DE1665794C3 - Verfahren zum Herstellen einer magnetfeldabhängigen Widerstandsanordnung - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer magnetfeldabhängigen WiderstandsanordnungInfo
- Publication number
- DE1665794C3 DE1665794C3 DE1665794A DE1665794A DE1665794C3 DE 1665794 C3 DE1665794 C3 DE 1665794C3 DE 1665794 A DE1665794 A DE 1665794A DE 1665794 A DE1665794 A DE 1665794A DE 1665794 C3 DE1665794 C3 DE 1665794C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor wafer
- semiconductor
- magnetic field
- contact points
- working
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 title claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 95
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 28
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 9
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 8
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 39
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 1
- 244000221110 common millet Species 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/01—Manufacture or treatment
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/977—Thinning or removal of substrate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49082—Resistor making
- Y10T29/49099—Coating resistive material on a base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/4981—Utilizing transitory attached element or associated separate material
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Weting (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
aber mehr als 1 μΐη;
c) Lösen oder Abschwemmen der abge-
schliffenen oder geätzten Halbleiterscheibe
(10) von der Arbeitsunterlage (4); »5 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum
d) stoffschlüssiges Aufbringen der Halb- Herstellen einer magnetfeldabhängigen Widerstandsleiterscheibe
(10) auf eine beliebig geformte anordnung derart geringer Dicke, daß sie beliebig
Betriebsunterlage (11, 12, 13, 15, 19, 26, 31, geformt, z. B. auch gekrümmt sein kann, wobei ein
35); Verfahrensschritt im stoffschlüssigen Aufbringen auf
e) Anbringen von elektrischen Anschlüs- 3° eine später wieder entfernte ebene Arbeitsunterlage
sen (14, 20 bis 23, 36. 37) an der Halbleiter- besteht. Ein derartiges Verfahren ist bekannt aus der
scheibe (10). deutschen Patentschrift 910 185.
2. Verfahren nach Ansoruch 1, dadurch ge- Nach diesem Verfahren können sehr dünne metalkenn^eichnet,
daß die Befestigung der Halbleiter- lische magnetfeldabhängige Widerstände, die auf
scheibe (1) auf der Arbeitsunterlage (4) durch 35 einem Träger angeordnet sind, dadurch hergestellt
Verkleben mittels einer Kittschicht (5) vorgenom- werden, daß man eine Schicht des Widerstandsmatemen
wird, die bei Zimmertemperatur lösbar ist. rials durch elektrolytische Abscheidung auf einem
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch ge- leitenden Hilfsträger aufwachsen läßt. Das Widerkennzeichnet,
daß für die Kittschicht (5) ein Standsmaterial, beispielsweise Wismut, ist dann mit
Kapjilarkleber mit geringer Viskosität verwendet 4° dem als Arbeitsunterlage dienenden Hilfsträger unlöswird.
bar verbunden. Anschließend wird der metallische
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge- Niederschlag mit einem dünnen isolierenden Träger
kennzeichnet, daß die auf der Arbeitsunterlage (4) abgedf-ckt und dann der Hilfsträger aufgelöst,
befestigte Halbleiterscheibe (1) auf einen vorgege- Eine wesentlich größere Widerstandsänderung im benen Widerstandswert und oder die gewünschte 45 Magnetfeld erhält man bekanntlich mit Widerständen Form und/oder Oberflächenqualität geätzt wird. aus Halbleitermaterial, insbesondere aus den bekann-
befestigte Halbleiterscheibe (1) auf einen vorgege- Eine wesentlich größere Widerstandsänderung im benen Widerstandswert und oder die gewünschte 45 Magnetfeld erhält man bekanntlich mit Widerständen Form und/oder Oberflächenqualität geätzt wird. aus Halbleitermaterial, insbesondere aus den bekann-
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge- ten AmB\-Verbindungen aus den Elementen der 3.
kennzeichnet, daß als Betrkbsunterlage einer oder und 5. Gruppe des periodischen Systems, aber auch
mehrerer Halbleiterscheiben (10) der Mantel aus Germanium oder Silizium. Solche Widerstände
eines Zylinders (12 in Fig. 7 bzw. 31 in Fig. 13) 5° können aber nicht durch elektrolytische Abscheidung
oder eine Folie (13 in Fig. 8) bzw. ein geschlos- hergestellt werden. Die Magnetfeldempfindlichkeit
senesBand (15 in Fig. 9) verwendet wird (Fig. 6 dieser Halbleiterwiderstände, der sogenannten FeIdbis
9 und 13). platten, kiinn dadurch noch wesentlich erhöht wer-
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 den, daß der Halbleiterkörper mit Streifen aus elek-
und 5, dadurch gekennzeichnet, daß von der 55 trisch gut leitendem Material, z. B. Silber oder
Halbleiterscheibe (10) nur die Kontaktstellen auf Indium, versehen wird, wie aus der »Zeitschrift iar
die Betriebsunterlage (35) stoffschlüssig aufge- Physik«, Band 176 (1963), Seiten 399 bis 408 bebracht
werden, und daß die Halbleiterscheibe (10) kannt ist. Solche Feldplatten sind bekannt unter der
so mit der Betriebsuntertage (35) verbunden wird, Bezeichnung »Rasterfeldplatte«. Ferner kann der
daß ihr magnetisch zu beeinflussender Bereich 6° Halbleiterkörper mit parallel zueinander ausgerichtefreitragend
ist (Fig. 15). ten Bereichen aus elektrisch besser leitendem Mate-
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 rial versehen sein, die im kristallinen Halbleiterkör-
und 6, dadurch gekennzeichnet daß die als Auf- per eine zweite Phase bilden und durch gerichtetes
lagestellen für die Kontaktsteilen der Halbleiter- Erstarren der Halbleiterschmelze entstehen, wie aus
scheibe (10) vorgesehenen Flächen -ier Betriebs- «5 der vorgenannten Literaturstelle ebenfalls bekannt ist.
unterlage (35) vor dem Auflegen der Halbleiter·■ Bei der Anwendung wird die Feldplatte häufig in
scheibe (10) metallisiert und rr.'' elektrischen den Luftspalt eines Magneten gesetzt. Die magneti-Anschlüssen
(40) versehen werden und daß die sehe Induktion nimmt mit zunehmender Luftspalt-
1 6S5
breite, d, h. mit seiner Ausdehnung in Richtung des magnetischen Feldes, ab. Man hat sich deshalb bemüht,
die Halbleiterschicht und die Trägerplatte möglichst dünn zu machen. Einerseits waren diese
Feldplatten hHufig auch dann noch zu dick und an>
dererseits erforderte die Herstellung schon der Trägerplatte einen verhältnismäßig großen Aufwand,
denn diese Platten sollen so stabil sein, daß sie beim Abschleifen bzw. Ätzen der aufgekitteten Halbleiterschicht
nich* beschädigt werden. Wegen der erf orderliehen
Stabilität der Trägerplatte waren deshalb diese Feldplatte^, nicht flexibel.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Herstellen einer magnetfeldabhängischelbe auf weniger als ΙΟΟμ,ΐη, aber mehr als
I |im;
c) Lösen oder Abschwemmen der abgeschUf-Jenen
oder geätzten Halbleiterscheibe von der Arbeitsunterlage;
d) stoffschlüssiges Aufbringen der Halbleiterscheibe auf eine beliebig geformte Betriebsunterlage;
e) Anbringen von elektrischen Anschlüsse?;
an der Halbleiterscheibe.
Die mit dem Verfahren nach der Erfindung hergestellte Widerstandsanordnung kann in dnem sehr
kleinen Luftspalt eingesetzt werden, dessen Breite die Dicke der Halbleiterscheibe nicht wesentlich über-
gen Widerstandsanordnung mit einem sehr dünnen 15 schreitet und somit weniger als 100 μτη, insbesondere
Halbleiterkörper aus dem erwähnten zweiphasigen 40 μπι und weniger, betragen kann. Da die Haib-
Halbleitermaterial oder mit einer Rasterfeldpiatte zu leiterscheibe zunächst auf etaer Arbeitsuntertage
schaffen, deren Träger oder sonstige Betriebsunter- dünngescbliffen oder geätzt wird, ist sie so flexibel,
bzw. deren Befestigung nach der endgültigen
lage
Bearbeitung des Halbleiterkrisialls noch frei wählbar
ist und gekrümmt bzw. flexibel sein kann.
Aus der »Zeitschrift für angewandte Physik«, Band 16, Heft 4, Seiten 209 bis 213 ist zwar bekannt,
daß sehr dünne Halbleiterschichten aus Indiumantimonid hergestellt: werden können. Diese Schichten
sollen aber aufgedampft werden. Solche Schichten sind jedoch für magnetfeldabhängige Widerstandsanordnungen
weniger geeignet, weil durch das Aufdampfen die Trägerbeweglichkeit des Halbleitermaterials
ungünstig beeinflußt wird, die bei der Feldplatts zur Widerstandserhöhung ausgenutzt wird.
Aus »Solid-State Electronics« Pergamon Press
1964, Vol. 7, Seiten 835 bis 841 ist auch bekannt, daß aus dem zweiphasigen Halbleitermaterial durch
daß die Betriebsunterlage der Widerstandsanordnung nicht nur gekrümmt, sondern auch selbst flexibel sein
kann.
Die Widerstandsanordnung hat ferner den Vorteil, daß die aus ihrer Halbleiterscneibe freigewordene
Verlustwärme leicht ableitbar ist. So isf eine nur an
den Kontaktstellen befestigte und sonst frei in den Raum ragende Halbleiterscheibe zur Messung von
Magnetfeldern in verflüssigten Gasen, z. B. Helium, gut geeignet.
Das Verfahren erfordert auch nur einen geringen Aufwand, weil bei Beschädigung der Halbleiterscheibe
während der Bearbeitung nicht außer dieser Scheibe auch noch eine Trägerplatte als Ausschuß
abfällt.
Bei der Herstellung der Halbleiterscheibe wird die
mechanische Bearbeitung, nämlich Aussägen, Schlei- 35 Fläche, mit der sie auf die Arbeitsunteriage aufgelegt
fen und Polieren, Polarisationsfilter für ultrarote werden soll, geschliffen, insbesondere plangeschliffen,
Strahlung mit seinem sehr dünnen Halbleiterkörper und gegebenenfalls mit leitenden Streifen versehen
hergestellt werden können. Diese Filterscheiben wer- und dann die so vorbereitete Halbleiterscheibe zur
den jedc.;h nach ihrer Fertigstellung lediglich mit weiteren Behandlung auf der Arbeitsunterlage beeiner
Fassung versehen. Dagegen müssen die fertig 40
verarbeiteten Halbleiterkörper für Feldplatten noch
mit elektrischen Anschlüssen versehen werden.
verarbeiteten Halbleiterkörper für Feldplatten noch
mit elektrischen Anschlüssen versehen werden.
Nach einem aus der Zeitschrift »Feinwerktechnik«,
1965, Heft 6, Seite 282 bekannten Schleif- und Polierverfahren für Halbleiterkörper können besorders
dünne Halbleiterkörper dadurch hergestellt werden,
daß der flache Halbleiterkörper zunächst in einer
Vorbehandlung auf die gewünschte Dicke geläppt
wird. Anschließend <vird die so bearbeitete Scheibe
für Poliervorgänge auf eine Trägerplatte aufgekittet 50 ebenfalls polierte
1965, Heft 6, Seite 282 bekannten Schleif- und Polierverfahren für Halbleiterkörper können besorders
dünne Halbleiterkörper dadurch hergestellt werden,
daß der flache Halbleiterkörper zunächst in einer
Vorbehandlung auf die gewünschte Dicke geläppt
wird. Anschließend <vird die so bearbeitete Scheibe
für Poliervorgänge auf eine Trägerplatte aufgekittet 50 ebenfalls polierte
und einer Wärmebehandlung unterzogen, die den Kitt austrocknen soll. Erhöhte Temperaturen können
jedoch bei der Herstellung von magnetfeldabhängigen Widerstandsanordnungen nicht angewendet werden,
weil sie die Magnetfeldabhängigkeit des Halbleitermaterials ungünstig beeinflussen.
Die erwähnte Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch die Gesamtheit der folgenden Verfahrensschritte
weiteren festigt.
Eine besonders vorteilhafte weitere Ausgestaltung des Verfahrens nach der Erfindung besteht darin, daß
die plangeschliffene Oberfläche des Halbleiterkörpers vor ihrer Befestigung auf der Arbeitsunterlage noch
einer Polierätzung unterzogen wird. Durch das Schleifen können nämlich in einem gewissen Oberflächenbereich
Kristallstörungen entstehen, die durch den Ätzvorgang wieder entfernt werden.
Als Arbeitsunterlage wird eine ebene, vorzugsweise ebenfalls polierte Platte, insbesondere Glas oder
Keramik, verwendet. Auf einer einzigen Arbeitsunteriage können auch mehrere Halbleiterscheiben zugleich
bearbeitet werden, wie es in der "bereits genannten Literaturstelle aus »Feinwerktechnik« beschrieben
ist.
Die Halbleiterscheibe und die vorgesehene Arbeitsunteriage /erden zunächst mit einer insbesondere
bis 2 μ,ΐη starken Kittschicht verklebt, die bei für
3 den Halbleiter unschädlichen Temperaturen,
a) lösbare Befestigung einer kristallinen Halb- 60 spielsweise bei Zimmertemperatur, lösbar ist. Als Kitt
leiterscheibe auf der Arbeitsunterlage, wobei die kann dabei ein Kapillarkleber verwendet werden, der
so schwach viskos und so zusammengesetzt ist, daß er in dünner Schicht, insbesondere 1 bis 2 u stark,
blasenfrei zwischen Halbleiterscheibe und Arbeitsunterlage liegt. Er dringt in die Poren von Halbleiter
und Unterlage ein und erhärtet dort. Der Kitt soll chemisch kalt lösbar sein und gegen beim Schleifen
des Halbleiters benutzte Substanzen, wie Schmier-
Halbleiterscheibe im wesentlichen parallel zueinander ausgerichtete Anschlüsse einer leitenden
Phase enMiält und/oder wobei auf mindestens einer der Oberflächen der Halbleiterscheibe
leitende, parallel zueinander ausgerichtete Streifen aufgebrach*, sind;
b) Abschleifen oder Abätzen der Halbleiter-
b) Abschleifen oder Abätzen der Halbleiter-
mittel, sowie gegen Ätzmittel rcsistcnt sein. Derartige
im Handel erhiiltliche dünnflüssige Kleber dotieren den Halbleiter nicht merklich bzw. störend und sind
rückstandsfrei von ihm ablösbar.
Nach dem Befestigen der Halbleiterscheibe auf der Arbeitsunterlage wird der Halbleiter so bearbeitet,
daß er seine endgültige Form erhält. Dabei wird er auf 1 bis 100 |im, vorzugsweise 5 bis 50 (Lm, insbesondere
weniger als 20 μηι, abgeschliffen oder abgeätzt.
Die auf der Arbeitsunterlage befestigte Halbleiterscheibe kann außerdem auch auf einen vorgegebenen
Widerstandswert sowie eine gewünschte Oberflächenqualität geätzt werden. Es kann in ihn beispielsweise
auch eine Mäanderform geätzt werden. Beim Ätzen der Halbleiterscheibe haben sich Maskentechniken
bewährt.
Nach dieser Bearbeitung wird die Halbleiterscheibe von der Arbeitsunterlage gelöst. Dazu können chemische
Lösungsmittel verwendet werden, mit deren Hilfe die formgeätzte Halbleiterscheibe auch von der
Arbeitsunterlage abgeschwemmt werden kann, z. B. auf ein Nylontuch. Die einzelnen Halbleiterscheiben
können dann, z. B. mit Hilfe eines feuchten Pinsels oder ähnlicher Hilfsmittel, aufgenommen und im
nachfolgenden Verfahrensschritt auf die gewünschte Betriebsunterlage übertragen und dort befestigt werden.
Bei der Befestigung der Halbleiterscheiben auf der Betriebsunterlage kann z. B. Kitt, insbesondere
Arnidit. verwendet werden.
Die bearbeiteten Halbleiterscheiben werden mit elektrischen Anschlüssen versehen. Das kann in herkömmlicher
Weise geschehen. Es ist aber auch möglich, die Halbleiterscheibe beim Befestigen an der
Bctriebsunterlage in ün und demselben Arbeitsgang mit elektrischen Anschlüssen zu versehen. Beispielsweise
kann das dadurch geschehen, daß der Halbleiter nur mit seinen Kontaktstellen auf vorbereiteten
Kontaktflächen der Betriebsunterlage befestigt wird. Die Kontaktflächen auf der Betriebsunterlage können
metallisiert sein und z. B. ;aus mit Indium überzogenen Kupferflächen bestehen. Es ist dann möglich, das
Halbleiterplättchen durch Erhitzen der Kontaktstellen bzw. der Betriebsunterlage, insbesondere durch
Wärmestrahlung mit der Betriebsunterlage, zu verbinden und gleichzeitig zu kontaktieren.
Die Kontaktstellen der Halbleiterscheibe können
auch an metallisierte Bereiche der vorgesehenen Betriebsunterlage herangeführt werden. Durch Aufdampfen eines gut leitenden Materials, insbesondere
Silber oder Aluminium, z. B. mit einer Maskentechnik, können dann leitende Brücken zwischen den
metallisierten Bereichen und den Kontaktstellen des Halbleiters hergestellt weiden. Die Herstellung der
Kontakte durch Aufdampfen kann besonders vorteilhaft sein, da beim Aufdampfen keine Erhitzung der
Kontaktstellen erforderlich ist.
An Hand der schematischen Zeichnung von Ausführungsbeispielen wird das Verfahren nach der
Erfindung näher erläutert; es zeigen
Fig. 1 und 2 zwei Halbleiterscheiben vor deren
Bearbeitung,
F i g. 6 bis 16 verschiedene Möglichkeiten der weiteren erfinduugsgeaiäßen Verfahrensschritte bei Halbleitern mit magnetfeldabhifflgigem Widerstand.
In den Fig. 1 und 2 ist eine Halbleiterscheibe 1
vor der erfindungsgemäBen Bearbeitung gezeigt. 1IKe
Scheibe gemäß Fig. 1 enthält parallel ausgerichtete
Einschlüsse 2. Auf die Scheibe gemäß Fig. 2 sind leitende Streifen 3 aufgebracht. Beide Scheiben sowie
Scheiben, die sowohl Einschlüsse als auch Streifen besitzen, können erfindungsgemäß bearbeitet werden.
In F i g. 3 ist eine Halbleiterscheibe 1 mit einem —
wie oben beschrieben — kalt lösbaren Kitt S auf eine Arbeitsunterlage 4 aufgebracht. Fig. 4 zeigt den
Halbleiter, der nach dem Schleifen bzw. Ätzen mit 10 bezeichnet ist, noch auf der Arbeitsunterlage 4. Es
ίο ist in Fig. 4 auch ein Einschnitt 6 im Halbleiter zu
sehen, der auch in der perspektivischen Zeichnung der von der Arbeitsunterlage 4 abgelösten Halbleiterscheibe
gemäß F i g. 5 zu sehen ist. Wie sich aus den folgenden Figuren ergibt, kann die Halbleiterscheibe
is durch das Schleifen bzw. Atzen die mannigfaltigsten
Formen erhalten. Der Halbleiter ist unabhängig davon stets mit 10 bezeichnet.
In den Fig. 6 bis 16 sind einige Möglichkeiten
weiterei Verfahrensschritte bei flexiblen magnctfeld-
ao abhängigen Widerstandsa'iordnungen gezeigt. Es kann
für eine flexible Halbleiterscheibe als Bctriebmnteilage
unter anderem verwendet werden: eine ebene oder gewölbte Platte, der Mantel oder der Rand eines
Voll- oder Hohlzylinders, eine Folie, ein langgcstrcck-
a5 tes odei geschlossenes Band, eine gedruckte Schaltung
oder eine dem Luftspalt zugewandte ebene oder gewölbte Stirnfläche der lPolschuhc eines Magnetkreises
(evtl. unter Zwischenlegung einer Isolierung, wie
Kitt oder KunststoJ).
Gemäß Fig. 6 kann das flexible Halblciterplättchen
10 auf einer gewölbten Fläche 11 liegen In F i g. 7 ist ein Beispiel gezeichnet, in dem das HaIbleiterplättchen
10 mit dem Anschluß 7 auf dem Mantel des Zylinders 12 und das Halbleiterplättchen 10
mit den Anschlüssen 8 auf dem Rand eines Zylinders liegt. Das Halbleiterplättchen 10 kann auch auf einer
(biegsamen) Folie 13 gemäß Fig. 8 aufgebracht sein.
Eine solche Folie kann z. B. in einen gewölbten Luftspalt eines Magnetkreises leicht eingeschoben werden.
Statt der Folie 13 gemäß Fi g. 8 kann auch ein langgestrecktes
Band 15 gemäß F i g. 9 als Betriebsunterlage der flexiblen Halbleiterscheibchen 10 verwendet
werden. Das Band 15 kann endlos sein und über die Rollen 16 laufen. Die elektrischen Anschlüsse und
Zuleitungen 14 der Halbleiter können auch Bestandteil des Bandes sein.
Ein Beispiel einer gedruckten Schaltung mit biegsamen Halbleitern 10 ist in Fig. 10 gezeichnet. Das
Schaltbild ist in Fig. 11 angegeben. Die drei HaIb leiter 10 sind gemäß Fig. 10 mit einem Kontakt an
die Kontaktfläche 20 mit dem Anschluß E der (in der Regel biegsamen) Betriebsunterlage 19 leitend verbunden und mit den anderen Kontakten an die leitenden Bereiche 21 bis 23 mit den Zuleitungen 1 bis
III angeschlossen. Eine solche Schaltung mit drei symmetrisch um 120° auf einem Kreis versetzten
magnetfeldabhängigen Widerständen 10 ist z. B. für einen Schaltkopf zum Kontmutieren elektrischer
Maschinen geeignet, wie er im deutschen Patent
β« 1 563 009 beschrieben ist.
In Fig. 12 ist ein biegsames Hatbletterplättchen 10 gezeichnet, das zwischen die (der Einfachheit halber eben gezeichneten) Polschuhe 25 und 26 eines
Magneten gesetzt ist Dabei kann das Halbleiterplatt-
chen nut den Schichten 27 und 28 gegen die Polschuhe elektrisch isoliert sein. Bei einem derartigen
Magnetkreis wurden bei Ansfnnnmgeispien Luftspalte auf weniger als 40 pm Breite hergestellt, wobei
fr
die zur Luftspaltbreite gehörigen Isolierschichten 27
und 28 bis über 1000 V spannungsfest waren.
In Fig. 13 ist eivi gekrümmtes Halbleiterscheibchen
10 gezeichnet, das in einen Magnetkreis gesetzt ist, dessen radial magnetisierte Polschuhe 30 und 31
gegeneinander um die Achse 32 verdrehbar sind und dessen Luftspalt bei 33 stark erweitert ist. Befindet
sich das Plättchen 10 also ganz im erweiterten Luftspalt 33, so ist es praktisch magnetfeldfrei, befindet
sich das Plättchen 10 im schmalen Bereich des Luftspaltes, so ist es einem starken Magnetfeld ausgesetzt.
Bei Ausführungsbeispielen konnten flexible Halbleiterscheiben, z. B. gemäß Fig. 13, auf einen Krümmungsradius
bis herab zu etwa 7 mm gebogen werden.
In den Fig. 14 bis 16 ist gezeigt, wie erfindungsgemäße
Halbleiter 10 kontaktiert werden können. Die Betriebsunterlage 35 gemäß Fig. 14 kann vor dem
Anbringen des Halbleiters 10 mit Kontaktflächen 36 und 37 und deren Anschlüssen 40 versehen sein. Das
Halbleiterscheibchen 10 kann dann durch Lötung,
insbesondere durch berührungsloses Löten mittels Wärmestrahlung, mit den Kontakten 36, 37 verbunden
werden. Dabei ist es möglich, daß nur die Kontaktstellen des Halbleiterschtiibchens auf der Betriebsunterlage
aufliegen und die übrigen Bereiche des Scheibchens 10 frei von jeder Unterlage sind. Ein
solches Beispiel ist in Fig. 15 gezeichnet, wobei Fig. 16 einen Schnitt längs der LinieXVI-XVI von
Fig. 15 ist. In den Fig. 15 und 16 sind gleiche Teile
ίο wie in Fig. 14 bezeichnet. Der Halbleiter 10 gemäß
Fig. 15 und 16 ist jedoch durch Aufdampfen einer
elektrisch leitenden Schicht 41 über den Kontaktbereich 36 bzw. 37, der Betriebsunterlage 35 und die
Kontaktstellen des Halbleiters 10 mit der Betriebsunterlage kontaktiert und verbunden. Dabei ist es
zweckmäßig — vor dem Anlegen des Halbleiters 10 an die Bctriebsunterlage — an die vorgesehene Berührungsstelle
etwas Kitt zu bringen, damit dieser — wie bei 42 gezeichnet — den Spalt zwischen dem
ao Kontaktbereich 36 bzw. 37 Und dem Halbleiter 10
ausfüllt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Kontaktierung dar Halbleiterscheibe (10) durch Erhitzen der Kontaktstellen, insbesondere durchIt Verfahren zum Herstellen einer magnetfeld- Wärmestrahlung, erfolgt,abhängigen Widerstandsanordnung, derart gerin- 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch ge-ger Dicke, daß sie beliebig geformt, z, B, auch 5 kennzeichnet, daß die Kontaktstellen der von dergekrümmt sein kann, wobei ein Verfahrensschritt Arbeitsunterlage (4) abgelösten Halbleiterscheibeim stoffscbltissigen Aufbringen auf eine später (10) an metallisierte Bereiche (36, 37) der Be-wieder entfernte ebene Arbeitsunterlage besteht, triebsunterlage (35) herangeführt werden und daßgekennzeichnet durch die Gesamtheit durch Aufdampfen eines gutleitenden Materials,der folgenden Verfahrensschritte io insbesondere Silber oder Aluminium, ζ. Ρ mittelsa) lösbare Befestigung einer kristallinen Maskentechnik, leitende Brücken (41) zwischen Halbleiterscheibe (1) auf der Arbeitsunter- den metallisierten Bereichen (36, 37) und den lage(4), wobei die Halbleiterscheibe(1) im Kontaktstellen hergestellt werden (Fig. 15 und wesentlichen parallel zueinander ausgerich- 16).tete Einschlüsse einer leitenden Phase ent- 15 9. Verfahren nach einem der Ansprüche I bis 8, hält und/oder wobei auf mindestens einer dadurch gekennzeichnet, daß vor der Befestigung der Oberflächen der Halbleiterscheibe (1) der Halbleiterscheibe (1) auf der Arbeitsunterleitende, parallel zueinander ausgerichtete lage (4) eine ihrer Oberflächen, die zum Befesti-Streifen aufgebracht sind; gen auf der Arbeitsunterlage (4) vorge^-hen ist,b) Abschleifen oder Abätzen der Halb- 20 plangeschliffen und anschließend einer Polierleiterscheibe (1) auf weniger als 100 μΐη, ätzung unterzogen wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES0106756 | 1966-10-28 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1665794A1 DE1665794A1 (de) | 1971-12-23 |
DE1665794B2 DE1665794B2 (de) | 1973-11-15 |
DE1665794C3 true DE1665794C3 (de) | 1974-06-12 |
Family
ID=7527639
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1665794A Expired DE1665794C3 (de) | 1966-10-28 | 1966-10-28 | Verfahren zum Herstellen einer magnetfeldabhängigen Widerstandsanordnung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3534467A (de) |
DE (1) | DE1665794C3 (de) |
GB (1) | GB1203106A (de) |
NL (1) | NL154627B (de) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3951707A (en) * | 1973-04-02 | 1976-04-20 | Kulite Semiconductor Products, Inc. | Method for fabricating glass-backed transducers and glass-backed structures |
DE2530625C2 (de) * | 1975-07-09 | 1982-07-08 | Asahi Kasei Kogyo K.K., Osaka | Verfahren zur Herstellung eines Hall-Elementes |
FR2344940A1 (fr) * | 1976-03-18 | 1977-10-14 | Electro Resistance | Procede pour la fabrication de resistances electriques a partir d'une feuille metallique fixee sur un support isolant et dispositif s'y rapportant |
US4946735A (en) * | 1986-02-10 | 1990-08-07 | Cornell Research Foundation, Inc. | Ultra-thin semiconductor membranes |
US4952446A (en) * | 1986-02-10 | 1990-08-28 | Cornell Research Foundation, Inc. | Ultra-thin semiconductor membranes |
DE3903919A1 (de) * | 1989-02-10 | 1990-08-16 | Helmut Dr Weidlich | Verfahren zur nutzbarmachung der kinetischen energie von elektronen |
US5270485A (en) * | 1991-01-28 | 1993-12-14 | Sarcos Group | High density, three-dimensional, intercoupled circuit structure |
US5273622A (en) * | 1991-01-28 | 1993-12-28 | Sarcos Group | System for continuous fabrication of micro-structures and thin film semiconductor devices on elongate substrates |
US5269882A (en) * | 1991-01-28 | 1993-12-14 | Sarcos Group | Method and apparatus for fabrication of thin film semiconductor devices using non-planar, exposure beam lithography |
US5955776A (en) * | 1996-12-04 | 1999-09-21 | Ball Semiconductor, Inc. | Spherical shaped semiconductor integrated circuit |
US6063200A (en) * | 1998-02-10 | 2000-05-16 | Sarcos L.C. | Three-dimensional micro fabrication device for filamentary substrates |
US6251550B1 (en) | 1998-07-10 | 2001-06-26 | Ball Semiconductor, Inc. | Maskless photolithography system that digitally shifts mask data responsive to alignment data |
US6529262B1 (en) | 1999-04-14 | 2003-03-04 | Ball Semiconductor, Inc. | System and method for performing lithography on a substrate |
US6500694B1 (en) * | 2000-03-22 | 2002-12-31 | Ziptronix, Inc. | Three dimensional device integration method and integrated device |
US6984571B1 (en) | 1999-10-01 | 2006-01-10 | Ziptronix, Inc. | Three dimensional device integration method and integrated device |
US6379867B1 (en) | 2000-01-10 | 2002-04-30 | Ball Semiconductor, Inc. | Moving exposure system and method for maskless lithography system |
US6902987B1 (en) * | 2000-02-16 | 2005-06-07 | Ziptronix, Inc. | Method for low temperature bonding and bonded structure |
US6425669B1 (en) | 2000-05-24 | 2002-07-30 | Ball Semiconductor, Inc. | Maskless exposure system |
US6509955B2 (en) | 2000-05-25 | 2003-01-21 | Ball Semiconductor, Inc. | Lens system for maskless photolithography |
US6537738B1 (en) | 2000-08-08 | 2003-03-25 | Ball Semiconductor, Inc. | System and method for making smooth diagonal components with a digital photolithography system |
US6493867B1 (en) | 2000-08-08 | 2002-12-10 | Ball Semiconductor, Inc. | Digital photolithography system for making smooth diagonal components |
US6563133B1 (en) | 2000-08-09 | 2003-05-13 | Ziptronix, Inc. | Method of epitaxial-like wafer bonding at low temperature and bonded structure |
US6498643B1 (en) | 2000-11-13 | 2002-12-24 | Ball Semiconductor, Inc. | Spherical surface inspection system |
US6473237B2 (en) | 2000-11-14 | 2002-10-29 | Ball Semiconductor, Inc. | Point array maskless lithography |
US6512625B2 (en) | 2000-11-22 | 2003-01-28 | Ball Semiconductor, Inc. | Light modulation device and system |
US6433917B1 (en) | 2000-11-22 | 2002-08-13 | Ball Semiconductor, Inc. | Light modulation device and system |
US20030025979A1 (en) * | 2001-07-31 | 2003-02-06 | Ball Semiconductor, Inc. | Surface distortion compensated photolithography |
US6965387B2 (en) * | 2001-08-03 | 2005-11-15 | Ball Semiconductor, Inc. | Real time data conversion for a digital display |
US6870604B2 (en) * | 2002-04-23 | 2005-03-22 | Ball Semiconductor, Inc. | High resolution point array |
US7164961B2 (en) * | 2002-06-14 | 2007-01-16 | Disco Corporation | Modified photolithography movement system |
US7109092B2 (en) | 2003-05-19 | 2006-09-19 | Ziptronix, Inc. | Method of room temperature covalent bonding |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2884508A (en) * | 1956-10-01 | 1959-04-28 | Dresser Ind | Thin metal films and method of making same |
US2984897A (en) * | 1959-01-06 | 1961-05-23 | Bell Telephone Labor Inc | Fabrication of semiconductor devices |
US3152939A (en) * | 1960-08-12 | 1964-10-13 | Westinghouse Electric Corp | Process for preparing semiconductor members |
FR1276723A (fr) * | 1960-10-11 | 1961-11-24 | D Electroniques Et De Physique | Perfectionnements aux procédés de fabrication de dispositifs photo-électriques semi-conducteurs et à de tels dispositifs |
US3365794A (en) * | 1964-05-15 | 1968-01-30 | Transitron Electronic Corp | Semiconducting device |
US3247579A (en) * | 1964-05-18 | 1966-04-26 | Microwave Electronics Corp | Circuit fabrication method |
US3343255A (en) * | 1965-06-14 | 1967-09-26 | Westinghouse Electric Corp | Structures for semiconductor integrated circuits and methods of forming them |
-
1966
- 1966-10-28 DE DE1665794A patent/DE1665794C3/de not_active Expired
-
1967
- 1967-09-29 NL NL676713284A patent/NL154627B/xx not_active IP Right Cessation
- 1967-10-24 US US677649A patent/US3534467A/en not_active Expired - Lifetime
- 1967-10-25 GB GB48593/67A patent/GB1203106A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3534467A (en) | 1970-10-20 |
NL154627B (nl) | 1977-09-15 |
DE1665794A1 (de) | 1971-12-23 |
DE1665794B2 (de) | 1973-11-15 |
GB1203106A (en) | 1970-08-26 |
NL6713284A (de) | 1968-04-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1665794C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer magnetfeldabhängigen Widerstandsanordnung | |
EP0275433B1 (de) | Verfahren zur Befestigung von elektronischen Bauelementen auf einem Substrat, Folie zur Durchführung des Verfahrens und Verfahren zur Herstellung der Folie | |
DE68910368T2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterkörpers. | |
DE4415132C2 (de) | Verfahren zur formgebenden Bearbeitung von dünnen Wafern und Solarzellen aus kristallinem Silizium | |
DE2951287A1 (de) | Verfahren zur herstellung von ebenen oberflaechen mit feinsten spitzen im mikrometer-bereich | |
DE2901968A1 (de) | Verfahren zur positionierung und planisierung eines substrats | |
DE2620998A1 (de) | Verfahren zur herstellung von traegern fuer die verarbeitung von ic-chips | |
DE1047911B (de) | Verfahren zur Herstellung temperaturempfindlicher Hochohmwiderstaende geringer Waermetraegheit, insbesondere zur Strahlungsmessung | |
DE2355661C3 (de) | Magnetempfindliches Dünnschichthalbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE840407C (de) | Siliziumkoerper fuer elektrische Zwecke | |
DE1090259B (de) | Verfahren zur ferroelektrischen Aufzeichnung und Wiedergabe von breitbandigen Signalen | |
DE2247579C3 (de) | Verfahren zum Befestigen von Aufdampfmasken auf Halbleiterscheiben für Solarzellen | |
DE3035933A1 (de) | Pyroelektrischer detektor sowie verfahren zur herstellung eines solchen detektors | |
DE3043638C2 (de) | ||
DE2530625C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Hall-Elementes | |
DE102004015013B4 (de) | Verfahren zur Bearbeitung von Festkörpern | |
DE2459663C2 (de) | Verfahren zum herstellen von supraleitfaehigen mikrobruecken | |
DE602005004562T2 (de) | Verfahren zur herstellung einer rfid-antenne | |
DE2002404B2 (de) | Spannungsabhaengiger widerstand aus einer isolierfolie mit darin eingebetteten koernern aus halbleitermaterial | |
DE2608427A1 (de) | Verfahren zum aufkitten von halbleiterscheiben | |
AT318253B (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Schneiden von dünnen Präparatscheiben | |
DE2707931A1 (de) | Verfahren zum aufbringen einer schutzschicht auf halbleiterbauelementen | |
DE4137238C1 (en) | Process for coating superconductor on both sides of polished substrates - includes coating at high temp., cooling in oxygen@ atmos. to room temp. etc. | |
DE10042951A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Verringerung der Schichtdicke eines plattenförmigen Trägerelements | |
DE1260033C2 (de) | Verfahren zum herstellen von halbleiteranordnungen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 |