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CN112540902B - 一种片上系统性能检验方法、装置、设备及可读存储介质 - Google Patents

一种片上系统性能检验方法、装置、设备及可读存储介质 Download PDF

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CN112540902B
CN112540902B CN202011395064.8A CN202011395064A CN112540902B CN 112540902 B CN112540902 B CN 112540902B CN 202011395064 A CN202011395064 A CN 202011395064A CN 112540902 B CN112540902 B CN 112540902B
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邵海波
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Original Assignee
Shandong Yunhai Guochuang Cloud Computing Equipment Industry Innovation Center Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种片上系统性能检验方法，该方法包括以下步骤：对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集；其中，量化指标集包括并行度指标和反压指标；获取预设的指标检验逻辑关系；按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，以对片上系统进行性能检验。应用本发明所提供的片上系统性能检验方法，较大地节省了时间，提高了系统性能检验效率。本发明还公开了一种片上系统性能检验装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。

Description

一种片上系统性能检验方法、装置、设备及可读存储介质
技术领域
本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种片上系统性能检验方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着现代片上系统SoC芯片复杂度和规模的不断提升，片上系统芯片的性能仿真和分析已经变得越来越重要，片上系统性能的目标是否可以满足关系到整个芯片的成败，因此需要对片上系统性能进行检验。
现有的片上系统性能检验方式通常为利用带宽利用率，吞吐量，延迟这三个指标参数，分析整个片上系统芯片的系统性能是否满足要求。通过单独对片上系统中每个设备的指标参数进行分析，将获取到的各指标参数与实现需求的指标参数对比，进而判断获取到的指标参数是否满足要求。通过对各设备单项指标参数一一检验的方式对片上系统进行性能检验，需要大量的时间去逐一分析排查瓶颈位置，对片上系统性能检验的耗时长，效率低。
综上所述，如何有效地解决现有的片上系统性能检验方式，耗时长，效率低的问题，是目前本领域技术人员急需解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种片上系统性能检验方法，该方法较大地节省了时间，提高了系统性能检验效率；本发明的另一目的是提供一种片上系统性能检验装置、设备及计算机可读存储介质。
为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：
一种片上系统性能检验方法，包括：
对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；
对各所述监控参数进行量化操作，得到各所述主设备及各所述从设备分别对应的量化指标集；其中，所述量化指标集包括并行度指标和反压指标；
获取预设的指标检验逻辑关系；
按照所述指标检验逻辑关系对各所述量化指标集中各量化指标进行检验，以对所述片上系统进行性能检验。
在本发明的一种具体实施方式中，按照所述指标检验逻辑关系对各所述量化指标集中各量化指标进行检验，包括：
判断各所述主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标是否均满足预设延迟阈值；
若否，则将未满足所述预设延迟阈值的第一延迟指标对应的主设备确定为目标设备；
获取所述目标设备对应的目标从设备的第二延迟指标和反压指标；
分别对所述第二延迟指标和所述反压指标进行校验，得到第一校验结果；
当所述校验结果为第二延迟指标不满足所述预设延迟阈值，且所述反压指标不满足预设反压阈值时，对所述目标从设备进行检验；
当所述校验结果为第二延迟指标满足所述预设延迟阈值，且所述反压指标满足预设反压阈值时，对所述目标设备和片上网络进行检验。
在本发明的一种具体实施方式中，对所述目标从设备进行检验，包括：
获取所述目标设备的并行度指标；
根据所述并行度指标对所述目标从设备进行检验。
在本发明的一种具体实施方式中，对所述目标设备和片上网络进行检验，包括：
获取所述目标设备的并行度指标；
根据所述并行度指标对所述目标设备进行检验；
获取所述片上网络的第三延迟指标；
判断所述第三延迟指标是否满足所述预设延迟阈值；
若否，则对所述片上网络进行拓扑结构调整操作。
在本发明的一种具体实施方式中，对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，包括：
在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对所述片上系统中各所述主设备及各所述从设备进行数据流监控。
在本发明的一种具体实施方式中，还包括：
获取所述片上系统在所述架构阶段对应的第一性能检验结果、所述寄存器传输阶段对应的第二性能检验结果、以及所述FPGA阶段对应的第三性能检验结果；
将所述第一性能检验结果、所述第二性能检验结果、以及所述第三性能检验结果进行对比验证，得到目标性能检验结果。
在本发明的一种具体实施方式中，在得到各所述主设备及各所述从设备分别对应的量化指标集之后，还包括：
根据各所述量化指标集中的各所述量化指标构建得到各指标图表；
按照所述指标检验逻辑关系对各所述量化指标集中各量化指标进行检验，包括：
结合所述指标检验逻辑关系和各所述指标图表，对各所述量化指标集中各所述量化指标进行检验。
一种片上系统性能检验装置，包括：
数据流监控模块，用于对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；
量化指标集获得模块，用于对各所述监控参数进行量化操作，得到各所述主设备及各所述从设备分别对应的量化指标集；其中，所述量化指标集包括并行度指标和反压指标；
逻辑关系获得模块，用于获取预设的指标检验逻辑关系；
性能检验模块，用于按照所述指标检验逻辑关系对各所述量化指标集中各量化指标进行检验，以对所述片上系统进行性能检验。
一种片上系统性能检验设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如前所述片上系统性能检验方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前所述片上系统性能检验方法的步骤。
本发明所提供的片上系统性能检验方法，通过添加对片上系统中各主设备及各从设备的并行度指标和反压指标的分析，充分利用了各设备间的影响关系对片上系统进行性能检验。并预先总结设置了各指标参数之间的指标检验逻辑关系，按照指标检验逻辑关系对各设备的各指标参数进行有序检验，从而实现对片上系统进行性能检验。相较于现有的通过单独对片上系统中每个设备的指标参数进行片上系统性能分析的方式，较大地节省了时间，提高了系统性能检验效率。
相应的，本发明还提供了与上述片上系统性能检验方法相对应的片上系统性能检验装置、设备和计算机可读存储介质，具有上述技术效果，在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中片上系统性能检验方法的一种实施流程图；
图2为本发明实施例中片上系统性能检验方法的另一种实施流程图；
图3为本发明实施例中一种带宽利用率指标可视化饼图；
图4为本发明实施例中一种写场景吞吐量的可视化动态折线图；
图5为本发明实施例中一种读场景吞吐量的可视化动态折线图；
图6为本发明实施例中一种片上系统性能检验装置的结构框图；
图7为本发明实施例中一种片上系统性能检验设备的结构框图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
参见图1，图1为本发明实施例中片上系统性能检验方法的一种实施流程图，该方法可以包括以下步骤：
S101：对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数。
在片上系统进行事务Transaction处理(如进行读操作，写操作等)的过程中，通过监控器Monitor组件对各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数。
监控参数可以包括指令传输的发起时间、指令传输的结束时间、数据传输的开始时间、数据传输的结束时间、数据传输的突发(burst)长度、数据传输的大小(Byte总量)、数据传输的操作类型、数据传输的指令发起者、数据传输的指令目标对象、总线工作频率、总线工作位宽、总线时钟周期等。
S102：对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集；其中，量化指标集包括并行度指标和反压指标。
在监控得到监控参数之后，对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集。如可以预先设置对各监控参数进行量化的量化公式，利用该量化公式对各监控参数进行量化操作。得到的量化指标集中包含并行度指标和反压指标，除此之外，还可以包括吞吐量指标、带宽利用率指标、延迟指标等。
反压指标是指主设备发起读写指令以后，从设备开始处理该指令的时间。该指标可以反应从设备对指令的响应速度，从设备因为内部满负荷运转情况下需要排队处理指令，该指标可以衡量是否因为从设备的内部处理速度，是否某从设备是整个系统的瓶颈。
并行度指标是指主从设备不等待读或写数据通道完成，可以在命令通道内发出多少个读或写的指令能力。该指标表征主从设备可以并行或流水处理多个指令的能力。对于吞吐量较高的设备，并行度有一定的要求。
通过引入反压指标和并行度指标，利用反压指标和并行度指标表征设备间的影响关系，进而提升片上系统的性能检测效率。
S103：获取预设的指标检验逻辑关系。
预先根据各指标对片上系统性能的影响关系，设置指标检验逻辑关系，从而保证对各指标进行检验的有序进行。
S104：按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，以对片上系统进行性能检验。
在获取到预设的指标检验逻辑关系之后，按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，从而实现对片上系统的性能检验。本发明可以有效的定位和追踪SoC芯片设计中系统的性能瓶颈，加快了系统性能评估的效率。
本发明所提供的片上系统性能检验方法，通过添加对片上系统中各主设备及各从设备的并行度指标和反压指标的分析，充分利用了各设备间的影响关系对片上系统进行性能检验。并预先总结设置了各指标参数之间的指标检验逻辑关系，按照指标检验逻辑关系对各设备的各指标参数进行有序检验，从而实现对片上系统进行性能检验。相较于现有的通过单独对片上系统中每个设备的指标参数进行片上系统性能分析的方式，较大地节省了时间，提高了系统性能检验效率。
需要说明的是，基于上述实施例一，本发明实施例还提供了相应的改进方案。在后续实施例中涉及与上述实施例一中相同步骤或相应步骤之间可相互参考，相应的有益效果也可相互参照，在下文的改进实施例中不再一一赘述。
实施例二：
参见图2，图2为本发明实施例中片上系统性能检验方法的另一种实施流程图，该方法可以包括以下步骤：
S201：对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数。
在监控得到各监控参数之后，还可以对各监控参数进行清洗操作。通过对各监控参数进行清洗，除去一些无用的信息数据，抓取有用的数据，避免了无用的信息数据对片上系统性能检验的干扰。
S202：对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集；其中，量化指标集包括并行度指标和反压指标。
在对各监控参数进行清洗操作之后，对清洗后的各监控参数进行量化操作。可以通过以下过程对各监控参数进行量化：
(1)吞吐量指标：TPinsr
吞吐量是指一段时间内传输的数据量，用来衡量主设备或从设备的数据访问量大小。吞吐量的影响主要是由带宽设计中的总线数据有效位宽，总线工作时钟频率，以及并发发起指令的并行度，从设备的反压等因素影响。通过衡量总线上的数据传输情况，得到具体的吞吐量数值。吞吐量指标可以通过以下公式计算：
TPinsr＝2burst_size*burst_len/8*(insr_end_t-insr_begin_t)；
其中，TPinsr表示吞吐量，单位为B/s，burst_size表示数据传输的大小，burst_len表示数据传输的突发长度，instr_end_t表示指令传输的结束时间，instr_begin_t表示指令传输的发起时间。
根据清洗后的各监控参数，可以通过吞吐量计算公式计算出每笔总线级事务的吞吐量。
(2)延迟指标：LATinsr
延迟是指在主设备发起读写指令以后，从设备或者片上网络(NoC)从设备网络接口(NIU)需要多长时间响应完该请求。延迟表征了从设备对指令的响应速度，以及数据通路的复杂度。例如，如果数据通路比较复杂，经过几级的片上网络仲裁，最终到达从设备，则延迟会比较大。延迟指标可以通过以下公式计算：
LATinsr＝insr_end_t-insr_begin_t；
其中，LATinsr表示延迟，instr_end_t表示指令传输的结束时间，instr_begin_t表示指令传输的发起时间。
指令的结束时间和指令发起时间的差值，为每笔事务的延迟。
(3)并行度指标：Ninsr
结合实施例一的步骤S102中对并行度指标的介绍，并行度越高，从设备的处理压力会越大，延迟会变大，所以必须综合考虑从设备的处理能力。并行度指标可以通过以下公式计算：
Ninsr∈(insr_end_t-insr_begin_t)；
其中，Ninsr表示并行度，instr_end_t表示指令传输的结束时间，instr_begin_t表示指令传输的发起时间。
该公式表示在当前事务发起时间到结束时间内，主设备能连续发出的指令数目。
(4)反压指标：BPinsr
结合实施例一的步骤S102中对反压度指标的介绍，反压会影响整个数据链路的延迟，以及吞吐量。反压指标可以通过以下公式计算：
BPinsr＝data_end_t-Insr_begin_t-MinTdatatransfer；
MinTdatatransfer＝burst_len*T_cycle；
其中，BPinsr表示反压，data_end_t表示数据传输的结束时间，Insr_begin_t表示指令传输的发起时间，MinTdatatransfer表示最小的数据传输时间，burst_len表示数据传输的突发长度，T_cycle表示总线时钟周期。
反压公式表示每笔事务中的空闲时间，在这个空闲时间内，从设备或者片上网络在准备数据，或者由于内部数据没有及时处理完成，导致数据堆积，影响总线数据的传输。
(5)带宽利用率指标：BUMx
总线带宽利用率表征了总线的带宽利用情况，在系统性能分析中，主要用来分析系统的带宽设计是否满足需求。在多主设备的异构SoC系统中，通常会有多个主设备并发访问占用总线的情况，通过对各个主设备的吞吐量统计，可以计算出每个主设备平均的吞吐量，计算出各自占有总线带宽的占有率。带宽利用率指标可以通过以下公式计算：
BUMx＝TPMxavg*8/bus_width*freq；
其中，BUMx表示带宽利用率，TPMxavg表示设备平均吞吐量，bus_width表示总线工作位宽，freq表示总线工作频率。
主设备的带宽利用率以平均吞吐量除以理论带宽，如上公式，可以计算出每个主设备的带宽利用率情况。
S203：获取预设的指标检验逻辑关系。
S204：判断各主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标是否均满足预设延迟阈值，若是，则执行步骤S205，若否，则执行步骤S206。
预先设置各主设备的延迟阈值。在得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集，并获取到预设的指标检验逻辑关系之后，判断各主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标是否均满足预设延迟阈值，若是，则说明各主设备和从设备运行正常，片上系统运行正常，执行步骤S205，若否，则说明片上系统运行异常，执行步骤S206。
S205：输出系统运行正常提示信息。
当确定各主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标均满足预设延迟阈值时，说明各主设备和从设备运行正常，片上系统运行正常，输出系统运行正常提示信息，从而提示相关人员系统性能检验完成。
S206：将未满足预设延迟阈值的第一延迟指标对应的主设备确定为目标设备。
当确定各主设备对应的量化指标集中存在不满足预设延迟阈值的第一延迟指标时，说明不满足预设延迟阈值的第一延迟指标对应的目标设备很可能为造成片上系统运行异常的瓶颈设备，因此将未满足预设延迟阈值的第一延迟指标对应的主设备确定为目标设备。
S207：获取目标设备对应的目标从设备的第二延迟指标和反压指标。
由于主设备的延迟会受到从设备的反压的影响，因此在确定出第一延迟指标不满足预设延迟阈值的目标设备之后，获取目标设备对应的目标从设备的第二延迟指标和反压指标。
S208：分别对第二延迟指标和反压指标进行校验，得到校验结果。
在获取到目标从设备的第二延迟指标和反压指标之后，分别对第二延迟指标和反压指标进行校验，得到校验结果。即可以得到目标从设备的第二延迟指标是否满足相应的延迟指标要求，目标从设备的反压指标是否满足相应的反压指标要求。
S209：当校验结果为第二延迟指标不满足预设延迟阈值，且反压指标不满足预设反压阈值时，获取目标设备的并行度指标。
在通过分别对第二延迟指标和反压指标进行校验，得到校验结果之后，若校验结果为第二延迟指标不满足预设延迟阈值，且反压指标不满足预设反压阈值，获取目标设备的并行度指标。
S210：根据并行度指标对目标从设备进行检验。
在获取到目标设备的并行度指标之后，根据并行度指标对目标从设备进行检验。对并行度指标进行校验，得到目标设备的并行度指标是否满足相应的并行度指标要求。如当目标设备的并行度较大(如大于4)，则提高目标从设备的处理速度，寻找影响性能的原因，以提高目标从设备的处理速度或重新审视系统架构，并做出修改；当目标设备的并行度较小(如小于等于2)，则对目标从设备进行性能分析，寻找影响性能的原因，更新设计内容以提高设备性能。
S211：当校验结果为第二延迟指标满足预设延迟阈值，且反压指标满足预设反压阈值时，获取目标设备的并行度指标和片上网络的第三延迟指标。
当校验结果为第二延迟指标满足预设延迟阈值，且反压指标满足预设反压阈值时，获取目标设备的并行度指标和片上网络的第三延迟指标，对并行度指标进行校验，得到目标设备的并行度指标是否满足相应的并行度指标要求。
S212：根据并行度指标对目标设备进行检验。
在获取目标设备的并行度指标之后，对目标设备进行性能检验。如当目标设备的并行度较大(如大于4)，则通过继续加大目标设备的并行度，当目标设备的事务产生速率不够，不能继续加大目标设备的并行度，需要更改设计；当目标设备的并行度较小(如小于等于2)，则通过cache存储器或者缓冲器缓存事务，加大目标设备的并行度，提高事务产生速率。
S213：判断第三延迟指标是否满足预设延迟阈值，若是，则不做处理，若否，则执行步骤S214。
在获取到片上网络的第三延迟指标之后，判断第三延迟指标是否满足预设延迟阈值，若是，则不做处理，若否，则执行步骤S214。
S214：对片上网络进行拓扑结构调整操作。
当确定第三延迟指标不满足预设延迟阈值时，对片上网络进行拓扑结构调整操作。
在本发明的一种具体实施方式中，对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，包括：
在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控。
可以在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对片上系统进行性能检验，在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控。
在本发明的一种具体实施方式中，该方法还可以包括以下步骤：
步骤一：获取片上系统在架构阶段对应的第一性能检验结果、寄存器传输阶段对应的第二性能检验结果、以及FPGA阶段对应的第三性能检验结果；
步骤二：将第一性能检验结果、第二性能检验结果、以及第三性能检验结果进行对比验证，得到目标性能检验结果。
为方便描述，可以将上述两个步骤结合起来进行说明。
在总线协议层根据总线协议对指令数据的事务进行性能数据监测和记录，在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对片上系统进行性能测试，得到各阶段对应的事务级别的性能数据。分别对各阶段的性能数据进行性能评估，得到片上系统在架构阶段对应的第一性能检验结果、寄存器传输阶段对应的第二性能检验结果、以及FPGA阶段对应的第三性能检验结果。
获取片上系统在架构阶段对应的第一性能检验结果、寄存器传输阶段对应的第二性能检验结果、以及FPGA阶段对应的第三性能检验结果，将第一性能检验结果、第二性能检验结果、以及第三性能检验结果进行对比验证，得到目标性能检验结果。可以预先建立性能检验结果库，对各阶段的性能检验结果进行保存操作，通过对性能检验结果库中的性能检验结果进行横向和纵向的比较，得到目标性能检验结果。横向即架构，RTL和FPGA阶段的性能检验结果比较，纵向是指各历史版本的性能检验结果的查找和比对。
在本发明的一种具体实施方式中，在得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集之后，该方法还可以包括以下步骤：
根据各量化指标集中的各量化指标构建得到各指标图表；
按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，可以包括以下步骤：
结合指标检验逻辑关系和各指标图表，对各量化指标集中各量化指标进行检验。
在对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集之后，根据各量化指标集中的各量化指标构建得到各指标图表，如可以包括饼状图、折线图、概率分布图和柱状图等，利用Python工具对监控参数进行可视化处理。结合指标检验逻辑关系和各指标图表，对各量化指标集中各量化指标进行检验。
参见图3、图4，图3为本发明实施例中一种带宽利用率指标可视化饼图，图4为本发明实施例中一种写场景吞吐量的可视化动态折线图，图5为本发明实施例中一种读场景吞吐量的可视化动态折线图。带宽利用率表征了总线的带宽利用情况，在片上系统性能分析中，主要用来分析系统的带宽设计是否满足需求。在多主设备的异构片上系统中，通常会有多个主设备并发访问占用总线的情况通过对各个主设备的吞吐量统计，可以计算出每个主设备平均的吞吐量情况，各自占有总线带宽的占有率情况。图3中采用饼状图可视化方式表现目前总线的带宽状况，片上网络仲裁算法对M0、M1、M2、M3、M4、M5中每一个主设备的带宽分配情况。吞吐量是指一段时间内传输的数据量，用来衡量主设备或从设备的数据访问量大小。图4和图5实时吞吐量的折线数据可视化，可以体现出每个主设备在不同仿真时间段中的吞吐量表现。平均，最高，最低的吞吐量在整个仿真时间段的表现状况，可以直观的体现出该主设备的工作状态，满负荷运转，还是空闲状态。如果多主设备同时工作时结合每个主设备的带宽分配情况查看哪个主设备处于性能没有达到要求的原因。通过图4和图5可以分析得到读场景下的吞吐量明显低于写场景的原因，在读场景下，主设备对读操作请求次数较少，写操作的请求次数较多。
相应于上面的方法实施例，本发明还提供了一种片上系统性能检验装置，下文描述的片上系统性能检验装置与上文描述的片上系统性能检验方法可相互对应参照。
参见图6，图6为本发明实施例中一种片上系统性能检验装置的结构框图，该装置可以包括：
数据流监控模块61，用于对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；
量化指标集获得模块62，用于对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集；其中，量化指标集包括并行度指标和反压指标；
逻辑关系获得模块63，用于获取预设的指标检验逻辑关系；
性能检验模块64，用于按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，以对片上系统进行性能检验。
本发明所提供的片上系统性能检验装置，通过添加对片上系统中各主设备及各从设备的并行度指标和反压指标的分析，充分利用了各设备间的影响关系对片上系统进行性能检验。并预先总结设置了各指标参数之间的指标检验逻辑关系，按照指标检验逻辑关系对各设备的各指标参数进行有序检验，从而实现对片上系统进行性能检验。相较于现有的通过单独对片上系统中每个设备的指标参数进行片上系统性能分析的方式，较大地节省了时间，提高了系统性能检验效率。
在本发明的一种具体实施方式中，性能检验模块64包括：
判断子模块，用于判断各主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标是否均满足预设延迟阈值；
目标设备确定子模块，用于当各主设备对应的量化指标集中存在不满足预设延迟阈值的第一延迟指标时，将未满足预设延迟阈值的第一延迟指标对应的主设备确定为目标设备；
第一指标获取子模块，用于获取目标设备对应的目标从设备的第二延迟指标和反压指标；
第一校验结果获得子模块，用于分别对第二延迟指标和反压指标进行校验，得到第一校验结果；
第一检验子模块，用于当校验结果为第二延迟指标不满足预设延迟阈值，且反压指标不满足预设反压阈值时，对目标从设备进行检验；
第二检验子模块，用于当校验结果为第二延迟指标满足预设延迟阈值，且反压指标满足预设反压阈值时，对目标设备和片上网络进行检验。
在本发明的一种具体实施方式中，第一检验子模块包括：
第一并行度指标获取单元，用于获取目标设备的并行度指标；
第一检验单元，用于根据并行度指标对目标从设备进行检验。
在本发明的一种具体实施方式中，第二检验子模块包括：
第二并行度指标获取单元，用于获取目标设备的并行度指标；
第二检验单元，用于根据并行度指标对目标设备进行检验；
延迟指标获取单元，用于获取片上网络的第三延迟指标；
判断单元，用于判断第三延迟指标是否满足预设延迟阈值；
拓扑结构调整单元，用于当确定第三延迟指标不满足预设延迟阈值时，对片上网络进行拓扑结构调整操作。
在本发明的一种具体实施方式中，数据流监控模块具体为在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控的模块。
在本发明的一种具体实施方式中，该装置还可以包括：
初始检验结果获得模块，用于获取片上系统在架构阶段对应的第一性能检验结果、寄存器传输阶段对应的第二性能检验结果、以及FPGA阶段对应的第三性能检验结果；
目标检验结果获得模块，用于将第一性能检验结果、第二性能检验结果、以及第三性能检验结果进行对比验证，得到目标性能检验结果。
在本发明的一种具体实施方式中，该装置还可以包括：
指标图表构建模块，用于在得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集之后，根据各量化指标集中的各量化指标构建得到各指标图表；
性能检验模块具体为结合指标检验逻辑关系和各指标图表，对各量化指标集中各量化指标进行检验的模块。
相应于上面的方法实施例，参见图7，图7为本发明所提供的片上系统性能检验设备的示意图，该设备可以包括：
存储器71，用于存储计算机程序；
处理器72，用于执行上述存储器71存储的计算机程序时可实现如下步骤：
对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集；其中，量化指标集包括并行度指标和反压指标；获取预设的指标检验逻辑关系；按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，以对片上系统进行性能检验。
对于本发明提供的设备的介绍请参照上述方法实施例，本发明在此不做赘述。
相应于上面的方法实施例，本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如下步骤：
对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；对各监控参数进行量化操作，得到各主设备及各从设备分别对应的量化指标集；其中，量化指标集包括并行度指标和反压指标；获取预设的指标检验逻辑关系；按照指标检验逻辑关系对各量化指标集中各量化指标进行检验，以对片上系统进行性能检验。
该计算机可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
对于本发明提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本发明在此不做赘述。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备及计算机可读存储介质而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种片上系统性能检验方法，其特征在于，包括：
对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；
对各所述监控参数进行量化操作，得到各所述主设备及各所述从设备分别对应的量化指标集；其中，所述量化指标集包括并行度指标和反压指标；
获取预设的指标检验逻辑关系；反压指标是指主设备发起读写指令以后，从设备开始处理所述指令的时间；并行度指标是指主从设备不等待读或写数据通道完成，可以在命令通道内发出多少个读或写的指令能力；
判断各所述主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标是否均满足预设延迟阈值；
若否，则将未满足所述预设延迟阈值的第一延迟指标对应的主设备确定为目标设备；
获取所述目标设备对应的目标从设备的第二延迟指标和反压指标；
分别对所述第二延迟指标和所述反压指标进行校验，得到校验结果；
当所述校验结果为第二延迟指标不满足所述预设延迟阈值，且所述反压指标不满足预设反压阈值时，对所述目标从设备进行检验；
当所述校验结果为第二延迟指标满足所述预设延迟阈值，且所述反压指标满足预设反压阈值时，对所述目标设备和片上网络进行检验，以对所述片上系统进行性能检验。
2.根据权利要求1所述的片上系统性能检验方法，其特征在于，对所述目标从设备进行检验，包括：
获取所述目标设备的并行度指标；
根据所述并行度指标对所述目标从设备进行检验。
3.根据权利要求1所述的片上系统性能检验方法，其特征在于，对所述目标设备和片上网络进行检验，包括：
获取所述目标设备的并行度指标；
根据所述并行度指标对所述目标设备进行检验；
获取所述片上网络的第三延迟指标；
判断所述第三延迟指标是否满足所述预设延迟阈值；
若否，则对所述片上网络进行拓扑结构调整操作。
4.根据权利要求1至3任一项所述的片上系统性能检验方法，其特征在于，对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，包括：
在架构阶段、寄存器传输阶段、FPGA阶段分别对所述片上系统中各所述主设备及各所述从设备进行数据流监控。
5.根据权利要求4所述的片上系统性能检验方法，其特征在于，还包括：
获取所述片上系统在所述架构阶段对应的第一性能检验结果、所述寄存器传输阶段对应的第二性能检验结果、以及所述FPGA阶段对应的第三性能检验结果；
将所述第一性能检验结果、所述第二性能检验结果、以及所述第三性能检验结果进行对比验证，得到目标性能检验结果。
6.根据权利要求1所述的片上系统性能检验方法，其特征在于，在得到各所述主设备及各所述从设备分别对应的量化指标集之后，还包括：
根据各所述量化指标集中的各所述量化指标构建得到各指标图表；
按照所述指标检验逻辑关系对各所述量化指标集中各量化指标进行检验，包括：
结合所述指标检验逻辑关系和各所述指标图表，对各所述量化指标集中各所述量化指标进行检验。
7.一种片上系统性能检验装置，其特征在于，包括：
数据流监控模块，用于对片上系统中各主设备及各从设备进行数据流监控，得到各监控参数；
量化指标集获得模块，用于对各所述监控参数进行量化操作，得到各所述主设备及各所述从设备分别对应的量化指标集；其中，所述量化指标集包括并行度指标和反压指标；反压指标是指主设备发起读写指令以后，从设备开始处理所述指令的时间；并行度指标是指主从设备不等待读或写数据通道完成，可以在命令通道内发出多少个读或写的指令能力；
逻辑关系获得模块，用于获取预设的指标检验逻辑关系；
性能检验模块，所述性能检验模块包括：
判断子模块，用于判断各所述主设备对应的量化指标集中的第一延迟指标是否均满足预设延迟阈值；
目标设备确定子模块，用于当各所述主设备对应的量化指标集中存在不满足所述预设延迟阈值的第一延迟指标时，将未满足所述预设延迟阈值的第一延迟指标对应的主设备确定为目标设备；
第一指标获取子模块，用于获取所述目标设备对应的目标从设备的第二延迟指标和反压指标；
第一校验结果获得子模块，用于分别对所述第二延迟指标和所述反压指标进行校验，得到校验结果；
第一检验子模块，用于当所述校验结果为第二延迟指标不满足所述预设延迟阈值，且所述反压指标不满足预设反压阈值时，对所述目标从设备进行检验；
第二检验子模块，用于当所述校验结果为第二延迟指标满足所述预设延迟阈值，且所述反压指标满足预设反压阈值时，对所述目标设备和片上网络进行检验，以对所述片上系统进行性能检验。
8.一种片上系统性能检验设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述片上系统性能检验方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述片上系统性能检验方法的步骤。
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