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CN215727631U - 检测装置 - Google Patents

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Publication number
CN215727631U
CN215727631U CN202122134858.5U CN202122134858U CN215727631U CN 215727631 U CN215727631 U CN 215727631U CN 202122134858 U CN202122134858 U CN 202122134858U CN 215727631 U CN215727631 U CN 215727631U
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
driving assembly
driving
assembly
workpiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202122134858.5U
Other languages
English (en)
Inventor
刘金杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Pujiekete Semiconductor Co ltd
Original Assignee
Kunshan Pujiekete Semiconductor Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan Pujiekete Semiconductor Co ltd filed Critical Kunshan Pujiekete Semiconductor Co ltd
Priority to CN202122134858.5U priority Critical patent/CN215727631U/zh
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Publication of CN215727631U publication Critical patent/CN215727631U/zh
Active legal-status Critical Current
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Abstract

本实用新型提供了一种检测装置,包括承载件、驱动机构及检测机构,所述承载件用于承载工件,所述驱动机构用于驱动所述承载件移动以靠近所述检测机构,所述检测机构用于检测所述工件。所述检测装置能够代替人工对工件进行检测。

Description

检测装置
技术领域
本实用新型涉及检测领域,具体而言,涉及一种检测装置。
背景技术
现在的芯片金线的外观检测是人工在显微镜目视检测,这种方式生产效率低、消耗人力、品质不稳定、易造成漏检、二次污染、及作业过程中造成产品损伤。
发明内容
本实用新型实施例提供了一种检测装置,以至少解决人工检测带来的问题。
本实用新型实施例提供了一种检测装置,包括承载件、驱动机构及检测机构,所述承载件用于承载工件,所述驱动机构用于驱动所述承载件移动以靠近所述检测机构,所述检测机构用于检测所述工件。
进一步地,所述述承载件包括吸附座及定位架,所述定位架设于所述吸附座用于定位工件,所述吸附座用于吸附工件进行固定。
进一步地,所述驱动机构包括第一驱动组件及第二驱动组件,所述第一驱动组件连接所述第二驱动组件以驱动其沿第一方向移动,所述第二驱动组件连接所述吸附座以驱动其沿第二方向移动,所述第一方向与第二方向在水平面内相垂直。
进一步地,所述检测机构包括第三驱动组件及检测组件,所述第三驱动组件连接所述检测组件以驱动其沿第三方向移动,所述第三方向为垂直水平面的方向。
进一步地,所述检测组件为自动光学检测设备。
有益效果
本实用新型的检测装置通过承载件承载工件,通过驱动机构驱动所述承载件移动以靠近检测机构,并通过检测机构检测所述工件,可以代替人工对工件进行检测。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本实用新型的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1是根据本实用新型实施例的检测装置的立体示意图。
图2是图1的检测装置在移除上机罩后的立体示意图。
图3是图2的检测装置在移除上机罩后的另一角度的立体示意图。
图中数字或字母所代表的零部件名称为:
100、检测装置;10、机台;11、下机座;12、上机罩;121、进料区;123、控制按钮;13、显示屏;14、指示灯;30、承载件;32、吸附座;34、定位架;50、驱动机构;51、第一驱动组件;53、第二驱动组件;70、检测机构;72、第三驱动组件;74、检测组件。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。需要说明的是,在不冲突的情况下,本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是,本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
请参见图1至图3,本实用新型实施例提供一种检测装置100。检测装置100包括机台10、设于所述机台10内的承载件30、驱动机构50及检测机构70。
所述机台10包括下机座11、上机罩12、显示屏13及指示灯14。上机罩12设有进料区121及控制按钮123。
所述承载件30用于承载工件。所述驱动机构50用于驱动所述承载件30移动以靠近所述检测机构70,所述检测机构70用于检测所述工件。
所述述承载件30包括吸附座32及定位架34。所述定位架34设于所述吸附座32用于定位工件。所述吸附座32用于吸附工件进行固定。
所述驱动机构50包括第一驱动组件51及第二驱动组件53。所述第一驱动组件51设于所述机台10。所述第一驱动组件51连接第二驱动组件53以驱动其沿第一方向移动。所述第二驱动组件53连接所述吸附座32以驱动其沿第二方向移动。所述第一方向与第二方向在水平面内相垂直。
在图示实施例中,所述第一驱动组件51及第二驱动组件53为为直线模组,但不限于此,在其他实施例中,所述第一驱动组件51及第二驱动组件53还可以是气缸、油缸、直线电机等。
检测机构70包括第三驱动组件72及检测组件74。所述第三驱动组件72设于所述机台10。所述第三驱动组件72连接所述检测组件74以驱动其沿第三方向移动。第三方向为垂直水平面的方向。
所述检测组件74为自动光学检测设备。所述检测组件74用于检测工件的外观。所述检测组件74能够检测芯片金线的Lead金球偏移、pad金球偏移、断路、短路、塌线、漏打线、重线、残金线等外观不良。
检测装置100在使用时:测试人员将工件放置在承载件30上,按下启动按钮,驱动机构50将承载件30运送至检测机构70。检测机构70对产品外观检测,系统软件根据算法计算检测结果并输出到显示屏上或传输MES系统。检测完成后,承载件30自动运动到上下料作业区域,人工取走检测完的成品。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种检测装置,其特征在于:包括承载件、驱动机构及检测机构,所述承载件用于承载工件,所述驱动机构用于驱动所述承载件移动以靠近所述检测机构,所述检测机构用于检测所述工件。
2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述承载件包括吸附座及定位架,所述定位架设于所述吸附座用于定位工件,所述吸附座用于吸附工件进行固定。
3.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于:所述驱动机构包括第一驱动组件及第二驱动组件,所述第一驱动组件连接所述第二驱动组件以驱动其沿第一方向移动,所述第二驱动组件连接所述吸附座以驱动其沿第二方向移动,所述第一方向与第二方向在水平面内相垂直。
4.如权利要求3所述的检测装置,其特征在于:所述检测机构包括第三驱动组件及检测组件,所述第三驱动组件连接所述检测组件以驱动其沿第三方向移动,所述第三方向为垂直水平面的方向。
5.如权利要求4所述的检测装置,其特征在于:所述检测组件为自动光学检测设备。
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