CN211603436U - 一种用于测试半导体的调节装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于测试半导体的调节装置，包括工作台，所述工作台的顶部外壁上开有矩形槽，所述矩形槽相对的两侧内壁上设有夹持机构，所述矩形槽其余两侧内壁上均粘接有橡胶垫，所述工作台的顶部外壁上通过螺栓固定有安装座，安装座的顶部内壁上转动插接有固定柱，所述固定柱的圆周外壁上套接有连接板，所述连接板的底部外壁上通过螺栓固定有两个横板，所述横板相对的一侧外壁上通过螺栓固定有同一个滑轨，滑轨的一侧外壁上滑动连接有滑块。本实用新型通过把手可以带动固定柱转动，通过移动滑块和下拉伸缩弹簧，可以将电笔移动至任何位置，便于对电路板上的分布在不同区域的半导体进行测试，使用方便。

Description

一种用于测试半导体的调节装置

技术领域

本实用新型涉及调节装置技术领域，尤其涉及一种用于测试半导体的调节装置。

背景技术

半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质，其电导率容易受控制，可作为信息处理的元件材料，利用半导体的电导率变化可以处理信息，常常应用在计算机、移动电话和数字录音机等等，半导体生产过程中需要使用到测试半导体的调节装置。

目前，市场上现有的用于测试半导体的调节装置，其在使用的过程中大多存在以下的不足：不便于移动测试装置对半导体电路等进行测试，综上，现有的大多数用于测试半导体的调节装置不能很好地契合实际需要。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于测试半导体的调节装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于测试半导体的调节装置，包括工作台，所述工作台的顶部外壁上开有矩形槽，所述矩形槽相对的两侧内壁上设有夹持机构，所述矩形槽其余两侧内壁上均粘接有橡胶垫，所述工作台的顶部外壁上通过螺栓固定有安装座，安装座的顶部内壁上转动插接有固定柱，所述固定柱的圆周外壁上套接有连接板，所述连接板的底部外壁上通过螺栓固定有两个横板，所述横板相对的一侧外壁上通过螺栓固定有同一个滑轨，滑轨的一侧外壁上滑动连接有滑块，所述滑块的底部外壁上通过螺栓固定有伸缩弹簧，伸缩弹簧的底部外壁上焊接有固定块，所述固定块的底部外壁上通过螺栓固定有电笔。

进一步的，所述固定块的一侧外壁上固定连接有控制把。

进一步的，所述固定柱的一侧外壁上固定连接有把手。

进一步的，所述夹持机构包括固定板和多个弹簧板，弹簧板通过螺栓固定在矩形槽的一侧内壁上，固定板通过螺栓固定在弹簧板的一端。

进一步的，所述固定板的一侧外壁上粘接有软垫。

进一步的，还包括支撑板和照明灯，所述支撑板固定连接在工作台顶部外壁的一侧，照明灯通过螺栓固定在支撑板的一侧外壁靠近顶部的位置。

本实用新型的有益效果为：

1.通过设置的固定柱、滑块和伸缩弹簧，通过把手可以带动固定柱转动，通过移动滑块和下拉伸缩弹簧，可以将电笔移动至任何位置，便于对电路板上的分布在不同区域的半导体进行测试，使用方便。

2.通过设置的弹簧板、固定板、软垫和橡胶垫，利用软垫和橡胶垫从四周对载有半导体的电路板进行夹持，避免采用硬质夹具夹持电路板而使电路板受到损伤。

3.通过设置的照明灯，可以提供照明，方便半导体测试的进行，该装置使用方便，满足人们的需求。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种用于测试半导体的调节装置实施例1的俯视结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种用于测试半导体的调节装置实施例1的局部立体结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种用于测试半导体的调节装置实施例2的俯视结构示意图。

图中：1-工作台、2-矩形槽、3-弹簧板、4-固定板、5-橡胶垫、6-软垫、7-连接板、8-固定柱、9-安装座、10-把手、11-横板、12-滑轨、13-滑块、14-伸缩弹簧、15-控制把、16-固定块、17-电笔、18-支撑板、19-照明灯。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。

实施例1

参照图1-2，一种用于测试半导体的调节装置，包括工作台1，工作台1的顶部外壁上开有矩形槽2，矩形槽2相对的两侧内壁上设有夹持机构，矩形槽2其余两侧内壁上均粘接有橡胶垫5，首先利用夹持机构和橡胶垫5相配合对载有半导体的电路板进行夹持，然后置于矩形槽2内，工作台1的顶部外壁上通过螺栓固定有安装座9，安装座9的顶部内壁上转动插接有固定柱8，固定柱8的圆周外壁上套接有连接板7，连接板7的底部外壁上通过螺栓固定有两个横板11，横板11相对的一侧外壁上通过螺栓固定有同一个滑轨12，滑轨12的一侧外壁上滑动连接有滑块13，滑块13的底部外壁上通过螺栓固定有伸缩弹簧14，伸缩弹簧14的底部外壁上焊接有固定块16，固定块16的底部外壁上通过螺栓固定有电笔17。

本实用新型中，固定块16的一侧外壁上固定连接有控制把15，固定柱8的一侧外壁上固定连接有把手10，然后根据半导体分布的位置，工作人员可以一手握住把手10，一手握住控制把15，从而调节固定柱8的角度，改变滑块13的位置，下拉伸缩弹簧14使得电笔17与电路板表面的半导体进行夹持，从而进行测试，夹持机构包括固定板4和多个弹簧板3，弹簧板3通过螺栓固定在矩形槽2的一侧内壁上，固定板4通过螺栓固定在弹簧板3的一端，固定板4的一侧外壁上粘接有软垫6。

工作原理：使用时，首先利用夹持机构和橡胶垫5相配合对载有半导体的电路板进行夹持，利用弹簧板3的压缩力对电路板进行夹持，然后置于矩形槽2内，然后根据半导体分布的位置，工作人员可以一手握住把手10，一手握住控制把15，从而调节固定柱8的角度，改变滑块13的位置，下拉伸缩弹簧14使得电笔17与电路板表面的半导体进行夹持，从而进行测试，因固定柱8、滑块13和伸缩弹簧14均可调节，使得电笔可以移动至电路板表面的任何位置，便于对分布在不同区域的半导体进行测试，使用简单方便。

实施例2

参照图3，一种用于测试半导体的调节装置，本实施例相较于实施例1，还包括支撑板18和照明灯19，支撑板18固定连接在工作台1顶部外壁的一侧，照明灯19通过螺栓固定在支撑板18的一侧外壁靠近顶部的位置。

工作原理：使用时，工作台1的一侧设有照明灯19，照明灯19可以提供照明，方便半导体测试工作的进行。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于测试半导体的调节装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)的顶部外壁上开有矩形槽(2)，所述矩形槽(2)相对的两侧内壁上设有夹持机构，所述矩形槽(2)其余两侧内壁上均粘接有橡胶垫(5)，所述工作台(1)的顶部外壁上通过螺栓固定有安装座(9)，安装座(9)的顶部内壁上转动插接有固定柱(8)，所述固定柱(8)的圆周外壁上套接有连接板(7)，所述连接板(7)的底部外壁上通过螺栓固定有两个横板(11)，所述横板(11)相对的一侧外壁上通过螺栓固定有同一个滑轨(12)，滑轨(12)的一侧外壁上滑动连接有滑块(13)，所述滑块(13)的底部外壁上通过螺栓固定有伸缩弹簧(14)，伸缩弹簧(14)的底部外壁上焊接有固定块(16)，所述固定块(16)的底部外壁上通过螺栓固定有电笔(17)。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述固定块(16)的一侧外壁上固定连接有控制把(15)。

3.根据权利要求1所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述固定柱(8)的一侧外壁上固定连接有把手(10)。

4.根据权利要求1所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述夹持机构包括固定板(4)和多个弹簧板(3)，弹簧板(3)通过螺栓固定在矩形槽(2)的一侧内壁上，固定板(4)通过螺栓固定在弹簧板(3)的一端。

5.根据权利要求4所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，所述固定板(4)的一侧外壁上粘接有软垫(6)。

6.根据权利要求1或2所述的一种用于测试半导体的调节装置，其特征在于，还包括支撑板(18)和照明灯(19)，所述支撑板(18)固定连接在工作台(1)顶部外壁的一侧，照明灯(19)通过螺栓固定在支撑板(18)的一侧外壁靠近顶部的位置。

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