[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

CZ2017212A3 - Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla - Google Patents

Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla Download PDF

Info

Publication number
CZ2017212A3
CZ2017212A3 CZ2017-212A CZ2017212A CZ2017212A3 CZ 2017212 A3 CZ2017212 A3 CZ 2017212A3 CZ 2017212 A CZ2017212 A CZ 2017212A CZ 2017212 A3 CZ2017212 A3 CZ 2017212A3
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
source
oled
group
measured
detector
Prior art date
Application number
CZ2017-212A
Other languages
English (en)
Other versions
CZ307327B6 (cs
Inventor
Tomáš Gloss
Petr Novák
Luděk Mazal
Original Assignee
Varroc Lighting Systems, s.r.o.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Varroc Lighting Systems, s.r.o. filed Critical Varroc Lighting Systems, s.r.o.
Priority to CZ2017-212A priority Critical patent/CZ307327B6/cs
Priority to US15/951,843 priority patent/US20180306855A1/en
Priority to DE102018109214.8A priority patent/DE102018109214A1/de
Publication of CZ2017212A3 publication Critical patent/CZ2017212A3/cs
Publication of CZ307327B6 publication Critical patent/CZ307327B6/cs

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21SNON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
    • F21S41/00Illuminating devices specially adapted for vehicle exteriors, e.g. headlamps
    • F21S41/10Illuminating devices specially adapted for vehicle exteriors, e.g. headlamps characterised by the light source
    • F21S41/14Illuminating devices specially adapted for vehicle exteriors, e.g. headlamps characterised by the light source characterised by the type of light source
    • F21S41/141Light emitting diodes [LED]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2874Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B45/00Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
    • H05B45/50Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED] responsive to malfunctions or undesirable behaviour of LEDs; responsive to LED life; Protective circuits
    • H05B45/56Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED] responsive to malfunctions or undesirable behaviour of LEDs; responsive to LED life; Protective circuits involving measures to prevent abnormal temperature of the LEDs
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B45/00Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
    • H05B45/60Circuit arrangements for operating LEDs comprising organic material, e.g. for operating organic light-emitting diodes [OLED] or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B45/00Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
    • H05B45/30Driver circuits
    • H05B45/37Converter circuits
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • Y02B20/30Semiconductor lamps, e.g. solid state lamps [SSL] light emitting diodes [LED] or organic LED [OLED]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Lighting Device Outwards From Vehicle And Optical Signal (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED obsahuje jako vstupní elektrické rozhraní hlavní konektor (1) pro přívod vstupního napětí do řídící jednotky (2), která je uzpůsobena k přijetí informace z detektoru (4) a k řízení napájecího zdroje (3) generujícího napětí nebo proud pro měřený zdroj nebo skupinu zdrojů OLED (6), napojených k napájecímu zdroji (3) přes snímací jednotku (7), která je uzpůsobena k měření průběhu (12) V-A charakteristiky a/nebo určitého hodnotícího bodu (13) či bodů (13) V-A charakteristiky měřeného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6) a napojena na detektor (4) pro vyhodnocení, zda měřený zdroj nebo skupina zdrojů OLED (6) vykazuje chybovou funkci, a předání vyhodnocených údajů do řídící jednotky (2). Zařízení obsahuje teplotní snímač (5) k měření teploty zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6) a/nebo teploty v jejich okolním prostředí, přičemž detektor (4) je konfigurován tak, že pro vyhodnocení, zda měřený zdroj nebo skupina zdrojů OLED (6) vykazuje chybovou funkci, se porovná průběh nebo určitý hodnotící bod/body V-A charakteristiky známé u bezvadného zdroje či skupiny zdrojů OLED s hodnotami zjištěnými u měřeného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6), se zohledněním vlivu teploty naměřené teplotním snímačem (5).

Description

Oblast techniky
Vynález se týká zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla, které využívá systém kontroly s vyhodnocováním V-Ά charakteristiky OLED pro zjišťování vadného světelného zdroje.
Dosavadní stav techniky
Nové systémy osvětlení vozidel se zaměřují nejen na optický výkon zvyšující jízdní komfort a bezpečnost na silnicích, pro moderní světelná zařízení motorových vozidel jako světlomety nebo signální svítilny motorového vozidla důležitý i vzhled. Moderní bodové ale j sou je a plošné světelné zdroje, zejména LED a OLED, otevřely stylistické možnosti automobilových novou kapitolu pro nové návrhářů.
Použití plošného zdroje světla, zejména OLED
Organic light-emitting diodě, s sebou přináší nejen rozšířeni stylistických možností vyzařované světelné funkce, ale vyznačuje se i úzká zástavba, určitými technickými nižší produkce tepla, přínosy, jako například nízká spotřeba energie apod. Použití
OLED se v důsledku toho stává postupně komplexnějším a komplikovanějším, přičemž je nutné dodržovat všechny specifikace a zákonné požadavky především v automobilovém průmyslu.
Jedním z požadavků je detekce chybového stavu světelného zdroje. U klasických
LED diod je tento stav poměrně dobře detekovatelný, neboť v naprosté většině případů dojde ke zkratu nebo k tzv. rozpojení diody, což má za následek změnu elektrické veličiny, kterou lze poměrně jednoduše elektronicky detekovat. U plošných zdrojů je situace složitější, protože OLED neobsahuje klasický PN přechod, ale organické vrstvy, které po připojení elektrického napění/proudu emitují světlo.
Oproti klasickým LED diodám, kde velikost/plocha PN přechodu je v řádu maximálně jednotek mm2, u OLED může nastat situace, kdy dojde k lokálnímu defektu neboli k vytvořeni tmavých nebo naopak velmi světlých ploch. V tomto stavu dioda není ani rozpojená, ani nenastal zkrat a tudíž je obtížné tento stav detekovat a vyhodnotit jako chybový. Situaci navíc komplikuje fakt, že s měnící se okolní teplotou se mění také napětí na OLED a dále se toto napětí mění v průběhu stárnuti OLED. Další možnou chybou/vadou je stav, kdy OLED dokonce nefunguje vůbec a neemituje z žádné části své plochy světlo.
t. ' y; i z V., , Ve spisech KR20130031116A, WOÉ012007968A1, fý y*$y \ < n v x y ,y γ GB2)40^2[72jB, US200W 7 9β93;Α1, -------.
nalézt velké množství
US[2 0 0 4^8 0^2 7 3A1, ^0201006,0458^1
Uá6417|624Bl 'lz
A A Λ ,'j plošného υφθΟ5^79^93!Α1 řešení umožňujících detekovat vadný zdroje. Podstatnou nevýhodou světelného stav výše uvedených řešení je skutečnost, že systém detekce chybné funkčnosti plošných světelných zdrojů nezahrnuje měřeni teploty, přičemž s teplotou se zásadně mění vlastnosti OLED z pohledu V-A charakteristiky. Zejména se okolní teplotou mění napětí na
OLED, přičemž toto napětí se také mění v průběhu stárnutí OLED.
Cílem vynálezu je představit nové řešení zařízení pro detekci chyb plošných světelných zdrojů, zejména pro světlomet
X nebo svítilnu motorového vozidla, které bude schopno změřit
V-A charakteristiku nebo některý parametr V-A charakteristiky, přičemž současně okolí OLED nebo zařízení zahrnuje systém měření teploty v
OLED samotné. Při detekci se naměřená data musí porovnávat s daty v paměti nebo s nastavením teplotně řízeného komparátoru. Naměřená data musí být následně vyhodnocena tak, aby nedošlo nesprávné detekci funkční, poškozené, částečně poškozené či vadné OLED.
Podstata vynálezu
Shora uvedené cíle vynálezu splňuje zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla, podle vynálezu, obsahující jako vstupní elektrické rozhraní hlavní konektor pro přívod vstupního napětí do řídící jednotky, která je uzpůsobena k přijetí informace z detektoru a k řízení napájecího zdroje generujícího napětí nebo proud pro měřený zdroj nebo skupinu zdrojů OLED, napojených k napájecímu zdroji přes snímací jednotku, která je uzpůsobena k měření průběhu V-A charakteristiky a/nebo určitého hodnotícího bodu či bodů V-A charakteristiky měřeného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED a napojena na detektor pro vyhodnocení, zda měřený zdroj nebo skupina zdrojů OLED vykazuje chybovou funkci, přičemž detektor je uzpůsoben k předání vyhodnocených údajů do řídící jednotky. Zařízení dále obsahuje teplotní snímač k měření teploty zdroje nebo skupiny zdrojů OLED a/nebo teploty v jejich okolním prostředí, přičemž detektor je konfigurován tak, že pro vyhodnocení, zda měřený zdroj nebo skupina zdrojů OLED vykazuje chybovou funkci se porovná průběh nebo určitý hodnotící bod/body V-A charakteristiky známé u bezvadného zdroje či skupiny zdrojů OLED s hodnotami zjištěnými u
X měřeného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, se zohledněním vlivu teploty naměřené teplotním snímačem. Podle jednoho z výhodných provedení je detektor proveden jako teplotně řízený komparátor uzpůsobený k měření a vyhodnocení průběhu nebo hodnotícího bodu V-A charakteristiky a teploty zdroje nebo skupiny zdrojů OLED a/nebo teploty v jejich okolním prostředí.
ίν λ Podle jednoho z výhodných provedeni, pro detekci zcela nefunkčního zdroje OLED pracuje napájecí zdroj v režimu malého napětí 1,0 W až 5,0 V a/nebo mezi řídící jednotkou a snímací jednotkou je zapojen paralelně vůči napájecímu zdroji zdroj speciálního napětí pro vytvoření nezávislého malého napětí od
X 1,0 W do 5,0 V, přičemž toto malé napětí je přivedeno na měřený zdroj OLED a detektor je konfigurován pro vyhodnocení, zda měřený zdroj OLED je zcela nefunkční, na základě vyhodnocení proudu procházejícího při tomto malém napětí zdrojem OLED.
χ Zdroj speciálního napětí je s výhodou proveden jako regulovatelný/přepínatelný lineární či DC/DC OLED driver/napájecí zdroj.
Λ Podle jednoho z výhodných provedeni je detektor uspořádán v rámci procesorové jednotky, například mikrokontroleru nebo mikroprocesoru. Procesorová jednotka obsahuje s výhodou A/D převodník.
X Procesorová jednotka obsahuje s výhodou paměť pro uchování původní V-A charakteristiky známé u bezchybného zdroje OLED ve
vztahu k určité teplotě tohoto zdroje OLED nebo jeho okolního prostředí.
Objasněni výkresů
Předkládaný vynález uskutečnění s odkazem bude blíže vysvětlen pomocí příkladů na připojené výkresy, na nichž znázorňuj e:
obr. 1 blokové schéma prvního příkladu uskutečnění zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla, podle vynálezu,
- obr. 2 blokové schéma druhého přikladu uskutečnění zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, obr. 3 blokové schéma třetího příkladu uskutečnění zařízení funkce plošného světelného zdroje nebo pro detekci chybové skupiny zdrojů OLED, obr. 4 příklad V-A charakteristiky zdroje OLED v bezchybném stavu.
Příklady uskutečněni vynálezu
Pro účely tohoto vynálezu se stav, kdy daný zdroj vadného zdroje OLED je vadný i do té míry, vykazuj e poškozený za vadný zdroj OLED považuj e chybovou funkci. Příkladem zdroj . Zdroj OLED může být že je zcela nefunkční. Zdroj, který nevykazuje chybovou funkci, je zdrojem bezvadným.
Nyní bude popsán první příklad uskutečnění vynálezu s odkazem na připojený obr. 1. Obr. 1 ukazuje blokové schéma navrhované architektury zapojení jednotlivých komponentů
X zařízeni pro detekci chyb plošných světelných zdrojů OLED podle vynálezu. Blokový diagram se skládá z následujících prvku: hlavni konektor _1 pro přívod vstupního napětí do řídící jednotky 2, která je uzpůsobena k přijetí informace z detektoru ý a k řízení napájecího zdroje ý. Napájecí zdroj 3 generuje napětí nebo proud, může být tedy napěťového nebo proudového typu. Zdroj OLED 6 je k napájecímu zdroji 3 napojen přes snímací jednotku Ί_, která je uzpůsobena k měření zde neznázorněného průběhu 12 V-A charakteristiky a/nebo určitého hodnotícího bodu 13 V-A charakteristiky. Snímací jednotka 7 je napojena na detektor 4_ pro vyhodnocení, zda zdroj OLED 6 je vadný. Detektor _4 je uzpůsoben k předání vyhodnocených údajů do řídicí jednotky 2 a je napojen na teplotní snímač ,5. Součástí elektronického obvodu je teplotní snímač j5 uzpůsobený k měření teploty zdroje nebo skupiny zdrojů OLED 6 a/nebo teploty v jeho či jejich okolním prostředí. Detektor _4 je realizován například ve formě teplotně řízeného komparátoru uzpůsobeného k měření a vyhodnocení naměřených dat, zejména tedy V-A charakteristiky, respektive daného napětí a proudu pofjfťpadč' vztaženého k teplotě zdroje OLED 16, Ja-ř-rpadn$ teplotě okolního prostředí OLED 6.
Obr. 2 ukazuje blokové schéma druhého uskutečněni architektury zapojení jednotlivých komponent, kde mezi řídicí jednotkou 2 a snímací jednotkou 7_ V-A charakteristiky je paralelně vůči napájecímu zdroji 3 zapojen zdroj 8_ speciálního napětí, který je řízen prostřednictvím řídicí jednotky 2 pro vytvoření dodatečného napětí. Zdroj 8. speciálního napětí je realizován například jako regulovatelný/přepínatelný lineární 'JQ- či DC/DC OLED driver/napájecí zdroj nebo jako zcela nezávislý zdroj napětí.
Dle přikladu uskutečnění znázorněného na obr. 3 jsou řidiči jednotka 2_ a detektor £ realizovány prostřednictvím procesorové jednotky fy, například mikrokontroleru nebo mikroprocesoru, zahrnujícího A/D převodník 10 a paměť 11, například EEPROM nebo FLASH. Paměť 11, která slouží pro uchování původní V-A charakteristiky odpovídající novému, bezchybnému zdroji OLED fy, vztažené k určité teplotě zdroje OLED fy nebo okolního prostředí zdroje OLED fy, případně i opotřebení v čase. Procesorová jednotka fy provádí porovnávání naměřených hodnot s původními daty V-A charakteristiky uloženými v paměti 11.
Na obr. obr. 4 je znázorněn příklad průběhu 12 V-A charakteristiky, kde k určitým hodnotícím bodům 13 V-A charakteristiky naměřené na bezchybném zdroji OLED a při určité teplotě je přiřazeno toleranční pásmo 14.
Po připojení elektrického zdroje ke zdroji OLED 6 dojde k emitaci světla a snímací jednotka fy provede měření V-A charakteristiky nebo jen některého parametru V-A charakteristiky, například napětí anebo proudu. Teplotní snímač fy změří teplotu zdroje OLED 6 a/nebo teplotu okolního prostředí zdroje OLED fy. Měření se může provádět pro jeden zdroj OLED 6 nebo pro celkovou funkci několika zdrojů OLED 6, případně může mít každý zdroj OLED 6 svůj teplotní snímač fy. Následně se provede porovnání naměřených dat, tedy průběhu 12 aktuální V-A charakteristiky nebo jen hodnotícího bodu 13 o určité aktuální hodnotě napětí, proudu a teploty, s původními daty uloženými v paměti 11 vztahujícími se k určitému, hodnotícímu bodu 13 nebo průběhu 12 původně naměřené V-A charakteristiky a teploty bezvadného zdroje OLED fy. Pokud se napětí a proud hodnotícího bodu 13 nebo celkový průběh 12 V-A
- 8 charakteristiky nenachází v tolerančním pásmu 14, pak detektor vyhodnotí funkci jako chybovou a zašle/předá tuto informaci do řídicí jednotky 2, přičemž toto měření je možné provádět i za jízdy vozidla. Detekce zcela nefunkčního zdroje OLED 6 je ý> prováděna buď prostřednictvím napájecího zdroje 2 pracujícího v režimu malého napětí 1,0 M A 5,0 V , nebo zdrojem 8 ať speciálního napětí v rozmezí napětí 1,0 χ 5,0 V, přičemž detektor £ provádí měření/vyhodnocení minimálního proudu, který ještě může při tomto napětí procházet zdrojem OLED _6. Princip detekce je pak takový, že teče-li OLED 6 větší než minimálně přípustný proud už při tomto malém napětí, je OLED 6 vadná.
Seznam vztahových značek
- hlavni konektor
- řídící jednotka
- napájecí zdroj
- detektor
- teplotní snímač zdroj OLED
- snímací jednotka
- zdroj speciálního napětí
- procesorová jednotka
- A/D převodník
- paměť
- průběh
- hodnotící bod
- toleranční pásmo

Claims (7)

1. Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla, obsahující jako vstupní elektrické rozhraní hlavní konektor (1) pro přívod vstupního napětí do řídicí jednotky (2), která je uzpůsobena k přijetí informace z detektoru (4) a k řízení napájecího zdroje (3) generujícího napětí nebo proud pro měřený zdroj nebo skupinu zdrojů OLED (6), napojených k napájecímu zdroji (3) přes snímací jednotku (7), která je uzpůsobena k měření průběhu (12) V-A charakteristiky a/nebo určitého hodnotícího bodu (13) či bodů (13) V-A charakteristiky měřeného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6) a napojena na detektor (4) pro vyhodnoceni, zda měřený zdroj nebo skupina zdrojů OLED (6) vykazuje chybovou funkci, přičemž detektor (4) je uzpůsoben k předáni vyhodnocených údajů do řídicí jednotky (2), vyznačující se tím, že obsahuje teplotní snímač (5) k měření teploty zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6) a/nebo teploty v jejich okolním prostředí, přičemž detektor (4) je konfigurován tak, že pro vyhodnocení, zda měřený zdroj nebo skupina zdrojů OLED (6) vykazuje chybovou funkci, se porovná průběh nebo určitý hodnotící bod/body V-A charakteristiky známé u bezvadného zdroje či skupiny zdrojů OLED s hodnotami zjištěnými u. měřeného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6), se zohledněním vlivu teploty naměřené teplotním snímačem (5).
2. Zařízení podle nároku 1, vyznačující se tím, že detektor· (4) je proveden jako teplotně řízený komparátor uzpůsobený K k měření a vyhodnocení průběhu (12) nebo hodnotícího bodu (13)
V-A charakteristiky a teploty zdroje nebo skupiny zdrojů OLED (6) a/nebo teploty v jejich okolním prostředí.
3. Zařízeni podle nároku 1 nebo 2, vyznačující se tím, že pro detekci zcela nefunkčního zdroje OLED (6) pracuje napájecí zdroj (3) v režimu malého napětí 1,0 až 5,0 V a/nebo mezi řídicí jednotkou (2) a snímací jednotkou (7) je zapojen paralelně vůči zdroj i (napětí | (3)jzdroj (8) speciálního napětí pro vytvoření nezávislého malého napětí od 1,0 H do 5,0 V, přičemž toto malé napětí je přivedeno na měřený zdroj OLED (6) a detektor (4) je konfigurován pro vyhodnocení, zda měřený zdroj OLED (6) proudu je zcela nefunkční, na základě vyhodnocení proudu procházejícího při tomto malém napětí zdrojem OLED (6) .
4. Zařízení podle nároku 3, vyznačující se tím, že zdroj (8) /L speciálního napětí proveden jako regulovatelný/přepínatelný lineární či DC/DC OLED driver/napájecí zdroj.
5. Zařízení podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, vyznačující se tím, že detektor (4) je uspořádán v rámci procesorové jednotky (9), například mikrokontroleru nebo mikroprocesoru.
6. Zařízení podle nároku 5, vyznačující se tím, že procesorová jednotka (9) obsahuje A/D převodník (10).
7. Zařízení podle nároku 5 nebo 6, vyznačující se tím, že procesorová jednotka (9) obsahuje paměť (11) pro uchováni původní V-A charakteristiky známé u bezchybného zdroje OLED (6) ve vztahu k určité teplotě tohoto zdroje OLED (6) nebo jeho okolního prostředí.
CZ2017-212A 2017-04-19 2017-04-19 Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla CZ307327B6 (cs)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2017-212A CZ307327B6 (cs) 2017-04-19 2017-04-19 Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla
US15/951,843 US20180306855A1 (en) 2017-04-19 2018-04-12 Device for detection of a faulty function of a planar oled light source or a group of oled light sources, especially for a headlight or a lamp of a motor vehicle
DE102018109214.8A DE102018109214A1 (de) 2017-04-19 2018-04-18 Vorrichtung zum Erfassen einer Fehlfunktion einer planaren OLED-Lichtquelle oder einer Gruppe von OLED-Lichtquellen, insbesondere für einen Scheinwerfer oder eine Leuchte eines Kraftfahrzeugs

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2017-212A CZ307327B6 (cs) 2017-04-19 2017-04-19 Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CZ2017212A3 true CZ2017212A3 (cs) 2018-06-06
CZ307327B6 CZ307327B6 (cs) 2018-06-06

Family

ID=62240884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ2017-212A CZ307327B6 (cs) 2017-04-19 2017-04-19 Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20180306855A1 (cs)
CZ (1) CZ307327B6 (cs)
DE (1) DE102018109214A1 (cs)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3715884A1 (en) * 2019-03-29 2020-09-30 Automotive Lighting Italia S.p.A. Automobile lighting unit with oled light sources and related operating method

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CZ300170B6 (cs) * 2000-09-27 2009-03-04 Ceské Vysoké Ucení Technické V Praze Centrum Biomedicínského Inženýrství Zpusob detekce a signalizace únavy ridice behem rízení vozidla a zarízení k provádení tohoto zpusobu
JP4236894B2 (ja) 2002-10-08 2009-03-11 株式会社小糸製作所 点灯回路
GB0319423D0 (en) * 2003-08-19 2003-09-17 Nissan Technical Ct Europ Ltd Lamp
JP4148908B2 (ja) 2004-02-16 2008-09-10 株式会社小糸製作所 車両用灯具
TWI248321B (en) * 2004-10-18 2006-01-21 Chi Mei Optoelectronics Corp Active organic electroluminescence display panel module and driving module thereof
CZ297617B6 (cs) * 2005-12-28 2007-02-14 Azd Praha S. R. O. Svítilna LED a zpusob bezpecného ovládání této svítilny LED
JP5317419B2 (ja) * 2007-03-07 2013-10-16 株式会社ジャパンディスプレイ 有機el表示装置
WO2010060458A1 (de) 2008-11-04 2010-06-03 Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung Vorrichtung und verfahren zum detektieren einer defekten oled
WO2012007968A1 (en) 2009-01-23 2012-01-19 Giulio Caroselli External lighting system for transportation vehicles
KR101124108B1 (ko) * 2010-08-19 2012-03-22 한국과학기술원 프로그래밍 구간에서의 열화 감지 기능을 갖는 액티브 유기 발광 디스플레이
JP5866881B2 (ja) * 2011-08-31 2016-02-24 Tdk株式会社 赤外線温度センサ
KR20130031116A (ko) 2011-09-20 2013-03-28 현대자동차주식회사 오엘이디가 장착된 차량용 램프
KR101897679B1 (ko) * 2012-03-14 2018-09-13 삼성디스플레이 주식회사 Dc-dc 컨버터 및 이를 포함한 유기전계발광 표시장치
KR102675913B1 (ko) * 2016-04-29 2024-06-17 엘지디스플레이 주식회사 백플레인 기판 및 이를 이용한 유기 발광 표시 장치
CN106527791B (zh) * 2016-11-01 2019-06-25 上海天马微电子有限公司 显示面板、集成压力感应的显示装置以及驱动方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE102018109214A1 (de) 2018-10-25
US20180306855A1 (en) 2018-10-25
CZ307327B6 (cs) 2018-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9371037B2 (en) Lighting device of a motor vehicle
US8712637B2 (en) Method for determining an object class of an object, from which light is emitted and/or reflected to a vehicle
KR102534526B1 (ko) 자동차의 라이트 장치에서 단락된 발광 다이오드를 검출하기 위한 장치 및 방법
CN107426852B (zh) 点亮装置和具有点亮装置的车辆照明系统
US20180054870A1 (en) Lighting circuit and vehicle lamp
US20230108612A1 (en) Vehicular lamp system, power supply circuit
KR102564287B1 (ko) 기능적 전용 광원 그룹을 사용하여 자동차의 다중 조명 기능을 수행하는 조명 장치
JP6461955B2 (ja) 発光ダイオードデバイス
RU2573008C2 (ru) Система освещения
KR102309908B1 (ko) 적어도 두 부분의 자동차용 조명 장치
JP2006248509A (ja) 車両用灯具システム
CZ2017212A3 (cs) Zařízení pro detekci chybové funkce plošného světelného zdroje nebo skupiny zdrojů OLED, zejména pro světlomet nebo svítilnu motorového vozidla
CN205716872U (zh) 用于车辆的发光结构
ITPD20120376A1 (it) Circuito di illuminazione, in particolare con sorgenti luminose a led
US10292248B2 (en) Method for operating a first and a second light-emitting unit of a motor vehicle, and circuit arrangement
US10232764B2 (en) Circuit for operating a plurality of lighting devices of a motor vehicle
CN107466274B (zh) 诊断装置
KR20200116060A (ko) Oled 광원을 구비한 차량 조명 유닛 및 그 작동 방법
EP3607805B1 (en) Electrical circuit for accessory
US9930738B2 (en) Management of bin information in a luminous, motor-vehicle module comprising semiconductor-component light sources
CN111406004B (zh) 用于操控光模块的方法、照明单元、和计算机可读介质
US12096531B2 (en) Systems and method for light-emitting diode (LED) failure detection
KR102552480B1 (ko) 헤드램프의 단선 검출 방법
JP7044603B2 (ja) 点灯装置および車両用灯具
Martínez-Pérez et al. Advanced Detection of Failed LEDs in a Short Circuit for Automotive Lighting Applications