CN218987760U - 一种便于送料的晶振片检测机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种便于送料的晶振片检测机,包括机架和传送带,所述机架上活动设置有下料斗,所述传送带的带面上设置有多个凸块,所述凸块受驱移动以驱使所述下料斗均匀下料。该实用新型提供的便于送料的晶振片检测机,在进行检测时,将待检测的晶振片放到下料斗中,传送带工作,带动其带面上的凸块移动,凸块抵推下料斗,使下料斗产生震动,方便下料斗将晶振片落到传送带上的凸块之间,凸块将晶振片隔开,方便传送带将晶振片单独传送到晶振片检测设备上,以便进行检测工作。
Description
技术领域
本实用新型涉及晶振片检测技术领域,具体来说涉及一种便于送料的晶振片检测机。
背景技术
晶振片是一种由多面体石英棒切割得到的薄薄的圆片,主要利用其压电性来将其做成多种电子元器件。
根据公开(公告)号CN206378545U,公开(公告)日2017.08.04,公开的晶振片检测机,其特征在于:包括机台,机台上设置有:弹匣式送料机构,用于将装有晶振片的载盘运送到入料工作位,入料传送机构,用于将位于入料工作位的晶振片吸取到分度机构上,电极检测机构,用于检测位于分度机构中的晶振片,抓取转送机构,用于将检测后的晶振片从分度机构吸取出并送到出料工作位,出料传送机构,用于将位于出料工作位的晶振片吸取到空载盘中,所述弹匣式送料机构包括送料匣及取料机构,该送料匣的两侧壁上相对设有若干支撑台,该支撑台用于支撑装有晶振片的载盘,且机台下方还安装有推动送料匣升降的升降驱动机构及驱动取料机构移动的平移驱动机构,所述升降驱动机构能够驱动送料匣升降而将载盘放置于取料机构上。该装置包括弹匣式送料机构,用于将装有晶振片的载盘运送到入料工作位,入料传送机构,用于将位于入料工作位的晶振片吸取到分度机构上,电极检测机构,用于检测位于分度机构中的晶振片,抓取转送机构,用于将检测后的晶振片从分度机构吸取出并送到出料工作位,出料传送机构,用于将位于出料工作位的晶振片吸取到空载盘中,通过上述机构能够实现晶振片的自动检测及收集,因而不仅降低了检测时间及需要的人工,而且可以保证晶振片不被划伤,从而也相应降低了企业的成本,提高了企业的生产效率,提升了产品在市场上的竞争力。
在包括上述专利的现有技术中,在对晶振片进行检测时,需要将晶振片分开,并单独进行检测,但晶振片的尺寸太小(厚0.23mm,直径13.98mm),常规分离手段难以将其完全分开。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种便于送料的晶振片检测机,旨在解决晶振片在检测时很难将其单独分开的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供一种便于送料的晶振片检测机,包括机架和传送带,所述机架上活动设置有下料斗,所述传送带的带面上设置有多个凸块,所述凸块受驱移动以驱使所述下料斗均匀下料。
作为优选,所述下料斗上设置有延伸至所述机架内部的榫块,所述机架上开设有与所述榫块适配的榫槽。
作为优选,所述下料斗包括下料部和储料部,所述下料部的内径与晶振片尺寸相同。
作为优选,所述下料部的内部活动设置有呈圆周阵列分布的滑杆。
作为优选,所述滑杆上设置有呈线性阵列分布且用于分隔晶振片的第一楔块。
作为优选,所述滑杆与所述下料部之间设置有弹簧。
作为优选,所述下料部的内部活动设置有活动环,所述活动环上设置有呈圆周阵列分布且用于抵推所述滑杆的第二楔块。
作为优选,所述滑杆上设置有与所述第二楔块适配的斜坡。
作为优选,所述下料部上对称活动设置有用于抵推所述第二楔块的第三楔块,所述第三楔块延伸至所述下料部外侧的部分上设置有斜坡。
作为优选,所述凸块包括倾斜部以及用于挤压所述第三楔块的抵推部,且所述抵推部的高度与晶振片的厚度相同。
在上述技术方案中,本实用新型提供的一种便于送料的晶振片检测机,具备以下有益效果:在进行检测时,将待检测的晶振片放到下料斗中,传送带工作,带动其带面上的凸块移动,凸块抵推下料斗,使下料斗产生震动,方便下料斗将晶振片落到传送带上的凸块之间,凸块将晶振片隔开,方便传送带将晶振片单独传送到晶振片检测设备上,以便进行检测工作。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的总体结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的内部结构示意图;
图3为图2中A处放大图。
附图标记说明:
1、机架;11、下料斗;12、下料部;121、第一楔块;122、滑杆;123、弹簧;13、活动环;131、第二楔块;132、第三楔块;14、榫块;15、储料部;2、传送带;21、凸块;22、抵推部;23、倾斜部。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。
如图1-3所示,一种便于送料的晶振片检测机,包括机架1和传送带2,机架1上活动设置有下料斗11,传送带2的带面上设置有多个凸块21,凸块21受驱移动以驱使下料斗11均匀下料。
上述技术方案中,在进行检测时,将待检测的晶振片放到下料斗11中,传送带2工作,带动其带面上的凸块21移动,凸块21抵推下料斗11,使下料斗11产生震动,方便下料斗11将晶振片落到传送带2上的凸块21之间,凸块21将晶振片隔开,方便传送带2将晶振片单独传送到晶振片检测设备上,以便进行检测工作。
作为本实用进一步提供的实施例,如图2-3所示,下料斗11上设置有延伸至机架1内部的榫块14,机架1上开设有与榫块14适配的榫槽,榫块14与榫槽配合引导下料斗11移动,下料斗11包括下料部12和储料部15,下料部12的内径与晶振片尺寸相同,下料部12的内部活动设置有呈圆周阵列分布的滑杆122,滑杆122上设置有呈线性阵列分布且用于分隔晶振片的第一楔块121,滑杆122与下料部12之间设置有弹簧123,下料部12的底部设置有斜坡;在进行检测时,将待检测的晶振片放到下料斗11中,晶振片从储料部15进入下料部12中,并被多个第一楔块121托着,使落到下料部12中的晶振片保持水平,此时传送带2工作,带动其带面上的凸块21移动,下料斗11沿着凸块21的倾斜部23向上移动,下料部12抵靠在凸块21的顶部,凸块21继续移动,该凸块21与下料部12分开,下料斗11在重力的作用下落到传传送带2上,并对其内部的晶振片产生震动,下料部12嵌入两个凸块21之间,两个凸块21的抵推部22配合挤压第三楔块132,第三楔块132抵推第二楔块131,带动活动环13转动,活动环13带动多个第二楔块131移动,并抵推滑杆122,使滑杆122带着第一楔块121向远离下料部12中心处的方向移动,第一楔块121缩到下料部12侧壁的内部,此时晶振片可以落到两个凸块21之间,凸块21继续移动,沿着下料部12下方的斜坡抵推下料部12向上移动,第三楔块132脱离凸块21的抵推部22,第一楔块121在弹簧123的抵推下插入下料部12中,将下料部12中的晶振片托起来,只留最下方的一片晶振片在传送带2上,凸块21将晶振片隔开,方便传送带2将晶振片单独传送到晶振片检测设备上,以便进行检测工作。
作为本实用进一步提供的再一个实施例,如图2-3所示,下料部12的内部活动设置有活动环13,活动环13上设置有呈圆周阵列分布且用于抵推滑杆122的第二楔块131,滑杆122上设置有与第二楔块131适配的斜坡,下料部12上对称活动设置有用于抵推第二楔块131的第三楔块132,第三楔块132延伸至下料部12外侧的部分上设置有斜坡,凸块21包括倾斜部23以及用于挤压第三楔块132的抵推部22,且抵推部22的高度与晶振片的厚度相同;在进行检测时,将待检测的晶振片放到下料斗11中,晶振片从储料部15进入下料部12中,并被多个第一楔块121托着,使落到下料部12中的晶振片保持水平,此时传送带2工作,带动其带面上的凸块21移动,下料斗11沿着凸块21的倾斜部23向上移动,下料部12抵靠在凸块21的顶部,凸块21继续移动,该凸块21与下料部12分开,下料斗11在重力的作用下落到传传送带2上,并对其内部的晶振片产生震动,下料部12嵌入两个凸块21之间,两个凸块21的抵推部22配合挤压第三楔块132,第三楔块132抵推第二楔块131,带动活动环13转动,活动环13带动多个第二楔块131移动,并抵推滑杆122,使滑杆122带着第一楔块121向远离下料部12中心处的方向移动,第一楔块121缩到下料部12侧壁的内部,此时晶振片可以落到两个凸块21之间,凸块21继续移动,沿着下料部12下方的斜坡抵推下料部12向上移动,第三楔块132脱离凸块21的抵推部22,第一楔块121在弹簧123的抵推下插入下料部12中,将下料部12中的晶振片托起来,只留最下方的一片晶振片在传送带2上,凸块21将晶振片隔开,方便传送带2将晶振片单独传送到晶振片检测设备上,以便进行检测工作。
以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例,毋庸置疑,对于本领域的普通技术人员,在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下,可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此,上述附图和描述在本质上是说明性的,不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。
Claims (10)
1.一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,包括机架(1)和传送带(2),所述机架(1)上活动设置有下料斗(11),所述传送带(2)的带面上设置有多个凸块(21),所述凸块(21)受驱移动以驱使所述下料斗(11)均匀下料。
2.根据权利要求1所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述下料斗(11)上设置有延伸至所述机架(1)内部的榫块(14),所述机架(1)上开设有与所述榫块(14)适配的榫槽。
3.根据权利要求1所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述下料斗(11)包括下料部(12)和储料部(15),所述下料部(12)的内径与晶振片尺寸相同。
4.根据权利要求3所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述下料部(12)的内部活动设置有呈圆周阵列分布的滑杆(122)。
5.根据权利要求4所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述滑杆(122)上设置有呈线性阵列分布且用于分隔晶振片的第一楔块(121)。
6.根据权利要求4所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述滑杆(122)与所述下料部(12)之间设置有弹簧(123)。
7.根据权利要求4所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述下料部(12)的内部活动设置有活动环(13),所述活动环(13)上设置有呈圆周阵列分布且用于抵推所述滑杆(122)的第二楔块(131)。
8.根据权利要求7所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述滑杆(122)上设置有与所述第二楔块(131)适配的斜坡。
9.根据权利要求7所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述下料部(12)上对称活动设置有用于抵推所述第二楔块(131)的第三楔块(132),所述第三楔块(132)延伸至所述下料部(12)外侧的部分上设置有斜坡。
10.根据权利要求9所述的一种便于送料的晶振片检测机,其特征在于,所述凸块(21)包括倾斜部(23)以及用于挤压所述第三楔块(132)的抵推部(22),且所述抵推部(22)的高度与晶振片的厚度相同。
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CN116625949A (zh) * | 2023-05-17 | 2023-08-22 | 重庆市鑫永佳五金制品有限公司 | 一种五金生产检测系统及检测方法 |
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