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CN113707792A - 一种csp制造工艺 - Google Patents

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CN113707792A
CN113707792A CN202111023960.6A CN202111023960A CN113707792A CN 113707792 A CN113707792 A CN 113707792A CN 202111023960 A CN202111023960 A CN 202111023960A CN 113707792 A CN113707792 A CN 113707792A
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CN
China
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fluorescent film
fluorescent
manufacturing process
glue
film bracket
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Pending
Application number
CN202111023960.6A
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English (en)
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刘萍萍
尹键
林德顺
翁平
杨永发
李国平
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Hongli Zhihui Group Co Ltd
Original Assignee
Hongli Zhihui Group Co Ltd
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Abstract

一种CSP制造工艺,包括以下步骤:(1)通过模具成型出具有五个出光面的荧光膜支架,荧光膜支架内形成固晶腔体;(2)将倒装LED芯片倒置放入已经干化的荧光膜支架的固晶腔体内,并用胶水将LED芯片与荧光膜支架结合。本发明先用模具注塑成型荧光膜支架,等荧光膜支架完全干化后,再通过胶水反向固晶,可以避免损伤电极,也避免因荧光膜支架未固化而出现变形;另外,本发明利用注塑、电胶和固晶工艺相结合有效实现CSP的封装,该工艺简单,稳定性好。

Description

一种CSP制造工艺
技术领域
本发明涉及LED领域,尤其是一种CSP制造工艺。
背景技术
现有的芯片级封装LED 通常是采取五面发光,即LED 的顶面和四个侧面均能发光,该种LED 的封装工艺相对比较简单,具体的过程为:先在载板上铺设固定膜,然后在固定膜上固定LED 芯片,接着在LED 芯片上封装荧光胶,在封装荧光胶的过程中,利用压板压制荧光胶,让荧光胶可靠的包覆在LED 芯片上,然后对固化的荧光胶进行切割,最后分离载板和固定膜。这个工艺虽然简单,但在封装荧光胶时,因荧光胶具有一定的流动性,因此,难以控制荧光胶的形状和用量,也难以控制荧光胶在各处的厚度均匀性,芯片级封装LED 的质量难以得到保证。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种CSP制造工艺,能够保证CSP的封装质量。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:一种CSP制造工艺,包括以下步骤:
(1)通过模具成型出具有五个出光面的荧光膜支架,荧光膜支架内形成固晶腔体;
(2)将倒装LED芯片倒置放入已经干化的荧光膜支架的固晶腔体内,并用胶水将LED芯片与荧光膜支架结合。
本发明先用模具注塑成型荧光膜支架,等荧光膜支架完全干化后,再通过胶水反向固晶,可以避免损伤电极,也避免因荧光膜支架未固化而出现变形;另外,本发明利用注塑、电胶和固晶工艺相结合有效实现CSP的封装,该工艺简单,稳定性好。
作为改进,所述步骤(1)中,通过模具注塑出若干相互独立或相互连接的荧光膜支架,荧光膜支架的固晶腔体开口朝上。
作为改进,所述荧光膜支架呈阵列分布。
作为改进,所述步骤(1)中,模具包括下模具和上模具,当荧光膜支架注塑成型后,将上模具移开。
作为改进,所述步骤(2)中,先在固晶腔体内点入胶水,然后再将倒装LED芯片放入固晶腔体内。
作为改进,当倒装LED芯片放入固晶腔体内后,再在LED芯片与荧光膜支架的侧面间隙点胶水。
作为改进,当胶水干化后,若荧光膜支架相互连接,再通过切割工艺将其分离形成单个CSP。
作为改进,荧光膜支架成型后封装前需要进行光电测试,测试装置包括设在荧光膜支架下方用于承托荧光膜支架的反射板、对准荧光膜支架且用于激发荧光膜支架的LED光源和用于接收LED光源激发荧光膜支架后的反射光线的测试仪
本发明与现有技术相比所带来的有益效果是:
本发明先用模具注塑成型荧光膜支架,等荧光膜支架完全干化后,再通过胶水反向固晶,可以避免损伤电极,也避免因荧光膜支架未固化而出现变形;另外,本发明利用注塑、电胶和固晶工艺相结合有效实现CSP的封装,该工艺简单,稳定性好。
附图说明
图1为本发明工艺流程图。
图2为测试装置示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本发明作进一步说明。
一种CSP,包括荧光膜支架和与荧光膜支架1结合的倒装LED芯片4,所述荧光膜支架1包括顶面出光面和四个侧面出光面,荧光膜支架内形成固晶腔体2,固晶腔体2的体积大于倒装LED芯片4的体积,倒装LED芯片4与荧光膜支架1的内侧面之间设有间隙并填充有胶水,倒装LED芯片4通过胶水与荧光膜支架1结合,由于胶水为透明胶水,且倒装LED芯片4与荧光膜支架1之间的间隙均匀,保证CSP整体出光均匀。
如图1所示,本发明CSP的制造工艺,其包括以下步骤:
(1)通过模具注塑出若干相互独立或相互连接的荧光膜支架1,所述荧光膜支架1呈阵列分布,每个荧光膜支架具有五个出光面,荧光膜支架内形成固晶腔体2,且荧光膜支架的固晶腔体2开口朝上;
(2)所述注塑模具包括下模具和上模具,当荧光膜支架注塑成型后,将上模具移开露出固晶腔体2的开口;
(3)等荧光膜支架完全干化后,利用点胶机将少量胶水3滴入荧光膜支架的固晶腔体2内;
(4)利用固晶机将反向粘贴在蓝膜上的倒装LED芯片取走并装入固晶腔体2内;
(5)倒装LED芯片4通过胶水3与荧光膜支架1基本固定;
(6)再在倒装LED芯片的外侧面与荧光膜支架的内侧面之间的间隙填补胶水5;
(7)当胶水干化后,若荧光膜支架1相互连接,再通过切割工艺将其分离形成单个CSP。
荧光膜支架成型后封装前需要进行光电测试,如图2所示,测试装置包括设在荧光膜支架1下方用于承托荧光膜支架的反射板6、对准荧光膜支架且用于激发荧光膜支架的LED光源7和用于接收LED光源7激发荧光膜支架1后的反射光线的测试仪8。LED光源7设在荧光膜支架1的上方,且LED光源7的光轴对准荧光膜支架1在反射板1上的投影中心位置。所述反射板1为镜面铝基板或设有反射层的基板,可以用于反射激发荧光膜支架1后的光线。所述LED光源7采用与CSP封装一致的LED光源7,一般为蓝光LED芯片光源。将用于CSP封装的荧光膜支架1放置在反射板6上,利用上方的LED光源7远程激发该荧光膜支架1,利用光学测试仪8对荧光膜支架1激发的光线进行检测,从而得到荧光膜支架1的光电参数;该测试装置将荧光膜支架1与LED芯片分离测试,有效缩短了测试调整周期,有效保证了资源的合理利用,提高了检测效率。

Claims (8)

1.一种CSP制造工艺,其特征在于,包括以下步骤:
(1)通过模具成型出具有五个出光面的荧光膜支架,荧光膜支架内形成固晶腔体;
(2)将倒装LED芯片倒置放入已经干化的荧光膜支架的固晶腔体内,并用胶水将LED芯片与荧光膜支架结合。
2.根据权利要求1所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:所述步骤(1)中,通过模具注塑出若干相互独立或相互连接的荧光膜支架,荧光膜支架的固晶腔体开口朝上。
3.根据权利要求2所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:所述荧光膜支架呈阵列分布。
4.根据权利要求2所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:所述步骤(1)中,模具包括下模具和上模具,当荧光膜支架注塑成型后,将上模具移开。
5.根据权利要求1所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:所述步骤(2)中,先在固晶腔体内点入胶水,然后再将倒装LED芯片放入固晶腔体内。
6.根据权利要求5所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:当倒装LED芯片放入固晶腔体内后,再在LED芯片与荧光膜支架的侧面间隙点胶水。
7.根据权利要求1所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:当胶水干化后,若荧光膜支架相互连接,再通过切割工艺将其分离形成单个CSP。
8.根据权利要求1所述的一种CSP制造工艺,其特征在于:荧光膜支架成型后封装前需要进行光电测试,测试装置包括设在荧光膜支架下方用于承托荧光膜支架的反射板、对准荧光膜支架且用于激发荧光膜支架的LED光源和用于接收LED光源激发荧光膜支架后的反射光线的测试仪。
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