[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

DE10156604A1 - Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer - Google Patents

Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer

Info

Publication number
DE10156604A1
DE10156604A1 DE10156604A DE10156604A DE10156604A1 DE 10156604 A1 DE10156604 A1 DE 10156604A1 DE 10156604 A DE10156604 A DE 10156604A DE 10156604 A DE10156604 A DE 10156604A DE 10156604 A1 DE10156604 A1 DE 10156604A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
reflector
ring
field
diaphragms
reflector according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10156604A
Other languages
English (en)
Inventor
Armin Holle
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bruker Daltonics GmbH and Co KG
Original Assignee
Bruker Daltonik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bruker Daltonik GmbH filed Critical Bruker Daltonik GmbH
Priority to DE10156604A priority Critical patent/DE10156604A1/de
Priority to US10/298,169 priority patent/US6740872B1/en
Priority to GB0226743A priority patent/GB2386750B/en
Publication of DE10156604A1 publication Critical patent/DE10156604A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers
    • H01J49/405Time-of-flight spectrometers characterised by the reflectron, e.g. curved field, electrode shapes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/025Detectors specially adapted to particle spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft einen energie- und raumwinkelfokussierenden Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer. DOLLAR A Die Erfindung besteht darin, eine einstellbare Raumwinkelfokussierung zu erzeugen, indem kein voll homogenes elektrisches Reflexionsfeld verwendet wird, sondern ein Feld, das am Ende des Reflektors ein schwächeres Feld mit gekrümmten Äquipotentiallinien aufweist.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen energie- und raumwinkelfokussierenden Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer.
  • Die Erfindung besteht darin, eine einstellbare Raumwinkelfokussierung zu erzeugen, indem kein voll homogenes elektrisches Reflektionsfeld verwendet wird, sondern ein Feld, das am Ende des Reflektors ein schwächeres Feld mit gekrümmten Äquipotentiallinien aufweist.
  • Stand der Technik
  • Durch die Arbeiten von B. A. Mamyrin, V. I. Karatzev und D. V: Shmikk (US 4 072 862) sind zweistufige Reflektoren mit Gittern bekannt. Diese erlauben eine geschwindigkeitsfokussierende Reflektion von Ionen mit einstellbarer Fokuslänge. Dabei wirkt ein erstes, starkes Gegenfeld abbremsend auf die Ionen, während ein zweites, gut homogenes Feld die Ionen reflektiert und dabei eine Geschwindigkeitsfokussierung bewirkt. Durch die Einstellung des Feldstärkenverhältnisses von Brems- und Reflektionsfeld lässt sich die Fokuslänge der Energiefokussierung einstellen. Dieser Reflektor besitzt keine Raumwinkelfokussierung.
  • Statt zweistufiger Reflektoren können auch einstufige Reflektoren mit nur einem Gitter im Eingangsbereich verwendet werden; diese haben eine feste, relativ kurze Fokuslänge für die Energiefokussierung und nehmen einen großen Teil der Gesamtflugstrecke des Flugzeitmassenspektrometers ein.
  • Die Arbeiten von R. Frey und E. W. Schlag (EP 0 208 894, US 4,731,532) haben gitterfreie, zweistufige Reflektoren bekannt gemacht, die neben einer Geschwindigkeitsfokussierung auch eine Raumwinkelfokussierung besitzen. Die Raumwinkelfokussierung ergibt sich von selbst durch das gitterfreie Bremsfeld, das wie eine Ionenlinse wirkt. Die Fokuslängen der Geschwindigkeitsfokussierung und die der Raumwinkelfokussierung sind aber nicht unabhängig voneinander einzustellen; es gibt nur eine bestimmte geometrische Anordnung, die einen von einer Quelle stammenden, leicht divergenten Ionenstrahl sowohl geschwindigkeitsfokussierend wie auch raumwinkelfokussierend auf einen Ionendetektor abbildet.
  • Der gitterfreie Reflektor wird aus einer Anzahl von metallischen Ringblenden und einer abschließenden Blende aufgebaut. Diese Abschlussblende ist für gewöhnlich ein Gitter, um das Spektrometer auch im nichtreflektierenden, linearen Modus mit einem Ionendetektor hinter der Abschlussblende betreiben zu können. Die ersten beiden Ringblenden können einen kleineren Innendurchmesser haben, zwischen ihnen wird durch Anlegen einer hohen Potentialdifferenz ein hohes Bremsfeld aufgebaut. Die aus dem Zwischenraum durch die Blendenöffnungen herausquellenden Äquipotentiallinien bilden die raumwinkelfokussierende Ionenlinse. Die weiteren Ringblenden haben gleiche Innendurchmesser, gleiche Abstände und gleiche Potentialdifferenzen: sie bilden ein homogenes Reflektionsfeld auf, das durch verschieden große Eindringtiefen (und daher verschiedenen Flugstrecken) für Ionen verschiedener Energien die Energiefokussierung erzeugt. Die Fokuslänge der Energiefokussierung wird wie beim Gitterreflektor durch das Verhältnis der Feldstärken in Bremsfeld und Reflektionsfeld eingestellt. Damit ist eine starr gekoppelte Fokuseinstellung der Raumwinkelfokussierung verbunden, deren Fokuslänge normalerweise nicht mit der der Energiefokussierung übereinstimmt.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Es ist die Aufgabe der Erfindung, einen einfach konstruierten Reflektor zu finden, der eine Einstellung der Fokuslänge der Raumwinkelfokussierung unabhängig von der Fokuslänge der Energiefokussierung erlaubt.
  • Kurze Beschreibung der Erfindung
  • Die Erfindung besteht darin, das Feld im letzten Abschnitt des Reflektorfeldteils schwächer auszubilden. Dadurch kommt es zu einem Durchgriff der etwas stärkeren Felder in den vorausgehenden Abschnitten, und durch den Felddurchgriff zu leicht gekrümmten Äquipotentialflächen im Bereich der letzten Ringblende. Werden nun eingeschossene Ionen in diesem Bereich zum Stoppen gebracht, bevor sie in rückwärtiger Richtung wieder beschleunigt werden, so ergibt sich durch die gekrümmten Potentialflächen eine Richtungsablenkung während der Reflektion. Für Randstrahlen, die nicht in der Achse fliegen, ergibt sich eine Ablenkung zur Achse hin und damit eine Raumwinkelfokussierung. Die Stärke der Ablenkung und damit die Fokuslänge der Raumwinkelfokussierung lässt sich durch die Stärke der Krümmung der Äquipotentialflächen einstellen. Bei fest vorgegebener Krümmung der Äquipotentialflächen lässt sich die Fokuslänge der Raumwinkelfokussierung durch die Gesamtspannung am Reflektor, also durch die Eindringtiefe der Ionen in den Bereich der zunehmend gekrümmten Äquipotentialflächen hinein einstellen.
  • Das schwächere Feld im letzten Abschnitt lässt sich durch eine geringere Potentialdifferenz bei gleichem Abstand der Blenden, durch einen größeren Abstand zwischen letzter Ringblende und Abschlussblende bei gleicher Potentialdifferenz, durch eine Kombination aus beiden, oder auch durch eine ausgebeulte Abschlussblende erreichen. Die ausgebeulte Abschlussblende zieht die gekrümmten Äquipotentialflächen bis zur Abschlussblende hin. Die Ausbeulung muss nicht gekrümmt sein, es genügt auch ein einfacher Rezess.
  • Die Erfindung kann sowohl in einstufigen Reflektoren wie auch in zweistufigen Reflektoren, jeweils mit oder ohne Gitter im Eingangsbereich, verwendet werden.
  • Kurze Beschreibung der Abbildungen
  • Abb. 1 zeigt einen zweistufigen Reflektor nach Mamyrin et al. mit vollkommen homogenen Feld nach dem Stand der Technik.
  • Abb. 2 gibt einen zweistufigen Reflektor nach Frey et al. wieder, dessen fehlende Gitter im Eingangsbereich bewirken, dass sich eine Ionenlinse bildet. Diese Anordnung ist ebenfalls Stand der Technik. Die Fokuslänge der Raumwinkelfokussierung ist nicht getrennt von der Fokuslänge der Energiefokussierung zu verändern. Es gibt nur eine geometrische Anordnung für das Flugzeitmassenspektrometer, bei der beide Fokuslängen übereinstimmen.
  • Abb. 3 zeigt eine von prinzipiell vielen möglichen Ausführungsformen der Erfindung. Hier ist die Potentialdifferenz im letzten Abschnitt des Reflektors kleiner als in der vorhergehenden; das Feld der vorhergehenden Abschnitte greift in den letzten Abschnitt über und bildet gekrümmte Äquipotentialflächen aus, die eine Raumwinkelfokussierung bewirken.
  • Abb. 4 stellt eine weitere Ausführungsform dar: hier ist die Abschlussblende ausgebeult, wodurch wiederum gekrümmte Äquipotentialflächen für eine Raumwinkelfokussierung erzeugt werden. Diese unterstützt die Raumwinkelfokussierung der Ionenlinse im Eingang.
  • Abb. 5 ist eine besonders preiswert herzustellende und daher besonders bevorzugte Ausführungsform dieser Erfindung. Zwischen den Bremsfeldblenden (1) und (2) wird durch einen hohen Potentialteilerwiderstand (10) ein hohes Bremsfeld aufgebaut, das durch die beidseitigen Felddurchgriffe eine linsenförmige Anordnung (6) der Äquipotentialflächen aufbaut (wie auch schon in den Abb. 2 und 4 gezeigt). Diese Linse wirkt relativ schwach, da die Energie der Ionen beim Durchtritt durch diese Linse relativ hoch ist, die Ionenbahnen sind daher sehr "steif". Die 11 Ringblenden (3) bilden durch gleiche Potentialteilerwiderstände (9) ein homogenes Feld (7), dessen Äquipotentialflächen erst im Bereich (8) der letzten Ringblenden durch Felddurchgriff leicht gekrümmt sind. Der Felddurchgriff wird hier dadurch erzeugt, dass das Gitter (5) der Abschlussblende (4) nicht in der Vorderebene der Abschlussblende (4) angebracht ist, sondern auf der Rückseite der dick gehaltenen Blende, so dass das Gitter gegenüber der Vorderseite der Abschlussblende (4) einen Rezess aufweist. Dieser Rezess schwächt das Feld im letzten Anschnitt und bewirkt die Krümmung der Äquipotentialflächen. Die preiswerte Herstellung rührt daher, dass hier ein ebenes Gitter in einer etwas dicker gewählten Abschlussblende verwendet wird, und nicht ein schwer reproduzierbares ausgebeultes Gitter wie in Abb. 4. Alle Ringblenden haben hier gleiche Abstände voneinander, es können also für die hier nichtgezeigten Halteelemente für die Blenden die gleichen isolierenden Abstandsstücke verwendet werden. Auch die Widerstände (9) des Potentialteilers sind, bis auf den Widerstand (10) für das Bremsfeld, alle gleich. Diese Widerstände müssen mit engen Toleranzen gefertigt werden, exakt gleiche Widerstände für alle Blenden des Reflektionsfeldes erleichtern die Herstellung. Die Eingangsblende (1) befindet sich auf Grundpotential, an die Abschlussblende wird ein einstellbares, hohes Reflektionspotential angelegt. Leichte Veränderungen dieses Potentials verändern die Eindringtiefe der Ionen im Bereich (8), damit die Krümmung der Äquipotentialflächen im Umkehrpunkt der Ionen und damit die Fokuslänge der Raumwinkelfokussierung.
  • Die Krümmung der Äquipotentialflächen im Bereich der Abschlussblende ist in den Abb. 3, 4 und 5 sehr stark gezeichnet, um die Wirkung deutlich zu machen. In der Realität sind diese Krümmungen nur sehr schwach, um nicht zu einer Überfokussierung zu kommen.
  • Bevorzugte Ausführungsformen
  • Eine besonders einfach herstellbare Ausführungsform eines energiefokussierenden Reflektors mit Raumwinkelfokussierung getrennt einstellbarer Fokuslänge ist in Abb. 5 wiedergegeben. Hier sind alle Abstände zwischen den Blenden einschließlich der Abschlussblende gleich groß und können daher bei der Montage, bei der die Abstände mit präzise auf Maß geschliffenen Keramikisolatoren erzeugt werden, einfach und verwechslungsfrei aufgebaut werden. Auch die als Potentialteiler verwendeten Widerstände sind, bis auf den Widerstand für das Bremspotential, alle gleich. Da diese Widerstände sehr eng toleriert sein müssen und entsprechend teuer sind, ist auch die Beschränkung auf nur zwei Widerstandswerte hilfreich zur Kosteneinsparung. Die Erfindung ist hier nur durch die Form der Abschlussblende realisiert. Diese ist dicker als die übrigen Blenden, und hat das metallische Gitternetz auf der Rückseite statt auf der Vorderseite angepunktet. Durch den Rezess ergibt sich hier im letzten Abschnitt eine Feldschwächung, die zu einer Ausbildung von gekrümmten Äquipotentialflächen führt.
  • Werden in diesen Reflektor durch die Eingangsblende (1) hindurch leicht konvergente Ionenstrahlen eingeschossen, so wird die Divergenz bereits beim Durchtritt durch die Eingangslinse, die aus den gekrümmtem Äquipotentialflächen im Eingangsbereich (6) gebildet wird, etwas gemindert. Die Wirkung dieser Linse ist jedoch nicht besonders stark, da die Ionen hier noch ihre volle Energie haben. Selbst eine starke Abbremsung in diesem Gebiet auf etwa R ihrer Energie (also S Geschwindigkeit) trägt nur relativ wenig zur Linsenwirkung bei. Nach bisheriger Technik wird aus einem sehr schwach divergenten Strahl im Inneren des Reflektors nunmehr praktisch ein paralleler Strahl. Wird dieser Parallelstrahl im homogenen Teil des Reflektionsfeldes reflektiert, so kehrt der Strahl wieder als praktisch paralleler Strahl zur Eingangslinse zurück und wird hier durch die Linsenwirkung zu einem schwach konvergenten Strahl geformt, mit relativ weiter Fokuslänge. So weit funktioniert diese Ausführungsform nach dem bisherigen Stand der Technik. Die Fokuslänge lässt sich hier nicht einstellen.
  • Nach dieser Erfindung kann man aber auch stärker divergente Ionenstrahlen einstellbar fokussieren; ein stärker divergent eintretender Strahl besitzt im Reflektor immer noch eine restliche Divergenz Lässt man diesen Ionenstrahl so weit eintreten, dass er erst im gekrümmten Potentialbereich (8) zur Umkehr gelangt, so erleben die Randstrahlen eine zusätzliche Ablenkung zur Achse des Reflektors hin. Diese Ablenkung ist auch bei geringer Krümmung der Äquipotentialflächen beträchtlich, da hier die Ionen einmal vollständig zur Ruhe kommen und dabei nur noch die Feldkomponente zur Achse hin erleben. Anders gesprochen: Die Wirkung ist hier besonders stark, da die Ionen hier sehr langsam sind, und die Energieübertragung vom elektrischen Feld auf die Ionen von der Zeitdauer der Einwirkung abhängt. Diese zusätzliche Raumwinkelfokussierung verkürzt die Fokuslänge.
  • Diese zusätzliche Raumwinkelfokussierung kann in ihrer Fokuslänge eingestellt werden. Es ist dazu nur notwenig, die Gesamtspannung am Reflektor geringfügig zu ändern. Der Ionenstrahl dringt dann entweder etwas weiter oder etwas weniger weit in den Bereich (8) der zunehmend gekrümmten Äquipotentialflächen ein, trifft daher im Umkehrpunkt auf mehr oder weniger gekrümmte Äquipotentialflächen und erlebt daher mehr oder wenige Ablenkung.
  • Macht man nun die Linse im Eingangsbereich (6) durch konstruktive Maßnahmen wie Abstand zwischen den Blenden (1) und (2), Innendurchmesser dieser Blenden, und Bremsspannung relativ schwach, so kann man mit der erfindungsgemäßen Fokussierung im Bereich (8) gewünschte Fokuslängen in einem weiten Bereich überstreichen. Reflektoren mit gleichen Abständen zwischen den Blenden und gleichen Innendurchmessern der Blenden haben sehr schwache Linsenwirkungen im Eingangsbereich.
  • Ist die Linse im Eingangsbereich des Reflektors sehr stark, so kann man auch durch eine Verstärkung des Feldes vor der Abschlussblende und eine streuende Reflektion in diesem Bereich zu einer Einstellung der Fokuslänge für die Raumwinkelstreuung kommen. Es ist jedoch schwer, die Linse im Eingangsbereich bei gegebenem Bremsfeld so stark zu machen. Für Reflektoren mit Gittern im Eingangsbereich ist diese Art der Fokussierung überhaupt nicht anzuwenden.
  • Man benutzt diese Fokuseinstellung für die Raumwinkelfokussierung, um den Ionenstrahl, der in der Regel von einer kleinflächigen Ionenquelle stammt, auf einen relativ kleinflächigen Ionendetektor abzubilden. Je kleiner dieser Ionendetektor gewählt werden kann, umso einfacher wird seine Justierung quer zum Ionenstrahl. Diese Justierung ist maßgebend für das erreichbare Auflösungsvermögen.
  • Durch diese Art der Raumwinkelfokussierung tritt noch ein weiterer, unerwarteter Effekt auf: Es wird die Auflösung des Flugzeitmassenspektrometers nochmals verbessert. Es scheint so, dass die Randstrahlen im Verhältnis zur Energie der achsial fliegenden Ionen eine geringfügig niedrigere kinetische Energie in achsialer Richtung haben. Das führt bei gleicher Eindringtiefe in den Reflektor zu einer geringfügigen Flugzeitdifferenz. Da die Randionen durch die Formung des Feldes nach dieser Erfindung nicht so weit in den Reflektor eindringen müssen wie die Achsialstrahlen, wird diese Flugzeitdifferenz hier kompensiert.
  • Aus der Beschreibung der Wirkung dieser bevorzugten Anordnung geht auch die Wirkungsweise der anderen Anordnungen nach Abb. 3 und 4 hervor.

Claims (10)

1. Reflektor für ein Flugzeitmassenspektrometer, aus Ringblenden und einer Abschlussblende aufgebaut, wobei Spannungen an den Ringblenden und der Abschlussblende die notwendigen Potentiale für die Reflektion der Ionen liefern, dadurch gekennzeichnet, dass das Feld zwischen der letzten Ringblende und der Abschlussblende durch Änderung der Spannung, Änderung des Abstandes oder durch die Form der Abschlussblende schwächer als die Felder zwischen den vorhergehenden Blenden des Reflektors gemacht wird.
2. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass Ring- und Abschlussblenden im hinteren Teil des Reflektors gleiche Abstände voneinander haben, dass die Potentiale zwischen den Ringblenden in diesem Teil durch Potentialteiler mit festen, gleichen Teilungsverhältnissen erzeugt werden, und dass der Potentialteiler zwischen letzter Ringblende und der Abschlussblende variabel ist.
3. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im hinteren Teil die Ringblenden des Reflektors gleiche Abstände voneinander haben, die Potentiale zwischen den Ring- und Abschlussblenden durch Potentialteiler mit festen, gleichen Teilungsverhältnissen erzeugt werden, und der Abstand zwischen letzter Ringblende und der Abschlussblende variabel ist.
4. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im hinteren Teil des Reflektors die Ringblenden gleiche Abstände voneinander haben, die Potentiale zwischen den Ring- und Abschlussblenden durch Potentialteiler mit festen, gleichen Teilungsverhältnissen erzeugt werden, und der Abstand zwischen letzter Ringblende und der Abschlussblende größer ist als der Abstand zwischen den Ringblenden.
5. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im hinteren Teil die Ringblenden gleiche Abstände voneinander haben, die Potentiale zwischen Ring- und Abschlussblenden durch Potentialteiler mit festen, gleichen Teilungsverhältnissen erzeugt werden, und die Abschlussblende zur Feldformung ausgebeult oder mit einem flächenmäßig beschränkten Rezess versehen ist.
6. Reflektor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass er mit einer Spannungsversogung versehen ist, deren Spannung einstellbar ist.
7. Reflektor nach Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass es sich um einen zweistufigen Reflektor handelt und dass das Bremsfeld ein- oder beidseitig durch Gitter abgeschlossen ist.
8. Reflektor nach Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass es sich um einen zweistufigen Reflektor handelt und dass das Bremsfeld aus Ringblenden ohne Gitter gebildet wird.
9. Reflektor nach Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass es sich um einen einstufigen Reflektor handelt und dass der Reflektor an der Eingangsseite ein Gitter trägt.
10. Verfahren zur Einstellung der Fokuslänge der Raumwinkelfokussierung in einem Reflektor nach einem der Ansprüche 1, 4, 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, das die Fokuslänge über die Spannung am Reflektor eingestellt wird.
DE10156604A 2001-11-17 2001-11-17 Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer Withdrawn DE10156604A1 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10156604A DE10156604A1 (de) 2001-11-17 2001-11-17 Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer
US10/298,169 US6740872B1 (en) 2001-11-17 2002-11-15 Space-angle focusing reflector for time-of-flight mass spectrometers
GB0226743A GB2386750B (en) 2001-11-17 2002-11-15 Space-angle focusing reflector for time-of-flight mass spectrometers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10156604A DE10156604A1 (de) 2001-11-17 2001-11-17 Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10156604A1 true DE10156604A1 (de) 2003-05-28

Family

ID=7706141

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10156604A Withdrawn DE10156604A1 (de) 2001-11-17 2001-11-17 Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6740872B1 (de)
DE (1) DE10156604A1 (de)
GB (1) GB2386750B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007024857A1 (de) 2007-05-29 2008-12-11 Bruker Daltonik Gmbh Bildgebende Massenspektrometrie für kleine Moleküle in flächigen Proben

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4691712B2 (ja) * 2005-03-17 2011-06-01 独立行政法人産業技術総合研究所 飛行時間質量分析計
EP1880406B1 (de) * 2005-05-11 2019-07-03 Imago Scientific Instruments Corporation Reflektron
GB2426120A (en) * 2005-05-11 2006-11-15 Polaron Plc A reflectron for use in a three-dimensional atom probe
WO2007001321A1 (en) * 2005-06-16 2007-01-04 Imago Scientific Instruments Corporation Atom probe electrode treatments
GB0512411D0 (en) * 2005-06-17 2005-07-27 Polaron Plc Atom probe
WO2012086630A1 (ja) * 2010-12-20 2012-06-28 国立大学法人神戸大学 飛行時間型質量分析装置
JP5862791B2 (ja) * 2012-10-10 2016-02-16 株式会社島津製作所 飛行時間型質量分析装置
US9870910B2 (en) * 2013-12-24 2018-01-16 Dh Technologies Development Pte. Ltd. High speed polarity switch time-of-flight spectrometer
DE102014115034B4 (de) * 2014-10-16 2017-06-08 Bruker Daltonik Gmbh Flugzeitmassenspektrometer mit räumlicher Fokussierung eines breiten Massenbereichs
JP6541798B2 (ja) 2015-04-21 2019-07-10 カメカ インストゥルメンツ,インコーポレイテッド 広視野アトムプローブ
GB2568354B (en) 2017-09-28 2022-08-10 Bruker Daltonics Gmbh & Co Kg Wide-range high mass resolution in reflector time-of-flight mass spectrometers

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3524536A1 (de) * 1985-07-10 1987-01-22 Bruker Analytische Messtechnik Flugzeit-massenspektrometer mit einem ionenreflektor
US5160840A (en) * 1991-10-25 1992-11-03 Vestal Marvin L Time-of-flight analyzer and method
EP0704879A1 (de) * 1994-09-30 1996-04-03 Hewlett-Packard Company Spiegel für geladene Teilchen
DE4442348C2 (de) * 1994-11-29 1998-08-27 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur verbesserten Massenauflösung eines Flugzeit-Massenspektrometers mit Ionenreflektor

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4072862A (en) * 1975-07-22 1978-02-07 Mamyrin Boris Alexandrovich Time-of-flight mass spectrometer
DE3726952A1 (de) 1987-08-13 1989-02-23 Kutscher Roland Dipl Phys Ionenreflektoren mit neuen elektrodengeometrien zur zeit- und ortsfokussierung von ionenstrahlen
DE3842044A1 (de) * 1988-12-14 1990-06-21 Forschungszentrum Juelich Gmbh Flugzeit(massen)spektrometer mit hoher aufloesung und transmission
GB2274197B (en) 1993-01-11 1996-08-21 Kratos Analytical Ltd Time-of-flight mass spectrometer
US6011259A (en) * 1995-08-10 2000-01-04 Analytica Of Branford, Inc. Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis
US5654544A (en) * 1995-08-10 1997-08-05 Analytica Of Branford Mass resolution by angular alignment of the ion detector conversion surface in time-of-flight mass spectrometers with electrostatic steering deflectors
AU3594097A (en) * 1996-07-03 1998-01-21 Analytica Of Branford, Inc. A time-of-flight mass spectrometer with first and second order longitudinal focusing
US5847385A (en) * 1996-08-09 1998-12-08 Analytica Of Branford, Inc. Mass resolution by angular alignment of the ion detector conversion surface in time-of-flight mass spectrometers with electrostatic steering deflectors
US6518569B1 (en) * 1999-06-11 2003-02-11 Science & Technology Corporation @ Unm Ion mirror
US6570152B1 (en) * 2000-03-03 2003-05-27 Micromass Limited Time of flight mass spectrometer with selectable drift length
US20020092980A1 (en) * 2001-01-18 2002-07-18 Park Melvin A. Method and apparatus for a multipole ion trap orthogonal time-of-flight mass spectrometer

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3524536A1 (de) * 1985-07-10 1987-01-22 Bruker Analytische Messtechnik Flugzeit-massenspektrometer mit einem ionenreflektor
US5160840A (en) * 1991-10-25 1992-11-03 Vestal Marvin L Time-of-flight analyzer and method
EP0704879A1 (de) * 1994-09-30 1996-04-03 Hewlett-Packard Company Spiegel für geladene Teilchen
DE4442348C2 (de) * 1994-11-29 1998-08-27 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur verbesserten Massenauflösung eines Flugzeit-Massenspektrometers mit Ionenreflektor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007024857A1 (de) 2007-05-29 2008-12-11 Bruker Daltonik Gmbh Bildgebende Massenspektrometrie für kleine Moleküle in flächigen Proben
DE102007024857B4 (de) * 2007-05-29 2017-11-02 Bruker Daltonik Gmbh Bildgebende Massenspektrometrie für kleine Moleküle in flächigen Proben

Also Published As

Publication number Publication date
GB0226743D0 (en) 2002-12-24
US20040094703A1 (en) 2004-05-20
GB2386750A (en) 2003-09-24
GB2386750B (en) 2005-11-16
US6740872B1 (en) 2004-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2850411C2 (de) Elektronenstrahlerzeugungssystem in einer Kathodenstrahlröhre
DE69906935T2 (de) Flugzeitmassenspektrometer
DE69305127T2 (de) Vorrichtung zur Synchrotronstrahlungserzeugung und deren Herstellungsverfahren
DE112012004503T5 (de) Elektrostatische Ionenspiegel
DE10156604A1 (de) Raumwinkelfokussierender Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer
EP0373550A2 (de) Flugzeit(massen)spektrometer mit hoher Auflösung und Transmission
DE1589825B2 (de) Elektronenoptisches System zum Fokussieren und Ablenken eines Elektronenstrahls
DE1498646A1 (de) Ionen-Mikroanalysator
DE69817618T2 (de) Wien filter
DE69504778T2 (de) Farbbildröhre
DE102014115034B4 (de) Flugzeitmassenspektrometer mit räumlicher Fokussierung eines breiten Massenbereichs
DE1805827B2 (de) Elektrostatische elektronenlinse fuer elektronenstrahlbildroehren zum fokussieren und konvergieren achsenfern verlaufender elektronenstrahlbuendel und deren verwendung
DE1906951C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung einer Schar von Elektronenstrahlen
DE60032972T2 (de) Energiefilter und seine Verwendung in einem Elektronenmikroskop
DE1590413C3 (de) Koaxiales Hochfrequenzkabel mit auf den Innenleiter aufgespritzten, scheibenförmigen, isolierenden Abstandhaltern zwischen dem Innenleiter und dem gewellten Außenleiter
EP1352410B1 (de) Elektrostatischer korrektor
DE102010039030A1 (de) Reflektron mit alternierenden Elektrodendicken sowie Flugzeitmassenspektrometer mit einem erfindungsgemäßen Reflektron
DE952118C (de) Elektrische Steuereinrichtung fuer mehrere in einem Entladungsgefaess, erzeugte Elektronenbuendel
DE102004055279B4 (de) Massenspektrometer
DE102010047331A1 (de) Ionenstrahlgerät und Verfahren zum Betreiben desselben
EP1817788B1 (de) Flugzeit-massenspektrometer
DE1498646C (de) Ionen-Mikroanalysevorrichtung
DE2007019C3 (de) Wanderwellen-Linearbeschleuniger für schwere geladene Teilchen
DE1026880B (de) Sekundaerelektronenvervielfacher und seine Verwendung bei einem Massenspektrometer
DE1005200B (de) Elektrodenvorsystem fuer Elektronenstrahlroehren, insbesondere Fernsehbildroehren

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8130 Withdrawal