CN207556520U - 回转体平面度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种回转体平面度检测装置，它包括用于放置被检测回转体的旋转平台、位于旋转平台上方并可沿Z轴方向移动的检测台、连接在检测台上的至少四个测量传感器、与至少四个测量传感器分别连接的处理控制模块，检测台至少具有等待位置和检测位置，当检测台处于检测位置时，测量传感器的下端抵在回转体的被检测平面上，等待位置位于检测位置的上方，四个测量传感器包括沿X轴方向排列的第一传感器和第二传感器、沿Y轴方向排列的第三传感器和第四传感器。本实用新型回转体平面度检测装置，能够准确地测量回转体端面的平面度，本装置设计合理、结构紧凑、操作方便，测量准确。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种回转体平面度检测装置，应用于回转体的平面度检测。
背景技术
在工业生产中，因制造过程中杂质残留、刮伤或生产工艺等原因，有时会出现表面平整度不佳的问题，特别是呈回转体的零部件，表面平整度不佳的情况更是时有发生，对整个部件的品质产生很大的影响，如马达转子及磁环。因此对于回转体的平面度检测尤为重要，以确保产品的品质。
实用新型内容
为了解决现有技术中的问题，本实用新型的目的是提供一种回转体平面度检测装置。
为了达到上述目的，本实用新型提供了一种回转体平面度检测装置，它包括用于放置被检测回转体的旋转平台、驱动旋转平台绕Z轴转动的第一驱动机构、位于旋转平台上方并可沿Z轴方向移动的检测台、驱动检测台移动的第二驱动机构、连接在检测台上的至少四个测量传感器、与至少四个测量传感器分别连接的处理控制模块，检测台至少具有等待位置和检测位置，当检测台处于检测位置时，测量传感器的下端抵在回转体的被检测平面上，等待位置位于检测位置的上方，四个测量传感器包括沿X轴方向排列的第一传感器和第二传感器、沿Y轴方向排列的第三传感器和第四传感器，第一传感器至回转体的中心轴线的距离大于第二传感器至回转体的中心轴线的距离，第三传感器至回转体的中心轴线的距离大于第四传感器至回转体的中心轴线的距离，X轴、Y轴、Z轴组成空间直角坐标系。
进一步地，第一传感器、第二传感器、第三传感器、第四传感器的底部均连接有滚轮，且滚轮的轴线垂直于回转体的中心轴线。
进一步地，第一传感器、第二传感器、第三传感器、第四传感器均沿Z轴方向设置。
进一步地，处理控制模块为PLC。
进一步地，当所述被检测平面为环形时，第一传感器和第三传感器至外圈的距离小于外圈至内圈距离的三分之一，第二传感器和第四传感器至内圈的距离小于外圈至内圈距离的三分之一。
进一步地，当被检测平面为圆形时，第一传感器和第三传感器至外圈的距离小于外圈至圆心距离的三分之一，第二传感器和第四传感器至圆心的距离小于外圈至圆心距离的三分之一。
进一步地，检测台上设置有限制回转体在X轴、Y轴、Z轴方向上位移的固定装置。
进一步地，每个测量传感器与检测台之间可沿Z轴方向移动地连接，且每个测量传感器与检测台之间具有对该测量传感器施加沿Z轴向下的力的弹性机构。
进一步地，第一驱动机构和第二驱动机构各分别包括一伺服电机。
由于采用了上述技术方案，本实用新型回转体平面度检测装置，能够准确地测量回转体端面的平面度，本装置设计合理、结构紧凑、操作方便，测量准确。
附图说明
附图1为本实用新型回转体平面度检测装置的结构示意图；
附图2为实施例中回转体的被检测表面示意图；
附图3为实施例中被检测回转体的结构示意图。
图中标号为：
1、旋转平台；2、检测台；3、第一驱动机构；4、第二驱动机构；5、第一传感器；6、第二传感器；7、第三传感器；8、第四传感器；9、滚轮；10、马达转子；11、磁环；111、内圈；112、外圈。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解。
参见附图1至附图3，本实施例中的回转体平面度检测装置，它包括用于放置被检测回转体的旋转平台1、驱动旋转平台1绕Z轴转动的第一驱动机构3、位于旋转平台1上方并可沿Z轴方向移动的检测台2、驱动检测台2移动的第二驱动机构4、连接在检测台2上的至少四个测量传感器、与至少四个测量传感器分别连接的处理控制模块。本实施例中，处理控制模块为PLC。
在一种更为优选的实施方案中，第一驱动机构3包括伺服电机，旋转平台1的旋转速度和旋转角度可通过触摸屏或工控电脑设置；第二驱动机构4也包括一伺服电机，本实施例中，一伺服电机通过丝杆驱动检测台2移动，检测台2的移动位置和移动速度也均可通过触摸屏或工控电脑进行设置。
检测台2上设置有限制回转体在X轴、Y轴、Z轴方向上位移的固定装置。
检测台2至少具有等待位置和检测位置，当检测台2处于检测位置时，测量传感器的下端抵在回转体的被检测平面上，等待位置位于检测位置的上方。在一种更为优选的实施方案中，每个测量传感器与检测台2之间可沿Z轴方向移动地连接，且每个测量传感器与检测台2之间具有对该测量传感器施加沿Z轴向下的力的弹性机构，从而防止检测台2下压力度过大而损坏测量传感器。
四个测量传感器包括沿X轴方向排列的第一传感器5和第二传感器6、沿Y轴方向排列的第三传感器7和第四传感器8，第一传感器5至回转体的中心轴线的距离大于第二传感器6至回转体的中心轴线的距离，第三传感器7至回转体的中心轴线的距离大于第四传感器8至回转体的中心轴线的距离。上述的X轴、Y轴、Z轴组成空间直角坐标系。
当所述被检测平面为环形时，第一传感器5和第三传感器6至外圈的距离小于外圈至内圈距离的三分之一，第二传感器7和第四传感器8至内圈的距离小于外圈至内圈距离的三分之一。
当被检测平面为圆形时，第一传感器5和第三传感器6至外圈的距离小于外圈至圆心距离的三分之一，第二传感器7和第四传感器8至圆心的距离小于外圈至圆心距离的三分之一。
更优地，第一传感器5、第二传感器6、第三传感器7、第四传感器8的底部均连接有滚轮9，且滚轮9的轴线垂直于回转体的中心轴线，通过设置滚轮9，使传感器与被检测平面之间由华东摩擦变为滚动摩擦，从而减小了检测过程中的摩擦阻力。
第一传感器5、第二传感器6、第三传感器7、第四传感器8均沿Z轴方向设置。
本回转体平面度检测装置工作原理：
本实施例给出了一种被检测的回转体，为马达转子10及磁环11，如附图2和附图3所示，进行检测时，首先将被检测回转体放置于旋转平台1上，第二驱动机构4驱动检测台2向下移动至检测位置，测量传感器抵在被检测平面上，同时固定装置限制被检测回转体在X、Y、Z方向上的移动，第一驱动机构3驱动旋转平台1带动被检测回转体绕Z轴转动，测量传感器的下端在被检测平面上划过并进行检测，检测完成后，第二驱动机构4驱动检测台2向上移动至等待位置，检测结束。平面度检测原理如下：
1.X方向检测（第一传感器5和第二传感器6）或Y方向检测（第三传感器7和第四传感器8），可以选择其中一个方向测量，也同时测量以提高其精度；
2.由被检测的合格标准件得到该被检测部件平面度的合格基准，由被检测的不合格标准件得到该被检测部件平面度的不合格基准；
3.平面度的测量方式：以X方向检测为例，参考附图2，位置A为第一传感器5检测位置，位置B为第二传感器6的检测位置，通过第一传感器5可测得磁环外侧最大高度，通过第二传感器6可测得磁环内侧最大高度，由磁环外侧和磁环内侧的最大高度值通过处理控制模块计算出高度差，可得出X方向平面度；Y方向检测同理；
4.平面度的判定方式：通过处理控制模块将X方向平面度与误差范围设定值作比较（可通过触摸屏或工控电脑进行），如果在误差范围内则X方向平面度检测结果合格，否则X方向平面度检测结果不合格；Y方向平面度判定方式同理；当选择一个方向检测时，若该方向平面度检测结果判定合格时，则该被检测回转体的平面度合格，若该方向平面度检测结果判定不合格时，则该被检测回转体的平面度不合格；当选择X方向和Y方向同时检测时，若X方向平面度和Y方向平面度检测结果均判定合格时，则该被检测回转体的平面度合格，若X方向或Y方向中至少一个存在平面度检测结果不合格时，则该被检测回转体的平面度不合格。
以上结合实施方式对本实用新型做了详细说明，只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限定本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
Claims (9)
1.一种回转体平面度检测装置，其特征在于：它包括用于放置被检测回转体的旋转平台（1）、驱动所述旋转平台（1）绕Z轴转动的第一驱动机构（3）、位于所述旋转平台（1）上方并可沿Z轴方向移动的检测台（2）、驱动所述检测台（2）移动的第二驱动机构（4）、连接在所述检测台（2）上的至少四个测量传感器、与所述至少四个测量传感器分别连接的处理控制模块，所述检测台（2）至少具有等待位置和检测位置，当所述检测台（2）处于检测位置时，所述测量传感器的下端抵在回转体的被检测平面上，所述等待位置位于检测位置的上方，所述的四个测量传感器包括沿X轴方向排列的第一传感器（5）和第二传感器（6）、沿Y轴方向排列的第三传感器（7）和第四传感器（8），所述第一传感器（5）至回转体的中心轴线的距离大于第二传感器（6）至回转体的中心轴线的距离，所述第三传感器（7）至回转体的中心轴线的距离大于第四传感器（8）至回转体的中心轴线的距离，所述的X轴、Y轴、Z轴组成空间直角坐标系。
2.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：所述的第一传感器（5）、第二传感器（6）、第三传感器（7）、第四传感器（8）的底部均连接有滚轮（9），且滚轮（9）的轴线垂直于回转体的中心轴线。
3.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：所述的第一传感器（5）、第二传感器（6）、第三传感器（7）、第四传感器（8）均沿Z轴方向设置。
4.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：所述的处理控制模块为PLC。
5.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：当所述被检测平面为环形时，第一传感器（5）和第三传感器（7）至外圈的距离小于外圈至内圈距离的三分之一，第二传感器（6）和第四传感器（8）至内圈的距离小于外圈至内圈距离的三分之一。
6.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：当所述被检测平面为圆形时，第一传感器（5）和第三传感器（7）至外圈的距离小于外圈至圆心距离的三分之一，第二传感器（6）和第四传感器（8）至圆心的距离小于外圈至圆心距离的三分之一。
7.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：所述的检测台（2）上设置有限制回转体在X轴、Y轴、Z轴方向上位移的固定装置。
8.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：每个所述测量传感器与检测台（2）之间可沿Z轴方向移动地连接，且每个所述测量传感器与检测台（2）之间具有对该测量传感器施加沿Z轴向下的力的弹性机构。
9.根据权利要求1所述的回转体平面度检测装置，其特征在于：所述的第一驱动机构（3）和第二驱动机构（4）各分别包括一伺服电机。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201721850243.XU CN207556520U (zh) | 2017-12-26 | 2017-12-26 | 回转体平面度检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201721850243.XU CN207556520U (zh) | 2017-12-26 | 2017-12-26 | 回转体平面度检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN207556520U true CN207556520U (zh) | 2018-06-29 |
Family
ID=62660518
Family Applications (1)
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| CN201721850243.XU Active CN207556520U (zh) | 2017-12-26 | 2017-12-26 | 回转体平面度检测装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN207556520U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111322936A (zh) * | 2018-12-17 | 2020-06-23 | 江苏联博精密科技有限公司 | 一种新型转子平面度快速检测工装 |
| CN113019976A (zh) * | 2021-03-29 | 2021-06-25 | 中国计量大学 | 一种平面度检测系统 |
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2017
- 2017-12-26 CN CN201721850243.XU patent/CN207556520U/zh active Active
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