DE102011083224A1 - Wärmeleitpaste, Leistungshalbleiteranordnung mit Wärmeleitpaste und Verfahren zum Aufbringen eines Wärmeleitmediums auf eine Wärmeableitfläche - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Wärmeleitpaste (5) mit thermochromen Eigenschaften, die durch thermochrome Farbbestandteile in der Wärmeleitpaste (5) erreicht werden. Je nach Art der thermochromen Farbbestandteile verändert sich die Farbe der Wärmeleitpaste (5) bei einer Temperaturänderung reversibel oder irreversibel. Hierdurch können die Temperatur und die Wärmeverteilung in der Wärmeleitpaste (5) mit Hilfe der Farbe bzw. der Farbverteilung ermittelt werden. Durch die Verwendung von Farbbestandteilen, die irreversibel thermochrome Eigenschaften aufweisen, lassen sich so außerdem Aussagen über die bei einem vorangehenden Betrieb erreichten Temperaturen einer mit der Wärmeleitpaste (5) versehenen Anordnung (100) treffen.
Description
- Die Erfindung betrifft eine Wärmeleitpaste. Insbesondere in der Leistungselektronik ist es häufig erforderlich, Baugruppen wie z.B. Leistungshalbleitermodule großflächig über einen Kühlkörper zu kühlen. Hierbei muss eine Wärmeableitkontaktfläche der Baugruppe mit einem möglichst niedrigen Wärmeübergangswiderstand mit einer Kontaktfläche des Kühlkörpers thermisch gekoppelt werden.
- Um unvermeidliche Unebenheiten der beteiligten Kontaktflächen des Leistungshalbleitermoduls und des Kühlkörpers auszugleichen, wird zwischen diese häufige eine Wärmeleitpaste eingebracht. Gleichwohl kann es im Bereich der Wärmekontaktflächen lokal zu einem schlechten Wärmekontakt und damit einhergehend zu einer Überhitzung der in diesem Bereich befindlichen Halbleiterchips des Leistungshalbleitermoduls kommen. Im günstigsten Fall reduziert sich hierdurch die Lebensdauer dieser Halbleiterchips, im ungünstigsten Fall kommt es sogar zum quasi-sofortigen Totalausfall. Daher dürfen solche Leistungshalbleitermodule nur mit herstellerseitig vorgeschriebenen Maximaltemperaturen betrieben werden. Nach einem eventuellen Ausfall eines Leistungshalbleitermoduls ist es jedoch häufig kaum festzustellen, ob die vorgeschriebenen Temperaturobergrenzen eingehalten wurden.
- Dieses Problem soll mit der vorliegenden Erfindung gelöst werden. Hierzu stellt die Erfindung eine Wärmeleitpaste gemäß Patentanspruch 1, eine Leistungshalbleiteranordnung gemäß Patentanspruch 8, sowie Verfahren zum Ermitteln der beim Betrieb eines Leistungshalbleitermoduls erreichten Betriebstemperatur gemäß den Patentansprüchen 13 und 14 bereit. Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand von Unteransprüchen.
- Die Erfindung sieht unter anderem eine Wärmeleitpaste vor, die zumindest einen thermochromen Farbbestandteil enthält, dessen Farbe sich mit der Temperatur der Wärmeleitpaste kontinuierlich oder aber sprunghaft bei einer bestimmten Umschlagtemperatur ändert. Solche Farbänderungen können reversibel oder irreversibel sein. Der Farbumschlag kann dabei von farbig nach farblos, von farblos nach farbig und von einer Farbe in eine andere Farbe erfolgen, wobei im Sinne der vorliegenden Anmeldung auch Graustufen einschließlich Weiß und Schwarz als "farbig" angesehen werden.
- Dabei kann eine Wärmeleitpaste ausschließlich eine oder mehrere Sorten thermochromer Farbbestandteile enthalten, die temperaturabhängig reversible Farbänderungen zeigen. Ebenso kann eine Wärmeleitpaste nur solche Sorten von thermochromen Farbbestandteilen enthalten, die, wenn ihre Temperatur eine für die betreffende Sorte charakteristische Temperatur überschreitet, irreversible Farbänderungen zeigen. Außerdem kann eine Wärmeleitpaste in beliebigen Kombinationen sowohl eine oder mehrere Sorten thermochromer Farbbestandteile aufweisen, von denen jeder reversibel thermochrome Eigenschaften besitzt, als auch eine oder mehrere Sorten thermochromer Farbbestandteile, von denen jeder irreversibel thermochrome Eigenschaften zeigt.
- Falls eine Wärmeleitpaste zwei oder mehr Sorten von thermochromen Farbbestandteilen enthält, ergibt sich bei ausreichendem Vermischungsgrad dieser Farbbestandteile in der Wärmeleitpaste eine von der aktuellen und/oder von der maximal erreichten Temperatur abhängige Mischfarbe.
- Mit Hilfe derartiger Wärmeleitpasten besteht daher die Möglichkeit, anhand der Farbe der Wärmeleitpaste Rückschlüsse auf die aktuelle oder auf die maximal erreichte Temperatur der Farbbestandteile zu ziehen und damit auch bis zu einem gewissen Grad auf die entsprechende Temperatur des gekühlten Bauelements oder der gekühlten Baugruppe. Da eine Wärmeleitpaste zwischen einer Wärmeableitkontaktfläche eines zu kühlenden Bauelements oder einer zu kühlenden Baugruppe einerseits und einer Kontaktfläche eines Kühlkörpers andererseits angeordnet und dadurch verdeckt ist, sind in der Praxis vor allem Farbbestandteile mit irreversibel thermochromen Eigenschaften relevant. Mit ihnen lässt sich nämlich auch nach dem Betrieb eines Bauelements oder einer Baugruppe, wenn also die das Bauelement oder die Baugruppe nach dem Betrieb wieder z.B. auf Raumtemperatur (20°C) abgekühlt ist und vom Kühlkörper abgenommen wird, nachträglich ermitteln, ob und welche Temperatur der Wärmeleitpaste während des Betriebs überschritten wurde. Durch eine Mischung verschiedener Sorten von Farbbestandteilen, von denen jeder Farbbestandteil eine andere charakteristische Temperatur besitzt, bei deren Überschreiten eine irreversible Farbveränderung auftritt, lässt sich jeder (Misch-)Farbe der Wärmeleitpaste ein Temperaturbereich zuordnen. Auf diese Weise lässt bei ausreichend geringen Abständen der für die verschiedenen Sorten charakteristischen Temperaturen die erreichte Temperatur recht genau ermitteln.
- Eine Wärmeleitpaste gemäß der vorliegenden Erfindung kann beispielsweise thermochrome Farbbestandteile enthalten, die bei Raumtemperatur eine erste Farbe aufweisen und die reversibel oder irreversibel eine von der ersten Farbe verschiedene zweite Farbe annehmen, wenn die Temperatur dieser Farbbestandteile eine Temperatur von 110°C oder 130°C oder 150°C überschreitet. Die Variante "110°C" kann beispielsweise bei der Kühlung von Leistungshalbleitermodulen eingesetzt werden, deren Halbleiterbauelemente eine maximal zulässige Sperrschichttemperatur TJmax von 125°C aufweisen, die Variante "130°C" beispielsweise bei der Kühlung von Leistungshalbleitermodulen, deren Halbleiterbauelemente eine maximal zulässige Sperrschichttemperatur TJmax von 150°C aufweisen, und die Variante "150°C" beispielsweise bei der Kühlung von Leistungshalbleitermodulen, deren Halbleiterbauelemente eine maximal zulässige Sperrschichttemperatur TJmax von 175°C aufweisen. Die lediglich beispielhaft genannten Zuordnungen zwischen der Temperatur der Farbbestandteile und der maximal zulässigen Sperrschichttemperatur der Halbleiterbauelemente ist jedoch nicht zwingend, da eine bestimmte Sperrschichttemperatur bei mit einem Kühlkörper thermisch gekoppelten Leistungshalbleitermodul am Ort der Wärmeleitpaste eine Temperatur hervorrufen kann, die unter anderem von der Geometrie des Leistungshalbleitermoduls und dem Kühlvermögen des Kühlkörpers abhängt und daher variieren kann.
- In der Praxis ist beim Betrieb eines Bauelements oder einer Baugruppe die Wärmeverteilung über dessen bzw. über deren Wärmeableitkontaktfläche inhomogen, so dass anhand der Farbverteilung die erreichte Temperatur sogar ortsaufgelöst ermittelt werden kann. Auf diese Weise können z.B. Lunker in Lotschichten festgestellt werden, da die Wärmeübertragung über die Lotschicht im Bereich von Lunkern reduziert wird, d. h. die unterhalb eines Lunkers befindlichen Bereiche der Wärmeleitpaste werden nicht so stark erhitzt wie die an den Lunker angrenzenden Bereiche.
- In jedem Fall muss die Wärmeleitpaste, bevor eine Temperaturbestimmung anhand ihrer Farbe durchgeführt wird, zuvor kalibriert werden. Das heißt, es muss eine Korrelation zwischen der Temperatur der Wärmeleitpaste und damit auch der Temperatur der Farbbestandteile einerseits und der Farbe der Farbbestandteile und damit auch der Farbe der Wärmeleitpaste andererseits ermittelt werden. Hierbei ist zu berücksichtigen, dass eine Wärmeleitpaste, wenn sie Farbbestandteile mit irreversibel thermochromen Eigenschaften enthält, bei zwei Farbbestimmungen, die bei derselben Temperatur durchgeführt werden, unterschiedliche Farben zeigen kann, wenn die Temperatur der Wärmeleitpaste zwischen den beiden Farbbestimmungen auf eine Temperatur erhöht wurde, die höher ist, als eine Temperatur, bei deren Überschreiten bei zumindest einer Sorte der Farbbestandteile eine dauerhafte, d. h. irreversible Farbveränderung auftritt.
- Um gute Wärmetransporteigenschaften aufzuweisen ist es außerdem vorteilhaft, wenn die Wärmeleitpaste bei einer Temperatur von 100°C eine hohe Wärmeleitfähigkeit, beispielsweise von mehr als 0,9 W/(m·K), von mehr als 3 W/(m·K) oder von mehr als 10 W/(m·K), besitzt.
- Außerdem ist es vorteilhaft, wenn die Viskosität der Wärmeleitpaste ein einfaches Auftragen auf eine Wärmeableitkontaktfläche eines zu kühlenden Bauelements oder einer zu kühlenden Baugruppe erlaubt.
- Mit Hilfe einer vorangehend erläuterten Wärmeleitpaste lässt sich damit auch nachträglich, d. h. nach dem Betrieb eines Bauelements oder einer Baugruppe feststellen, ob das Bauelement oder die Baugruppe unterhalb einer vorgeschriebenen Temperaturhöchstgrenze betrieben wurde oder nicht. Ebenso lässt es sich z.B. feststellen, ob eine Wärmeableitkontaktfläche homogen an die Kontaktfläche eines Kühlkörpers angekoppelt war.
- Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf Figuren näher erläutert. In den Figurenbezeichnen, soweit nicht anders angegeben, gleiche Figuren gleiche Elemente mit gleicher oder äquivalenter Funktion. Es zeigt:
-
1 einen Vertikalschnitt durch ein Leistungshalbleitermodul, auf dessen Bodenplatte mit einer Wärmeleitpaste versehen ist, die irreversibel thermochrome Farbbestandteile enthält, das mit einem Kühlkörper in thermischen Kontakt gebracht wird; -
2 eine Draufsicht auf die mit der Wärmeleitpaste versehene Bodenplatte des Leistungshalbleitermoduls gemäß1 ; -
3 eine Draufsicht auf die Bodenplatte eines Leistungshalbleitermoduls, auf die eine Wärmeleitpaste, die irreversibel thermochrome Farbbestandteile enthält, mit wabenförmiger Struktur aufgetragen ist; -
4 einen Vertikalschnitt durch ein Leistungshalbleitermodul, das mit einem Kühlkörper in thermischen Kontakt gebracht wird, wobei die Bodenplatte des Leistungshalbleitermoduls als Mehrschicht-Keramiksubstrat ausgebildet ist, auf das eine Wärmeleitpaste mit irreversibel thermochromen Farbbestandteilen aufgebracht ist; -
5 die Ansicht gemäß2 nach längerem Betrieb des Leistungshalbleitermoduls; -
6 die Ansicht gemäß5 mit dem Unterschied, dass die Verbindungsschicht zwischen einem der Halbleiterchips und dem Substrat, auf dem dieser Halbleiterchip montiert ist, einen Lunker aufweist. - Im Folgenden wird zunächst beispielhaft eine Grundzusammensetzung für eine Wärmeleitpaste beschrieben. Eine Wärmeleitpaste kann ein Matrixmaterial aufweisen, in das ein oder mehrere wärmeleitende Füllstoffe eingebettet sind. Als Matrixmaterialien eignen sich beispielsweise Öle, Harze oder Fette, oder darauf basierenden Pasten mit zumindest z.B. Epoxidharz, Vaseline, Pasten basierend auf Silikonöl, oder Pasten auf Basis von Polypropylenglycol. Als wärmeleitender Füllstoff können z.B. Pulver mit einem oder mehreren der folgenden Materialien verwendet werden: Diamant, Kupfer, Aluminium, Silber, Zinkoxid, Berylliumoxid, Bornitrid, Al-Nitrid, Si-Nitrid Al-Oxid. Während durch die Verwendung von wärmeleitenden Füllstoffen eine möglichst hohe Wärmeleitfähigkeit der Wärmeleitpaste erreicht werden soll, dient das Matrixmaterial dazu, die Füllstoffe zu binden. Je nach Anwendungsgebiet kann die Verwendung bestimmter Materialen als Matrix- bzw. als Füllmaterial vorteilhaft sein. So kann es beispielsweise gewünscht sein, dass die Wärmeleitpaste elektrisch isolierend ist oder zumindest einen hohen elektrischen Widerstand aufweist. Hierzu kann es z.B. vorteilhaft sein, nur elektrisch nicht leitende oder hochohmige Materialien als Füllstoff zu verwenden, oder im Fall von elektrisch leitenden oder niederohmigen Materialien die Körner des Pulvers aus diesen Materialien mit einer nicht leitenden Schicht zu überziehen. Bei der nicht leitenden Schicht kann es sich beispielsweise um eine Oxidschicht aus dem Oxid des betreffenden Materials handeln. Die Wärmeleitpaste wird durch Herstellen einer homogenen Mischung aus dem Matrixmaterial, einem wärmeleitenden Füllstoffpulver, sowie einem Pulver mit thermochromen Eigenschaften erzeugt, wobei die thermochromen Eigenschaften reversibel oder irreversibel sein können. Außerdem kann ein Pulver mit thermochromen Eigenschaften sowohl einen Pulveranteil aufweisen, der reversibel thermochrome Eigenschaften besitzt, als auch einen Pulveranteil mit irreversibel thermochromen Eigenschaften.
- Bei einem thermochromen Farbbestandteil kann es sich beispielsweise um eine Dreikomponenten-Mischung mit mindestens einem Elektronendonator, mindestens einem Elektrononenakzeptor und mindestens einem Lösungsmittel handeln.
- Bei dem Elektronendonator handelt es sich z.B. um einen elektronenreichen organischen Farbstoff handeln, beispielsweise um einen Leukofarbstoff. Als Leukofarbstoffe können unter anderem Spirolactone, Fluorane, Spiropyrane oder Fulgide eingesetzt.
- Als Elektronenakzeptor eignet sich zum Beispiel eine schwache Säure, z.B. Bisphenol A, Alkyl-p-hydroxybenzoat, 1,2,3-Triazol oder 4-Hydroxycoumarin.
- Als Lösungsmittel wird bevorzugt ein polares Lösungsmittel, beispielsweise ein Alkohol, ein Keton, ein Ester oder ein Ether eingesetzt.
- Die drei Komponenten – Elektronenakzeptor, Elektronendonator und Lösungsmittel – können gemeinsam mikroverkapselt sein, beispielsweise mit Gelatine.
- Je nach gewünschtem Farbeffekt können geeignete Komponenten kombiniert werden. Selbstverständlich ist es auch möglich, Mischungen verschiedener Elektronenakzeptoren und/oder Elektronendonatoren und/oder Lösungsmitteln einzusetzen. Ebenso können unterschiedliche mikroverkapselte, Dreikomponenten-Mischungen vermengt werden.
- Ergänzend zu Materialien, die bei einer bestimmten charakteristischen Temperatur einen signifikanten Farbwechsel zeigen, können auch Materialien verwendet werden, deren Farbe sich mit der Temperatur kontinuierlich oder quasi-kontinuierlich ändert.
- Im Weiteren werden verschiedene Anwendungen einer Wärmeleitpaste mit thermochromen Eigenschaften, wie sie vorangehend beschrieben wurde, am Beispiel von Leistungshalbleitermodulen erläutert, die einen oder mehrere Leistungshalbleiterchips enthalten, von denen jeder beim Betrieb des Moduls eine signifikante Wärmeentwicklung zeigt. Anders als einfache elektronische Bauelemente weisen Leistungshalbleitermodule eine sehr große Wärmeableitkontaktfläche mit beispielsweise mehr als 2 cm × 3 cm auf. Aufgrund der daraus resultierenden großen Kontaktfläche sowie aufgrund der vor allem lokal unterhalb der Leistungshalbleiterchips auftretenden Erwärmung des Moduls und damit auch der Wärmeleitpaste kann es innerhalb der Wärmeleitpaste zu einer starken Variation der Temperaturverteilung kommen.
-
1 zeigt einen Querschnitt durch ein Leistungshalbleitermodul100 . Dieses Leistungshalbleitermodul100 umfasst mindestens einen Leistungshalbleiterchip31 ,32 . Bei den Leistungshalbleiterchips31 kann es sich beispielsweise um steuerbare Leistungshalbleiterschalter wie Transistoren, IGBTs, MOSFETs, J-FETs, Thyristoren oder beliebige andere Leistungshalbleiterbauelemente wie z.B. Dioden handeln. Grundsätzlich weist das Leistungshalbleitermodul100 mindestens einen zu kühlenden Leistungshalbleiterchip31 ,32 auf. - In dem vorliegenden Beispiel sind die Leistungshalbleitechips
31 ,32 paarweise auf jeweils einem Schaltungsträger2 angeordnet. Hierzu weisen die Schaltungsträger2 einen Isolationsträger20 auf, sowie eine auf diesen aufgebrachte oberseitige Metallisierung21 , die zu Leiterbahnen und/oder Leiterflächen strukturiert ist. Die Leistungshalbleiterchips31 ,32 sind großflächig mit der oberseitigen Metallisierung21 verbunden, um die Leistungshalbleiterchips31 ,32 sowohl mit geringem elektrischen als auch mit einem geringen thermischen Widerstand an die oberseitige Metallisierung21 anzuschließen. Hierzu sind Verbindungsschichten3 vorgesehen, die zwischen der oberseitigen Metallisierung21 des betreffenden Isolationsträgers20 und dem zugehörigen Leistungshalbleiterchip31 bzw.32 angeordnet sind. Um die Oberseiten der Leistungshalbleiterchips31 ,32 und weitere Abschnitte der oberen Metallisierung21 elektrisch anzuschließen sind außerdem Bonddrähte30 vorgesehen. Alternativ oder ergänzend zu Bonddrähten30 könnten jedoch auch Strukturen wie z.B. Verbindungsbleche oder flexible Leiterplatten vorgesehen sein, die den betreffenden Leistungshalbleiterchip31 ,32 bzw. den betreffenden Abschnitt der oberen Metallisierung21 stoffbündig druckkontaktieren oder die mit dem betreffenden Leistungshalbleiterchip31 ,32 bzw. dem betreffenden Abschnitt der oberen Metallisierung21 stoffschlüssig verbunden sind. - Auf ihrer der oberseitigen Metallisierung
21 abgewandten Unterseite weisen die Schaltungsträger2 eine auf den Isolationsträger20 aufgebrachte unterseitige Metallisierung22 auf. Die Schaltungsträger2 sind mittels weiterer Verbindungsschichten4 mit einer metallischen Bodenplatte1 des Leistungshalbleitermoduls100 flächig verbunden und damit thermisch gut leitend an diese gekoppelt. - Bei den Isolationsträgern
20 kann es sich z.B. um dünne Keramikplättchen, beispielsweise aus Aluminiumoxid (Al2O3), Aluminiumnitrid (AlN) oder aus Siliziumnitrid (Si3N4) handeln. Die Metallisierungen21 ,22 bestehen aus niederohmigem Material, z.B. aus Kupfer oder aus Aluminium, oder aus Legierungen mit zumindest einem dieser Stoffe. Die Schaltungsträger2 können insbesondere als DCB-Substrate (DCB = Direct Copper Bonding), als DAB-Substrate (DAB = Direct Aluminum Bonding) oder als AMB-Substrate (AMB = Active Metal Brazing) ausgebildet sein. - Die Verbindungsschichten
3 und/oder4 können beispielsweise aus einem Lot oder einem elektrisch leitfähigem Klebstoff gebildet sein. Ebenso sind Verbindungsschichten3 und/oder4 möglich, die als NTV-Verbindungen (NTV = Niedertemperaturverbindung) ausgebildet sind, bei denen eine silberhaltige und mit einem Lösungsmittel versehene Paste zwischen die miteinander zu verbindenden Fügepartner eingebracht und die Fügepartner dann mit hohem Druck und bei einer im Vergleich zu üblichen Löttemperaturen geringen Temperatur aneinander gepresst werden. - Das Leistungshalbleitermodul
100 weist weiterhin ein Gehäuse50 mit Seitenwänden51 und einem optionalen Gehäusedeckel52 auf, die zusammen mit der Bodenplatte1 das Gehäuse des Moduls100 bilden. Die Seitenwände51 können einen geschlossenen Rahmen bilden, der die Substrate2 des Moduls100 ringförmig umschließt. Der Gehäusedeckel52 kann mit den Seitenwänden51 fest und optional abnehmbar verbunden sein. Ebenso können der Gehäusedeckel52 und die Seitenwände51 einstückig ausgebildet sein. - Weiterhin umfasst das Leistungshalbleitermodul
100 elektrische Anschlüsse33 ,34 ,35 ,36 ,37 ,38 , von denen die Anschlüsse33 und34 als Lastanschlüsse ausgebildet sind, über die ein Laststrom des Moduls100 fließt und die deshalb eine höhere Stromtragfähigkeit aufweisen als die Anschlüsse35 ,36 ,37 und38 , bei denen es sich z.B. um Steueranschlüsse handeln kann, mittels denen die steuerbaren Leistungshalbleiterbauelemente31 ein- und ausgeschaltet werden können. Die Lastanschlüsse33 ,34 sind mittels einer modulinternen Verschienung39 elektrisch leitend mit bestimmten der Leistungshalbleiterbauelemente31 ,32 verbunden. - In dem vorliegenden Beispiel weist das Leistungshalbleitermodul
100 außerdem eine optionale Steuerplatine53 auf, die mit einer nicht dargestellten Steuerelektronik bestückt sein kann, und die intelligente Funktionen enthalten kann wie z.B. eine Schutzabschaltung des Moduls im Fehlerfall. Zur Erhöhung der Isolationsfestigkeit des Moduls100 ist der Innenraum des Gehäuses1 ,50 mit einer optionalen Weichvergussmasse54 , beispielsweise einem Silikongel, vergossen, die sich von der Oberseite der Bodenplatte1 bis über die Leistungshalbleiterchips31 ,32 und die Bonddrähte30 erstreckt. Oberhalb der Weichvergussmasse54 kann außerdem eine optionale Hartvergussmasse55 , z.B. auf Epoxidharzbasis, vorgesehen sein. - Über die Verbindungsschichten
3 und4 sowie die Schaltungsträger2 sind die Leistungshalbleiterchips31 ,32 thermisch gut an die Bodenplatte1 angekoppelt. Die den Leistungshalbleiterchips31 ,32 abgewandte Unterseite102 der Bodenplatte1 bildet zugleich eine erste thermische Kontaktfläche101 , über die die in den Leistungshalbleiterchips31 ,32 anfallende Verlustwärme zu einem Kühlkörper200 hin abgeführt werden soll. Hierzu weist der Kühlkörper200 ebenfalls eine thermische Kontaktfläche201 auf, die nachfolgend als zweite thermische Kontaktfläche201 bezeichnet wird, und die mit einem möglichst geringen Wärmeübergangswiderstand mit der ersten thermischen Kontaktfläche101 gekoppelt werden soll. Hierzu ist eine irreversibel thermochrome Wärmeleitpaste5 vorgesehen, wie sie vorangehend beschrieben wurde. Diese Wärmeleitpaste5 wird zwischen der ersten und der zweiten thermischen Kontaktfläche101 bzw.201 angeordnet. Sie gleicht eventuell bestehende Unebenheiten und/oder thermisch bedingte Verbiegungen der thermischen Kontaktflächen101 ,201 aus, so dass in allen Betriebszuständen des Moduls100 möglichst wenig Lufteinschlüsse zwischen den thermischen Kontaktflächen101 ,201 bestehen. Die Wärmeleitpaste5 ist kein Bestandteil des Leistungshalbleitermoduls100 . - Die Wärmeleitpaste
5 kann bei Raumtemperatur eine pastöse Konsistenz besitzen, so dass sie mittels einer geeignet strukturierten Schablone oder mittels eines abschnittweise geschlossenen Siebes in einer vorgegebenen Verteilung auf die erste und/oder die zweite thermische Kontaktfläche101 bzw.201 aufgedruckt oder mittels einer Rolle aufgerollt werden kann. Das Aufbringen der Wärmeleitpaste5 kann homogen, d. h. mit einer über die gesamte thermische Kontaktfläche101 bzw.201 konstanten Dicke, oder alternativ inhomogen, d. h. mit einer im Bereich der thermischen Kontaktfläche101 variierenden Flächendichte erfolgen. -
2 zeigt eine Draufsicht auf die den Leistungshalbleiterchips31 ,32 abgewandte Unterseite102 der Bodenplatte1 , die zugleich die thermische Kontaktfläche101 des Leistungshalbleitermoduls100 umfasst. Die Positionen der von der Bodenplatte1 verdeckten Leistungshalbleiterchips31 ,32 sind gestrichelt dargestellt. Auf diese thermische Kontaktfläche101 wurde die Wärmeleitpaste5 bei Raumtemperatur aufgetragen, wobei sich das Leistungshalbleitermodul100 außer Betrieb und ebenfalls auf Raumtemperatur befand. Die Darstellung zeigt die Anordnung unmittelbar nach dem Aufbringen der Wärmeleitpaste5 , das Leistungshalbleitermodul100 ist unverändert außer Betrieb. Der Randbereich103 der Unterseite102 sowie Montageöffnungen11 in den Eckbereichen der Bodenplatte1 wurden beim Aufbringen der Wärmeleitpaste5 ausgespart. -
3 zeigt ein anderes Beispiel, bei dem auf die Unterseite101 der Bodenplatte1 eines gemäß1 ausgebildeten Leistungshalbleitermoduls100 eine irreversibel thermochrome Wärmeleitpaste5 aufgebracht wurde. Das Aufbringen der Wärmeleitpaste5 erfolgte bei Raumtemperatur, das Leistungshalbleitermodul100 war außer Betrieb und hatte ebenfalls Raumtemperatur. Die Darstellung zeigt die Anordnung unmittelbar nach dem Aufbringen der Wärmeleitpaste5 , das Leistungshalbleitermodul100 ist unverändert außer Betrieb. Die Wärmeleitpaste5 weist voneinander beabstandete, wabenförmige Abschnitte aufweist. Anstelle der gezeigten sechseckigen Wabenform können jedoch beliebige andere Formen verwendet werden. Die Abschnitte können, müssen jedoch nicht notwendiger voneinander beabstandet sein. Entscheidend ist, dass die Schicht mit einer hohen Dichte von Vertiefungen50 durchzogen ist, so dass die Wärmeleitpaste5 beim Anpressen des mit der Wärmeleitpaste5 versehenen Leistungshalbleitermoduls100 an einen Kühlkörper200 (siehe1 ) seitlich in diese Vertiefungen50 ausweichen kann. Hierdurch wird ein optimaler, d. h. sehr geringer Wärmeübergangswiderstand zwischen den Kontaktflächen101 und201 erreicht. -
4 zeigt einen Vertikalschnitt durch ein Leistungshalbleitermodul100 , dessen Aufbau ähnlich dem des Leistungshalbleitermoduls100 gemäß1 ist. Im Unterschied zu diesem ist jedoch anstelle einer rein metallischen Bodenplatte1 eine mehrschichtige Bodenplatte1 vorgesehen. Diese weist zumindest eine strukturierte oberseitige Metallisierung21 auf, eine Keramikschicht20 , sowie eine weitere Metallisierung22 auf. Jeweils optional folgen unterhalb der Metallisierung22 noch eine oder mehrere weitere Keramikschichten23 und Metallisierungen24 , so dass Keramikschichten und Metallisierungen einander abwechseln. Auf die unterste Schicht24 der Bodenplatte1 , bei der es sich alternativ auch um eine Keramikschicht handeln kann, wurde eine irreversibel thermochrome Wärmeleitpaste5 auf eine der vorangehend erläuterten Arten auf die Unterseite101 Bodenplatte1 aufgebracht. -
5 zeigt beispielhaft ein Leistungshalbleitermodul100 gemäß4 , bei dem wie anhand von2 erläutert eine irreversibel thermochrome Wärmeleitpaste5 aufgebracht wurde, allerdings, nachdem das Leistungshalbleitermodul100 an dem Kühlkörper200 montiert, längere Zeit in Betrieb genommen und dann wieder vom Kühlkörper200 abmontiert wurde. Das Leistungshalbleitermodul100 befindet sich in der gezeigten Ansicht wieder auf Raumtemperatur. Die Positionen der von der Bodenplatte1 verdeckten Leistungshalbleiterchips31 ,32 sind gestrichelt dargestellt. - Aufgrund der beim Betrieb der Halbleiterchips
31 ,32 anfallenden Wärme kam es lokal unterhalb der Leistungshalbleiterchips31 ,32 zu einer besonders starken Erwärmung in den Substraten2 , der Bodenplatte1 und der Wärmeleitpaste5 und, aufgrund der irreversibel thermochromen Eigenschaften der Wärmeleitpaste5 , zu einer dauerhaften Farbänderung der Wärmeleitpaste5 . Da die Farbe ein Maß für die lokal erreichte Maximaltemperatur ist, kann z.B. festgestellt werden, ob das Leistungshalbleitermodul100 außerhalb seiner zulässigen thermischen Betriebsgrenzen betrieben wurde. - Eine andere Anwendung wird anhand eines Leistungshalbleitermoduls
100 gemäß6 erläutert. Das Leistungshalbleitermodul100 besitzt denselben Aufbau wie das in4 gezeigte Leistungshalbleitermodul100 und wurde, wie in2 beschrieben, mit einer irreversibel thermochromen Wärmeleitpaste5 beschichtet. Dann wurde das Leistungshalbleitermodul100 entsprechend dem in5 gezeigten Modul an einem Kühlkörper200 montiert, längere Zeit in Betrieb genommen, wieder vom Kühlkörper200 abmontiert und auf Raumtemperatur abgekühlt. Auch hier sind die Positionen der von der Bodenplatte1 verdeckten Leistungshalbleiterchips31 ,32 gestrichelt dargestellt. - Anders als das Leistungshalbleitermodul
100 gemäß5 weist die Verbindungsschicht3 zwischen einem der Leistungshalbleiterchips31 und der oberseitige Metallisierung21 einen Lunker7 auf. Wegen dieses Lunkers7 ist die Wärmeübertragung von dem betreffenden Leistungshalbleiterchip31 in Richtung des zugehörigen Substrates2 , der Bodenplatte1 und der Wärmeleitpaste5 lokal gestört, so dass es während des Betriebs des Leistungshalbleitermoduls100 in dem Bereich unterhalb des Lunkers7 zu keiner so starken Farbveränderung in der Wärmeleitpaste5 kam wie unterhalb der lunkerfreien Abschnitte der Verbindungsschichten3 . Somit kann mit Hilfe der irreversibel thermochromen Wärmeleitpaste5 eine schlechte thermische Anbindung zwischen einem Leistungshalbleitermodul100 und einem Kühlkörper200 ermittelt werden. - Grundsätzlich kann auch eine reversibel thermochrome Wärmeleitpaste eingesetzt werden, beispielsweise um nachzuprüfen, ob eine Bodenplatte eines Leistungshalbleitermoduls, die sich während des Betriebs durch die Abwärme der Leistungshalbleiterchips aufgrund unterschiedlicher thermischer Ausdehnungskoeffizienten beim Betrieb verkrümmt, einen guten thermischen Kontakt zu einer ebenen Kühlfläche besitzt. Wird die Bodenplatte des Leistungshalbleitermoduls beispielsweise wie anhand von
2 erläutert mit einer Wärmeleitpaste beschichtet, die jedoch nicht irreversibel sondern reversibel thermochrom ist, und dann nicht an einer ebenen Fläche eines herkömmlichen Kühlkörpers montiert, sondern an einer ebenen Fläche eines transparenten Kühlkörpers (z.B. aus Glas), so lässt sich eine Farbveränderung der Wärmeleitpaste5 aufgrund der Transparenz des Kühlkörpers durch diesen hindurch beobachten. Auf diese Weise kann z.B. für eine bestimmte Modulkonfiguration eine ideale Vorkrümmung der Bodenplatte ermittelt werden. - Die Erfindung wurde vorangehend unter Bezugnahme auf ein Leistungshalbleitermodul näher erläutert. Grundsätzlich kann eine Wärmeleitpaste in gleicher Weise auch auf andere thermisch miteinander zu koppelnde Objekte aufgebracht werden.
- Bezugszeichenliste
-
- 1
- Bodenplatte
- 2
- Schaltungsträger/Substrat
- 3
- Verbindungsschichten
- 4
- Verbindungsschicht
- 5
- Wärmeleitpaste
- 7
- Lunker
- 11
- Montageöffnungen
- 20
- Isolationsträger
- 21
- oberseitige Metallisierung
- 22
- unterseitige Metallisierung
- 23
- Keramikschicht
- 24
- Metallisierung
- 30
- Bonddraht
- 31
- Leistungshalbleiterchip
- 32
- Leistungshalbleiterchip
- 33–38
- elektrische Anschlüsse
- 39
- Verschienung
- 50
- Gehäuse
- 51
- Seitenwänden
- 52
- Gehäusedeckel
- 54
- Weichvergussmasse
- 55
- Hartvergussmasse
- 100
- Leistungshalbleitermodul
- 101
- Kontaktfläche
- 102
- Unterseite
- 103
- Randbereich
- 200
- Kühlkörper
- 201
- Kontaktfläche
Claims (14)
- Wärmeleitpaste, die thermochrome Farbbestandteile aufweist, deren Farbe sich mit ihrer Temperatur ändert.
- Wärmeleitpaste nach Anspruch 1, die bei einer Temperatur von 100°C eine Wärmeleitfähigkeit von mehr als 0,9 W/(m·K), von mehr als 3 W/(m·K) oder von mehr als 10 W/(m·K) aufweist.
- Wärmeleitpaste nach Anspruch 1 oder 2, die thermochrome Farbbestandteile enthält, deren Farbe sich mit ihrer Temperatur irreversibel ändert.
- Wärmeleitpaste nach einem der vorangehenden Ansprüche, die thermochrome Farbbestandteile enthält, deren Farbe sich mit ihrer Temperatur reversibel ändert.
- Wärmeleitpaste nach einem der vorangehenden Ansprüche, die thermochrome Farbbestandteile enthält, die – bei Raumtemperatur eine erste Farbe aufweisen; und – reversibel oder irreversibel eine von der ersten Farbe verschiedene zweite Farbe annehmen, wenn die Temperatur der Farbbestandteile 110°C oder 130°C oder 150°C überschreitet.
- Wärmeleitpaste nach einem der vorangehenden Ansprüche, die mindestens zwei verschiedene Sorten thermochromer Farbbestandteile aufweist, wobei die Farbbestandteile einer jeden Sorte – bei Raumtemperatur eine für diese Sorte charakteristische erste Farbe aufweisen; und – die reversibel oder irreversibel eine für diese Sorte charakteristische, von der ersten Farbe verschiedene zweite Farbe annehmen, wenn die Temperatur der Farbbestandteile dieser Sorte eine für diese Sorte charakteristische Temperatur überschreitet, die höher ist als die Raumtemperatur; wobei – die Menge der charakteristischen zweiten Farben keine identischen Farben aufweist; und – die Menge der charakteristischen Temperaturen keine identischen Temperaturen aufweist.
- Wärmeleitpaste nach Anspruch 6, die genau eine der folgenden Bedingungen erfüllt: – die Farbbestandteile einer jeder der Sorten nehmen beim Überschreiten der für sie charakteristischen Temperatur die für diese Sorte charakteristische zweite Farbe reversibel an; – die Farbbestandteile einer jeder der Sorten nehmen beim Überschreiten der für sie charakteristischen Temperatur die für diese Sorte charakteristische zweite Farbe irreversibel an; – die Farbbestandteile einer ersten der Sorten nehmen beim Überschreiten der für sie charakteristischen Temperatur die für diese erste der Sorten charakteristische zweite Farbe reversibel an, und die Farbbestandteile einer zweiten der Sorten nehmen beim Überschreiten der für sie charakteristischen Temperatur die für diese zweite der Sorten charakteristische zweite Farbe irreversibel an.
- Leistungshalbleiteranordnung mit einem Leistungshalbleitermodul (
100 ), das eine als Wärmeableitkontaktfläche ausgebildete Unterseite (101 ) aufweist, auf die eine Schicht einer Wärmeleitpaste (5 ) gemäß einem der vorangehenden Ansprüche aufgetragen ist. - Leistungshalbleiteranordnung nach Anspruch 8, bei dem die Wärmeableitkontaktfläche (
101 ) eine Fläche von wenigstens 2 cm × 3 cm aufweist. - Verfahren zum Aufbringen einer Wärmeleitpaste auf ein Leistungshalbleitermodul mit folgenden Schritten: – Bereitstellen eines Leistungshalbleitermoduls (
100 ), das eine Wärmeableitkontaktfläche (101 ) aufweist; – Bereitstellen einer gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7 ausgebildeten Wärmeleitpaste (5 ); – Auftragen der Wärmeleitpaste (5 ) auf die Wärmeableitkontaktfläche (101 ) als dünne, strukturierte oder unstrukturierte Schicht. - Verfahren nach Anspruch 10 mit folgenden weiteren Schritten: – Festlegen einer vorgegebenen Trocknungstemperatur der Wärmeleitpaste (
5 ); – Trocknen der aufgetragenen Wärmeleitpaste (5 ) in einem ersten Heizschritt; – Ermitteln der erreichten Trocknungstemperatur der Wärmeleitpaste (5 ) nach dem ersten Heizschritt anhand der Farbe und/oder der Farbverteilung der Wärmeleitpaste (5 ). - Verfahren nach Anspruch 11 mit folgenden weiteren Schritten: (a) Nachtrocknen der aufgetragenen Wärmeleitpaste (
5 ) in einem weiteren Heizschritt, wenn sich aus dem Ermitteln des Trocknungszustandes ergibt, dass die Wärmeleitpaste (5 ) noch nicht über die gesamte dünne Schicht die vorgegebene Trocknungstemperatur erreicht hat; (b) Ermitteln der erreichten Trocknungstemperatur der Wärmeleitpaste (5 ) nach dem weiteren Heizschritt anhand der Farbe und/oder der Farbverteilung der Wärmeleitpaste (5 ); (c) Wiederholen der Schritte (a) und (b) so oft, bis die Wärmeleitpaste (5 ) an jeder Stelle der dünnen Schicht die vorgegebene Trocknungstemperatur erreicht hat. - Verfahren zum Ermitteln der beim Betrieb eines Leistungshalbleitermoduls erreichten Betriebstemperatur mit folgenden Schritten: – Bereitstellen eines Leistungshalbleitermoduls (
100 ), das vorangehend eine Betriebsphase durchlaufen hat und zu diesem Zweck mit einer elektrischen Spannung versorgt worden ist, und das eine Wärmeableitkontaktfläche (101 ) aufweist, auf die eine gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7 ausgebildete Wärmeleitpaste (5 ) aufgetragen ist, die bereits während der Betriebsphase des Leistungshalbleitermoduls (100 ) auf die Wärmeableitkontaktfläche (101 ) aufgetragen war; und die zumindest eine Sorte thermochromer Farbbestandteile aufweist, die bei Raumtemperatur eine für diese Sorte charakteristische erste Farbe aufweisen, und die beim Überschreiten einer für sie charakteristischen Temperatur irreversibel eine für diese Sorte charakteristische zweite Farbe annehmen; – Ermitteln der während der maximalen in der Wärmeleitpaste (5 ) erreichten Temperatur anhand der Farbe der Wärmeleitpaste (5 ). - Verfahren zum Ermitteln der beim Betrieb eines Leistungshalbleitermoduls erreichten Betriebstemperatur mit folgenden Schritten: – Bereitstellen einer Leistungshalbleiteranordnung, die ein Leistungshalbleitermodul (
100 ) mit einer Wärmeableitkontaktfläche (101 ) aufweist; – Bereitstellen einer gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7 ausgebildeten Wärmeleitpaste (5 ); – Auftragen der Wärmeleitpaste (5 ) auf die Wärmeableitkontaktfläche (101 ) als dünne Schicht; – Inbetriebnehmen des Leistungshalbleitermoduls (100 ) durch Anlegen einer elektrischen Spannung an das Leistungshalbleitermodul (100 ); – Ermitteln der in der Wärmeleitpaste (5 ) vorliegenden Temperatur anhand der Farbe der Wärmeleitpaste (5 ) während des Betriebs de Leistungshalbleitermoduls (100 ).
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013207043A1 (de) * | 2013-04-18 | 2014-10-23 | Infineon Technologies Ag | Halbleitermodulsystem, Halbleitermodulanordnung und Verfahren zur Montage eines Halbleitermoduls an einem Kühlkörper |
DE102019209657A1 (de) * | 2019-07-02 | 2021-01-07 | Continental Automotive Gmbh | Kühlanordnung |
CN114267663A (zh) * | 2020-09-16 | 2022-04-01 | 三菱电机株式会社 | 半导体装置 |
DE112015005476B4 (de) | 2014-12-04 | 2023-01-26 | Hahn-Schickard-Gesellschaft für angewandte Forschung e.V. | Verfahren und system zur detektion und unterscheidung zwischen mindestens zwei farbstoffen |
US11876031B2 (en) | 2020-07-17 | 2024-01-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thermal interface material paste and semiconductor package |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4170190A (en) * | 1978-04-04 | 1979-10-09 | Warner John H | Method for detecting and a detector for indicating excessive temperature at electrical wiring devices |
US4891250A (en) * | 1988-02-17 | 1990-01-02 | Weibe Edward W | Electronic component operating temperature indicator |
US5673028A (en) * | 1993-01-07 | 1997-09-30 | Levy; Henry A. | Electronic component failure indicator |
GB2336432A (en) * | 1998-04-17 | 1999-10-20 | Warth International Limited | Temperature indicating means for electronic components |
DE202004005102U1 (de) * | 2003-04-10 | 2004-06-03 | Micro-Star International Co., Ltd., Chung-Ho | Wärmeleitender Körper mit einer thermochromischen, auf diesen aufgebrachten Farbe |
US20060214666A1 (en) * | 2005-03-25 | 2006-09-28 | Asustek Computer, Inc. | Circuit board capable of indicating the temperature of hot elements thereon |
-
2011
- 2011-09-22 DE DE102011083224A patent/DE102011083224A1/de not_active Ceased
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4170190A (en) * | 1978-04-04 | 1979-10-09 | Warner John H | Method for detecting and a detector for indicating excessive temperature at electrical wiring devices |
US4891250A (en) * | 1988-02-17 | 1990-01-02 | Weibe Edward W | Electronic component operating temperature indicator |
US5673028A (en) * | 1993-01-07 | 1997-09-30 | Levy; Henry A. | Electronic component failure indicator |
GB2336432A (en) * | 1998-04-17 | 1999-10-20 | Warth International Limited | Temperature indicating means for electronic components |
DE202004005102U1 (de) * | 2003-04-10 | 2004-06-03 | Micro-Star International Co., Ltd., Chung-Ho | Wärmeleitender Körper mit einer thermochromischen, auf diesen aufgebrachten Farbe |
US20060214666A1 (en) * | 2005-03-25 | 2006-09-28 | Asustek Computer, Inc. | Circuit board capable of indicating the temperature of hot elements thereon |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013207043A1 (de) * | 2013-04-18 | 2014-10-23 | Infineon Technologies Ag | Halbleitermodulsystem, Halbleitermodulanordnung und Verfahren zur Montage eines Halbleitermoduls an einem Kühlkörper |
US9330996B2 (en) | 2013-04-18 | 2016-05-03 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor module system, semiconductor module arrangement and method for mounting a semiconductor module on a heat sink |
DE102013207043B4 (de) * | 2013-04-18 | 2020-02-27 | Infineon Technologies Ag | Halbleitermodulanordnung und Verfahren zur Montage eines Halbleitermoduls an einem Kühlkörper |
DE112015005476B4 (de) | 2014-12-04 | 2023-01-26 | Hahn-Schickard-Gesellschaft für angewandte Forschung e.V. | Verfahren und system zur detektion und unterscheidung zwischen mindestens zwei farbstoffen |
DE102019209657A1 (de) * | 2019-07-02 | 2021-01-07 | Continental Automotive Gmbh | Kühlanordnung |
WO2021001001A1 (de) | 2019-07-02 | 2021-01-07 | Continental Automotive Gmbh | Kühlanordnung |
US11876031B2 (en) | 2020-07-17 | 2024-01-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thermal interface material paste and semiconductor package |
CN114267663A (zh) * | 2020-09-16 | 2022-04-01 | 三菱电机株式会社 | 半导体装置 |
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