DE19631972C2 - Verfahren zum Überwachen der Funktionsfähigkeit eines zur Digitalisierung von Analogsignalen ausgelegten Analog/-Digital Wandlers - Google Patents
Verfahren zum Überwachen der Funktionsfähigkeit eines zur Digitalisierung von Analogsignalen ausgelegten Analog/-Digital WandlersInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1, d. h. ein Verfahren zum
Überwachen der Funktionsfähigkeit eines zur Digitalisierung
von Analogsignalen ausgelegten Analog/Digital-Wandlers.
Verfahren dieser Art sind beispielsweise aus der DE 36 21 937 A1,
der US 5 063 383 und der EP 0 579 235 A2 bekannt. Den in
diesen Druckschriften beschriebenen Verfahren ist gemeinsam,
daß an den zu überwachenden Analog/Digital-Wandler (A/D-Wand
ler) in besonderen Testphasen bekannte analoge Testsignale
angelegt werden und daß die aus diesen Testsignalen durch den
zu überwachenden A/D-Wandler generierten Digitalwerte mittels
eines Vergleichs mit den bekannten Sollwerten auf deren Rich
tigkeit überprüft werden.
Während derartiger Überprüfungen (Testphasen) von
A/D-Wandlern sind diese für "normale A/D-Wandlungen nicht oder
allenfalls eingeschränkt einsetzbar. Insbesondere aus diesem
Grund kann die Überprüfung auch nicht kontinuierlich, sondern
nur in relativ großen zeitlichen Abständen erfolgen.
Eine Möglichkeit zur Behebung dieses Problems bestünde darin,
daß parallel zum zu überwachenden A/D-Wandler ein mehr oder
weniger identischer zweiter A/D-Wandler vorgesehen wird, und
daß die von den A/D-Wandlern generierten Digitalwerte auf de
ren Übereinstimmung überprüft werden. Die praktische Reali
sierung eines derartigen Überwachungsverfahrens erfordert je
doch insbesondere wegen des Vorsehens zweier A/D-Wandler
einen relativ großen technischen Aufwand und ist dement
sprechend teuer.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
das Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1
derart weiterzubilden, daß dadurch auf einfache Art und Weise
eine kontinuierliche Überwachung des zu überwachenden
A/D-Wandlers während dessen "normalen" Betriebes ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnen
den Teil des Patentanspruchs 1 beanspruchten Merkmale gelöst.
Demnach ist vorgesehen, daß außerhalb des Analog/Digital-Wandlers,
basierend auf einem durch den Analog/Digital-Wandler
zu digitalisierenden Analogsignal, eine Folge von digitalen
Impulsen generiert wird, von welchen zumindest die Breite
oder die Folgefrequenz analogsignalabhängig sind, und daß
überprüft wird, ob diese Impulsfolge und der auf der Basis
desselben Analogsignals durch den Analog/Digital-Wandler
generierte Digitalwert einander entsprechen.
Ein zu digitalisierendes Analogsignal wird also einerseits
durch den zu überwachenden A/D-Wandler digitalisiert und
andererseits einer (davon verschiedenen) Signalverarbeitung
mit analogsignalabhängigem Ergebnis unterworfen, wobei diese
Signalverarbeitung in einer separaten, vom zu überwachenden
A/D-Wandler unabhängigen Signalverarbeitungsschaltung
erfolgt, welche - verglichen mit einem A/D-Wandler - erkenn
bar relativ einfach aufgebaut sein kann.
Aus dem ausgewählten Analogsignal werden demnach unabhängig
voneinander zwei das Analogsignal auf verschiedene Weise
repräsentierende Digitalsignale gebildet, die einander bei
ordnungsgemäßer Funktion des A/D-Wandlers und der besagten
Signalverarbeitungsschaltung insoweit entsprechen, als sie
auf identische Analogsignale rückführbar sind.
Die Tatsache, daß die Überwachung der Funktionsfähigkeit des
A/D-Wandlers letztlich durch eine Gegenüberstellung zweier
unabhängig voneinander aktuell erzeugter Signale erfolgt,
ermöglicht es, auf das Einschleusen vorbestimmter Testsignale
zu verzichten; das ausgewählte Analogsignal kann vielmehr ein
beliebiges der im "normalen" Betrieb des A/D-Wandlers zu wan
delnden Analogsignale sein.
Die Überwachung der Funktionsfähigkeit des A/D-Wandlers kann
dadurch kontinuierlich und gänzlich ohne einen wie auch immer
gearteten Eingriff in den "normalen" Wandlungsprozeß erfol
gen.
Es wurde mithin ein Verfahren gefunden, durch welches auf
äußerst einfache Art und Weise eine kontinuierliche Über
wachung des zu überwachenden A/D-Wandlers während dessen
"normalen" Betriebes ermöglicht wird.
Die Überwachung nach dem erfindungsgemäßen Verfahren zeichnet
sich ferner durch eine bislang einzigartige Fehlererkennungs
möglichkeit aus. Die Tatsache, daß aus dem ausgewählten
Analogsignal unabhängig voneinander zwei das Analogsignal auf
verschiedene Weise repräsentierende Digitalsignale gebildet
werden, ermöglicht nämlich neben der Erkennung von Störungen
im A/D-Wandler auch die Erfassung von Fehlern in der Kon
struktion des A/D-Wandlers.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispie
len unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert. Es
zeigen
Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel einer zur Durchführung
des erfindungsgemäßen Verfahrens geeigneten Schaltungsanord
nung,
Fig. 2 zeitliche Signalverläufe zur Erläuterung der Funktion
der in der Fig. 1 gezeigten Schaltungsanordnung,
Fig. 3 eine Konstantstromquelle zur zeitlich konstanten Ent
ladung eines Kondensators,
Fig. 4 ein zweites Ausführungsbeispiel einer zur Durchfüh
rung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeigneten Schaltungs
anordnung, und
Fig. 5 ein drittes Ausführungsbeispiel einer zur Durchfüh
rung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeigneten Schaltungs
anordnung.
Die zu überwachenden A/D-Wandler sind in den nachfolgend be
schriebenen Ausführungsbeispielen jeweils in einer Zentral
einheit (Mikroprozessor, Mikrocontroller, Signalprozessor
etc.) integriert, welche den Hauptrechner eines Kraftfahr
zeugsteuergerätes bilden möge.
Die jeweiligen Zentraleinheiten weisen jeweils eine Vielzahl
von (in den Figuren nur teilweise dargestellten) Analog
signalanschlüssen ADx auf, an welche eine Vielzahl von durch
den A/D-Wandler zu digitalisierenden Analogsignalen anlegbar
ist.
Bei den zu digitalisierenden Analogsignalen möge es sich um
Ausgangssignale von Sensoren handeln, beispielsweise um das
Ausgangssignal des Sollwertpotentiometers eines Pedalwert
gebers in einem Kraftfahrzeug.
Allerdings besteht hierauf keine Einschränkung. Der zu über
wachende A/D-Wandler muß weder in einer Zentraleinheit inte
griert sein, noch muß die den zu überwachenden A/D-Wandler
enthaltende Zentraleinheit mehrere Analogsignalanschlüsse
aufweisen. Der A/D-Wandler muß auch nicht zur KFZ-Steuerung
dienen. Dementsprechend kann es sich bei den zu digitali
sierenden Analogsignale um beliebige Analogsignale beliebiger
Herkunft handeln.
Die den zu überwachenden A/D-Wandler enthaltende Zentralein
heit ist in der Fig. 1 mit dem Bezugszeichen ZE bezeichnet.
Das durch den selbst nicht gezeigten A/D-Wandler zu digitali
sierende Analogsignal wird über einen Analogsignalanschluß
AD1 der Zentraleinheit in diese eingegeben.
Das zu digitalisierende Analogsignal wird der in der Fig. 1
gezeigten Schaltungsanordnung über eine Eingangsklemme E
zugeführt. Es durchläuft zunächst ein aus Widerständen R1 und
R2 sowie einem Kondensator C1 bestehendes Eingangsnetzwerk
und gelangt dann zu einem Verzweigungspunkt V. Von diesem
Verzweigungspunkt V aus gelangt das im folgenden als UA
bezeichnete Analogsignal einerseits zu dem bereits erwähnten
Analogsignalanschluß AD1 der Zentraleinheit ZE und anderer
seits in eine durch einen gepunkteten Rahmen gekennzeichnete
Signalverarbeitungsschaltung SV.
Das an den an den Analogsignaleingang AD1 der Zentraleinheit
ZE gelangende Analogsignal UA wird durch den in der Zentral
einheit integrierten, in der Figur nicht gezeigten A/D-Wand
ler digitalisiert.
Gleichzeitig wird es, wie nachfolgend im einzelnen beschrie
ben wird, in der vom A/D-Wandler getrennt vorgesehenen
Signalverarbeitungsschaltung SV zu einer analogsignalabhängi
gen digitalen Impulsfolge verarbeitet, welche in einen für
die Eingabe von Digitalsignalen ausgelegten Eingangsanschluß
(Port) P2 der Zentraleinheit ZE eingegeben wird.
Die digitale Impulsfolge ist so beschaffen, daß sie das
Analogsignal UA, basierend auf welchem sie generiert wurde,
eindeutig repräsentiert und mithin geeignet ist, dem durch
den A/D-Wandler generierten Digitalwert zu Vergleichszwecken
gegenübergestellt zu werden. Bei dieser Gegenüberstellung
wird (innerhalb der Zentraleinheit ZE) überprüft, ob die
einander gegenübergestellten, das Analogsignal auf verschie
dene Weise repräsentierenden Signale (Digitalwert bzw.
Impulsfolge) einander entsprechen, d. h. auf das selbe Analog
signal zurückgehen.
Wird bei dem Vergleich festgestellt, daß die einander gegen
übergestellten Signale einander entsprechen, so kann davon
ausgegangen werden, daß sowohl der A/D-Wandler als auch die
Signalverarbeitungsschaltung fehlerfrei arbeiten.
Stellt sich bei dem Vergleich hingegen heraus, daß die
Signale einander nicht entsprechen, so liegt im A/D-Wandler
und/oder in der Signalverarbeitungsschaltung SV ein Fehler
vor, auf den es (beispielsweise durch Abschalten des Gerätes
oder Ausführen einer speziell für solche Fälle vorgesehenen
Störfall-Steuerung) entsprechend zu reagieren gilt.
Es werden nun die Funktion der Signalverarbeitungsschaltung
SV und die durch diese generierte Impulsfolge beschrieben.
Das in die Signalverarbeitungsschaltung SV eingegebene
Analogsignal UA wird - wenn und so lange eine Diode D1 nicht
sperrt - über einen als Spannungsfolger dienenden Operations
verstärker OP1, einen Widerstand R3 und die Diode D1 auf
einen Haltefunktion ausübenden Kondensator CH1 gegeben, wel
cher dadurch auf eine der Analogspannung entsprechende
Spannung UCH aufgeladen wird.
Wird die Diode D1 auf eine später noch genauer beschriebene
Weise in den Sperrzustand versetzt, so ist der Kondensator
CH1 von der Analogspannungsquelle abgekoppelt und entlädt
sich mehr oder weniger schnell über einen dazu parallel ge
schalteten Widerstand RH1. Die am Kondensator CH1 anliegende
Spannung beginnt dadurch zu sinken.
Der Kondensator CH1 ist mit einem ersten Eingangsanschluß
eines Komparators KOMP1 verbunden. Der zweite Eingangs
anschluß des Komparators KOMP1 ist mit einer Schwellen
spannung UT beaufschlagt, welche von einem aus Widerständen
R4 und R5 gebildeten Spannungsteiler abgegriffen wird.
Der Komparator KOMP1 vergleicht die an ihm anliegenden
Spannungen, d. h. die (veränderliche) Kondensatorspannung UCH
und die (zeitlich konstante) Schwellenspannung UT.
Das Ausgangssignal des Komparators KOMP1, welches zugleich
das Ausgangssignal der Signalverarbeitungsschaltung SV ist,
hat hohen Pegel, wenn und so lange die Kondensatorspannung
UCH größer ist als die Schwellenspannung UT; hierfür sorgt
ein zwischen den Ausgang des Komparators KOMP1 und eine Ver
sorgungsspannung VCC geschalteter Komparatorwiderstand RK1.
Fällt die Kondensatorspannung UCH - beispielsweise bedingt
durch die nach dem Sperren der Diode D1 einsetzende Entladung
des Kondensators CH1 über den Widerstand RH1 - unter die
Schwellenspannung UT, so schaltet der Komparator um, und
dessen Ausgangssignal wechselt vom hohen Pegel auf den nied
rigen Pegel.
Je höher die Spannung UCH am Kondensator CH1 zum Zeitpunkt
des Sperrens der Diode D1 war, desto länger dauert es, bis
diese als Folge der Entladung auf einen Wert absinkt, der
kleiner ist als die Schwellenspannung UT. Dieser, sich auch
im Ausgangssignal der Signalverarbeitungsschaltung nieder
schlagende Effekt ermöglicht, wie später noch ausführlicher
beschrieben werden wird, die Verwendung des Ausgangssignals
der Signalverarbeitungsschaltung SV zur A/D-Wandler-Über
wachung.
Das Umschalten der Diode D1 vom Durchlaßzustand in den Sperr
zustand und umgekehrt wird durch ein über einen Ausgangs
signalanschluß P1 der Zentraleinheit ZE ausgegebenes Steuer
signal veranlaßt.
Dieses Steuersignal wird an die Basis eines mit Widerständen
R6 und R7 beschalteten Transistors T1 angelegt, dessen Emit
ter mit Masse verbunden ist und dessen Kollektor mit der Ver
bindung zwischen dem Widerstand R3 und der Diode D1 verbunden
ist. So lange das Steuersignal auf niedrigem Pegel liegt,
sperrt der Transistor T1, und die Diode D1 ist und bleibt im
Durchlaßzustand. Wechselt das Steuersignal auf den hohen
Pegel, schaltet der Transistor T1 durch und zieht die Verbin
dung zwischen dem Widerstand R3 und der Diode D1 auf Masse
potential, was wiederum ein Umschalten der Diode D1 in den
Sperrzustand zur Folge hat.
Bemerkenswert ist hier, daß das Sperren der Diode D1, also
die Trennung des Kondensators CH1 von der Analogspannung auf
eine Art und Weise erfolgt, die die zur A/D-Wandlung über den
Analogsignalanschluß AD1 in die Zentraleinheit ZE eingegebene
Analogspannung UA (hier aufgrund des zwischengeschalteten
Spannungsfolgers OP1) völlig unbeeinflußt läßt und die Digi
talisierung dieses Signals durch den A/D-Wandler mithin nicht
im geringsten beeinflußt bzw. stört.
Mit dem Umschalten der Diode D1 in den Sperrzustand beginnt
die Entladung des Kondensators CH1, welche, wie vorstehend
bereits erläutert wurde, schließlich zu einem Umschalten des
Ausgangssignals der Komparators vom hohen Pegel auf den nied
rigen Pegel führt.
Die Zeit, die vom Umschalten der Diode D1 in den Sperrzustand
bis zum Umschalten des Ausgangssignals der Komparators vom
hohen Pegel auf den niedrigen Pegel vergeht, ist erkennbar
ein Maß für die anfängliche Differenz zwischen der Analog
spannung und der Schwellenspannung; im Idealfall liegt sogar
eine direkte Proportionalität zwischen der besagten Zeit und
der besagten Spannungsdifferenz vor. Bei Kenntnis der besag
ten Zeit und der Größe der Schwellenspannung kann die Größe
der zugrundeliegenden Analogspannung ermittelt werden. Dies
wiederum ermöglicht es, den durch den zu überwachenden
A/D-Wandler auf der Basis des selben Analogsignals generierten
Digitalwert auf Richtigkeit (Entsprechung) zu überprüfen.
Die besagte Zeit läßt sich in der Zentraleinheit ZE bei
Kenntnis des Zeitpunktes des Umschaltens der Diode D1 in den
Sperrzustand und bei Kenntnis des Zeitpunktes des Umschaltens
des Ausgangssignals des Komparators vom hohen Pegel auf den
niedrigen Pegel leicht ermitteln. Der Zeitpunkt des Umschal
tens der Diode D1 in den Sperrzustand ist der Zentraleinheit
ZE bekannt, da diese selbst das die Umschaltung veranlassende
Steuersignal über den Port P1 ausgibt. Der Zeitpunkt des Um
schaltens des Ausgangssignals des Komparators vom hohen Pegel
auf den niedrigen Pegel kann von der Zentraleinheit durch
eine Überwachung des Pegels dieses (in den Port P2 der Zen
traleinheit ZE eingegebenen) Signals ermittelt werden.
Die Schwellenspannung UT ist durch den aus den Widerständen
R4 und R5 bestehenden Spannungsteiler fest eingestellt und
möge der Zentraleinheit bekannt sein.
Die Zentraleinheit ZE ist aufgrund der ihr bekannten Daten
und durch die Auswertung des ihr von der Signalverarbeitungs
schaltung übergebenen analogsignalabhängigen Ausgangssignals
derselben in der Lage, den integrierten A/D-Wandler während
dessen "normalen" Betriebs quasi in Echtzeit hinsichtlich
dessen Funktionsfähigkeit zu überwachen.
Zur Erläuterung weiterer Einzelheiten wird nachfolgend unter
Bezugnahme auf Fig. 2 der genaue zeitliche Ablauf der in der
Signalverarbeitungsschaltung SV stattfindenden Vorgänge
detailliert beschrieben.
Zunächst werden nur das aus dem Port P1 der Zentraleinheit ZE
ausgegebene, hier ebenfalls mit P1 bezeichnete Steuersignal, die
über dem Kondensator CH1 anliegende Kondensatorspannung UCH und
die in den Port P2 der Zentraleinheit ZE eingegebene und hier
ebenfalls mit P2 bezeichnete Ausgangsspannung UK des Komparators
KOMP1 betrachtet. Der mit P2' bezeichnete Signalverlauf betrifft
eine Abwandlung der in der Fig. 1 gezeigten Signalverarbei
tungsschaltung SV und wird später beschrieben.
Vor einem in Fig. 2 mit T0 bezeichneten Zeitpunkt befindet
sich das über den Port P1 der Zentraleinheit ZE ausgegebene
Steuersignal (Signal P1) auf niedrigem Pegel. Die Diode D1
ist demzufolge im Durchlaßzustand und die am Kondensator CH1
anliegende Kondensatorspannung UCH folgt und entspricht im
wesentlichen der in die Signalverarbeitungsschaltung SV ein
gegebenen Analogspannung UA, welche während des in der Figur
dargestellten Zeitraumes konstant und relativ hoch sein möge.
Die Ausgangsspannung UK (Signal P2) des Komparators KOMP1 be
findet sich, da die Kondensatorspannung UCH größer als die
Schwellenspannung UT ist, auf hohem Pegel.
Zum Zeitpunkt T0 wechselt das über den Port P1 der Zentral
einheit ZE ausgegebene Steuersignal (Signal P1) vom niedrigen
Pegel auf den hohen Pegel. Dadurch wird die Diode D1 vom
Durchlaßzustand in den Sperrzustand geschaltet, was wiederum
ein Trennen des im wesentlichen auf die Analogspannung aufge
ladenen Kondensators CH1 von der Analogspannung bewirkt.
Der Kondensator CH1 beginnt sich deshalb über den Widerstand
RH1 zu entladen, was einen Abfall der auch in den Komparator
KOMP1 anliegenden Kondensatorspannung UCH zur Folge hat. So
lange die Kondensatorspannung UCH noch größer ist als die
Schwellenspannung UT, bleibt die in den Port P2 der Zentral
einheit ZE eingegebene Ausgangsspannung UK (Signal P2) des
Komparators KOMP1 auf hohem Pegel.
Zum Zeitpunkt T1 unterschreitet die Kondensatorspannung UCH
die Schwellenspannung UT. Dies hat zur Folge, daß das Aus
gangssignal UK (Signal P2) des Komparators KOMP1 vom hohen
Pegel auf den niedrigen Pegel wechselt.
Zum Zeitpunkt T2 fällt das über den Port P1 der Zentral
einheit ZE ausgegebene Steuersignal (Signal P1) wieder auf
den niedrigen Pegel zurück. Dies hat zur Folge, daß die Diode
D1 vom Sperrzustand in den Durchlaßzustand geschaltet wird,
wodurch auf den Kondensator CH1 und den Komparator KOMP1 wie
der die Analogspannung durchgeschaltet wird. Dies wiederum
bewirkt daß die Ausgangsspannung UK (Signal P2) des Kompara
tors KOMP1 vom niedrigen auf den hohen Pegel ansteigt und der
Kondensator CH1 auf eine der Analogspannung entsprechende
Spannung aufgeladen wird.
Damit ist wieder der vor dem Zeitpunkt T0 herrschende Zustand
erreicht, und es kann (durch den erneuten Wechsel des aus dem
Port P1 der Zentraleinheit ZE ausgegebenen Steuersignals auf
den hohen Pegel) der nächste Vergleichszyklus gestartet wer
den. Bei wiederholtem Durchführen solcher Vergleichszyklen
wird durch die Signalverarbeitungsschaltung eine Folge von
Impulsen generiert, deren Breite analogsignalabhängig ist und
die eine kontinuierliche Überwachung der Funktionsfähigkeit
der A/D-Wandlers ermöglichen, ohne dessen "normalen" Betrieb
durch Einschleusen von definierten Testsignalen oder derglei
chen unterbrechen zu müssen.
Die in der Fig. 1 gezeigte Signalverarbeitungsschaltung SV
kann dahingehend abgewandelt werden, daß der Komparatorwider
stand RK1 nicht wie in der Fig. 1 gezeigt mit der Versor
gungsspannung VCC beaufschlagt, sondern mit dem Port P1 der
Zentraleinheit ZE verbunden ist.
Dies hat zur Folge, daß das Ausgangssignal UK der Komparators
KOMP1 während Zeiten, zu denen die Kondensatorspannung UCH
größer ist als die Schwellenspannung UT, den jeweiligen Pegel
des aus dem Port P1 der Zentraleinheit ZE ausgegebenen
Steuersignals annimmt. Im Ergebnis erhält man damit an Port
P2 der Zentraleinheit ZE einen Spannungsverlauf wie er in der
Fig. 2 bei P2' dargestellt ist.
Im Unterschied zu der in der Fig. 1 gezeigten Ausführung der
Signalverarbeitungsschaltung wird damit an Port P2 ein
Spannungsverlauf erhalten, welcher die Ermittlung der zur
Analogsignalrekonstruierung benötigten Zeit (Zeit zwischen T0
und T1) unter alleiniger Berücksichtigung dieses Signals,
d. h. ohne zusätzliche Berücksichtigung des zeitlichen Ver
laufs des aus dem Port P1 ausgegebenen Steuersignals erlaubt;
die gesuchte Zeit entspricht hier nämlich genau der Dauer der
Hochpegelphase des in den Port P2 eingegebenen Signals.
Eine derart abgewandelte Ausführung der Signalverarbeitungs
schaltung ist insbesondere dann vorteilhaft, wenn die Zen
traleinheit ZE wie beispielsweise die 80C166/167 über einen
sogenannten Gated-Timer-Mode verfügt.
Eine unabhängig von der soeben beschriebenen ersten Abwand
lung der in der Fig. 1 gezeigten Signalverarbeitungsschal
tung SV vorsehbare zweite Abwandlung derselben besteht darin,
daß der Widerstand RH1, über den sich der Kondensator CH1
entlädt, durch eine Konstantstromquelle ersetzt wird.
Eine mögliche Ausführungsform einer geeigneten Konstantstrom
quelle ist in Fig. 3 dargestellt.
Die in der Fig. 3 gezeigte Konstantstromquelle besteht aus
Widerständen R11, R12, R13 und R14 (beispielsweise mit Werten
von 26, 1 kΩ, 1 kΩ, 1 kΩ und 1 kΩ), einem Operationsverstär
ker OP11 (beispielsweise LM2904) und einem Transistor T11
(beispielsweise BCW60), die wie in der Fig. 3 gezeigt ver
schaltet sind.
Diese, aber selbstverständlich auch jede anders aufgebaute
und anders dimensionierte Konstantstromquelle kann den Kon
densator CH1 mit einem konstanten Strom entladen. Der in der
Fig. 2 gezeigte Verlauf der Kondensatorspannung UCH beim
Entladen der Kondensators CH1 kann auf diese Weise bei Bedarf
linearisiert, d. h. einer Gerade angenähert werden. Dies wie
derum hat den positiven Effekt, daß ein linearer Zusammenhang
zwischen Analogspannungs-Schwellenspannungs-Differenz und der
Zeitspanne zwischen T0 und T1 hergestellt wird.
Ein zweites Ausführungsbeispiel einer zur Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens geeigneten Schaltungsanordnung
ist in Fig. 4 dargestellt.
Im Gegensatz zur Darstellung in der Fig. 1 beschränkt sich
die Darstellung in der Fig. 4 im wesentlichen auf die
Signalverarbeitungsschaltung SV. Wenngleich dies in der Fig.
4 nicht gezeigt ist, wird aber auch hier das zu digitalisie
rende Analogsignal UA einerseits direkt in die Zentraleinheit
ZE bzw. den darin integrierten A/D-Wandler und andererseits
in die Signalverarbeitungsschaltung SV eingegeben.
Die in die Signalverarbeitungsschaltung eingegebene Analog
spannung UA wird bei der in der Fig. 4 gezeigten Schaltungs
anordnung direkt in einen Komparator KOMP2 eingegeben. In den
anderen Eingangsanschluß des Komparators wird wiederum eine
Schwellenspannung eingegeben, welche hier jedoch im Gegensatz
zum ersten Ausführungsbeispiel und wie später noch genauer
beschrieben werden wird, in Abhängigkeit von der Zeit
variiert.
Die Ausgangsspannung des Komparators KOMP2 wird wie beim
ersten Ausführungsbeispiel als Eingangssignal in einem Port
P2 der Zentraleinheit ZE eingegeben. Ein Komparatorwiderstand
RK2 ist (wie bei der ersten Abwandlung des ersten Ausfüh
rungsbeispiels) zwischen dem Port P1 und dem Port P2 der
Zentraleinheit vorgesehen und sorgt so dafür, daß das Aus
gangssignal des Komparators KOMP2 während Zeiten, zu denen
die variable Schwellenspannung größer ist als die Analog
spannung, den Pegel des aus dem Port P1 der Zentraleinheit
ausgegebenen Steuersignals annimmt. Der Komparatorwiderstand
RK2 könnte statt dessen aber auch wie der Komparatorwider
stand RK1 in Fig. 1 mit der Versorgungsspannung VCC verbun
den werden.
Durch das aus dem Port P1 ausgegebene Steuersignal wird im
vorliegenden Ausführungsbeispiel bestimmt, ob der Kondensator
CH2 mit der Versorgungsspannung VCC verbunden oder von dieser
getrennt ist.
Wenn und so lange das aus dem Port P1 ausgegebene Steuer
signal einen niedrigen Pegel aufweist, ist der Kondensator
CH2 durch den dann leitenden Transistor T21, der wie gezeigt
mit Widerständen R21 und R22 verschaltet ist, mit der Versor
gungsspannung VCC verbunden und wird über einen Widerstand
R23 auf eine der Versorgungsspannung VCC entsprechende
Spannung aufgeladen. Die Versorgungsspannung ist dabei zu
mindest gleich groß wie, vorzugsweise aber größer als die
maximal auftretende Analogspannung.
Der Vergleichszyklus beginnt wie schon beim ersten Ausfüh
rungsbeispiel mit dem Wechsel des aus dem Port P1 ausgegebe
nen Steuersignals vom niedrigen Pegel auf den hohen Pegel.
Dies bewirkt ein Sperren des Transistors T21 und damit ein
Trennen des Kondensators CH2 von der Versorgungsspannung VCC.
Gleichzeitig beginnt sich der Kondensator über den parallel
dazu vorgesehenen Widerstand RH2 zu entladen.
Die Kondensatorspannung ist, wie aus der Fig. 4 ersichtlich
ist, zugleich die in den Komparator KOMP2 eingegebene Schwel
lenspannung.
So lange in dieser Phase, d. h. während der Hochpegelphase des
aus dem Port P1 der Zentraleinheit ZE ausgegebenen Steuer
signals die Schwellenspannung größer ist als die Analog
spannung, liegt das Ausgangssignal des Komparators auf hohem
Pegel (dem Pegel des Steuersignals, mit dem es über den
Widerstand RK2 verbunden ist). Unterschreitet die Schwellen
spannung infolge der fortschreitenden Entladung des Kondensa
tors CH2 die Analogspannung, fällt das Ausgangssignal des
Komparators auf den niedrigen Pegel ab.
Eine vorbestimmte Zeit, nachdem das aus dem Port P1 der Zen
traleinheit ZE ausgegebene Steuersignal auf den hohen Pegel
anstieg, fällt es wieder auf den niedrigen Pegel zurück, wo
durch der Kondensator CH2 wieder auf die Versorgungsspannung
VCC aufgeladen wird. Der betrachtete Vergleichszyklus ist da
mit beendet.
Je höher die Analogspannung ist, desto kürzer ist die Zeit,
die vergeht, bis diese von der infolge Entladung des Konden
sators CH2 sinkenden Schwellenspannung unterschritten wird.
Im Ergebnis wird am Port P2 der Zentraleinheit ZE ein Span
nungsverlauf erhalten wie er bei P2' in Fig. 2 dargestellt
ist. Die Hochpegelphase dieses Signals entspricht im vorlie
genden Ausführungsbeispiel jedoch der Zeit, während welcher
die allmählich absinkende Schwellenspannung größer ist als
die Analogspannung.
Die besagte Zeit ist wie schon beim ersten Ausführungsbei
spiel ein Maß für die anfängliche Differenz zwischen der
Analogspannung und der Schwellenspannung. Dementsprechend
kann auch hier bei Kenntnis der besagten Zeit und der
(anfänglichen) Größe der Schwellenspannung, also der Größe
der Versorgungsspannung VCC die Größe der zugrundeliegenden
Analogspannung ermittelt werden. Dies wiederum ermöglicht es,
den durch den zu überwachenden A/D-Wandler auf der Basis des
selben Analogsignals generierten Digitalwert auf Richtigkeit
(Entsprechung) zu überprüfen. Bezüglich weiterer Einzelheiten
wird auf die entsprechenden Ausführungen zum zuvor beschrie
benen ersten Ausführungsbeispiel verwiesen.
Wie schon beim ersten Ausführungsbeispiel wird auch bei dem
soeben beschriebenen zweiten Ausführungsbeispiel bei wieder
holtem Durchführen der beschriebenen Vergleichszyklen durch
die Signalverarbeitungsschaltung eine Folge von Impulsen ge
neriert, deren Breite analogsignalabhängig ist und die eine
kontinuierliche Überwachung der Funktionsfähigkeit der
A/D-Wandlers ermöglichen, ohne dessen "normalen" Betrieb durch
Einschleusen von definierten Testsignalen oder dergleichen
unterbrechen zu müssen.
Um eine bessere Linearität zwischen der anfänglichen Analog
spannungs-Schwellenspannungs-Differenz und der Dauer der
Hochpegelphase des in Port P2 eingegebenen Spannungsverlaufs
zu erhalten, kann wie schon beim ersten Ausführungsbeispiel
auch hier in Betracht gezogen werden, den Widerstand RH2,
über welchen sich der Kondensator CH2 entlädt, durch eine
Konstantstromquelle zu ersetzen, welche den Stromfluß bei der
Kondensatorentladung konstant hält und damit für eine gleich
mäßig schnelle Entladung des Kondensators sorgt. Hierfür
kommt beispielsweise die in der Fig. 3 gezeigte und vor
stehend bereits beschriebene Konstantstromquelle in Frage.
Das unter Bezugnahme auf die Fig. 4 beschriebene zweite Aus
führungsbeispiel weist gegenüber dem ersten Ausführungsbei
spiel insbesondere die Vorteile auf, daß
- 1) die zur Überwachung der Funktionsfähigkeit des A/D-Wand lers heranziehbaren Analogspannungen keinen Beschränkungen hinsichtlich ihrer Größe unterworfen sind, und
- 2) der erforderliche Bauelemente-Aufwand auf ein Minimum re duziert ist.
Es wird nun unter Bezugnahme auf Fig. 5 ein drittes Ausfüh
rungsbeispiel einer zur Durchführung des erfindungsgemäßen
Verfahrens geeigneten Schaltungsanordnung beschrieben.
Wie die Darstellung in der Fig. 4 beschränkt sich auch die
Darstellung in der Fig. 5 im wesentlichen auf die Signal
verarbeitungsschaltung SV. Wenngleich dies in der Fig. 5
nicht gezeigt ist, wird auch hier das zu digitalisierende
Analogsignal UA einerseits direkt in die Zentraleinheit ZE
bzw. den darin integrierten A/D-Wandler und andererseits in
die Signalverarbeitungsschaltung SV eingegeben.
In der Signalverarbeitungsschaltung SV gelangt das in diese
eingegebene Analogsignal über einen durch einen entsprechend
verschalteten Operationsverstärker OP31 gebildeten Spannungs
folger an einen spannungsgesteuerten Frequenzoszillator VCO.
Der Frequenzoszillator generiert eine als Eingangssignal in
den Port P2 der Zentraleinheit eingegebene Impulsfolge, deren
Frequenz von der Größe der daran angelegten Spannung, d. h.
der Analogspannung abhängt.
Der Frequenzoszillator VCO besteht im vorliegenden Ausfüh
rungsbeispiel aus Widerständen R31 bis R36, einem Kondensator
C31 und einem Operationsverstärker OP32, die wie in der Fig.
5 gezeigt verschaltet sind.
Die in der Fig. 5 gezeigte Signalverarbeitungsschaltung SV
weist den Vorteil auf, daß nur ein Port, d. h. hier der Port
P2 der Zentraleinheit ZE benötigt wird. Der Port P1 und des
sen in der Fig. 5 dargestellte Beschaltung (Widerstände R37
bis R39, Transistor T31 und Diode D31) werden nicht unbedingt
benötigt bzw. können weggelassen werden.
Daß sie gemäß der Darstellung in der Fig. 5 doch verwendet
bzw. vorgesehen sind, dient der Erläuterung einer vorteilhaf
ten Weiterbildung, deren Vorsehen jedoch keine Voraussetzung
für die ordnungsgemäße Funktion der gezeigten Schaltungs
anordnung darstellt. Auf die gezeigte Art und Weise läßt sich
nämlich eine Normierung des Oszillators VCO, genauer gesagt
eine Eliminierung der Toleranz der Kondensators C31 bewerk
stelligen.
Wird nämlich über den Port P1 ein Signal mit hohem Pegel aus
gegeben, so bewirkt dies ein Durchschalten des Transistors
T31, wodurch seinerseits wiederum die Diode D31 in den Sperr
zustand versetzt wird. Ermittelt man in diesem Stadium, in
welchem der Oszillator VCO infolge der sperrenden Diode D31
durch eine Spannung von ungefähr 0V angesteuert wird, die vom
Oszillator generierte und ausgegebene Frequenz und normiert
basierend darauf die in der Zentraleinheit ZE erfolgende Fre
quenz-Analogspannungs-Zuordnung, so gestattet dies die Elimi
nierung von gegebenenfalls vorhandenen Bauelemente-Toleran
zen, und zwar nicht nur herstellungsbedingter, sondern auch
durch Alterung und Umgebungseinflüsse verursachter Toleran
zen.
Die Auswertung des in den Port P2 eingegebenen Spannungsver
laufs kann entweder unter Ermittlung der Frequenz oder - wenn
das Tastverhältnis konstant ist - wie beim ersten und bei
zweiten Ausführungsbeispiel unter Auswertung der Dauer der
jeweiligen Hochpegel- und/oder Niedrigpegelphasen erfolgen.
Unabhängig davon läßt sich aus der durch die von der Signal
verarbeitungsschaltung generierten analogsignalabhängigen
Impulsfolge das dieser zugrundeliegende Analogsignal rekon
struieren, so daß auch dieses Signal zur kontinuierlichen
Überwachung der Funktionsfähigkeit des A/D-Wandlers während
dessen "normalen" Betriebs geeignet ist.
Claims (10)
1. Verfahren zum Überwachen der Funktionsfähigkeit eines
zur Digitalisierung von Analogsignalen ausgelegten Analog/-Digi
tal-Wandlers, dadurch gekennzeichnet, daß außerhalb des
Analog/Digital-Wandlers, basierend auf einem durch den
Analog/Digital-Wandler zu digitalisierenden Analogsignal (UA),
eine Folge von digitalen Impulsen (P2) generiert wird, von
welchen zumindest die Breite oder die Folgefrequenz analog
signalabhängig sind, und daß überprüft wird, ob diese Impuls
folge und der auf der Basis desselben Analogsignals durch
den Analog/Digital-Wandler generierte Digitalwert einander
entsprechen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der zu überwachende Analog/Digital-Wandler in einer
Zentraleinheit (ZE) integriert ist, welche eine Vielzahl von
Analogsignalanschlüssen aufweist, an welche durch den
Analog/Digital-Wandler zu digitalisierende Analogsignale (UA)
anlegbar sind, und
daß eine die Impulsfolge generierende Signalverarbei
tungsschaltung (SV) außerhalb der Zentraleinheit vorgesehen
ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
durch die Signalverarbeitungsschaltung (SV) wiederholt Ver
gleichszyklen ausgeführt werden, deren Anfang und Ende je
weils durch ein von der Zentraleinheit (ZE) an die Signal
verarbeitungsschaltung ausgegebenes Steuersignal (P1) be
stimmbar ist.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
in einem Vergleichszyklus jeweils der Zeitpunkt ermittelt
wird, zu dem ein vor Beginn des Vergleichszyklus im wesent
lichen auf die Analogspannung (UA) aufgeladener und mit dem
Beginn des Vergleichszyklus von der Analogspannung getrennter
Kondensator (CH1) so weit entladen ist, daß er eine zeitlich
konstant gehaltene Schwellenspannung (UT) unterschreitet.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Trennung des Kondensators (CH1) von der Analogspannung
(UA) an einer solchen Stelle innerhalb der Signalverarbei
tungsschaltung (SV) oder auf eine solche Art und Weise er
folgt, daß eine Beeinflussung des auch in die Zentraleinheit
(ZE) zur Digitalisierung eingegebenen Analogsignals verhin
dert wird.
6. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
in einem Vergleichszyklus jeweils der Zeitpunkt ermittelt
wird, zu dem ein vor Beginn des Vergleichszyklus auf eine
Versorgungsspannung (VCC), die größer als die maximale
Analogspannung (UA) ist, aufgeladener und mit dem Beginn des
Vergleichszyklus von der Versorgungsspannung getrennter Kon
densator (CH2) so weit entladen ist, daß er die Analog
spannung unterschreitet.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß dafür gesorgt wird, die jeweils zu entla
denden Kondensatoren (CH1; CH2) mit einem konstanten Strom
entladen werden.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß zu den ermittelten Zeitpunkten jeweils ein
Wechsel des innerhalb eines jeweiligen Vergleichszyklus an
sonsten unverändert gehalten Pegels des die Impulsfolge re
präsentierenden Ausgangssignals (P2) aus der Signalverarbei
tungsschaltung (SV) erfolgt.
9. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Analogspannung (UA) als Steuerspannung für einen
spannungsgeregelten Frequenzoszillator (VCO) verwendet wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 9, dadurch ge
kennzeichnet, daß das die Impulsfolge repräsentierende Aus
gangssignal (P2) aus der Signalverarbeitungsschaltung (SV) in
einen Digitalsignaleingangsanschluß der Zentraleinheit (ZE)
zur Auswertung eingegeben wird.
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JP9211561A JPH1098382A (ja) | 1996-08-08 | 1997-08-06 | Ad変換器の機能性の監視方法 |
FR9710147A FR2753321B1 (fr) | 1996-08-08 | 1997-08-07 | Procede pour surveiller l'aptitude au fonctionnement d'un convertisseur analogique/numerique |
GB9716765A GB2316248B (en) | 1996-08-08 | 1997-08-07 | Method of and monitoring means for monitoring the functional capability of an analog-to-digital converter |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10320717A1 (de) * | 2003-05-08 | 2004-12-09 | Siemens Ag | Plausibilisierung der Funktion eines Analog-Digital-Wandlers |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3869762B2 (ja) * | 2002-06-13 | 2007-01-17 | 住友ゴム工業株式会社 | タイヤ空気圧低下検出方法および装置、ならびにタイヤ減圧判定のプログラム |
DE102004046618A1 (de) | 2004-09-25 | 2006-03-30 | Robert Bosch Gmbh | Schaltungsanordnung zum Analog/Digital-Wandeln |
US8872689B2 (en) * | 2013-03-15 | 2014-10-28 | Infineon Technologies Ag | Circuit arrangement and method for operating an analog-to-digital converter |
DE102017009088A1 (de) | 2017-09-29 | 2019-04-04 | WAGO Verwaltungsgesellschaft mit beschränkter Haftung | Schaltkreis zur Überprüfung einer analogen Eingangsschaltung eines A/D-Wandlers |
US11606099B1 (en) * | 2021-09-23 | 2023-03-14 | Texas Instruments Incorporated | Fault detection within an analog-to-digital converter |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3621937A1 (de) * | 1986-06-30 | 1988-01-07 | Bosch Gmbh Robert | Ueberwachungseinrichtung fuer eine elektronische steuereinrichtung in einem kraftfahrzeug |
US5063383A (en) * | 1990-06-04 | 1991-11-05 | National Semiconductor Corporation | System and method for testing analog to digital converter embedded in microcontroller |
EP0579235A2 (de) * | 1992-07-17 | 1994-01-19 | Nec Corporation | Mikrorechner mit Prüfschaltung für A/D-Wandler |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4894656A (en) * | 1988-11-25 | 1990-01-16 | General Electric Company | Self-calibrating pipelined subranging analog-to-digital converter |
GB2234124A (en) * | 1989-07-19 | 1991-01-23 | British Aerospace | Auto-calibrating analogue to digital converter |
US5129379A (en) * | 1989-09-06 | 1992-07-14 | Hitachi, Ltd. | Diagnosis system and optimum control system for internal combustion engine |
DE3934723A1 (de) * | 1989-10-18 | 1991-04-25 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und vorrichtung zum ueberpruefen der funktionsfaehigkeit von sensoren in einem fahrzeug |
US5189421A (en) * | 1991-12-23 | 1993-02-23 | National Semiconductor Corporation | Microcontroller based analog-to-digital converter using variable pulse width modulation |
GB9400227D0 (en) * | 1994-01-07 | 1994-03-02 | Lucas Ind Plc | Validation method |
-
1996
- 1996-08-08 DE DE19631972A patent/DE19631972C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-08-01 US US08/905,263 patent/US6067035A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-08-06 JP JP9211561A patent/JPH1098382A/ja active Pending
- 1997-08-07 GB GB9716765A patent/GB2316248B/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-08-07 FR FR9710147A patent/FR2753321B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3621937A1 (de) * | 1986-06-30 | 1988-01-07 | Bosch Gmbh Robert | Ueberwachungseinrichtung fuer eine elektronische steuereinrichtung in einem kraftfahrzeug |
US5063383A (en) * | 1990-06-04 | 1991-11-05 | National Semiconductor Corporation | System and method for testing analog to digital converter embedded in microcontroller |
EP0579235A2 (de) * | 1992-07-17 | 1994-01-19 | Nec Corporation | Mikrorechner mit Prüfschaltung für A/D-Wandler |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10320717A1 (de) * | 2003-05-08 | 2004-12-09 | Siemens Ag | Plausibilisierung der Funktion eines Analog-Digital-Wandlers |
DE10320717B4 (de) * | 2003-05-08 | 2006-02-16 | Siemens Ag | Plausibilisierung der Funktion eines Analog-Digital-Wandlers |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2753321A1 (fr) | 1998-03-13 |
FR2753321B1 (fr) | 2005-05-13 |
US6067035A (en) | 2000-05-23 |
DE19631972A1 (de) | 1998-02-12 |
GB2316248B (en) | 1998-06-24 |
GB9716765D0 (en) | 1997-10-15 |
GB2316248A (en) | 1998-02-18 |
JPH1098382A (ja) | 1998-04-14 |
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