[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

DE1952283B2 - Einrichtung zur bestimmung und registrierung des anteils und der verteilung von digital anfallenden messwerten - Google Patents

Einrichtung zur bestimmung und registrierung des anteils und der verteilung von digital anfallenden messwerten

Info

Publication number
DE1952283B2
DE1952283B2 DE19691952283 DE1952283A DE1952283B2 DE 1952283 B2 DE1952283 B2 DE 1952283B2 DE 19691952283 DE19691952283 DE 19691952283 DE 1952283 A DE1952283 A DE 1952283A DE 1952283 B2 DE1952283 B2 DE 1952283B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
counter
comparator
time
output
values
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19691952283
Other languages
English (en)
Other versions
DE1952283C3 (de
DE1952283A1 (de
Inventor
Hubert Togel Kurt Dipl Phys 7500 Karlsruhe Hoetzel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE1952283A priority Critical patent/DE1952283C3/de
Priority to US77577A priority patent/US3694635A/en
Priority to CH1502670A priority patent/CH516144A/de
Priority to FR7037429A priority patent/FR2066081A5/fr
Publication of DE1952283A1 publication Critical patent/DE1952283A1/de
Publication of DE1952283B2 publication Critical patent/DE1952283B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE1952283C3 publication Critical patent/DE1952283C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/225Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

tralion vcrhande:n:?!nJ h dieser Art wurdc in der . Eine bekannte E.nrichu^ ^ Q Schaaber. Literatur beschneu.n (H ^™ p. 119. 1966). Ä der Mikro-
pulse einem Mittelwert- ^ g ^ ^ Mittelwcrtmcsser aus.
gehende analoge Spannungssignal gelangt in einen voll-transistorisierten Schaltteil. Hier werden dem Signal zwei elektrische, kontinuierlich regelbare Schwellen entgegengestellt. Nur ein unterhalb der einen, oberhalb der anderen oder innerhalb beider Schwellen liegendes Signal des Mittelwertmessers wird zur Registrierung an eine Bildröhre bzw. an
/eßerößc mit statistischer Streuung, vorzugsweise ils Int,nsitätsdisknminator zur Signalaufbereitung iwecks Aufzeichnung von Konzentralionsvcrtcilungn auf Prol-cnnachen bei der Elektronenstrahl- e5 mit einem sP
impu szahler e pg
für die zu analysiere,de Pha ^
ausgewan
ίnSSuen Einrichtungen ist es erforderlich, die von einem Aufnehmer digital gelieferten Meß-
^^Z^ sonst
gesperrten Schaltkreis und zwar für die Zejt in welcher sich der Elektronenstrahl auf jener
befindet, deren Flächenanteil bestimmt werden soll. Die Impulse eines zu diesem Schaltkreis parallelgeschalteten, mit bekannter, konstanter Frequenz arbeitenden Oszillators werden vom Schaltkreis so lange durchgelassen, wie sich der Elektronenstrahl au! der zu messenden Phase befindet. Ein Zählwerk mißt die Anzahl dieser Impulse, so daß aus dieser Anzahl die Gesanitverweilzeit des Elektronenstrahls auf der zu messenden Phase und aus dieser und der bekannten Gesamtabtastzeit T der gewählten Geraden bzw. Fläche der Anteil jener Phase ermittelt werden kann, auf deren durch eine charakteristische Phaseneigenschaft hervorgerufenen Spannungen der Diskriminator eingestellt ist.
Bei diesen bisher bekannten Intensitätsdiskriminaioien ist also dem Röntgenstrahlmcßkanal stets ein Mittelwertmesser (englisch: Ratemeter) nachgcsuhul-■ .. dessen analoges Ausgangssignal weiterverarbeitet wird. Die Benutzung von Mittelwertmesser!! und die .:;■ ili'üe Signaidiskriminierung sind aber ηιλ Nachtuen \ erblinden.
Das analoge Ausgangssignal eines Miltelwen- !H-ssers ist in seiner momentanen Amplitude nicht i!:i abhängig von der Impulsrate, sondern schwankt <e nach der am Mittelwertmesser eingestellten Zeit- ; !..nv.tanle. Fig. 1 und 2 zeigen den Verlauf des Si mais I in Abhängigkeit von der Zeit/ bei kon- : ainer Konzentrationsverteilung auf der Probe. In 1 ι g. 1 sind die statistischen Schwankungen bei Kleiner Zeitkonstante dargestellt, in F i g. 2 bei großer '/.·. itkonstante.
Wird die Zeitkonstante groß gewählt, um die Schwankungen des Ausgangssignals am Mittelwertmesser klein zu halten, so tritt beim Durchlaufen einer Konzentrationsgrenze eine Verfälschung dadurch auf, daß die Signalamplitude verzögert der tatsächlichen Röntgenintensität folgt. Das ist in F i g. 3 grafisch dargestellt. Die gestrichelte Kurve gebe die talsächliche Röntgenintensität einer in der Zeilenabtastzeit T durchlaufenen Konzentrationsverteilung in Abhängigkeit von der Zeit t wieder. Die Intensität springt während der Zeit Γ in den von der unteren Sehwelle Sl und der oberen Schwelle S 2 eingegrenzten (schraffiert gezeichneten) Bereich. Die ausgezogene Kurve zeigt das Ausgangssignal I des Mittelwertmessers. Die Dercichsgrcnze wird um t\ verspätet durchlaufen und die Konzentrationsgrenze auf der Kathodenstrahlröhre um /1 verspätet angezeigt.
Wählt man die Zeitkonstante klein, dann ergibt sich eine zu starke Amplitudenschwankung des Signals vom Mittelwertmesser. Nach F i g. 4 bedeutet das. daß bei eng nebeneinanderliegenden Schwellen eine ständige Über- oder Untersteuemng der eingestellten Konzentrationsgrenzen und damit eine falsche Anzeige auf der Kathodenstrahlröhre in Kauf genommen werden muß. Werden die Schwellen >S' 1 und S 2 dagegen genügend weit auseinander gelegt, können kleine Konzentrationsunterschiede nicht mehr diskriminiert werden.
Auch schon bei kleinen Zeitkonstanten tritt nach der herkömmlichen Meßmethode an Rändern von Probenbereichen gleicher Konzentration, bei denen die Signalamplitudc auf einen Wert oberhalb oder unterhalb des Grcnzwüribereichs springt, ein Fehlsignal auf. Das ist in F i g. 5 dargestellt.
Die gestrichelte Kurve gebe wiederum die Rönteiner während der Zeilenabtastzeit 7' durchlaufenen Konzentralionsverteilung in Abhängigkeit von der Zeit t wieder. Es seien vier Anteile A, B, C und D konstanter Intensität und damit konstanter Konzentration vorhanden, wobei nur der Anteil C in den zu untersuchenden Bereich zwischen den Schwellen 51 und 52 fällt. Die durchgezogene Kurve I zeigt das am Mittelwertmesser auftretende analoge Ausgangssignal. Offensichtlich wird in den Zeiten α und α im Diskriminator ein Signal ausgelöst
ίο und registriert, obwohl der während dieser Zeit abgetastete Probenbereich nicht in den eingestellten Konzentrationsbereich fällt. Während der Zeit b wird kein Signal registriert, obwohl die Konzentration in den zu untersuchenden Bereich fällt.
Das Auftreten eines Fehlsignals in der Zeit λ und α äußert sich bei rasterförmiger Abtastung der Probe in dem Erscheinen von Aufhcllungszoncn auf dem Bildschirm, die fälschlicherweise auf Vorhandensein son Konzentrationen im u untersuchenden Bereich deuten. Mit wachsender Zcltkonstanie des Mittelwertmessers werden diese Zonen größer. Die Zeit« und damit auch die Zone svächst ersichtlich mit dem Anwachsen der Intensitätsdifferenz {Bb\sA). Damit ist die Größe der Zonen von den Amplituden A und B, d. h. also von den absoluten Konzentrationen an solchen Stufen abhängig.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die aufgezeigten Mängel der analogen Impulsdiskrir.n nierung zu beheben.
Diese Aufgabe wird in der im Anspruch 1 beanspruchten Weise gelöst.
:" Nach der Erfindung svird also das digital anfal-.' lende Meßsignal (Impulsfolge) bis zur Registrierung ?'- digital weiten erarbeitet. Ein Mittelwertmesser ist daher überflüssig.
Die Zeilenabtastzeit T wird in η Zeitintervalle der Länge T/n geteilt, wobei η von der geforderten Auflös'ing abhängt. Die anfallenden Meßimpulse werden in einem Zähler gezählt und erst am Ende jedes Zeitintervalles mit den beiden wahlweise gesetzten, digital einstellbaren Grenzwerten verglichen. Die Aussage, ob die Impulsrate innerhalb oder außerhalb des gesetzten Bereichs liegt, wird gespeichert und mit der Aussage des folgenden Zeitintervalles verglichen. Im nächsten Zeitintervall wird die Auslage Ii des vorausgehenden Zeitintervalles zur Registrierung <K_ freigegeben. Nur wenn die Aussage des vorausgehenj den und des folgenden Zeitintervalles innerhalb der
;Γ gewählten Bereichsgrenzen liegen, wird die Aussage des vorausgehenden Bereichs als Ja-Aussage bewertet \-ψ- und abschließend registriert.
■ ' Fehlsignale wie bei der analogen Meßwertverarbeitung, ζ. B. das Auftreten von Aufhellungen beim Durchlaufen der gewählten Schwellen, werden nach der ernndungs£,jmäßen Einrichtung vermieden. Die Einstellung der Zeitintervalle am Zeitgenerator ist einfach, Fehlcrmöglichkeilen durch Wahl einer falschen Zeitkonstanten entfallen.
Vorteilhafte weitere Ausbildungsformen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen. : Die Erfindung wird an Hand von vier Figuren eines Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Fig. 9 zeigt ein Blockschaltbild eines digitalen lmpulsdiskriminators in Verbindung mit einer Mikrosonde:
'···< Fig. 6 zeigt in einer grafischen Darstellung den zeitlichen Verlauf der vom Zähler 5 abgegebenen Impulsraten:
5 6
Fig. 7 zeigt in einer grafischen Darstellung den aussagen gemeldet werden. Die Vergleicher 8' diskri-
zu Fig. 6 gehörenden zeitlichen Verlauf der vom minieren dabei die von weiteren Aufnehmern 3' wei-
Vergleicher 8 ausgegebenen logischen Werte; tergegebencn elektrischen Impulse.
Fig. 8 zeigt in einer grafischen Darstellung den Fig. 6 zeigt wiederum gestrichelt die Röntgen-
zu Fig. 7 gehörenden zeitlichen Verlauf der vom 5 intensität der aus Fig. 5 bekannten, während dei
Vergleicher 14 nach der UND-Verknüpfung ausge- Zeilenabtastzeit T durchlaufenen Konzcntrationsver-
gebenen logischen Werte. teilung in Abhängigkeit von der Zeit t. Der Zcitgenc-
Nach Fig. 9 trifft der Elektronenstrahl 1 einer rator 6 teilt die Zeilenabtastzeit T in η-Intervalle ein, Mikrosonde eine Stelle auf der Probe 2, die linien- Die vom Zähler 5 während eines jeden Zeitintervall« oder rasterförmig abgetastet wird. Die Röntgenstrahl- to registrierten Impulsraten / sind mit horizontalen intensität wird im Aufnehmer 3 in elektrische Impulse Strichen in die Figur eingezeichnet. Die einzelner umgewandelt, die in dem Impulskanal 4 verstärkt Impulsraten streuen statistisch um die wahre Konwerden. Der Zeitgenerator 6 unterteilt die Zeilen- zentrationsverteilung. 51 und 52 sind wiederum die abtastzeit T in einstellbare Zeitintervalle und steuert Schwellen des Grenzwertbereichs,
alle Funktionsgruppen des Impulsdiskriminators an. 15 F i g. 7 zeigt die vom Vergleicher 8 getroffener Nach jedem Zeitintervall unterbricht er periodisch logischen Aussagen für jede der in Fig. 6 eingedie Impulszählung und schiebt die Impulsrate von zeichneten Impulsraten. Liegt die Impulsrate eines Zähler 5 in den Speicher 7. Die Zählerinformption Intervalls im Grenzwertbereich zwischen den beider von Speicher 7 wird im Vergleicher 8 mit der am Schwellen 51 und 52, so gibt der Vergleicher bei-Grenzwertsteller 10 digital eingestellten unteren ao spielsweise eine L, sonst eine 0 weiter. Auf diese Schwelle 51 und mit der am Grenzwertsteller 9 Weise wird der Intensitätsanteil C, der nach F i g. 6 digital eingestellten oberen Schwelle 52 verglichen. zwischen den beiden Schwellen liegt, erfaßt. Zusatz-Liegt die zu vergleichende Impulsrate zwischen un- lieh erhält man nach diesem Beispiel aus den Werter terer und oberer Schwelle, so wird im Speicher 12 des Anteils A eine L im 3. Zeitintervall,
beispielsweise eine logische Eins (L) gespeichert. Ist 35 F i g. 8 zeigt den Verlauf der logischen Aussager das nicht der Fall, so erhält Speicher 12 eine logische von Fi g. 7 für jedes Zeitintervall, nachdem im VerNull (0). gleicher 14 die logische Aussage des vorhergehender
Am Ende des folgenden Zeitintervalls wird die mit dem folgenden Zeitintervsll verglichen wurde,
Information von Speicher 12 in den Speicher 13 Die durch statistische Streuung entstandene L im
übertragen, und Speicher 12 wird gelöscht. Inzwi- 30 Intervall 3 ist verschwunden; Intensitätsanteil C wird
sehen ist nach obigem Schema die Impulszahl der deutlich registriert.
zweiten Meßperiode verglichen worden, und der ent- Bei der Einrichtung nach der Erfindung geht die sprechende logische Wert wird in Speicher 12 abge- Information in einem Zeitintervall, das entweder ar speichert. Nun wird Speicher 13 mit Speicher 12 im die rechte oder linke Konzentrationsgrenze grenzt. Vergleicher 14 UND-verglichen. Im Falle, daß beide 35 verloren. Damit diese Unscharfe klein bleibt, müsser Werte L sind, wird dem Ausgabe- oder Registrier- die Zeitintervalle die Zeilenabtastzeit T eng untergerät für den während des vorausgehenden Zeitinter- teilen. Dies ist leicht zu erreichen, und die entstehenvalls abgetasteten Probenbereich ein L gemeldet. den Fehler bleiben weit unter denen analoger Impuls-Geeignete Ausgabe- und Registriergeräte sind z. B. ratendiskriminatoren.
Kathodenstrahlrohr 15, Lochstreifen 16, Magnetband 40 Der mit der Erfindung erzielte Vorteil besteht ins-
17 oder Digitalrechner 18. besondere darin, daß statt einer analogen eine digi-
Zwischen Vergleicher 8 und Speicher 12 kann ein tale Schalttechnik verwendet wird. Gemäß der Erfin-Koinzidenzkreis geschaltet werden, der Koinzidenz- dung werden Fehldeutungen, die nach der herkömmkreis gibt nur dann an Speicher 12 ein logisches liehen Technik auftreten, vermieden. Ferner können, Signal weiter, wenn ihm gleichzeitig aus Vergleicher 8 45 z. B. in der Mikroanalyse, mehrere chemische Werte und weiteren Vergleichern 8' positive Grenzbereichs- simultan untersucht werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Schaltungsanordnung zur Ermittlung und Registrierung von während einer Meßzeit anfallenden durch einstellbare obere und untere Grenzwerte eingegrenzten, digitalen Meßwerten einer sich ändernden Meßgröße mit statistischer Streuung, dadurch gekennzeichnet, daß ,o der momentane digitale Meßwert während eines jeden der an einer elektronischen Uhr (6) ein- !teilbaren, periodisch sich wiederholenden Zeitintervale dem Zähleingang eines von der Uhr (6) gesteuerten ZähUrs (5) zugeführt ist, daß der Ausgang des Zählers (5) über einen Zwischenspeicher (7) mit dem Eingang eines zur E.nstel-Urne der zwei Grenzwerte mit digital setzbaren (■„.,./.wertstellen. (9. 10) versehenen Vergleichers(8) verbunden ist, daß an den Ausgang des so Versicherst) zwei weitere Speicher (12, 13) zur "aufeinanderfolgenden Speicherung zweier in zwei aufeinanderfolgenden ZeitintervaUen aus dem Vergleicher (8) resultierenden logischen Ja-Nein-Informationen angeschlossen sind und daß a5 ein an die beiden Speicher angeschlossener Vergleicher(14) zur UND-Verknüpfung beider gespeicherter Informationen mit seinem Ausgang an Ausgabe- oder Registriergeräte (15, 16,17,18) für die logischen Informationen angeschlossen ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel (z.B. elektronische Rechner) zur programmgesteuerten Einstellung der beiden oberen und unteren Grenzwerte an Setzeingänge der Grenzwertste.ler (9, 10) angeschlossen sind.
!. Schaltungsanordnung nach Anspruch l oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie m.ndestens zwei ewe.ls aus Baugruppen (5 bis 14) bestehende Meßkanäle aufweist.
4. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 1, 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß die über mehrere Meßkanäle anfallenden Meßwerte an getrennte, jedoch von einer gemeinsamen elektronischen Uhr (6) angesteuerte Zähler (5), Zwischenspeicher (7) und Verglcieher (8 gelegt sind und daß die Ausgänge der Vergleicher (8) an einen gemeinsamen Koinz,-denzkreis (11) angeschlossen sind.
werte einem Integrationsglied zuzuführen Beispielsweise seien die Meßwerte eine Folge von elektrischen Impulsen, deren Impulsrate (Impulse pro Zeiteinheit) die Intensität einer physikalischen Meßgroße charak-
terisiert. Auch ^J^^^mpSdie liefert der Aufnehmer 5™ Folge ν .£ Fol lich mit einer statistichen Stre^nfn°™on liedes%in tritt auch am Ausgang ** ^™, da fe s in bezug Signal als Maß fur dm ™P™™w
au: semen wahren Wer ,^^^ Schwellen Ausgangss.gnal muß mit vsahlbar ges
in einem Vergleiche Shc»en ^1 ulsrate und erhalt man e^Aj ob d. p^ ^
dai, >t die P^.^hsüu M^ t ich liegt. außerhalb des emges eilten Groiz s_
Die Grenzbe,eich au ag ^w.rd ™ »^ und
gäbe- oder ReSlstricr^™h
Weitervererbe, ung ^*^krinlinalors läßl sich Mit Hilfe eineiL*cn der {_
bei zeitlicher Verandcrnngdt^ 8 ^
^c) Verlauf der Grcnzbcreictisag nen. Daraus können dann Ae « J^^^ Gren/. einzelnen AmA. ein.J" Verteilung bestimmt wcrtbereich ^ un? Schaltungsanordnung muß werden Durch gceg.nc te ttna. £ sein
trotz der » ^" ^^^,.,Lhen Verlauf die-
daß k ne V ^^'auftreten, die durch die ser Grenzberc chsaussa cn
Einrichtung s^ ^ ^ ^ ^'beispielsweise als Derart ge Enr thtuny^n Ele^tronenstrahl-
T" fnsltatf ^?™"3^? 'lre dienen zur Bestim-Mikroanalyse bek annU LeJ ^ ^n entlangbTO.
mung des Ant b u.rsch den enstrahl.
m den vom tlektronensira bekanntcr unj
^ÄeÄÄU*» Geraden gieii.im»»»btl nherlVicher heterogen auffce-
^,Flachen an den,0^^ ^ ^. ^ b^U. Fejkorper. Un ^^ ^ ^
Gtfufc-bestanate 11 :m Kristallgitters
ubrlfGcUg. i'™dc, ohei in den verechieh ^grt «o, t
ft g. idc, ohei in den verechiegrundsat, = ch «"^grt «o, t ^^
denen »Phasen« η allgcn ^ιηζ ; fe dener Konzen„ sehen Elemente, jedoch in
DE1952283A 1969-10-17 1969-10-17 Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Meßwerten Expired DE1952283C3 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1952283A DE1952283C3 (de) 1969-10-17 1969-10-17 Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Meßwerten
US77577A US3694635A (en) 1969-10-17 1970-10-02 Apparatus for determining and recording components and distributions of digitally obtained measured values
CH1502670A CH516144A (de) 1969-10-17 1970-10-12 Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Messwerten
FR7037429A FR2066081A5 (de) 1969-10-17 1970-10-16

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1952283A DE1952283C3 (de) 1969-10-17 1969-10-17 Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Meßwerten

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE1952283A1 DE1952283A1 (de) 1971-05-06
DE1952283B2 true DE1952283B2 (de) 1973-06-07
DE1952283C3 DE1952283C3 (de) 1974-01-03

Family

ID=5748419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1952283A Expired DE1952283C3 (de) 1969-10-17 1969-10-17 Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Meßwerten

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3694635A (de)
CH (1) CH516144A (de)
DE (1) DE1952283C3 (de)
FR (1) FR2066081A5 (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2250717C3 (de) * 1972-10-16 1975-06-05 Hofmann Maschf Geb Vorrichtung zum Auswerten von Meßwerten in einem Prüfstand, insbesondere in einem Prüfstand für Kraftfahrzeuge
US3892489A (en) * 1973-08-17 1975-07-01 Smithkline Corp Data acquisition system
US3919531A (en) * 1974-05-16 1975-11-11 Libbey Owens Ford Co Method of and apparatus for inspecting the contours of moving bent articles
US4246652A (en) * 1978-03-29 1981-01-20 Geosource Inc. Seismic source signatured evaluation apparatus
DE3335625A1 (de) * 1983-09-30 1985-04-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und vorrichtung zur speicherung der messdaten aus teilbereichen eines sputterkraters, der in einem sekundaerionen-massenspektrometer erzeugt und analysiert wird
US4697080A (en) * 1986-01-06 1987-09-29 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Analysis with electron microscope of multielement samples using pure element standards
EP0232790A1 (de) * 1986-02-06 1987-08-19 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Anordnung zur Messung zeitabhängiger Signale mit einer Korpuskularsonde
JPH0238850A (ja) * 1988-07-28 1990-02-08 Jeol Ltd X線分光器を用いた定性分析方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1548286B2 (de) * 1965-03-19 1971-09-23 Osterreichische Studiengesellschaft für Atomenergie GmbH, Wien Verfahren zum messen von physikalischen groessen wie dicke flaechengewicht dichte strahlungsabsorption von platten oder bandfoermigem messgut
AT279943B (de) * 1965-07-14 1970-03-25 Boehler & Co Ag Geb Einrichtung zur Elektronenstrahl-Mikroanalyse heterogen aufgebauter metallischer oder nichtmetallischer Stoffe
US3573639A (en) * 1969-12-04 1971-04-06 Atomic Energy Commission Ratemeter with automatic dead-time correction

Also Published As

Publication number Publication date
DE1952283C3 (de) 1974-01-03
CH516144A (de) 1971-11-30
FR2066081A5 (de) 1971-08-06
US3694635A (en) 1972-09-26
DE1952283A1 (de) 1971-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2607187C3 (de) Verfahren zur Messung des zeitlichen Impulsabstandes von zwei elektrischen Impulsen
DE2436373C3 (de) Fehlerortungsverfahren für Vierdraht-Trägerfrequenzsysteme
EP0573034A2 (de) Verfahren und Anordnung zur Abstandsmessung nach dem Impulslaufzeitprinzip
DE102009018995A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Bestimmung einer Intensität von ionisierender Strahlung
DE19540170C2 (de) Verfahren und Anordnung zur Unterdrückung von Festzielechos bei der Abstandsmessung nach dem Impulslaufzeitprinzip
DE2548747C2 (de) Vorrichtung zur Ableitung mindestens eines Fernseh-Parameters in digitaler Form aus einem im Fernsehsignal eingefügten analogen Prüfsignal
DE2905023A1 (de) Digitalphasendetektor und verfahren zur detektion einer phasendifferenz
DE2529995C3 (de) Synchronisierverfahren für die Anwendung eines Buntes in einem TDMA-Nachrichtenfibertragungssystem
CH638328A5 (de) Verfahren und geraet zum korrigieren von koinzidenzfehlern beim erfassen und zaehlen von miteinander gemischten dominanten und nicht dominanten teilchen.
EP2867694A1 (de) Distanzmessverfahren und distanzmesser
DE3490308C1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur vom Frequenzbereich des zu erfassenden Signals unabhaengigen signalwertgemaessen Abtastung
DE1952283B2 (de) Einrichtung zur bestimmung und registrierung des anteils und der verteilung von digital anfallenden messwerten
EP0231786B1 (de) Verfahren zur Elimination von Störungen eines Messsignals
DE4233830C2 (de) Strahlpositionsmonitor
DE3700368C1 (en) Digital oscilloscope
DE1548609B2 (de) Verfahren zur bestimmung des mittelwertes einer mehrzahl von groessen sowie vorrichtung zur durchfuehrung eines solchen verfahrens
DE3606976C2 (de)
DE2419022B2 (de) Verfahren zur aufbereitung von analogen elektrischen messignalen bei praezisions- und feinwaagen
DE2506806A1 (de) Teilchenanalysator
DE4317841A1 (de) Verfahren zur Prüfung von Münzen
DE2826314A1 (de) Analog-digital-wandler
DE2548181C3 (de) Puls-Radarempfänger mit Entfernungskanälen und einer am Zielanfang oder -ende Impulse erzeugenden Anzeige-Selektionsschaltung
DE2712831C3 (de)
DE3123178C2 (de)
DE3219826A1 (de) Vorrichtung zur ortung bzw. raeumlichen lagebestimmung eines zielobjektes

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977