlaufenden flächigen Gut zu praktizieren. Das Verfahren umfaßt die Erfassung und Auswertung der Remissionsintensität des von flächigen Gut remittierten Lichts innerhalb eines vor­ bestimmten Spektralbereiches in Echtzeit.

In einer für die Prozeßüberwachung bevorzugten Ausführung des Verfahrens umfaßt die Auswertung der Remissionsintensität einen Vergleich mit vorbestimmten Referenz-Intensitätswerten, die de­ finierten Schichtdicken entsprechen, oder eine Schwellwertdis­ kriminierung mit vorbestimmten Schwellwerten, die unteren bzw. oberen Grenzwerten der zulässigen Schichtdicke bzw. den Grenzen des Toleranzbereiches entsprechen. Auf diese Weise ist eine Überwachung der mittleren Schichtdicke am laufenden Gut zur Qualitätssicherung möglich, ohne daß Absolutwerte bestimmt wer­ den.

In einer weiter bevorzugten Ausführungsform wird das flächige Gut im wesentlichen kontinuierlich beleuchtet und die remit­ tierte Strahlung ebenfalls im wesentlichen kontinuierlich er­ faßt und ausgewertet, um mittels geeigneter Eingriffe in die Prozeßführung schnell auf etwaige unzulässige Abweichungen rea­ gieren zu können. Hierbei soll der Begriff "kontinuierlich" auch eine periodische Erfassung und Auswertung von Meßwerten in kurzen Zeitabständen, bezogen auf die Durchlaufgeschwindigkeit des Gutes, umfassen.

In einer weiter bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens wird das flächige Gut mit Strahlung beleuchtet, die neben dem Meß- Wellenlängenbereich auch einen Referenz-Wellenlängenbereich um­ faßt, und es wird die Remissionsintensität auch im Referenz- Wellenlängenbereich erfaßt und in die Auswertung der im Meß- Wellenlängenbereich erfaßten Intensität einbezogen. Hierdurch kann der Einfluß von Fehlergrößen, wie etwa Feuchteschwan­ kungen, Glanzänderungen oder Farbänderungen des textilen Gutes, minimiert werden.

Der Meß-Wellenlängenbereich wird bevorzugt so vorbestimmt, daß eine Absorptionsbande eines wesentlichen chemischen Bestand­ teils der Auflage erfaßt ist. Der Referenz-Wellenlängenbereich wird hingegen außerhalb von Absorptionsbanden gelegt. Beide Wellenlängenbereiche sollten bevorzugt hinreichend weit von­ einander entfernt und bevorzugt so ausgewählt sein, daß die wesentlichen zu erwartenden Störfaktoren sich darin in unter­ schiedlichem Maße auswirken. Zur Bestimmung der geeigneten Wellenlängenbereiche können in zweckmäßiger Weise Off-Line-Mes­ sungen an definiert präparierten Proben vorgenommen werden.

Eine bevorzugte Anwendung findet das vorgeschlagene Verfahren für textiles Gut - insbesondere Gewebe - mit einer Auflage aus einem organischen Lösungsmittel und/oder einem Textilverede­ lungsmittel. In dieser Ausführung dient es insbesondere zur Prozeßüberwachung bei Reinigungs- bzw. Veredelungs-Vorbehand­ lungsschritten bzw. Nachveredelungsschritten, etwa zur antista­ tischen oder fleckabweisenden Beschichtung oder einer Verede­ lung zur Verbesserung der mechanischen Eigenschaften (Knitter­ schutz, Bügelfreiheit o. ä.).

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung besteht in der Erfas­ sung bzw. Überwachung der Schichtdicke einer Schutzlack- bzw. Kunststoffauflage auf einer Metallfolie oder einem Metallband.

Die Erfassung der remittierten Strahlung erfolgt vorteilhafter Weise in einem im wesentlichen zusammenhängenden Streifen auf der Materialbahn, der am einfachsten parallel zu einer Längs­ kante verläuft, in einer etwas aufwendigeren Verfahrensführung aber unter einem vorbestimmten Winkel zu den Rändern der Mate­ rialbahn im wesentlichen über deren gesamte Breite traversiert. In der letztgenannten Ausführung lassen sich verbessert auch Schichtdicken-Inhomogenitäten über die Breite der Materialbahn feststellen.

Während bei der Anordnung zur Durchführung des Verfahrens in der erstgenannten Variante die Remissions-Detektoreinrichtung relativ zur Führung für die Warenbahn stationär angeordnet ist, ist sie in der letztgenannten Ausführung auf einer quer zur Ma­ terialbahn verlaufenden Traverse beweglich angeordnet, und ihr ist ein Antrieb zur Bewegung an vorbestimmte Meßpositionen zu­ geordnet. In einer weiteren bevorzugten Ausführung der Anord­ nung umfaßt die Remissions-Detektoreinrichtung ein Detektor­ element, welches konzentrisch zur Einstrahlungsrichtung der Infrarot-Strahlungsquelle angeordnet ist.

In einer weiteren speziellen Ausführung umfaßt die Remissions- Detektoreinrichtung eine Mehrzahl von konzentrisch zur opti­ schen Achse der Strahlungsquelle bzw. Beleuchtungs-Optik ange­ ordneten Lichtwellenleitern, die auf den Schnittpunkt der opti­ schen Achse mit der Oberfläche des flächigen Gutes hin ausge­ richtet sind. Mit dieser Anordnung läßt sich gezielt und in sehr geringem Abstand zur Oberfläche des textilen Gutes (und damit weitgehend von der Umgebungsstrahlung unverfälscht) eine repräsentative Probe der remittierten Strahlung erfassen.

Das Detektorelement weist bevorzugt einen schnellen infrarot­ empfindlichen Halbleiter-Strahlungsdetektor bzw. - in einer be­ sonders zweckmäßigen Fortbildung - eine Zeilen- oder Matrixan­ ordnung aus einer Mehrzahl derartiger Strahlungsdetektoren auf. Der Einsatz schneller Halbleiterdetektoren begünstigt wesent­ lich die Echtzeiterfassung und -auswertung der Remission von schnell bewegtem flächigen Gut, und mit einer regulären Anord­ nung (einem sog. "Array") aus solchen Detektoren ist zweckmäßi­ gerweise eine Strahlungserfassung mit relativ geringem Aufwand für Fokussierungseinrichtungen möglich.

Zur Festlegung des konkreten Meß-Wellenlängenbereiches aus dem Gesamt-Wellenlängenbereich der Strahlungsquelle dienen bevor­ zugt relativ schmalbandige Filter, die der Strahlungsquelle und/oder der Strahlungsdetektoreinrichtung zugeordnet sind. Eine einfache Anpassung an unterschiedliche Anwendungen wird durch austauschbare Filter gewährleistet.

Bei der bevorzugten Ausführung der Anordnung, die die Auswer­ tung eines Referenz-Wellenlängenbereiches ermöglicht, ist be­ vorzugt jeweils ein zweites schmalbandiges Filter für einen zweiten Teilbereich des Wellenlängenspektrums vorgesehen. In einer bevorzugten Fortbildung dieser Ausführung sind das erste und zweite Filter mit einem Filterantrieb verbunden und werden derart angetrieben, daß sie periodisch abwechselnd in den Strah­ lengang von der Strahlungsquelle zum flächigen Gut eintreten, so daß abwechselnd im Meß- und Referenz-Wellenlängenbereich ge­ arbeitet wird. Speziell für den Spektralbereich zwischen 1.200 nm und 2.200 nm eignen sich InGaAs-Detektoren bzw. -arrays, die im Millisekunden-Bereich arbeiten. Bis zu einem gewissen Grade eignen sich auch Bleisulfid- bzw. Bleiselinid-Fotowiderstände als Strahlungsdetektoren.

Die wesentlichen Komponenten der Anordnung - ggf. mit Ausnahme der Auswertungseinrichtung und/oder dieser zugeordneter Ver­ stärkereinrichtungen - sind in vorteilhafter Weise in einem Meßkopf zusammengefaßt und dort vor Staub und Spritzwasser ge­ schützt. Dieser Meßkopf kann zudem eine Temperiereinrichtung aufweisen, falls ein Einsatz unter Umgebungstemperaturen ange­ strebt wird, die weit ab vom Temperaturbereich maximaler Em­ pfindlichkeit des Strahlungsdetektors bzw. der Strahlungsde­ tektoren liegen.

Vorteile und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben sich im übrigen aus den Unteransprüchen sowie der nachfolgenden Be­ schreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele anhand der Figuren. Von diesen zeigen:

Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Anordnung zur Schichtdickenmessung auf einem bewegten flächigen Gut gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung und

Fig. 2 eine schematische Darstellung einer modifizierten An­ ordnung gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung.

In Fig. 1 ist skizzenhaft (und unmaßstäblich) ein Meßkopf K zur Bestimmung der Schichtdicke eines organischen Veredelungsmit­ tels auf den Fasern eines durch eine Fördereinrichtung Fö ge­ förderten Textilgutes G gezeigt.

Der Meßkopf K umfaßt eine Lampe (Infrarotstrahler) L mit einer mehrlinsigen Fokussierungsoptik O, die eine breitbandige Strahlung im Bereich des nahen Infrarot NIR bis hinein in den Bereich des mittleren Infrarot MIR erzeugt. Die Infrarotstrah­ lung der Lampe L wird nach Passieren der Fokussierungsoptik O über einen unter 45° zur Ebene des Textilgutes G orientierten Planspiegel PS und durch eine Blende B in Form eines annähernd kreisförmigen Strahlungsflecks SF als Beleuchtungs-Strahlung auf das Textilgut G geworfen. Mit einem durch einen Motor M angetriebenen sog. Filterrad R wird dabei periodisch abwechselnd Strahlung in einem ersten Teilbereich des Lampenspektrums (Meß-Wellenlängenbereich) durch ein erstes Bandfilter (F1) oder Strahlung in einem zweiten Teilbereich (Referenz-Wellenlängenbereich) durch ein zweites Bandfilter (F2) durchgelassen, die auf dem Filterrad (R) befestigt sind.

Die aus dem Bereich des Strahlungsflecks SF durch das Textilgut G remittierte Strahlung des jeweiligen Teilbereichs gelangt - wiederum begrenzt durch die Blende B - zurück in den Meßkopf K, und zwar zu einem Hohlspiegel HS. Durch den Hohlspiegel HS wird die remittierte Infrarotstrahlung auf einen InGaAs- Infrarotdetektor (Empfänger) E mit sehr geringer Ansprechzeit konzentriert, der mit einem Meßverstärker V verbunden ist.

Der Ausgang des Meßverstärkers V, der bei der dargestellten Ausführung noch im Meßkopf K untergebracht ist, ist über eine entsprechende Zuleitung mit dem Eingang einer Intensitätser­ fassungsstufe I verbunden, in der eine Verarbeitung der ver­ stärkten Signale des Empfängers E zur weitestgehend verfäl­ schungsfreien Bestimmung der Intensität der remittierten Infra­ rotstrahlung bei der Meß-Wellenlänge vorgenommen wird. Diese Verarbeitung schließt eine Korrektur-Verarbeitung mit den bei der Referenz-Wellenlänge erhaltenen Intensitätswerten ein, die dank einer geeigneten Wahl des Referenz-Wellenlängenbereiches weitgehend unabhängig von der Schichtdicke des Veredelungsmit­ tels auf den Seiten des Textilgutes G ist. Durch diese Korrek­ tur-Verarbeitung werden Feuchte- und Glanzschwankungen des Tex­ tilgutes weitestgehend auskompensiert.

Die Intensitätserfassungsstufe I ist ausgangsseitig mit dem Eingang eines Schwellwertdiskriminators D verbunden, in dem eine Schwellwertdiskrimierung der erhaltenen Intensitätswerte unter Nutzung von vorgespeicherten Vergleichswerten erfolgt. Dem Schwellwertdiskriminator D ist eine Anzeigeeinheit A nach­ geschaltet, auf der - je nach konkreter Aufgabenstellung der Prozeßüberwachung - aufgrund einer entsprechenden Kalibration direkt ein Schichtdickenwert oder ein Hinweis- bzw. Alarmsignal bei Auftreten einer unzulässigen Änderung der Schichtdicke oder auch beides angezeigt wird.

In Fig. 1 ist eine Meßgeometrie dargestellt, bei der der Strah­ lungsdetektor E in der (verlängerten) optischen Achse der Be­ strahlungseinrichtung liegt. Eine solche Anordnung kann als Meßgeometrie 0°/0° bezeichnet werden. In Abwandlung hiervon kommt auch eine Meßgeometrie 45°/0° in Betracht, bei der die Beleuchtungs-Strahlung unter einem Winkel von 45° auf das Tex­ tilgut einfällt und die remittierte Strahlung in der Umgebung der Senkrechten zum Textilgut (hier bezeichnet als "0°") er­ folgt. Desweiteren ist eine Erfassung auch mit der Meßgeometrie 0°/45° möglich, bei der gegenüber dem letztgenannten Fall Strahlungseinfalls- und Beobachtungsrichtung vertauscht sind. Weitere standardisierte Meßgeometrien sind die Meßgeometrie d/8, bei der die Beleuchtungsstrahlung halbräumig diffus auf das Textilgut auftrifft und eine Beobachtung unter einem Winkel von 8° zur Normalen mit einem Konuswinkel von ±2° erfolgt, so­ wie die Meßgeometrie 8/d, bei der die Verhältnisse hinsichtlich Strahlungseinfall und Beobachtung wiederum vertauscht sind.

In Fig. 2 ist eine weitere Schichtdickenmeßanordnung gemäß der Meßgeometrie 0°/45° skizzenartig dargestellt, wobei die Blick­ richtung mit der Förderrichtung des Textilgutes G zusammen­ fällt. In einem im Querschnitt U-förmigen Ständer St, über den das Textilgut G läuft, ist eine Traverse T aufgespannt, die einen gegenüber dem Meßkopf K nach Fig. 1 modifizierten Meßkopf K' trägt. Mittels eines Traversiermotors MT ist der Meßkopf K längs der Traverse T über die Breite des Textilgutes G ver­ schiebbar. Hierdurch können Schichtdickenunterschiede einer Auflage auf den Fäden bzw. Fasern des Textilgutes G über die Breite der Bahn erfaßt werden.

Eine Strahlungsquelle L' ist hier konzentrisch von einer Mehrzahl von IR-Lichtleitern LL umgeben, deren zum Textilgut G hin weisende Enden auf den Schnittpunkt der optischen Achse OA der Beleuchtungsanordnung (die neben der Lampe L' eine Blende B' umfaßt) mit der Ebene des Textilgutes gerichtet. Der Strahlungsquelle und/oder den Lichtleitern normalerweise zugeordnete Filter sind in der Darstellung weggelassen. Die Lichtleiter LL führen die in ihre Eintrittspupille eintretende remittierte Strahlung jeweils einem Detektorelement eines Empfängerarrays EA zu, welches eine der Anzahl der Lichtleiter LL entsprechenden Anzahl von einzelnen Detektorelementen hat. Mittels des Empfängerarrays EA aus einzelnen Detektoren ist eine differenzierte Verarbeitung der in die verschiedenen Raumsektoren über dem Textilgut G remittierten Strahlung bedarfsweise möglich. Ebenso ist jedoch eine integrierende Verarbeitung möglich. Der Einsatz der Lichtleiter LL bietet die Möglichkeit, die remittierte Strahlung in sehr geringem Abstand von der Oberfläche des Textilgutes G zu erfassen (was aus der schematischen Darstellung in Fig. 2 nicht ohne weiteres hervorgeht). Hierdurch lassen sich störende Um­ gebungslichteinflüsse weitgehend ausschalten.

Die Ausführung der Erfindung ist nicht auf die oben beschrie­ benen Beispiels beschränkt, sondern ebenso in einer Vielzahl von Abwandlungen möglich, die im Rahmen fachgemäßen Handelns liegen.

Bezugszeichenliste

A Anzeigeeinheit
B, B' Blende
D Schwellwertdiskriminator
E InGaAs-Strahlungsdetektor (Empfänger)
EA Empfängerarray
F1 erstes Bandfilter
F2 zweites Bandfilter
Fö Fördereinrichtung
G Textilgut
HS Hohlspiegel
J Intensitätserfassungsstufe
K, K' Meßkopf
L Lampe (Infrarotstrahler)
LL Lichtleiter
M Motor
MT Traversiermotor
O Fokussierungsoptik
OA Optische Achse
PS Planspiegel
R Filterrad
SF Strahlungsfleck
St Ständer
T Traverse
V Meßverstärker

Claims (15)

1. Verfahren zur Erfassung der mittleren Schichtdicke oder von Schichtdickenänderungen einer im wesentlichen organischen Auflage auf einem bewegten flächigen Gut (G), insbesondere auf den Fasern oder Fäden eines textilen Gutes oder der Oberfläche eines metallischen Walzgutes, dadurch gekennzeichnet, daß

• - das flächige Gut in einem bezüglich einer Förderrichtung des flächigen Gutes feststehenden Erfassungsbereich (SF) mit einer Strahlung beleuchtet wird, die mindestens einen ersten vorbestimmten Teilbereich des Infrarot- Wellenlängenbereiches von 800 nm bis 4.000 nm umfaßt,
• - die emittierte oder die vom flächigen Gut remittierte Strahlung einer Bandfilterung (F1) für den ersten Teilbereich des Infrarot- Wellenlängenbereiches unterzogen und
• - die Remissionsintensität der remittierten Strahlung in dem ersten Teilbereich als Maß für die mittlere Schichtdicke oder Schichtdickenänderung erfaßt und in Echtzeit ausgewertet wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß im Schritt der Auswertung der Remissionsintensität zur Überwachung der Schichtdicke ein Vergleich mit mindestens einem vorbestimmten Vergleichs-Intensitätswert oder eine Schwellwertdiskriminierung ausgeführt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2 dadurch gekennzeichnet, daß das flächige Gut (G) im wesentlichen kontinuierlich beleuchtet und die remittierte Strahlung im wesentlichen kontinuierlich erfaßt und ausgewertet wird.

4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, daß das flächige Gut (G) mit einer Strahlung beleuchtet wird, die einen vorbestimmten zweiten Teilbereich (F2) des Infrarot-Wellenlängenbereiches von 800 nm bis 4.000 nm umfaßt und daß die Remissionsintensität in dem zweiten Teilbereich als Referenzwert in die Auswertung der Remissionsintensität im ersten Teilbereich einbezogen wird.

5. Verfahren nach Anspruch 4 dadurch gekennzeichnet, daß der erste Teilbereich (F1) bei einer Absorptionsbande und der zweite Teilbereich (F2) außerhalb von Absorptionsban­ den einer wesentlichen organischen Komponente der Auflage liegt.

6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, daß das flächige Gut (G) ein Gewebe mit einer Auflage aus einem organischen Lösungsmittel und/oder Textilveredelungsmittel ist.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5 dadurch gekennzeichnet, daß das flächige Gut eine Metallfolie oder ein Metallband mit einer Schutzlack- oder Kunststoffauflage ist.

8. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, daß der Erfassungsbereich (SF) senkrecht zur Förderrichtung des flächigen Gutes zwischen dessen Seitenkanten traversierend bewegt wird.

9. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorangehenden Ansprüche, mit

• - einer im Infrarot-Wellenlängenbereich zwischen 800 nm und 4.000 nm emittierenden Strahlungsquelle (L; L'),
• - einer der Strahlungsquelle zugeordneten Infrarot- Optik (O; B; B') zur Erzeugung eines Strahlungsflecks (SF) von vorbestimmter Gestalt auf dem bewegten Gut (G),
• - einer Remissions-Detektoreinrichtung (B; HS; E; LL; EA), welche die von dem flächigen Gut remittierte Strahlung erfaßt und
• - einer eingangsseitig mit der Remissions- Detektoreinrichtung verbundenen Intensitäts- Auswertungseinrichtung (J), die die Intensität innerhalb eines vorbestimmten ersten Teilbereiches (F1) des Infrarot-Wellenlängenbereiches erfaßt.

10. Anordnung nach Anspruch 9 dadurch gekennzeichnet, daß die Remissions-Detektoreinrichtung (LL, EA) auf einer senkrecht zur Förderrichtung des flächigen Gutes verlaufenden Traverse (T) beweglich angeordnet und ein Antrieb (MT) vorgesehen ist, über den die Remissions- Detektoreinrichtung auf der Traverse in vorbestimmte Meßpositionen bewegt wird.

11. Anordnung nach Anspruch 9 oder 10 dadurch gekennzeichnet, daß die Remissions-Detektoreinrichtung (B, HS, E) ein De­ tektorelement (E) aufweist, welches konzentrisch zur op­ tischen Achse der Strahlungsquelle (L) bzw. Optik (O, B) oder zur optischen Achse der remittierten Strahlung angeordnet ist.

12. Anordnung nach einem der Ansprüche 9 bis 11 dadurch gekennzeichnet, daß die Remissions-Detektoreinrichtung (LL, EA) eine Mehrzahl von konzentrisch zur optischen Achse der Strahlungsquelle bzw. Optik oder der remittierten Strahlung angeordneten Lichtwellenleitern (LL) aufweist, die auf den Schnittpunkt der optischen Achse mit der Oberfläche des flächigen Gutes (G) ausgerichtet sind.

13. Anordnung nach einem der Ansprüche 9 bis 12 dadurch gekennzeichnet, daß das Detektorelement (E; EA) mindestens einen schnellen in­ frarotempfindlichen Halbleiter-Strahlungsdetektor oder Fotowiderstand, insbesondere eine Zeilen- oder Matrixan­ ordnung aus einer Mehrzahl derartiger Strahlungsdetekto­ ren, aufweist.

14. Anordnung nach einem der Ansprüche 9 bis 13 dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsquelle (L, L') und/oder der Remissions- Detektoreinrichtung (B, HS, E; LL, EA) ein erstes schmalbandiges Filter (F1) zur Festlegung des ersten Teilbereiches des Infrarot-Wellenlängenbereiches zugeordnet ist.

15. Anordnung nach Anspruch 14 dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsquelle (L; L') und/oder der Remissions- Detektoreinrichtung (B, HS, E, LL, EA) ein zweites schmalbandiges Filter (F2) zur Festlegung eines zweiten Teilbereiches des Infrarot-Wellenlängenbereiches für eine Referenz-Intensitätsmessung zugeordnet ist, wobei das erste und zweite Filter (F1, F2) insbesondere mit einem Filterantrieb (M) verbunden und derart antreibbar sind, daß sie periodisch abwechselnd der Strahlungsquelle und/oder der Remissions-Detektoreinrichtung zugeordnet werden können.