-
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abbilden eines Objekts mittels eines Mikroskops, welches ein Objektiv und eine Korrekturoptik umfasst. Das Objektiv definiert eine optische Achse und eine dazu senkrecht stehende Fokalebene. Die Korrekturoptik ist zur Abstimmung auf eine Tiefenlage einstellbar und korrigiert am Objektiv eine sphärische Aberration, welche bei einer Abbildung des Objekts mit einer bestimmten Tiefenlage der Fokalebene auftritt. Ferner betrifft die Erfindung ein solches Mikroskop.
-
In der Forschung müssen Mikroskope häufig hohe Flexibilität besitzen, da Experimente unterschiedlichster Natur durchgeführt werden. Dabei können sowohl die zu betrachtenden Objekte als auch die Objektträger stark variieren. Abbildungsfehler machen sich umso stärker bemerkbar, je tiefer aus dem Objekt abgebildet wird. Bereits ab Tiefen von wenigen Mikrometern treten sichtbare sphärische Aberrationen auf, wenn ein Brechungsindexunterschied im Objekt gegeben ist und die numerische Apertur des Objektivs entsprechend hoch ist (z. B. eine numerische Apertur von 1,2, wie sie bei konfokaler Mikroskopie üblich ist). Abbildungen in drei Dimensionen, d. h. das Abbilden in dickeren oder tieferen Objekten, werden immer wichtiger, z. B. bei der Untersuchung von Zellkulturen in 3D, bei Spheroiden oder bei dickeren Schnitten. Eine ausgezeichnete Bildqualität ist hierfür nötig.
-
Die Applikationen, insbesondere in der Fluoreszenzmikroskopie, und damit die Anforderung an das Mikroskop variieren stark. So kann es beispielsweise bei einem Experiment notwendig sein, nur die ersten 10 µm ab einer Deckglasoberfläche zu betrachten, in einem anderen Experiment möchte man jedoch 200 µm tief in das Objekt messen. Ähnliches gilt für die Temperatur. Das eine Experiment läuft bei Raumtemperatur ab, wohingegen andere Experimente bei 37° C durchgeführt werden. Beide Varianten haben Einfluss auf das optische Verhalten des Mikroskops und damit auf dessen Abbildungseigenschaften.
-
Bei Objektiven mit hoher numerischer Apertur haben Abweichungen des Brechungsindex auf einem optischen Weg von einer Fokalebene im Objekt zum Objektiv einen starken Einfluss auf das beugungsbegrenzte Abbildungsvermögen. Eine Möglichkeit, die sphärische Aberration der Abbildung des Objekts an unterschiedliche Objektträgerdicken, wie beispielweise Deckgläserdicken von 0,15 mm bis 1,5 mm, anzupassen, ist es, einen Korrekturring am Objektiv auf den entsprechenden Wert einzustellen und somit die sphärische Aberration bei der Abbildung zu reduzieren. Bisher war es mühsam, den Korrekturring des Objektivs für den Objektträger bzw. das Objekt einzustellen. Der Korrekturring ist oftmals schwer zugänglich und die Genauigkeit, mittels welcher dieser eingestellt werden kann, ist limitiert. Mittlerweile sind auch motorisierte Korrekturringe aus dem Stand der Technik bekannt, welche eine präzise Einstellung erleichtern und die Problematik der schlechten Zugänglichkeit umgehen. Demnach ist bislang eine Änderung der Einstellung während des Experiments nahezu ausgeschlossen.
-
Aus dem Stand der Technik sind verschiedene Verfahren bzw. Aufbauten für Mikroskope bekannt, die entweder automatisiert oder teilautomatisiert arbeiten und ein iteratives Vorgehen zur Korrektur einer sphärischen Aberration beinhalten. Die
US 2008/310016 A beschreibt eine automatische Korrektur der sphärischen Aberration hinsichtlich der Dicke eines Deckglases. Die
US 2005/024718 A und die
JP 2005/043624 A2 beschreiben die explizite Eingabe der optischen physikalischen Parameter durch den Nutzer, woraus sich dann eine Korrektur der sphärischen Aberration ableitet. Die
US 2011/141260 A und die
US 2014/233094 A beschreiben iterative Korrekturverfahren für die sphärische Aberration, welche bildanalytisch den Kontrast oder die Helligkeit auswerten, um dadurch eine Korrektur der sphärischen Aberration abzuleiten.
-
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren oder ein Mikroskop zum Abbilden eines Objekts bereitzustellen, mittels welchem auf einfache Weise, insbesondere ohne Kenntnis der relevanten optischen Parameter für die Abbildung, die sphärische Aberration der Abbildung des Objekts korrigiert werden kann.
-
Die Erfindung ist in den Ansprüchen 1 und 10 definiert.
-
Im Verfahren zum Abbilden eines Objekts wird ein Mikroskop verwendet, welches ein Objektiv und eine einstellbare Korrekturoptik umfasst. Das Objektiv definiert eine optische Achse und eine dazu senkrecht stehende Fokalebene. Die Korrekturoptik dient zur Korrektur der sphärischen Aberration hinsichtlich einer Tiefenlage, welche bei einer Abbildung des Objekts mit einer bestimmten Tiefenlage der Fokalebene auftritt. Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte: Erfassen einer Art des Objekts; Auslesen einer vorbestimmten Angabe, welche einen Einstellwert für die Korrekturoptik mit verschiedenen Arten von Objekten verknüpft, um einen Einstellwert der Korrekturoptik zu ermitteln, so dass die sphärische Aberration in der Fokalebene reduziert wird; und Einstellen der Korrekturoptik auf den Einstellwert sowie Abbilden des Objekts. Es ist dabei ein zweistufiges Vorgehen für die Angabe zweckmäßig (aber nicht bindend), um den Brechungsindex des Objekts zu bestimmen. Dies sieht eine Datenbank, die Art des Objektes und Brechungsindex verknüpft, und weiter das Verwenden eines Zusammenhangs zwischen dem Brechungsindex und der durch das Objekt verursachten sphärischen Aberration vor.
-
Das Mikroskop zur Abbildung eines Objekts umfasst ein Objektiv, eine einstellbare Korrekturoptik, einen Antrieb und eine Steuereinrichtung. Das Objektiv definiert eine optische Achse und eine dazu senkrecht stehende Fokalebene. Die Korrekturoptik ist einstellbar, um am Objektiv eine sphärische Aberration zu korrigieren, die bei der Abbildung des Objekts mit einer bestimmten Tiefenlage der Fokalebene auftritt. Der Antrieb stellt die Korrekturoptik ein. Die Steuereinrichtung ist mit einer Schnittstelle versehen und weist eine Speichereinrichtung auf. Mittels der Schnittstelle kann die Art des Objekts erfasst werden. In der Speichereinrichtung ist die genannte Angabe hinterlegt, z. B. als Datenbank mit Brechungsindices verschiedener Arten von Objekten und Zusammenhang zwischen dem Brechungsindex einerseits und der durch das Objekt verursachten sphärischen Aberration andererseits. Die Steuereinrichtung ist ausgebildet, die Schnittstelle auszulesen und den Antrieb auf Grundlage der Angabe derart anzusteuern, dass die sphärische Aberration in der Fokalebene reduziert wird.
-
Vorteil der Erfindung ist es, dass zur Korrektur der sphärischen Aberration die optischen Eigenschaften des Objekts nicht bekannt sein müssen. Der Experimentator muss lediglich Kenntnis über die Art des Objekts besitzen. Dann wird die sphärische Aberration automatisch bestmöglich korrigiert, so dass die Abbildungseigenschaften verbessert sind. In den meisten Fällen kennt der Experimentator die Art des Objekts, wohingegen die optischen Eigenschaften der Probe, wie beispielsweise der Brechungsindex, ihm meist nicht oder nicht ausreichend genau bekannt sind. Darüber hinaus erfolgt die Einstellung der sphärischen Aberration schnell, da kein iteratives Verfahren verwendet wird, sondern ausgehend von der Kenntnis der Art des Objekts die sphärische Aberration für die Abbildung des Objekts sofort minimiert ist. Ein „Pröbeln“ zum Auffinden einer guten Stellung eines Korrekturringes, wie es im Stand der Technik nötig war, entfällt.
-
Das Verfahren kann beispielsweise von der Steuereinrichtung, welche dem Mikroskop zugeordnet ist, durchgeführt werden. Die Steuereinrichtung kann beispielsweise als ein Mikroprozessor, elektrischer Schaltkreis, Computer oder jede andere programmierbare Vorrichtung ausgebildet sein.
-
Das Mikroskop ist insbesondere ausgebildet, verschiedene Abbildungsarten durchzuführen. Beispielsweise kann das Mikroskop für Weitfeldabbildungen und/oder für scannende Abbildungstechniken, wie konfokale Mikroskopie, ausgebildet sein. Ferner ist es optional mit dem Mikroskop möglich, Fluoreszenzabbildungen des Objekts zu erfassen.
-
Das Objekt umfasst die eigentlich abzubildende Probe sowie optional ein die Probe umgebendes Eindeckmedium oder das Einbettmedium. Das Objekt ist beispielsweise die abzubildende Zelle sowie die Lösung, in welcher die Zelle eingebettet ist.
-
Das Objektiv dient zur Abbildung des Objekts, und kann auch zur Beleuchtung des Objekts verwendet werden. Das Objektiv ist dann nicht nur im Abbildungsstrahlengang vorgesehen, sondern auch Teil des Beleuchtungsstrahlengangs. Gleiches gilt für die Korrekturoptik. Das Objektiv hat eine optische Achse und die eingestellte Brennweite legt die Fokalebene fest. Das Objektiv ist optional mit einem z-Antrieb versehen, welcher die Brennweite des Objektivs und damit die Fokalebene verstellt. Der z-Antrieb kann mit der Steuereinrichtung verbunden sein, so dass die Steuereinrichtung die Fokalebene einstellen kann. Darüber hinaus erfasst die Steuereirichtung optional die aktuelle Fokalebene des Objektivs, zum Beispiel mit Hilfe der von dem z-Antrieb eingenommenen Position.
-
Die Korrekturoptik dient zur Korrektur der sphärischen Aberration, die bei der Abbildung des Objekts mit einer bestimmten Tiefenlage aus der Fokalebene auftritt. Dies bedeutet, dass sich, je nachdem, welche Brennweite das Objektiv hat, die sphärische Aberration ändert. Die Korrekturoptik wird demnach abhängig von der Tiefenlage eingestellt. Die Korrekturoptik kann der zuvor beschriebene Korrekturring an dem Objektiv sein, wobei es jedoch auch möglich ist, dass von dem Objektiv beabstandete optische Elemente verwendet werden, die es ermöglichen, die sphärische Aberration der Abbildung mittels des Objektivs zu verändern. Die Korrekturoptik kann beispielsweise nach dem Objektiv und u. a. direkt vor einem Detektor angeordnet sein. Die Korrekturoptik kann optische Elemente aufweisen, welche Strahlung abhängig von der Bildhöhe unterschiedlich ablenken. Die Einstellung der Korrekturoptik erfolgt mit Hilfe des Antriebs, welcher durch Leitungen oder kabellos mit der Steuereinrichtung verbunden ist. Die Steuereinrichtung kann die Position des Antriebs erfassen, und somit den momentanen Einstellwert der Korrekturoptik. Darüber hinaus steuert die Steuereinrichtung die Korrekturoptik an, um die sphärische Aberration der Abbildung mittels des Mikroskops zu verändern.
-
Mit Hilfe der Schnittstelle wird die Art des Objekts erfasst. Die Schnittstelle kann beispielsweise eine Eingabeeinrichtung sein, mittels welcher der Benutzer die Art des Objekts manuell eingibt. Ferner ist es auch möglich, dass mit Hilfe der Schnittstelle aus einer vorgegebenen Liste, die optional in der Datenbank hinterlegt ist, die Art des Objekts aus einer vorgegebenen Gruppe von Arten für das momentane Experiment ausgewählt wird. Darüber hinaus kann die Schnittstelle auch als Sensor ausgebildet sein, mittels welchem die Art des Objekts erfasst werden kann. In einer Weiterbildung ist es vorgesehen, dass die Schnittstelle einen Scanner aufweist, der eine Markierung an dem Objekt oder dem Objektträger ausliest, um die Art des Objekts zu erfassen. Dies wird im Folgenden noch näher beschrieben. Prinzipiell ist die Art und Weise, wie die Art des Objekts erfasst wird, beliebig. Beispielsweise kann die Schnittstelle auch als ein Mikrofon ausgebildet sein, mittels welchem die Art des Objekts per Spracheingabe eingegeben wird. Die Schnittstelle kann auch eine Tastatur, eine Maus oder ein Bedienpanel umfassen.
-
Die Angabe verknüpft Art des Objektes und Einstellwert. In einer zweistufigen Ausgestaltung, die vorteilhaft ist, weil auf die bekannte Wirkung bestehender Einstellmechanismen für die Korrekturoptik zurückgegriffen werden kann, ist in einer Datenbank Brechungsindices für verschiedene Arten von Objekten hinterlegt. Die Steuereinrichtung ist mit der Datenbank über Leitungen oder drahtlos verbunden. Beispielsweise kann die Datenbank als zentraler Speicher vorgehalten sein. In einer Weiterbildung ist die Datenbank über das Internet mit der Steuereinrichtung verbunden, so dass die Steuereinrichtung die Brechungsindices abhängig von der Art des Objekts per Datenübertragung abruft. Vorzugsweise ist eine Vielzahl von verschiedenen Objektarten mit den damit verbundenen Brechungsindices hinterlegt. Sollte eine bestimme Art des Objekts nicht in der Datenbank hinterlegt sein, kann der Benutzer optional den entsprechenden Brechungsindex manuell eingeben. Diese Eingabe kann dann von anderen Datenbanken übernommen werden, so dass die Anzahl der in der Datenbank hinterlegten Arten von Objekten ständig wächst, oder die Steuereinrichtung wählt nach vorbestimmten Unterschiedskriterien die nächstkommende der in der Datenbank vorhandenen Arten. So ist es möglich, falls eine bestimmte Art des Objekts in der Datenbank nicht hinterlegt ist, dass die Datenbank automatisch oder der Experimentator manuell eine Art des Objekts ähnlich dem Objekt auswählt, und somit für das Experiment mit einem bestimmten Objekt der Brechungsindex für ein ähnliches Objekt verwendet wird. Die Datenbank kann beispielsweise eine Tabelle sein, in welcher in einer Spalte die verschiedenen Objekte und in der anderen Spalte die entsprechenden Brechungsindices aufgelistet sind.
-
Die Speichereinrichtung kann ein interner Speicher des Mikroskops sein, beispielsweise der Speicher eines Computers, der die Steuereinrichtung bereitstellt. Die Speichereinrichtung kann ein wiederbeschreibbarer Speicher (RAM random access memory) oder ein lediglich auslesbarer Speicher (ROM read only memory) sein. Die Speichereinrichtung ist drahtlos oder mit Leitungen mit der Steuereinrichtung verbunden. Der Zusammenhang kann eine Tabelle oder Funktion sein, die den Brechungsindex mit dem Einstellwert für die Korrekturoptik verknüpft. Der Zusammenhang kann empirisch ermittelt werden, so dass in einem Kalibrierschritt für jeden Brechungsindex der entsprechende Einstellwert experimentell ermittelt wird. Dies kann im Rahmen einer Kalibration des Mikroskops erfolgen.
-
Im zweistufigen Aufbau der Angabe ist weiter ein Zusammenhang zwischen Brechungsindex und Einstellwert, der zur optimalen Korrektur der sphärischen Aberration, die von dem zugeordneten Brechungsindex herrührt, nötigt ist, hinterlegt.
-
Die Steuereinrichtung liest aus der Schnittstelle die Art des Objekts aus, ermittelt z. B. mit Hilfe der Datenbank den dazu entsprechenden Brechungsindex und stellt über den Zusammenhang den Einstellwert für die Korrekturoptik fest. Im Anschluss daran stellt die Steuereinrichtung die Korrekturoptik entsprechend dem Einstellwert ein, so dass anschließend das Objekt durch die Korrekturoptik und das Objektiv abgebildet werden kann. Die Einstellung der Korrekturoptik erfolgt z. B. durch Ansteuerung des Antriebs.
-
Die Angabe verknüpft die Art des Objektes mit einem Einstellwert für die Korrekturoptik. Damit ist erreicht, dass der Benutzer sich nicht mehr um die optischen Details des Objektes kümmern muss, insbesondere vor dem Hintergrund, dass Experimente mit Mikroskopen üblicherweise nicht von Mikroskopie-Experten durchgeführten werden, sondern von Forschern, die sich auf die eigentlichen Experimente konzentrieren wollen. Letztlich ist ein Mikroskop ja ein Hilfsmittel bei der Durchführung von Experimenten. Der Hauptfaktor, welcher die sphärische Aberration beeinflusst, ist der Brechungsindex der Probe. Es gibt jedoch noch weitere Größen, die zusätzlich zum Brechungsindex Auswirkungen auf die sphärischen Aberrationen haben oder die den Brechungsindex beeinflussen. In diversen Weiterbildungen ist es deshalb vorgesehen, dass die Angabe, z. B. die Datenbank und/oder der Zusammenhang diese weitere(n) Größe(n) berücksichtigt. Dies kann dadurch geschehen, dass bereits a priori eine mehrdimensionale Angabe vorgesehen ist. Es ist aber auch gleichermaßen möglich, dass eine Basisangabe vorgesehen wird, welche lediglich die Art des Objektes und den Brechungsindex bzw. Brechungsindex und Einstellwert der Korrekturoptik verknüpft und dass diese Basisangabe dann nach Ermittlung der weiteren Größen entsprechend modifiziert wird. Ein rein exemplarisches Beispiel für eine solche Modifikation wäre die Objekttemperatur, die sich beispielsweise bei Inkubationsexperimenten durchaus von der normalen Raumtemperatur unterscheiden kann. Da der Brechungsindex temperaturabhängig ist, ist es hier sehr einfach möglich, den Brechungsindex und/oder den Einstellwert hinsichtlich der Temperatur zu korrigieren, beispielsweise mittels eines Korrekturfaktors. Soweit nachfolgend davon gesprochen wird, dass weitere Größen berücksichtigt werden, ist damit gleichzeitig umfasst, dass zuerst eine Basisangabe bereitgestellt wird, die (noch) nicht von der genannten Größe abhängt und dann hinsichtlich der genannten Größe modifiziert wird. Gleichermaßen ist eine Beschreibung, dass der Zusammenhang modifiziert wird, lediglich exemplarisch für die ebenfalls mögliche Alternative zu sehen, dass a priori die entsprechende Größe berücksichtigt wird, d. h. Datenbank bzw. Zusammenhang diese gleich enthalten. Die Begriffe „Größe“ und „Parameter“ werden in dieser Beschreibung austauschbar verwendet. Die Berücksichtigung mindestens eines weiteren Parameters kann dadurch erfolgen, dass der Zusammenhang zwischen Brechungsindex und Einstellung der Korrekturoptik diesen Parameter berücksichtigt (entweder direkt oder bei nachträglicher Modifikation). Es ist auch eine Berücksichtigung bei der Datenbank, d. h. auf der Ebene der Ermittlung des Brechungsindex möglich. Die Güte der Korrektur hängt nicht davon ab, ob zuerst aus der Art des Objektes ein Brechungsindex ermittelt wird, dann aus dem Brechungsindex ein Einstellwert für die Korrekturoptik und dieser Einstellwert abhängig von weiteren Parametern korrigiert wird, oder ob aus der Art des Objektes ein Brechungsindex ermittelt wird und dabei die Parameter so eingehen, dass der Wert des Brechungsindex letztlich direkt oder per nachträglicher Korrektur von diesen Parametern abhängt. Im erstgenannten Fall wird der Brechungsindex allein auf Basis der Art des Objektes ermittelt und die weiteren Parameter gehen bei der Ermittlung des Einstellwertes der Korrekturoptik ein, im zweitgenannten Fall gehen die Parameter in die Ermittlung des Wertes für den Brechungsindex ein und der Brechungsindex wird dann direkt in einen Korrekturwert umgesetzt. Natürlich sind auch Mischformen möglich, d. h. einige Parameter können bei der Ermittlung des Wertes für den Brechungsindex einfließen, andere bei der Ermittlung des Einstellwertes für die Korrekturoptik. Letztlich kommt es für die Weiterbildung nur darauf an, dass - nicht wo - in der Kette von Art des Objektes bis zum Einstellwert eine Berücksichtigung des mindestens einen weiteren Parameters erfolgt.
-
Um die sphärische Aberration für die Abbildung des Objekts noch präziser zu korrigieren, ist es in einer Weiterbildung bevorzugt, dass die Art des Objekts einen Typ des Objekts und/oder eine Präparation des Objekts umfasst. Die Angabe der Präparation des Objekts kann beispielsweise Zellen für live-cell-Experimente, wie beispielsweise in-vivo- oder ex-vivo-Experimente, oder für fixed-cell-Experimente betreffen. Die Art der Präparation umfasst z. B. auch, ob bzw. wie die Probe in ein Einbettmedium eingebettet ist. Der Brechungsindex wird aus der Datenbank hinsichtlich des Eindeckmediums und/oder des Typs des Objekts bestimmt. Der Typ des Objekts umfasst die verschiedenen Arten von biologischen und nicht-biologischen Proben, die mittels des Mikroskops abgebildet werden sollen.
-
Um den Brechungsindex des Objekts noch einfacher erfassen zu können, ist es bei einer Weiterbildung der Erfindung bevorzugt, dass die Datenbank hinsichtlich der Art des Objekts hierarchisch aufgebaut ist, z. B. in Form eines Baumdiagramms. Die Hierarchie kann sich auch dadurch ergeben, dass die verschiedenen Arten von Objekten in Gruppen eingeteilt werden, welche wiederum in Untergruppen unterteilt sind. Die Untergruppen können wiederum in Subgruppen unterteilt sein. Es bestehen somit verschiedene Ebenen, aufgrund deren sich die jeweilige Art des Objekts leichter in der Datenbank auffinden lässt und mittels der Schnittstelle ausgewählt werden. Bei hierarchischem Aufbau der Datenbank kann sich ein Benutzer leichter hinsichtlich der verschiedenen Möglichkeiten, wie das Objekt bzw. das Einbettmedium ausgebildet sein kann, orientieren. Beispielsweise werden Experimente an Zellen in live-cell-Experimente und fixed-cell-Experimente unterteilt und diese beiden Gruppen werden weiter hinsichtlich der Zellentypen, beispielsweise Gehirnzellen oder Leberzellen, unterteilt. Diese Unterteilungen werden dann nochmals hinsichtlich der Region der Zellen aus dem entsprechenden Organ oder des Einbettmediums unterteilt. Die Grobeinteilung in live-cell-Experimente und fixed-cell-Experimente hat schon einen erheblichen Einfluss auf den Brechungsindex, da live-cell-Experimente meist in wässriger Lösung durchgeführt werden, fixed-cell-Experimente jedoch in Einbettmedien oder Eindeckmedien mit einem vom Wasser stark unterschiedlichen Brechungsindex.
-
Eine genauere Einstellung der sphärischen Aberration kann gemäß einer Weiterbildung erreicht werden, wenn der Zusammenhang hinsichtlich einer gemessenen Eindringtiefe modifiziert wird, wobei optional das Messen der Eindringtiefe ein Detektieren einer Grenzfläche zwischen einem Objektträger und dem Objekt sowie ein Erfassen einer Lage der Fokalebene umfasst. Die Eindringtiefe entspricht dem Weg der Strahlung, welchen diese von der Fokalebene bis zu einem Objektträger oder Deckglas, auf/unter welchem das Objekt positioniert ist, zurücklegt. Die Eindringtiefe ist somit ein Teil der Tiefenlage der Abbildung, welche zum Weg der Strahlung von der Grenzfläche zum Objektiv hinzukommt. Da der übrige Weg, d. h. durch den Objektträger und zwischen dem Objektträger und dem Objektiv, wo beispielsweise ein Immersionsmedium angeordnet ist, konstant sein kann, wird bevorzugt nur der relative Anteil der Eindringtiefe für verschiedene Messungen berücksichtigt. Der Zusammenhang hängt dann auch von der Eindringtiefe ab, so dass die sphärische Aberration besser korrigiert werden kann.
-
Die sphärische Aberration der Abbildung des Objekts hängt von der optischen Weglänge ab, welche die Strahlung von der Fokalebene bis zum Objektiv zurücklegt. Damit hängt die sphärische Aberration unter anderem auch von der Eindringtiefe ab, d. h. davon, wie tief die Fokalebene in dem Objekt liegt. Zur Bestimmung der Eindringtiefe sind verschiedene Möglichkeiten denkbar. Sind beispielsweise der Abstand des Objektträgers zum Objektiv und die Brennweite des Objektivs bekannt, ergibt sich die Eindringtiefe aus der Differenz dieser Werte. Bevorzugt ist es, dass die Lage der Grenzfläche zwischen dem Objekt und dem Objektträger bestimmt wird, beispielsweise indem die an der Grenzfläche hervorgerufene Reflexion von Strahlung, falls die Fokalebene des Objektivs mit der Grenzfläche zusammenfällt, erfasst wird. Wenn die Steuerreinrichtung die Brennweite des Objektivs über den z-Antrieb erfassen kann, ist die Position der Grenzfläche besonders einfach detektierbar. Die Eindringtiefe wird dann dadurch erfasst, dass die Brennweite des Objektivs mittels des z-Antriebs verstellt wird und daraus die momentane Fokalebene bekannt ist. Die Eindringtiefe ist dann die Differenz zwischen der momentanen Fokalebene und der Grenzfläche.
-
Um den Zusammenhang zu vereinfachen und dennoch eine präzise Korrektur der sphärischen Aberration zu erreichen, ist es in einer Weiterbildung bevorzugt, dass der Zusammenhang in vorgegebenen Schritten hinsichtlich der Eindringtiefe modifiziert wird. Optional hängt die Schrittweite von der numerischen Apertur des Objektivs ab. Dieser Weiterbildung liegt die Erkenntnis zu Grunde, dass sich die sphärische Aberration relativ langsam mit der Eindringtiefe ändert. Um den Zusammenhang nicht für jede beliebige kleine Änderung der Eindringtiefe modifizieren zu müssen, d. h. die Einstellwerte nicht sowohl für die verschiedenen Brechungsindices als auch für jede inkrementelle Änderung der Eindringtiefe bereitstellen zu müssen, werden Bereiche der Eindringtiefe in Gruppen zusammengefasst, denen jeweils ein Einstellwert zugeordnet wird. Die Größe dieser Bereiche hängt dabei optional von der numerischen Apertur des Objektivs ab. Je größer die numerische Apertur ist, desto stärker ändert sich die sphärische Aberration abhängig von der Eindringtiefe und desto kleiner werden die Bereiche gewählt. Gerade bei der Fluoreszenzmikroskopie werden Objektive mit hoher numerischer Apertur verwendet, so dass in diesem Fall die Bereiche schneller gewählt werden. Bei Weitfeldabbildungen, bei denen Objektive mit geringer numerischer Apertur verwendet werden, können die Bereiche hingegen breiter angelegt werden. Die Größe der Bereiche kann empirisch bestimmt werden.
-
Um die sphärische Aberration noch präziser einstellen zu können, ist es in einer Weiterbildung bevorzugt, dass mindestens ein Parameter erfasst wird, welcher eine Temperatur des Objekts, ein Material eines Objektträgers, eine Objektträgerdicke, ein Immersionsmedium für das Objektiv und/oder eine Wellenlänge von Strahlung zur Abbildung des Objekts angibt, wobei der Zusammenhang von dem Parameter abhängt.
-
Bekanntlich hängt der Brechungsindex eines Materials von dessen Temperatur ab. Somit ist auch die sphärische Aberration bei der Abbildung mittels des Objektivs temperaturabhängig. Erfasst man die Temperatur des Objekts, beispielsweise mittels eines Sensors oder durch Eingabe, z. B. wenn die Temperatur des Experiments fest vorgegeben ist, kann der Zusammenhang die Temperatur berücksichtigen, so dass sich bei unterschiedlichen Temperaturen (z. B. bei Inkubationsexperimenten) ein unterschiedlicher Einstellwert ergibt. Die Einstellung der Korrekturoptik erfolgt somit letztlich temperaturabhängig. Auch hier kann der Zusammenhang durch Kalibration hinsichtlich der Temperaturabhängigkeit bestimmt werden. In einer Weiterbildung wird die Temperatur des Objekts durch Erfassen eines Energieparameters einer Beleuchtungsstrahlung, mit der das Objekt beaufschlagt wird, und durch Ermitteln der Temperatur des Objekts aus dem Energieparameter bestimmt. Der Energieparameter kann beispielsweise die Intensität oder die Leistung der Beleuchtungsstrahlung sein. Er kann am Objekt oder durch Auskoppeln eines Messanteils der Beleuchtungsstrahlung auf einen Detektor ermittelt werden. Aufgrund des Energieparameters und der erwarteten oder bekannten Absorption der Beleuchtungsstrahlung durch das Objekt kann die Temperatur in dem Objekt berechnet werden. Zum Berechnen der Temperatur kann auch die Art des Objekts herangezogen werden, nämlich dahingehend, wie stark die Absorption des jeweiligen Objekts ist.
-
Auf dem Weg, den die Strahlung von der Fokalebene bis zu dem Objektiv zurücklegt, passiert die Strahlung sowohl den Objektträger als auch das Immersionsmedium, welches zwischen dem Objektträger und dem Objektiv vorgesehen sein kann. Sowohl der Objektträger als auch das Immersionsmedium haben einen gewissen Brechungsindex, der zu der sphärischen Aberration der Abbildung des Objekts beiträgt. Beispielsweise kann der Objektträger aus Kunststoff oder Glas hergestellt sein. Das Immersionsmedium ist in vielen Fällen Öl oder Wasser, welche sich hinsichtlich des Brechungsindexes deutlich unterscheiden. Durch Erfassen der Objektträgerdicke, beispielsweise durch Eingabe des Brechungsindex des Objektträgers und/oder des Immersionsmediums, kann der Zusammenhang auch diese Aspekte einer veränderten sphärischen Aberration berücksichtigen. Der Zusammenhang kann durch Kalibration hinsichtlich der Objektträgerdicke, des Materials des Objektträgers und/oder des Immersionsmediums ermittelt und/oder aus einem Basiszusammenhang angepasst werden.
-
Der Brechungsindex und damit das Brechungsverhalten des Objektivs hängt von der Wellenlänge ab, und damit auch die sphärische Aberration. Die Wellenlänge der Strahlung für die Abbildung des Objekts ist somit eine weitere Größe, hinsichtlich der der Zusammenhang modifiziert werden kann, um die Einstellung der sphärischen Aberration zu verbessern. Der Zusammenhang kann durch Kalibration hinsichtlich der Wellenlänge modifiziert werden. Relevant hierfür können Laserart, Filter und/oder Fluoreszenzfarbstoffe sein. Die Wellenlänge kann manuell eingegeben werden; insbesondere bei Fluoreszenzabbildungen ist die Wellenlänge der induzierten Fluoreszenzstrahlung bekannt, so dass der Benutzer diese angeben kann. Darüber hinaus ist es möglich, dass das Mikroskop mit einem Wellenlängensensor versehen ist, mittels welchem die Wellenlänge der Abbildungsstrahlung automatisiert bestimmt wird. Bei Weitfeldfluoreszenzexperimenten können beispielsweise die Fluoreszenzfiltereigenschaften bzw. die Beleuchtungsquelle (z. B. LED) berücksichtigt werden, ohne dass speziell ein Wellenlängensensor vorhanden sein muss.
-
Um die Automatisierung der Abbildung des Objekts weiter voranzutreiben und dabei gleichzeitig Abbildungen höchster Qualität zu erreichen, ist es in einer Weiterbildung bevorzugt, dass der mindestens eine Parameter und/oder die Art des Objekts auf dem Objektträger hinterlegt sind/ist, wobei der Parameter und/oder die Art des Objekts automatisch ausgelesen werden/wird. Am Objektträger können beispielsweise ein Strichcode oder QR-Code oder ein Funkchip ausgelesen werden. Die Schnittstelle ist insbesondere ausgebildet, eine Codierung auf dem Objektträger zu erfassen, beispielsweise mit Hilfe eines Scanners. Auf diese Weise können Werte der genannten Parameter automatisch eingelesen werden und die Korrektur der sphärischen Aberration erfolgt automatisch hinsichtlich dieser Parameter. Beispielsweise ist auf dem Objektträger das Material des Objektträgers sowie dessen Dicke kodiert, so dass der Benutzer sich nicht hinsichtlich dieser Parameter Gedanken machen muss und somit auf die eigentliche Abbildung des Objekts fokussieren kann.
-
Es versteht sich, dass die vorstehend genannten und die nachstehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in den angegebenen Kombinationen, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung einsetzbar sind, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen.
-
Nachfolgend wird die Erfindung beispielsweise anhand der beigefügten Zeichnungen, die auch erfindungswesentliche Merkmale offenbaren, noch näher erläutert. Es zeigen:
- 1 eine schematische Ansicht eines Mikroskops;
- 2 eine schematische Darstellung eines Aufbaus einer Datenbank für das Mikroskop und
- 3 ein Blockdiagramm zur Illustration eines Verfahrens zur Abbildung eines Objekts.
-
Ein Mikroskop 10 ermöglicht eine Abbildung eines Objekts 12. Die vom Objekt 12 reflektierte oder transmittierte Strahlung wird von einem Objektiv 14 gesammelt und durch einen Abbildungsstrahlengang 18 auf einen Abbildungsdetektor 16 abgebildet. Das Objektiv 14, der Abbildungsdetektor 16 und/oder der Abbildungsstrahlengang 18 sind in einem Gehäuse 20 des Mikroskops 10 angeordnet. Der Abbildungsstrahlengang 18 kann für verschiedene Arten der Abbildung des Objekts 12 ausgebildet sein. Beispielsweise kann das Objekt 12 im Weitfeld oder mittels eines scannenden Abbildungsverfahrens oder mit TIRF (Total Internal Reflection Fluorescence) abgebildet werden. Ferner kann der Abbildungsstrahlengang 18 für Fluoreszenzmessungen ausgebildet sein. Je nach Art der verwendeten Abbildung weist der Abbildungsstrahlengang 18 verschiedene optische Elemente und/oder weitere Bauteile, wie beispielsweise eine Scaneinrichtung zur Ablenkung von Strahlung, auf. Diese Bauteile sind per se für Mikroskope bekannt und deshalb in 1 nicht dargestellt. Das Objekt 12 wird mit einer an dem Gehäuse 20 angeordneten Lichtquelle 22 beleuchtet, entweder im Auflicht oder Durchlicht. Die Lichtquelle 22 kann Weißlicht erzeugen oder Strahlung mit einem bestimmten Wellenlängenbereich emittieren, der für Fluoreszenzmikroskopie geeignet ist. Die Strahlung der an dem Gehäuse 20 angeordneten Lichtquelle 22 wird über einen Beleuchtungsstrahlengang 23 zu dem Objekt 12 geführt. Zur Abteilung von Strahlung aus dem Abbildungsstrahlengang 18 ist ein Strahlteiler 46 vorgesehen.
-
Der Abbildungsdetektor 16 wandelt das durch den Abbildungsstrahlengang 18 auf ihn erzeugte optische Bild des Objekts 12 in elektrische Signale um, welche an eine Steuereinrichtung 24 übermittelt werden. Die Steuereinrichtung 24 erzeugt aus den elektrischen Signalen ein elektronisches Bild, das dem Experimentator auf einer mit der Steuereinrichtung 24 verbundenen Anzeigeeinrichtung 26, wie einem Monitor, dargestellt wird.
-
Das Objekt 12 ist auf einem Objektträger 28 angeordnet, welcher eine gewisse Objektträgerdicke OD aufweist. Der Objektträger 28 kann beispielsweise eine Glasscheibe sein. Ferner kann der Objektträger 28 der Boden einer Petrischale aus Glas oder Kunststoff sein. Der Objektträger 28 mit dem Objekt 12 ist gegenüber dem Objektiv 14 verschiebbar.
-
Das Mikroskop 10 weist optional mehrere Objektive 14 auf, die auf einem Revolver 30 angeordnet sind. Mittels des Revolvers 30 kann das Objektiv 14, das zur Abbildung verwendet werden soll, in den Strahlengang eingeschwenkt werden. Der Revolver 30 wird von einem Revolverantrieb bewegt, der mit der Steuereinrichtung 24 verbunden ist. Der Revolverantrieb sowie die Verbindung mit der Steuereinrichtung 24 sind in 1 nicht dargestellt. Optional wird der Revolver 30 manuell verstellt. Eines, mehrere oder alle der auf dem Revolver 30 angeordneten Objektive 14 sind mit einer Korrekturoptik 32 versehen. Die Korrekturoptik 32 ist einstellbar und dient zur Veränderung einer sphärischen Aberration der Abbildung des Objekts 12. Je nach Tiefenlage einer Fokalebene des Objektivs 14, welche senkrecht zu einer optischen Achse des Objektivs 14 steht, ändert sich die sphärische Aberration, so dass durch passendes Einstellen der Korrekturoptik 32 die sphärische Aberration bei der Abbildung des Objekts 12 korrigiert werden kann. Das in 1 rechts dargestellte Objektiv 14 und das in 2 dargestellte Objektiv 14 weisen als Korrekturoptik 32 einen Korrekturring auf. Dieser Korrekturring ist fest mit dem Objektiv 14 verbunden. Der Korrekturring ist über einen Antrieb 34 einstellbar. Der Antrieb 34 ist mit der Steuereinrichtung 24 mittels einer Leitung oder über Funk verbunden, wobei die Verbindung in 1 und 2 nicht dargestellt ist. Somit ist die Steuereinrichtung 24 in der Lage, den Antrieb 34 anzusteuern und somit die sphärische Aberration der Abbildung des Objekts 12 zu verändern. Optional kann die Steuereinrichtung 24 die momentane Einstellung der Korrekturoptik 32 mittels des Antriebs 34 erfassen. Alternativ ist die Korrekturoptik 32 von dem Objektiv 14 losgelöst angeordnet. Bei dem in 1 links dargestellten Objektiv 14 ist die Korrekturoptik 32 im Abbildungsstrahlengang 18 angeordnet und kann ebenfalls die sphärische Aberration einer Abbildung des Objekts 12 verändern. Auch hier ist die Korrekturoptik 32 mit einem Antrieb 34 versehen.
-
Wesentlich für eine Abbildung hoher Qualität ist es, die optimale Einstellung des Korrekturringes zu finden. Hierfür weist das Mikroskop 10 entweder eine Datenbank 36 auf oder ist mit der Datenbank 36 verbunden. Die Datenbank 36 kann ein weiterer Speicher des Mikroskops 10 sein oder kann über Datenfernübertragung mit dem Mikroskop 10 verbunden sein. In der Datenbank 36 ist ein Zusammenhang zwischen den verschiedenen Arten von Objekten 12 und den entsprechenden Brechungsindices hinterlegt. Die Datenbank 36 kann hierarchisch aufgebaut sein, wie dies beispielsweise in 2 dargestellt ist. Die Datenbank 36 kann mit Hilfe der Anzeigeeinrichtung 26 einem Experimentator dargestellt werden, so dass dieser einfach aus der Datenbank 36 die für das Experiment verwendete Art des Objekts 12 auswählen kann, beispielsweise mittels der Schnittstelle 50. Bei hierarchischer Ausgestaltung der Datenbank 36 gelingt dies besonders einfach. Beispielsweise sind Abbildungen von Zellen in live-cell-Experimente und fixed-cell-Experimente unterteilt, denen jeweils ein unterschiedlicher Brechungsindex zugeordnet ist. Dies stellt eine einfachste Unterscheidung der Art des Objekts 12 hinsichtlich dessen Präparation dar. Hat der Experimentator weitere Informationen hinsichtlich des Typs der Zelle, beispielsweise ob es sich um eine Gehirnzelle, eine Herzzelle oder um welche Zellkultur es sich handelt, kann die erste Einteilung in live-cell-Experimente weiter hinsichtlich des Typs des Objekts 12 verfeinert werden, so dass der Brechungsindex individuell auf die jeweilige Art des Objekts 12 ausgelesen werden kann. Analog kann dies auch bei fixed-cell-Experimenten durchgeführt werden, wobei hier auch das Eindeckmedium Einfluss auf den Brechungsindex des Objekts 12 hat.
-
Das Mikroskop 10 weist ferner mindestens einen Scanner 40 auf, welcher eine Markierung an dem Objektträger 28 auslesen kann. Die Markierung gibt beispielsweise das Material des Objektträgers 28 und die Objektträgerdicke OD an. Ferner kann in der Markierung auch die Art des Objekts 12 hinterlegt sein. Der Scanner 40 kann beispielsweise als ein Laserscanner ausgebildet sein und die Markierung als Strichcode oder QR-Code. Der Scanner 40 ist mit der Steuereinrichtung 24 verbunden, wobei in 1 die Leitung nicht dargestellt ist. Der Scanner 40 kann Teil einer Schnittstelle 50 sein.
-
Der Brechungsindex ist bekanntermaßen temperaturabhängig. Es ist deshalb in einer Ausgestaltung des Mikroskops 10 bevorzugt, dass die Steuereinrichtung 24 die Temperatur des Objektes 12 bestimmt. Dies kann beispielsweise dadurch erfolgen, dass ermittelt wird, ob ein inkubiertes Objekt mikroskopiert wird. Aus dieser Angabe ermittelt die Steuereinrichtung 24 dann einen Temperaturwert und korrigiert den ermittelten Brechungsindex oder den aus dem Zusammenhang ermittelten Einstellwert entsprechend, beispielsweise mittels einer Funktion oder Korrekturtabelle, oder die Angabe ist bereits per se temperaturabhängig hinterlegt.
-
Ein weiterer Aspekt, der sich auf die Temperatur des Objektes 12 auswirkt, ist dessen Beleuchtung. In einer Weiterbildung ist es deshalb vorgesehen, dass der Strahlteiler 46 aus dem Beleuchtungsstrahlengang 23 einen Messanteil abteilt, der auf einen Intensitätsdetektor 38 geleitet wird. Der Intensitätsdetektor 38 dient zur Erfassung der Intensität oder der Leistung der auf ihn einfallenden Strahlung. Der Messanteil nimmt nur einen geringen Prozentsatz der im Beleuchtungsstrahlengang 23 laufenden Strahlung, beispielsweise 1%, 2% oder 5%, ein. In der gezeigten Ausführungsform dient der Intensitätsdetektor 38 zur Erfassung der Strahlung von der Lichtquelle 22 zur Anregung von Fluoreszenzstrahlung in dem Objekt 12. Mithilfe des durch den Intensitätsdetektor 38 erfassten Energieparameters, wie Intensität oder Leistung, kann die Steuereinrichtung 24 die durch die Beleuchtungsstrahlung hervorgerufene Erwärmung des Objekts 12 bestimmen. Dazu kann beispielsweise auch die Art des Objekts 12 herangezogen werden, um das Absorptionsverhalten des Objekts 12 näher zu charakterisieren. Der Intensitätsdetektor 38 ist mit der Steuereinrichtung 24 verbunden, obgleich dies in 1 nicht dargestellt ist.
-
Die Schnittstelle 50 kann als Eingabeeinrichtung, wie beispielsweise eine Tastatur oder Maus, oder als Sensor ausgebildet sein. Mit Hilfe der Schnittstelle 50 kann die Steuereinrichtung die Art des Objekts 12 erfassen. Über die Schnittstelle 50 wird beispielsweise aus der Datenbank 36 die Art des Objekts 12 ausgewählt.
-
Die Steuereinrichtung 24 ist mit der Speichereinrichtung 48 verbunden, in welcher der Zusammenhang zwischen dem Brechungsindex und einer dadurch verursachten Änderung der sphärischen Aberration hinterlegt ist. Dieser Zusammenhang kann durch Kalibration bestimmt werden und stellt beispielsweise eine Tabelle dar. Die Speichereinrichtung 48 kann beispielsweise als Teil der Steuereinrichtung 24 ausgebildet sein. Die Steuereinrichtung 24 kann beispielsweise einen Mikroprozessor, ein Computer oder dergleichen sein; die Speichereinrichtung 48 kann ein beschreibbarer Speicher, wie ein RAM (random access memory) sein. Die Steuereinrichtung 24 ruft den Zusammenhang aus der Speichereinrichtung 48 ab und bestimmt aus der Art des Objekts 12 und des mittels der Datenbank 36 daraus bekannten Brechungsindex des Objekts 12 einen Einstellwert für die Korrekturoptik 32, so dass die sphärische Aberration in der Fokalebene für die Abbildung des Objekts 12 reduziert wird. Die Steuereinrichtung 24 steuert dann den Antrieb 34 gemäß dem Einstellwert an, so dass die sphärische Aberration der Abbildung des Objekts 12 reduziert, vorzugsweise bestmöglich minimiert, wird. Die Steuereinrichtung 24 berechnet dann aus den von dem Abbildungsdetektor 16 zur Verfügung gestellten elektrischen Signalen ein Abbild des Objekts 12 in dem zweiten Bereich 42.
-
3 zeigt in einem Blockdiagramm ein Verfahren zur Abbildung des Objekts 12. In einem optionalen Schritt S1 werden die Objektträgerdicke OD und das Material des Objektträgers 28 erfasst. Dies kann beispielsweise mit Hilfe des Scanners 40 erfolgen, der an dem Objektträger 28 eine Markierung ausliest. Alternativ können die Objektträgerdicke OD und das Material des Objektträgers 28 an der Schnittstelle 50 eingegeben werden.
-
In einem optionalen Schritt S2 wird eine Eindringtiefe gemessen, welche den Abstand der Fokalebene von einer Grenzfläche des Objektträgers 28 angibt. Dazu kann beispielsweise die Brennweite des Objektivs 14 verstellt werden, bis eine Reflexion an der Grenzfläche zwischen dem Objektträger 28 und dem Objekt 12 sichtbar ist. Der dazu nötige Verstellweg, der von der Steuereinrichtung 24 erfasst wird, ergibt den Abstand zwischen Fokalebene und dem Objektträger 28, so dass die Eindringtiefe bekannt ist.
-
In Schritt S3 wird die Art des Objekts 12 erfasst. Dazu kann mit Hilfe der Schnittstelle 50 der Typ des Objekts 12 und/oder die Art der Präparation eingegeben werden. Zu diesem Zweck werden beispielsweise aus der Datenbank 36 der Typ des Objekts 12, beispielsweise die Art der Zelle und das entsprechende Einbett- oder Eindeckmedium ausgewählt.
-
In einem optionalen Schritt S4 wird die Temperatur des Objekts 12 erfasst. Die Temperatur kann beispielsweise mit Hilfe der Schnittstelle 50 eingegeben werden, z. B. als Inkubationstemperatur. Experimente an lebendigen Zellen werden üblicherweise bei 37° Celsius durchgeführt. Ferner kann die Temperatur im Objekt 12 auch dadurch bestimmt werden, dass eine durch die Beleuchtungsstrahlung eingebrachte Leistung erfasst wird. Dazu kann der Intensitätsdetektor 38 verwendet werden. Bei Kenntnis der Art des Objekts 12 sowie des Energieparameters der Beleuchtungsstrahlung kann auf die Erwärmung des Objekts 12 aus der Datenbank geschlossen werden.
-
In Schritt S5 wird mit Hilfe der Datenbank 36 der Brechungsindex des Objekts 12 erfasst, nämlich dadurch, dass die Steuereinrichtung 24 auf Basis der Art des Objekts 12 den entsprechenden Brechungsindex des Objekts 12 ausliest.
-
In Schritt S6 wird mit Hilfe des in der Speichereinrichtung 48 hinterlegten Zusammenhangs der Einstellwert für die Korrekturoptik 32 ermittelt. Dazu werden der Brechungsindex des Objekts 12 und, soweit bekannt, das Material des Objektträgers 28, die Objektträgerdicke OD, die Eindringtiefe und die Temperatur des Objekts 12 als Parameter verwendet, wobei der Zusammenhang für diese Parameter einen entsprechenden Einstellwert ausgibt.
-
Die Korrektur der Eindringtiefe kann schrittweise veränderte Einstellwerte liefern. Der Zusammenhang wurde vor dem Experiment durch Kalibration ermittelt oder der Zusammenhang ist eine Formel, der die Parameter mit dem Einstellwert verknüpft. Darüber hinaus können in dem Zusammenhang auch die Wellenlänge der Strahlung zur Abbildung des Objekts 12 und/oder das Immersionsmediums für das Objektiv 14 als Parameter eingehen.
-
In Schritt S7 wird die Korrekturoptik 32 entsprechend dem Einstellwert eingestellt. Dazu steuert die Steuereinrichtung 24 den Antrieb 34 entsprechend dem Einstellwert an. Auf diese Weise wird die sphärische Aberration für die Abbildung des Objekts 12 reduziert, insbesondere minimiert. Im anschließenden Schritt S8 wird das Objekt 12 abgebildet. Die Abbildung kann beispielsweise eine Fluoreszenzaufnahme des Objekts 12 sein.
-
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
-
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
-
Zitierte Patentliteratur
-
- US 2008310016 A [0005]
- US 2005024718 A [0005]
- JP 2005043624 A2 [0005]
- US 2011141260 A [0005]
- US 2014233094 A [0005]