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CN111986618A - 显示驱动电路和包括该显示驱动电路的显示装置 - Google Patents

显示驱动电路和包括该显示驱动电路的显示装置 Download PDF

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CN111986618A
CN111986618A CN202010423396.6A CN202010423396A CN111986618A CN 111986618 A CN111986618 A CN 111986618A CN 202010423396 A CN202010423396 A CN 202010423396A CN 111986618 A CN111986618 A CN 111986618A
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Abstract

一种显示驱动电路，包括：数据驱动器，被配置为向显示面板的多个像素提供驱动信号并感测所述多个像素中的每个像素的电特征；以及劣化补偿电路，被配置为通过基于与驱动信号对应的驱动数据，在单位时间内对多个像素块中的每个像素块的劣化值进行累加，来生成和存储累加劣化值，基于从所述数据驱动器接收的感测数据校正第一像素块的累加劣化值，以及基于累加劣化值和劣化模型执行数据补偿以补偿像素劣化，其中每个像素块包括至少一个像素。

Description

显示驱动电路和包括该显示驱动电路的显示装置
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年5月22日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2019-0060224号的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
技术领域
本发明构思涉及一种半导体装置，更具体地，涉及一种用于驱动显示面板以显示图像的显示驱动电路以及包括该显示驱动电路的显示装置。
背景技术
通常，显示装置包括用于显示图像的显示面板和用于驱动该显示面板的显示驱动电路。显示驱动电路可以通过接收图像数据并将与该图像数据对应的图像信号施加到显示面板的数据线来驱动显示面板。近来，有机发光二极管(“OLED”)显示面板的使用正在增加。在OLED显示面板中，像素阵列的多个像素中的每个包括OLED。在OLED显示面板中，当每个像素中包括的驱动晶体管的诸如阈值电压和电流迁移率的电特征劣化时，OLED显示器的图像质量降低。为了防止像素劣化，可以使用劣化模型方法或特征感测方法。在劣化模型方法中，通过使用基于输入数据累加的劣化值并通过劣化建模来估计劣化程度，并且基于估计的劣化程度来补偿输入数据。在特征感测方法中，基于电特征来计算劣化程度，并且基于劣化程度来补偿输入数据。
发明内容
根据本发明构思的示例性实施例，显示驱动电路包括数据驱动器，被配置为向显示面板的多个像素提供驱动信号并感测多个像素中的每个像素的电特征；以及劣化补偿电路，被配置为通过基于与驱动信号对应的驱动数据，在单位时间内对多个像素块中的每个像素块的劣化值进行累加，来生成和存储累加劣化值，基于从数据驱动器接收的感测数据校正第一像素块的累加劣化值，并且基于累加劣化值和劣化模型执行数据补偿以补偿像素劣化，其中每个像素块包括至少一个像素。
根据本发明构思的另一示例性实施例，一种显示装置包括显示面板，该显示面板包括被划分为多个像素块的多个像素；数据驱动器，被配置为向多个像素中的每个像素提供驱动信号，并感测多个像素中的每个像素的电特征；以及劣化补偿电路，被配置为基于与输入数据对应的像素的补偿率来补偿与多个像素中的每个像素对应的输入数据，并将补偿输入数据提供给数据驱动器，其中，劣化补偿电路还被配置为基于与提供给多个像素中的每个像素的驱动信号对应的驱动数据，生成并累加多个像素中的每个像素的劣化值，通过使用每个像素的累加劣化值和劣化模型来计算多个像素中的每个像素的补偿率，并基于感测的电特征来校正多个像素中的每个像素的累加劣化值。
根据本发明构思的另一示例性实施例，一种用于驱动具有多个像素块的显示面板的显示驱动电路的操作方法包括：通过基于提供给多个像素块中的每个像素块的驱动数据计算和累加多个像素块中的每个像素块的劣化值来生成多个累加劣化值，其中，多个像素块中的每个包括至少一个像素；基于多个累加劣化值，将至少一个像素块确定为感测像素块；感测该感测像素块的电特征；基于感测数据，校正与感测像素块对应的累加劣化值以匹配劣化率；基于多个累加劣化值，对多个像素块执行劣化补偿。
根据本发明构思的另一示例性实施例，一种显示驱动电路包括：数据驱动器，被配置为将驱动信号提供给显示面板的多个像素并感测所述多个像素中的每个像素的电特征；以及劣化补偿电路，被配置为将第一帧的多个累加劣化值存储在存储器中，其中每个累加劣化值对应于多个像素块中相应的一个像素块，基于多个累加劣化值确定所述多个像素块中的感测像素块，以及基于从感测像素块获得的感测数据来校正与感测像素块对应的累加劣化值。
附图说明
本发明构思的上述和其它特征将通过结合附图详细描述示例性实施例描述来更清楚地理解，在附图中：
图1是根据本发明构思的示例性实施例的显示装置的框图；
图2是根据本发明构思的示例性实施例的劣化补偿块的框图；
图3是示出劣化模型的示例的图；
图4是根据本发明构思的示例性实施例的显示装置的数据补偿方法的流程图；
图5是用于说明根据本发明构思的示例性实施例的数据补偿方法的图；
图6是根据本发明构思的示例性实施例的数据驱动器的驱动块的框图；
图7是根据本发明构思的示例性实施例的数据驱动器的感测块的框图；
图8示出根据本发明构思的示例性实施例的像素的等效电路；
图9是更详细地示出图2的数据补偿器的操作的图；
图10A和10B示出了图2的累加器的操作；
图11示出了图2的累加器的操作；
图12示出了图2的感测控制器的操作；
图13是示出温度特征相对于劣化率的关系的图；
图14示出了图2的校正器的操作；
图15A和图15B示出根据本发明构思的示例性实施例的、在低温条件和高温条件下通过劣化补偿块校正累加劣化值的过程；
图16是根据本发明构思的示例性实施例的显示装置的数据补偿方法的流程图；
图17是根据本发明构思的另一示例性实施例的显示装置的数据补偿方法的流程图；
图18示出根据本发明构思的示例性实施例的显示装置；以及
图19示出根据本发明构思的另一示例性实施例的显示装置。
具体实施方式
在下文中，结合附图描述了本发明构思的示例性实施例。
图1是根据本发明构思的示例性实施例的显示装置的框图。
根据本发明构思的示例性实施例的显示装置1可以设置在具有图像显示功能的电子装置中。电子装置的示例可以包括智能电话、平板个人计算机(PC)、便携式多媒体播放器(PMP)、照相机、可穿戴设备、电视、数字视频盘(DVD)播放器、冰箱、空调、空气净化器、机顶盒、机器人、无人驾驶飞机、各种类型的医疗设备、导航设备、全球定位系统(GPS)接收器、高级无人驾驶辅助系统(ADAS)、车载设备、家具、各种测量仪器等。
参照图1，显示装置1可以包括显示驱动电路10和显示面板20，并且显示驱动电路10可以包括时序控制器200、数据驱动器100和栅极驱动器300。在本发明构思的示例性实施例中，显示驱动电路10和显示面板20可被实现为一个模块。例如，显示驱动电路10可以被安装在诸如载带封装(TCP)、膜上芯片(COF)或柔性印刷电路(FPC)的电路膜上，且然后通过载带自动键合(TAB)方法被安装在显示面板20上，或者通过玻璃上芯片(COG)方法被安装在显示面板20的非显示区域上。
显示面板20可以包括多条信号线(例如，多条栅极线GL、多条数据线DL和多条感测线SL)以及多个像素PX(例如，以矩阵形式排列的像素阵列)。
多个像素PX中的每个可以显示红色、绿色和蓝色中的颜色，并且可以依次重复地排列显示红色的像素、显示绿色的像素和显示蓝色的像素。用户可以识别作为由相邻像素PX显示的红色光、绿色光和蓝色光的混合的颜色的光。在本发明构思的示例性实施例中，显示红色的像素、显示绿色的像素和显示蓝色的像素可以分别称为红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素，并且红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素的组可以被称为像素。在本发明构思的示例性实施例中，多个像素PX中的每个可以显示红色、绿色、蓝色和白色之一。然而，本发明构思不限于此，并且由像素显示的颜色可以变化。
在本发明构思的示例性实施例中，显示面板20可以是有机发光二极管(OLED)显示面板，其中每个像素PX包括发光元件，例如OLED。然而，本发明构思不限于此，并且显示面板20可以是不同类型的平板显示器或柔性显示面板。
栅极驱动器300可以通过使用从时序控制器200接收的栅极驱动器控制信号GCS(例如，栅极时序控制信号)来驱动显示面板20的多条栅极线GL。栅极驱动器300可以当驱动多条栅极线GL中的每条栅极线时、基于栅极控制信号GCS对多条栅极线GL中的每条栅极线施加例如扫描电压或感测导通电压(sensing-on voltage)的栅极导通电压(gate-onvoltage)的脉冲。
数据驱动器100包括驱动块110和感测块120，并且可以通过多条数据线DL驱动多个像素PX，并且可以通过感测线SL感测(例如，测量)多个像素PX的电特征。
驱动块110可以对图像数据(例如从时序控制器200接收到的、多个像素PX中的每个像素的补偿输入数据CDT(也称为“补偿数据”))进行数模转换，并经由数据线DL向显示面板20提供驱动信号，该驱动信号是从输入数据转换的模拟信号。每个驱动信号可以被提供给多个像素PX中的一个。
在显示模式或感测模式下，驱动块110可以将从时序控制器200提供的图像数据或用于感测的内部设置的数据转换为驱动信号，例如驱动电压，并将驱动电压输出至显示面板20的数据线DL。驱动块110可以包括如图6所示的多个通道驱动器(channel driver)，且多个通道驱动器中的每个可以将接收到的数据(例如，补偿输入数据CDT)转换成驱动信号。多个通道驱动器执行数模转换，因此可以被称为数模转换器。
感测块120可以周期性地或非周期性地测量多个像素PX的电特征。感测块120可以在感测模式下感测(例如，测量)多个像素PX的电特征。可以在显示装置1的制造、在显示装置1加电之后的引导时段、断电时段的结束时段、或显示面板20的帧显示时段之间的虚设间隔(dummy interval)(或垂直消隐间隔)期间，设置感测模式。
感测块120可以经由多条感测线SL接收表示多个像素PX中的每个的电特征的感测信号，例如，像素电压或像素电流，并将感测信号模数转换成感测数据SDT。
时序控制器200可以基于从外部处理器接收的控制命令CMD来控制显示装置1的整体操作，并且控制数据驱动器100和栅极驱动器300的驱动时序。外部处理器可以是例如其上安装有显示装置1的电子装置的主处理器或图像处理器。时序控制器200可以由硬件、软件或硬件和软件的组合来体现。例如，时序控制器200可以用执行以下描述的功能的数字逻辑电路和寄存器来实现。
时序控制器200可以将数据驱动器控制信号DCS提供给数据驱动器100。可以响应于数据驱动器控制信号DCS来控制数据驱动器100的驱动块110和感测块120的操作以及驱动块110和感测块120要被操作的时间点。
此外，时序控制器200可以将栅极驱动器控制信号GCS提供给栅极驱动器300。如上所述，栅极驱动器300可以响应于栅极驱动器控制信号GCS来驱动显示面板20的多条栅极线GL。
另外，时序控制器200可以对从外部处理器接收的图像数据执行各种图像处理操作，例如，以改变图像数据的格式或减少功耗。图像数据可以包括与每个像素PX对应的图2的输入数据IDT(也称为“图像数据”)。时序控制器200可以对显示面板20的每个像素PX的图像数据IDT执行数据补偿，并将补偿数据CDT提供给数据驱动器100。为实现此，时序控制器200可以包括劣化补偿块210。
劣化补偿块210可以将多个像素PX划分为多个像素块PXB，计算多个像素块PXB中的每个的累加劣化值，并且基于计算的累加劣化值和劣化模型，针对多个像素块PXB执行数据补偿。
多个像素块PXB可以包括彼此相邻布置的像素PX。图1示出了其中像素块PXB包括以两行两列布置的2×2个像素PX的示例。然而，本发明构思不限于此，并且像素块PXB的尺寸可以变化。在本发明构思的示例性实施例中，劣化补偿块210可以基于所计算的累加劣化值和劣化模型来计算多个像素PX中的每个的累加劣化值，并且相对于对应的像素PX执行数据补偿。
可以基于提供给像素块PXB的像素PX的补偿输入数据或与提供给像素PX的驱动信号对应的驱动数据，通过累加针对特定时间段(例如，以帧为单位)计算的劣化值来获得累加劣化值。通过将亮度特征和伽马特征反映到补偿输入数据中来获得驱动数据，并且该驱动数据可以是表示驱动信号的电平(例如电压)的数字值。
另外，劣化补偿块210可以基于从数据驱动器100接收的感测数据SDT来校正累加劣化值。劣化补偿块210可以从多个像素块PXB中选择具有高劣化程度的至少一个像素块PXB，作为其电特征要被感测的感测像素块，并控制数据驱动器100的感测块120以感测该感测像素块的电特征。劣化补偿块210可以基于从数据驱动器100接收的感测数据SDT来校正与感测像素块对应的累加劣化值。劣化补偿块210可以基于校正的累加劣化值对感测像素块执行数据补偿，并基于与之对应的累加劣化值对其他像素块执行数据补偿。在本发明构思的示例性实施例中，感测所选择的感测像素块的电特征的感测周期可以等于或长于累加劣化值的累加周期。另外，在一个像素块上执行数据感测的周期可以长于累加周期。下面将详细描述劣化补偿块210的配置和操作。
如上所述，根据本发明构思的示例性实施例的显示装置1可以基于劣化模型方法计算多个像素块PXB中的每个的累加劣化值，基于累加劣化值来执行数据补偿，根据特征感测方法选择性地生成至少一个像素块PXB的实际劣化率，并基于实际劣化率校正累加劣化值，从而提高累加劣化值与实际劣化率之间的一致性比。
当仅将劣化模型方法用于数据补偿以防止由于像素劣化而导致的图像质量劣化时，当劣化模型与实际劣化率之间的一致性比根据驱动环境而比较低时，数据补偿效率可能降低。此外，即使当执行数据补偿时，实际的劣化程度也未被反映，因此，显示面板20的发光均匀性(luminous uniformity)和图像质量可能会降低。
另外，当仅将特征感测方法用于数据补偿时，额外需要用于感测特征的时间(例如，驱动感测模式的时间)，并且针对劣化的区域实时地感测特征。然而，当电特征在显示器的驱动同时被感测时，可能在显示面板20上输出不期望的图像。
然而，根据本发明构思的示例性实施例的显示装置1使用累加劣化值基于劣化模型方法执行数据补偿，并且基于特征感测方法校正累加劣化值。因此，不必实时执行特征感测。因此，即使在不对像素块进行特征感测检测的情况下，对特征感测周期的限制也可以被放宽，累加劣化值与实际劣化率之间的一致性比可以被提高，并且可以基于累加劣化值执行数据补偿。因此，可以提高显示面板20的发光均匀性和可靠性。
图2是根据本发明构思的示例性实施例的劣化补偿块的示意框图。图2示出了图1的劣化补偿块210的示例。参考图1对劣化补偿块210进行的以上描述适用于图2的实施例。
参照图2，劣化补偿块210可以包括数据补偿器211、累加器212、非易失性存储器213、感测控制器214和校正器215。
数据补偿器211可以通过使用累加劣化值和劣化模型通过对输入数据IDT执行数据补偿来生成补偿数据CDT。在这种情况下，劣化模型可以表示如图3所示的累加劣化值和劣化率之间的关系。
图3是示出劣化模型的示例的图。在图3中，横轴表示累加劣化值ADV，纵轴表示劣化率DR。假设对于像素或像素组连续接收到相同的驱动信号，则可以在时间t上表示累加劣化值ADV。
劣化率DR是指示像素或像素组的劣化程度的指标，并且可以例如表示为当前亮度CL对初始亮度IL的比率。当累加劣化值ADV小时，例如，在显示面板20的驱动开始时，劣化率DR高，例如为“1”。然而，随着由于显示面板20的驱动而像素的发光时间增加，累加劣化值ADV可以增加并且劣化率DR可以减小。
返回参考图2，数据补偿器211可以通过使用劣化模型将多个像素块中的每个的累加劣化值转换为劣化率，并基于与多个像素块对应的多个劣化率对输入数据IDT执行数据补偿。输入数据IDT表示要施加到像素的驱动信号的灰度级(gradation)。数据补偿器211可以通过数据补偿来增加或减少驱动信号的灰度级。补偿数据CDT可以被提供给图1中的数据驱动器100的驱动块110。
累加器212可以接收补偿数据CDT，并基于补偿数据CDT计算并累加劣化值以生成累加劣化值。累加劣化值指示像素随时间的劣化程度，因此将从图1的显示面板20开始显示图像的时间点开始随时间更新。累加劣化值不应被重置或丢失。因此，累加器212可以将累加劣化值存储在非易失性存储器213中，使得即使在向图1的显示装置1的供电被中断时也不会丢失累加劣化值。
非易失性存储器213可以包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、闪存、相变RAM(PRAM)、磁性RAM(MRAM)、电阻RAM(RRAM)、铁电RAM(FRAM)等。在这里，“RAM”是指随机存取存储器。在本发明构思的示例性实施例中，非易失性存储器213可以体现为累加器212的一部分。
感测控制器214可以基于与多个像素组对应的多个累加劣化值，选择要在其上执行电特征感测的至少一个像素块，并控制图1的数据驱动器100的感测块120对根据感测周期选择的感测像素块或包括所选择的感测像素块的区域执行电特征感测。
感测控制器214可以向感测块120提供感测控制信号SCS。感测块120可以响应于感测控制信号SCS对感测像素块执行电特征感测。在本发明构思的示例性实施例中，感测控制信号SCS可以包括关于感测周期、感测像素块的位置、感测方法等的信息。感测方法可以包括例如测量像素中包括的驱动晶体管的阈值电压、测量在像素中设置的发光元件的两端处的电势差、或者测量流过发光元件的电流的量或迁移率(mobility)。
校正器215可以基于从数据驱动器100的感测块120接收的感测数据SDT来校正感测像素块的累加劣化值。感测数据SDT可以包括包含在像素中的驱动晶体管的阈值电压、在像素中设置的发光元件的两端处的电势差或流过发光元件的电流的量或迁移率。
校正器215可以从非易失性存储器213获得感测像素块的累加劣化值，并且基于感测数据SDT来校正累加劣化值。校正器215可以在非易失性存储器213中存储校正的累加劣化值作为感测像素块的累加劣化值。
此后，为了对从后续帧接收到的输入数据IDT执行数据补偿，数据补偿器211可基于校正的累加劣化值，对与多个像素块当中的感测像素块对应的输入数据IDT执行数据补偿，且基于由累加器212生成并存储的累加劣化值，对与其他像素块对应的输入数据IDT执行数据补偿。
图4是根据本发明构思的示例性实施例的显示装置的数据补偿方法的流程图。
参照图2和图4，累加器212可以计算多个像素块的劣化值并累加所计算的劣化值(S110)。随着所计算的劣化值被累加，可以获得累加劣化值，并且累加器212可以将累加劣化值存储在非易失性存储器213中。
感测控制器214可以基于多个像素块的多个累加劣化值来确定其电特征要被感测的感测像素块(S120)。感测控制器214可以将多个像素块中具有相对较高的累加劣化值的至少一个像素块确定为感测像素块。具有较高累加劣化值的感测像素块的劣化程度可以高于其他像素块的劣化程度。当劣化程度高时，累加劣化值与劣化率之间的一致性比可能降低。因此，感测控制器214可以控制电数据感测在感测像素块上执行，以校正其劣化程度被估计为最高的像素块的累加劣化值。
图1的感测块120可以在感测控制器214的控制下感测(例如，测量)感测像素块的电特征(S130)。如上所述，感测块120可以感测各种电特征中的至少一种。感测块120可以向校正器215提供指示感测的电特征的感测数据。
校正器215可以基于感测数据来校正感测像素块的累加劣化值(S140)。
数据补偿器211可以基于多个累加劣化值对多个像素块执行数据补偿(S150)。在这种情况下，感测像素块的累加劣化值可以是基于感测数据被校正的累加劣化值。
在执行数据补偿之后，可以再次执行操作S110至S150以基于补偿数据生成累加劣化值，并基于感测数据校正累加劣化值。
图5是用于说明根据本发明构思的示例性实施例的数据补偿方法。图5的数据补偿方法可以由图2的劣化补偿块210执行。
参照图5，显示面板20可以包括多个像素块PXB11到PXBmn(本文中，m和n是大于或等于2的整数)，并且多个像素块PXB11到PXBmn中的每个可以包含至少一个像素。
在第N帧中，分别对应于多个像素块PXB11到PXBmn的累加劣化值(例如，多个累加劣化值ADV(N))可以被存储在非易失性存储器213中。感测像素块可以基于多个累加劣化值ADV(N)来确定。例如，当多个累加劣化值ADV(N)中的累加劣化值ADV22最大时，可以将与累加劣化值ADV22对应的像素块PXB22确定为感测像素块。可以在像素块PXB22上执行电特征感测，并且可以生成感测数据SDT。可以基于感测数据SDT来校正累加劣化值ADV22。因此，可以存储第N帧的更新的累加劣化值ADV'(N)。
在本发明构思的示范性实施例中，包括像素块PXB22的区域的位置被确定为检测位置SP，并且感测可对在感测位置SP处提供的像素块PXB21到PXB2n来执行。在这种情况下，可以生成针对像素块PXB21到PXB2n的感测数据，并可以基于感测数据来校正分别对应于像素块PXB21到PXB2n的累加劣化值ADV21到ADV2n。
接下来，当接收到与第(N+1)帧对应的输入数据IDT时，可以基于第N帧的更新的累加劣化值ADV’(N)和劣化模型来执行数据补偿。
此后，可以通过将基于补偿数据生成的劣化值DV11至DVmn累加(例如，相加)到第N帧的更新的累加劣化值ADV'(N)来生成第(N+1)帧的多个累加劣化值ADV(N+1)。
图6是根据本发明构思的示例性实施例的数据驱动器的驱动块的框图。图6的驱动块110是图1的驱动块110的示例。因此，参考图1对驱动块110的以上描述适用于本实施例。
参照图6，驱动块110可以包括伽马电压生成器111和多个通道驱动器112。
伽马电压生成器111可以基于伽马控制信号GMC生成多个伽马电压GV[255：0]。尽管图6示出了伽马电压生成器111生成256个伽马电压，但是本发明构思不限于此。
伽马电压生成器111可以根据基于伽马控制信号GMC设置的伽马曲线来生成多个伽马电压GV[255：0]。可以从图1的时序控制器200接收伽马控制信号GMC。多个伽马电压GV[255：0]中的每个可以取决于伽马曲线而变化。例如，当伽马电压生成器111根据针对伽马2.2的伽马曲线生成伽马电压GV[255：0]时，与相同灰度级对应的电压可以不同于当伽马电压生成器111根据针对伽马1.0的伽马曲线生成伽马电压GV[255：0]时的那个电压。例如，在伽马2.2的情况下的127-灰度级伽马电压GV[127]可以与在伽马1.0的情况下的127灰度级伽马电压GV[127]不同。例如，在伽马2.2的情况下的127灰度级伽马电压GV[127]可以比在伽马1.0的情况下的127灰度级伽马电压GV[127]低。另外，可以在图1的显示装置1中设置针对伽马2.2的伽马曲线。
多个通道驱动器112中的每个可以接收多个伽马电压GV[255：0]并且通过使用多个伽马电压GV[255：0]来输出与输入数据(例如，补偿数据)对应的驱动信号DS1至DSk(这里，k是大于或等于2的整数)到对应的像素。例如，第一通道驱动器CD1可以基于第一补偿数据CDT1，输出与多个伽马电压GV[255：0]中的第一补偿数据CDT1对应的伽马电压作为驱动信号DS1。第二通道驱动器CD2至第k通道驱动器CDk的操作类似于第一通道驱动器CD1的操作。
图7是根据本发明构思的示例性实施例的数据驱动器的感测块的框图。图7的感测块120是图1的感测块120的示例。因此，参考图1对感测块120的以上描述可应用于当前实施例。
参照图7，感测块120可以包括多个采样/保持电路121和模数转换器(ADC)122。
多个采样/保持电路121可以同时采样从图1的显示面板20接收的多个感测信号SS1至SSj(这里，j是等于或大于2的整数)，然后依次将采样的信号输出到ADC 122。ADC 122可以通过对从多个采样/保持电路121顺序接收的多个感测信号SS1至SSj进行模数转换来生成感测数据SDT。感测块120可以发送感测数据SDT到劣化补偿块210的校正器215。
图8示出了根据本发明构思的示例性实施例的像素的等效电路。为了便于解释，将一起示出数据驱动器100的一些组件。
参照图8，像素PX可包括开关晶体管SWT、驱动晶体管DT、OLED 25、存储电容器Cst和感测晶体管SST。然而，图8的像素PX的配置和结构仅是示例性的，因此可以进行各种改变。
第一驱动电压ELVDD和第二驱动电压ELVSS可以被施加到像素PX。第一驱动电压ELVDD可以高于第二驱动电压ELVSS。
开关晶体管SWT、感测晶体管SST和驱动晶体管DT可以是非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(TFT)、多晶硅(poly-Si)TFT、氧化物TFT、有机TFT等等。
连接到像素PX的栅极线GL可以包括第一栅极线GL-1和第二栅极线GL-2。开关晶体管SWT可以连接到第一栅极线GL-1和数据线DL，并且响应于经由第一栅极线GL-1施加的扫描电压Vsc而被导通以提供经由数据线DL供应的驱动信号DS(例如，驱动电压)给驱动晶体管DT的栅极节点N1。驱动信号DS可以由数据驱动器100的数模转换器(DAC)(例如，通道驱动器)生成。
感测晶体管SST可以连接到第二栅极线GL-2和感测线SL，并且可以通过经由第二栅极线GL-2施加的感测导通电压Vso导通。在这种情况下，数据驱动器100的感测开关SSW可以响应于初始信号INT而导通，以经由感测线SL向像素PX提供初始化电压Vint(或复位电压)。感测晶体管SST可以将从数据驱动器100施加的初始化电压Vint提供给驱动晶体管DT的源极节点N2。在感测模式下，感测晶体管SST可以被导通以将电流从驱动晶体管DT或OLED25输出到感测线SL。
存储电容器Cst可以存储经由开关晶体管SWT施加到驱动晶体管DT的栅极节点N1的数据电压Vd和经由感测晶体管SST施加到驱动晶体管DT的源极节点N2的初始化电压Vint之间的差，从而可以在特定时间段(例如，一帧的持续时间)内向驱动晶体管DT施加驱动电压Vgs。
第一驱动电压ELVDD被施加到驱动晶体管DT的漏极节点，并且驱动晶体管DT可以向OLED 25提供与驱动电压Vgs成比例的驱动电流IDT。
OLED 25包括连接到驱动晶体管DT的源极节点N2的阳极、被施加了第二驱动电压ELVSS的阴极、以及在阴极和阳极之间的有机发射层。阴极可以是由像素共用的公共电极。在OLED 25中，当从驱动晶体管DT提供驱动电流IDT时，可以由有机发射层生成光。光的强度可以与驱动电流IDT成比例。驱动电流IDT可以由下面的等式1表示。
[等式1]
IDT＝β(Vgs–Vth)2＝β(Vd-Vint-Vth)2，
其中，β表示由驱动晶体管DT的电流迁移率确定的常数，而Vth表示驱动晶体管DT的阈值电压。
在感测模式下，可以测量像素PX的电特征。开关晶体管SWT可以将经由数据线DL施加的感测数据电压提供给驱动晶体管DT。当感测晶体管SST被导通时，与驱动晶体管DT的栅极节点N1的电压和源极节点N2的电压之间的差(例如，驱动电压Vgs)成比例的电流IDT可以流向感测线SL，从而对感测线SL的寄生电容器(例如，线电容器Cli)充电。
根据各种感测序列，当驱动晶体管DT的源极节点N2的电压达到饱和状态时，或者当源极节点N2的电压线性增加时，经由感测线SL接收到的感测信号SS可以由ADC转换为感测数据SDT。当源极节点N2的电压达到饱和状态时测量的感测信号SS可以包括关于驱动晶体管DT的阈值电压Vth的信息。当源极节点N2的电压线性增加时测量的感测信号SS可以包括关于驱动晶体管DT的电流迁移率的信息。然而，本发明构思不限于此，并且可以通过各种感测方法或顺序来感测电特征。
图9是更详细地示出图2的数据补偿器211的操作的图。
参照图9，数据补偿器211可以接收累加劣化值ADV，并基于劣化模型将累加劣化值ADV转换为劣化率DR(S211)。数据补偿器211可以通过将多个像素块的累加劣化值ADV转换成多个劣化率DR来生成多个劣化率DR。
数据补偿器211可以基于劣化率DR确定补偿率CR(S212)。在本发明构思的示例性实施例中，数据补偿器211可以基于多个劣化率DR来确定针对多个像素块的补偿率CR，例如，亮度补偿率。数据补偿器211可以通过将特定像素块的劣化率DR与被确定为具有最低劣化程度的像素块(例如，具有最高劣化率DR的像素块)的劣化率DR进行比较来确定该特定像素块的补偿率CR。例如，当第一像素块的第一劣化率DR1为0.8并为最高，并且第二像素块的第二劣化率DR2为0.5时，数据补偿器211可以将0.8/0.5(＝1.6)确定为第二像素块的补偿率CR。在补偿率CR＝1.6的情况下，第二像素块的第二劣化率DR2等于第一劣化率DR1。否则，可以将0.5/0.8(＝0.625)确定为第一像素块的补偿率CR，在该补偿率CR下，第一像素块的第一劣化率DR1等于第二劣化率DR2。如上所述，数据补偿器211可以通过将多个劣化率DR彼此进行比较来计算多个像素块中的每个像素块的补偿率CR。
当接收到输入数据IDT时，数据补偿器211可以基于补偿率CR来补偿输入数据IDT(S213)。例如，当第二像素块的补偿率CR为1.6时，数据补偿器211可以基于灰度级数据和亮度之间的关系，生成灰度级数据作为补偿数据CDT，以将第二像素块的像素的亮度增加至1.6倍。否则，当第一像素块的补偿率CR为0.625时，数据补偿器211可以基于灰度级数据和亮度之间的关系，生成灰度级数据作为补偿数据CDT，以将第一像素块的像素的亮度降低至0.625倍。
图10A和10B示出了图2的累加器212的操作。
参照图10A，累加器212可以将从数据补偿器211输出的补偿数据CDT转换为劣化值DV(S221)。例如，参照图10B，当第一像素块PXB1的补偿数据CDT具有255个灰度级，第二像素块PXB2的补偿数据CDT具有127个灰度级时，第一像素块PXB1的劣化值DV可以被确定为1，并且第二像素块PXB2的劣化值DV可以被确定为0.5。在这种情况下，补偿数据CDT可以具有的最大灰度级为255。可以相对于与劣化模型的输入电压对应的参考数据(例如，最高灰度级)(或者具有最高值的数据)来确定劣化值DV。
累加器212可以累加劣化值DV(S222)。通过从非易失性存储器213读取前一帧(例如，第(N-1)帧)的累加劣化值ADV(N-1)(以下称为“先前的累加劣化值”)，然后将劣化值DV累加(例如，相加)到先前的累加劣化值ADV(N-1)，累加器212可以生成当前帧(例如，第N帧)的累加劣化值ADV(N)。
参照图10B，当第一像素块PXB1和第二像素块PXB2的先前累加劣化值ADV(N-1)分别为0.5时，第一像素块PXB1的当前累加劣化值ADV(N)可以通过累加1和0.5被计算为1.5，并且第二像素块PXB2的当前累加劣化值ADV(N)可以通过累加0.5和0.5被计算为1。累加器212可以将当前累加劣化值ADV(N)存储在非易失性存储器213中。
当接收到用于后续帧(例如，第(N+1)帧)的补偿数据CDT时，累加器212可以根据上述方法计算并累加劣化值DV。
参照图10B，在第(N+1)帧中，当第一像素块PXB1的补偿数据CDT具有255个灰度级并且第二像素块PXB2的补偿数据CDT具有63个灰度级时，可以将第一像素块PXB1的劣化值DV确定为1，并且可以将第二像素块PXB2的劣化值DV确定为0.25。
累加器212可以从非易失性存储器213中读取第N帧的累加劣化值ADV(N)作为先前的累加劣化值，并将计算的劣化值DV相加到先前的累加劣化值。由于第一像素块PXB1和第二像素块PXB2的先前的累加劣化值ADV(N)分别为1.5和1，因此可以通过将1和1.5相加而将第一像素块PXB1的当前累加劣化值ADV(N+1)计算为2.5，可以通过将0.25和1相加将第二像素块PXB2的当前的累加劣化值ADV(N+1)计算为1.25。累加器212可以在非易失性存储器213中存储当前的累加劣化值ADV(N+1)。
图11示出了图2的累加器212的操作。
参照图11，累加器212可以通过将伽马特征和设置的亮度反映到补偿数据CDT中来生成驱动数据DD，并基于驱动数据DD计算并累加劣化值。
例如，累加器212可以接收补偿数据CDT，并且另外接收伽马控制信号GMC或亮度控制信号LC中的至少一个。累加器212可以基于伽马控制信号GMC或亮度控制信号LC中的至少一个将补偿数据CDT转换为驱动数据DD(S231)。驱动数据DD是通过将伽马特征或亮度特征中的至少一个反映到补偿数据CDT中而获得的数据，并且可以对应于施加到像素的驱动信号的电平，例如电压。
累加器212可以将驱动数据DD转换为劣化值DV(S232)，并且将劣化值DV累加到先前的累加劣化值ADV(N-1)(S233)。换句话说，可以将劣化值DV相加到先前的累加劣化值ADV(N-1)。因此，可以生成与当前帧(例如，第N帧)对应的累加劣化值ADV(N)。累加器212可以将累加劣化值ADV(N)存储在非易失性存储器213中。
如以上参考图6所述，即使当补偿数据CDT表示相同的灰度级时，驱动信号的电平也可以根据伽马特征或亮度特征而变化。因此，对于累加劣化值ADV的生成，为了更精确地反映施加到像素的驱动信号DS(换句话说，施加到像素的应力)，累加器212可以基于伽马控制信号GMC或亮度控制信号LC，将补偿数据CDT转换成驱动数据DD，并基于驱动数据DD生成累加劣化值ADV。
图12示出了图2的感测控制器214的操作。
参照图12，感测控制器214可以从图2的非易失性存储器213或图2的累加器212接收包括多个像素组的累加劣化值的多个累加劣化值ADV，并且基于多个累加劣化值ADV，选择至少一个像素块作为感测像素块(S241)。
感测控制器214可以控制图1的驱动块110以感测该感测像素块的电特征(S242)。感测控制器214可以调整感测周期(S243)。感测控制器214可以基于温度信息Tinfo或多个累加劣化值ADV来调节感测周期。
在本发明构思的示例性实施例中，感测控制器214可以在温度高于参考温度时减小感测周期，并且在温度低于参考温度时增大感测周期。
图13是示出温度特征相对于(versus)劣化率的图。横轴表示时间，纵轴表示劣化率DR。可以基于参考温度来生成劣化模型DM。但是，在高于或低于参考温度的温度下实际劣化率DR的变化可能与劣化模型DM不同。根据劣化模型DM，从时间点t1到时间点t2的劣化率DR的变化可以根据高温下的实际劣化率R_HT而是ΔDRh，并且可以根据低温下的实际劣化率R_LT而是ΔDRl。劣化率DR的变化在高温下可能相对较大，而在低温下则相对较小。随着劣化率的变化量增加，劣化模型DM与实际劣化率的变化之间的差可能增大。
因此，当温度高于参考温度时，感测控制器214可以减少感测周期以更频繁地校正累加劣化率。另外，基于温度信息Tinfo，当温度低于参考温度时，感测控制器214可以增加感测周期以减少累加劣化率的校正次数。
图14示出了图2的校正器215的操作。
参照图14，校正器215可以基于感测数据SDT计算劣化率，例如感测劣化率(S251)。例如，校正器215可以基于感测数据SDT，通过使用定义特征数据与劣化率之间的关系的查找表或预定义的数学公式，来计算劣化率。基于感测数据SDT计算的劣化率可以被称为感测劣化率SDR。
校正器215可以通过使用劣化模型将感测劣化率SDR转换为劣化值(S252)。基于感测劣化率SDR生成的劣化值可以被称为感测劣化值SDV。
校正器215可以基于感测劣化值SDV来校正感测像素块的累加劣化值(S253)。在本发明构思的示例性实施例中，校正器215可以通过从图2的非易失性存储器213或图2的累加器212接收感测像素块的累加劣化值ADVspb，然后根据预定的数学公式计算感测像素块的感测劣化值SDV和累加劣化值ADVspb，来校正累加劣化值。因此，累加劣化值ADVspb可以反映接近实际劣化率的感测劣化率SDR。校正器215可以将校正的累加劣化值ADVspb'存储在非易失性存储器213中。
图15A和图15B示出根据本发明构思的示例性实施例的在低温条件和高温条件下通过劣化补偿块来校正累加劣化值的处理。在此，假设对于像素或像素组连续接收相同的驱动信号。因为时间t与累加劣化值ADV之间存在线性关系，所以可以根据时间t的过去来表示累加劣化值ADV的增加。
劣化模型DM可能与低温和高温下的实际劣化率AD不同。在这种情况下，实际劣化率AD与基于感测数据计算的劣化率相同或相似。
参照图15A，在低温下的实际劣化率AD的变化量可以小于根据劣化模型DM0的劣化率DR的变化量。
在时间点t1的累加劣化值ADV可以是第一值V1。在这种情况下，使用劣化模型DM0将第一值V1转换成的劣化率A与在时间点t1的实际劣化率B(例如，感测劣化率)不同。可以通过使用劣化模型DM0对实际劣化率B进行逆转换来获得感测劣化值，并且在时间点t1感测的劣化值可以是第二值V2。在时间点t1的累加劣化值ADV可以被校正为第二值V2。在劣化模型DM0中，第二值V2表示早于时间点t1的时间点。因此，基于通过在时间轴上将劣化模型DM0向右移位而获得的第一劣化模型DM1，累加劣化值ADV可以稍后被转换为劣化率DR，使得劣化模型DM0在时间点t1具有第二值V2。劣化模型DM0和第一劣化模型DM1实质上相同。
在时间点t2的累加劣化值ADV可以是第三值V3。在这种情况下，当通过使用第一劣化模型DM1将第三值V3转换为劣化率DR时获得的劣化率C不同于在时间点t2的实际劣化率D。可以通过使用第一劣化模型DM1对实际劣化率D进行逆转换来获得感测劣化值，并且在时间点t2感测的劣化值可以是第四值V4。在时间点t2的累加劣化率ADV可以被校正为第四值V4。在第一劣化模型DM1中，第四值V4表示早于时间点t2的时间点。因此，基于通过在时间轴上将第一劣化模型DM1向右移位而获得的第二劣化模型DM2，累加劣化值ADV可以稍后被转换为劣化率DR，使得第一劣化模型DM1在时间点t2具有第四值V4。
参照图15B，高温下实际劣化率AD的变化量可以大于根据劣化模型DM0的劣化率DR的变化量。
在时间点t1的累加劣化率ADV可以是第一值V1。在这种情况下，在时间点t1，使用劣化模型DM0将第一值V1转换成的劣化率A与实际劣化率B(例如，感测劣化率)不同。可以通过使用劣化模型DM0对实际劣化率B进行逆转换来获得感测劣化值，并且在时间点t1感测的劣化值可以是第二值V2。在时间点t1的累加劣化率ADV可以被校正为第二值V2。在劣化模型DM0中，第二值V2表示晚于时间点t1的时间点。因此，基于通过在时间轴上将劣化模型DM0向左移位而获得的第一劣化模型DM1，累加劣化值ADV可以稍后被转换为劣化率DR，使得劣化模型DM0在时间点t1具有第二值V2。劣化模型DM0和第一劣化模型DM1实质上相同。
在时间点t2的累加劣化值ADV可以是第三值V3。在这种情况下，当通过使用第一劣化模型DM1将第三值V3转换为劣化率DR时获得的劣化率C不同于在时间点t2的实际劣化率D。可以通过使用第一劣化模型DM1对实际劣化率D进行逆转换来获得感测劣化值，并且在时间点t2感测的劣化值可以是第四值V4。在时间点t2的累加劣化值ADV可以被校正为第四值V4。在第一劣化模型DM1中，第四值V4表示晚于时间点t2的时间点。因此，基于通过在时间轴上将第一劣化模型DM1向左移位而获得的第二劣化模型DM2，累加劣化值ADV可以稍后被转换为劣化率DR，使得第一劣化模型DM1在时间点t2具有第四值V4。
图16是根据本发明构思的示例性实施例的显示装置的数据补偿方法的流程图。
参照图2和图16，累加器212可以计算并累加多个像素块的劣化值(S310)。例如，累加器212可以计算和累加多个像素块中的每个像素块的劣化值。随着所计算的累加劣化值被累加，可以获得累加劣化值，并且累加器212可以将累加劣化值存储在非易失性存储器213中。
感测控制器214可以基于多个像素块的多个累加劣化值来确定其电特征要被感测的感测像素块和参考像素块(S320)。感测控制器214可以将多个像素块中具有相对较高的累加劣化值的至少一个像素块确定为感测像素块，并且将图1的显示面板20的非显示区域中的虚设像素块(dummy pixel block)或具有小于参考值的参考劣化率的像素块确定为参考像素块。例如，具有参考劣化率的像素块可以被确定为不具有劣化。图1的感测块120可以在感测控制器214的控制下感测(例如，测量)感测像素块和参考像素块的电特征(S330)。如上所述，感测块120可以感测各种电特征中的至少一种。感测块120可以向校正器215提供指示感测的电特征的感测数据。
校正器215可以基于参考像素块的第一感测数据和感测像素块的第二感测数据来校正感测像素块的累加劣化值(S340)。校正器215可通过将感测像素块的第二感测数据与指示灰度级未发生的状态的第一感测数据进行比较来计算劣化率(例如，感测劣化值)，以补偿诸如由于显示面板20的操作、温度等引起的噪声的常见变化因素，并且增加补偿的精度。校正器215可以通过使用劣化模型将感测劣化值转换为劣化值，并且基于感测劣化值SDV来校正感测像素块的累加劣化值。
数据补偿器211可以基于多个累加劣化值对多个像素块执行数据补偿(S350)。在这种情况下，感测像素块的累加劣化值可以是校正的累加劣化值。
在执行数据补偿之后，可以基于连续接收到的输入数据来重复执行操作S310至S350。
图17是根据本发明构思的另一示例性实施例的显示装置的数据补偿方法的流程图。
操作S410至S430与图4的操作S110至S130实质相同，因此将不提供其描述。
参考图2和图17，校正器215可以从图1的数据驱动器100的感测块120接收感测数据，并校准感测数据以对应于参考温度(S440)。校正器215可以从感测块120或显示面板20接收感测像素块的温度或用于估计感测像素块的温度的温度信息，并且校准感测数据以对应于参考温度，从而当感测像素块的温度与参考温度不同时，消除和/或减少在执行感测时由温度引起的影响。校正器215可以基于校准的感测数据来校正感测像素块的累加劣化值(S450)。
数据补偿器211可以基于多个累加劣化值和温度信息，对多个像素块执行数据补偿(S460)。数据补偿器211可以基于劣化率确定补偿率，并且基于补偿率来补偿输入数据，如上面参考图9所述。在这种情况下，可以基于温度信息来执行温度补偿，使得可以在当前温度下输出参考温度下的期望亮度。
图18示出了根据本发明构思的示例性实施例的显示装置1000。图18的显示装置1000是具有中大型显示面板1200的设备，并且可应用于例如电视、监视器等。
参照图18，显示装置1000可以包括数据驱动器1110、时序控制器1120、栅极驱动器1130和显示面板1200。
时序控制器1120可以包括一个或多个集成电路(IC)或模块。时序控制器1120可以根据设置的接口与多个数据驱动IC(DDIC)和多个栅极驱动IC(GDIC)通信。
时序控制器1120可以生成用于控制多个DDIC和多个GDIC的驱动时序的控制信号，并且将控制信号提供给多个DDIC和多个GDIC。
时序控制器1120可以将从外部接收的图像数据划分为多条图像数据，并将每条图像数据提供给多个DDIC之一。另外，时序控制器1120可以对接收到的图像数据执行数据补偿以补偿像素劣化。时序控制器1120可以如上面参考图1至图17所描述的那样使用累加劣化值基于劣化模型方法执行数据补偿，并且可以基于特征感测方法来校正累加劣化值。因此，可以增加累加劣化值与实际劣化率之间的一致率，以提高显示面板20的亮度均匀性和可靠性。
数据驱动器1110包括多个DDIC。多个DDIC可以被安装在诸如TCP、COF、FPC等的电路膜上，然后通过TAB方法被附接到显示面板1200或者通过COG方法被安装在显示面板1200的非显示区域上。
多个DDIC中的至少一个可以包括以上参考图1描述的感测块120。感测块120可以感测像素的电特征并将感测数据提供给时序控制器1120。
栅极驱动器1130包括多个GDIC。多个GDIC可以被安装在电路膜上，并且通过TAB方法被附接到显示面板1200，或者可以通过COG方法被安装在显示面板1200的非显示区域上。备选地，可以通过栅极面板内驱动器(gate driver IN panel，GIP)方法直接在显示面板1200的下基板上形成栅极驱动器1130。栅极驱动器1130被形成在其中形成有像素PX的显示面板1200的像素阵列之外的非显示区域中，并且可以通过与像素PX相同的TFT工艺来形成。
图19示出了根据本发明构思的另一示例性实施例的显示装置2000。图19的显示装置2000是具有小尺寸显示面板2200的设备，并且可应用于诸如智能电话、平板PC等的移动设备。
参照图19，显示装置2000可以包括显示驱动电路2100和显示面板2200。显示驱动电路2100可以包括一个或多个IC，并且可以安装在诸如TCP、COF、FPC等的电路膜上，并且通过TAB方法附接到显示面板2200，或者通过COG方法安装在显示面板2200的非显示区域上。
显示驱动电路2100可以包括数据驱动器2110和时序控制器2120(也称为控制逻辑)，并且还可以包括栅极驱动器。在本发明构思的示例性实施例中，栅极驱动器可以安装在显示面板2200上。
时序控制器2120可以对从例如应用处理器的外部设备接收的图像数据执行数据补偿，以补偿像素劣化。时序控制器2120可以如上参考图1至图17所述的使用累加劣化值基于劣化模型方法来执行数据补偿，并且可以基于特征感测方法来校正累加劣化值。因此，可以增加累加劣化值与实际劣化率之间的一致率，以提高显示面板2200的亮度均匀性和可靠性。
在感测模式下，数据驱动器2110可以测量显示面板2200的像素的电特征，并且向时序控制器2120提供指示所测量的像素的电特征的感测数据。时序控制器2120可以基于所测量的像素的电特征来校正累加劣化值。时序控制器2120可以基于累加劣化值来补偿输入数据，并且将补偿数据提供给数据驱动器2110。数据驱动器2110可以基于补偿数据来驱动显示面板2200。
尽管已经参考本发明的示例性实施例具体示出和描述了本发明的构思，但是应当理解，在不脱离以下权利要求中阐述的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节上的各种改变。

Claims (20)

1.一种显示驱动电路，包括：
数据驱动器，被配置为将驱动信号提供给显示面板的多个像素，感测所述多个像素中的每个像素的电特征并且生成指示电特征的感测数据；以及
劣化补偿电路，被配置为通过基于与驱动信号对应的驱动数据、在单位时间内累加多个像素块中的每个像素块的劣化值来生成和存储累加劣化值，基于从数据驱动器接收的感测数据来校正第一像素块的累加劣化值，并且基于累加劣化值和劣化模型执行数据补偿以补偿像素劣化，其中，每个像素块包括至少一个像素。
2.根据权利要求1所述的显示驱动电路，其中，劣化补偿电路还被配置为：
控制数据驱动器根据感测周期感测第一像素块，并基于感测数据校正第一像素块的累加劣化值。
3.根据权利要求2所述的显示驱动电路，其中，在校正第一像素块的累加劣化值之后，劣化补偿电路还被配置为：
将在下一单位时间内对第一像素块计算的劣化值与校正的累加劣化值相加。
4.根据权利要求2所述的显示驱动电路，其中，劣化补偿电路还被配置为：
基于校正的累加劣化值对第一像素块执行数据补偿，并基于其余像素块的累加劣化值对所述其余像素块执行数据补偿。
5.根据权利要求1所述的显示驱动电路，其中，劣化补偿电路还被配置为：
通过使用劣化模型将每个累加劣化值转换为劣化率，并基于劣化率来补偿像素的输入数据，其中每个像素的劣化率表示像素的当前亮度与像素的初始亮度之比。
6.根据权利要求1所述的显示驱动电路，其中，劣化补偿电路包括：
累加器，被配置为生成所述多个像素块中的每个像素块的多个累加劣化值，并将所述多个累加劣化值存储在非易失性存储器中；
数据补偿器，其被配置为基于劣化模型将所述多个累加劣化值转换为劣化率，并基于与所述多个像素块对应的多个劣化率来确定所述多个像素块中的每个像素块的亮度补偿率；
感测控制器，被配置为基于所述多个累加劣化值，选择第一像素块作为感测像素块，并控制数据驱动器根据感测周期来对感测像素块的电特征进行感测；以及
校正器，被配置为基于感测数据来校正与感测像素块对应的累加劣化值。
7.根据权利要求6所述的显示驱动电路，其中，感测控制器
基于所述多个累加劣化值选择参考像素块，并且控制数据驱动器以对参考像素块和感测像素块的电特征进行感测，以及
校正器还被配置为通过将与参考像素块对应的第一感测数据和与感测像素块对应的第二感测数据进行比较来计算与感测像素块对应的感测劣化率，并基于感测劣化率校正与感测像素块对应的累加劣化值。
8.根据权利要求7所述的显示驱动电路，其中
感测像素块包括具有所述多个累加劣化值中最高的累加劣化值的像素块，并且参考像素块包括显示面板的非显示区域中的虚设像素块或具有所述多个累加劣化值中最低的累加劣化值的像素块。
9.根据权利要求6所述的显示驱动电路，其中，校正器还被配置为：
基于关于感测像素块的温度感测信息来将感测数据校准为与参考温度对应，并且基于校准的感测数据，校正与感测像素块对应的累加劣化值。
10.根据权利要求6所述的显示驱动电路，其中，数据补偿器还被配置为：
通过将所述多个劣化率中表示最大亮度减小或最小亮度减小的参考劣化率与所述多个劣化率中的其余劣化率进行比较，来确定所述多个像素块中的每个像素块的亮度补偿率。
11.根据权利要求6所述的显示驱动电路，其中，累加器还被配置为：
通过施加针对所述多个像素块中的每个像素块的补偿输入数据而设置的亮度或伽马特征来生成与驱动信号对应的驱动数据，并基于驱动数据对于每个帧或以预定时间间隔来生成并累加劣化值。
12.根据权利要求6所述的显示驱动电路，其中，累加器还被配置为：
基于补偿输入数据，对于每个帧或以预定时间间隔生成并累加所述多个像素块中的每个像素块的灰度级数据。
13.根据权利要求1所述的显示驱动电路，其中，感测数据包括要感测的像素的驱动晶体管的阈值电压、所述像素的发光元件的第一端和第二端的电势之差、或流过发光元件的电流。
14.根据权利要求1所述的显示驱动电路，其中，所述多个像素中的每个像素包括有机发光元件。
15.一种显示装置，包括：
显示面板，包括被划分为多个像素块的多个像素；
数据驱动器，被配置为向所述多个像素中的每个像素提供驱动信号，并且感测所述多个像素中的每个像素的电特征；以及
劣化补偿电路，被配置为基于与输入数据对应的像素的补偿率来补偿与所述多个像素中的每个像素对应的输入数据，并将补偿输入数据提供给数据驱动器，
其中，劣化补偿电路还被配置为基于与提供给所述多个像素中的每个像素的驱动信号对应的驱动数据，生成并累加所述多个像素中的每个像素的劣化值，通过使用所述多个像素中的每个像素的累加劣化值和劣化模型计算每个像素的补偿率，并且基于感测的电特征校正所述多个像素中的每个像素的累加劣化值。
16.根据权利要求15所述的显示装置，其中，劣化补偿电路还被配置为：
生成与所述多个像素块对应的多个累加劣化值，将所述多个像素块中具有最高累加劣化值的像素块识别为感测像素块，并控制数据驱动器对感测像素块进行感测。
17.根据权利要求16所述的显示装置，其中，劣化补偿电路还被配置为：
基于温度或所述最高累加劣化值来调整感测周期。
18.一种用于驱动具有多个像素块的显示面板的显示驱动电路的操作方法，
所述操作方法包括：
通过基于提供给所述多个像素块中的每个像素块的驱动数据，计算并累加所述多个像素块中的每个像素块的劣化值来生成多个累加劣化值，其中，所述多个像素块中的每个像素块包括至少一个像素；
基于所述多个累加劣化值，将至少一个像素块确定为感测像素块；
对感测像素块的电特征进行感测；
基于感测数据，校正与感测像素块对应的累加劣化值以匹配劣化率；以及
基于所述多个累加劣化值，对所述多个像素块进行劣化补偿。
19.根据权利要求18所述的操作方法，其中，校正与感测像素块对应的累加劣化值包括：
基于温度信息，校准感测数据以匹配参考温度。
20.根据权利要求19所述的操作方法，还包括基于所述多个累加劣化值或温度信息来调节对电特征进行感测的感测周期。
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