CN215493959U - 一种兼容esim卡和实体sim卡的测试装置 - Google Patents
一种兼容esim卡和实体sim卡的测试装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型适用于电子电路技术领域,提供了一种兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,包括控制主板、集成在控制主板上的ESIM芯片、实体SIM卡卡座和跳线电阻;所述ESIM芯片包括第一电源信号脚,第一地信号脚,第一复位信号脚,第一时钟信号脚和第一数据信号脚;所述实体SIM卡卡座包括检测开关、第二电源信号脚,第二地信号脚,第二复位信号脚,第二时钟信号脚和第二数据信号脚;实体SIM卡不插入所述实体SIM卡卡座时,所述检测开关导通,以识别ESIM卡;实体SIM卡插入所述实体SIM卡卡座时,所述检测开关不导通,以识别实体SIM卡。通过本实用新型可以在较低的成本要求下,便捷的切换ESIM卡和实体SIM卡进行测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子电路技术领域,尤其涉及一种兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置。
背景技术
当今社会电子产品越来越多的产品都选择了ESIM(Embedded-SIM,嵌入式SIM)卡设计,但是在研发过程中,有时候为了测试方便还是会使用实体SIM(Subscriber IdentityModule,用户身份识别)卡测试。为了解决上述问题,目前常规的设计有如下两种:
1.如图1所示,作为一种常规的兼容ESIM卡和实体SIM的电路结构,其选择几组跳线电阻来选择切换ESIM卡或者实体SIM卡网络连接。但是,使用这种电路结构进行ESIM卡到实体SIM卡的测试切换或实体SIM卡到ESIM卡的测试切换时,要针对主板进行返工变更,操作繁琐、难度较高;
2. 如图2所述,作为另一种常规的兼容ESIM卡和实体SIM的电路结构,其通过一个开关切换芯片来自动选择切换ESIM卡或者实体SIM卡网络连接。但是,开关切换芯片成本较高,即使量产不用需要使用实体SIM卡的时候,开关切换芯片也必须要使用,增加了最终的产品成本。
因此,现在亟需一种新的测试装置,在实现便捷切换ESIM卡和实体SIM卡的同时降低产品成本。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提出一种兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,以解决现有技术中兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置的电路结构,在较低的成本要求下,不能实现便捷的切换ESIM卡和实体SIM卡的问题。
为实现上述目的,本实用新型实施例第一方面提供一种兼容ESIM卡和实体SIM的测试装置,包括控制主板、集成在所述控制主板上的ESIM芯片、实体SIM卡卡座和跳线电阻;
所述ESIM芯片包括第一电源信号脚,第一地信号脚,第一复位信号脚,第一时钟信号脚和第一数据信号脚;
所述实体SIM卡卡座包括检测开关、第二电源信号脚,第二地信号脚,第二复位信号脚,第二时钟信号脚和第二数据信号脚;所述检测开关与所述第二数据信号脚和所述第一数据信号脚连接;所述跳线电阻的一端与所述第一数据信号脚连接,另一端与所述第二数据信号脚连接;
所述控制主板输出SIM电源信号、SIM地信号、SIM复位信号、SIM时钟信号和SIM数据传输信号;
所述SIM电源信号同时连接到所述第一电源信号脚和所述第二电源信号脚;所述SIM地信号同时连接到所述第一地信号脚和所述第二地信号脚;所述SIM复位信号同时连接到所述第一复位信号脚和所述第二复位信号脚;所述SIM时钟信号同时连接到所述第一时钟信号脚和所述第二时钟信号脚;所述数据传输信号同时连接到所述第二数据信号脚以及跳线电阻一端与所述第二数据信号脚连接的一端;
实体SIM卡不插入所述实体SIM卡卡座时,所述检测开关导通,以识别ESIM卡;实体SIM卡插入所述实体SIM卡卡座时,所述检测开关不导通,以识别实体SIM卡。
可选地,所述ESIM芯片和实体SIM卡卡座均为贴器件。
可选地,所述跳线电阻为不贴器件。
可选地,所述ESIM芯片为贴器件,实体SIM卡卡座为不贴器件。
可选地,所述跳线电阻为贴器件。
可选地,所述跳线电阻的阻值为0。
本实用新型实施例提出一种兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,通过控制主板连接ESIM芯片、实体SIM卡卡座中属性相同的电源信号脚、地信号脚、复位信号脚和时钟信号脚,通过实体SIM卡卡座的检测开关和跳线电阻关联ESIM芯片的第一数据信号脚和实体SIM卡卡座的第二数据信号脚,实现ESIM卡和实体SIM的测试兼容,电路结构简单,成本低。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的一种常规的兼容ESIM卡和实体SIM的电路结构;
图2为本实用新型实施例提供的另一种常规的兼容ESIM卡和实体SIM的电路结构;
图3为本实用新型实施例提供的兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置的电路结构。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
在本文中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本实用新型的说明,其本身并没有特定的意义。因此,"模块"与"部件"可以混合地使用。
如图3所示,本实用新型实施例提供一种兼容ESIM卡和实体SIM的测试装置100,包括控制主板10、集成在控制主板10上的ESIM芯片20、实体SIM卡卡座30和跳线电阻40。且本实施例中,较好的方案是,跳线电阻40的阻值为0。
ESIM芯片20包括接收电源信号的第一电源信号脚21,接收地信号的第一地信号脚22,接收复位信号的第一复位信号脚23,接收时钟信号的第一时钟信号脚24和接收数据传输信号的第一数据信号脚25。
实体SIM卡卡座30包括检测开关31、接收电源信号的第二电源信号脚32,接收地信号的第二地信号脚33,接收复位信号的第二复位信号脚34,接收时钟信号的第二时钟信号脚35和接收数据传输信号的第二数据信号脚36;检测开关31与第二数据信号脚36和第一数据信号脚25连接;跳线电阻40的一端与第一数据信号脚25连接,另一端与第二数据信号脚36连接。其中,检测开关31为双引脚结构,即未插入实体SIM卡时,检测开关的两个引脚连接在一起,插入实体SIM卡后,检测开关的两个引脚断开。
控制主板10输出SIM电源信号、SIM地信号、SIM复位信号、SIM时钟信号和SIM数据传输信号,SIM电源信号同时连接到第一电源信号脚21和第二电源信号脚32;SIM地信号同时连接到第一地信号脚22和第二地信号脚33;SIM复位信号同时连接到第一复位信号脚23和第二复位信号脚34;SIM时钟信号同时连接到第一时钟信号脚24和第二时钟信号脚35;数据传输信号同时连接到第二数据信号脚36以及跳线电阻40与第二数据信号脚36连接的一端。
在具体应用中,控制主板10输出电源信号、地信号、复位信号和数据传输信号,但本实用新型实施例中,控制主板10输出的电源信号均为SIM电源信号、地信号均为SIM地信号、复位信号均为SIM复位信号、时钟信号均为SIM时钟信号和数据传输信号均为SIM数据传输信号,因此,本实用新型实施例中,通过控制主板10连接ESIM芯片20、实体SIM卡卡座30中属性相同的电源信号脚、地信号脚、时钟信号脚和复位信号脚,通过跳线电阻40关联ESIM芯片20的第一数据信号脚25和实体SIM卡卡座30的第二数据信号脚36,实现ESIM卡和实体SIM的测试兼容,电路结构简单,成本低。
实体SIM卡不插入实体SIM卡卡座30时,检测开关31导通,控制主板10输出的SIM数据传输信号通过检测开关31直接连接到ESIM芯片20的第一数据信号脚25,此时,加上控制主板10与实体SIM卡卡座30第二电源信号脚32、第二地信号脚33、第二复位信号脚34和第二时钟信号脚35连接的同时,与ESIM芯片20的第一电源信号脚21、第一地信号脚22、第一复位信号脚23和第一时钟信号脚24连接,从而实现了ESIM芯片20的第一数据信号脚25、第一电源信号脚21、第一地信号脚22、第一复位信号脚23和第一时钟信号脚24与控制主板10的连接,可知ESIM芯片20能够接收到数据传输信号、电源信号、地信号、复位信号和时钟信号,从而本实用新型实施例提供的兼容ESIM卡和实体SIM的测试装置100,可以成功识别到ESIM卡。
实体SIM卡插入实体SIM卡卡座30时,检测开关31不导通,此时ESIM芯片20无法与控制主板10进行各数据信号的传输,因而ESIM卡无法识别成功,而实体SIM卡卡座30的五个信号脚,即第二电源信号脚32,第二地信号脚33,第二复位信号脚34,第二时钟信号脚35和第二数据信号脚36,均可以与控制主板10连接成功,从而本实用新型实施例提供的兼容ESIM卡和实体SIM的测试装置100,可以正确识别到实体SIM卡,便于使用实体SIM卡的测试。
在本实用新型实施例中,ESIM芯片和实体SIM卡卡座均为贴器件,跳线电阻为不贴器件。
而在具体应用中,电子产品量产阶段时,上述的跳线电阻选择贴器件,ESIM卡芯片选择贴器件,实体SIM卡座选择不贴器件。
需要说明的是,贴器件供用户选择是否ESIM芯片贴片和插入实体SIM卡,不贴器件表示元器件,如ESIM芯片、实体SIM卡卡座和跳线电阻中的任意一种或多种,与控制主板一体成型。
以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种兼容ESIM卡和实体SIM的测试装置,其特征在于,包括控制主板、集成在所述控制主板上的ESIM芯片、实体SIM卡卡座和跳线电阻;
所述ESIM芯片包括第一电源信号脚,第一地信号脚,第一复位信号脚,第一时钟信号脚和第一数据信号脚;所述实体SIM卡卡座包括检测开关、第二电源信号脚,第二地信号脚,第二复位信号脚,第二时钟信号脚和第二数据信号脚;所述检测开关与所述第二数据信号脚和所述第一数据信号脚连接;所述跳线电阻的一端与所述第一数据信号脚连接,另一端与所述第二数据信号脚连接;
所述控制主板输出SIM电源信号、SIM地信号、SIM复位信号、SIM时钟信号和SIM数据传输信号;
所述SIM电源信号同时连接到所述第一电源信号脚和所述第二电源信号脚;所述SIM地信号同时连接到所述第一地信号脚和所述第二地信号脚;所述SIM复位信号同时连接到所述第一复位信号脚和所述第二复位信号脚;所述SIM时钟信号同时连接到所述第一时钟信号脚和所述第二时钟信号脚;所述数据传输信号同时连接到所述第二数据信号脚以及跳线电阻一端与所述第二数据信号脚连接的一端;
实体SIM卡不插入所述实体SIM卡卡座时,所述检测开关导通,以识别ESIM卡;实体SIM卡插入所述实体SIM卡卡座时,所述检测开关不导通,以识别实体SIM卡。
2.如权利要求1所述的兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,其特征在于,所述ESIM芯片和实体SIM卡卡座均为贴器件。
3.如权利要求2所述的兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,其特征在于,所述跳线电阻为不贴器件。
4.如权利要求1所述的兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,其特征在于,所述ESIM芯片为贴器件,实体SIM卡卡座为不贴器件。
5.如权利要求4所述的兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,其特征在于,所述跳线电阻为贴器件。
6.如权利要求1所述的兼容ESIM卡和实体SIM卡的测试装置,其特征在于,所述跳线电阻的阻值为0。
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CP01 | Change in the name or title of a patent holder |