DE112011102860T5 - Anordnung und Verfahren - Google Patents
Anordnung und Verfahren Download PDFInfo
- Publication number
- DE112011102860T5 DE112011102860T5 DE112011102860T DE112011102860T DE112011102860T5 DE 112011102860 T5 DE112011102860 T5 DE 112011102860T5 DE 112011102860 T DE112011102860 T DE 112011102860T DE 112011102860 T DE112011102860 T DE 112011102860T DE 112011102860 T5 DE112011102860 T5 DE 112011102860T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- starting material
- substrate
- source
- arrangement according
- arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45544—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
- C23C16/45548—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45544—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
- C23C16/45548—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction
- C23C16/45551—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction for relative movement of the substrate and the gas injectors or half-reaction reactor compartments
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45544—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zur Bearbeitung einer Oberfläche (4) eines Substrats (2), indem die Oberfläche (4) des Substrats alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials (A) und eines zweiten Startmaterials (B) gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahrens ausgesetzt wird. Gemäß der Erfindung wird ein erstes Startmaterial (A) mit Hilfe einer Quelle (6, 7, 8) auf die Oberfläche (4) des Substrats (2) örtlich zugeführt, indem die Quelle (6, 7, 8) in Bezug auf das Substrat (2) bewegt wird, und die mit dem ersten Startmaterial (A) bearbeitete Oberfläche (4) des Substrats (2) einem zweiten, in einer die Quelle (6, 7, 8) umgebenden Atmosphäre (1) vorhandenen Startmaterial ausgesetzt wird.
Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG
- Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zur Bearbeitung einer Oberfläche eines Substrats, indem die Oberfläche des Substrats alternierenden Oberflächenreaktionen von Startmaterialien ausgesetzt wird. Im Besonderen betrifft die aktuelle Erfindung eine Anordnung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 zur Bearbeitung einer Oberfläche eines Substrats, indem die Oberfläche des Substrats alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials und eines zweiten Startmaterials gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahrens ausgesetzt wird. Insbesondere betrifft die aktuelle Erfindung auch das Verfahren des Oberbegriffs des Patentanspruchs 20 zur Bearbeitung einer Oberfläche eines Substrats, indem die Oberfläche des Substrats alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials und eines zweiten Startmaterials gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahrens ausgesetzt wird.
- Das Atomschichtdepositionsverfahren (ALD) gründet sich auf eine Deposition, die durch eine Oberfläche kontrolliert wird, wobei die Startmaterialien eines nach dem anderen innerhalb eines ALD-Reaktors auf die Oberfläche des Substrats nicht-simultan und gegenseitig getrennt geführt werden. Traditionell wird ein Startmaterial auf die Oberfläche des Substrats in einer genügenden Menge derart gebracht, dass alle zur Verfügung stehenden Bindungsstellen der Oberfläche in Gebrauch sind. Nach jedem Startmaterialpuls wird das Substrat mit Inertgas gespült, um überflüssigen Startmaterialdampf zu entfernen, um zu vermeiden, dass die Deposition in der Gasphase stattfindet. Dann wird eine chemosorbierte Monoschicht des Reaktionsprodukts eines Startmaterials auf der Oberfläche verbleiben. Diese Schicht reagiert mit dem nächsten Startmaterial und bildet eine partielle Monoschicht des gewünschten Materials. Wenn die Reaktion vollständig genug stattgefunden hat, wird eine überflüssige Menge dieses zweiten Startmaterialdampfes mit Inertgas gespült, so dass die Deposition auf gesättigte Oberflächenreaktionen beruht, das heißt dass die Oberfläche die Deposition kontrolliert. Gemäß einer bekannten Technik wird das zuvor erwähnte Verfahren in einem ALD-Reaktor durchgeführt, in dem das zu bearbeitende Substrat platziert ist.
- Ein Problem in der Anordnung gemäß dem oben beschriebenen Stand der Technik ist, dass es mit ALD-Reaktoren nicht möglich ist, derart große Stücke zu bearbeiten, dass sie nicht in einen ALD-Reaktor hineinpassen. Dies begrenzt die Verwendung des ALD-Verfahrens in vielen Anwendungen erheblich. Ein anderes Problem ist, dass das ALD-Verfahren gemäß einer bekannten Technik mit einem Vakuum verwendet wird. Wenn zum Beispiel innere Oberflächen von Behältern deponiert werden, kann der Behälter selbst einen ALD-Reaktor bilden, in dem das Vakuum erzeugt wird. Jedoch können die Wandstärken derartiger Behälter oft nicht genügend sein, und der Behälter kann dem notwendigen Vakuum nicht widerstehen und der Behälter kann zusammenbrechen. Außerdem kann das Zuführen von Startmaterialien hintereinander in große Behälter schwierig und zeitaufwendig sein, da das Füllen und Leeren großer Behälter langsam ist. Außerdem werden alle in den Behälter platzierten Oberflächen des Substrats Oberflächenreaktionen ausgesetzt sein, weshalb es nicht möglich ist, nur Teile der Oberfläche des Substrats Oberflächenreaktionen auszusetzen, ohne Masken auf die Oberfläche des Substrats zu montieren, die einen Teil der Oberfläche des Substrats abdecken. Das Platzieren derartiger Masken ist jedoch oft langsam und kompliziert.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
- Ein Gegenstand der Erfindung ist somit, eine Anordnung und ein Verfahren zu entwickeln, welche die oben erwähnten Probleme lösen. Der Gegenstand der Erfindung wird durch die Anordnung gemäß dem kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 gelöst, der dadurch gekennzeichnet ist, dass die Anordnung eine oder mehrere Quellen zum örtlichen Zuführen eines ersten Startmaterials auf eine Oberfläche des Substrats aufweist, und dadurch, dass die Quelle in einer Atmosphäre, die ein zweites Startmaterial aufweist, platziert ist. Der Gegenstand der Erfindung wird weiterhin durch ein Verfahren gemäß dem kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 20 erreicht, der dadurch gekennzeichnet ist, dass das Verfahren das örtliche Zuführen eines ersten Startmaterials auf die Oberfläche des Substrats mit Hilfe der Quelle umfasst, indem die Quelle in Bezug auf das Substrat bewegt wird und die Oberfläche des mit dem ersten Startmaterial bearbeiteten Substrats einem zweiten, in der die Quelle umgebenden Atmosphäre vorhandenen zweiten Startmaterial ausgesetzt wird.
- Die bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.
- Die Erfindung beruht darauf, dass eine Anordnung zur Verfügung gestellt wird, die eine oder mehrere Quellen zum örtlichen Zuführen eines Startmaterials auf die Oberfläche des Substrats aufweist. Die Quelle kann zum Beispiel eine Düse, ein Düsenkopf oder dergleichen sein, die angeordnet ist, ein erstes Startmaterial, auf die Oberfläche des Substrats zuzuführen. Das erste Startmaterial reagiert mit der Oberfläche des Substrats und bildet eine Monoschicht auf die Oberfläche des Substrats. Die Quelle ist bewegbar in Bezug auf die Oberfläche des Substrats angeordnet, derart dass es möglich ist, mit der Quelle über die Oberfläche des Substrats oder einen Teil der Oberfläche zu fegen, indem diese unter dem Fegen befindliche Oberfläche des Substrats einem ersten Startmaterial ausgesetzt wird. Die relative Bewegung der Quelle und des Substrats können erreicht werden, indem nur die Quelle bewegt wird oder indem nur das Substrat bewegt wird oder indem sowohl das Substrat als auch die Quelle in Bezug auf einander bewegt werden. Gemäß der aktuellen Erfindung sind das Substrat und die Quelle in einer Atmosphäre platziert, die ein zweites Startmaterial aufweist. Mit anderen Worten weist die Anordnung der Erfindung Zuführmittel zum Zuführen eines zweiten Startmaterials an die, die Quelle umgebende Atmosphäre auf. Somit, wenn die Oberfläche des Substrats örtlich mit Hilfe der Quelle einem ersten Startmaterial ausgesetzt wird, wird es, nachdem es durch die Quelle gefegt worden ist, einem zweiten Startmaterial ausgesetzt, das in der das Substrat umgebenden Atmosphäre vorhanden ist. Das zweite Startmaterial reagiert mit dem ersten Startmaterial und bildet eine Monoschicht auf der Oberfläche des Substrats. Diese durch das zweite Startmaterial geformte Monoschicht ihrerseits reagiert mit dem ersten, von der Quelle zugeführten zweiten Startmaterial nach dem nächsten Fegen. Somit kann die Oberfläche des Substrats örtlich mit Hilfe der Quelle bearbeitet werden, wenn Oberflächenreaktionen auf der Oberfläche des Substrats nur an Stellen stattfinden, die durch die Quelle gefegt wurden, um die Oberfläche des Substrats dem ersten Startmaterial auszusetzen.
- Wie oben beschrieben, kann die Anzahl mit der Quelle durchgefügten Fegungen dazu dienen, die gewünschte Anzahl der Depositionsschichten und somit zum Beispiel die Dicke der gewünschten Deposition zu bestimmen, weil als Resultat jedes Fegens eine Monoschicht des ersten und des zweiten Startmaterials auf der Oberfläche des Substrats gebildet wird. Eine Oberfläche zu bearbeiten bedeutet in dieser Anwendung generell, eine Oberfläche zu deponieren, eine Oberflächenschicht zu legieren und/oder einige andere entsprechende Prozeduren zur Bearbeitung einer Oberfläche oder einer Oberflächenschicht. Auf der Oberfläche des Substrats bedeutet in diesem Zusammenhang sowohl die äußere Oberfläche als auch die innere Oberfläche eines porösen Substrats, die durch die Porosität zur Verfügung gestellt werden.
- Ein Vorteil des Verfahrens und der Anordnung der Erfindung ist, dass sie erlauben, das ALD-Verfahren auch zur Bearbeitung von Oberflächen großer Stücke zu verwenden, was früher nicht möglich gewesen ist wegen der dimensionalen Begrenzungen, die die ALD-Reaktoren zur Verfügung gestellt haben. Zusätzlich erlaubt die aktuelle Erfindung das örtliche Bearbeiten von derartigen großen Stücken oder Oberflächen, wenn das Bearbeiten der ganzen Oberfläche nicht gewünscht oder vorzuziehen ist, was mit ALD-Reaktoren gemäß des bekannten Standes der Technik nicht möglich gewesen ist. Weiterhin ist es in der Lösung gemäß der aktuellen Erfindung nicht notwendig, überhaupt ein Vakuum zu verwenden, oder ein Vakuum kann nur auf der Stelle der Düsenoberfläche erzeugt werden, weshalb dünnwandige Stücke nicht einem Vakuum ausgesetzt werden, was die Wand aufbrechen könnte oder einen dünnwandigen Behälter zusammenbrechen lassen könnte. Zusätzlich erlaubt die aktuelle Erfindung, schnell große Stücke mit dem ALD-Verfahren zu bearbeiten und effizient Startmaterialien und mögliche Spülagenzien zu verwenden, indem die durch deren Überfluss erzeugte Menge Abfall minimiert wird.
- KURZE BESCHREIBUNG DER FIGUREN
- Die Erfindung wird jetzt detaillierter im Zusammenhang mit bevorzugten Ausführungsformen beschrieben, unter Hinweis auf die beigefügten Zeichnungen, in denen:
- die
1 schematisch eine Ausführungsform der Anordnung gemäß der aktuellen Erfindung zeigt; - die
2A und2B schematisch, eine andere Ausführungsform der Anordnung gemäß der aktuellen Erfindung zeigen; - die
3 schematisch eine weitere Ausführungsform der Anordnung gemäß der aktuellen Erfindung zeigt; - die
4 schematisch noch eine weitere Ausführungsform der Anordnung gemäß der aktuellen Erfindung zeigt; und - die
5 schematisch eine Seitenansicht der Anordnung gemäß der4 zeigt. - DETAILIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
- Unter Hinweis auf die
1 wird eine erste Ausführungsform der Anordnung der aktuellen Erfindung gezeigt. Gemäß der1 weist die Anordnung eine Quelle6 auf, die auf die Oberfläche4 des zu bearbeitenden Substrats2 platziert werden kann. Die Quelle6 weist eine Düsenoberfläche auf, die gegen die Oberfläche4 des zu bearbeitenden Substrats2 oder auf die Oberfläche4 innerhalb einer Entfernung von der Oberfläche4 derart platziert werden kann, dass die Düsenoberfläche einen Teil der Oberfläche4 des Substrats2 abdecken wird. Somit bedeutet die Düsenoberfläche in diesem Zusammenhang die Oberfläche der Quelle6 , die gegen die Oberfläche4 des Substrats2 oder auf die Oberfläche4 platziert ist. Mit Hilfe der Quelle wird ein erstes Startmaterial A über die Düsenoberfläche auf die Oberfläche4 des Substrats2 in dem durch die Düsenoberfläche abgedeckten Bereich derart geführt, dass in diesem durch die Düsenoberfläche abgedeckten Bereich die Oberfläche4 des Substrats2 einem ersten Startmaterial A ausgesetzt werden kann. Das erste Startmaterial A kann zusammen mit einem Trägergas zugeführt werden, welches Trägergas ein Inertgas sein kann, das nicht an den Oberflächenreaktionen auf der Oberfläche4 des Substrats2 teilnimmt. Gemäß der1 weist die Quelle6 einen Startmaterialraum13 auf, dem das erste Startmaterial A mit Hilfe von Gaszuführmitteln14 zugeführt werden kann, welche in Flüssigkeitsverbindung mit dem Startmaterialraum13 stehen. Die Gaszuführmittel14 können irgendwelche Verbindungen, Schläuche, Startmaterialeinlagen und ähnliche Mittel und notwendige Teile aufweisen, um das erste Startmaterial A zu erzeugen und dem Startmaterialraum13 zuzuführen. In der Ausführungsform der1 ist ein Gaszuführgerät16 , wie zum Beispiel eine Öffnungsplatte oder dergleichen, in dem oberen Teil des Startmaterialraums13 angeordnet, um das erste Startmaterial A, das aus Gaszuführmitteln14 herstammt dem Startmaterialraum3 gleichmäßig zuzuführen. Der Startmaterialraum13 weist eine offene Wand oder einen Bereich auf, die/der auf die Düsenoberfläche mündet, die eine Startmaterialzone10 bildet, von der, das erste, dem Startmaterialraum13 zugeführte Startmaterial A Verbindung mit der Oberfläche4 des Substrats2 erreichen wird. Mit anderen Worten kann gemäß der aktuellen Erfindung das erste Startmaterial A durch die Startmaterialzone10 in dem Bereich der Oberfläche4 des Substrats2 ausströmen, welcher Bereich durch die Düsenoberfläche und insbesondere unterhalb der Startmaterialzone10 abgedeckt ist, wobei die Quelle6 gegen die Oberfläche4 des Substrats2 oder auf der Oberfläche4 platziert ist. Der Startmaterialraum13 der Quelle6 bildet somit eine ALD-Reaktionskammer mit einem Teil der Oberfläche4 des Substrats2 , auf dem sich die Quelle6 befindet. Dann kann die Deposition von Material gemäß dem ALD-Verfahren an diesem Teil der Oberfläche4 des Substrats2 stattfinden, der durch die Startmaterialzone10 der Quelle6 unter Einfluss des ersten Startmaterials A abgedeckt ist. Die Düsenoberfläche der Quelle6 kann weiterhin mit Borsten30 versehen sein, die die Startmaterialzone10 umgeben und von der Düsenoberfläche derart nach außen hervortreten, dass ein Schlitz zwischen der Düsenoberfläche und der Oberfläche4 des Substrats2 bleibt. Dieser Schlitz zusammen mit den Borsten30 erlaubt, dass der Überfluss des dem Startmaterialraum13 zugeführten Startmaterials aus dem Startmaterialraum13 hinaustritt und gleichzeitig erlauben die Borsten die Verwendung der Quelle6 auch an deren Oberflächen, welche Unregelmäßigkeiten aufweisen, die klein sind oder niedriger sind als die Höhe der Borsten30 . Eine Unterdosierung oder eine Quasi-Unterdosierung kann auch dem Startmaterialraum13 zugeführt werden, weshalb im Wesentlichen sämtliches zugeführtes Startmaterial A mit der Oberfläche4 des Substrats2 reagiert. Wenn eine Unterdosierung verwendet wird, kann kein zusätzliches Startmaterial A aus dem Startmaterialraum13 fließen. - Gemäß der Erfindung ist die Quelle
6 bewegbar gebildet, so dass sie entlang der Oberfläche4 des Substrats2 bewegt werden kann, wobei die Düsenoberfläche sich gegen die Oberfläche4 des Substrats2 oder auf der Oberfläche innerhalb einer Entfernung dazu befindet. Mit anderen Worten wird die Quelle6 in Bezug auf das Substrat2 bewegt. Alternativ kann die Quelle6 stationär sein, und das Substrat2 , wie das Materialnetz, kann in Bezug auf die Quelle6 bewegt werden, wobei die Quelle6 gegen die oder über der Oberfläche4 des Substrats platziert ist. Auch können sowohl das Substrat2 als auch die Quelle6 bewegt werden, um eine relative Bewegung zu erhalten. In noch einer anderen Ausführungsform kann die Quelle6 gegen die oder über der Oberfläche4 des Substrats2 platziert werden, von der Oberfläche4 abgehoben werden und auf den nächsten Platz überführt werden und wieder gegen oder über die Oberfläche4 des Substrats2 platziert werden. Dann wird die Quelle6 nicht entlang der Oberfläche des Substrats bewegt, sondern auf einen gewünschten Platz platziert, entfernt und auf die nächste Stelle auf dem Substrat2 platziert. - Indem die Quelle
6 gemäß der1 verwendet wird, ist es möglich, die Oberfläche4 des Substrats2 gemäß dem ALD-Verfahren zu bearbeiten, indem mit Hilfe von Gaszuführmitteln14 ein erstes Startmaterial in den Startmaterialraum13 gebracht wird, wobei die Oberfläche4 des Substrats2 einer Oberflächenreaktion ausgesetzt wird, die durch das erste Startmaterial B zur Verfügung gestellt wird. Indem das erste Startmaterial A als Unterdosierung relativ zur Kapazität der Oberfläche4 des Substrats2 zugeführt wird, um Startmaterialien zu binden, wird sich im Wesentlichen sämtliches zugeführtes Startmaterial A auf die Oberfläche3 des Substrats2 binden, so dass es nicht notwendig ist, die Oberfläche gesondert zu spülen. Im Falle einer Überdosierung wird das überflüssige Startmaterial A durch die Borsten30 oder den Schlitz zwischen der Düsenoberfläche und der Oberfläche4 des Substrats2 hinaustreten. Gemäß der1 ist die Quelle6 in einem Raum platziert, deren Atmosphäre1 ein zweites Startmaterial B aufweist. Dieser Raum mit der Atmosphäre1 kann zum Beispiel eine separate Kammer oder eine Raum oder ein anderer entsprechender Raum sein, in dem die Atmosphäre1 , die das zweite Startmaterial B enthält, aufrechterhalten werden kann. Die relative Bewegung der Quelle6 auf der Oberfläche4 des Substrats2 setzt die Oberfläche4 dem ersten Startmaterial A aus, wenn die Düse über die Oberfläche4 fegt und die Oberfläche4 wird nach dem Fegen dem zweiten Startmaterial B ausgesetzt, das in der Atmosphäre1 des Raums vorhanden ist, wenn die Quelle den Platz der Oberfläche4 des Substrats2 nicht mehr abdeckt, welche durch die Quelle6 gefegt wurde. Somit erzeugt ein Fegen der Quelle6 über die Oberfläche4 des Substrats2 auf der Oberfläche4 eine Depositionsschicht des ersten und zweiten Startmaterials A, B, um einen vollständigen ALD-Zyklus durchzuführen. Indem dem Startmaterialraum13 eine Unterdosierung des ersten Startmaterials A in Bezug auf die Kapazität der Oberfläche4 zugeführt wird, um das Startmaterial A zu binden, kann der Bedarf des Spülens der Oberfläche4 eliminiert werden, weil das gesamte über die Startmaterialzone10 auf die Oberfläche zugeführte Startmaterial A sich an die Oberfläche4 bindet. Gleichzeitig fließt das zuzuführende Trägergas mit dem ersten Startmaterial A durch die Borsten weg von der Düsenoberfläche, indem das in der Atmosphäre1 vorhandene zweite Startmaterial B weggeblasen wird, und dadurch gehindert wird, unter die Düsenoberfläche zu gelangen. Die Bewegungsrate der Quelle6 in Bezug auf das Substrat2 und die Zuführrate des ersten Startmaterials A in den Startmaterialraum13 kann derart dimensioniert werden, dass ein gewünschter Unterdosierungszustand oder ein anderer Zustand erreicht wird. Somit kann durch eine relative Hin- und Herbewegung der Quelle6 auf der Oberfläche4 des Substrats2 eine gewünschte Menge von Depositionsschichten erhalten werden, mit jedem Fegen der Düse6 wird eine Depositionsschicht erhalten. In der1 ist die Hin- und Herbewegung der Düse durch den Pfeil M illustriert. Die Anordnung kann auch zwei oder mehrere Quellen6 aufweisen, die zum Beispiel auf einander platziert werden können, so dass das Substrat2 unterhalb dieser Quellen passieren kann und dem zweiten, in der Atmosphäre1 vorhandenen Startmaterial B zwischen den Quellen ausgesetzt werden kann. - In den
2A und2B wird eine besondere Ausführung der lamellar strukturierten Düsenoberfläche der Quelle6 gezeigt. Diese Quelle6 gemäß den2A und2B entspricht mit ihren Betriebsprinzipien und Anwendungen im Wesentlichen der Quelle der1 , aber in dieser Quelle6 gemäß den2A und2B ist eine lamellare Struktur zur Zuführung von Spülagenzien sowie zur Saugwirkung vorhanden, um die Spülagenzien und die Startmaterialien zu extrahieren. In der Ausführungsform der2A und2B weist die Düsenoberfläche eine Startmaterialzone10 auf, über die das erste Startmaterial A auf die Oberfläche4 des Substrats2 zugeführt wird. In der2A wird eine Planansicht der Düsenoberfläche gezeigt, die in der Mitte eine Startmaterialzone10 aufweist, der das erste Startmaterial A mit Hilfe von Gaszuführmitteln14 zugeführt wird. Die Startmaterialzone10 ist von einer Saugzone24 umgeben, auf der eine Saugwirkung oder ein Vakuum durch Saugmittel oder Vakuummittel27 erzeugt wird, welche mit dem Saugraum19 in Flüssigkeitsverbindung stehen. Die Saugzone24 ihrerseits ist von einer Spülagenszone22 umgeben, der Spülagens mit Hilfe von Zuführmittel für Spülagens21 zugeführt wird. Mit dieser Lösung ist es möglich, um den, durch die Startmaterialzone10 definierten Reaktionsraum Zonen vom ein Inertgas ventilierenden Typus zu erhalten, welche weiter erlauben, das erste Startmaterial A als eine Überdosierung zu verwenden. In der2B wird schematisch eine Seitenansicht der Lösung gemäß der2A gezeigt. Somit fließt das erste, dem Startmaterialraum13 mit Hilfe von Gaszuführmitteln14 zugeführte Startmaterial A über die Startmaterialzone10 auf der Oberfläche4 des Substrats2 , wobei das überflüssige erste Startmaterial A und/oder das dem Startmaterialraum zugeführte Trägergas aus dem Schlitz zwischen der Düsenoberfläche und der Oberfläche4 des Substrats2 in den Saugraum19 und weg von der Oberfläche2 des Substrats2 abgezogen wird. Gleichzeitig wird Spülagens mit Hilfe von Zuführmitteln für Spülagens21 dem Spülagensraum23 zugeführt, welches Spülagens über die Spülagenszone22 auf die Oberfläche des Substrats fließt und weiter über die Saugzone24 in den Saugraum19 absorbiert wird. Indem der Zuführdruck des Spülagens, die Effizienz des Zuführdrucks des ersten Startmaterials A sowie die Oberflächenbereiche der Fließkanäle geeignet dimensioniert werden, kann eine Quelle6 erreicht werden, innerhalb welcher ein gutes Vakuum vorhanden ist und wenn es gleichzeitig jedoch mit Hilfe der Zuführrate des ersten Startmaterials A und des Spülagens die durch das Vakuum erzeugte Saugkraft neutralisiert, wobei die Quelle6 leicht auf der Oberfläche4 des Substrats2 bewegt werden kann. Auch in dieser Ausführungsform kann die Düsenoberfläche mit Borsten versehen werden, die um irgendeinen der Zonen10 ,22 ,24 , und bei Bedarf um mehrere oder jede dieser Zonen10 ,22 ,14 platziert werden können. Weiter soll bemerkt werden, dass zwei oder mehrere der lamellaren Strukturen gemäß den2A und2B auf einer Düsenoberfläche vorgesehen werden können, und zwischen diesen lamellaren Strukturen kann ein Schlitz, eine Spalte oder ein entsprechender Raum vorhanden sein, der/die mit der Atmosphäre1 in Flüssigkeitsverbindung steht, um die Oberfläche4 des Substrats2 zwischen den lamellaren Strukturen dem Startmaterial B auszusetzen. Diese Quelle gemäß den2A und2B kann in derselben Weise verwendet werden wie die Quelle gemäß der1 , indem eine relative Bewegung zwischen der Quelle6 und dem Substrat2 vorgesehen wird. - Gemäß der Erfindung ist die Düsenoberfläche derart angeordnet, dass die Quelle
6 einen Startmaterialraum13 aufweist, der in Flüssigkeitsverbindung zu den Gaszuführmitteln14 steht, welcher Startmaterialraum13 einen Bereich aufweist, der sich zur Düsenoberfläche der Quelle6 öffnet, welche die Startmaterialzone10 bildet, durch welche das erste Material A auf die Oberfläche4 des Substrats2 fließen kann, wobei die Düsenoberfläche gegen die und auf der Oberfläche4 des Substrats2 in einer Entfernung von der Oberfläche4 platziert ist. Entsprechend steht der Spülagensraum23 in Flüssigkeitsverbindung zu den Zuführmitteln für Spülagens21 , welcher Spülagensraum23 einen Bereich aufweist, der sich zur Düsenoberfläche der Quelle6 öffnet, die die Spülagenszone22 bildet, durch welche das Spülagens zur Oberfläche4 des Substrats2 fließen kann, wobei die Düsenoberfläche gegen die oder über der Oberfläche4 des Substrats2 platziert ist. Der Saugraum19 steht in Flüssigkeitsverbindung zu den Saugmitteln27 , welcher Saugraum19 einen Bereich aufweist, der sich zur Düsenoberfläche öffnet, welcher Bereich die Saugzone24 bildet, durch welche das erste Startmaterial A und/oder das Spülagens abgezogen werden kann, wobei die Düsenoberfläche gegen die oder über der Oberfläche4 des Substrats2 platziert ist, und/oder dem Saugraum19 , welcher ein Vakuum zwischen der Düsenoberfläche der Quelle6 und der Oberfläche4 des Substrats2 erzeugt. - Obwohl die lamellare Lösung der
2A und2B als ineinander gehende Zonen gezeigt werden, kann sie jedoch als hintereinander angeordnete Zonen vorgesehen sein. Mit anderen Worten kann die Quelle6 auf deren Düsenoberfläche, um die Oberfläche4 des Substrats2 zu spülen, mindestens eine Spülagenszone22 aufweisen, um Spülagens auf die Oberfläche4 des Substrats2 zu leiten. Die Spülagenszone22 kann weiter in Bezug auf die Bewegungsrichtung des Substrats2 oder der Quelle6 mit der Startmaterialzone10 hintereinander und/oder in der Bewegungsrichtung der Quelle6 vor oder hinter der Startmaterialzone10 angeordnet sein. Ebenfalls kann die Quelle6 zusätzlich auf deren Düsenoberfläche mindestens eine Saugzone24 aufweisen zum Abziehen des ersten Startmaterials A und/oder des auf die Oberfläche1 des Substrats2 zugeführten Spülagens und/oder zur Erzeugung eines Vakuums zwischen der Düsenoberfläche der Quelle6 und der Oberfläche4 des Substrats2 . Die Saugzone24 kann in Bezug auf die Bewegungsrichtung des Substrats2 und der Düse6 mit der Startmaterialzone10 hintereinander angeordnet sein in derselben Weise wie im Zusammenhang mit der Spülagenszone22 beschrieben wurde, das heißt vor oder hinter oder beidseitig der Startmaterialzone10 . Vorzugsweise ist die Saugzone24 zwischen der Startmaterialzone10 der Spülagenszone22 platziert. - In der
3 wird eine besondere Ausführungsform der aktuellen Erfindung gezeigt, in welcher drei ähnliche Quellen7 über ein Substrat2 platziert sind, das sich in der Richtung des Pfeiles N bewegt, zum Beispiel ein Materialnetz, so dass sich die Düsenoberfläche der Quelle7 gegen das oder über dem Substrat2 in einer Entfernung von der Oberfläche4 befindet. Die Quellen7 haben in dieser Ausführungsform ein Zuführglied für Startmaterial3 mit einer runden Düsenoberfläche, welches Zuführglied für Startmaterial3 angeordnet ist, um die Rotationsachse15 oder deren Mittelpunkt zu rotieren wie mit dem Pfeil P beschrieben wird. Die Düsenoberfläche weist eine Startmaterialzone11 auf, durch welche das erste Startmaterial A auf die Oberfläche4 des Substrats zugeführt werden kann, in derselben Weise wie in der Ausführungsform der1 . Die Quellen7 sind wieder in der Atmosphäre1 platziert, welche ein zweites Startmaterial B enthält. Die Quellen7 führen der Oberfläche4 des Substrats ein erstes Startmaterial A zu und die Atmosphäre1 enthält ein zweites Startmaterial B, wobei die Oberfläche4 alternierend den Startmaterialien A und B ausgesetzt würde. Die Anzahl der Depositionsschichten, die der Oberfläche4 des Netzes2 zur Verfügung steht, und somit die Dicke der Depositionsschichten können mit Hilfe der Rotationsgeschwindigkeit der Düsen6 und der Bewegungsrate des Netzes gesteuert werden. Die Quellen7 und die Zuführglieder für Startmaterial3 können auch mit Schlitzen oder entsprechenden Zonen (nicht gezeigt) versehen sein, die mit der Atmosphäre1 in Flüssigkeitsverbindung stehen, so dass die Oberfläche4 des Substrats2 Oberflächenreaktionen des zweiten, in der Atmosphäre1 vorhandenen Startmaterials B ausgesetzt werden kann, wobei die Quelle um die erste Rotationsachse15 rotiert. Diese Schlitze können zum Beispiel in den Spalten der Startmaterialzonen11 vorgesehen sein. Die erste Rotationsachse15 erstreckt sich in dieser Ausführungsform im Wesentlichen senkrecht zur Oberfläche4 des Substrats2 und ist angeordnet, das erste Startmaterial A im Wesentlichen in der Richtung der ersten Rotationsachse15 über die Startmaterialzone11 zuzuführen. - Im Falle eines sich bewegenden Netzes wie in der
3 , könnten natürlich auch Quellen gemäß den1 ,2A und2B verwendet werden, von denen eine von vielen über dem Netz2 platziert sein könnte und die sich von einem Rand des Netzes2 zu einem anderen erstrecken könnte, wobei das ganze Netz2 unterhalb der Quelle6 passieren würde. Derartige Quellen gemäß den1 und2 könnten über ein sich bewegendes Netz hin und her bewegt werden, weshalb die Anzahl der Depositionsschichten zunehmen würde, wenn die Oberfläche des Netzes2 alternierend dem ersten, durch die Quelle6 zugeführten Startmaterial A und dem zweiten, in der Atmosphäre1 vorhandenen Startmaterial B ausgesetzt würde. - In der
4 wird eine schematische Seitenansicht der Quelle8 gemäß einer Ausführungsform der aktuellen Erfindung zur Zuführung eines ersten Startmaterials A auf die Oberfläche4 des Substrats2 gezeigt. Die Quelle8 ist wieder in der Atmosphäre1 platziert, welche ein zweites Startmaterial B aufweist. Die Quelle8 weist ein Gaszuführglied5 zum Zuführen des ersten Startmaterials A auf die Oberfläche4 des Substrats2 sowie eine zweite Rotationsachse17 auf, um welche das Gaszuführglied5 rotierbar ist. Das Gaszuführglied5 ist vorzugsweise ein zylindrischer Teil mit einem im Wesentlichen kreisförmigen Querschnitt. Alternativ kann das Gaszuführglied5 auch einen Querschnitt einer anderen Form haben, wie zum Beispiel eine ovale, dreieckige oder eine andere polygonale Form. Die Länge des Gaszuführglieds5 in der Richtung der zweiten Rotationsachse17 kann gemäß jeder Anwendung variieren und angeordnet sein, im Wesentlichen zum Beispiel der Weite des Substrats zu entsprechen, wie beispielsweise dem zu behandelnden Materialnetz. Es ist wesentlich, dass die aktuelle Erfindung nicht auf eine einzige Form des Gaszuführglieds5 beschränkt wird, sondern dass das Gaszuführglied5 in einer beliebigen Form verwirklicht werden kann. Das Gaszuführglied5 ist jedoch vorzugsweise rotationssymmetrisch in Bezug auf die zweite Rotationsachse17 . Zusätzlich ist die zweite Rotationsachse17 positioniert, vorzugsweise die Mittelachse des Gaszuführglieds5 entlang zu passieren. - Das Gaszuführglied
5 ist angeordnet, ein erstes Startmaterial A im Wesentlichen in einer transversalen Richtung in Bezug auf die zweite Rotationsachse17 zuzuführen. Gemäß der4 ist das Gaszuführglied5 mit einer oder mehreren Startmaterialzone(n)12 versehen, die angeordnet sind, das erste Startmaterial A zuzuführen. Das Gaszuführglied5 kann auch eine oder mehrere Spülagenszone(n)31 (nicht gezeigt) zum Zuführen des Spülagens aufweisen. Zusätzlich kann das Gaszuführglied5 mit einer oder mehreren Saugzone(n)31 zum Abziehen und Ablassen des ersten Startmaterials A oder des Spülagens versehen sein. Gemäß der4 sind die Startmaterialzonen12 und die Saugzonen31 angeordnet, sich im Wesentlichen in der Richtung der zweiten Rotationsachse17 des Gaszuführglieds5 zu erstrecken. Mit anderen Worten sind die Startmaterialzonen12 und die Saugzonen31 längsgerichtete Kanäle, die sich der Länge des Gaszuführglieds5 entlang erstrecken. Alternativ können die Startmaterialzonen12 und die Saugzonen31 auch kürzer sein und sie können sich nur über einen Teil der Länge des Gaszuführglieds5 entlang erstrecken, weshalb zwei oder mehrere dieser auch in der Richtung der zweiten Rotationsachse17 hintereinander in derselben Linie vorhanden sein können. - Wie zuvor beschrieben kann das erste Startmaterial A aus dem Gaszuführglied
5 über die Startmaterialzone12 im Wesentlichen transversal, senkrecht oder radial in Bezug auf die zweite Rotationsachse17 zugeführt werden. Das Gaszuführglied5 kann auch eine oder mehrere Spülagenszone(n) (nicht gezeigt) zum Zuführen von Spülagens auf die Oberfläche4 des Substrats2 aufweisen. - Die Saugzonen
31 können auf dem Gaszuführglied5 angeordnet sein in derselben Weise wie mit den oben erwähnten Startmaterialzonen12 . Mit Hilfe der Saugzonen31 können erste Startmaterialien A oder Spülagenzien oder beide von der Oberfläche4 des Substrats2 oder aus deren Nähe entfernt werden. Die Saugzonen31 sind vorzugsweise angeordnet, Startmaterialien oder Spülagenzien von der Oberfläche4 des Substrats oder aus deren Nähe im Wesentlichen in einer transversalen Richtung, einer senkrechten Richtung oder radial in Bezug auf die zweite Rotationsachse17 des Gaszuführglieds5 zu entfernen. Durch diese Quelle8 gemäß der4 kann die Oberfläche4 des Substrats2 einem ersten Startmaterial A ausgesetzt werden und gleichzeitig kann mit Hilfe der Saugzonen überflüssiges Startmaterial A von der Oberfläche4 des Substrats2 abgezogen werden. Diese Quelle8 oder deren Gaszuführglied5 kann auch in einer horizontalen Richtung bewegt werden, zum Beispiel mit einer Hin- und Herbewegung über die Oberfläche4 des Substrats2 . Die Rotationsbewegung des Gaszuführglieds5 um die zweite Rotationsachse17 erlaubt es, das erste Startmaterial A schnell zuzuführen und somit, kombiniert mit der horizontalen Bewegung, das Substrat2 schnell zu deponieren, wenn das zweite Startmaterial B in der Atmosphäre1 vorhanden ist. Wenn das Gaszuführglied5 in einer Entfernung von der Oberfläche des Substrats2 platziert ist, kann das zweite Startmaterial B unterhalb des Gaszuführglieds5 fließen, wenn die Startmaterialzone12 nicht genau gegen die Oberfläche des Substrats2 gerichtet ist. Mit Hilfe der Saugzonen31 kann die Absorption des zweiten Startmaterials B unter dem Gaszuführglied5 verbessert werden. Dann kann die Oberfläche4 des Substrats2 sowohl dem ersten als auch dem zweiten Startmaterial A, B ausgesetzt werden, obwohl das Gaszuführglied5 nicht in einer horizontalen Richtung in Bezug auf das Substrat2 bewegt wird. - In der
5 wird ein schematischer Querschnitt der Quelle8 der4 gezeigt, welche ein Gaszuführglied5 aufweist, welches um eine zweite Rotationsachse17 rotierbar ist. Das Gaszuführglied5 weist mehrere Startmaterialzonen12 zum Zuführen des ersten Startmaterials A auf. Die Startmaterialzonen12 und die Saugzonen31 sind vorzugsweise alternierend in der Richtung des Umfangs des Gaszuführglieds5 platziert, wie in der Querschnittsansicht5 gezeigt wird. Es können eine oder mehrere Gaszuführzone(n)12 und eine oder mehrere, oder gar keine, Saugzonen31 vorhanden sein. Das erste Startmaterial A kann in allen Fällen allein oder mit Hilfe eines Trägergases zugeführt werden. Ein Trägergas kann zusammen mit dem ersten Startmaterial A zugeführt werden, so dass das Trägergas das erste Startmaterial A auf die Oberfläche4 des Substrats2 trägt, jedoch ohne selbst an der Oberflächenreaktion teilzunehmen. Das Trägergas ist vorzugsweise ein Inertgas, wie zum Beispiel Stickstoff, welcher nicht mit dem ersten Startmaterial A reagiert. - Gemäß der
5 ist das Gaszuführglied5 angeordnet, gemäß den darin gezeigten Pfeilen, das erste Startmaterial A im Wesentlichen transversal oder radial in Bezug auf die zweite Rotationsachse17 zuzuführen. Vorzugsweise ist das Gaszuführglied5 angeordnet, das erste Startmaterial A im Wesentlichen in einer senkrechten Richtung in Bezug auf die zweite Rotationsachse17 zuzuführen. In der einfachsten Form der aktuellen Erfindung weist das Gaszuführglied5 nur eine Startmaterialzone12 auf, durch welche das erste Startmaterial A zugeführt werden kann. Die Quelle8 oder das Gaszuführglied5 ist vorzugsweise derart angeordnet, dass sich die zweite Rotationsachse17 im Wesentlichen in der Richtung der Oberfläche4 des Substrats2 erstreckt. - In der Ausführungsform der
5 weist die Quelle8 ein Sauggehäuse30 auf, welches eine Saugkammer35 zur Verfügung stellt, welche Saugöffnungen42 aufweist. Die Saugsperre30 weist weiter eine Fließöffnung50 auf, welche sich im Wesentlichen in der Richtung der zweiten Rotationsachse17 des Gaszuführglieds erstreckt und durch welche das erste Startmaterial A und irgendwelche Spülagenzien auf die Oberfläche4 des Substrats2 zugeführt beziehungsweise von der Oberfläche4 des Substrats2 entfernt werden. Die Fließöffnung50 ist eng ausgeformt in der Richtung senkrecht zur zweiten Rotationsachse17 in Bezug auf den Diameter des Gaszuführglieds5 , so dass das zugeführte erste Startmaterial A oder das Spülagens sich nicht über einen großen Bereich ausbreitet. Zusätzlich ist die Saugsperre30 mit einem ersten und einem zweiten Flansch52 ,54 versehen, welche sich von dem Rand der Fließöffnung50 in der Richtung der Oberfläche4 des Substrats2 von der Fließöffnung50 weg gemäß der5 und der Länge der zweiten Rotationsachse17 des Gaszuführglieds5 entlang erstrecken. Die Flansche52 ,54 stellen eine Diffusionsbarriere zur Verfügung, die das Fließen von Gasen aus der Zuführöffnung50 in die Umgebung und aus der Umgebung zu der Fließöffnung50 verhindern, die aber somit erlauben, dass die Oberfläche4 des Substrats2 dem ersten Startmaterial A an der Stelle der Fließöffnung50 effizient ausgesetzt wird. Es ist zu bemerken, dass in gewissen Ausführungsformen der Flansch auch nur zu einer Seite der Fließöffnung50 vorgesehen sein kann. Die Flansche52 ,54 können oder einer von ihnen kann durch einen anderen Typus von Diffusionsbarrieren ersetzt werden. Eine derartige, eine Saugsperre aufweisende Quelle erlaubt dem ersten Startmaterial A nicht, in die Atmosphäre1 zu passieren, welche ein zweites Startmaterial B aufweist, wodurch unerwünschte Reaktionen von Startmaterialien vermieden werden können. Eine derartige geschlossene Quelle8 ist vorzugsweise über die Oberfläche4 des Substrats2 in Bezug auf das Substrat bewegbar, so dass die Oberfläche4 des Substrats2 nach dem Fegen der Quelle8 dem ersten Startmaterial A und nach dem Fegen dem zweiten, in der Atmosphäre vorhandenen Startmaterial B ausgesetzt wird. - Mit Hinweis auf die
1 bis5 werden oben verschiedene Quellen6 ,7 ,8 beschrieben, die alle angeordnet sind, die Oberfläche4 des Substrats2 örtlich einem ersten Startmaterial auszusetzen. Die in Zusammenhang mit jeder Quelle6 ,7 ,8 beschriebenen Fakten, die die Bewegung der Quelle oder deren Gaszuführglieds3 ,5 in Bezug auf das Substrat und die Platzierung über dem Substrat betreffen, sind für alle Quellen6 ,7 ,8 gültig. Zusätzlich kann die Anordnung gemäß der Erfindung eine oder mehrere Quellen6 ,7 ,8 aufweisen und sie können derart platziert sein, dass das Substrat2 dem zweiten, in der Atmosphäre1 zwischen den Quellen6 ,7 ,8 vorhandenen Startmaterial ausgesetzt wird. Die Quelle6 ,7 ,8 kann innen in eine separate Depositionskammer (nicht gezeigt) platziert werden, die eine Atmosphäre1 hat, welche das zweite Startmaterial B aufweist. Die Depositionskammer kann derart angeordnet sein, dass das Substrat oder die Substrate durch die Depositionskammer gebracht wird/werden oder alternativ das Substrat innerhalb der Depositionskammer platziert wird und die Depositionskammer für die Bearbeitungszeit gemäß dem Batchbetrieb geschlossen wird. Innerhalb der Depositionskammer kann ein Vakuum oder ein Überdruck herrschen, oder es kann ein normaler atmosphärischer Druck (NTP; 1 bar, 0°C) herrschen. Alternativ ist die Quelle6 ,7 ,8 nicht innerhalb einer separaten Dispositionskammer platziert, sondern die Quelle6 ,7 ,8 ist direkt in dem Raum, dem Prozessraum oder in Verbindung mit einer anderen Anordnung oder Kammer platziert, in welcher die Atmosphäre1 ein zweites Startmaterial B aufweist. In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Anordnung ein Zuführmittel (nicht gezeigt) auf zum Zuführen des zweiten Startmaterials B in die, die Quelle6 ,7 ,8 umgebende Atmosphäre1 , wie zum Beispiel in eine Depositionskammer, einen Prozessraum oder einen entsprechenden Raum. Das Zuführmittel kann einen Startmaterialbehälter, eine eventuelle Pumpe, einen Schlauch zum Leiten des zweiten Startmaterials B in die, die Quelle6 ,7 ,8 oder die Depositionskammer umgebende Atmosphäre1 sowie ein Zuführglied, wie zum Beispiel eine Düse oder ein entsprechendes Endgerät zum Zuführen des zweiten Startmaterials B in die Atmosphäre1 oder in die Depositionskammer aufweisen. In einer bevorzugten Ausführungsform sind die Zuführmittel zum Zuführen des zweiten Startmaterials B stationär und zum Beispiel in der Depositionskammer angeordnet, so dass das zweite Startmaterial der Depositionskammer durch deren Wand zugeführt werden kann. Mit anderen Worten sind die Zuführmittel zum Zuführen des zweiten Startmaterials B und die Quelle6 ,7 ,8 in Bezug auf einander separiert und somit ist das Zuführen des zweiten Startmaterials B unabhängig von der Bewegung der Quelle6 ,7 ,8 und das Zuführen des ersten Startmaterials A und das Zuführen des zweiten Startmaterials B sind voneinander unabhängig. Somit ist das erste Startmaterial A angeordnet, über die Quelle6 ,7 ,8 örtlich auf die Oberfläche des Substrats zugeführt zu werden und das zweite Startmaterial B wird separat in die, die Quelle6 ,7 ,8 umgebende Atmosphäre1 unabhängig von der Quelle6 ,7 ,8 und separat davon zugeführt. Dies bedeutet, dass das zweite Startmaterial1 gemäß der Erfindung nicht aus der Quelle6 ,7 ,8 zugeführt wird. Das zweite Startmaterial B wird somit nicht aktiv auf die Oberfläche des Substrats zugeführt, sondern das zweite Startmaterial B befindet sich, oder wird nur passiv in die, die Quelle6 ,7 ,8 umgebende Atmosphäre gebracht, weshalb die Oberfläche des Substrats kontinuierlich dem zweiten Startmaterial ausgesetzt ist, wenn sie nicht dem ersten Startmaterial A unter Einfluss der Quelle6 ,7 ,8 ausgesetzt wird. - Die Anordnung gemäß der aktuellen Erfindung zum Bearbeiten einer Oberfläche
4 eines Substrats2 , indem die Oberfläche4 des Substrats2 alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials A und eines zweiten Startmaterials B gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahren ausgesetzt wird, kann eine oder mehrere oben erwähnte Quellen6 ,7 ,8 aufweisen. Die Quelle6 ,7 ,8 ist angeordnet, ein erstes Startmaterial A örtlich auf die Oberfläche4 des Substrats2 zuzuführen. Die Quelle ist weiter in die Atmosphäre1 platziert, welche ein zweites Startmaterial B aufweist. Die Quelle6 ,7 ,8 ist weiter angeordnet, in Bezug auf das Substrat2 auf dessen Oberfläche4 oder in der Nähe der Quelle4 bewegbar zu sein, so dass es mit der Quelle6 ,7 ,8 möglich ist, über die Oberfläche4 zu fegen, indem die Oberfläche4 örtlich gleichzeitig dem ersten Startmaterial ausgesetzt wird. Nach dem Fegen bewegt sich die Quelle6 ,7 ,8 weg von dem gefegten Teil der Oberfläche4 , weshalb der gefegte Teil der Oberfläche4 dem zweiten, in der Atmosphäre1 vorhandenen Startmaterial ausgesetzt wird. Das den Startmaterialien A und B Aussetzen erzeugt immer eine Oberflächenreaktion auf der Oberfläche4 des Substrats2 gemäß den Prinzipien des ALD-Verfahrens. In allen, oben beschriebenen Ausführungsformen der Quellen6 ,7 ,8 ist die Quelle6 ,7 ,8 angeordnet, auf der Oberfläche4 des Substrats2 oder in deren Nähe in Bezug auf das Substrat (2 ) zum Durchführen des Fegens bewegbar zu sein. Dies bedeutet, dass die Quelle6 ,7 ,8 auf der Oberfläche des Substrats bewegt werden kann, das Substrat2 in Bezug auf eine stationäre Quelle6 ,7 ,8 bewegt werden kann oder sowohl die Quelle6 ,7 ,8 als auch das Substrat2 bewegt werden können. Die Bewegung der Quelle6 ,7 ,8 kann eine, auf einer Ebene stattfindende Transferbewegung, eine Hin- und Herbewegung oder eine Rotationsbewegung oder eine Kombination dieser sein. Die Anordnung gemäß der Erfindung kann zwei oder mehrere Quellen6 ,7 ,8 aufweisen, welche voneinander durch einen, in Flüssigkeitsverbindung mit der umgebenden Atmosphäre1 stehenden Schlitz oder Raum separiert sind, um die Oberfläche4 des Substrats2 einem zweiten Startmaterial B zwischen den Quellen auszusetzen. Alternativ kann jede Quelle6 ,7 ,8 oder mehrere Startmaterialzone(n)10 aufweisen, welche voneinander durch einen, in Flüssigkeitsverbindung mit der umgebenden Atmosphäre1 stehenden Schlitz oder Raum separiert sind, um die Oberfläche4 des Substrats2 einem zweiten Startmaterial B zwischen den Startmaterialzonen10 auszusetzen. Es ist auch möglich, eine Quelle6 ,7 ,8 zur Verfügung zu stellen, welche zwei oder mehrere Startmaterialglieder3 ,5 aufweist, welche voneinander durch einen, in die umgebende Atmosphäre1 mündenden Schlitz oder Raum separiert sind, um die Oberfläche4 des Substrats2 einem zweiten Material B zwischen den Zuführgliedern für Startmaterial3 ,5 auszusetzen. - Als Startmaterialien A und B können beliebige Startmaterialien verwendet werden, die typischer Weise in dem ALD-Verfahren verwendet werden. Als ein erstes Startmaterial A kann zum Beispiel TMA (Trimethyl-Aluminium) verwendet werden und als das zweite Startmaterial B Wasserdampf. In gewissen Anwendungen kann das zweite Startmaterial B reaktiv oder nicht-reaktiv, Luft oder Sauerstoff sein. Alternativ können das erste und das zweite Startmaterial A, B auch Plasma oder Radikal sein oder angeordnet sein, einen Funken zu erzeugen.
- Die aktuelle Erfindung betrifft weiter ein Verfahren zur Bearbeitung der Oberfläche
4 des Substrats2 , indem die Oberfläche4 des Substrats2 alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials A und eines zweiten Startmaterials B gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahrens ausgesetzt wird. Das Verfahren umfasst das örtliche Zuführen eines ersten Startmaterials A auf die Oberfläche4 des Substrats2 , indem die Quelle6 ,7 ,8 verwendet wird, indem die Quelle6 ,7 ,8 in Bezug auf das Substrat2 bewegt wird, und das Aussetzen der, mit dem ersten Startmaterial A bearbeiteten Oberfläche4 des Substrats2 einem zweiten, in der, die Quelle6 ,7 ,8 umgebenden Atmosphäre1 vorhandenen Startmaterial B. Mit anderen Worten gemäß der aktuellen Erfindung kann das zweite Startmaterial B in die, die Quelle6 ,7 ,8 umgebende Atmosphäre1 , zum Beispiel eine Depositionskammer, zugeführt werden und somit die Oberfläche des Substrats dem zweiten Startmaterial B ausgesetzt werden. Das zweite Oberflächenmaterial B wird vorzugsweise unabhängig von der Quelle6 ,7 ,8 in die Atmosphäre1 zugeführt. Mit anderen Worten wird das zweite Startmaterial vorzugsweise aus einem oder mehreren stationären Zuführpunkt(en) in die Atmosphäre1 eingeführt. Dann kann man eine stabile Konzentration des zweiten Startmaterials B in der, die Quelle6 ,7 ,8 umgebenden Atmosphäre1 unabhängig von der Bewegung der Quelle6 ,7 ,8 erhalten. Dies gewährleistet weiter ein stabiles Depositionsergebnis. Wie oben beschrieben wurde, sind das Zuführen des ersten Zuführmaterials A und das Zuführen des zweiten Zuführmaterials B unabhängig voneinander und von der Bewegung der Quelle6 ,7 ,8 . Weiter ist zu bemerken, dass das Zuführen des zweiten Materials B in jedem Falle nicht notwendig ist, wenn zum Beispiel die in der Luft vorhandene Feuchtigkeit als zweites Startmaterial B genügend ist. Die Oberfläche des Substrats wird somit aktiv mit Hilfe der Quelle6 ,7 ,8 dem ersten Startmaterial A und passiv dem in der Atmosphäre vorhandenen zweiten Startmaterial B ausgesetzt. Das Bewegen der Quelle6 ,7 ,8 wird in dem Verfahren wie im Vorhergehenden beschrieben durchgeführt. Somit wird die Oberfläche4 des Substrats2 alternierend dem ersten, durch die Quelle6 ,7 ,8 zugeführten Startmaterial A und dem zweiten, in der Atmosphäre1 vorhandenen Startmaterial B ausgesetzt. - Obwohl mehrere Ausführungsformen und Eigenschaften gemäß der aktuellen Erfindung im Vorhergehenden beschrieben worden sind, von denen nicht alle in der beigefügten Ausführungsform gezeigt werden, ist es klar, dass sämtliche gezeigten Eigenschaften kombiniert werden können, um die in jedem Falle bevorzugte Ausführungsform zur Verfügung zu stellen.
- Es ist für einen Fachmann klar, dass mit den technischen Entwicklungen die Grundidee auf viele verschiedene Arten verwirklicht werden kann. Somit ist die Erfindung und deren Ausführungsformen nicht auf die im Vorhergehenden dargestellten Beispiele beschränkt, sondern sie können stattdessen im Rahmen der Patentansprüche variieren.
Claims (33)
- Die Anordnung zur Bearbeitung einer Oberfläche (
4 ) eines Substrats (2 ), indem die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials (A) und eines zweiten Startmaterials (B) gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahrens ausgesetzt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung eine oder mehrere Quelle(n) (6 ,7 ,8 ) zum örtlichen Zuführen des ersten Startmaterials (A) auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) aufweist und dass die Quelle (6 ,7 ,8 ) in der Atmosphäre (1 ) platziert ist, welche ein zweites Startmaterial (B) aufweist. - Die Anordnung gemäß dem Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) eine oder mehrere Startmaterialzone(n) (10 ,11 ,12 ) aufweist, durch welche das erste Startmaterial (A) örtlich auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) zugeführt wird. - Die Anordnung gemäß dem Patentanspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) angeordnet ist, auf der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) oder in deren Nähe in Bezug auf das Substrat (2 ) bewegbar zu sein. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
7 ,8 ) angeordnet ist, in Bezug auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) rotiert zu werden. - Die Anordnung gemäß dem Patentanspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
7 ,8 ) ein rotierbares Zuführglied für Startmaterial (3 ,5 ) aufweist, welches eine oder mehrere Startmaterialzone(n) (11 ,12 ) zum Zuführen eines ersten Startmaterials (A) auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) aufweist. - Die Anordnung gemäß dem Patentanspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Zuführglied für Startmaterial (
3 ) angeordnet ist, um die erste Rotationsachse (15 ) rotierbar zu sein und das erste Startmaterial (A) im Wesentlichen in der Richtung der ersten Rotationsachse (15 ) über die Startmaterialzone (11 ) zuzuführen. - Die Anordnung gemäß dem Patentanspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Zuführglied für Startmaterial (
5 ) angeordnet ist, um die zweite Rotationsachse (17 ) rotierbar zu sein und das erste Startmaterial (A) im Wesentlichen transversal, radial oder senkrecht zu der zweiten Rotationsachse (17 ) über die Startmaterialzone (12 ) zuzuführen. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (
3 ) angeordnet ist, in Bezug auf die Quelle (6 ,7 ,8 ) bewegbar zu sein. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) oder das Gaszuführglied (3 ,5 ) angeordnet ist, im Wesentlichen mit einer gemäß der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) gerichteten Hin- und Herbewegung auf der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) oder in der Nähe der Oberfläche (4 ) bewegbar zu sein. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 mindestens eine Spülagenszone (22 ) zum Leiten mindestens eines Spülagens auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) zum Spülen der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) aufweist. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) mindestens eine Saugzone (24 ,31 ) zum Abziehen des ersten, auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) geleiteten Startmaterials (A) oder des Spülagens oder zur Erzeugung eines Vakuums zwischen der Quelle (6 ,7 ,8 ) und der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) aufweist. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) zwei oder mehrere Startmaterialzonen (10 ) aufweist, welche durch einen, mit der umgebenden Atmosphäre (1 ) in Flüssigkeitsverbindung stehenden Schlitz oder Raum voneinander getrennt sind, um die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) dem zweiten Startmaterial (B) zwischen den Startmaterialzonen (10 ) auszusetzen. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,8 ) zwei oder mehrere Zuführglieder für Startmaterial (3 ,5 ) aufweist, welche durch einen, in die umgebende Atmosphäre (1 ) mündenden Schlitz oder Raum voneinander getrennt sind, um die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) dem zweiten Startmaterial (B) zwischen den Zuführgliedern für Startmaterial (3 ,5 ) auszusetzen. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung zwei oder mehrere Quellen (
6 ,7 ,8 ) aufweist, welche durch einen, in die umgebende Atmosphäre (1 ) mündenden Schlitz oder Raum voneinander getrennt sind, um die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) dem zweiten Startmaterial (B) zwischen den Quellen (6 ,7 ,8 ) auszusetzen. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung eine Depositionskammer aufweist, in welcher die Quelle (
6 ,7 ,8 ) platziert ist und in welcher Depositionskammer die Atmosphäre (1 ) angeordnet ist. - Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung angeordnet ist, unter einem normalen atmosphärischen Druck (NTP; 1 bar, 0°C) oder in einem Vakuum zu funktionieren.
- Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass das erste oder das zweite Startmaterial (A, B) Plasma oder Radikal ist oder angeordnet ist, einen Funken zu erzeugen.
- Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Startmaterial (B) reaktiv oder nicht-reaktiv ist.
- Die Anordnung gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Startmaterial (B) Luft, Wasserdampf oder Sauerstoff ist.
- Ein Verfahren zur Bearbeitung einer Oberfläche (
4 ) eines Substrats (2 ), indem die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) alternierenden Oberflächenreaktionen mindestens eines ersten Startmaterials (A) und eines zweiten Startmaterials (B) gemäß den Prinzipien des Atomschichtdepositionsverfahrens ausgesetzt wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren das örtliche Zuführen eines ersten Startmaterials (A) mit Hilfe der Quelle (6 ,7 ,8 ) auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ), indem die Quelle (6 ,7 ,8 ) in Bezug auf das Substrat (2 ) bewegt wird und die mit dem ersten Startmaterial (A) bearbeitete Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) einem zweiten, in der die Quelle (6 ,7 ,8 ) umgebenden Atmosphäre (1 ) vorhandenen Startmaterial (B) ausgesetzt wird. - Das Verfahren gemäß dem Patentanspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) im Wesentlichen in der Richtung der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) auf der Oberfläche des Substrats oder in deren Nähe in Bezug auf das Substrat (2 ) bewegt wird. - Das Verfahren gemäß dem Patentanspruch 20 oder 21, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
6 ,7 ,8 ) im Wesentlichen in der Richtung der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) mit einer Hin- und Herbewegung auf der Oberfläche des Substrats oder in der deren Nähe in Bezug auf das Substrat (2 ) bewegt wird. - Das Verfahren gemäß dem Patentanspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (
2 ) in Bezug auf die Quelle (6 ,7 ,8 ) bewegt wird. - Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
7 ,8 ) in Bezug auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) rotiert wird. - Das Verfahren gemäß dem Patentanspruch 24, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
7 ,8 ) ein rotierbares Zuführglied für Startmaterial (3 ,5 ) aufweist, welches um die erste Rotationsachse (15 ) rotiert wird, und aus welcher Quelle (7 ,8 ) das erste Startmaterial (A) im Wesentlichen in der Richtung der ersten Rotationsachse (15 ) zugeführt wird. - Das Verfahren gemäß dem Patentanspruch 24, dadurch gekennzeichnet, dass die Quelle (
7 ,8 ) ein rotierbares Zuführglied für Startmaterial (3 ,5 ) aufweist, welches um die zweite Rotationsachse (17 ) rotiert wird, und aus welcher Quelle (7 ,8 ) das erste Startmaterial (A) im Wesentlichen transversal, radial oder senkrecht in Bezug auf die zweite Rotationsachse (17 ) zugeführt wird. - Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 26, dadurch gekennzeichnet, dass Spülagens auf die Oberfläche (
4 ) des Substrats (2 ) mit Hilfe der Quelle (6 ,7 ,8 ) zugeführt wird, um die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) zu spülen. - Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 27, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Startmaterial (A) oder das Spülagens von der Oberfläche (
4 ) des Substrats (2 ) mit Hilfe einer durch die Quelle (6 ,7 ,8 ) erzeugte Saugwirkung entfernt wird, oder dass ein Vakuum zwischen der Quelle (6 ,7 ,8 ) und der Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) mit Hilfe der Saugwirkung der Quelle (6 ,7 ,8 ) erzeugt wird. - Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 28, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche (
4 ) des Substrats (2 ) alternierend dem ersten, durch die Quelle zugeführten Startmaterial (A) und dem zweiten, in der Atmosphäre (1 ) vorhandenen Startmaterial (B) ausgesetzt wird. - Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 29, dadurch gekennzeichnet, dass ein erstes Startmaterial (A) mit zwei oder mehreren Quellen (
6 ,7 ,8 ) hintereinander auf die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) zugeführt wird, indem die Oberfläche (4 ) des Substrats (2 ) zwischen den Quellen (6 ,7 ,8 ) einem zweiten, in der Atmosphäre (1 ) vorhandenen Startmaterial (B) ausgesetzt wird. - Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass das erste oder das zweite Startmaterial (A, B) Plasma oder Radikal ist oder angeordnet ist, einen Funken zu erzeugen.
- Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Startmaterial (B) reaktiv oder nicht-reaktiv ist.
- Das Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Patentansprüche 20 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Startmaterial (B) Luft, Wasserdampf oder Sauerstoff ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20105901A FI124113B (fi) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | Laitteisto ja menetelmä substraatin pinnan muokkaamiseksi |
FI20105901 | 2010-08-30 | ||
PCT/FI2011/050752 WO2012028784A1 (en) | 2010-08-30 | 2011-08-30 | Apparatus and method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112011102860T5 true DE112011102860T5 (de) | 2013-08-08 |
Family
ID=42669405
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112011102860T Pending DE112011102860T5 (de) | 2010-08-30 | 2011-08-30 | Anordnung und Verfahren |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9783887B2 (de) |
CN (1) | CN103080373B (de) |
DE (1) | DE112011102860T5 (de) |
FI (1) | FI124113B (de) |
TW (1) | TWI542726B (de) |
WO (1) | WO2012028784A1 (de) |
Families Citing this family (242)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI124113B (fi) * | 2010-08-30 | 2014-03-31 | Beneq Oy | Laitteisto ja menetelmä substraatin pinnan muokkaamiseksi |
US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
FI124298B (en) | 2012-06-25 | 2014-06-13 | Beneq Oy | Device for treating substrate surface and nozzle head |
US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
KR101560562B1 (ko) | 2013-06-21 | 2015-10-16 | 주식회사 테스 | 박막증착장치 |
US11015245B2 (en) | 2014-03-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof |
US9583707B2 (en) * | 2014-09-19 | 2017-02-28 | Universal Display Corporation | Micro-nozzle and micro-nozzle array for OVJP and method of manufacturing the same |
US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
JP6481363B2 (ja) * | 2014-12-25 | 2019-03-13 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置、成膜方法及び記憶媒体 |
US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
KR102420015B1 (ko) * | 2015-08-28 | 2022-07-12 | 삼성전자주식회사 | Cs-ald 장치의 샤워헤드 |
US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
US10367080B2 (en) | 2016-05-02 | 2019-07-30 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a germanium oxynitride film |
US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
KR102532607B1 (ko) | 2016-07-28 | 2023-05-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 가공 장치 및 그 동작 방법 |
US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR20180068582A (ko) | 2016-12-14 | 2018-06-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
KR102700194B1 (ko) * | 2016-12-19 | 2024-08-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10529563B2 (en) | 2017-03-29 | 2020-01-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US12040200B2 (en) | 2017-06-20 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus |
US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10541333B2 (en) | 2017-07-19 | 2020-01-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US11018002B2 (en) | 2017-07-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10590535B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US11139191B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
US11056344B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method |
KR102491945B1 (ko) | 2017-08-30 | 2023-01-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
US10923344B2 (en) | 2017-10-30 | 2021-02-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures |
US11022879B2 (en) | 2017-11-24 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer |
KR102597978B1 (ko) | 2017-11-27 | 2023-11-06 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배치 퍼니스와 함께 사용하기 위한 웨이퍼 카세트를 보관하기 위한 보관 장치 |
US11639811B2 (en) | 2017-11-27 | 2023-05-02 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus including a clean mini environment |
US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
CN111630203A (zh) | 2018-01-19 | 2020-09-04 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法 |
TWI799494B (zh) | 2018-01-19 | 2023-04-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
EP3737779A1 (de) | 2018-02-14 | 2020-11-18 | ASM IP Holding B.V. | Verfahren zum abscheiden eines ruthenium-haltigen films auf einem substrat durch ein zyklisches abscheidungsverfahren |
US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
US11114283B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-09-07 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same |
KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
US11088002B2 (en) | 2018-03-29 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate rack and a substrate processing system and method |
US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
TWI843623B (zh) | 2018-05-08 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構 |
US12025484B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-07-02 | Asm Ip Holding B.V. | Thin film forming method |
KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
TWI840362B (zh) | 2018-06-04 | 2024-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 水氣降低的晶圓處置腔室 |
US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
US11499222B2 (en) | 2018-06-27 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material |
KR20210024462A (ko) | 2018-06-27 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 금속 함유 재료를 형성하기 위한 주기적 증착 방법 및 금속 함유 재료를 포함하는 필름 및 구조체 |
US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US11053591B2 (en) | 2018-08-06 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-port gas injection system and reactor system including same |
US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
KR102707956B1 (ko) | 2018-09-11 | 2024-09-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
US11049751B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith |
CN110970344B (zh) | 2018-10-01 | 2024-10-25 | Asmip控股有限公司 | 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法 |
US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
USD948463S1 (en) | 2018-10-24 | 2022-04-12 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus |
US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
KR20200051105A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
US11031242B2 (en) | 2018-11-07 | 2021-06-08 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a boron doped silicon germanium film |
US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
US10847366B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process |
US12040199B2 (en) | 2018-11-28 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
TW202037745A (zh) | 2018-12-14 | 2020-10-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統 |
TWI819180B (zh) | 2019-01-17 | 2023-10-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
TWI756590B (zh) | 2019-01-22 | 2022-03-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理裝置 |
CN111524788B (zh) | 2019-02-01 | 2023-11-24 | Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法 |
TW202044325A (zh) | 2019-02-20 | 2020-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備 |
US11482533B2 (en) | 2019-02-20 | 2022-10-25 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and methods for plug fill deposition in 3-D NAND applications |
KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
TWI845607B (zh) | 2019-02-20 | 2024-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備 |
TWI842826B (zh) | 2019-02-22 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備及處理基材之方法 |
KR20200108243A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
US11742198B2 (en) | 2019-03-08 | 2023-08-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structure including SiOCN layer and method of forming same |
KR20200108242A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체 |
KR20200116033A (ko) | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도어 개방기 및 이를 구비한 기판 처리 장치 |
KR20200116855A (ko) | 2019-04-01 | 2020-10-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자를 제조하는 방법 |
KR20200123380A (ko) | 2019-04-19 | 2020-10-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 층 형성 방법 및 장치 |
KR20200125453A (ko) | 2019-04-24 | 2020-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
KR20200130118A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법 |
KR20200130121A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기 |
KR20200130652A (ko) | 2019-05-10 | 2020-11-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조 |
JP2020188254A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
JP2020188255A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD935572S1 (en) | 2019-05-24 | 2021-11-09 | Asm Ip Holding B.V. | Gas channel plate |
USD922229S1 (en) | 2019-06-05 | 2021-06-15 | Asm Ip Holding B.V. | Device for controlling a temperature of a gas supply unit |
KR20200141002A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법 |
KR20200143254A (ko) | 2019-06-11 | 2020-12-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조 |
USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
USD931978S1 (en) | 2019-06-27 | 2021-09-28 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead vacuum transport |
KR20210005515A (ko) | 2019-07-03 | 2021-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
JP7499079B2 (ja) | 2019-07-09 | 2024-06-13 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
CN112216646A (zh) | 2019-07-10 | 2021-01-12 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
KR20210010307A (ko) | 2019-07-16 | 2021-01-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR20210010816A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법 |
KR20210010820A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법 |
US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
KR20210010817A (ko) | 2019-07-19 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법 |
TWI839544B (zh) | 2019-07-19 | 2024-04-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法 |
TWI851767B (zh) | 2019-07-29 | 2024-08-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法 |
CN112309900A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112309899A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
KR20210018759A (ko) | 2019-08-05 | 2021-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서 |
USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
JP2021031769A (ja) | 2019-08-21 | 2021-03-01 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
USD930782S1 (en) | 2019-08-22 | 2021-09-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor |
USD979506S1 (en) | 2019-08-22 | 2023-02-28 | Asm Ip Holding B.V. | Insulator |
KR20210024423A (ko) | 2019-08-22 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법 |
USD949319S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust duct |
USD940837S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-01-11 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode |
US11286558B2 (en) | 2019-08-23 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film |
KR20210024420A (ko) | 2019-08-23 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법 |
KR20210029090A (ko) | 2019-09-04 | 2021-03-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법 |
KR20210029663A (ko) | 2019-09-05 | 2021-03-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
TWI846953B (zh) | 2019-10-08 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理裝置 |
KR20210042810A (ko) | 2019-10-08 | 2021-04-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
TWI846966B (zh) | 2019-10-10 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構 |
US12009241B2 (en) | 2019-10-14 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette |
TWI834919B (zh) | 2019-10-16 | 2024-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法 |
US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
KR20210047808A (ko) | 2019-10-21 | 2021-04-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법 |
KR20210050453A (ko) | 2019-10-25 | 2021-05-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
US11646205B2 (en) | 2019-10-29 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same |
KR20210054983A (ko) | 2019-11-05 | 2021-05-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
US11501968B2 (en) | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps |
KR20210062561A (ko) | 2019-11-20 | 2021-05-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템 |
US11450529B2 (en) | 2019-11-26 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface |
CN112951697A (zh) | 2019-11-26 | 2021-06-11 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885693A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885692A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
JP7527928B2 (ja) | 2019-12-02 | 2024-08-05 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基板処理装置、基板処理方法 |
KR20210070898A (ko) | 2019-12-04 | 2021-06-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
JP2021097227A (ja) | 2019-12-17 | 2021-06-24 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 窒化バナジウム層および窒化バナジウム層を含む構造体を形成する方法 |
US11527403B2 (en) | 2019-12-19 | 2022-12-13 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures |
KR20210089079A (ko) | 2020-01-06 | 2021-07-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 채널형 리프트 핀 |
KR20210089077A (ko) | 2020-01-06 | 2021-07-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 가스 공급 어셈블리, 이의 구성 요소, 및 이를 포함하는 반응기 시스템 |
US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
KR20210093163A (ko) | 2020-01-16 | 2021-07-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고 종횡비 피처를 형성하는 방법 |
KR102675856B1 (ko) | 2020-01-20 | 2024-06-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법 |
TW202130846A (zh) | 2020-02-03 | 2021-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成包括釩或銦層的結構之方法 |
KR20210100010A (ko) | 2020-02-04 | 2021-08-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치 |
US11776846B2 (en) | 2020-02-07 | 2023-10-03 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices |
US11781243B2 (en) | 2020-02-17 | 2023-10-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon |
TW202203344A (zh) | 2020-02-28 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 專用於零件清潔的系統 |
KR20210116249A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법 |
KR20210116240A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치 |
KR20210117157A (ko) | 2020-03-12 | 2021-09-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법 |
KR20210124042A (ko) | 2020-04-02 | 2021-10-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 |
TW202146689A (zh) | 2020-04-03 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法 |
TW202145344A (zh) | 2020-04-08 | 2021-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法 |
US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
KR20210128343A (ko) | 2020-04-15 | 2021-10-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조 |
US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
TW202146831A (zh) | 2020-04-24 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 垂直批式熔爐總成、及用於冷卻垂直批式熔爐之方法 |
KR20210132600A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템 |
CN113555279A (zh) | 2020-04-24 | 2021-10-26 | Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含氮化钒的层的方法及包含其的结构 |
KR20210134226A (ko) | 2020-04-29 | 2021-11-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고체 소스 전구체 용기 |
KR20210134869A (ko) | 2020-05-01 | 2021-11-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환 |
TW202147543A (zh) | 2020-05-04 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 半導體處理系統 |
KR20210141379A (ko) | 2020-05-13 | 2021-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구 |
TW202146699A (zh) | 2020-05-15 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成矽鍺層之方法、半導體結構、半導體裝置、形成沉積層之方法、及沉積系統 |
KR20210143653A (ko) | 2020-05-19 | 2021-11-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR20210145078A (ko) | 2020-05-21 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법 |
KR102702526B1 (ko) | 2020-05-22 | 2024-09-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치 |
TW202201602A (zh) | 2020-05-29 | 2022-01-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202212620A (zh) | 2020-06-02 | 2022-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法 |
TW202218133A (zh) | 2020-06-24 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
TW202217953A (zh) | 2020-06-30 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202202649A (zh) | 2020-07-08 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
KR20220010438A (ko) | 2020-07-17 | 2022-01-25 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 포토리소그래피에 사용하기 위한 구조체 및 방법 |
TW202204662A (zh) | 2020-07-20 | 2022-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
US12040177B2 (en) | 2020-08-18 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes |
KR20220027026A (ko) | 2020-08-26 | 2022-03-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 금속 실리콘 산화물 및 금속 실리콘 산질화물 층을 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
TW202229601A (zh) | 2020-08-27 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、裝置結構、及基板處理系統 |
USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
USD1012873S1 (en) | 2020-09-24 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for semiconductor processing apparatus |
US12009224B2 (en) | 2020-09-29 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for etching metal nitrides |
KR20220045900A (ko) | 2020-10-06 | 2022-04-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치 |
CN114293174A (zh) | 2020-10-07 | 2022-04-08 | Asm Ip私人控股有限公司 | 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备 |
TW202229613A (zh) | 2020-10-14 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 於階梯式結構上沉積材料的方法 |
KR20220053482A (ko) | 2020-10-22 | 2022-04-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리 |
TW202223136A (zh) | 2020-10-28 | 2022-06-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統 |
TW202235649A (zh) | 2020-11-24 | 2022-09-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充間隙之方法與相關之系統及裝置 |
KR20220076343A (ko) | 2020-11-30 | 2022-06-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터 |
CN114639631A (zh) | 2020-12-16 | 2022-06-17 | Asm Ip私人控股有限公司 | 跳动和摆动测量固定装置 |
TW202226899A (zh) | 2020-12-22 | 2022-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具匹配器的電漿處理裝置 |
TW202231903A (zh) | 2020-12-22 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成 |
TW202242184A (zh) | 2020-12-22 | 2022-11-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 前驅物膠囊、前驅物容器、氣相沉積總成、及將固態前驅物裝載至前驅物容器中之方法 |
USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
Family Cites Families (64)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3511703A (en) * | 1963-09-20 | 1970-05-12 | Motorola Inc | Method for depositing mixed oxide films containing aluminum oxide |
FI57975C (fi) * | 1979-02-28 | 1980-11-10 | Lohja Ab Oy | Foerfarande och anordning vid uppbyggande av tunna foereningshinnor |
US4389973A (en) * | 1980-03-18 | 1983-06-28 | Oy Lohja Ab | Apparatus for performing growth of compound thin films |
US5391232A (en) * | 1985-12-26 | 1995-02-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Device for forming a deposited film |
US4891247A (en) * | 1986-09-15 | 1990-01-02 | Watkins-Johnson Company | Process for borosilicate glass films for multilevel metallization structures in semiconductor devices |
US4915716A (en) * | 1986-10-02 | 1990-04-10 | American Telephone And Telegraph Company | Fabrication of lightguide soot preforms |
JPH02222134A (ja) * | 1989-02-23 | 1990-09-04 | Nobuo Mikoshiba | 薄膜形成装置 |
US5136975A (en) * | 1990-06-21 | 1992-08-11 | Watkins-Johnson Company | Injector and method for delivering gaseous chemicals to a surface |
US5225366A (en) * | 1990-06-22 | 1993-07-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Apparatus for and a method of growing thin films of elemental semiconductors |
US5338362A (en) * | 1992-08-29 | 1994-08-16 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for processing semiconductor wafer comprising continuously rotating wafer table and plural chamber compartments |
JPH08255795A (ja) * | 1995-03-15 | 1996-10-01 | Sony Corp | 半導体製造方法および装置 |
US5688359A (en) * | 1995-07-20 | 1997-11-18 | Micron Technology, Inc. | Muffle etch injector assembly |
US5728224A (en) * | 1995-09-13 | 1998-03-17 | Tetra Laval Holdings & Finance S.A. | Apparatus and method for manufacturing a packaging material using gaseous phase atmospheric photo chemical vapor deposition to apply a barrier layer to a moving web substrate |
US6083355A (en) * | 1997-07-14 | 2000-07-04 | The University Of Tennessee Research Corporation | Electrodes for plasma treater systems |
FI118342B (fi) * | 1999-05-10 | 2007-10-15 | Asm Int | Laite ohutkalvojen valmistamiseksi |
US20010047756A1 (en) * | 1999-05-17 | 2001-12-06 | Bartholomew Lawrence Duane | Gas distribution system |
KR100319494B1 (ko) * | 1999-07-15 | 2002-01-09 | 김용일 | 원자층 에피택시 공정을 위한 반도체 박막 증착장치 |
US20020134507A1 (en) * | 1999-12-22 | 2002-09-26 | Silicon Valley Group, Thermal Systems Llc | Gas delivery metering tube |
FI118343B (fi) * | 1999-12-28 | 2007-10-15 | Asm Int | Laite ohutkalvojen valmistamiseksi |
US6576062B2 (en) * | 2000-01-06 | 2003-06-10 | Tokyo Electron Limited | Film forming apparatus and film forming method |
US6821910B2 (en) * | 2000-07-24 | 2004-11-23 | University Of Maryland, College Park | Spatially programmable microelectronics process equipment using segmented gas injection showerhead with exhaust gas recirculation |
JP2003100717A (ja) * | 2001-09-21 | 2003-04-04 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置 |
KR20030038396A (ko) | 2001-11-01 | 2003-05-16 | 에이에스엠엘 유에스, 인코포레이티드 | 우선적인 화학 기상 증착 장치 및 방법 |
US6902620B1 (en) * | 2001-12-19 | 2005-06-07 | Novellus Systems, Inc. | Atomic layer deposition systems and methods |
JP3979113B2 (ja) * | 2002-02-12 | 2007-09-19 | セイコーエプソン株式会社 | チャンバ装置の大気置換方法、チャンバ装置、これを備えた電気光学装置および有機el装置 |
US6730367B2 (en) * | 2002-03-05 | 2004-05-04 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer deposition method with point of use generated reactive gas species |
US6869641B2 (en) * | 2002-07-03 | 2005-03-22 | Unaxis Balzers Ltd. | Method and apparatus for ALD on a rotary susceptor |
US7153542B2 (en) * | 2002-08-06 | 2006-12-26 | Tegal Corporation | Assembly line processing method |
US20050084610A1 (en) | 2002-08-13 | 2005-04-21 | Selitser Simon I. | Atmospheric pressure molecular layer CVD |
US6821563B2 (en) * | 2002-10-02 | 2004-11-23 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution system for cyclical layer deposition |
CN100459060C (zh) * | 2003-02-05 | 2009-02-04 | 株式会社半导体能源研究所 | 显示装置的制造方法 |
KR20110031384A (ko) * | 2003-02-06 | 2011-03-25 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 제조장치 |
US6972055B2 (en) * | 2003-03-28 | 2005-12-06 | Finens Corporation | Continuous flow deposition system |
US7422910B2 (en) * | 2003-10-27 | 2008-09-09 | Velocys | Manifold designs, and flow control in multichannel microchannel devices |
US8062471B2 (en) * | 2004-03-31 | 2011-11-22 | Lam Research Corporation | Proximity head heating method and apparatus |
KR100558922B1 (ko) * | 2004-12-16 | 2006-03-10 | (주)퓨전에이드 | 박막 증착장치 및 방법 |
CN101242958B (zh) * | 2005-07-13 | 2010-05-19 | 富士胶片迪麦提克斯公司 | 流体沉积设备 |
US20070034228A1 (en) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Devitt Andrew J | Method and apparatus for in-line processing and immediately sequential or simultaneous processing of flat and flexible substrates through viscous shear in thin cross section gaps for the manufacture of micro-electronic circuits or displays |
CN101589171A (zh) * | 2006-03-03 | 2009-11-25 | 普拉萨德·盖德吉尔 | 用于大面积多层原子层化学气相处理薄膜的装置和方法 |
US20070215036A1 (en) * | 2006-03-15 | 2007-09-20 | Hyung-Sang Park | Method and apparatus of time and space co-divided atomic layer deposition |
BRPI0709199A2 (pt) * | 2006-03-26 | 2011-06-28 | Lotus Applied Technology Llc | sistema e método para depositar uma pelìcula fina em um substrato flexìvel |
US7413982B2 (en) * | 2006-03-29 | 2008-08-19 | Eastman Kodak Company | Process for atomic layer deposition |
US20070234956A1 (en) * | 2006-04-05 | 2007-10-11 | Dalton Jeremie J | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to a reactor |
US20070281089A1 (en) * | 2006-06-05 | 2007-12-06 | General Electric Company | Systems and methods for roll-to-roll atomic layer deposition on continuously fed objects |
US8043432B2 (en) * | 2007-02-12 | 2011-10-25 | Tokyo Electron Limited | Atomic layer deposition systems and methods |
US8287647B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-10-16 | Lam Research Corporation | Apparatus and method for atomic layer deposition |
US8039052B2 (en) * | 2007-09-06 | 2011-10-18 | Intermolecular, Inc. | Multi-region processing system and heads |
US8182608B2 (en) | 2007-09-26 | 2012-05-22 | Eastman Kodak Company | Deposition system for thin film formation |
US8235062B2 (en) * | 2008-05-09 | 2012-08-07 | Fsi International, Inc. | Tools and methods for processing microelectronic workpieces using process chamber designs that easily transition between open and closed modes of operation |
KR20090122727A (ko) * | 2008-05-26 | 2009-12-01 | 삼성전자주식회사 | 원자층 증착 장치와 이를 이용한 원자층 증착 방법 |
US8383202B2 (en) * | 2008-06-13 | 2013-02-26 | Kateeva, Inc. | Method and apparatus for load-locked printing |
US20100037820A1 (en) * | 2008-08-13 | 2010-02-18 | Synos Technology, Inc. | Vapor Deposition Reactor |
US8470718B2 (en) | 2008-08-13 | 2013-06-25 | Synos Technology, Inc. | Vapor deposition reactor for forming thin film |
US8851012B2 (en) * | 2008-09-17 | 2014-10-07 | Veeco Ald Inc. | Vapor deposition reactor using plasma and method for forming thin film using the same |
WO2010095901A2 (en) * | 2009-02-23 | 2010-08-26 | Synos Technology, Inc. | Method for forming thin film using radicals generated by plasma |
US8758512B2 (en) * | 2009-06-08 | 2014-06-24 | Veeco Ald Inc. | Vapor deposition reactor and method for forming thin film |
US20110023775A1 (en) * | 2009-07-31 | 2011-02-03 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for atomic layer deposition |
US8657959B2 (en) * | 2009-07-31 | 2014-02-25 | E I Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for atomic layer deposition on a moving substrate |
FI20090319A0 (fi) * | 2009-09-03 | 2009-09-03 | Beneq Oy | Prosessinsäätömenetelmä |
US20110076421A1 (en) * | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Synos Technology, Inc. | Vapor deposition reactor for forming thin film on curved surface |
EP2362002A1 (de) * | 2010-02-18 | 2011-08-31 | Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Kontinuierliche gemusterte Schichtablagerung |
FI124414B (fi) * | 2010-04-30 | 2014-08-29 | Beneq Oy | Lähde ja järjestely substraatin käsittelemiseksi |
FI124113B (fi) * | 2010-08-30 | 2014-03-31 | Beneq Oy | Laitteisto ja menetelmä substraatin pinnan muokkaamiseksi |
WO2012071195A1 (en) * | 2010-11-24 | 2012-05-31 | Synos Technology, Inc. | Extended reactor assembly with multiple sections for performing atomic layer deposition on large substrate |
-
2010
- 2010-08-30 FI FI20105901A patent/FI124113B/fi active IP Right Grant
-
2011
- 2011-08-30 CN CN201180041761.6A patent/CN103080373B/zh active Active
- 2011-08-30 WO PCT/FI2011/050752 patent/WO2012028784A1/en active Application Filing
- 2011-08-30 US US13/816,870 patent/US9783887B2/en active Active
- 2011-08-30 DE DE112011102860T patent/DE112011102860T5/de active Pending
- 2011-08-30 TW TW100131024A patent/TWI542726B/zh active
-
2017
- 2017-09-06 US US15/696,890 patent/US20170362708A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012028784A1 (en) | 2012-03-08 |
FI20105901A0 (fi) | 2010-08-30 |
TWI542726B (zh) | 2016-07-21 |
TW201211307A (en) | 2012-03-16 |
CN103080373A (zh) | 2013-05-01 |
CN103080373B (zh) | 2016-01-20 |
US20130164458A1 (en) | 2013-06-27 |
US20170362708A1 (en) | 2017-12-21 |
FI20105901L (fi) | 2012-03-01 |
FI124113B (fi) | 2014-03-31 |
US9783887B2 (en) | 2017-10-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112011102860T5 (de) | Anordnung und Verfahren | |
EP2185842B1 (de) | Mehrfachzugabeventil für eine anlage zum dosieren von flüssigen oder pastösen waschhilfsmitteln und verfahren zum betreiben des mehrfachzugabeventils | |
EP0973620B2 (de) | Vorrichtung und verfahren zum reinigen oder trocknen von werkstücken | |
DE102015116196B3 (de) | Wasch- und/oder Reinigungsanlage | |
DE2848682B2 (de) | Holzpulpewäscher | |
EP1985738B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Nassbehandlung strangförmigen Textilguts | |
DE3131545A1 (de) | "vorrichtung zum auftragen von schaum" | |
DE2459363C2 (de) | Vorrichtung zum Naßbehandeln eines strangförmigen textilen Flächengebildes | |
EP0352591B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Behandeln einer Textilware | |
DE19941729A1 (de) | Düsenkörper zur Erzeugung von feinsten Flüssigkeitsstrahlen z. B. an Wasservernadelungseinrichtungen | |
EP1973668B1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum gleichmässigen beschichten von substraten | |
DE10234710A1 (de) | System und Verfahren zum Trocknen von Halbleitersubstraten | |
DE112015003176T5 (de) | Düsenkopf, Vorrichtung und Verfahren, die dazu geeignet sind, eine Oberfläche eines Substrats aufeinanderfolgenden Oberflächenreaktionen zu unterziehen | |
DE3942725C2 (de) | Verfahren und Trommelfilter zur Eindickung von Aufschlämmungen und für deren Bearbeitung mit Flüssigkeit | |
DE2519542C3 (de) | Vorrichtung zur Behandlung von stückigen Gegenständen mit einer Flüssigkeit und Verfahren zur Auffüllung der Poren von Gegenständen mit einer Flüssigkeit | |
DE60317018T2 (de) | Auftragsvorrichtung für Flüssigkeiten | |
DE2138159C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren der Innen- und Außenflächen von Hohlglaskörpern in einem bewegten Polierätzbad, bei dem die Polierflüssigkeit nach erfolgter Einwirkung abfließt | |
DE69317794T2 (de) | Auswaschung und waschmaschine für das waschen von zellstoff oder dergleichen | |
DE1519700A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen einer Beruehrung zwischen Fluessigkeiten und Gasen | |
CH699032B1 (de) | Verfahren und Anordnung zur Dekontamination eines Reinraums und von temporär darin eingebrachtem Behandlungsgut. | |
DE4316061C2 (de) | Verfahren zum Säubern von kontinuierlich vorlaufendem, bahnförmigen Textilgut und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2510320A1 (de) | Vorrichtung zum behandeln von fluessigen substanzmischungen, insbesondere von zellstoffbrei | |
DE2028699C3 (de) | Verfahren zum Beschicken einer Waschtrommel sowie Wasch- oder Reinigungsmaschine zum Durchführen des Verfahrens | |
DE10127232B4 (de) | Vorrichtung zum Behandeln eines partikelförmigen Guts mit einem Überzugsmedium | |
DE294415C (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE |
|
R016 | Response to examination communication | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: BENEQ OY, FI Free format text: FORMER OWNER: BENEQ GROUP OY, ESPOO, FI Owner name: BENEQ OY, FI Free format text: FORMER OWNER: BENEQ OY, ESPOO, FI Owner name: BENEQ OY, FI Free format text: FORMER OWNER: BENEQ OY, VANTAA, FI |