DE102005002526B9

DE102005002526B9 - Heat-assisted controlled temperature magnetic storage device

Info

Publication number: DE102005002526B9
Application number: DE102005002526A
Authority: DE
Inventors: Frederick A. Perner; Manoj K. Bhattacharyya
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Current assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 2004-02-17
Filing date: 2005-01-19
Publication date: 2013-05-16
Anticipated expiration: 2025-01-20
Also published as: DE102005002526B4; TW200529225A; JP2005235372A; CN1658326B; CN1658326A; DE102005002526A1; US20050180238A1; GB0501313D0; TWI255459B; US7079438B2; JP4092339B2; GB2411301A

Abstract

Wärmeunterstützte Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur (200), die folgende Merkmale aufweist: ein Array (202) von SVM-Zellen (302, 302', 302''), wobei die SVM-Zellen (302, 302', 302'') durch eine veränderbare Magnetisierungsausrichtung gekennzeichnet sind und ein Material aufweisen, bei dem die Koerzitivität auf eine Temperaturerhöhung hin verringert ist; zumindest eine Referenz-SVM-Zelle (204) gekoppelt mit einem Temperatursensor (212) und im wesentlichen identisch mit den SVM-Zellen und eine rückkopplungsgesteuerte Temperatursteuerung (206), die eine Referenzspannung empfängt die eine Temperatur für eine reduzierte Koerzitivität der Referenz-SVM-Zelle (204) darstellt und ferner eine Rückkopplungsspannung von dem Temperatursensor (212) empfängt, wenn eine Leistung an die Referenz-SVM-Zelle (204) und eine ausgewählte SVM-Zelle (302) des Arrays (202) angelegt ist, um die Referenz-SVM-Zelle (204) und die ausgewählte SVM-Zelle (302) des Arrays (202) zu erwärmen, wobei die rückkopplungsgesteuerte Temperatursteuerung (206) die angelegte Leistung einstellt, um die Differenz zwischen der Rückkopplungsspannung und der Referenzspannung zu minimieren wobei sich die Referenz-SVM-Zelle (204) und...A controlled-temperature heat-assisted magnetic memory device (200), comprising: an array (202) of SVM cells (302, 302 ', 302' '), said SVM cells (302, 302', 302 '') a variable magnetization orientation is characterized and comprise a material in which the coercivity is reduced to an increase in temperature; at least one reference SVM cell (204) coupled to a temperature sensor (212) and substantially identical to the SVM cells and a feedback controlled temperature controller (206) receiving a reference voltage indicative of a reduced coercivity of the reference SVM cell. Cell (204) and further receives a feedback voltage from the temperature sensor (212) when power is applied to the reference SVM cell (204) and a selected SVM cell (302) of the array (202) is the reference To heat SVM cell (204) and the selected SVM cell (302) of the array (202), wherein the feedback controlled temperature controller (206) adjusts the applied power to minimize the difference between the feedback voltage and the reference voltage Reference SVM Cell (204) and ...

Description

Diese Erfindung bezieht sich allgemein auf Magnetspeichervorrichtungen und insbesondere auf wärmeunterstützte Magnetdirektzugriffspeicherarrays (allgemein als „MRAM” = magnetic random access memory bezeichnet) mit ultrahoher Dichte.This invention relates generally to magnetic memory devices, and more particularly to thermally-assisted magnetic random access memory arrays (commonly referred to as magnetic random access memory (MRAM)) of ultra-high density.

Aus der Druckschrift WO 03/092014 A1 ist eine Speichervorrichtung bekannt, die eine Speicherzelle mit einem veränderbaren magnetischen Bereich aufweist. Der veränderbare magnetische Bereich enthält ein Material mit einem Magnetisierungszustand, der auf eine Temperaturänderung anspricht. Die Speichervorrichtung enthält außerdem ein Heizelement. Das Heizelement ist in der Nähe der Speicherzelle zum selektiven Ändern der Temperatur des veränderbaren magnetischen Bereichs der Speicherzelle angeordnet.From the publication WO 03/092014 A1 For example, a memory device having a memory cell with a variable magnetic range is known. The variable magnetic region includes a magnetized state material responsive to a temperature change. The storage device also includes a heating element. The heating element is disposed in the vicinity of the memory cell for selectively changing the temperature of the variable magnetic region of the memory cell.

Die Druckschrift EP 1 403 874 A1 beschreibt ein Speicherbauelement mit einer Kreuzpunktanordnung von Speicherzellen mit einem Temperatursensor und einer Referenzspeicherzelle, wobei der Temperatursensor die Temperatur des Speicherbauelementes erfasst und die Daten von dem Temperatursensor und der Referenzspeicherzelle benutzt werden, um die Schreibströme zum Programmieren des Speicherzellenfeldes zu aktualisieren.The publication EP 1 403 874 A1 describes a memory device having a cross-point arrangement of memory cells with a temperature sensor and a reference memory cell, wherein the temperature sensor detects the temperature of the memory device and the data from the temperature sensor and the reference memory cell are used to update the write currents for programming the memory cell array.

Die Druckschrift US 5 309 090 A offenbart ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Aufheizen eines integrierten Schaltkreises, wie es beispielsweise bei sogenannten „burn-in”-Tests angewendet wird, um durch den Betrieb bei erhöhter Temperatur über einen längeren Zeitraum von 1 bis mehreren Wochen eine Alterung des Chips künstlich zu beschleunigen und somit Chipfehler in endlicher Zeit feststellen zu können.The publication US Pat. No. 5,309,090 discloses a method and apparatus for heating an integrated circuit, such as is used in so-called "burn-in" tests, to artificially accelerate aging of the chip by operating at elevated temperature for an extended period of time of 1 to several weeks and thus to detect chip errors in finite time.

Aus der Druckschrift US 6 317 376 B1 ist eine magnetische Speichervorrichtung bekannt, welche Referenzsignale erzeugt, die genutzt werden können, um trotz Widerstandsschwankungen aufgrund von Herstellungstoleranzen und anderer Faktoren wie Temperaturgradienten über das Array hinweg, elektromagnetische Indifferenz und Alterung, den Widerstandszustand jeder Speicherzelle im Array zu erfassen.From the publication US Pat. No. 6,317,376 B1 For example, a magnetic memory device is known that generates reference signals that can be used to detect the resistance state of each memory cell in the array, despite resistance variations due to manufacturing tolerances and other factors such as temperature gradients across the array, electromagnetic indifference, and aging.

Die Druckschrift EP 1 316 962 A2 offenbart ein Speicherbauelement mit Stromquellen, die verschiedene Schreibströme entsprechend von Temperaturänderungen im Speicherarray erzeugen können. Die Stromquellen können hierbei einen Temperatursensor umfassen, um sofort den Schreibstrom an die gemessene Temperatur anzupassen.The publication EP 1 316 962 A2 discloses a memory device having current sources that can generate various write currents in accordance with temperature changes in the memory array. The current sources may include a temperature sensor to immediately adjust the write current to the measured temperature.

Heutige Computersysteme werden immer hochentwickelter und ermöglichen Benutzern, eine immer größere Vielfalt von Rechenaufgaben mit immer schnelleren Raten durchzuführen. Die Größe des Speichers und die Geschwindigkeit, mit der auf denselben zugegriffen werden kann, wirken sich stark auf die Gesamtgeschwindigkeit des Computersystems aus.Today's computer systems are becoming more sophisticated, allowing users to perform an ever-expanding variety of computing tasks at ever-faster rates. The size of the memory and the speed at which it can be accessed greatly affect the overall speed of the computer system.

Ein Speicher für ein Computersystem ist technisch irgendeine Form einer elektronischen, magnetischen oder optischen Speicherung; derselbe ist jedoch allgemein in unterschiedliche Kategorien geteilt, teilweise basierend auf einer Geschwindigkeit und einer Funktionalität. Die zwei allgemeinen Kategorien eines Computerspeichers sind Hauptspeicher und Massenspeicherung. Ein Hauptspeicher ist im Allgemeinen aus einem schnellen, teuren, flüchtigen Direktzugriffspeicher gebildet, der direkt durch einen Speicherbus mit dem Prozessor verbunden ist. Ein Beitrag zu der Geschwindigkeit bei einem Hauptspeicher ist im Allgemeinen die Fähigkeit, auf eine spezielle Speicherzelle ohne eine physische Bewegung von Komponenten zuzugreifen.A memory for a computer system is technically some form of electronic, magnetic or optical storage; however, it is generally divided into different categories, based in part on speed and functionality. The two general categories of computer memory are main memory and mass storage. A main memory is generally formed of a fast, expensive, volatile random access memory directly connected to the processor through a memory bus. A contribution to mainframe speed in general is the ability to access a particular memory cell without physically moving components.

Allgemein ist das Prinzip, das der Speicherung von Daten in magnetischen Medien (Haupt- oder Massenspeicherung) zu Grunde liegt, die Fähigkeit, die relative Ausrichtung der Magnetisierung eines Speicherungsdatenbits (d. h. den logischen Zustand einer „0” oder einer „1”) zu verändern und/oder umzukehren. Die Koerzitivität eines Materials ist der Pegel einer Demagnetisierungskraft, der an ein magnetisches Partikel angelegt werden muss, um die Magnetisierung des Partikels zu reduzieren und/oder umzukehren.Generally, the principle underlying the storage of data in magnetic media (bulk or mass storage) is the ability to change the relative orientation of the magnetization of a storage data bit (ie, the logic state of a "0" or a "1") and / or reverse. The coercivity of a material is the level of demagnetizing force that must be applied to a magnetic particle to reduce and / or reverse the magnetization of the particle.

Eine Magnetspeicherzelle des Stands der Technik kann eine Tunnel-Magnetowiderstand-Speicherzelle (TMR-Speicherzelle; TMR = tunneling magneto-resistance), eine Riesen-Magnetowiderstand-Speicherzelle (GMR-Speicherzelle; GMR = giant magneto-resistance) oder eine Kolossal-Magnetowiderstand-Speicherzelle (CMR-Speicherzelle; CMR = colossal magneto-resistance) sein. Diese Typen eines Magnetspeichers werden allgemein als Spinventilspeicherzellen (SVM-Zellen; SVM = spin valve memory) bezeichnet. 1A und 1B stellen eine perspektivische Ansicht einer typischen Magnetspeicherzelle des Stands der Technik mit zwei Leitern bereit.A prior art magnetic memory cell may include a tunneling magneto-resistance (TMR) cell, a giant magneto-resistance (GMR) cell, or a colossal magnetoresistance cell (GMR). Memory cell (CMR memory cell, CMR = colossal magneto-resistance). These types of magnetic memory are commonly referred to as Spin Valve Memory (SVM) cells. 1A and 1B provide a perspective view of a typical prior art magnetic memory cell having two conductors.

Wie es in 1A und 1B des Stands der Technik gezeigt ist, umfasst eine Magnetspinventilspeicherzelle 100 im Allgemeinen eine Datenschicht 101 (die auch eine Speicherungsschicht oder Bitschicht genannt wird), eine Referenzschicht 103 und eine Zwischenschicht 105 zwischen der Datenschicht 101 und der Referenzschicht 103. Die Datenschicht 101, die Referenzschicht 103 und die Zwischenschicht 105 können aus einer oder mehreren Materialschichten hergestellt sein. Ein elektrischer Strom und Magnetfelder können durch einen elektrisch leitfähigen Zeilenleiter 107 und einen elektrisch leitfähigen Spaltenleiter 109 zu der SVM-Zelle 100 geliefert werden.As it is in 1A and 1B The prior art includes a magnetic spin valve memory cell 100 generally a data layer 101 (also called a storage layer or bit layer), a reference layer 103 and an intermediate layer 105 between the data layer 101 and the reference layer 103 , The data layer 101 , the reference layer 103 and the intermediate layer 105 may be made of one or more layers of material. An electrical Current and magnetic fields can pass through an electrically conductive row conductor 107 and an electrically conductive column conductor 109 to the SVM cell 100 to be delivered.

Bei einer typischen MRAM-Vorrichtung sind die SVM-Zellen in einem Koppelpunktarray bzw. Kreuzungspunktarray angeordnet. Parallele leitfähige Spalten (Spalte 1, 2, 3 ...), die auch als Wortleitungen bezeichnet werden, kreuzen parallele leitfähige Zeilen (Zeile A, B, C ...), die auch als Bitleitungen bezeichnet werden. Die traditionellen Prinzipien von Spalten- und Zeilenarrays geben vor, dass eine jegliche gegebene Zeile lediglich eine jegliche gegebene Spalte einmal kreuzt.In a typical MRAM device, the SVM cells are arranged in a crosspoint array. Parallel conductive columns (col. 1, 2, 3...), Also referred to as wordlines, cross parallel conductive lines (row A, B, C...), Also referred to as bitlines. The traditional principles of column and row arrays dictate that any given row only crosses any given column once.

Eine SVM-Zelle ist bei jedem sich schneidenden Koppelpunkt zwischen einer Zeile und einer Spalte platziert. Durch ein Auswählen einer speziellen Zeile (B) und einer speziellen Spalte (3) kann eine jegliche Speicherzelle, die bei dem Schnittbereich (B, 3) derselben positioniert ist, von einer jeglichen anderen Speicherzelle in dem Array getrennt bzw. isoliert werden. Eine derartige einzelne Indexierung ist nicht ohne Komplexitäten. Ein typisches MRAM-Koppelpunktarray kann ohne weiteres aus zumindest 1000 Zeilen und 1000 Spalten bestehen, die 1000000 SVM-Zellen eindeutig adressieren.An SVM cell is placed at each intersecting crosspoint between a row and a column. By selecting a particular row (B) and a particular column (3), any memory cell positioned at the cut region (B, 3) thereof can be isolated from any other memory cell in the array. Such a single indexation is not without complexities. A typical MRAM crosspoint array may readily consist of at least 1000 rows and 1000 columns uniquely addressing 1000000 SVM cells.

Die Datenschicht 101 ist gewöhnlich eine Schicht aus einem magnetischen Material, die ein Datenbit als eine Magnetisierungsausrichtung M2 speichert, die ansprechend auf die Anlegung eines externen Magnetfelds oder von externen Magnetfeldern geändert werden kann. Genauer gesagt kann die Magnetisierungsausrichtung M2 der Datenschicht 101, die den logischen Zustand darstellt, von einer ersten Ausrichtung, die einen logischen Zustand von „0” darstellt, zu einer zweiten Ausrichtung, die einen logischen Zustand von „1” darstellt, und/oder umgekehrt gedreht (umgeschaltet) werden.The data layer 101 Usually, a magnetic material layer stores a data bit as a magnetization orientation M2 that can be changed in response to the application of an external magnetic field or external magnetic fields. More specifically, the magnetization orientation M2 of the data layer 101 representing the logic state, from a first orientation representing a logical state of "0" to a second orientation representing a logical state of "1", and / or reversely rotated (switched).

Die Referenzschicht 103 ist gewöhnlich eine Schicht aus einem magnetischen Material, bei der eine Magnetisierungsausrichtung M1 in eine vorbestimmte Richtung „festgelegt”, wie in fest, ist. Die Richtung wird durch mikroelektronische Verarbeitungsschritte, die bei der Fertigung der Magnetspeicherzelle eingesetzt werden, vorbestimmt und eingerichtet.The reference layer 103 is usually a magnetic material layer in which a magnetization orientation M1 is \ "fixed \" in a predetermined direction as in fixed. The direction is predetermined and established by microelectronic processing steps employed in the fabrication of the magnetic memory cell.

Typischerweise hängt der logische Zustand (eine „0” oder eine „1”) einer Magnetspeicherzelle von den relativen Magnetisierungsausrichtungen in der Datenschicht 101 und der Referenzschicht 103 ab. Wenn z. B. eine elektrische Potentialvorspannung über die Datenschicht 101 und die Referenzschicht 103 in einer SVM-Zelle 100 angelegt ist, wandern Elektronen zwischen der Datenschicht 101 und der Referenzschicht 103 durch die Zwischenschicht 105. Die Zwischenschicht 105 ist typischerweise eine dünne dielektrische Schicht, die allgemein als eine Tunnelbarriereschicht bezeichnet wird. Die Phänomene, die die Wanderung von Elektronen durch die Barriereschicht bewirken, können als ein quantenmechanisches Tunneln oder ein Spintunneln bezeichnet werden.Typically, the logic state (a "0" or a "1") of a magnetic memory cell depends on the relative magnetization alignments in the data layer 101 and the reference layer 103 from. If z. B. an electrical potential bias on the data layer 101 and the reference layer 103 in an SVM cell 100 is created, electrons migrate between the data layer 101 and the reference layer 103 through the intermediate layer 105 , The intermediate layer 105 is typically a thin dielectric layer, commonly referred to as a tunnel barrier layer. The phenomena that cause the migration of electrons through the barrier layer can be referred to as quantum mechanical tunneling or spin tunneling.

Der logische Zustand kann durch ein Messen des Widerstandswerts der Speicherzelle bestimmt werden. Falls z. B. die Gesamtausrichtung der Magnetisierung in der Datenschicht 101 parallel zu der festgelegten Magnetisierungsausrichtung in der Referenzschicht 103 ist, befindet sich die Magnetspeicherzelle in einem Zustand eines niedrigen Widerstandswerts R.The logic state can be determined by measuring the resistance value of the memory cell. If z. B. the overall orientation of the magnetization in the data layer 101 parallel to the fixed magnetization orientation in the reference layer 103 is, the magnetic memory cell is in a state of a low resistance value R.

Falls die Gesamtausrichtung der Magnetisierung in der Datenschicht 101 antiparallel (entgegengesetzt) zu der festgelegten Magnetisierungsausrichtung in der Referenzschicht 103 ist, befindet sich die Magnetspeicherzelle in einem Zustand eines hohen Widerstandswerts R + ΔR. Die Ausrichtung von M2 und deshalb der logische Zustand der SVM-Zelle 100 können durch ein Erfassen des Widerstandswerts der SVM-Zelle 100 gelesen werden.If the overall orientation of the magnetization in the data layer 101 anti-parallel (opposite) to the fixed orientation of magnetization in the reference layer 103 is, the magnetic memory cell is in a state of high resistance R + ΔR. The alignment of M2 and therefore the logical state of the SVM cell 100 can be detected by detecting the resistance value of the SVM cell 100 to be read.

Mit Bezug auf eine Koerzitivität ist allgemein gesagt, je kleiner das magnetische Partikel ist, die Koerzitivität desselben umso höher. Eine große Koerzitivität ist allgemein unerwünscht, da dieselbe ein größeres Magnetfeld erfordert, um ein Schalten zu ermöglichen, was wiederum eine größere Leistungsquelle und möglicherweise größere Leiter erfordert. Ein Vorsehen einer großen Leistungsquelle und von großen Leitern steht allgemein den Versuchen entgegen, die notwendige Größe von Komponenten zu reduzieren und deshalb größere Speicherspeicherungen bzw. Speichereinheiten in immer kleineren Räumen zu ermöglichen.With respect to coercivity, in general, the smaller the magnetic particle is, the higher its coercivity. High coercivity is generally undesirable since it requires a larger magnetic field to enable switching, which in turn requires a larger power source and possibly larger conductors. Providing a large power source and large conductors is generally opposed to attempts to reduce the necessary size of components and therefore allow for larger memory storage units in smaller and smaller rooms.

Zusätzlich kann die Koerzitivität eines magnetischen Partikels auch durch eine Temperatur beeinflusst sein. Wenn sich eine Temperatur erhöht, verringert sich allgemein eine Koerzitivität. Mit Bezug auf MRAM- und SVM-Zellen kann ein Erhöhen der Temperatur einer SVM-Zelle die Koerzitivität in der Tat reduzieren. Bei einem MRAM-Array kann ein Umschalten der magnetischen Ausrichtung einer spezifischen Zelle, ohne die anderen wesentlich zu stören, durch ein Erwärmen der ausgewählten Zelle und somit Verringern der Koerzitivität dieser speziellen SVM-Zelle ermöglicht werden. Eine derartige erwärmte SVM-Zelle kann dann durch ein Feld umgeschaltet werden, das ungenügend ist, um nichtausgewählte benachbarte SVM-Zellen zu beeinflussen.In addition, the coercivity of a magnetic particle can also be influenced by a temperature. As temperature increases, coercivity generally decreases. With respect to MRAM and SVM cells, increasing the temperature of an SVM cell can indeed reduce coercivity. In an MRAM array, switching the magnetic orientation of a specific cell, without substantially disturbing the others, can be facilitated by heating the selected cell and thus reducing the coercivity of that particular SVM cell. Such a heated SVM cell may then be switched by a field that is insufficient to affect non-selected adjacent SVM cells.

Umweltfaktoren können die SVM-Zelle jedoch erheblich beeinflussen. Eine Wärme, die an die SVM-Zelle in einer Umgebung angelegt wird, um die Koerzitivität derselben zu reduzieren, kann in einer anderen unwirksam sein, d. h. wenn die Zelle extrem kalt ist.However, environmental factors can significantly affect the SVM cell. A heat applied to the SVM cell in an environment surrounding the To reduce coercivity of the same may be ineffective in another, ie when the cell is extremely cold.

Wenn gleichermaßen die Umgebungstemperatur extrem warm ist, kann eine zusätzliche Wärme (und das Schaltfeld selbst) unbeabsichtigterweise mehr als die spezifisch beabsichtigte SVM-Zelle beeinflussen. Die Variable einer Umgebungstemperatur und die Wirkung auf den Betrieb des MRAM können deshalb einen ordnungsgemäßen Betrieb der SVM-Zellen verschlechtern.Similarly, if the ambient temperature is extremely warm, additional heat (and the control panel itself) may inadvertently affect more than the specific intended SVM cell. The variable of ambient temperature and the effect on the operation of the MRAM may therefore degrade proper operation of the SVM cells.

Bei einem typischen MRAM-Array kann eine erhebliche Größe eines gesamten Raums verwendet werden, um einfach einen physischen Puffer zwischen den Zellen vorzusehen. Ein Eliminieren dieses Pufferraums oder ein Reduzieren des Verhältnisses desselben könnte ein größeres Speicherungsvolumen in dem gleichen physischen Raum liefern.In a typical MRAM array, a significant amount of overall space can be used to simply provide a physical buffer between the cells. Eliminating this buffer space or reducing its ratio could provide a larger storage volume in the same physical space.

Daher besteht ein Bedarf nach einem wärmeunterstützten Speicherarray mit ultrahoher Dichte, das einen oder mehrere der oben angegebenen Nachteile überwindet. Die vorliegende Erfindung genügt diesem Bedarf.Therefore, a need exists for a heat-assisted ultra-high density memory array that overcomes one or more of the disadvantages noted above. The present invention satisfies this need.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine wärmeunterstützte Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur, ein Verfahren zum Durchführen einer Schreiboperation an einer ausgewählten SVM-Zelle in einer wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur oder ein Computersystem mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.It is the object of the present invention to provide a thermally-assisted controlled temperature magnetic storage device, a method of performing a write operation on a selected SVM cell in a thermally-assisted controlled temperature magnetic storage device, or a computer system having improved characteristics.

Diese Aufgabe wird durch eine Magnetspeichervorrichtung gemäß Anspruch 1, ein Verfahren gemäß Anspruch 14 und ein Computersystem gemäß Anspruch 22 gelöst. Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.This object is achieved by a magnetic memory device according to claim 1, a method according to claim 14 and a computer system according to claim 22. Further developments of the invention are specified in the subclaims.

Diese Erfindung stellt eine wärmeunterstützte Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur für eine Verwendung als ein Speicherarray mit ultrahoher Dichte bereit.This invention provides a thermally-assisted controlled temperature magnetic storage device for use as an ultra-high density storage array.

Diese und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile des bevorzugten Verfahrens und der bevorzugten Vorrichtung werden aus der folgenden detaillierten Beschreibung in Verbindung mit den zugehörigen Zeichnungen ersichtlich, die beispielhaft die Prinzipien der Erfindung darstellen. Es zeigen:These and other objects, features, and advantages of the preferred method and apparatus will become apparent from the following detailed description, taken in conjunction with the accompanying drawings, which illustrate, by way of example, the principles of the invention. Show it:

1A–1B perspektivische Ansichten einer Magnetspeicherzelle des Stands der Technik; 1A - 1B perspective views of a magnetic memory cell of the prior art;

2 ein Blockdiagramm der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur gemäß der vorliegenden Erfindung; 2 10 is a block diagram of the heat-assisted controlled-temperature magnetic memory device according to the present invention;

3 eine teilweise perspektivische Ansicht eines Koppelpunktarrays und einer Referenz-SVM-Zelle, wie es in 2 gezeigt ist; 3 a partial perspective view of a crosspoint array and a reference SVM cell, as shown in 2 is shown;

4 ein konzeptionelles elektrisches Diagramm der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur, die in 2 gezeigt ist; und 4 FIG. 4 is a conceptual electrical diagram of the controlled-temperature heat-assisted magnetic storage device disclosed in FIG 2 is shown; and

5 ein Flussdiagramm, das die Schritte eines Verwendens der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur zeigt, die in 2, 3 und 4 gezeigt ist. 5 5 is a flowchart showing the steps of using the heat-assisted controlled-temperature magnetic storage device disclosed in FIG 2 . 3 and 4 is shown.

Bevor mit der detaillierten Beschreibung fortgefahren wird, sei darauf hingewiesen, dass die vorliegende Erfindung nicht auf eine Verwendung oder Anwendung bei einem spezifischen Typ eines Magnetspeichers begrenzt ist. Obwohl die vorliegende Erfindung für die Zweckmäßigkeit einer Erläuterung mit Bezug auf typische exemplarische Ausführungsbeispiele gezeigt und beschrieben ist, sei somit darauf hingewiesen, dass diese Erfindung bei anderen Typen eines Magnetspeichers angewendet werden kann.Before proceeding with the detailed description, it should be understood that the present invention is not limited to use or application in a specific type of magnetic memory. Thus, while the present invention has been shown and described for the convenience of explanation with reference to typical example embodiments, it should be understood that this invention may be applied to other types of magnetic memory.

Unter jetziger Bezugnahme auf die Zeichnungen und insbesondere auf 2 ist ein Abschnitt einer wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur 200 gezeigt, die ein Array 202 von Spinventilspeicherzellen (SVM-Speicherzellen; SVM = spin valve memory), zumindest eine Referenz-SVM-Zelle (RSVM-Zelle) 204 und eine rückkopplungsgesteuerte Temperatursteuerung 206 umfasst. Die wärmeunterstützte Magnetspeichervorrichtung 200 kann ferner eine Leistungsquelle 208 und eine Abtastschaltung 210 umfassen, wie beispielsweise eine Selbstreferenz-Dreifachabtasterfassungsschaltung (Self-Reference Triple Sample Sense Circuit), die ein digitales Ausgangssignal liefert, das den Zustand einer ausgewählten Widerstandsvorrichtung innerhalb des Arrays 202 darstellt. Ein Schreibstromgenerator 218 kann ebenfalls vorgesehen sein.With reference now to the drawings and in particular to 2 is a portion of a heat-assisted controlled temperature magnetic memory device 200 shown an array 202 spin valve memory (SVM) cells, at least one reference SVM cell (RSVM cell) 204 and a feedback-controlled temperature control 206 includes. The heat-assisted magnetic memory device 200 may also be a power source 208 and a sampling circuit 210 Such as, for example, a self-reference Triple Sample Sense Circuit which provides a digital output signal indicative of the state of a selected resistance device within the array 202 represents. A write current generator 218 may also be provided.

Mit der RSVM-Zelle 204 ist ein Temperatursensor 212 gekoppelt. Der Temperatursensor 212 ist thermisch mit der RSVM-Zelle 204 gekoppelt und ist bei zumindest einem Ausführungsbeispiel physisch mit der RSVM-Zelle 204 gekoppelt. Die rückkopplungsgesteuerte Temperatursteuerung 206 empfängt eine Rückkopplung in der Form einer Spannungsrückkopplung von dem Temperatursensor 212. Die Rückkopplung wird erzeugt, wenn eine Leistung durch einen Leistungsweg 214 an die RSVM-Zelle 204 und eine ausgewählte SVM-Zelle innerhalb des Arrays 202 angelegt ist, um die RSVM-Zelle 204 und die ausgewählte SVM-Zelle des Arrays zu erwärmen.With the RSVM cell 204 is a temperature sensor 212 coupled. The temperature sensor 212 is thermal with the RSVM cell 204 and, in at least one embodiment, is physical with the RSVM cell 204 coupled. The feedback-controlled temperature control 206 receives feedback in the form of voltage feedback from the temperature sensor 212 , The feedback is generated when power through a power path 214 to the RSVM cell 204 and a selected SVM cell within the array 202 is created to the RSVM cell 204 and to heat the selected SVM cell of the array.

Die Leistungswege 214, die die Wärmeleistung zu der RSVM-Zelle 204 und zu dem Array 202 liefern, sind im Wesentlichen die gleichen. Konzeptionell ist dies als ein einziger Leistungsweg 214 gezeigt, der in Wege 214' und 214'' verzweigt ist. Als solches resultiert ein Variieren der Leistung, die zu dem Leistungsweg 214 geliefert wird, direkt in einer im Wesentlichen gleichen und symmetrischen Variation bei der Leistung, die durch die Wege 214' und 214'' geliefert wird. The performance paths 214 that the heat output to the RSVM cell 204 and to the array 202 deliver, are essentially the same. Conceptually, this is as a single pathway 214 shown in ways 214 ' and 214 '' is branched. As such, varying the power that results in the power path 214 is delivered directly in a substantially equal and symmetrical variation in the power passing through the paths 214 ' and 214 '' is delivered.

Außerdem resultiert ein Einstellen der Leistung, die zu der RSVM-Zelle 204 geliefert wird, in einer im Wesentlichen symmetrischen Einstellung einer Leistung, die zu dem Array 202 geliefert wird. Mit anderen Worten wird im Wesentlichen gleichzeitig zu der Anlegung und Einstellung einer Leistung zu der RSVM-Zelle 204 eine Leistung zu einer ausgewählten SVM-Zelle des Arrays angelegt und eingestellt. Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel ist die Leistung, die zu der ausgewählten SVM-Zelle geliefert wird, im Wesentlichen identisch mit der Leistung, die zu der RSVM-Zelle 204 geliefert wird. Für eine konzeptionelle Einfachheit wurde die RSVM-Zelle 204 als von dem Array 202 getrennt dargestellt, doch bei zumindest einem Ausführungsbeispiel kann die RSVM-Zelle 204 innerhalb des Arrays 202 positioniert sein.In addition, adjusting the power resulting in the RSVM cell results 204 is delivered in a substantially symmetrical setting of a power leading to the array 202 is delivered. In other words, substantially simultaneously with the application and adjustment of power to the RSVM cell 204 a power is applied to a selected SVM cell of the array and set. In at least one embodiment, the power provided to the selected SVM cell is substantially identical to the power provided to the RSVM cell 204 is delivered. For a conceptual simplicity was the RSVM cell 204 as from the array 202 shown separately, but in at least one embodiment, the RSVM cell 204 within the array 202 be positioned.

3 stellt eine perspektivische Ansicht eines Abschnitts des Arrays 202 und der RSVM-Zelle 204 dar. Wie es gezeigt ist, ist bei zumindest einem Ausführungsbeispiel das Array 202 ein Widerstandskoppelpunktspeicherarray (Widerstands-CPA; CPA = cross-point memory array) 300, das aus Spinventilspeicherzellen (SVM-Speicherzellen; SVM = spin valve memory) 302, 302', 302'', etc. gebildet ist. Jede SVM-Zelle 302 des Koppelpunktarrays 300 umfasst zumindest eine ferromagnetische Datenschicht 304 (die allgemein auch als eine Erfassungsschicht bezeichnet wird), eine Zwischenschicht 306 und eine ferromagnetische Referenzschicht 308. 3 represents a perspective view of a portion of the array 202 and the RSVM cell 204 As shown, in at least one embodiment, the array is 202 a resistance crosspoint memory array (CPA = cross-point memory array) 300 consisting of spin valve memory cells (SVM) 302 . 302 ' . 302 '' , etc. is formed. Each SVM cell 302 of the crosspoint array 300 comprises at least one ferromagnetic data layer 304 (also commonly referred to as a sense layer), an intermediate layer 306 and a ferromagnetic reference layer 308 ,

Die ferromagnetische Datenschicht 304 ermöglicht das Speichern eines Datenbits als eine änderbare Magnetisierungsausrichtung M1 und besteht aus einem Material, bei dem die Koerzitivität auf eine Erhöhung bei einer Temperatur hin verringert ist. Die Zwischenschicht 306 weist gegenüberliegende Seiten auf, derart, dass die Datenschicht 304 in Kontakt mit einer Seite sich im Wesentlichen in einer direkten Ausrichtung mit und im Wesentlichen einheitlich beabstandet von der Referenzschicht 308 befindet.The ferromagnetic data layer 304 allows the storage of a data bit as a variable magnetization orientation M1 and consists of a material in which the coercivity is reduced to an increase in temperature. The intermediate layer 306 has opposite sides, such that the data layer 304 in contact with a side substantially in direct alignment with and substantially uniformly spaced from the reference layer 308 located.

Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel ist die Referenzschicht 308 eine festgelegte Referenzschicht, die durch eine festgelegte Magnetisierungsausrichtung M2 gekennzeichnet ist. Bei zumindest einem alternativen Ausführungsbeispiel ist die Referenzschicht eine Weichreferenzschicht, die durch eine nicht-festgelegte Magnetisierungsausrichtung M2 gekennzeichnet ist. Eine Weichreferenzschicht kann ferner eine niedrigere Koerzitivität als die Datenschicht 304 aufweisen.In at least one embodiment, the reference layer is 308 a fixed reference layer characterized by a fixed orientation of magnetization M2. In at least one alternative embodiment, the reference layer is a soft reference layer characterized by an unspecified magnetization orientation M2. A soft reference layer may also have a lower coercivity than the data layer 304 exhibit.

Die thermischen Eigenschaften der RSVM-Zelle 204 beziehen sich auf die thermischen Eigenschaften der SVM-Zellen des Arrays 202, derart, dass durch ein Beobachten des thermischen Verhaltens der RSVM-Zelle 204 das thermische Verhalten der SVM-Zellen des Arrays 202 festgestellt werden kann. Unter geeigneten Umständen kann die RSVM-Zelle 204 größer oder kleiner als die Zellen des SVM-Arrays 202 sein. Wenn die RSVM-Zelle 204 größer oder kleiner als die SVM-Zellen des Arrays 202 ist und/oder nicht im Wesentlichen in der Nähe von dem Array 202 ist, ist es klar und ersichtlich, dass die Leistung, die an die RSVM-Zelle 204 angelegt ist, einer eingestellten Leistung entspricht, die an eine ausgewählte Zelle innerhalb des Arrays 202 angelegt ist.The thermal properties of the RSVM cell 204 refer to the thermal properties of the SVM cells of the array 202 such that by observing the thermal behavior of the RSVM cell 204 the thermal behavior of the SVM cells of the array 202 can be determined. Under appropriate circumstances, the RSVM cell 204 larger or smaller than the cells of the SVM array 202 be. If the RSVM cell 204 larger or smaller than the SVM cells of the array 202 is and / or not substantially near the array 202 is, it is clear and apparent that the power delivered to the RSVM cell 204 is created, corresponding to a set power, to a selected cell within the array 202 is created.

Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel ist die RSVM-Zelle 204 den SVM-Zellen 302, 302', 302'', etc. des Koppelpunktarrays 300 im Wesentlichen ähnlich. Genauer gesagt ist bei zumindest einem Ausführungsbeispiel die RSVM-Zelle 204 von im Wesentlichen der gleichen Form, Größe und Zusammensetzung wie die SVM-Zelle 302, weist zumindest eine ferromagnetische Datenschicht 310, eine Zwischenschicht 312 und eine ferromagnetische Referenzschicht 314 auf, die wie mit Bezug auf die SVM-Zelle 302 beschrieben angeordnet sind. Außerdem ist bei zumindest einem Ausführungsbeispiel die RSVM-Zelle 204 im Wesentlichen identisch mit den SVM-Zellen 302, 302', 302'', etc. des Koppelpunktarrays 300. Die Verwendung einer im Wesentlichen identischen Zelle vereinfacht vorteilhaft den Herstellungs- und Steuerprozess.In at least one embodiment, the RSVM cell is 204 the SVM cells 302 . 302 ' . 302 '' , etc. of the crosspoint array 300 essentially similar. More specifically, in at least one embodiment, the RSVM cell is 204 of substantially the same shape, size and composition as the SVM cell 302 , has at least one ferromagnetic data layer 310 , an intermediate layer 312 and a ferromagnetic reference layer 314 on that as with respect to the SVM cell 302 are arranged described. In addition, in at least one embodiment, the RSVM cell is 204 essentially identical to the SVM cells 302 . 302 ' . 302 '' , etc. of the crosspoint array 300 , The use of a substantially identical cell advantageously simplifies the manufacturing and control process.

Die ferromagnetischen Datenschichten (304, 310) und die Referenzschichten (308, 314) können aus einem Material hergestellt sein, das folgendes umfasst, aber nicht darauf begrenzt ist: Nickeleisen (NiFe), Nickeleisen-Kobalt (NiFeCo), Kobalteisen (CoFe) und Legierungen derartiger Metalle. Genauer gesagt sind bei zumindest einem Ausführungsbeispiel die Datenschichten (304, 310) und die Referenzschichten (308, 314) Nickeleisen (NiFe). Zusätzlich können sowohl die Datenschichten (304, 310) als auch die Referenzschichten (308, 314) aus mehreren Materialschichten gebildet sein. Für eine konzeptionelle Einfachheit und eine leichte Erörterung jedoch ist hierin jede Schichtkomponente als eine einzige Schicht erörtert.The ferromagnetic data layers ( 304 . 310 ) and the reference layers ( 308 . 314 ) may be made of a material including, but not limited to: nickel iron (NiFe), nickel iron cobalt (NiFeCo), cobalt iron (CoFe), and alloys of such metals. More specifically, in at least one embodiment, the data layers are ( 304 . 310 ) and the reference layers ( 308 . 314 ) Nickel iron (NiFe). In addition, both the data layers ( 304 . 310 ) as well as the reference layers ( 308 . 314 ) be formed of several layers of material. However, for conceptual simplicity and ease of discussion herein, each layer component is discussed as a single layer.

Wie es gezeigt ist, kreuzt eine Mehrzahl von elektrisch leitfähigen Spalten 316, 316' und 316'' eine Mehrzahl von elektrisch leitfähigen Zeilen 318, 318' und 318'', wodurch eine Mehrzahl von Schnittbereichen gebildet wird. Jede SVM-Zelle 302, 302', 302'', etc. des Koppelpunktarrays 300 befindet sich in einem elektrischen Kontakt mit und ist bei einer Schnittregion zwischen einer Zeile und einer Spalte positioniert. Als solches können ein elektrischer Strom und Magnetfelder zu einer ausgewählten SVM-Zelle 302 innerhalb des Koppelpunktarrays 300 durch die elektrisch leitfähige Spalte 316 und die elektrisch leitfähige Zeile 318 geliefert werden.As shown, a plurality of electrically conductive gaps intersect 316 . 316 ' and 316 '' a plurality of electrically conductive lines 318 . 318 ' and 318 '' , whereby a plurality of cutting areas is formed. Each SVM cell 302 . 302 ' . 302 '' . etc. of the crosspoint array 300 is in electrical contact with and is positioned at a cut region between a row and a column. As such, an electric current and magnetic fields may become a selected SVM cell 302 within the crosspoint array 300 through the electrically conductive gap 316 and the electrically conductive line 318 to be delivered.

Gleichermaßen weist die RSVM-Zelle 204 einen oberen elektrischen Leiter 320 und einen unteren elektrischen Leiter 322 auf. Zusätzlich ist die RSVM-Zelle 204 thermisch mit einem Temperatursensor 324 gekoppelt, wie beispielsweise einer PN-Übergang-Diode.Similarly, the RSVM cell points 204 an upper electrical conductor 320 and a lower electrical conductor 322 on. In addition, the RSVM cell is 204 thermally with a temperature sensor 324 coupled, such as a PN junction diode.

Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel erwärmen sich die SVM-Zellen des Koppelpunktarrays 300 und die RSVM-Zelle 204 selbst. Genauer gesagt treffen eine Leistung, die durch eine gegebene SVM-Zelle 302 fließt und durch die Spalte 316 und die Zeile 318 geliefert wird, und eine Leistung, die durch die RSVM-Zelle 204 fließt und durch den oberen elektrischen Leiter 320 und den unteren elektrischen Leiter 322 geliefert wird, auf einen Widerstand bei der Tunnelhandlung des Stroms durch die Zelle und resultieren in einem erheblichen und örtlich begrenzten Temperaturanstieg innerhalb der SVM-Zelle 302 und der RSVM-Zelle 204. Die angelegte Leistung kann ein Wärmepuls von etwa 1 bis 3 Volt sein.In at least one embodiment, the SVM cells of the crosspoint array heat up 300 and the RSVM cell 204 yourself. More specifically, hit a performance by a given SVM cell 302 flows and through the column 316 and the line 318 is delivered, and a power passing through the RSVM cell 204 flows and through the upper electrical conductor 320 and the lower electrical conductor 322 is supplied to a resistance in the tunneling action of the current through the cell and result in a significant and localized temperature rise within the SVM cell 302 and the RSVM cell 204 , The applied power may be a heat pulse of about 1 to 3 volts.

Bei zumindest einem alternativen Ausführungsbeispiel werden die SVM-Zellen 302, 302', 302'', etc. des Koppelpunktarrays 300 und die RSVM-Zelle 204 durch ein gekoppeltes Erwärmen erwärmt. Genauer gesagt fließt eine Wärmeleistung durch eine getrennte Heizvorrichtung, wie beispielsweise eine bewegbare Nanospitzensonde 350, die thermisch mit der ausgewählten SVM-Zelle 302 des Koppelpunktarrays koppelt. Eine im Wesentlichen identische getrennte Heizvorrichtung, wie beispielsweise eine Nanospitzensonde 350' ist ebenfalls vorgesehen, um mit der RSVM-Zelle 204 thermisch zu koppeln. Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel weist die Nanospitzensonde 350 einen Gelenkträger 352, eine distale Spitze 354 und einen Wärmeleiter 356 auf.In at least one alternative embodiment, the SVM cells become 302 . 302 ' . 302 '' , etc. of the crosspoint array 300 and the RSVM cell 204 heated by a coupled heating. More specifically, a heat output flows through a separate heater, such as a nanoscale movable probe 350 thermally using the selected SVM cell 302 of the crosspoint array couples. A substantially identical separate heater, such as a nano-tip probe 350 ' is also intended to work with the RSVM cell 204 thermally couple. In at least one embodiment, the nano-tip probe 350 a joint carrier 352 , a distal tip 354 and a heat conductor 356 on.

Die Nanospitzensonde 350', die mit der RSVM-Zelle 204 thermisch koppelt, ist im Wesentlichen ähnlich und weist einen Gelenkträger 352', eine distale Spitze 354' und einen Wärmeleiter 356' auf. Unter geeigneten Umständen, wie beispielsweise wenn die SVM-Zellen des Arrays 202 einen gemeinsamen unteren Leiter gemeinschaftlich verwenden, kann die Nanospitzensonde 350 ferner einen geeigneten oberen elektrischen Leiter bereitstellen.The nano-tip probe 350 ' that with the RSVM cell 204 thermally coupled, is substantially similar and has a joint carrier 352 ' , a distal tip 354 ' and a heat conductor 356 ' on. Under appropriate circumstances, such as when the SVM cells of the array 202 sharing a common bottom conductor, the nano-probe can 350 further provide a suitable upper electrical conductor.

Die Nanospitzensonde 350 ist bewegbar und kann als solches von einer Position in der Nähe von einer SVM-Zelle 302 zu einer Position in der Nähe von einer anderen SVM-Zelle bewegt werden, wie beispielsweise einer SVM-Zelle 302'. Genau gesagt kann die Sonde entlang der X- und Y-Koordinatenachse über einer gegebenen SVM-Zelle 302 positioniert werden. Die Sonde kann dann entlang der Z-Koordinatenachse positioniert werden, um die Leistungsübertragung (Wärme und/oder elektrischer Strom) zwischen der Nanospitzensonde 350 und der ausgewählten SVM-Zelle 302 zu ermöglichen.The nano-tip probe 350 is movable and, as such, can move from a position near an SVM cell 302 be moved to a position near another SVM cell, such as an SVM cell 302 ' , Specifically, the probe can travel along the X and Y coordinate axes over a given SVM cell 302 be positioned. The probe may then be positioned along the Z coordinate axis to control the power transfer (heat and / or electrical current) between the nanotip probe 350 and the selected SVM cell 302 to enable.

4 liefert ein konzeptionelles elektrisches Schema der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung 200, die durch ein Array 202, eine RSVM-Zelle 204 und eine rückkopplungsgesteuerte Temperatursteuerung 206 gekennzeichnet ist. Um bei einer Erörterung zu helfen, wurden spezifische Elemente dieses Schemas durch gepunktete Kästen unterschieden, genau gesagt der RSVM-Zellenheizer 400, die Wärmeschaltung 402 der RSVM-Zelle 204, der Temperatursensor 404, die Temperatursteuerung 406 und die Leistungsquelle 408. Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel ist die Leistungsquelle 408 ein Stromspiegel. 4 provides a conceptual electrical schematic of the heat-assisted magnetic memory device 200 passing through an array 202 , an RSVM cell 204 and a feedback-controlled temperature control 206 is marked. To help with a discussion, specific elements of this scheme were distinguished by dotted boxes, specifically, the RSVM cell heater 400 , the thermal circuit 402 the RSVM cell 204 , the temperature sensor 404 , the temperature control 406 and the power source 408 , In at least one embodiment, the power source is 408 a current mirror.

Bei diesem konzeptionellen elektrischen Schema ist die RSVM-Zelle 204 als ein Widerstandselement 410 gezeigt. Wenn eine Leistung durch eine leitfähige Leitung 412 zu dem Widerstandselement 410 (der RSVM-Zelle 204) geliefert wird, resultiert ein interner Widerstand in einer Erzeugung von Wärmeenergie, die als P_H dargestellt ist, dargestellt durch einen gekrümmten Pfeil 414. Die Wärmeschaltung 402 ist mit dem RSVM-Zellenheizer 400 gekoppelt. Genauer gesagt resultiert die Wärme, die in dem Widerstandselement 410 dissipiert wird, in einer Leistungsquelle für die Wärmeschaltung, da die Struktur der Schaltung den Wärmewiderstand und Temperaturanstieg als eine Sache von Wärmewiderständen bestimmt.In this conceptual electrical scheme is the RSVM cell 204 as a resistance element 410 shown. If a power through a conductive line 412 to the resistance element 410 (the RSVM cell 204 ), an internal resistance results in generation of heat energy, represented as P _H , represented by a curved arrow 414 , The heating circuit 402 is with the RSVM cell heater 400 coupled. More specifically, the heat that results in the resistive element results 410 is dissipated in a power source for the thermal circuit because the structure of the circuit determines the thermal resistance and temperature rise as a matter of thermal resistances.

Die Wärme P_H dient als eine Leistungsquelle 416 bei der Wärmeschaltung 402. Der Wärmewiderstand (R_T) der RSVM-Zelle 204 für eine Temperaturerfassungsdiode in dem Siliziumsubstrat ist durch einen Widerstand 418 dargestellt. Der Wärmewiderstand der Temperaturerfassungsdiode für die Umgebungstemperatur ist durch einen Widerstand 420 dargestellt.The heat P _H serves as a power source 416 in the heating circuit 402 , The thermal resistance (R _T ) of the RSVM cell 204 for a temperature sensing diode in the silicon substrate is resistive 418 shown. The thermal resistance of the temperature sensing diode for the ambient temperature is through a resistor 420 shown.

Der Strom, der durch die Widerstände 418 und 420 fließt, koppelt die Temperatur durch eine Verbindung 424 mit der PN-Übergang-Diode 422. Das Verhalten der PN-Übergang-Diode 422 spricht, wie es gut bekannt ist, auf eine Temperatur in der Größenordnung von 2 bis 4 Mikrovolt pro Grad Celsius an. Die Übergangsspannung, die durch den Diodenstrom (ID) entwickelt wird, der durch die PN-Übergang-Diode 422 fließt, wird als eine Rückkopplung (V_T) zu dem negativen Eingang eines Differenzverstärkers mit negativer Rückkopplung 426 geliefert.The current passing through the resistors 418 and 420 flows, the temperature couples through a connection 424 with the PN junction diode 422 , The behavior of the PN junction diode 422 As is well known, it responds to a temperature of the order of 2 to 4 microvolts per degree Celsius. The transient voltage developed by the diode current (ID) that passes through the PN junction diode 422 flows, as a feedback (V _T ) to the negative input of a differential amplifier with negative feedback 426 delivered.

Die Funktion des Differenzverstärkers mit negativer Rückkopplung 426 ist es, die Differenzen zwischen zwei Eingangsspannungen zu reduzieren. Eine Referenzspannung, Vref, ist an den „+”-Anschluss angelegt und die Rückkopplungsspannung V_T ist an den „–”-Anschluss angelegt. Die Referenzspannung, Vref, stellt eine spezifische Temperatur dar. Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel stellt Vref die Temperatur für eine reduzierte Koerzitivität der RSVM-Zelle (d. h. der RSVM-Zelle 204) dar. Unter geeigneten Umständen kann Vref Betriebstemperaturen darstellen, die für eine spezifische Anwendung der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung 200 erwünscht sind. The function of the differential amplifier with negative feedback 426 is to reduce the differences between two input voltages. A reference voltage, Vref, is applied to the "+" terminal and the feedback voltage V _T is applied to the "-" terminal. The reference voltage, Vref, represents a specific temperature. In at least one embodiment, Vref sets the temperature for reduced coercivity of the RSVM cell (ie, the RSVM cell 204 In appropriate circumstances, Vref may represent operating temperatures suitable for a specific application of the heat-assisted magnetic memory device 200 are desired.

Der Differenzverstärker mit negativer Rückkopplung 426 reduziert die Differenz zwischen den zwei Eingangsspannungen, Vref und V_T, durch ein Anweisen einer Einstellung an der Leistungsquelle 408. Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel ist die Leistungsquelle 408 eine variierende Stromquelle 428, die im Wesentlichen die gleiche Leistung zu dem Widerstandselement 410 und einer ausgewählten SVM-Zelle 302, die als ein Widerstandselement 430 dargestellt ist, innerhalb des Arrays 202 liefert, das als ein Koppelpunktarray 300 dargestellt ist. Eine Erhöhung oder Verringerung bei dem Strom (der Leistung), der durch den Leiter 412, als eine gepunktete Linie 432 dargestellt, zu der RSVM-Zelle geliefert wird, ist im Wesentlichen die gleiche wie bei dem Strom (der Leistung), der (die) zu dem Widerstandselement 430 (der ausgewählten SVM-Zelle 302) des Koppelpunktarrays 300 geliefert wird. Durch ein Zeilenauswahlelement 434 und ein Spaltenauswahlelement 436 ausgewählt, ist der Weg des Stroms, der zu dem Widerstandselement 430 geliefert wird, durch eine gepunktete Linie 438 dargestellt.The differential amplifier with negative feedback 426 reduces the difference between the two input voltages, Vref and V _T , by instructing a setting on the power source 408 , In at least one embodiment, the power source is 408 a varying power source 428 that has substantially the same power to the resistor element 410 and a selected SVM cell 302 that act as a resistance element 430 is shown within the array 202 provides that as a crosspoint array 300 is shown. An increase or decrease in the current (the power) passing through the conductor 412 , as a dotted line 432 to which the RSVM cell is supplied is essentially the same as the current (power) that is associated with the resistive element 430 (the selected SVM cell 302 ) of the crosspoint array 300 is delivered. Through a row selection element 434 and a column selection element 436 is the path of the current leading to the resistive element 430 is delivered by a dotted line 438 shown.

Der Betrieb der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung 200, die konzeptionell in 4 dargestellt ist, kann wie folgt zusammengefasst werden: eine im Wesentlichen gleiche Wärmeleistung wird an das Widerstandselement 410 und das Widerstandselement 430 angelegt. Die Wärmeleistung, die in dem Widerstandselement 410 dissipiert wird, wird zu einer Wärmeschaltung 402 gekoppelt. Der Temperaturanstieg bei dem Widerstandselement 410 über die Umgebungstemperatur wird durch die Wärmeschaltung 402 erkannt und dargestellt.The operation of the heat-assisted magnetic storage device 200 conceptually in 4 may be summarized as follows: a substantially equal heat output is applied to the resistive element 410 and the resistance element 430 created. The heat output in the resistance element 410 is dissipated, becomes a thermal circuit 402 coupled. The temperature rise in the resistance element 410 over the ambient temperature is due to the thermal circuit 402 recognized and presented.

Die Wärmeschaltung 402 ist mit einer elektrischen Schaltung bei der PN-Übergang-Diode 422 gekoppelt. Ein Erfassungsstrom wird durch die PN-Übergang-Diode geleitet. Die Spannung, die durch die PN-Übergang-Diode entwickelt wird, V_T, wird mit einer Referenzspannung, Vref, durch den Differenzverstärker mit negativer Rückkopplung 426 verglichen. Basierend auf einer negativen Rückkopplung wird die Wärmeleistung eingestellt, um die Rückkopplungsspannung V_T zu regeln, um im Wesentlichen gleich der Referenzspannung, Vref, zu sein. Durch ein Regeln der Leistung, um die Spannungen abzugleichen, wird die Temperatur des Widerstandselements 410 im Wesentlichen identisch mit der Temperatur des ausgewählten Widerstandselements 430 sein.The heating circuit 402 is with an electrical circuit at the PN junction diode 422 coupled. A sense current is passed through the PN junction diode. The voltage developed by the PN junction diode, V _T , is injected with a reference voltage, Vref, through the negative feedback differential amplifier 426 compared. Based on a negative feedback, the heat output is adjusted to control the feedback voltage V _T to be substantially equal to the reference voltage, Vref. By regulating the power to balance the voltages, the temperature of the resistive element becomes 410 substantially identical to the temperature of the selected resistive element 430 be.

Es ist klar, dass die Umgebungstemperatur der RSVM-Zelle 204 im Wesentlichen etwa die gleiche wie die Umgebungstemperatur der SVM-Zellen in dem Array 202 ist. Außerdem ist das Heizverhalten, das bei dem RSVM-Zellenheizer 400 dargestellt ist, für ein Widerstandselement 430 (eine ausgewählte SVM-Zelle 302) innerhalb des Arrays 202 im Wesentlichen das gleiche. Obwohl der RSVM-Zellenheizer 400 als eine Funktion der angelegten Leistung, die ein variierender Strom ist, dargestellt ist, ist es klar und offensichtlich, dass die Leistung eine angelegte Spannung, eine Hochfrequenzleistung (HF-Leistung), eine Laser- oder eine andere Form einer Leistung sein kann, die ausreichend ist, um eine örtlich begrenzte Wärmequelle bereitzustellen.It is clear that the ambient temperature of the RSVM cell 204 substantially the same as the ambient temperature of the SVM cells in the array 202 is. In addition, the heating behavior is that of the RSVM cell heater 400 is shown for a resistive element 430 (a selected SVM cell 302 ) within the array 202 essentially the same. Although the RSVM cell heater 400 As a function of applied power, which is a varying current, it is clear and obvious that the power may be an applied voltage, a high frequency power (RF power), a laser or some other form of power is sufficient to provide a localized heat source.

Die wärmeunterstützte Magnetspeichervorrichtung 200 mit einer rückkopplungsgesteuerten Temperatursteuerung 206 ermöglicht vorteilhaft zuverlässige wärmeunterstützte Schreiboperationen abhängig von erhöhten Temperaturen der ausgewählten SVM-Zellen. Derartige wärmeunterstützte Operationen sind zu einem sehr schmalen und genauen Temperaturbereich gesteuert. Außerdem sind Schwankungen bei einer Umgebungstemperatur (d. h. der Substrattemperatur), die die endgültige Temperatur der SVM-Zellen des Arrays beeinflussen, wirksam eliminiert. Diese Eliminierung wird vorteilhaft erzielt, ohne zu erfordern, dass jede SVM-Zelle des Arrays 202 mit einem einzelnen Temperatursensor versehen wird.The heat-assisted magnetic memory device 200 with a feedback-controlled temperature control 206 advantageously enables reliable heat-assisted write operations dependent on elevated temperatures of the selected SVM cells. Such heat assisted operations are controlled to a very narrow and accurate temperature range. In addition, variations in ambient temperature (ie, substrate temperature) that affect the final temperature of the SVM cells of the array are effectively eliminated. This elimination is achieved favorably without requiring that each SVM cell of the array 202 is provided with a single temperature sensor.

Nachdem das obige physische Ausführungsbeispiel der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung 200 mit der RSVM-Zelle 204 und der rückkopplungsgesteuerten Temperatursteuerung 206 beschrieben wurde, wird nun ein anderes Ausführungsbeispiel bezüglich des Verwendungsverfahrens unter Bezugnahme auf das Flussdiagramm von 5 und die in 2, 3 und 4 dargestellten Komponenten beschrieben. Es ist ersichtlich, dass das beschriebene Verfahren nicht in der Reihenfolge durchgeführt werden muss, in der dasselbe hierin beschrieben ist, sondern dass diese Beschreibung lediglich exemplarisch für zumindest ein Verfahren zum Verwenden der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung mit gesteuerter Temperatur 200 gemäß der vorliegenden Erfindung ist.After the above physical embodiment of the heat-assisted magnetic storage device 200 with the RSVM cell 204 and the feedback-controlled temperature control 206 Now, another embodiment of the use method will be described with reference to the flowchart of FIG 5 and the in 2 . 3 and 4 described components described. It will be understood that the described method need not be performed in the order described herein, but that this description is merely exemplary of at least one method of using the thermally-assisted controlled temperature magnetic memory device 200 according to the present invention.

Unter Bezugnahme auf die in 3 und 4 dargestellten Komponenten und wie es in dem Flussdiagramm von 5 dargestellt ist, wird die Auswahl einer spezifischen SVM-Zelle vorgenommen, Block 500. Eine derartige Auswahl kann mit der Verwendung eines Zeilenauswahlelements 434 und eines Spaltenauswahlelements 436 durchgeführt werden, die eine spezifische Spalte 316 und eine spezifische Zeile 318 auswählen, um eine spezifische SVM-Zelle 302 auszuwählen.Referring to the in 3 and 4 shown components and as shown in the flow chart of 5 is presented, the selection of a specific SVM cell is made, block 500 , Such a choice may be with the use of a row selection element 434 and a column selection element 436 be performed, which has a specific column 316 and a specific line 318 select a specific SVM cell 302 select.

Eine erste Leistung wird an die RSVM-Zelle 204 angelegt. Die erste Leistung ist eine Wärmeleistung und die Anlegung dient dazu, die RSVM-Zelle 204 zu erwärmen, Block 502. Die zweite Leistung, die im Wesentlichen identisch mit der ersten Leistung ist, wird an das ausgewählte Widerstandselement 430 (die ausgewählte SVM-Zelle 302) angelegt, Block 504.A first power is sent to the RSVM cell 204 created. The first power is a heat output and the purpose is to use the RSVM cell 204 to warm up, block 502 , The second power, which is substantially identical to the first power, is applied to the selected resistor element 430 (the selected SVM cell 302 ) created, block 504 ,

Bei zumindest einem Ausführungsbeispiel resultiert die Anlegung der ersten und der zweiten Leitung in einer Selbsterwärmung innerhalb der RSVM-Zelle 204 und dem ausgewählten Widerstandselement 430. Bei einem alternativen Ausführungsbeispiel ist das Erwärmen durch ein gekoppeltes Erwärmen erreicht, wobei die erste und die zweite Leistung an getrennte Heizvorrichtungen angelegt werden, die mit der RSVM-Zelle 204 und dem ausgewählten Widerstandselement 430 thermisch gekoppelt sind.In at least one embodiment, the application of the first and second lines results in self-heating within the RSVM cell 204 and the selected resistance element 430 , In an alternative embodiment, the heating is accomplished by coupled heating, wherein the first and second power are applied to separate heaters connected to the RSVM cell 204 and the selected resistance element 430 thermally coupled.

Es ist allgemein ersichtlich auf dem Magnetspeichergebiet, dass, wenn sich die Größe eines Magnetbits verringert, sich die Koerzitivität des Bits erhöht. Zum Beispiel kann ein Bit mit 0,25 × 0,75 Mikrometern eine Koerzitivität von in etwa 40 Oe[1 Oe = 1000/(4·Pi)A/m] aufweisen, während ein Bit von 0,15 × 0,45 Mikrometern eine Koerzitivität von in etwa 75 Oe[1 Oe = 1000/(4·Pi)A/m] aufweisen kann. Im Allgemeinen verringert sich die Koerzitivität eines Materials, wenn eine Temperatur sich erhöht. Ein Temperaturanstieg von beispielsweise 100 Grad Celsius kann einen Koerzitivitätsabfall von in etwa 50% übertragen. Auf eine Temperaturverringerung auf den ursprünglichen Zustand, stellt sich die ursprüngliche Koerzitivität im Allgemeinen wieder ein.It is generally understood in the magnetic memory field that as the size of a magnetic bit decreases, the coercivity of the bit increases. For example, a 0.25 x 0.75 micron bit may have a coercivity of about 40 Oe [1 Oe = 1000 / (4 * Pi) A / m] while a 0.15 x 0.45 micron bit may have a coercivity of about 75 Oe [1 Oe = 1000 / (4 * Pi) A / m]. In general, the coercivity of a material decreases as a temperature increases. For example, a temperature increase of, for example, 100 degrees Celsius may translate a coercivity decrease of about 50%. Upon a temperature reduction to the original state, the original coercivity generally recovers.

Als solches reduziert ein Anlegen einer Wärmeleistung an die RSVM-Zelle 204 die Koerzitivität der RSVM-Zelle 204. Da die RSVM-Zelle 204 im Wesentlichen identisch mit den SVM-Zellen des Arrays 202 ist, ist es durch ein Messen und Steuern der Temperatur des Widerstandselements 410 (der RSVM-Zelle 204) möglich, im Wesentlichen die gleiche Steuerung einer Temperatur festzustellen, die an das ausgewählte Widerstandselement 430 (die ausgewählte SVM-Zelle 302) angelegt wird.As such, application of heat power to the RSVM cell reduces 204 the coercivity of the RSVM cell 204 , Because the RSVM cell 204 essentially identical to the SVM cells of the array 202 is, by measuring and controlling the temperature of the resistive element 410 (the RSVM cell 204 ), it is possible to determine substantially the same control of a temperature applied to the selected resistive element 430 (the selected SVM cell 302 ) is created.

Um diese Temperatursteuerung zu ermöglichen, wird eine Rückkopplungsspannung V_T von der Temperatursteuerung 206 erfasst, die mit der RSVM-Zelle 204 gekoppelt ist, Block 506. Die Rückkopplungsspannung V_T wird mit der Referenzspannung Vref verglichen, Block 510. Die Referenzspannung, Vref, stellt eine spezifische Temperatur dar und stellt bei zumindest einem Ausführungsbeispiel die reduzierte Koerzitivität der RSVM-Zelle 204 und der ausgewählten SVM-Zelle 302 dar.To enable this temperature control, a feedback voltage V _T from the temperature controller 206 captured with the RSVM cell 204 coupled, block 506 , The feedback voltage V _T is compared with the reference voltage Vref, block 510 , The reference voltage, Vref, represents a specific temperature and, in at least one embodiment, provides the reduced coercivity of the RSVM cell 204 and the selected SVM cell 302 represents.

Basierend auf dem Vergleich von V_T mit Vref stellt der Differenzverstärker mit negativer Rückkopplung 426 die variable erste Leistung ein, die an die RSVM-Zelle 204 angelegt wird, Block 512. Wenn die Leistung durch eine Leistungsquelle 408 geliefert wird, wird die zweite Leistung, die an das Widerstandselement 430 angelegt wird, gleichermaßen eingestellt, um im Wesentlichen identisch mit der ersten Leistung zu sein, Block 514.Based on the comparison of V _T with Vref, the differential amplifier provides negative feedback 426 the variable first power applied to the RSVM cell 204 is created, block 512 , When the power through a power source 408 is delivered, the second power is applied to the resistor element 430 created, set to be substantially identical to the first performance, block 514 ,

Wenn die erwünschte Temperatur in der RSVM-Zelle 204 und folglich in der ausgewählten SVM-Zelle 302 erreicht ist, wird ein Schreibmagnetfeld an die ausgewählte SVM-Zelle 302 angelegt, Block 516. Das angelegte Magnetfeld ist größer als die reduzierte Koerzitivität der ausgewählten SVM-Zelle 302. Da die Koerzitivität des Widerstandselements 430 (der ausgewählten SVM-Zelle 302) durch die Anlegung einer Leistung in der Form von Wärme reduziert wurde, kann die Magnetisierungsausrichtung der ausgewählten SVM-Zelle 302 verändert werden. Geeignete Erfassungsoperationen können mit der Schreiboperation kombiniert werden, um zu bestätigen, dass die Schreiboperation erfolgreich war.When the desired temperature in the RSVM cell 204 and consequently in the selected SVM cell 302 is reached, a write magnetic field is sent to the selected SVM cell 302 created, block 516 , The applied magnetic field is greater than the reduced coercivity of the selected SVM cell 302 , Because the coercivity of the resistive element 430 (the selected SVM cell 302 ) has been reduced by the application of power in the form of heat, the magnetization orientation of the selected SVM cell 302 to be changed. Suitable capture operations can be combined with the write operation to confirm that the write operation was successful.

Wie es bei einer Entscheidungsoperation 518 angegeben ist, wiederholen zusätzliche Schreiboperationen das oben beschriebene Verfahren. Dieses Verfahren ermöglicht vorteilhaft, dass genaue wärmeunterstützte Schreiboperationen durchgeführt werden. Als solches können die Ränder eines Pufferraums zwischen SVM-Zellen innerhalb des Arrays 202 reduziert werden.As for a decision operation 518 is specified, additional write operations repeat the method described above. This method advantageously enables accurate heat-assisted write operations to be performed. As such, the edges of a buffer space may be between SVM cells within the array 202 be reduced.

Ein anderes Ausführungsbeispiel ist erkennbarerweise ein Computersystem, das die wärmeunterstützte Magnetspeichervorrichtung 200 umfasst. Ein Computer mit einer Hauptplatine, zumindest einer CPU und der wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung 200, wie dieselbe oben mit Bezug auf 4 beschrieben ist, hebt die Vorteile der verbesserten wärmeunterstützten Magnetspeichervorrichtung 200 auf eine Systemebene.Another embodiment is illustratively a computer system including the heat-assisted magnetic memory device 200 includes. A computer having a motherboard, at least one CPU and the heat-assisted magnetic memory device 200 as the same above with reference to 4 describes the advantages of the improved heat-assisted magnetic memory device 200 at a system level.

Claims

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ), comprising: an array ( 202 ) of SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ), the SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ) are characterized by a variable magnetization orientation and comprise a material in which the coercivity is reduced to an increase in temperature; at least one reference SVM cell ( 204 ) coupled with a temperature sensor ( 212 ) and substantially identical to the SVM cells and a feedback-controlled temperature control ( 206 ) which receives a reference voltage which is a temperature for a reduced coercivity of the reference SVM cell ( 204 ) and also a feedback voltage from the temperature sensor ( 212 ) receives when power to the reference SVM cell ( 204 ) and a selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) is applied to the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ), wherein the feedback-controlled temperature control ( 206 ) adjusts the applied power to minimize the difference between the feedback voltage and the reference voltage whereby the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) by the power passing through the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) flows, warming itself.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to claim 1, wherein the at least one reference SVM cell ( 204 ) in close proximity to the array ( 202 ) is positioned.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 or 2, wherein the reference SVM cell ( 204 ) within the array ( 202 ) is positioned.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 3, in which the feedback-controlled temperature control ( 206 ) further comprises a differential amplifier with negative feedback ( 426 ) receiving the reference voltage and the feedback voltage.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 4, wherein the applied power is a heat output.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 5, wherein the applied power is selected from a varying current, a varying voltage or a high-frequency power (RF power) or a laser power.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 6, in which the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) are heated by a coupled heating, wherein a heat output flows through a separate heater which is thermally connected to the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) is coupled.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 7, in which the array ( 202 ) a crosspoint array ( 300 ), comprising: a plurality of parallel electrically conductive lines ( 318 . 318 ' . 318 '' ); and a plurality of parallel electrically conductive gaps ( 316 . 316 ' . 316 '' ), the lines ( 318 . 318 ' . 318 '' ), whereby in each case a crosspoint array ( 300 ) is formed with a plurality of cutting areas; each SVM cell ( 302 . 302 ' . 302 '' ) of the crosspoint array ( 300 ) in electrical contact with an intersection between a row ( 318 ) and a column ( 316 ) and positioned at the same.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 8, in which the reference SVM cell ( 204 ) is physically coupled to the temperature sensor.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 9, wherein the temperature sensor is a PN junction diode.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 10, further comprising a circuit ( 402 ) for heating a selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) during a write operation on the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ), wherein the circuit ( 402 ): essentially the same power to the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) creates; detects a feedback voltage from the temperature sensor associated with the reference SVM cell ( 204 ) is coupled; sets the power to the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) is applied to minimize the difference between the feedback voltage and the reference voltage; and a magnetic field to the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) creates; wherein the magnetization orientation of the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ), wherein the magnetic field is greater than the coercivity of the heated selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ).

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to one of claims 1 to 11, in which the reference SVM cell ( 204 ) and the SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ) of the array each comprise: at least one ferromagnetic data layer characterized by a variable magnetization orientation, the ferromagnetic data layer comprising a material in which the coercivity is reduced upon an increase in temperature; an intermediate layer in contact with the data layer; and at least one ferromagnetic reference layer in contact with the intermediate layer opposite the data layer.

Heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ) according to claim 12, wherein the reference layer is a soft reference layer.

Method for performing a write operation on a selected SVM cell ( 302 ) in a heat-assisted controlled temperature magnetic memory device ( 200 ), which is an array ( 202 ) of SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ), the coercivity of which is reduced to a temperature increase, a reference SVM cell ( 204 ), which are essentially the array ( 202 ) and is in close proximity to it, and a feedback-controlled temperature control ( 206 ) having a temperature sensor thermally connected to the reference SVM cell ( 204 ), the method comprising the steps of: selecting a specific SVM cell ( 302 ) from the array ( 202 ); Applying a first power to the reference SVM cell ( 204 ), where the first power is the reference SVM cell ( 204 ) heated; Apply a second power, which is essentially identical to the first power, to the selected SVM cell ( 302 ), where the second power is the selected SVM cell ( 302 ) heated; Detecting a feedback voltage from the temperature sensor connected to the reference SVM cell ( 204 ) is coupled; Comparing the feedback voltage to a reference voltage, wherein the reference voltage is the temperature for reduced coercivity of the selected SVM cell ( 302 ) and the reference SVM cell ( 204 ); Setting the first power applied to the reference SVM cell ( 204 ) is applied to minimize the difference between the feedback voltage and the reference voltage; Set the second power applied to the selected SVM cell ( 302 ) to be substantially identical to the set first voltage; and applying a magnetic field to the selected SVM cell ( 302 ); wherein the magnetization orientation of the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ), wherein the magnetic field is greater than the coercivity of the heated selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ).

Method according to claim 14, in which the array ( 202 ) a crosspoint array ( 300 ).

A method according to claim 14 or 15, wherein the reference voltage represents a specific temperature.

A method according to any one of claims 14 to 16, wherein the reference voltage is predetermined.

Method according to one of Claims 14 to 17, in which the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) by the first power applied by the reference SVM cell ( 204 ), and the second power supplied by the selected SVM cell ( 302 ) flows, warming itself.

Method according to one of Claims 14 to 18, in which the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) are heated by a coupled heating, wherein the first power flows through a separate heater which is thermally connected to the reference SVM cell ( 204 ) and the second power flows through a separate heater that is thermally connected to the selected SVM cell ( 302 ) is coupled.

Method according to one of claims 14 to 19, wherein the ambient temperature of the reference SVM cell ( 204 ) is substantially the same as the ambient temperature of the array ( 202 ) of SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ).

Method according to one of Claims 14 to 20, in which the reference SVM cell ( 204 ) within the array ( 202 ) is located.

A computer system comprising: a motherboard; at least one central processing unit (CPU) coupled to the motherboard; and at least one memory connected to the CPU through the motherboard, the memory comprising: an array ( 202 ) of SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ), the SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ) by a variable magnetization orientation are characterized and have a material in which the coercivity is reduced to an increase in temperature; at least one reference SVM cell ( 204 ), which are essentially the SVM cells ( 302 . 302 ' . 302 '' ) of the array ( 202 ), wherein the reference SVM cell ( 204 ) in close proximity to the array ( 202 ) is positioned; at least one temperature sensor thermally connected to each at least one reference SVM cell ( 204 ) is coupled; and a feedback-controlled temperature control ( 206 ), which is a reference voltage, wherein the reference voltage represents a specific temperature and receives a feedback voltage from at least one temperature sensor when power is applied to the sensor-coupled reference SVM cell (10). 204 ), wherein the feedback-controlled temperature control ( 206 ) adjusts the applied power to minimize the difference between the feedback voltage and the reference voltage, and wherein the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) by the power passing through the reference SVM cell ( 204 ) and the selected SVM cell ( 302 ) of the array ( 202 ) flows, warming itself.

The computer system of claim 22, wherein the applied power is a heat output.