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Die
Erfindung betrifft eine Stromschaltanordnung.
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Bei
elektronischen Energiewandlern werden bestimmte Größen oder
Parameter der elektrischen Energie von einer Eingangsseite durch
entsprechende Schalt- und Umformvorgänge in ausgangsseitige Formen
dieser elektrischen Größen oder
Parameter umgewandelt. Bei den Wandlern kann es sich, insbesondere
im Bereich der Leistungselektronik, um sogenannte Transformatoren
im weitesten Sinne, um Stromrichter oder dergleichen handeln. All
diesen elektronischen Energiewandlungseinrichtungen ist gemein,
daß sie
eine Stromschaltanordnung, insbesondere einen Stromrichter oder
dergleichen, zum gesteuerten Schalten eines von einem Stromeingangsbereich
bereitgestellten elektrischen Stroms zu einem Stromausgangsbereich
hin aufweisen. Ferner ist mindestens eine feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung
vorgesehen, welche im wesentlichen durch ein an einen Steueranschluß der Halbleiterschalteinrichtung
anlegbares elektrisches Potential steuerbar schaltbar ausgebildet
ist.
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Durch
das Anlegen eines elektrischen Potentials an den Steueranschluß der Halbleiterschalteinrichtung
wird ein dem Stromeingangsbereich zuzuführender elektrischer Strom
oder eine entsprechende andere elektrische Größe dem Stromausgangsbereich
oder dem Ausgangsbereich für
die entsprechende elektrische Größe steuerbar
schaltbar zugeführt.
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In
einem Fehlerfall, bei welchem im Stromausgangsbereich selbst oder
zwischen dem Stromausgangsbereich und dem Stromeingangsbereich eine
Kurzschlußsituation
auftritt, sind es in der Regel gerade die Halbleiterschalteinrichtungen,
welche erhöhten
Belastungen ausgesetzt sind und welche demzufolge als erste Bauelemente
einer Stromschaltanordnung beschädigt
oder zerstört
werden können.
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Aus
diesem Grund ist beim Stand der Technik in der Regel mindestens
eine Schutzeinrichtung zum Schutz der Halbleiterschalteinrichtung
vorgesehen, welche zumindest zur Steuerung des elektrischen Potentials
am Steueranschluß der
Halbleiterschalteinrichtung ausgebildet ist. Durch die Beeinflussung
des elektrischen Potentials am Steueranschluß der Halbleiterschalteinrichtung
im Fehlerfall kann das Durchschalten eines überhöhten Kurzschlußstroms
und/oder das Aufrechterhalten eines derartigen Kurzschlußstroms
zumindest teilweise geregelt beendet und/oder verhindert werden,
um eine thermische und/oder elektrische Überlastung der Halbleiterschalteinrichtung
zu begrenzen oder zu vermeiden. Dies ist um so wichtiger, weil beim
Kurzschluß in
einer Stromschaltanordnung, insbesondere bei einer Anordnung mit
einem Gleichspannungszwischenkreis, die volle Zwischenkreisspannung
im eingeschalteten Zustand der Halbleiterschaltanordnung letztlich
zwischen deren Eingang und Ausgang anliegt.
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Zwar
sind Schutzschaltungen für
Stromschaltanordnungen im Stand der Technik bekannt, durch welche
die thermische und/oder elektrische Überlastung der Halbleiterschalteinrichtungen
in einer Stromschaltanordnung zumindest teilweise vermieden werden
können.
Diese bekannten Schutzeinrichtungen sind jedoch nicht für sämtliche
Kurzschlußfälle und
die damit verbundenen Strom- und/oder Spannungsüberhöhungen im Schaltkreis und für deren
zeitliches Verhalten ausgelegt. Zum anderen bestehen diese bekannten
Schutzeinrichtungen in der Regel aus einem separaten Schaltkreis, insbesondere
einen zusätzlichen
IC, welcher im Bereich der Steuerleitungseinrichtung und/oder im
Bereich der Steuereinrichtung oder Treiberstufe für die Halbleiterschalteinrichtung
ausgebildet ist. Ferner müssen
bekannte Schutzeinrichtungen häufig
hochspannungstaugliche Spannungsbegrenzungseinrichtungen aufweisen.
Aufgrund der Auslegung dieser bekannten Schutzeinrichtungen nehmen diese
bei der Anwendung einen erheblichen Platzbedarf in Anspruch und
bedeuten darüber
hinaus einen produktionstechnischen Mehraufwand.
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Aus
der
DE 39 36 544 A1 ist
eine Schaltungsanordnung zum Schutz eines Leistungs-MOSFET bekannt.
Dabei würde
zum Erfassen eines Kurzschlusses eines mit einem Leistungs-MOSFET
in Reihe geschalteten Lastelements die Drain-Sourcespannung mit
einer Referenzspannung verglichen. Beim Übersteigen eines vorgegebenen
Werts wird ein zwischen dem Gate- und dem Sourceanschluss liegender
Schalter des Leistungs-MOSFET leitend gesteuert, so dass die Gate-Sourcekapazität des Leistungs-MOSFET entladen wird.
Andererseits wird über
den Schalter ein steuerbarer Widerstand zwischen einem Treiber und
dem Gateanschluss zu einem höheren
Widerstandswert hin gesteuert, so dass zusätzlich der Ladestrom für die Gate-Sourcekapazität verringert
wird. Dadurch wird ein sanftes Abschalten des Leistungs-MOSFET bewirkt.
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Aus
der
US 5,724,218 A ist
ein Leistungstransistor mit einem Kurzschlussschutz bekannt. Dabei
wird eine Schaltkreisanordnung angegeben, bei welcher erste und
zweite Anschlüsse
mit einem Lastpfad des Leistungstransistors verbunden sind und bei
welcher ein dritter Anschluss mit einem Steueranschluss des Leistungstransistors
verbunden ist. Des Weiteren ist ein weiterer Transistor mit einem
Lastpfad zwischen den zweiten und dritten Anschlüssen vorgesehen und besitzt
seinerseits einen Steueranschluss. Eine Stromsensoranordnung zum
Detektieren eines durch den Leistungstransistor fließenden Stroms
ist ebenfalls vorgesehen, wobei die Stromsensoranordnung eine Ausgangsseite
besitzt, welche mit dem Steueranschluss des weiteren Transistors
verbunden ist. Dies dient dazu, den weiteren Transistor einzuschalten,
sobald ein bestimmter kritischer Wert des durch den Leistungstransistor
fließenden
Stroms überschritten
wird. Schließlich
ist eine Spannungssensoranordnung vorgesehen zum Detektieren einer
Spannungsänderung
entlang des Lastpfads des Leistungstransistors, wobei die Spannungssensoranordnung
eine Ausgangsseite aufweist, die mit dem Steueranschluss des weiteren Transistors
verbunden ist. Dadurch wird das Potential am Steueranschluss des
weiteren Transistors gemäß der detektierten
Spannungsänderung
variiert.
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Aus
der
JP 0 2130951 A ist
eine Kurzschlussschutzschaltung für ein Halbleiterelement bekannt,
welche dazu dient, einen Schutztransistor einzuschalten, wenn zwischen
einem Kollektor und einem Emitter ein Kurzschlussstrom fließt, wobei
dadurch bewirkt wird, dass die Gatespannung durch den Gatewiderstand
und durch einen Teilungswiderstand geteilt wird.
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Die
US 5,844,760 A beschreibt
eine gesteuerte Halbleitereinrichtung mit einer isolierten Gatestruktur
sowie eine Kurzschlussschutzschaltung dafür. Die Kurzschlussschutzschaltung
weist einen Steueranschluss, erste und zweite Schaltelemente, einen
Verzweigungsschaltkreis, eine Einrichtung zum Reduzieren eines Treibersignals
der ersten Schalteinrichtung sowie eine Einrichtung zum Deaktivieren
eines Entladungsschaltelements auf. Der Hauptschaltkreis wird dadurch
geschützt,
dass die am isolierten Gate anliegende Spannung abgesenkt wird über den
Gatewiderstand und über
einen niedrigen Einschaltwiderstand eines vorgesehenen Feldeffekttransistors,
während
der Feldeffekttransistor selbst eingeschaltet bleibt.
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Die
US 5,173,848 A zeigt
eine Motorsteuerung mit bimodalen Abschaltschaltkreisen. Es wird dort
eine pulsbreitenmodulierte Steuerung zum Anpassen der Stärke und
der Frequenz einer einem Motor zugeführten Leistung vorgesehen.
Dabei werden Maßnahmen
ergriffen, bestimmte Fehlerfälle
in der Steuerung oder im Motor selbst aufzuspüren. Des Weiteren werden durch
die dort vorgesehenen Maßnahmen
schnelle Änderungen
in der Stromstärke vermieden,
um ein so genanntes Overshootverhalten und die damit verbundenen
Spannungsspitzen zu vermeiden.
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Der
Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Stromschaltanordnung
zu schaffen, bei welcher die vorgesehene feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung
für jeden
Fall eines Kurzschlusses auf besonders zuverlässige und gleichwohl einfache
Art und Weise geschützt
werden kann.
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Die
Aufgabe wird durch eine Stromschaltanordnung der eingangs erwähnten Art
erfindungsgemäß durch
die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte
Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung sind
Gegenstand der abhängigen
Unteransprüche.
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Erfindungsgemäß wird eine
Stromschaltanordnung geschaffen, insbesondere ein Stromrichter, zum
gesteuerten Schalten eines an einem Stromeingangsbereich bereitgestellten
elektrischen Stroms zu einem Stromausgangsbereich in, mit einem
Steueranschluss, an den eine Ansteuerspannung anlegbar ist, mit
einer ersten feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung zwischen
Stromeingangsbereich und Stromausgangsbereich, mit einer Schutzeinrichtung, wobei
der Steueranschluss der ersten Halbleiterschalteinrichtung über eine
Steuerleitung und über die
Schutzeinrichtung mit dem Steueranschluss der Stromschaltanordnung
verbunden ist, wobei die Schutzeinrichtung einen Eingangsanschluss,
einen Ausgangsanschluss und einen Steueranschluss aufweist, wobei
die Schutzeinrichtung eine Diode aufweist, die zwischen dem Eingangs-
und dem Ausgangsanschluss der Schutzeinrichtung derart angeordnet
ist, dass sie leitet, wenn die Halbleiterschalteinrichtung durch
die Ansteuerspannung im normalen Betrieb ohne Kurzschluss eingeschaltet
wird, wobei die Schutzeinrichtung eine zweite feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung
aufweist, die mit dem Eingangsanschluss, mit dem Ausgangsanschluss
und mit dem Steueranschluss der Schutzeinrichtung verbunden ist
und in Serie in der Steuerleitung angeordnet ist, wobei in der Schutzeinrichtung
eine erste Steuerimpedanz als hochohmiger Widerstand oder als Stromquelleneinrichtung
parallel dazu mit dem Eingangs- und dem Ausgangsanschluss der Schutzeinrichtung
verbunden angeordnet ist, wobei die Schutzeinrichtung eine zweite
Steuereingangsimpedanz aufweist, welche mit dem Eingangsanschluss und
mit dem Steueranschluss der Schutzeinrichtung verbunden ist, wobei
die Schutzeinrichtung eine dritte Steuereingangsimpedanz aufweist,
welche mit dem Steueranschluss und mit dem Ausgangsanschluss der
Schutzeinrichtung verbunden ist, mit einer Abtasteinrichtung zum
Detektieren eines Kurzschlusses, die mit dem Steueranschluss der
Schutzeinrichtung verbunden ist, wobei die Abtasteinrichtung ein
dynamisches Einschalten der zweiten Halbleiterschalteinrichtung
verhindert, wenn die erste Halbleiterschalteinrichtung während eines
Kurzschlusses durch die Ansteuerspannung abgeschaltet wird, so dass
die dann in der Steuerleitung wirksame erste Steuerimpedanz ein
langsames Abschalten der ersten Halbleiterschalteinrichtung bewirkt.
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Es
ist also unter anderem vorgesehen, daß durch die Schutzeinrichtung,
insbesondere im Fall eines Kurzschlusses im Stromausgangsbereich,
steuerbar eine zusätzliche
Steuereingangsimpedanz in den Steuerkreis, insbesondere in den Bereich
des Steuereingangs, der Halbleiterschalteinrichtung zuschaltbar
ist und daß durch
die zusätzliche
Steuereingangsimpedanz der Halbleiterschalteinrichtung diese auf
definierte Art und Weise, insbesondere im Kurzschlußfall, abschaltbar
ist.
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Es
ist somit ein Aspekt, durch die Schutzeinrichtung für die feldgesteuerte
Halbleiterschalteinrichtung, insbesondere im Fehlerfall oder Kurzschlußfall, in
den Bereich des Steuereingangs oder der Steuerleitung zusätzlich zu
der ohnehin vorhandenen Steuereingangsimpedanz steuerbar eine zusätzliche
Steuereingangsimpedanz zu schalten, durch welche, gerade im Kurzschlußfall, die
Halbleiterschalteinrichtung auf definierte Art und Weise abgeschaltet
oder definiert von einem eingeschalteten in einen ausgeschalteten
Zustand überführt werden kann.
Durch das definierte Abschalten kann die Fallgeschwindigkeit oder
Abfallrate des Stromes im Stromausgangsbereich oder Stromausgangsanschluß der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung bzw. deren Verringerung in der Zeit
auf definierte Art und Weise gesteuert werden, um zum Beispiel Spannungsüberhöhungen aufgrund
parasitärer
Induktivitäten
zu reduzieren und somit eine Beschädigung der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung zu vermeiden.
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Im
Gegensatz zum Stand der Technik wird hierbei die Notwendigkeit eines
zusätzlichen
ICs zur steuerbaren Schaltung der zusätzlichen Steuereingangsimpedanz
vermieden. Vielmehr wird erfindungsgemäß eine inhärente Steuerung direkt im Bereich
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung der Steuereingangsimpedanz
vorgesehen, welche ohne Hochspannungsbauelemente auskommt und somit
für alle
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtungen der Stromschaltanordnung
auf platzsparende und somit einfache und gleichwohl zuverlässige Art und
Weise realisiert werden kann.
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Darüber hinaus
wird durch das gesteuerte Schalten der Steuereingangsimpedanz die
im Bereich der Steuerleitungseinrichtung gegenüber dem Stromausgangsbereich
zu realisierende Stromstärke derart
klein gehalten, daß die
Bauelemente der Schutzeinrichtung entsprechend klein ausgelegt werden
können.
Es findet somit eine Trennung oder Entkoppelung der Schutzeinrichtung
von der den Steuereingang der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung
steuernden Treiberstufe und/oder Steuereinrichtung statt.
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Bei
einer vorteilhaften Weiterbildung der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
weist die Halbleiterschalteinrichtung jeweils einen Stromeingangsanschluß und einen
Stromausgangsanschluß zusätzlich zum
Steueranschluß auf.
Ferner sind die Anschlüsse über eine
Stromeingangsleitungseinrichtung, eine Stromausgangsleitungseinrichtung
bzw. eine Steuerleitungseinrichtung mit dem Stromeingangsbereich,
dem Stromausgangsbereich bzw. einem Steuerbereich jeweils verbindbar.
Dadurch wird die jeweilige Verbindung zum energieliefernden Bereich,
zur Last bzw. zur steuernden Einheit hergestellt.
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Besonders
vorteilhaft gestaltet sich der Betrieb der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung, wenn
die Halbleiterschalteinrichtung im wesentlichen durch eine zwischen
dem Steueranschluß und
dem Stromausgangsanschluß anlegbare
elektrische Potentialdifferenz steuerbar schaltbar ausgebildet ist. Dann
nämlich
kann auf besonders einfache Art und Weise durch geeignete Variation
des dem Steueranschluß zu
beaufschlagenden elektrischen Potentials die Größe und Art und Weise des vom
Stromeingangsbereich zum Stromausgangsbereich hin zu übertragenden
elektrischen Stroms realisiert werden.
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Zur
Realisierung des Schutzkonzeptes ist es bei einer weiteren Fortbildung
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
vorgesehen, daß die Schutzeinrichtung
jeweils im wesentlichen in der Steuerleitungseinrichtung und/oder
zumindest mit der Stromausgangsleitungseinrichtung verbindbar ausgebildet
ist. Dies gewährleistet
auf besonders einfache und zuverlässige Art und Weise den Schutz der
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung, weil durch Zwischenschaltung
oder Vorschaltung der Schutzeinrichtung vor dem Steueranschluß bzw. in Verbindung
mit der Kontaktierung zum Stromausgangsbereich zum Schutz die Steuerung
des Steueranschlusses der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung
und damit eine entsprechende Begrenzung der zu übertragenden elektrischen Größen und
der thermischen Belastung im Bereich der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung
erreicht werden kann.
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Als
besonders geeignet gestaltet sich die Schutzeinrichtung, wenn diese
jeweils zumindest zur Steuerung der elektrischen Potentialdifferenz
zwischen Steueranschluß und
Stromausgangs anschluß der
Halbleiterschalteinrichtung ausgebildet ist. Es ist nämlich in
vielen Fällen
die Potentialdifferenz zwischen Steueranschluß und Stromausgangsanschluß, welche
den das Bauteil der Halbleiterschalteinrichtung belastenden elektrischen
Strom regelt oder steuert.
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Besonders
einfach läßt sich
die erfindungsgemäße Stromschaltanordnung
realisieren, wenn gemäß einer
weiteren bevorzugten Ausführungsform die
Halbleiterschalteinrichtung jeweils einen IGBT und/oder einen Feldeffekttransistor
(FET) oder dergleichen aufweist und/oder jeweils als solcher ausgebildet
ist.
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Dabei
ist es besonders vorteilhaft, wenn der Stromeingangsanschluß mit einem
Kollektorbereich bzw. Drainbereich, der Stromausgangsanschluß mit einem
Emitterbereich bzw. einem Sourcebereich und der Steueranschluß mit einem
Gatebereich der Halbleiterschalteinrichtung verbunden ist.
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Bei
einer weiter bevorzugten Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung ist
es vorgesehen, daß die
Schutzeinrichtung eine steuerbar betätigbare Schutzschalteinrichtung
mit einem Eingangsanschluß und
einem Ausgangsanschluß in
Serie in der Steuerleitungseinrichtung angeordnet aufweist. Ferner
ist dabei vorgesehen, daß die
zusätzliche
Steuereingangsimpedanz parallel dazu mit dem Eingangs- und dem Ausgangsanschluß der Schutzschalteinrichtung
verbunden angeordnet ist. Durch diese Anordnung wird bewirkt, daß durch
die steuerbare Schutzschalteinrichtung in Parallelschaltung zur
zusätzlichen
Steuereingangsimpedanz im durchgeschalteten Zustand der Schutzschalteinrichtung
die zusätzliche
Steuereingangsimpedanz umgangen wird und somit ausschließlich die natürliche inhärente Steuereingangsimpedanz – zum Beispiel
der Gatewiderstand des Gateanschlusses – im Schaltkreis wirkt, während im
ausgeschalteten Zustand der Schutzschalteinrichtung der Durchgang der
Schutzschalteinrichtung relativ hochohmig wird und somit die zusätzliche
Steuereingangsimpedanz in Parallelschaltung dazu ihre Wirkung entfaltet.
Da durch kann mittels der Schutzschalteinrichtung zwischen der natürlichen
inhärenten,
relativ niederohmigen Steuereingangsimpedanz (RGATE)
und der relativ hochohmigen, aber nicht strikt isolierenden zusätzlichen
Steuereingangsimpedanz gewählt
werden, um die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
auf definierte und vorbestimmte Art und Weise über den hochohmigen Steueranschluß abzuschalten.
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Vorteilhafterweise
ist die zusätzliche
Steuereingangsimpedanz im wesentlichen als, insbesondere relativ
hochohmiger, Ohmscher Widerstand oder als Stromquelleneinrichtung
oder dergleichen ausgebildet.
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Besonders
einfach läßt sich
die Schutzschalteinrichtung realisieren, wenn diese als Halbleiterschalteinrichtung,
insbesondere als IGBT, Feldeffekttransistor oder dergleichen, ausgebildet
ist und/oder ein solches Bauelement enthält. Diese Bauelemente lassen
sich ohne große
Leistungsaufnahme ansteuern und in unmittelbarer Nähe als inhärenter oder
integraler Bestandteil im Bereich der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung
realisieren.
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Zur
Steuerung der Schutzschalteinrichtung weist diese vorteilhafterweise
einen Steueranschluß auf.
Gegebenenfalls sind der Eingangsanschluß, der Ausgangsanschluß und der
Steueranschluß der Schutzschalteinrichtung
jeweils an einem Kollektor- oder Drainbereich, an einem Emitter-
oder Sourcebereich bzw. an einem Gatebereich der Schutzschalteinrichtung
ausgebildet oder mit diesem jeweils verbunden oder verbindbar. Auf
diese Weise läßt sich besonders
einfach der Schaltmechanismus unter Verwendung eines IGBTs oder
FETs aufbauen.
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Zur
Steuerung der Schutzschalteinrichtung und damit zur Realisierung
des erfindungsgemäßen Schutzkonzeptes
ist es vorgesehen, daß der
Eingangsanschluß,
der Ausgangsanschluß und
der Steueranschluß der
Schutzschalteinrichtung jeweils an einem Kollektor- oder Drainbereich,
an einem Emitter- oder Sourcebereich bzw. an einem Gatebereich der
Schutzschalteinrichtung ausgebildet, verbunden oder verbindbar sind.
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Zur
Steuerung der Schutzschalteinrichtung ist eine Abtasteinrichtung
vorgesehen, welche zum Erfassen des geschalteten und im Stromausgangsbereich
fließenden
Stroms oder einer dafür
repräsentativen,
insbesondere elektrischen, Größe ausgebildet
ist und durch welche ein Schaltsignal generierbar und dem Steuereingang
der Schutzschalteinrichtung zuführbar
ist. Durch diese Maßnahme
wird auf vorteilhafte Art und Weise eine Überwachung des zwischen dem
Stromeingangsbereich und dem Stromausgangsbereich fließenden elektrischen
Stroms realisiert, so daß im
Falle eines Kurzschlusses hinreichend rasch auf eine Stromüberhöhung angesprochen
werden kann, um auf definierte Art und Weise über die zusätzliche Steuereingangsimpedanz,
insbesondere über
den zusätzlichen
Gatewiderstand, die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung unter Vermeidung
von Spannungsüberhöhungen aufgrund von
parasitären
Induktivitäten
definiert abzuschalten.
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Besonders
zuverlässig
läßt sich
die Schutzeinrichtung dadurch realisieren, daß gemäß einer weiteren Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
die Schutzeinrichtung eine zweite und/oder eine dritte Steuereingangsimpedanz aufweist,
welche mit dem Eingangsanschluß und dem
Steueranschluß bzw.
mit dem Steueranschluß und
dem Ausgangsanschluß der
Schutzschalteinrichtung verbunden sind. Durch diese Maßnahme wird
erreicht, daß beim
Ausschalten der Schutzschalteinrichtung im Fehlerfall die Kapazität zwischen
Eingangsanschluß und
Steueranschluß der Schutzschalteinrichtung – zum Beispiel
die Kollektor-Gate-Kapazität
eines IGBT – bzw.
die Kapazität zwischen
Steueranschluß und
Ausgangsanschluß der
Schutzschalteinrichtung – zum
Beispiel die Kollektor-Gate-Kapazität eines IGBT – über die
entsprechenden parallelgeschalteten zusätzlichen Steuereingangsimpedanzen
als Entladewiderstände
derart zeitlich verzögert
oder langsam genug entladen werden, daß diese Kapazitäten über die
Entladewiderstände
ihre Spannung noch eine Weile auf einem Niveau halten, so daß die Schutzschalteinrichtung
für eine
gewisse Zeitspanne noch eingeschaltet bleibt. Dadurch wird ein abruptes
Abschalten im Fehlerfall mit den dann möglicherweise einhergehenden
Spannungsüberhöhungen über parasitäre Induktivitäten vermieden.
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Es
ist dabei von weiterem Vorteil, wenn die drei zusätzlichen
Steuereingangsimpedanzen als Ohmsche Widerstände ausgebildet sind und sich
ihre Werte R1:R2:R3 etwa wie 1:24:4 verhalten.
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Im
Vergleich zur natürlichen
oder inhärenten Eingangsimpedanz
RGATE der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung,
insbesondere im Hinblick auf einen natürlichen Gatewiderstand eines
IGBT, ist es vorteilhaft, daß gemäß einer
weiteren bevorzugten Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
die erste zusätzliche
Steuereingangsimpedanz einen Wert von etwa 1 kΩ aufweist.
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Nachfolgend
wird die Erfindung anhand einer schematischen Zeichnung auf der
Grundlage bevorzugter Ausführungsbeispiele
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
näher erläutert.
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In
dieser zeigt:
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1 ein
schematisches Blockdiagramm einer bekannten Ausführungsform einer Stromschaltanordnung,
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2 ein
schematisches Blockdiagramm einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung,
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3A–C drei
Graphen bezüglich
der zeitlichen Verläufe
bestimmter elektrischer Größen, welche
die Wirkungsweise der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung verdeutlichen,
und
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4 ein
schematisches Blockdiagramm einer Stromschaltanordnung aus dem Stand
der Technik.
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Bevor
auf verschiedene Ausführungsbeispiele
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung
im Detail eingegangen wird, sollen zunächst das Verhalten einer feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung in einer Stromschaltanordnung aus dem Stand
der Technik im Kurzschlußfall
sowie einige Aspekte bekannter Schutzeinrichtungen erläutert werden.
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In 4 ist
in Form eines im wesentlichen schematischen Blockdiagramms eine
Stromschaltanordnung 40 aus dem Stand der Technik dargestellt. In
dieser bekannten Stromschaltanordnung 40 ist eine feldgesteuerte
Halbleiterschalteinrichtung 10 in Form eines Insulated-Gate-Bipolar-Thyristors
oder IGBTs 42 vorgesehen, durch welchen von einem Stromeingangsbereich 2 bereitgestellter
elektrischer Strom IC einem Stromausgangsbereich 3 steuerbar schaltbar
bereitgestellt werden kann. Dazu sind der Kollektor C und der Emitter
E des IGBTs 42 über
einen Stromeingangsanschluß 2a und
einen Stromausgangsanschluß 3a mittels
einer Stromeingangsleitung 2b bzw. einer Stromausgangsleitung 3b mit dem
Stromeingangsbereich 2 bzw. dem Stromaungangsbereich 3 verbunden.
Zur Steuerung der Schaltfunktion ist das Gate G des IGBTs 42 über eine Steuerleitungseinrichtung 4b mit
der Steuer-/Treiberstufe 41 der bekannten Stromschaltanordnung 40 verbunden.
In der Steuerleitung 4b ist noch in schematischer Art und
Weise der inhärente
oder natürliche
Gatewiderstand RGATE des Gates G des IGBTs 42 dargestellt.
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Die
Steuer-/Treiberstufe 41 der bekannten Stromschaltanordnung 40 weist
in sich integriert die eigentliche Steuer/Treibereinrichtung 44 und
eine entsprechende Schutzeinrichtung 45 zum Schutz der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10 bzw. des IGBTs 42 auf. Über Leitungen 2c und 3c ist
die Steuer-/Treiberstufe 41 über die Stromeingangsleitungseinrichtung 2b bzw.
die Stromausgangsleitungseinrichtung 3b mit dem Stromeingangsbereich 2 bzw.
dem Stromausgangsbereich 3 verbunden.
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Im
Betrieb der bekannten Stromschaltanordnung 40 wird über die
Steuer-/Treiberstufe 41 die elektrische Potentialdifferenz
UGE zwischen dem Gate G und dem Emitter
E des IGBTs 42 derart eingestellt, daß die Kollektor-Emitter-Spannung
UCE zwischen dem Kollektor C und dem Emitter
E des IGBTs 42 und somit der vom Stromeingangsbereich 2
zum Stromaungangsbereich 3 fließende Kollektorstrom IC auf gewünschte
Art und Weise steuerbar sind.
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Aufgabe
der Steuer-/Treiberstufe 41 ist es, einen Steuerimpuls
zu generieren und dem Steueranschluß 4a der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10, also dem Gate G des IGBTs 42 zuzuführen, um
dort ein Umschalten des leistungselektronischen Schalters, also
des IGBTs 42 in einen eingeschalteten Zustuand zu bewirken.
Dabei muß die Steuer/Treiberstufe 41 so
ausgelegt sein, daß das Umsetzen
des Steuerimpulses in ein entsprechendes Umschalten für jeden
Betriebsfall der Stromschalteinrichtung 41 und insbesondere
des Stromrichters gewährleistet
ist.
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Um
die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung 10 überhaupt
zu schalten, ist ein gewisses Maß an Energie für die Umladung
der Eingangskapazität
des Gates G des IGBTs 42 bzw. im allgemeinen der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10 notwendig. Diese Energie
kann in Abhängigkeit
von der Größe der Eingangskapazität des Gates
G relativ groß sein,
besonders dann, wenn es sich um Schalteinrichtungen für größere Ströme handelt.
Vorteil der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtungen 10 ist aber
ihre relativ niedrige mittlere Ansteuerleistung, welche hauptsächlich für die Energie
während
des kurzzeitigen Umschaltvorgangs, also mithin des Umladens der
Eingangskapazität,
verbraucht wird.
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Grundsätzlich hat
das Vorsehen einer Schutzeinheit – also der Schutzeinheit 45 im
Ausführungsbeispiel
aus dem Stand der Technik gemäß 4 – das Ziel,
einer Zerstörung
der aktiven und passiven Komponenten einer Stromschaltanordnung,
insbesondere eines Stromrichters, entgegenzuwirken. Die feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtungen, vor allem die IGBTs und die FETs,
werden im Fehlerfall, insbesondere bei einem Kurzschluß, als erste
beschädigt.
Durch einen zuverlässigen
Schutz dieser Leistungshalbleiter können auch die passiven Komponenten
der Stromschaltanordnung oder des Stromrichters geschützt werden.
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Ein
Fehlerfall liegt immer dann vor, wenn der zulässige Betriebsbereich der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10, welcher jeweils vom Hersteller
definiert wird, überschritten
wird. Dabei ist der maximal zulässige
Kollektorstrom IC in Abhängigkeit von der Kollektor-Emitter-Spannung
UCE als Belastung mit Dauergleichstrom oder
als Belastung mit Stromimpulsen unterschiedlicher Breite bei spezifizierten
Tastverhältnissen
gegeben. Innerhalb bestimmter Bereiche sind sämtliche Wertekombinationen
von Kollektorstrom IC und Kollektor-Emitter-Spannung
UCE erlaubt, solange z. B. eine vorgegebene
maximal zulässige
Sperrschichttemperatur der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 nicht überschritten
wird. Wird einer dieser Grenzwerte aber überschritten, so kann dies
zu einer Beschädigung
bis hin zur Zerstörung
oder zu remanenten Veränderungen,
zum Beispiel Ermüdungserscheinungen,
der feldgesteuerten Halbleiterschaltungseinrichtung führen, insbesondere
auch dann, wenn nicht sämtliche
andere Grenzwerte für
weitere elektrische Parameter ausgenutzt und überschritten werden.
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Als
Fehlerarten kommen Übertemperaturen, Überspannungen
und Fehlerströme
in Frage. Im Bereich der Behandlung von Fehlerströmen kommt
dem Auftreten eines Kurzschlußstroms
besondere Bedeutung zu. Ein Kurzschlußstrom wird durch einen sehr stei len
Kollektorstromanstieg charakterisiert. Dabei entsättigt sich
der IGBT, und die Kollektor-Emitter-Spannung UCE steigt.
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Man
unterscheidet einen Zweigkurzschluß, welcher Folge einer defekten
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung oder eines Ansteuerfehlers
ist, und einen Lastkurzschluß,
welcher Folge des Versagens einer Isolation im Stromausgangsbereich
ist oder auch durch menschliches Versagen verursacht sein kann.
In beiden Fällen
liegt, bei einem Stromrichter mit Gleichspannungszwischenkreis,
welcher hier im folgenden betrachtet werden soll, die volle Zwischenkreisspannung
UZ zwischen dem Eingangsanschluß 2a und
dem Ausgangsanschluß 3a der
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 an, und folglich
fließt
der Fehlerstrom durch den Zwischenkreis.
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Bei
einem derartigen Kurzschluß muß unterschieden
werden zwischen einem Kurzschluß,
der bereits vor dem Einschalten der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 vorliegt
(Kurzschluß I) und
einem Kurzschluß der
Last, welcher erst auftritt, nachdem die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung 10 bereits
im eingeschalteten oder durchgeschalteten Zustand vorliegt (Kurzschluß II).
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Beim
Kurzschluß I
liegt der den Kurzschluß verursachende
Fehler bereits vor dem Einschalten der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 vor,
so daß die
gesamte Zwischenkreisspannung UZ zwischen
dem Eingangsanschluß 2a,
also dem Kollektor C des IGBTs 42, und dem Ausgangsanschluß 3a,
also dem Emitter E des IGBTs 42, anliegt: UCE = UZ.
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Mit
dem Einschalten des IGBTs 42 über eine am Steueranschluß 4a des
IGBTs 42 angelegte Gate-Emitter-Spannung UGE steigt
auch der Kollektorstrom IC. Der differentielle
Kollektorstromanstieg dIC/dt wird aber während des
Einschaltvorgangs durch die entsprechend angelegte Gate-Emitter-Spannung
UGE begrenzt. Demgemäß stellt sich dann auch der
Kollektorstrom IC als Kurzschlußstrom auf
einen stationären
Wert ein, wel cher sich aus der Ausgangskennlinie der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10, also etwa des IGBTs 42,
für die jeweilige
Gate-Emitter-Spannung UGE, welche oft +15 V
beträgt,
ergibt. Dabei kommt es zu keinem nennenswerten dynamischen Überstrom
oberhalb des einregelnden stationären Wertes des Kollektorstroms oder
Kurzschlußstroms
IC.
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Beim
externen Abschalten des Kurzschlußstroms kommt es dann aufgrund
von Gegeninduktionen auf der Grundlage im Schaltkreis vorhandener parasitärer Induktivitäten zu einer
dynamischen Überspannung,
welche dem Absinken des Kollektorstroms IC entgegenwirkt
und welche aufgrund der Höhe
des abzuschaltenden Kollektorstroms IC ein Vielfaches
der unter regulären
Bedingungen auftreten Schaltüberspannung
betragen kann.
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Problematischer
als diese Kurzschlüsse
vom Typ I sind Kurzschlüsse
vom Typ II, bei welchen die Last zu einem Zeitpunkt kurzgeschlossen
wird, bei welchem sich die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung 10,
also etwa der IGBT 42, im eingeschalteten und also gesättigten
Zustand befindet.
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Das
Verhalten eines typischen IGBTs 42 im Zusammenhang mit
einer aus dem Stand der Technik bekannten Stromschalteinrichtung 40 wird
nun unter Bezugnahme auf die 3A bis 3C im
Detail erläutert.
In den 3A bis 3C sind
Graphen der zeitlichen Verläufe
der Spannung zwischen Steueranschluß 4a und Stromausgangsanschluß 3a,
also die Gate-Emitter-Spannung UGE des IGBTs 42,
des geschalteten Stroms, also des Kollektorstroms IC des IGBTs 42,
bzw. der diesen Strom treibenden Spannung zwischen dem Stromeingangsanschluß 2a und dem
Stromausgangsanschluß 3a der
feldgesteuerten Halbleiterschaltungseinrichtung 10, also
der Kollektor-Emitter-Spannung UCE des IGBTs 42,
in den Spuren T0, T2 bzw. T3 für
identische Zeitachsen dargestellt. Die Ordinaten sind jeweils in
relativen Einheiten angegeben.
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Bis
zum Zeitpunkt t0 ist die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung 10 eingeschaltet,
und die Stromschaltanordnung 40 läuft im Nominalbetrieb, so daß der Kollektorstrom
IC einem Nominalstrom IN entspricht.
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Zum
Zeitpunkt t0 findet der Kurzschluß II statt,
was im Zeitraum von t0 bis t1 mit
einem entsprechenden rapiden Anstieg des Kollektorstroms IC auf einen Spitzenwert I°C,SC,peak einhergeht.
Dieser Kollektorstromanstieg ergibt sich aufgrund der Höhe der im Zwischenkreis
vorliegenden Spannung UZ, welche im wesentlichen
mit der Kollektor-Emitter-Spannung UCE des
IGBT 42 übereinstimmt,
und der im Kurzschlußkreis
vorhandenen parasitären
Induktivitäten.
Die in dieser Zeitspanne auftretenden hohen Stromdichten im IGBT 42 können zur
Zerstörung
oder zur Beschädigung
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, insbesondere
des IGBTs 42, führen,
insbesondere dann, wenn während
dieser Phase der IGBT 42 ausgeschaltet würde. Ursache
für die
Zerstörung oder
Beschädigung
können
die Prozesse des sogenannten Latch-Up oder des dynamischen Avalanche sein.
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Obwohl
für lange
Zeiten t während
des Kurzschlusses – also
insbesondere für
Zeiten t ≧ t2 – ein konstanter
Kurzschlußstrom
I°C/SC/stat die Folge ist, führt die
mit dem Ansteigen des Kollektorstroms IC einhergehende
Entsättigung
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, insbesondere
also des IGBTs, bei welcher die Kollektor-Emitter-Spannung UCE – siehe 3C – im Zeitintervall
von t0 bis t1 ansteigt,
einen Verschiebestrom, welcher über
die Kapazität
zwischen Eingangsanschluß 2a und
Steueranschluß 4a,
nämlich
der Kollektor-Gate-Kapazität oder Miller-Kapazität, in die
Kapazität
zwischen Steueranschluß 4a und
Stromausgangsanschluß 3a der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10, nämlich der Gate-Emitter-Kapazität des IGBTs 42,
eingekoppelt wird. Aufgrund dieses Effekts der Rückwirkung oder Einkopplung
wird die Spannung zwischen Steueranschluß 4a und Stromausgangsanschluß 3a der
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, also die
Gate-Emitter-Spannung UGE des IGBTs 42 auf
einen Wert U°GE,SC,peak angehoben, wie das in der 3A für die Zeitspanne
zwischen t0 bis t1 gezeigt ist,
wodurch sich in folge eben nicht sofort der konstante Kurzschluß-Kollektorstrom
I°C/SC/stat einstellt, sondern ein Kurzschlußüberstrom
I°C,SC,peak die Folge ist, wie das in 3B für den Zeitpunkt
t1 ersichtlich ist.
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Für Zeiten
nach t1 fällt der Kollektorstrom IC von seinem dynamischen Überstrom I°C,SC,peak auf
seinen stationären
Wert I°C/SC/stat. Aufgrund der parasitären Induktivitäten im Schaltkreis
führt das
zu entsprechenden dynamischen Spannungsabfällen, die sich zum Beispiel
in einen Überspannungswert
U°GE,SC,peak der Kollektor-Emitter-Spannung
UCE des IGBTs 42 bemerkbar machen.
Diese Überspannung
U°GE,SC,peak kann die Durchbruchspannung des
IGBTs überschreiten
und dann zu dessen Zerstörung
oder Beschädigung
führen.
Die Anhebung der Gate-Emitter-Spannung UGE des
IGBTs 42 und somit die Höhe des dynamischen Überstroms
I°C,SC,peak sind von der Entsättigungsgeschwindigkeit,
d.h. vom Abfallen dUCE/dt der Kollektor-Emitter-Spannung UCE des IGBTs 42 abhängig. Bei
niederinduktiven Schaltkreisen führt
dieser Kurzschluß II
aufgrund der schnellen Entsättigung
bei verschwindender parasitärer
Induktivität
zu sehr hohen dynamischen Kurzschlußüberströmen I°C,SC,peak.
Zur Minimierung der Strom- und Spannungsspitzen muß daher
die Gate-Emitter-Spannung UGE während des
Zeitintervalls zwischen t0 und t1 begrenzt werden.
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Im
dritten Zeitintervall zwischen t2 und t3 hat der Kollektorstrom IC des
IGBTs 42 den Wert des stationären Kurzschlußstromes
I°C/SC/stat erreicht, wie das in 3B in
der Spur 32 gezeigt ist. In dieser Phase des Kurzschlusses
II ist die Gate-Emitter-Spannung UGE des
IGBTs 42 ebenfalls auf ihrem stationären Wert, nämlich U°GE,N,
abgefallen. Dies entspricht der Steuerspannung zum Einschalten des
IGBTs 42.
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Die
Kollektor-Emitter-Spannung UCE entspricht
der im Zwischenkreis anliegenden Zwischenkreisspannung UZ, wie das in 3C in
der Spur T4 gezeigt ist. Der stationäre Kurzschlußstrom I°C/SC/stat wird
dabei durch das Übertragungsverhalten,
nämlich
die Steilheit, des IGBTs 42 sowie durch die Gate-Emitter-Spannung
UGE des IGBTs 42 bestimmt. Ferner
hat auch die Sperrschichttemperatur des IGBTs 42 Einfluß auf den
Wert des Kurzschlußstromes I°C/SC/stat.
Dieser ist im allgemeinen sehr viel größer als der nominale Strom
IN unter regulären Betriebsbedingungen, und
es gilt zum Beispiel I°C/SC/stat = 8-10 × IN.
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Während dieser
Phase zwischen den Zeitpunkten t2 bis t3 ist die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung 10,
insbesondere also der IGBT 42, hohen Verlustleistungen
ausgesetzt, wodurch im Bauteil eine Übertemperatur erzeugt werden
kann. Zur Vermeidung der thermischen Zerstörung der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 bzw.
des IGBTs 42 muß die
Dauer des Kurzschlusses entsprechend begrenzt werden, so daß die maximal
zulässige
Sperrschichttemperatur nicht überschritten
wird. Typische Kurzschlußzeiten,
d.h. Zeitintervalle von t0 bis t3, betragen etwa 10 μs.
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Zum
Zeitpunkt t4 wird der Kurzschluß II zwischen
dem Stromeingangsbereich 2 und dem Stromausgangsbereich 3 bzw.
im Stromausgangsbereich 3 beendet.
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Wie
in 3B in Spur T2 gezeigt ist, fällt der Kollektorstrom IC von seinem stationären Wert I°C/SC/stat innerhalb
kurzer Zeit auf Null ab. Aufgrund der im Schaltkreis vorhandenen
parasitären
Induktivitäten
entsteht eine diesem Stromabfall entgegenwirkende Gegeninduktionsspannung
zwischen dem Stromeingangsanschluß 2a und Stromausgangsanschluß 3a der
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, also zwischen
dem Kollektor C und dem Emitter E des IGBTs 42, dies führt für Zeiten
kurz nach dem Zeitpunkt t4 zu einer Spannungsüberhöhung U°CE,SC,off der
Kollektor-Emitter-Spannung UCE. Diese kann
ein Vielfaches der beim regulären
Ausschalten der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10,
insbesondere des IGBTs 42, auftretenden Überspannung
betragen.
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Bisherige
bekannte Maßnahmen
zum Schutz der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10,
insbesondere des IGBTs 42, verwenden häufig eine sogenannte aktive Überspannungsbegrenzung,
welche die Kollektor-Emitter-Spannung UCE des
IGBTs 42 zu jedem Zeitpunkt begrenzt. Dabei wird die Energie
der sogenannten Überspannungsspitze
häufig
mit Hilfe eines spannungsbegrenzenden Elements – zum Beispiel eines Zener-Elements – zur Reduktion
der Kollektorstromfallgeschwindigkeit durch eine Aufsteuerung des
IGBTs 42 genutzt.
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Dabei
wird durch Absenken des Kollektorstroms IC eine
Spannungsüberhöhung im
Verlauf der Kollektor-Emitter-Spannung UCE erzeugt,
welche dann gegebenenfalls eine Avalancheerzeugung im Zener-Element
beim Überschreiten
dessen Durchbruchspannung verursacht. Das dann leitende Zener-Element
führt der
Kapazität
zwischen Steueranschluß 4a und
Stromausgangsanschluß 3a der
feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, also der Gate-Emitter-Kapazität des IGBTs 42,
den durch das Zener-Element fließenden Strom zu und lädt diese auf.
Dadurch steigt die Gate-Emitter-Spannung UGE des
IGBTs 42 an, wodurch die Leitfähigkeit des IGBTs 42 erhöht wird.
Dies wirkt der Fallgeschwindigkeit des Kollektorstroms IC entgegen, was folglich zu einer Verminderung
der Spannungsüberhöhung führt.
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Der
durch das Zener-Element fließende Strom,
der die Gate-Emitter-Kapazität des IGBTs 42 auflädt, muß den durch
die Steuer-/Treiberstufe 41 rückfließenden Strom, sowie gegebenenfalls
den beim Vorhandensein einer Strombegrenzung auftretenden Begrenzungsstrom,
kompensieren. Der zur Kompensation des Ansteuerstroms benötigte Strom ergibt
sich dabei aus der inhärenten
Eingangsimpedanz, nämlich
aus dem Gatewiderstand RGATE des IGBTs 42,
und der Differenz aus den am leitfähigen Zener-Element anliegenden
Spannung UGE und der Ansteuerspan nung UAnst. Dies maßgebliche Spannungsdifferenz
ist aber während
des zweiten Intervalls zwischen dem Zeitpunkt t1 und
t2 relativ gering, da sie dort im wesentlichen
durch das Aufladen der Miller-Kapazität des IGBTs 42 verursacht
wird. Deshalb kann der Strom durch das leitende Zener-Element den
Ansteuerstrom IAnst ohne Probleme ausgleichen
oder kompensieren.
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Problematisch
wird es jedoch beim Ausschalten des IGBTs zum Zeitpunkt t4 über
den niederohmigen Gatewiderstand RGATE und
gegen eine negative Ansteuerspannung UAnst.
Dann nämlich
kann die Gate-Emitter-Spannung UGE schon
negativ sein, wenn die Überspannungsspitze
auftritt. Um die Spannungsüberhöhung dann
beim Ausschalten zu vermindern oder zu reduzieren, muß die Gate-Emitter-Spannung
UGE auf einen Wert angehoben werden, der
der Ausgangskennlinie zum Leiten des momentanen Kollektorstroms
IC entspricht. Auf der dann vorliegenden
großen
Spannungsdifferenz zwischen der Ansteuerspannung UAnst und
der Gate-Emitter-Spannung UGE des IGBTs 42 ist
der Ansteuerstrom IAnst welcher zurück zur Steuer-/Treiberstufe 41 fließt, sehr
groß.
Demzufolge muß der
vorhandene Strom durch das Zener-Element
diesen hohen Strom kompensieren, was zu einer Überlastung des Zener-Elements
führen
kann. Dies ist ein maßgeblicher Nachteil
der beim Stand der Technik vorgesehenen Schutzmechanismen.
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Ferner
ist die Spannung über
das Zener-Element von der Größe des durch
das Zener-Element fließenden
Stroms abhängig.
Die Spannung über
das Zener-Element steigt mit dem durch das Zener-Element fließenden Strom
an, wodurch sich ebenfalls die Kollektor-Emitter-Spannung UCE des IGBTs 42 erhöht. Der
Strom des Zener-Elements kann zwar mit Hilfe eines zusätzlichen
aktiven Bauelements verstärkt
werden. Bei dieser Anordnung fließt jedoch der durch das Zener-Element
fließende
Strom hauptsächlich
durch einen im aktiven Bereich betriebenen Hilfstransistor, welcher
beim Durchbruch des Zener-Elements eingeschaltet wird. Das Zener-Element führt dabei
nur denje nigen Strom, welcher zum Einschalten des Hilfstransistors
notwendig ist.
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Zwar
ist der Einsatz eines derartigen Zener-Elements für einen
zeitlich uneingeschränkten Schutz
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung, insbesondere des
IGBTs 42, gegen Überspannungen
möglich,
und es kann durch die entsprechende Wahl des Schalttransistors oder
Hilfstransistors im Bereich des Zener-Elements auf eine der jeweiligen feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10, oder des IGBTs 42,
optimal angepaßte
Wirkung erzeugt werden. Aber es ist eine Integration der so ausgebildeten
Schutzeinheit zusammen mit der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10,
insbesondere des IGBTs 42, vorzugsweise in einem Gehäuse nur schwer
realisierbar, da die Zener-Elemente Hochspannungs-Bauelemente aufweisen,
die ihrerseits einen hohen Platzbedarf einnehmen und sich deshalb einer
Integration in einem Gehäuse
widersetzen. Dies ist ein weiterer maßgeblicher Nachteil der aus dem
Stand der Technik bekannten Schutzkonzepte und Stromschaltanordnungen.
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1 zeigt
in Form eines schematischen Blockdiagramms eine Ausführungsform
einer bekannten Stromschaltanordnung 1. Die mit der Ausführungsform
aus dem Stand der Technik gemäß 4 identischen
Komponenten und Strukturen sind mit denselben Bezugszeichen versehen
und haben die gleiche Bedeutung und elementare Funktion. Die detaillierte
Erörterung
dieser Komponenten wird an dieser Stelle deshalb nicht wiederholt.
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Der
grundlegende Unterschied zwischen der Ausführungsform 40 aus
dem Stand der Technik gemäß 4 und
der in 1 gezeigten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung 1 besteht
darin, daß die
bei der Erfindung vorgesehene Schutzeinrichtung 5 zum Schutz
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, welche
in der Ausführungsform
der 1 ebenfalls als IGBT mit Gate G, Kollektor C und
Emitter E ausgebildet ist, von der Steuer-/Treiberstufe 4 getrennt
ausgebildet ist. Sie kann erfindungsgemäß als inhärenter oder integraler Bestandteil
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 aufgefaßt und in
diese integriert ausgebildet werden. Dies ist insbesondere deshalb
der Fall, weil die Verbindung zwischen Schutzeinrichtung 5 und
Stromeingangsleitungseinrichtung 2b über die Leitung 2c hier
nicht notwendig, mithin also optional ist und weil die Schutzeinrichtung 5 bei
der erfindungsgemäßen Ausführungsform
keine platzraubenden Hochspannungsbauelemente aufweist.
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Aufgrund
der Ansteuerspannung UAnst, welche an die
Steuer-/Treiberstufe 4 zurückgeführt wird, wird ein entsprechendes
Ansteuersignal über
die Steuerleitungseinrichtung 4b mit der inhärenten Steuereingangsimpedanz
RGATE an den Steueranschluß 4a,
welcher mit dem Gate G der als IGBT ausgebildeten feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10 verbunden ist, zugeführt. Je
nach Betriebsbedingung, welche über
die Leitung 3c abgetastet und detektiert wird, wird durch
die Schutzeinrichtung 5 im Fehlerfall ein definiertes Abschalten
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 über ein
entsprechendes definiertes Zuschalten zusätzlicher Steuereingangsimpedanzen
R1, R2, R3 bewirkt, wodurch Strom-/Spannungsüberhöhungen im Bereich der feldgesteuerten
Halbleiterschalteinrichtung 10, 42 verhindert
werden.
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2 zeigt
etwas detaillierter ebenfalls teilweise in Form eines schematischen
Blockdiagramms eine Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Stromschaltanordnung 1.
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Bei
dieser Anordnung 1 ist zwischen einem Stromeingangsbereich 2 und
einem Stromausgangsbereich 3 eine als IGBT 42 dargestellte
und ausgebildete Halbleiterschalteinrichtung 10 mit einem
Eingangsanschluß 2a,
einem Ausgangsanschluß 3a sowie
einem Steueranschluß 4a vorgesehen,
welche mit einem Kollektorbereich C, einem Emitterbereich E bzw.
einem Gatebereich G der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10,
insbesondere des IGBTs 42, verbunden sind. Entsprechend
sind eine Eingangsleitungseinrichtung 2b, eine Ausgangsleitungseinrichtung 3b sowie
eine Steuerleitungseinrichtung 4b zur Verbindung der Anschlüsse 2a, 3a und 4a mit dem
Eingangsbereich 2, dem Ausgangsbereich 3 bzw.
dem Steuerbereich 4 ausgebildet.
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Die
Steuer-/Treiberstufe oder Steuerbereich 4 beaufschlagt
die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung 10 bzw.
deren Steuereingang 4a über
die Steuerleitungseinrichtung 4b und die darin vorgesehene
inhärente
oder natürliche
Steuereingangsimpedanz RGATE sowie über die
Leitungseinrichtung 3c und die Stromausgangsleitungseinrichtung 3b mit
einer entsprechenden Ansteuerspannung UAnst.
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Im
Bereich der Steuerleitungseinrichtung 4b ist in Kontakt
mit der Stromausgangsleitung 3b die Schutzeinrichtung 5 ausgebildet,
welche als wesentliches Element die Schutzschalteinrichtung M1 sowie parallel
dazu die zusätzliche
Steuereingangsimpedanz R1, hier als Ohmscher Widerstand dargestellt, aufweist.
Die Schutzschalteinrichtung weist einen Eingangsanschluß 11,
einen Ausgangsanschluß 12 sowie
einen Steueranschluß 13 auf,
wobei letzterer mit einer Abtasteinrichtung 20 zum Abtasten
des vom Stromeingangsbereich 2 zum Stromausgangsbereich 3 hin
fließenden
Stroms, nämlich
des Kollektorstroms IC, oder einer dafür repräsentativen
elektrischen Größe ausgebildet
ist.
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Die
maßgebliche
zusätzliche
Steuereingangsimpedanz R1 ist parallel zur Schutzschalteinrichtung
M1 geschaltet, indem diese erste zusätzliche Steuereingangsimpedanz
R1 mit ihrem einen Anschluß mit
dem Eingangsanschluß 11 der
Schutzschalteinrichtung M1 und mit ihrem anderen Anschluß mit dem
Ausgangsanschluß 12 der
Schutzschalteinrichtung M1 verbunden ist.
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Im
eingeschalteten Zustand wird somit als effektive Eingangsimpedanz
nur die inhärente
oder natürliche
Eingangsimpe danz RGATE, nämlich der
Gatewiderstand des IGBT 10, wirksam, weil die Schutzschalteinrichtung
M1 im eingeschalteten Zustand leitend ist. Im ausgeschalteten Zustand
der Schutzschalteinrichtung M1 wird dagegen die Summe der Eingangsimpedanzen
RGATE und R1 wirksam, weil die Schutzschalteinrichtung
M1 im ausgeschalteten Zustand isolierend wirkt.
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Es
sind ferner eine zweite und eine dritte zusätzliche Steuereingangsimpedanz
R1 und R2 vorgesehen, wobei die zweite zusätzliche Steuereingangsimpedanz
R2 mit ihrem einen Ende mit dem Eingangsanschluß 11 und mit ihrem
anderen Ende mit dem Steueranschluß 13 der Schutzschalteinrichtung
M1 verbunden ist und die dritte zusätzliche Steuereingangsimpedanz
R3 mit ihrem einen Anschluß mit
dem Steueranschluß 13 und
mit ihrem anderen Anschluß mit
dem Ausgangsanschluß 12 der Schutzschalteinrichtung
M1 verbunden ist.
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Der
Eingangsanschluß 11,
der Ausgangsanschluß 12,
sowie der Steueranschluß 13 sind
mit dem Sourcebereich S1, dem Drainbereich D1, bzw. dem Gatebereich
G1 der als MOSFET ausgebildeten Schutzschalteinrichtung M1 verbunden.
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Zur
Steuerung der Schutzschalteinrichtung M1 ist zwischen deren Steueranschluß 13 mit
dem daran angekoppelten Gatebereich G1 und der Stromausgangsleitungseinrichtung 3b eine
entsprechende Abtasteinrichtung 20 mit einem Spannungsteilerelement 25 vorgesehen.
Die Abtasteinrichtung 20 besteht maßgeblich aus einer feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung
M2, die in 2 als MOSFET dargestellt ist,
und deren Steuereingang 23, welcher mit dem entsprechenden
Gatebereich G2 verbunden ist, über
den Spannungsteiler 25 angesteuert wird. Der Ausgangsanschluß 22,
welcher mit dem Drainbereich D2 der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung
M2 verbunden ist, ist seinerseits mit dem Steuereingang 13 der
Schutzschalteinrichtung M1 verbunden.
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Die
zusätzlichen
Steuereingangsimpedanzen R1, R2 und R3 haben in etwa die Werte 1
kΩ, 24 kΩ bzw. 4,3
kΩ. Dagegen
besitzt die inhärente
oder natürliche
Steuereingangsimpedanz oder der entsprechende Gatewiderstand R1
einen Wert von etwa 10 Ω.
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Durch
die Anordnung der Schutzschalteinrichtung M1 wird die feldgesteuerte
Halbleiterschalteinrichtung 10, nämlich der IGBT 42,
durch die relativ große
Impedanz, nämlich
die erste zusätzliche
Steuereingangsimpedanz R1, im Gatekreis auf definierte Art und Weise
abgeschaltet oder ausgeschaltet. Dies führt zu einer Verringerung der Änderungsrate
dIC/dt des Kollektorstroms IC.
Dadurch kann die Spannungsüberhöhung der
Gate-Emitter-Spannung UGE um einen Betrag ΔUGE,peak auf U1 GE,peak deutlich gesenkt werden, wie das
für das
erste Zeitintervall zwischen t0 bis t1 in 3A im
Vergleich der Spuren 30 und 31 deutlich wird.
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Unter
regulären
Bedingungen, d.h. im normalen Betrieb ohne Kurzschluß, wird
das Verhalten der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10 aus
dem Ausführungsbeispiel
der 2 durch die inhärente oder natürliche Gateimpedanz
RGATE und durch die Ansteuerspannung UAnst der Steuer-/Treiberstufe 4 bestimmt.
Ein positiver Gatestrom zum Einschalten der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10,
nämlich
des IGBTs 42, fließt über die
parasitäre
Diode Z1 der Schutzschalteinrichtung M1, wobei die Entladung der
Kapazität
zwischen Gate und Emitter über
die dynamisch eingeschaltete Schutzschalteinrichtung M1 erfolgt.
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Im
Fall eines Kurzschlusses, welcher über die Abtasteinrichtung 20 detektiert
wird, wird die feldgesteuerte Halbleiterschalteinrichtung M2 der
Abtasteinrichtung 20 über
die von den Widerständen
R4 und R5 sowie der Diode Z3 gebildete Sense-Widerstandseinrichtung 25 dynamisch
eingeschaltet. Ein dynamisches Einschalten der Schutzschalteinrichtung
M1 erfolgt dadurch nicht.
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Die
Kapazität
zwischen Gate G und Emitter E der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, 42 wird über die
Reihenschaltung der Widerstände R1
und RGATE entladen. Das bedeutet, daß das Schaltverhalten
der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10, 42 im
wesentlichen nur durch den hochohmigen Widerstand R1 bestimmt wird,
zumal dann, wenn, wie in dem vorliegenden Fall, R1 = 1 kΩ und RGATE = 10 Ω gewählt sind.
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Insbesondere
für den
Fall, daß R1
sehr groß gewählt wird – R1 → ∞ – ist die
Schutzeinrichtung 5 von der Steuer/Treiberstufe 4 im
wesentlichen entkoppelt.
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Beim
Ausschalten im Fehlerfall wird die Kapazität zwischen Emitter E und Gate
G der Halbleiterschalteinrichtung 10 über den Entladewiderstand R1 derart
langsam entladen, daß beim
Abschalten oder Ausschalten die Spannung solange oberhalb eines bestimmten
Niveaus angehoben bleibt, so daß trotz des
Abschaltens 10 noch eingeschaltet bleibt und erst allmählich in
den abgeschalteten Zustand übergeht.
Durch dieses langsame Abschalten von 10 und folglich durch das langsamere
Abschalten des Kurzschlußstroms,
also des Kollektorstroms IC, kommt es nur
zu einer relativ kleinen Überspannung
U1 CE,SC,off zwischen
Kollektor C und Emitter E der feldgesteuerten Halbleiterschalteinrichtung 10,
wie das aus einem Vergleich der Spuren 34 und 35 in
der 3C hervorgeht. Diese Überspannung ist mit dem Fall
des Ausschaltens beim regulären
Betrieb vergleichbar.