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CN214761137U - 一种狭缝成像焦点测量卡 - Google Patents

一种狭缝成像焦点测量卡 Download PDF

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CN214761137U
CN214761137U CN202120950705.5U CN202120950705U CN214761137U CN 214761137 U CN214761137 U CN 214761137U CN 202120950705 U CN202120950705 U CN 202120950705U CN 214761137 U CN214761137 U CN 214761137U
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CN
China
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slit
measuring
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card
measurement
Prior art date
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Active
Application number
CN202120950705.5U
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English (en)
Inventor
宋俊峰
程远达
卢铜锁
史卓
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Chaoyang District Center For Disease Control And Prevention
Cancer Hospital and Institute of CAMS and PUMC
Original Assignee
Beijing Chaoyang District Center For Disease Control And Prevention
Cancer Hospital and Institute of CAMS and PUMC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Beijing Chaoyang District Center For Disease Control And Prevention, Cancer Hospital and Institute of CAMS and PUMC filed Critical Beijing Chaoyang District Center For Disease Control And Prevention
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Abstract

本实用新型公开了一种狭缝成像焦点测量卡,包括测量卡本体,测量卡本体上开设有狭缝和定位孔,狭缝有多个,多个狭缝均匀分布在测量卡本体上且位于正中间的狭缝两侧均设置有至少一个定位孔。本实用新型属于检测装置技术领域,本实用新型的目的在于解决现有技术中测量装置测量效果不好的问题。达到的技术效果为:通过多狭缝的设置使得本测量卡实现了较好的测量效果。

Description

一种狭缝成像焦点测量卡
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域,具体涉及一种狭缝成像焦点测量卡。
背景技术
传统焦点测量有单孔成像法、单狭缝成像法和星卡测量法三种:
星卡测量法使用单药膜X射线胶平和暗室化学加工方法;X射线数字成像时代,因成像板高对比分辨率低不适用微小焦点成像测量。
单孔焦点测量因工艺复杂仅在实验室实用,有标准,因难以实现射线中心对准,很难见到可用产品。
自动单狭缝焦点测量有国外和国内产品,医院X射线设备现场测量可行;但因没有提供良好的射线对中心方案,时常出现测量失败或偏差过大。且测量过程不显示图像。
上述测量方法及对焦点尺寸测量为目的,均无法进行X射线焦点特性及射线分布特性。
实用新型内容
为此,本实用新型提供一种狭缝成像焦点测量卡,以解决现有技术中的上述问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
根据本实用新型的第一方面,一种狭缝成像焦点测量卡,包括测量卡本体,测量卡本体上开设有狭缝和定位孔,狭缝有多个,多个狭缝均匀分布在测量卡本体上且位于正中间的狭缝两侧均设置有至少一个定位孔。
进一步地,狭缝的形状为矩形。
进一步地,狭缝的宽度范围在0.005mm至0.1mm之间的任意值。
进一步地,狭缝与其相邻的狭缝之间的距离范围在2mm至20mm之间的任意值。
进一步地,定位孔的形状为圆形、矩形、平行四边形或椭圆形中的一种。
进一步地,定位孔的形状为圆形,定位孔的直径范围在0.02mm至0.3mm之间的任意值。
进一步地,测量卡本体的厚度范围在0.02mm至0.25mm之间的任意值。
进一步地,多个狭缝之间相互平行。
进一步地,测量卡本体为金属制成。
本实用新型具有如下优点:通过多个狭缝的设置使得本测量卡实现了以下功能,第一、显示射线主副焦点特性的双边效应;第二、显示反射靶X射线管长轴方向阳极效应,阳极端有效焦点狭缝窄小,阴极端有效焦点狭缝宽;第三、多狭缝成像焦点测量卡不仅可以将显示的X射线分布特性,X射线管焦点特性。此外,本测量卡可以在有辅助方案的情况下解决有效焦点X射线中心线垂直经过测量卡中位于中间的狭缝中心,并且垂直到达X射线数字成像板的技术难点,从而实现现场准确测量X射线管焦点的功能。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型的实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是示例性的,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本实用新型可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1为本实用新型一些实施例提供的一种狭缝成像焦点测量卡的第一视图。
图2为本实用新型一些实施例提供的一种狭缝成像焦点测量卡的第二视图。
图中:1、测量卡本体,2、狭缝,3、框架,4、定位孔。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1至图2所示,本实用新型第一方面实施例中的一种狭缝成像焦点测量卡,包括测量卡本体1,测量卡本体1上开设有狭缝2和定位孔4,狭缝2有多个,多个狭缝2均匀分布在测量卡本体1上且位于正中间的狭缝2两侧均设置有至少一个定位孔4。
在上述实施例中,需要说明的是,定位孔4的形状为矩形或圆形等形状。
上述实施例达到的技术效果为:通过多个狭缝2的设置使得本测量卡实现了以下功能,第一、显示射线主副焦点特性的双边效应;第二、显示反射靶X射线管长轴方向阳极效应,阳极端有效焦点狭缝窄小,阴极端有效焦点狭缝宽;第三、多狭缝成像焦点测量卡不仅可以将显示的X射线分布特性,X射线管焦点特性。此外,本测量卡可以在有辅助方案的情况下解决有效焦点X射线中心线垂直经过测量卡中位于中间的狭缝2的中心,并且垂直到达X射线数字成像板的技术难点,从而实现现场准确测量X射线管焦点的功能。
具体的,当本测量卡使用原设备模拟灯光定位中心射线时,通过已知X射线管阳极倾角、放大倍数与距离、多狭缝板下缝间距等信息,再经数学运算仍可实现X射线管焦点尺寸的精准测量。
进一步的,还包括框架3,框架3设置于测量卡本体1的外周侧。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,狭缝2的形状为矩形。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,多个狭缝2之间的长度方向的延长线相互平行。
上述可选的实施例的有益效果为:狭缝2为矩形的设置可方便加工。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,狭缝2的宽度范围在0.005mm至0.1mm之间的任意值。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,优选的狭缝2的宽度为0.05mm。
上述可选的实施例的有益效果为:狭缝2如此宽度范围的设置是焦点测量效果最好的情况。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,狭缝2与其相邻的狭缝2之间的距离范围在2mm至20mm之间的任意值。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,具体的,狭缝2与其相邻的狭缝2之间的距离为5mm。
上述可选的实施例的有益效果为:狭缝2与其相邻的狭缝2之间的距离范围的设置在保证使用效果的同时可以尽可能降低加工难度。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,定位孔4的形状为圆形、矩形、平行四边形或椭圆形中的一种。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,优选的,定位孔4的形状为圆形。
上述可选的实施例的有益效果为:定位孔4的设置可保证本测量卡轻松的重复测量时准确确定位置。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,定位孔4的形状为圆形,定位孔4的直径范围在0.02mm至0.3mm之间的任意值。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,优选的,定位孔4的直径为0.3mm。
上述可选的实施例的有益效果为:通过定位孔4的尺寸及形状的限定在保证本测量卡使用效果的同时还可保证本测量卡定位孔连线确定测量狭缝中心位置易于识别。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,测量卡本体1的厚度范围在0.02mm至0.25mm之间的任意值。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,优选的,测量卡本体1的厚度为0.05mm。
上述可选的实施例的有益效果为:通过测量卡本体1厚度范围的设置减少几何半影对图像测量准确性的影响。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,多个所述狭缝(2)之间相互平行。
上述可选的实施例的有益效果为:通过十字刻度线的设置可直观的看到本测量卡是否对中,进而降低了本测量卡使用的难度。
可选的,如图1至图2所示,在一些实施例中,多个狭缝2之间相互平行。
在上述可选的实施例中,需要说明的是,优选的,测量卡本体1为高原子叙述金属制成。
更优的,测量卡本体1为金属箔制成。
上述可选的实施例的有益效果为:箔可减少射线穿透金属层产生的半影影像,进而保证了狭缝宽度测量的精度。
根据本实用新型的第二方面,一种狭缝成像焦点测量卡的测量方法,使用如本发明的第一方面实施例的一种狭缝成像焦点测量卡,包括以下步骤:
步骤1:DR图像接受板放置检查床或专用支架下方平台上,调整射线模拟照射野中心线对准图像接受板中心;再使用双向数显水平仪调整图像接受板或支架平台,使图像接受板达到水平;
步骤2:在图像接受板表面放置准直度测量板,使准直度测量板中心与图像接受器中心保持一致,并挤压固定,用于更换测量卡重复效证;再将线束准直检测筒放置到准直度测量板中心,检测筒下方钢珠正对准直度测量板中心;
步骤3:调整诊断X射线DR设备的照射条件,进行第一次射线照射;照射后观察影像检测筒上下钢珠是否重合,如不重合参照偏差的估值和标尺整体移动图像接受板,然后进行第二次射线照射,重复检查和执行,直到准直筒上下钢珠重合;
步骤4:将多狭缝成像测量卡加载到位于射线束光器输出口或支撑平台水平架中心位置并调整测量卡位置,进行射线照射,观察图像中测量卡本体1上的其中两个定位孔的连线与位于中心的狭缝交叉点是否与准直板及检测筒中心点重合;如不重合,参考偏差程度调整测量卡在水平支架的位置并且再次射线照射,继续观察图像中两个定位孔的连线与位于中心的狭缝交叉点是否与准直板及检测筒中心点重合;直至两个定位孔的连线与位于中心的狭缝交叉点与准直板和检测筒中心重合;
步骤5:移开准直度测量板和影像检测筒,进行测量卡摄影;
步骤6:将准直度测量板和影像检测筒复位,狭缝成像焦点测量卡水平旋转90度,重复步骤4和步骤5;
步骤7:观察及拷贝两幅Dicom格式图像;
步骤8:使用图像处理软件分别对长轴方向和短轴方向,中心的狭缝与两个定位孔的连线交叉位置的狭缝宽度测量;再除以放大倍数,分别取得长轴方向和短轴方向的有效焦点尺寸;
步骤9:用DR系统图像及软件分别测量图像长轴与短轴方向,再除以放大倍数,分别取得长轴与短轴方向的有效焦点尺寸。
虽然,上文中已经用一般性说明及具体实施例对本实用新型作了详尽的描述,但在本实用新型基础上,可以对之作一些修改或改进,这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此,在不偏离本实用新型精神的基础上所做的这些修改或改进,均属于本实用新型要求保护的范围。
本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本实用新型可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本实用新型可实施的范畴。

Claims (9)

1.一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,包括测量卡本体(1),所述测量卡本体(1)上开设有狭缝(2)和定位孔(4),所述狭缝(2)有多个,多个所述狭缝(2)均匀分布在所述测量卡本体(1)上且位于正中间的所述狭缝(2)两侧均设置有至少一个所述定位孔(4)。
2.根据权利要求1所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述狭缝(2)的形状为矩形。
3.根据权利要求2所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述狭缝(2)的宽度范围在0.005mm至0.1mm之间的任意值。
4.根据权利要求1所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述狭缝(2)与其相邻的所述狭缝(2)之间的距离范围在2mm至20mm之间的任意值。
5.根据权利要求1所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述定位孔(4)的形状为圆形、矩形、平行四边形或椭圆形中的一种。
6.根据权利要求5所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述定位孔(4)的形状为圆形,所述定位孔(4)的直径范围在0.02mm至0.1mm之间的任意值。
7.根据权利要求1所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述测量卡本体(1)的厚度范围在0.02mm至0.25mm之间的任意值。
8.根据权利要求1所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,多个所述狭缝(2)之间相互平行。
9.根据权利要求1所述的一种狭缝成像焦点测量卡,其特征在于,所述测量卡本体(1)为金属制成。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113143302A (zh) * 2021-05-06 2021-07-23 中国医学科学院肿瘤医院 一种狭缝成像焦点测量卡及测量方法

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