CN205140484U - 显示面板闪烁度测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种显示面板闪烁度测试装置，所述显示面板闪烁度测试装置包括：液晶显示面板在每一个公共电压驱动下，用于采集液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号，并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号的采集单元；用于将模拟电信号转换为数字信号，并根据数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系的处理单元；用于根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系，输出控制结果的控制单元。本实用新型显示面板闪烁度测试装置使得计算更加准确，操作简单，成本较低，并且提高了公共电压下闪烁度的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板闪烁度测试装置。
背景技术
液晶显示面板在出厂前，需要进行各种硬件性能及软件性能的测试，以保证输出的液晶显示面板具有较高的品质。面内均一性作为液晶显示面板的一种固有属性，是衡量液晶显示面板好坏的重要指标，通常使用面板多个位置在闪烁(Flicker)最小时的公共电压这一参数来描述面板的均一性。面板不同位置处最佳公共电压差值越小，表示面板的均一性越好。公共电压是液晶显示面板公共电极上的电压，由液晶的特性及液晶面板的工作原理决定，在液晶显示面板的使用过程中，由于公共电压的极性切换会导致液晶显示面板出现闪烁现象，而闪烁现象严重时，不仅严重影响了液晶面板的显示效果，而且还会造成观察者的视觉疲劳及其它不适，而通过测试液晶显示面板不同位置的闪烁度可以得到不同位置处的最佳公共电压，再根据得到的最佳公共电压可以将液晶显示面板的闪烁度调整至最小或建议给出液晶显示面板的最佳公共电压，从而使液晶显示面板的显示效果达到最好，提高观看效果。因此，如何准确、高效地测试液晶显示面板在不同公共电压下的闪烁度是十分重要的。
现有的显示面板闪烁度测试装置大都是采用人工测试方式，其具体方法是：人工将所需测试的不同位置处的公共电压提供给液晶显示面板，并且在每一个公共电压驱动下依次测试每一位置的闪烁值，人工进行记录闪烁值并进行相关分析。上述人工测试方法，存在因人工经验和熟练程度等个体差异，难免会造成数据记录不准确，造成在公共电压下闪烁度测试的准确度较低。并且在测试过程中液晶显示面板数量会比较多，还需要长时间记录液晶显示面板公共电压下的闪烁度，耗费大量的人力、物力和时间，测试效率很低。
实用新型内容
本实用新型提供一种显示面板闪烁度测试装置，操作简单、准确度高、并能够极大地提高效率。
所述技术方案如下：
本实用新型实施例提供了一种显示面板闪烁度测试装置，其包括：设置于液晶显示面板的每个测试位置处，所述液晶显示面板在每一个公共电压驱动下，用于采集所述液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号，并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号的采集单元；与所述液晶显示面板、所述采集单元相连，用于将所述模拟电信号转换为数字信号，并根据所述数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系的处理单元；与所述处理单元相连，用于根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系，输出控制结果的控制单元。
在本实用新型较佳的实施例中，所述模拟电信号为模拟电压信号。
在本实用新型较佳的实施例中，所述采集单元为光电二极管，所述处理单元为ARM处理器或MCU，所述控制单元为上位机。
在本实用新型较佳的实施例中，还包括：用于在所述液晶显示面板上设置多个测试位置的设置模块。
在本实用新型较佳的实施例中，所述测试位置至少包括所述液晶显示面板中心区域的测试位置和所述液晶显示面板周边区域的测试位置。
在本实用新型较佳的实施例中，所述设置模块还包括：用于设置9个测试位置，且其中5个测试位置分别位于所述液晶显示面板的四个角落区域和一个中心区域，另外4个测试位置分别位于所述液晶显示面板相邻的每两个角落区域测试位置的中间位置的第一设置模块。
在本实用新型较佳的实施例中，所述处理单元还包括：用于提供每一个公共电压给所述液晶显示面板，并在提供公共电压给所述液晶显示面板后，将所述液晶显示面板所显示的画面切换到测试画面的提供单元。
本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
通过液晶显示面板在每一个公共电压驱动下，采集单元采集液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号，并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号，处理单元将模拟电信号转换为数字信号，并根据数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系；控制单元根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系，输出控制结果。本实用新型实施例避免了手动测试所带来的误差，使得计算更加准确，操作简单，成本较低，并且提高了公共电压下闪烁度的测试效率。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1A是本实用新型第一实施例提供的显示面板闪烁度测试装置主要架构框图；
图1B是图1A的液晶显示面板上的测试位置的一分布示意图；
图1C是图1A的液晶显示面板上的测试位置的另一分布示意图；
图1D是图1A的显示面板闪烁度测试装置的测试位置的闪烁度和公共电压的关系曲线、测试位置的最佳公共电压和测试结果示意图；
图2是本实用新型第二实施例提供的显示面板闪烁度测试装置的主要架构框图。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的显示面板闪烁度测试装置其具体实施方式、结构、特征及功效，详细说明如后。
有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本实用新型加以限制。
第一实施例
图1A是本实用新型第一实施例提供的显示面板闪烁度测试装置的主要架构框图。请参考图1A，所述显示面板闪烁度测试装置，包括：采集单元11、与采集单元11相连的处理单元13、与处理单元13相连的控制单元15，处理单元13还与液晶显示面板17相连。液晶显示面板17上具有多个测试位置。
采集单元11，设置于液晶显示面板17的每个测试位置处，液晶显示面板17在每一个公共电压驱动下，用于采集液晶显示面板17每个测试位置处的亮度信号，并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号后提供给处理单元13。其中，模拟电信号例如可以为模拟电压信号。
优选地，采集单元11可以为光电二极管等传感器。其中，公共电压可以预先按照公共电压的测试范围将公共电压按顺序(例如电压值从低到高的顺序)依次存储在处理单元13中，因此，处理单元13提供待测试的公共电压给液晶显示面板17时，可以按照先后次序依次获取公共电压提供给液晶显示面板17即可。
其中，每个测试位置可以预先设置在液晶显示面板17上。多个测试位置例如可以至少包括液晶显示面板17中心区域的测试位置和液晶显示面板17周边区域的测试位置。本实施例中，在液晶显示面板17中心区域和周边区域分别至少有一个测试位置。如图1B所示，为一种示例性的测试位置分布示意图。图1B中有3个测试位置，在液晶显示面板17的中心区域设置有测试位置b，在液晶显示面板17的周边区域设置两个测试位置a1、a2。如图1C所示，设置9个测试位置，且其中5个测试位置分别位于液晶显示面板17的四个角落区域和一个中心区域，另外4个测试位置分别位于液晶显示面板17相邻的每两个角落区域测试位置的中间位置，即如图1C所示，测试位置1、3、7、9分别位于液晶显示面板17的四个角落区域，测试位置5位于液晶显示面板17的中心区域，测试位置2位于相邻的角落区域测试位置1、3的中间位置，测试位置4位于相邻的角落区域测试位置1、7的中间位置，测试位置6位于相邻的角落区域测试位置3、9的中间位置，测试位置8位于相邻的角落区域测试位置7、9的中间位置。当然，本实用新型其它实施例中，还可以将测试位置设计成其它分布，例如在上述测试位置的基础上，在相邻的每两个测试位置的中间再添加一个或多个测试位置。
处理单元13，与液晶显示面板17、采集单元11及控制单元15相连，用于将采集单元11提供的模拟电信号转换为数字信号，并根据数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系。
优选地，处理单元13还包括提供单元130，用于提供每一个公共电压给液晶显示面板17，并在提供公共电压给液晶显示面板17后，将液晶显示面板17所显示的画面切换到测试画面。提供单元130提供公共电压给液晶显示面板17是按照特定步长自动调节公共电压值，并将调整的公共电压值提供给液晶显示面板17。
其中，提供单元130可以仅在第一次提供公共电压给液晶显示面板17后，将显示面板17所显示的画面切换到测试画面，液晶显示面板17在以后公共电压驱动下，均在此测试画面下进行测试闪烁度即可。处理单元13第一次提供的公共电压为初始公共电压，此初始公共电压可以是一预先估计的最佳公共电压。
处理单元13计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度具体过程可以是，可以依次对每个测试位置进行测试，具体而言，即对某一个测试位置进行测试时，将公共电压依次设置成公共电压测试值，且每设置成一个公共电压测试值时，对该测试位置的闪烁度进行一次测试(一次测试包括同一公共电压测试值下多次测试闪烁度，然后取闪烁度平均值的情况，即一个公共电压对应一个闪烁度)，从而得到该测试位置在多个公共电压测试值下的闪烁度，然后换另一个测试位置进行测试，最终得到所有测试位置的闪烁度，也可以每设置一个公共电压测试值同时对所有测试位置进行测试，即在第一个公共电压测试值下，测试每个测试位置的闪烁度，在第二个公共电压下，测试每个测试位置的闪烁度，如此继续上述操作，直到在所有预设公共电压测试值下，测试完成对应每个测试位置的所有闪烁度。每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系即如图1D的关系曲线，即对每一个测试位置，根据测试位置的闪烁度拟合出的一个测试位置的闪烁度和公共电压的关系曲线，其为能够准确反映测试位置的闪烁度随着公共电压变化规律的曲线。
处理单元13可以为ARM处理器、MCU(MicrocontrollerUnit，微控制单元)等。
进一步地，处理单元13还可包括快速傅立叶变换(FFT)模块131和判断模块133。快速傅立叶变换模块131，用于对数字信号进行快速傅立叶变换等处理计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度。其中，通过傅里叶变换计算得到闪烁度为目前现有做法，在此不再赘述。判断模块133，用于判定是否已计算完所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，若否，则继续计算。
控制单元15，与处理单元13相连，用于根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系，输出控制结果。
其中，控制单元15可以为上位机等设备。控制结果包括图表和关系曲线，关系曲线例如为每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系曲线，如图1D中的上方曲线图所示，图1D中的上方曲线图中的9条曲线分别是测试位置1-9所有公共电压与公共电压下对应的闪烁度之间的关系曲线，图表例如为每个测试位置处最佳公共电压与每个测试位置的对应图(如图1D中的左下图所示)，其中，最佳公共电压为每个测试位置处的最小闪烁度对应的公共电压，图1D中的左下图中的测试位置1-9的最佳公共电压分别为：3.7伏特、3.8伏特、3.7伏特、3.8伏特、3.9伏特、3.7伏特、4.1伏特、4.1伏特、4.2伏特。另外，控制结果还可以包括液晶显示面板17的建议公共电压。液晶显示面板17的建议公共电压分情况可以包括如下两种：一种是，例如若要保证液晶显示面板17公共电压均一性，则可以将每个测试位置处最小闪烁度对应的公共电压相差较小的一个电压作为建议公共电压，如图1D所示，建议公共电压为与测试位置1-9处的最佳公共电压相差较小的一个电压，另一种是若要保证液晶显示面板17中心区域最不闪烁，则可以将液晶显示面板17中心区域的测试位置最小闪烁度对应的公共电压作为建议电压，如图1D中即为测试位置5的最佳公共电压3.9伏特。
综上所述，本实施例提供的显示面板闪烁度测试装置，通过液晶显示面板在每一个公共电压驱动下，采集单元采集液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号，并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号，处理单元将模拟电信号转换为数字信号，并根据数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系；控制单元根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系，输出控制结果。本实用新型实施例避免了手动测试所带来的误差，使得计算更加准确，操作简单，成本较低，并且提高了公共电压下闪烁度的测试效率。
第二实施例
请参考图2，其示出了本实用新型第二实施例提供的显示面板闪烁度测试装置的主要架构框图。图2是在图1的基础上改进而来的。其与图1所示的装置相似，其不同之处在于，图2的显示面板闪烁度测试装置，还包括：设置模块201。
设置模块201，用于在液晶显示面板17上设置多个测试位置。多个测试位置例如可以至少包括液晶显示面板17中心区域的测试位置和液晶显示面板17周边区域的测试位置。
优选地，所述设置模块201还包括第一设置模块203，第一设置模块203用于设置9个测试位置，且其中5个测试位置分别位于液晶显示面板的四个角落区域和一个中心区域，另外4个测试位置分别位于液晶显示面板相邻的每两个角落区域测试位置的中间位置。
本实施例提供的显示面板闪烁度测试装置，还通过在液晶显示面板17上设置多个测试位置，从而能够自动设置测试位置，避免了手动设置所带来的误差，进一步提高了公共电压下闪烁度的测试效率。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (7)
1.一种显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，其包括：
设置于液晶显示面板的每个测试位置处，所述液晶显示面板在每一个公共电压驱动下，用于采集所述液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号，并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号的采集单元；
与所述液晶显示面板、所述采集单元相连，用于将所述模拟电信号转换为数字信号，并根据所述数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度，以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系的处理单元；
与所述处理单元相连，用于根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系，输出控制结果的控制单元。
2.根据权利要求1所述的显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，所述模拟电信号为模拟电压信号。
3.根据权利要求1所述的显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，所述采集单元为光电二极管，所述处理单元为ARM处理器或MCU，所述控制单元为上位机。
4.根据权利要求1所述的显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，还包括：用于在所述液晶显示面板上设置多个测试位置的设置模块。
5.根据权利要求1、4中任一项所述的显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，所述测试位置至少包括所述液晶显示面板中心区域的测试位置和所述液晶显示面板周边区域的测试位置。
6.根据权利要求4所述的显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，所述设置模块还包括：用于设置9个测试位置，且其中5个测试位置分别位于所述液晶显示面板的四个角落区域和一个中心区域，另外4个测试位置分别位于所述液晶显示面板相邻的每两个角落区域测试位置的中间位置的第一设置模块。
7.根据权利要求1所述的显示面板闪烁度测试装置，其特征在于，所述处理单元还包括：用于提供每一个公共电压给所述液晶显示面板，并在提供公共电压给所述液晶显示面板后，将所述液晶显示面板所显示的画面切换到测试画面的提供单元。
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