CN1234115C - 应用固件程序测试光学读写头的串扰的方法与相关装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种测试光盘驱动器的方法，其包含有根据一跟踪误差信号与一聚焦误差信号分别计算一跟踪驱动信号以及一聚焦驱动信号，使用一固件合成噪声与该聚焦驱动信号产生一测试聚焦驱动信号，根据该测试聚焦驱动信号以及该跟踪驱动信号驱动一光学读写头，以及根据该跟踪误差信号判断该光学读写头的特性。

Description

应用固件程序测试光学读写头的串扰的方法与相关装置

技术领域

本发明提供一种测试光盘驱动器的方法与相关装置，特别指一种应用固件程序测试光学读写头的串扰的方法与相关装置。

背景技术

请参阅图1，图1为常规光盘驱动器10的功能方块示意图。光盘驱动器10用于读取一光盘11上所记录的数据，其包含有一光学读写头(opticalpick-up unit，OPU)12，一主轴马达(spindle motor)14，一马达控制电路16，一聚焦控制单元(focusing controller)18，一跟踪控制单元(trackingcontroller)20，一微处理器(micro-controller)22，一伺服电路(servosystem)24，以及一信号转换单元26。光学读写头12用于以一预定功率输出一预定波长的激光Li到光盘11，如业界所公知，光盘11上设置有螺旋状的轨道28，而在轨道28上设置有长度不一的多个平坦区(land)及凹入区(pit)，用于代表八到十四位调制(eight-to-fourteen modulation，EFM)的数据，例如平坦区用于记录逻辑值″0″，而凹入区用于记录逻辑值″1″。此外，当激光Li入射到平坦区与凹入区时，激光Li受平坦区与凹入区所影响而反射产生激光Lr，其中激光Li入射到平坦区所产生的激光Lr的强度大于激光Li入射到凹入区所产生的激光Lr的强度，所以光学读写头12便可进一步地读取激光Lr以产生相对应的电信号EFMa，然后信号转换单元26便进一步地转换模拟电信号EFMa为数字电信号EFMd。最后，微处理器22便可解码电信号EFMd以得到存储数据DATA。

另外，当光盘11置入光盘驱动器10时，微处理器22驱动马达控制电路16以调整主轴马达14的主轴的转速，以及微处理器22亦驱动伺服系统24以控制光学读写头12在光盘11上的位置，如前所述，光学读写头12以光学方式以提取轨道11上所记录的数据，因此若激光Li无法精确地聚焦在轨道11上，则光学读取头12所产生的电信号EFMa则可能不准确，同样地，若激光Li输出到光盘11时偏离轨道11，则光学读取头12所产生的电信号EFMa亦不准确。所以，当光学读写头12操作时，其输出一聚焦误差信号FEO以及一跟踪误差信号TEO，然后，聚焦控制单元18便根据聚焦误差信号FEO以计算一聚焦驱动信号FOO到伺服电路24，以及跟踪控制单元20便根据跟踪误差信号TEO计算一跟踪驱动信号TRO到伺服电路24，因此伺服电路24便可根据聚焦驱动信号FOO以调整光学读写头12垂直于光盘11的间隔，以及伺服电路24另根据跟踪驱动信号TRO控制光学读写头12平行于光盘11位移。

已知聚焦操作与跟踪操作对于电信号EFMa的正确性影响很大，若电信号EFMa的信号品质不佳，即使微处理器22启动误差校正的机构，亦可能无法顺利地产生所要的存储数据DATA，所以光学读写头12必须可正确地输出聚焦误差信号FEO以及跟踪误差信号TEO，否则聚焦控制单元18与跟踪控制单元20便无法计算出所要的跟踪驱动信号TRO与聚焦驱动信号FOO，换句话说，伺服电路24便无法驱动光学读写头12移动到正确的位置以读取光盘11的轨道28所记录的数据。所以，在光盘驱动器10出厂前必须先测试光学读写头12的元件特性，以便预先筛选出具有品质不良的光学读写头12的光盘驱动器10。请参阅图2，图2为常规光盘驱动器测试系统40的示意图。光盘驱动器测试系统40包含有图1所示的光盘驱动器10，一动态信号分析仪(dynamicsignal analyzer)42(例如HP35670A)，以及一合成电路44。为了便于说明，在图2仅显示光盘驱动器10包含有光学读写头12，聚焦控制单元18，跟踪控制单元20，以及伺服电路24。动态信号分析仪42的输入端A、B分别电连接到光学读写头12与聚焦控制单元18，亦即光学读写头12所输出的跟踪误差信号TEO传输到动态信号分析仪42的输入端A，以及聚焦控制单元18所计算出的聚焦驱动信号FOO传输到动态信号分析仪42的输入端B。此外，动态信号分析仪42的输出端C产生一测试信号TEST到合成电路44，该测试信号TEST用于作为噪声而干扰聚焦控制单元18所计算出的聚焦驱动信号FOO，如图2所示，合成电路44最后合成聚焦驱动信号FOO与测试信号TEST，并输出一测试聚焦驱动信号FOO′到伺服电路24。动态信号分析仪42所输出的测试信号TEST(模拟噪声用)通常为一正弦波(sine wave)，且由一初始频率逐渐递增到一目标频率，同时受测试信号TEST影响的测试聚焦驱动信号FOO′输入伺服电路24，然后伺服电路24根据测试聚焦驱动信号FOO′以调整光学读写头12垂直于光盘11的距离，以进一步地修正光学读写头12所输出的激光聚焦在光盘11上的轨道28。所以，当测试信号TEST的频率由该初始频率变动到该目标频率以影响聚焦驱动信号FOO时，使用者可同时利用动态信号分析仪42输入端A、B所接收的跟踪误差信号TEO以及聚焦驱动信号FOO以分析聚焦驱动信号FOO对应于跟踪误差信号TEO的频率响应。

请同时参阅图3与图4，图3与图4为聚焦驱动信号FOO对应于跟踪误差信号TEO的第一频率响应示意图以及聚焦驱动信号FOO对应于跟踪误差信号TEO的第二频率响应示意图。在图3与图4中，横轴代表频率，而纵轴代表增益(gain)。图4所示的频率响应曲线L2对应一标准的光学读取头12，而图3所示的频率响应曲线L2对应一有瑕疵的光学读取头12。经由实验证明可明显地得知，当频率大于10KHz后，频率响应曲线L1所对应的增益大幅地偏离频率响应曲线L2所对应的增益，例如在频率为F时，频率响应曲线L1所对应的增益大约为-25，然而频率响应曲线L2所对应的增益却大约为-45，换句话说，对于有瑕疵的光学读取头12而言，其跟踪误差信号TEO与聚焦误差信号FEO之间因为串扰(crosstalk)而产生严重的干扰。换句话说，光学读取头12所产生的跟踪误差信号TEO与光学读取头12本身所产生的聚焦误差信号FEO耦合而干扰聚焦误差信号FEO。同理，光学读取头12所产生的聚焦误差信号FEO与光学读取头12本身所产生的跟踪误差信号TEO耦合而干扰跟踪误差信号TEO，因此经由光盘驱动器测试系统40观察聚焦驱动信号FOO对应于跟踪误差信号TEO的频率响应关系，或者经由光盘驱动器测试系统40观察跟踪驱动信号TOO对应于聚焦误差信号TEO的频率响应关系，均可筛选出具有严重串扰的光学读取头12。由图2可知，为了测试光盘驱动器10中光学读写头12的特性，一测试人员必需外接一动态信号分析仪42以及一合成电路44，并且需将动态信号分析仪42连接到光学读写头12以及聚焦控制单元18，以及将合成电路44连接到动态信号分析仪42，聚焦控制单元18，以及伺服电路24，因此对于每一待测试的光盘驱动器10来说，均需应用图2所示的繁复的连接结构以测试光学读写头12的元件特性，对于大量生产的光盘驱动器10而言，上述品管测试(quality assurance，QA)的流程严重地影响光盘驱动器10的产量。

发明内容

因此本发明的主要目的在于提供一种应用固件程序测试光学读写头的串扰的方法与相关装置，以解决上述问题。

本发明公开一种测试光盘驱动器的方法，其包含有：(a)使用一光学读写头输出一入射激光到一光盘(optical disk)的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一跟踪误差信号(tracking error signal)以及一聚焦误差信号(focusing error signal)；(b)根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号，以及根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；(c)执行该光盘驱动器的固件(firmware)合成噪声与该聚焦驱动信号以产生一测试聚焦驱动信号；(d)根据该测试聚焦驱动信号以及该跟踪驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置；以及(e)根据该跟踪误差信号判断该光学读写头所产生的聚焦误差信号是否干扰该光学读写头所产生的跟踪误差信号。

本发明还公开一种测试光盘驱动器的方法，其包含有：(a)使用一光学读写头输出一入射激光到一光盘(optical disk)的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一跟踪误差信号(tracking error signal)以及一聚焦误差信号(focusing error signal)；(b)根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号，以及根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；(c)执行该光盘驱动器的固件(firmware)合成噪声与该跟踪驱动信号以产生一测试跟踪驱动信号；(d)根据该测试跟踪驱动信号以及该聚焦驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置；以及(e)根据该聚焦误差信号判断该光学读写头所产生的跟踪误差信号是否干扰该光学读写头所产生的聚焦误差信号。

本发明还公开一种光盘驱动器，其包含有：一光学读写头(opticalpick-up unit，OPU)，用于输出一入射激光到一光盘(optical disk)的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一聚焦误差信号(focusing errorsignal)以及一跟踪误差信号(tracking error signal)；一聚焦控制单元，用于根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；一跟踪控制单元，用于根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号；一存储器，用于存储噪声处理程序码；一微处理器，电连接到该存储器，用于执行该噪声处理程序码以合成噪声与该聚焦驱动信号以产生一测试聚焦驱动信号；以及一伺服电路(servosystem)，电连接到该微处理器与该跟踪控制单元，用于根据该测试聚焦驱动信号以及该跟踪驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置。

本发明还公开一种光盘驱动器，其包含有：一光学读写头(opticalpick-up unit，OPU)，用于输出一入射激光到一光盘(optical disk)的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一聚焦误差信号(focusing errorsignal)以及一跟踪误差信号(tracking error signal)；一聚焦控制单元，用于根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；一跟踪控制单元，用于根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号；一存储器，用于存储噪声处理程序码；一微处理器，电连接到该存储器，用于执行该噪声处理程序码以合成噪声与该跟踪驱动信号以产生一测试跟踪驱动信号；以及一伺服电路(servosystem)，电连接到该微处理器与该聚焦控制单元，用于根据该测试跟踪驱动信号以及该聚焦驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置。

由于光盘驱动器本身具有固件程序，因此仅需修改固件程序以增加执行噪声处理程序码的操作，即可达到施加噪声到聚焦驱动信号或跟踪驱动信号的目的，此外，由于测试各光盘驱动器的光学读写头特性时，各光盘驱动器本身的微处理器即可执行固件程序中的噪声处理程序码，不再需要以复杂的接线以外接任何测试仪器。

附图说明

图1为常规光盘驱动器的功能方块示意图。

图2为常规光盘驱动器测试系统的示意图。

图3为聚焦驱动信号对应于跟踪误差信号的第一频率响应示意图。

图4为聚焦驱动信号对应于跟踪误差信号的第二频率响应示意图。

图5为本发明第一种光盘驱动器的功能方块示意图。

图6为图5所示的光学读写头的第一种测试流程图。

图7为图5所示的光学读写头的第二种测试流程图。

图8为本发明第二种光盘驱动器的功能方块示意图。

附图符号说明

10、50、80    光盘驱动器        11            光盘

12、52、82    光学读写头        14            主轴马达

16            马达控制电路      18、54        聚焦控制单元

20、58        跟踪控制单元      22、60、84    微处理器

24、64、88    伺服电路          26            信号转换单元

40            光盘驱动器测试    42            动态信号分析仪

              系统

44            合成电路          62、86        存储器

66a、66b            多路转换器        68a、68b、89a、 模拟/数字

                                      89b             转换器

70a、70b、90a、90b  数字/模拟转换     72、92          固件程序

                    器

74、94              噪声处理程序码    96              聚焦控制程序码

98                  跟踪控制程序码

具体实施方式

请参阅图5，图5为本发明第一种光盘驱动器50的功能方块示意图。光盘驱动器50包含有一光学读写头(optical pick-up unit，OPU)52，一聚焦控制单元54，一跟踪控制单元58，一微处理器(micro-processor)60，一存储器(memory)62，一伺服电路(servo system)64，二多路转换器(multiplexer)66a、66b，二模拟/数字转换器(analog-to-digitalconverter，DAC)68a、68b，以及二数字/模拟转换器(digital-to-analogconverter，DAC)70a、70b。光学读写头52用于输出激光到一光盘，并读取经由该光盘反射的激光，同时光学读写头52根据所接收的反射激光以产生一聚焦误差信号FEO以及一跟踪误差信号TEO。聚焦控制单元54可根据聚焦误差信号FEO以产生一聚焦驱动信号FOO，以及跟踪控制单元58可根据跟踪误差信号TEO以产生一跟踪驱动信号TRO。举例来说，聚焦控制单元54与跟踪控制单元58均分别设置有一放大器(amplifier)与一补偿器(compensator)，对于聚焦控制单元54来说，其经由放大器放大聚焦误差信号FEO的幅值，由于聚焦误差信号FEO的幅值大小与光学读写头52垂直于该光盘的位置误差量有关，所以补偿器便可根据一预定函数关系决定如何调整光学读写头52的垂直位置，并产生所要的聚焦驱动信号FOO；同样地，对于跟踪控制单元58而言，其经由放大器放大跟踪误差信号TEO的幅值，由于跟踪误差信号TEO的幅值大小与光学读写头52平行于该光盘的位置误差量有关，所以补偿器便可根据另一预定函数关系决定如何调整光学读写头52的水平位置，并产生所要的跟踪驱动信号TRO。伺服电路64用于控制光学读写头52在水平方向以及在垂直方向的移动，而微处理器60用于控制光盘驱动器50的操作，例如微处理器60为一数字信号处理器(digital signal processor，DSP)，其可读取存储器62中所存储的固件程序(firmware)72，本实施例中，存储器62为一非易失性性存储器(例如快闪存储器)，因此当光盘驱动器50中断电源后，固件程序72仍可存储在存储器62中而不遗失。若光盘驱动器50安装在一计算机主机(host)上，因此该计算机主机本身仅需发出高阶层的控制指令到光盘驱动器50中的微处理器60，然后微处理器60便可根据该控制指令执行固件程序72以控制光盘驱动器60的实际操作。

本实施例中，聚焦控制单元54电连接到一多路转换器66a以及一模拟/数字转换器68a，此外，跟踪控制单元58同样地电连接到一多路转换器66b以及一模拟/数字转换器68b。模拟/数字转换器68a用于将聚焦驱动信号FOO转换为相对应的数字聚焦驱动信号S1，并输入数字聚焦驱动信号S1到微处理器60，同样地，模拟/数字转换器68b用于将跟踪驱动信号TRO转换为相对应的数字跟踪驱动信号S2，并输出数字跟踪驱动信号S2到微处理器60。本实施例在固件程序72中设置有噪声处理程序码74，用于施加一预定噪声(例如一正弦波)在数字聚焦驱动信号S1中，并产生相对应的测试聚焦驱动信号S1′，此外，噪声处理程序码74亦可施加一预定噪声(例如一正弦波)于数字跟踪驱动信号S2中，并产生相对应的测试跟踪驱动信号S2′。由图5可知，当微处理器60计算出测试聚焦驱动信号S1′后，一数字/模拟转换器70a将数字的测试聚焦驱动信号S1′转换为模拟的测试聚焦驱动信号FOO′，并传输到多路转换器66a，以及当微处理器60计算出测试跟踪驱动信号S2′后，一数字/模拟转换器70b将数字的测试跟踪驱动信号S2′转换为模拟的测试跟踪驱动信号TRO′，并传输到多路转换器66b。多路转换器66a包含有两输入端A1、B1以及一输出端C1，并经由一控制信号SW1设定输出端C1电连接到输入端A1或输入端B1，同样地，多路转换器66b包含有两输入端A2、B2以及一输出端C2，并经由一控制信号SW2设定输出端C2电连接到输入端A2或输入端B2。当进行测试光学读写头52的特性时，微处理器60便读取并执行噪声处理程序码74，同时输出适当的控制信号SW1、SW2到多路转换器66a、66b以调整多路转换器66a、66b内部的传输路径，亦即通过多路转换器66a的传输路径控制决定聚焦驱动信号FOO或测试聚焦驱动信号FOO′输入伺服电路64以控制光学读取头52在垂直方向的移动，以及通过多路转换器66b的传输路径控制决定跟踪驱动信号TRO或测试跟踪驱动信号TRO′输入伺服电路64以控制光学读取头52在水平方向的移动。

请参阅图6，图6为图5所示的光学读写头52的第一种测试流程图。测试光学读写头52的流程包含有下列步骤。

步骤100：开始；

步骤102：在光盘驱动器50开机启动(power on)且置入一光盘后，微处理器60启动伺服电路64；

步骤104：微处理器60读取并执行存储器62所记录的噪声处理程序码74；

步骤106：微处理器60执行噪声处理程序码74以决定噪声的幅值(amplitude)与频率的初始值(initial value)；

步骤108：微处理器60执行噪声处理程序码74以合成该噪声与输入微处理器60的聚焦驱动信号S1，并输出测试聚焦驱动信号S1′；

步骤110：测量光学读写头52所输出的跟踪误差信号TEO的电压峰峰值(peak-to-peak voltage)；

步骤112：判断该电压峰峰值是否大于一阈值(voltage threshold)，若是，则跳到步骤118，否则执行步骤114；

步骤114：更新该噪声的频率；

步骤116：判断该噪声的频率是否大于一目标值(target value)，若是，则执行步骤118，否则回到步骤110；

步骤118：结束。

上述测试光学读写头52的操作详述如下。当光盘驱动器50开机启动后，操作电压便可输入到光盘驱动器50中的各元件(例如光学读写头52以及微处理器60等)，所以各元件此时才可开始操作，而一测试人员可将一测试光盘置入光盘驱动器50后，输入一控制指令到微处理器60以驱动光学读写头52移动该测试光盘上一预定轨道位置，此时，微处理器60执行固件程序72以根据该控制指令启动伺服电路64驱动光学读写头52的移动(步骤102)。请注意，当光学读写头52移动到该预定轨道位置后，光学读写头52输出聚焦误差信号FEO与跟踪误差信号TEO以进一步地微调光学读写头52的位置，同时聚焦控制单元54以及跟踪控制单元58亦启动以产生聚焦驱动信号FOO以及跟踪驱动信号TRO。此外，此时微处理器60所输出的控制信号SW1、SW2控制多路转换器66a的输入端A1电连接到输出端C1，以及控制多路转换器66b的输入端A2电连接到输出端C2，因此伺服电路64仍根据聚焦驱动信号FOO以及跟踪驱动信号TRO以调整光学读写头52的位置。

然后，该测试员可输入另一控制指令到微处理器60以执行噪声处理程序码74，且在微处理器60读取并执行噪声处理程序码74后，微处理器60所输出的控制信号SW1、SW2驱使多路转换器66a的输入端B1连接到输出端C1，而多路转换器66b的输入端A2仍持续连接到输出端C2(步骤104)。然后，噪声处理程序码74设定噪声的相关参数，该噪声用于与模拟/数字转换器68a所输出的聚焦驱动信号S1(对应聚焦驱动信号FOO)合成，本实施例使用一正弦波(sine wave)以作为测试光学读写头52的噪声，亦即噪声处理程序码74先初始正弦波所对应的幅值以及频率(步骤106)。本实施例在一频率范围中测试光学读写头52的特性，因此该正弦波的频率的初始值可设定为该频率范围的最低频率，以及该正弦波的频率的目标值可设定为该频率范围的最高频率；或者，该正弦波的频率的初始值可设定为该频率范围的最高频率，以及该正弦波的频率的目标值可设定为该频率范围的最低频率。当然，本发明并不限定一定要用正弦波，任何的波形(除了直流波形)都可以被应用于模拟噪声。

接着，噪声处理程序码74以常规数字信号处理的方式以合成上述正弦波与聚焦驱动信号S1，并输出相对应的测试聚焦驱动信号S1′(步骤108)，而数字/模拟转换器70a便将测试聚焦驱动信号S1′转换为测试聚焦驱动信号FOO′。由于多路转换器66a的输出端C1连接到其输入端B1，以及多路转换器66b的输出端C2连接到其输入端A2，所以测试聚焦驱动信号FOO′与跟踪驱动信号TRO输入伺服电路64，请注意，测试聚焦驱动信号FOO′受噪声处理程序码74所提供的噪声的影响，而伺服电路64此时使用测试聚焦驱动信号FOO′与跟踪驱动信号TRO以控制光学读写头52的位置，所以可检测光学读写头52所输出的跟踪误差信号TEO以判断施加在聚焦误差信号FEO的噪声经由串扰对光学读写头52所输出的跟踪误差信号TEO的干扰情形，因此该测试人员便测量跟踪误差信号TEO的电压峰峰值以判断干扰的程度(步骤110)。经由实验验证可知，若光学读写头52严重地受串扰所干扰，则其跟踪误差信号TEO产生振荡而使其电压峰峰值超过一阈值，相反地，对于理想的光学读写头52而言，其跟踪误差信号TEO并不产生振荡，所以该测试员便可比较所测量的电压峰峰值与该阈值以决定光学读写头52的元件特性是否符合要求而达到筛选的目的(步骤112)。换句话说，若跟踪误差信号TEO的电压峰峰值大于该阈值，则光学读写头52的元件特性不佳，否则噪声处理程序码74更新该噪声的频率以重新测试光学读写头52的元件特性(步骤114)。如上所述，若该正弦波的频率的初始值设定为该频率范围的最低频率，则噪声处理程序码74提升该正弦波所对应的频率，以及若该正弦波的频率的初始值设定为该频率范围的最高频率，则噪声处理程序码74降低该正弦波所对应的频率，已知本实施例在该频率范围中测试光学读写头52的特性，因此若该噪声所设定的频率超过该频率范围，则表示测试光学读写头52的流程已结束，相反地，若该噪声所设定的频率尚未超过该频率范围，则噪声处理程序码74不断地利用频率更新后的噪声以与聚焦驱动信号S1合成，直到该噪声所设定的频率超过该频率范围为止。

请参阅图7，图7为图5所示的光学读写头52的第二种测试流程图。测试光学读写头52的流程包含有下列步骤。

步骤200：开始；

步骤202：在光盘驱动器50开机启动且置入一光盘后，微处理器60启动伺服电路64；

步骤204：微处理器60读取并执行存储器62所记录的噪声处理程序码74；

步骤206：微处理器60执行噪声处理程序码74以决定噪声的幅值与频率的初始值；

步骤208：微处理器60执行噪声处理程序码74以合成该噪声与输入微处理器60的跟踪驱动信号S2，并输出测试跟踪驱动信号S2′；

步骤210：测量光学读写头52所输出的聚焦误差信号FEO的电压峰峰值；

步骤212：判断该电压峰峰值是否大于一阈值，若是，则跳到步骤218，否则执行步骤214；

步骤214：更新该噪声的频率；

步骤216：判断该噪声的频率是否大于一目标值，若是，则执行步骤218，否则回到步骤210；

步骤218：结束。

图7所示的测试光学读写头52的操作与图6所示的测试光学读写头52的操作类似，而主要不同之处在于步骤204，步骤208，以及步骤210，由于其余步骤已叙述如前，因此在此不再重复赘述。图6对在图7所示的步骤204而言，当微处理器60读取并执行噪声处理程序码74后，微处理器60所输出的控制信号SW1、SW2驱使多路转换器66b的输入端B2连接到输出端C2，而多路转换器66a的输入端A1仍持续连接到输出端C1，亦即在噪声处理程序码74启动后，伺服电路64根据聚焦控制单元54所输出的聚焦驱动信号FOO以及数字/模拟转换器70b所输出的测试跟踪驱动信号TRO′以控制光学读写头52的位置。图6此外，对于图7所示的步骤208与步骤210来说，其通过微处理器60所执行的噪声处理程序码74以常规数字信号处理的方式以合成噪声(例如正弦波)与跟踪驱动信号S2，而测试跟踪驱动信号TRO′便受噪声处理程序码74所提供的噪声的影响，以及伺服电路64此时使用测试跟踪驱动信号TRO′与聚焦驱动信号FOO控制光学读写头52的位置，所以便可检测光学读写头52所输出的聚焦误差信号FEO判断施加在跟踪误差信号TEO的噪声经由串扰对光学读写头52所输出的聚焦误差信号FEO的干扰情形，同样地，该测试员便可比较所测量的电压峰峰值与该阈值以决定光学读写头52的元件特性是否符合要求，亦可达到筛选光学读写头52的目的。

请参阅图8，图8为本发明第二种光盘驱动器80的功能方块示意图。光盘驱动器80包含有一光学读写头82，一微处理器84，一存储器86，一伺服电路88，二模拟/数字转换器89a、89b，以及二数字/模拟转换器90a、90b，其中一固件程序92存储在存储器86中，且固件程序92包含有噪声处理程序码94，一聚焦控制程序码96，以及一跟踪控制程序码98。图8所示的光盘驱动器80与图5所示的光盘驱动器50类似，且图8与图5中的同名元件具有相同的元件特性与操作，因此不再重复赘述。光盘驱动器80与光盘驱动器50主要的不同处在于光盘驱动器80以软件或轫体(聚焦控制程序码96以及跟踪控制程序码98)取代光盘驱动器50的硬件(聚焦控制单元54以及跟踪控制单元58)。由图8可知，模拟/数字转换器89a将聚焦误差信号FEO转换为数字的聚焦误差信号S3，以及模拟/数字转换器89b将跟踪误差信号TEO转换为数字的跟踪误差信号S4，所以微处理器84执行固件程序92中聚焦控制程序码96以及跟踪控制程序码98而以数字信号处理的方式来处理聚焦误差信号FEO与跟踪误差信号TEO，并得到相对应的聚焦驱动信号S3′与跟踪驱动信号S4′，最后数字/模拟转换器90a变将数字的聚焦驱动信号S3′转换为模拟的聚焦驱动信号FOO，以及数字/模拟转换器90b变将数字的跟踪驱动信号S4′转换为模拟的跟踪驱动信号TRO，换句话说，当光盘驱动器80启动后，微处理器82便载入执行聚焦控制程序码96与跟踪控制程序码98，而聚焦控制程序码96的操作等效于聚焦控制单元54，以及跟踪控制程序码98的操作等效于跟踪控制单元58，亦可达到驱动伺服电路88控制光学读写头82的位置的目的。对于光盘驱动器80来说，其虽然以数字信号处理的方式控制光学读写头82的聚焦操作与跟踪操作，但是其同样地以数字信号处理的方式进行串扰的测试，换句话说，测试光学读写头82的流程与光盘驱动器50测试其光学读写头52的流程(如图6与图7所示)相同，因此在不影响本发明技术公开下，不再重复赘述。

与常规技术相比较，本发明光盘驱动器应用数字信号处理的方式施加噪声到聚焦驱动信号，并测量跟踪误差信号的电压峰峰值以判断光学读写头是否严重地受串扰所干扰，以及本发明光盘驱动器应用数字信号处理的方式施加噪声到跟踪驱动信号，并测量聚焦误差信号的电压峰峰值以判断光学读写头是否严重地受串扰所干扰。由于常规光盘驱动器本身即设置有固件程序，因此本发明仅需修改固件程序增加噪声处理程序码(及应用噪声处理程序码所产生的噪声的程序码)，即可达到在测试光盘驱动器时施加噪声到聚焦驱动信号或跟踪驱动信号的目的。此外，在测试各光盘驱动器的光学读写头特性时，各光盘驱动器本身的微处理器即可执行固件程序中的噪声处理程序码，所以各光盘驱动器不需以复杂的接线以外接任何测试仪器(例如动态信号分析仪)，换句话说，本发明的光盘驱动器可快速地进行光学读写头的筛选，由于测试时间大幅地缩短，所以可减轻品管测试(quality assurance，QA)对光盘驱动器产量的影响。

以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求所做的等效变化与修改，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (10)

1.一种测试光盘驱动器的方法，其包含有：

(a)使用一光学读写头输出一入射激光到一光盘的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一跟踪误差信号以及一聚焦误差信号；

(b)根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号，以及根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；

(c)执行该光盘驱动器的固件中的噪声处理程序码，合成噪声与该聚焦驱动信号以产生一测试聚焦驱动信号；

(d)根据该测试聚焦驱动信号以及该跟踪驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置；以及

(e)由该光学读写头产生另一跟踪误差信号，并且根据该另一跟踪误差信号判断该光学读写头所产生的聚焦误差信号是否干扰该光学读写头所产生的跟踪误差信号。

2.如权利要求1所述的方法，其中步骤(e)还包含有：

检测该另一跟踪误差信号的电压峰峰值以判断该光学读写头所产生的聚焦误差信号是否干扰该光学读写头所产生的跟踪误差信号。

3.如权利要求1所述的方法，其中该噪声为一正弦波，且步骤(c)在多个时间段使用该固件中的噪声处理程序码，合成该正弦波与该聚焦驱动信号，该正弦波的频率在该多个时间段中均不同，且正弦波的频率介于一预定频率范围中。

4.一种测试光盘驱动器的方法，其包含有：

(a)使用一光学读写头输出一入射激光到一光盘的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一跟踪误差信号以及一聚焦误差信号；

(b)根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号，以及根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；

(c)执行该光盘驱动器的固件中的噪声处理程序码，合成噪声与该跟踪驱动信号以产生一测试跟踪驱动信号；

(d)根据该测试跟踪驱动信号以及该聚焦驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置；以及

(e)由该光学读写头产生另一聚焦误差信号，并且根据该另一聚焦误差信号判断该光学读写头所产生的跟踪误差信号是否干扰该光学读写头所产生的聚焦误差信号。

5.如权利要求4所述的方法，其中步骤(e)还包含有：

检测该另一聚焦误差信号的电压峰峰值以判断该光学读写头所产生的跟踪误差信号是否干扰该光学读写头所产生的聚焦误差信号。

6.如权利要求4所述的方法，其中该噪声为一正弦波，且步骤(c)在多个时间段使用该固件中的噪声处理程序码，合成该正弦波与该跟踪驱动信号，该正弦波的频率在该多个时间段中均不同，且正弦波的频率介于一预定频率范围中。

7.一种光盘驱动器，其包含有：

一光学读写头，用于输出一入射激光到一光盘的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一聚焦误差信号以及一跟踪误差信号；

一聚焦控制单元，用于根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；

一跟踪控制单元，用于根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号；

一存储器，用于存储噪声处理程序码；

一微处理器，电连接到该存储器，用于执行该噪声处理程序码以合成噪声与该聚焦驱动信号以产生一测试聚焦驱动信号；以及

一伺服电路，电连接到该微处理器与该跟踪控制单元，用于根据该测试聚焦驱动信号以及该跟踪驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置。

8.如权利要求7所述的光盘驱动器，其中该聚焦控制单元与该跟踪控制单元均为硬件电路，并分别电连接到该光学读写头，或者该聚焦控制单元与该跟踪控制单元为该微处理器执行的软件程序，且该噪声处理程序码，该聚焦控制单元，以及该跟踪控制单元设置在该光盘驱动器的固件中。

9.一种光盘驱动器，其包含有：

一光学读写头，用于输出一入射激光到一光盘的轨道，并读取该轨道所调制的反射激光以产生一聚焦误差信号以及一跟踪误差信号；

一聚焦控制单元，用于根据该聚焦误差信号计算一聚焦驱动信号；

一跟踪控制单元，用于根据该跟踪误差信号计算一跟踪驱动信号；

一存储器，用于存储噪声处理程序码；

一微处理器，电连接到该存储器，用于执行该噪声处理程序码以合成噪声与该跟踪驱动信号以产生一测试跟踪驱动信号；以及

一伺服电路，电连接到该微处理器与该聚焦控制单元，用于根据该测试跟踪驱动信号以及该聚焦驱动信号调整该光学读写头相对于该光盘的位置。

10.如权利要求9所述的光盘驱动器，其中该聚焦控制单元与该跟踪控制单元均为硬件电路，并分别电连接到该光学读写头，或者该聚焦控制单元与该跟踪控制单元为该微处理器执行的软件程序，且该噪声处理程序码，该聚焦控制单元，以及该跟踪控制单元设置在该光盘驱动器的固件中。

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