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CN110503907B - 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置 - Google Patents

显示面板及其裂纹检测方法、显示装置 Download PDF

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CN110503907B CN201810473966.5A CN201810473966A CN110503907B CN 110503907 B CN110503907 B CN 110503907B CN 201810473966 A CN201810473966 A CN 201810473966A CN 110503907 B CN110503907 B CN 110503907B
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Abstract

一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。显示面板包括显示区和围绕显示区的周边区，显示区设置有第一子像素以及与第一子像素电连接的第一数据线，周边区设置有裂纹检测电路结构，裂纹检测电路结构包括检测电路走线和第一检测开关电路，第一数据线的第一端与检测电路走线的第一端电连接，第一数据线的第二端通过第一检测开关电路与检测电路走线的第二端电连接，检测电路走线的第二端用于接收检测电压。显示面板可以检测出周边的微小裂纹，从而及时将不良品挑选出来，有效防止这种不良的显示面板在后续使用过程中造成显示面板失效的问题的发生。

Description

显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
技术领域
本公开至少一个实施例涉及一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。
背景技术
一般显示面板周边的封装膜层、柔性基板或玻璃容易发生微小裂纹，导致周围环境中的水汽沿着周边的裂纹进入显示区域，从而导致显示器件的金属走线被腐蚀或有机发光膜层被侵蚀，进而导致显示面板失效。目前，主要通过在显示面板的周边区域设置防裂的结构来预防裂纹。
发明内容
本公开的至少一实施例提供一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。本公开中的显示面板可以检测出周边的微小裂纹，从而及时将不良品挑选出来，有效防止这种不良的显示面板在后续使用过程中由于外界的水汽进入显示面板内部而导致显示器件的金属线路被腐蚀，进而造成显示面板失效的问题。
本公开的至少一实施例提供一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区的周边区，其中，所述显示区设置有第一子像素以及与所述第一子像素电连接的第一数据线，所述周边区设置有裂纹检测电路结构，所述裂纹检测电路结构包括检测电路走线和第一检测开关电路，其中，所述第一数据线的第一端与所述检测电路走线的第一端电连接，所述第一数据线的第二端通过所述第一检测开关电路与所述检测电路走线的第二端电连接，所述检测电路走线的第二端用于接收检测电压。
在一些示例中，显示面板还包括电压施加部，其中，所述电压施加部与所述检测电路走线的第二端电连接且用于向所述检测电路走线施加所述检测电压。
在一些示例中，所述电压施加部包括设置在所述周边区中的第一接触垫，所述第一接触垫被配置为与检测探针接触或者与驱动电路板电连接。
在一些示例中，显示面板还包括开关信号施加部，其中，所述开关信号施加部与所述第一检测开关电路的控制端电连接，且用于向所述第一检测开关电路施加开关信号以控制所述第一检测开关电路的导通或截止。
在一些示例中，所述开关信号施加部包括设置在所述周边区的第二接触垫，所述第二接触垫被配置为与检测探针接触或者与驱动电路板电连接。
在一些示例中，所述第一检测开关电路包括至少一个薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极与所述开关信号施加部电连接，所述薄膜晶体管的源极和漏极之一与所述第一数据线电连接，另一个与所述检测电路走线的第二端电连接。
在一些示例中，显示面板还包括电阻元件，连接在所述第一数据线的第二端和所述第一检测开关电路之间，或者连接在所述第一检测开关电路和所述检测电路走线的第二端之间。
在一些示例中，所述检测电路走线围绕所述显示区设置。
在一些示例中，所述检测电路走线包括蛇形结构。
在一些示例中，所述显示区还设置有第二子像素以及与所述第二子像素电连接的第二数据线，所述显示面板还包括第二检测开关电路，所述开关信号施加部与所述第二检测开关电路的控制端连接，所述第二数据线与所述第二检测开关电路电连接且可通过所述第二检测开关电路接收所述显示面板用于显示黑色画面或者白色画面的数据信号。
在一些示例中，所述第一子像素和所述第二子像素的发光颜色不同。
在一些示例中，所述第一子像素和所述第二子像素中的每个包括像素驱动电路以及有机发光元件，且所述像素驱动电路被配置为在接收的显示数据电压与电源电压相等时不输出驱动电流。
本公开的至少一实施例提供一种显示装置，包括上述任一实施例提供的显示面板。
本公开的至少一实施例提供一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板为上述任一实施例提供的显示面板，所述方法包括：使得所述显示面板显示黑色画面，其中，导通所述第一检测开关电路，且在所述检测电路走线的第二端施加所述检测电压；或者，使得所述显示面板显示白色画面，其中，导通所述第一检测开关电路，且在所述检测电路走线的第二端施加所述检测电压。
在一些示例中，在显示所述黑色画面的情况下，若所述第一子像素发光，则判断所述周边区出现裂纹；或者，在显示所述白色画面的情况下，若所述第一子像素不发光，则判断所述周边区未出现裂纹。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。
图1A为本公开一实施例的一示例提供的显示面板的局部简化结构示意图；
图1B和图1C为本公开一实施例提供的判断显示面板周边区是否出现裂纹的原理示意图；
图2为本公开一实施例的另一示例提供的显示面板的局部简化结构示意图；
图3A为本公开一实施例中的第一子像素包括的示例性像素驱动电路以及有机发光元件的结构示意图；
图3B为图3A所示的示例性像素驱动电路的驱动时序图；
图4A为本公开一实施例的一示例提供的一种显示面板的局部结构示意图；
图4B为本公开一实施例的另一示例提供的一种显示面板的局部结构示意图；
图4C为本公开一实施例的另一示例提供的一种显示面板的局部结构示意图；
图4D为本公开一实施例的另一示例提供的一种显示面板的局部结构示意图；
图4E为本公开一实施例的另一示例提供的一种显示面板的局部结构示意图；
图4F为本公开一实施例的另一示例提供的一种显示面板的局部结构示意图；
图5A为本公开另一实施例的一示例提供的显示面板的裂纹检测方法的检测过程示意图；
图5B为本公开另一实施例的另一示例提供的显示面板的裂纹检测方法的检测过程示意图。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
在研究中，本申请的发明人发现：目前用于显示面板的防裂结构一般不能完全预防微小裂纹的发生，部分显示面板周边仍然会有裂纹产生，而这种微小的裂纹通过肉眼无法观测到，因此需要一种方便、高效检测显示面板周边出现的微小裂纹的方法。
本公开的至少一实施例提供一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。该显示面板包括显示区和围绕显示区的周边区，其中，显示区设置有第一子像素以及与第一子像素电连接的第一数据线，周边区设置有裂纹检测电路结构，裂纹检测电路结构包括检测电路走线和第一检测开关电路，其中，第一数据线的第一端与检测电路走线的第一端电连接，第一数据线的第二端通过第一检测开关电路与检测电路走线的第二端电连接，检测电路走线的第二端用于接收检测电压。
本公开实施例中的显示面板包括的裂纹检测电路结构可以检测出显示面板周边的微小裂纹，从而及时将不良品挑选出来，有效防止这种不良的显示面板在后续使用过程中由于外界的水汽进入显示面板内部而导致显示器件的金属线路被腐蚀，进而造成显示面板失效的问题。
下面结合附图对本公开实施例提供的显示面板及其裂纹检测方法、显示装置进行描述。
本公开一实施例提供一种显示面板，图1A为本实施例的一示例提供的一种显示面板的局部简化结构示意图。
如图1A所示，该显示面板包括显示区100和围绕显示区100的周边区200。显示区100设置有包括多个子像素的子像素阵列以及为该子像素阵列提供扫描信号的多条栅线(图中未示出)和提供数据信号的多条数据线。这些栅线沿与X方向平行的方向延伸，例如每条栅线对应于一行子像素；这些数据线沿与Y方向平行的方向延伸，例如每条数据线对应于一列子像素。该多个子像素包括至少一个第一子像素110，相应地该多条数据线包括与第一子像素110电连接的至少一条第一数据线120。不同颜色的子像素组合能够形成像素单元，例如一个红色子像素、一个绿色子像素和一个蓝色子像素组合起来形成一个像素单元。
图1A仅示例性的示意出了与一条第一数据线120电连接的一个第一子像素110，然而应该理解，例如显示区100中一列第一子像素110与同一条第一数据线120电连接，这一列第一子像素110为显示相同颜色(例如绿色)的子像素。显示面板包括的第一数据线120指至少一条第一数据线120，例如在存在多条第一数据线120的情况下，与不同第一数据线120电连接的不同列第一子像素110可显示相同的颜色，也可显示不同的颜色。
如图1A所示，该显示面板的周边区200设置有裂纹检测电路结构210，裂纹检测电路结构210包括至少一条检测电路走线211和至少一个第一检测开关电路212。如图1A所示，第一数据线120的第一端121与检测电路走线211的第一端2111电连接，第一数据线120的与第一端121相对的第二端122，通过第一检测开关电路212，与检测电路走线211的与第一端2111相对的第二端2112电连接，检测电路走线211的第二端2112用于接收检测电压。
需要说明的是，上述第一数据线120的第一端121指代第一数据线120的一侧，检测电路走线211的第一端2111指代与第一数据线120的第一端121连接的一侧，其并非需要为实际的端点或端部。例如，当至少一条第一数据线120的第一端121与检测电路走线211的第一端2111电连接时，检测电路走线211的第一端2111为第一数据线120的第一端121连接到该检测电路走线211的连接侧。同样，第一数据线120的第二端122指代第一数据线120的另一侧，检测电路走线211的第二端2112为其与后续提到的电压施加部220连接的一侧，且也并非需要为实际的端点或端部。为了清楚起见，图1A仅示意性地标示出了第一数据线120的第一端121、检测电路走线211的第一端2111、第一数据线120的第二端122以及检测电路走线211的第二端2112。
此外，需要说明的是，该显示面板中的第一数据线仅指与检测电路走线电连接的数据线。图1A示出的与检测电路走线211电连接的第一数据线120，与该第一数据线120电连接的第一子像素110以及裂纹检测电路结构210，共同作为检测并判断显示面板的周边区是否出现裂纹的裂纹检测结构。
本实施例提供的显示面板在其周边区出现微小裂纹时，可以通过加电检测而及时地被挑选出来，从而有效防止这种不良的显示面板在后续使用过程中由于外界的水汽进入显示面板内部而导致显示器件的金属线路被腐蚀，进而造成显示面板失效的问题。
例如，如图1A所示，该显示面板还包括电压施加部220，该电压施加部220与检测电路走线211的第二端2112电连接，且用于向检测电路走线211施加检测电压。当第一检测开关电路212处于导通状态时，电压施加部220在向检测电路走线211施加检测电压的同时，也向第一数据线120施加检测电压。例如，施加至第一数据线120的检测电压可以为第一子像素110用于显示时的显示数据电压。
例如，电压施加部220可以有不同的实现方式，例如可以为电学信号测试垫(ET测试Pad)和柔性印刷电路绑定垫(FPC Bonding Pad)的至少之一。因此，根据电压施加部220的不同实现方式，该显示面板中的裂纹检测电路结构具有不同的连接方式，相应地具有不同的裂纹测试方式。当电压施加部220为电学信号测试垫时，则对应的裂纹测试可在显示面板的电学测试阶段进行；当电压施加部220为柔性印刷电路绑定垫时，则对应的裂纹测试可在显示面板的模组测试阶段进行。
例如，如图1A所示，在一个示例中，电压施加部220包括设置在周边区的第一接触垫221，该第一接触垫221可以被配置为与检测探针(图中未示出)接触，该检测探针可以连接到位于显示面板外部的检测装置等，从而为电压施加部220提供电压，以向检测电路走线211施加检测电压。
例如，在另一个示例中，该第一接触垫221还可以被配置为与驱动电路板(图中未示出)电连接，该驱动电路板既可以设置于显示面板内部，也可以设置于显示面板外部，并通过例如柔性电路板(FPC)等方式安装到显示面板上。该驱动电路板为电压施加部220提供电压，以向检测电路走线211施加检测电压。
例如，如图1A所示，该显示面板还包括开关信号施加部230，开关信号施加部230与第一检测开关电路212的控制端2120电连接，且用于向第一检测开关电路212施加开关信号以控制第一检测开关电路212的导通或截止。
例如，开关信号施加部230可以有不同的实现方式，例如同样地可以为电学信号测试垫和柔性印刷电路绑定垫的至少之一。因此，根据开关信号施加部230的不同实现方式，该显示面板中的裂纹检测电路结构具有不同的连接方式。
例如，如图1A所示，在一个示例中，开关信号施加部230包括设置在周边区200的第二接触垫231，该第二接触垫231可以被配置为与检测探针(图中未示出)接触，该检测探针可以连接到位于显示面板外部的检测装置等，从而为开关信号施加部230提供电压，以控制第一检测开关电路212的导通或截止。
例如，在另一个示例中，该第二接触垫231还可以被配置为与驱动电路板(图中未示出)电连接，该驱动电路板既可以设置于显示面板内部，也可以设置于显示面板外部，并通过例如柔性电路板等方式安装到显示面板上。该驱动电路板为开关信号施加部230提供电压，以控制第一检测开关电路212的导通或截止。
例如，本实施例中的电压施加部与开关信号施加部可以为同一类型，例如，电压施加部与开关信号施加部可以同为电学信号测试垫或柔性印刷电路绑定垫，本实施例不限于此。
例如，电压施加部与开关信号施加部还可以为不同类型，例如，电压施加部和开关信号施加部之一为电学信号测试垫和柔性印刷电路绑定垫之一，电压施加部和开关信号施加部中的另一个为电学信号测试垫和柔性印刷电路绑定垫中的另一个。本实施例对此不作限制，可根据实际情况进行设计。
例如，如图1A所示，显示面板的显示区100还设置有第二子像素130以及与第二子像素130电连接的第二数据线140。第二数据线140为不与检测电路走线211电连接的数据线；在显示区100中一列第二子像素130与同一条第二数据线140电连接，这一列第二子像素130为显示相同颜色(例如红色或蓝色)的子像素。
图1A仅示例性的示意出了与一条第二数据线140电连接的一个第二子像素130，显示面板包括的第二数据线140指至少一条第二数据线140，例如在存在多条第二数据线140的情况下，与不同第二数据线140电连接的不同列第二子像素130可显示相同的颜色，也可显示不同的颜色。
例如，第一子像素110与第二子像素130的颜色可以相同，例如二者彼此不相邻，分属于不同的像素单元。
例如，第一子像素110的颜色与第二子像素130的颜色不同。例如，第一子像素110为绿色子像素，第二子像素130为蓝色子像素和/或红色子像素，本实施例对此不作限制。
例如，如图1A所示，在一个示例中，显示面板还包括第二检测开关电路213，开关信号施加部230可以与第二检测开关电路213的控制端连接，以控制第二检测开关电路213的导通或截止；第二检测开关电路213的第一端与第二数据线140电连接，而第二端可以与电压施加部220电连接。
例如，第二检测开关电路213可以包括薄膜晶体管，开关信号施加部230可以与该薄膜晶体管的栅极连接以控制第二检测开关电路的导通或者截止，第二检测开关电路包括的薄膜晶体管的源极和漏极中的一个与第二数据线140电连接，而另一个用于接收显示面板用于显示黑色画面或者白色画面的数据信号。
例如，如图1A所示，第二数据线140可以通过第二检测开关电路213与电压施加部220电连接，当开关信号施加部230控制第二检测开关电路213处于导通状态时，电压施加部220通过第二检测开关电路213对第二数据线140施加电压，以使显示面板用于显示黑色画面或者白色画面。
例如，该电压施加部220可以包括多个电压施加子部，以分别向第二数据线140和第一数据线120施加不同的电压。
例如，第二数据线140也可以通过第二检测开关电路213与不同于电压施加部220的其他提供电压信号的部件连接，本实施例对此不作限制。
例如，第二检测开关电路213也可以由与开关信号施加部230不同的其他提供开关信号的部件连接，只要第二检测开关电路213能与第一检测开关电路212同时开启即可。
图1B和图1C为本公开实施例提供的判断显示面板周边区是否出现裂纹的原理示意图。在图1B和图1C所示的原理示意图中，以电压施加部和开关信号施加部为同一个部件为例进行描述，但不限于此。
例如，如图1B所示，开关信号施加部230对第一检测开关电路212施加开关信号以控制第一检测开关电路212导通。当显示面板周边区未出现裂纹时，检测电路走线211处于导通状态，由电压施加部220向检测电路走线211，以及通过第一检测开关电路212向第一数据线120施加检测电压，从而使检测电路走线211和第一数据线120形成闭合回路(图1B中虚线箭头所示的回路)，该闭合回路中没有电势差，因此，第一子像素110与第一数据线120彼此电连接的P点处的电压与电压施加部220施加的检测电压相等，且由于没有电压差，因此没有驱动电流经过P点进入与之连接的第一子像素110，即第一子像素110不发光。
如图1C所示，开关信号施加部230对第一检测开关电路212施加开关信号以控制第一检测开关电路212导通。当显示面板周边区出现裂纹时，检测电路走线211处于非导通状态(例如，发生断裂)，即形成开路或近似开路，电压施加部220仅能通过第一检测开关电路212向第一数据线120施加检测电压，此时，不再存在图1B所示的闭合回路，第一子像素110与第一数据线120彼此电连接的P点与电压施加部220施加的检测电压之间存在电势差，即，P点处的电压小于电压施加部220施加的检测电压。此时，驱动子像素的电流从第一数据线120经过P点流入到与之连接的第一子像素110中，以驱动其中的有机发光元件1310发光，即该第一子像素110发光。
例如，图2为本实施例的另一示例提供的显示面板的局部简化结构示意图。
如图2所示，在本示例中，与图1A所示的情形相比，显示面板还可以进一步包括电阻元件240，该电阻元件240可以连接在第一数据线120的第二端122和第一检测开关电路212之间(图中未示出)，或者连接在第一检测开关电路212和检测电路走线211的第二端2112之间，这使得从检测电路走线211的第二端2112到第一数据线120的第二端122且经过第一检测开关电路212的导电路径需要经过电阻元件240。需要说明的是，本实施例提供的电阻元件240可以增加第一数据线120的第二端122和第一检测开关电路212之间，或者第一检测开关电路212和检测电路走线211的第二端2112之间的电压降，由此进一步提高在显示面板周边区出现裂纹时的检测效果。
例如，在如图1B和图1C所示的原理示意图中设置有图2所示的电阻元件时，当显示面板周边区未出现裂纹时，检测电路走线211处于导通状态，由电压施加部220向检测电路走线211施加的检测电压在经过检测电路走线211传输至第一数据线120上的与第一子像素110电连接的P点的过程中不存在电压降，因此，P点处的电压与电压施加部220施加的检测电压相等，且由于没有电压降，因此没有驱动电流经过P点进入与之连接的第一子像素110，即第一子像素110不发光。
例如，在如图1B和图1C所示的原理示意图中设置有图2所示的电阻元件时，当显示面板周边区出现裂纹时，检测电路走线211处于非导通状态，电压施加部220仅通过第一检测开关电路212向第一数据线120施加检测电压，由电压施加部220向第一数据线120施加的检测电压在传输至第一数据线120上的P点的过程中存在电压降，因此，P点处的电压小于电压施加部220施加的检测电压。驱动子像素的电流从第一数据线120经过P点流入到与之连接的第一子像素110中，以驱动其中的有机发光元件1310发光，即该第一子像素110发光。
图3A为本实施例中的第一子像素包括的示例性像素驱动电路以及有机发光元件的结构示意图，该示例性像素驱动电路被配置为在接收的显示数据电压与电源电压相等时不输出驱动电流。图3B为该示例性像素驱动电路的驱动时序图。
如图3A和图3B所示，该示例性像素驱动电路包括6个薄膜晶体管(TFT)和两个电容C1和C2，该6个TFT均为P沟道晶体管，T1-T5为开关晶体管，DTFT为驱动晶体管。该像素驱动电路还包括两个控制信号端S1和S2，一个数据信号端Vdata(即为通过数据线输入的显示数据信号)，以及三个电压信号端VDD、VSS、VREF。例如，电压信号端VDD、VSS、VREF均为直流电压信号端，例如电压信号端VDD和VSS中，前者为高电压端，而后者为低电压端(例如接地端)，电压信号端VREF为参考电压端，其电压值可以根据需要选择为低电压(例如接地)。
图3B的时序图所示的第①阶段为像素复位阶段：第一控制信号S1为低电平，第二控制信号S2为低电平，数据信号Vdata为低电平。此时，开关晶体管T1至T5均导通。此时由于T1导通，驱动晶体管DTFT处于二极管连接状态。此时DTFT的漏极电压为VDD+Vth。在第①阶段最后，A点电位达到VDD+Vth，B点电位为VREF，C点电位为VDD。
在进行显示驱动时，例如，在时序图所示的第②阶段，即数据写入阶段，第一控制信号S1处于高电平，第二控制信号S2处于低电平，数据信号Vdata处于高电平，此时，开关晶体管T1、T4和T5导通，开关晶体管T2和T3截止。A点电位为VDD+Vth，B点电位为VREF，C点电位为Vdata，电容C1和C2均处于充电状态。
在时序图所示的第③阶段，即发光阶段中，第一控制信号S1处于低电平，第二控制信号S2处于高电平，数据信号Vdata处于低电平，此时，开关晶体管T1、T4和T5截止，开关晶体管T2和T3导通。A点电位为2VDD+Vth-Vdata，B点电位为VREF+VDD-Vdata，C点电位为VDD，对于驱动晶体管DTFT而言，栅极与源极之间的电压差Vgs＝VDD+Vth-Vdata，DTFT处于饱和状态，为有机发光元件1310充电，所输出电流为：
I＝1/2*β*(Vgs-Vth)2
＝1/2*β*(VDD+Vth-Vdata-Vth)2
＝1/2*β*(VDD-Vdata)2
其中，β为一常数值，在电源电压VDD不变的情况下，驱动电流I的大小和数据信号Vdata(即显示数据电压)直接相关。当数据信号Vdata等于电源电压VDD的情况下，驱动晶体管DTFT的输出电流I为零，也即没有电流流过有机发光元件1310，相应地包括该像素驱动电路的第一子像素不发光，即显示黑；相应地当数据信号Vdata不等于电源电压VDD的情况下，驱动晶体管DTFT的输出电流I不为零，也即有电流流过有机发光元件1310，相应地包括该像素驱动电路的第一子像素发光，即显示白，且数据信号Vdata与电源电压VDD的差值越大，则输出电流I越大，相应的子像素显示的灰阶越高。
应该理解，本公开实施例的显示面板的子像素的像素驱动电路不限于图3A所示的电路，还可以采用其他形式的电路结构，只要满足在接收的显示数据电压与电源电压相等时不输出驱动电流即可。
如图1B和图3A、图3B所示，在显示面板周围未出现裂纹的情形，在进行裂纹检测过程中，在电压施加部220施加的检测电压为第一子像素110的像素驱动电路的电源电压VDD时，由于P点处的电压(即第一数据线120上的显示数据电压)与电压施加部220施加的VDD相等，因此，第一数据线120上的显示数据电压Vdata＝VDD。根据上述驱动电流I的公式，当显示数据电压Vdata与电源电压VDD相等时，驱动电流I为零，即，没有驱动电流流入有机发光元件中，因此在显示面板周围未出现裂纹的情形中，与第一数据线120连接的(例如一列)第一子像素110不发光，从而出现暗线。
如图1C和图3A、图3B所示，在显示面板周围出现裂纹的情形，在电压施加部220施加的检测电压为电源电压VDD时，由于P点处的电压小于电压施加部220施加的检测电压，因此，第一数据线120上的显示数据电压Vdata<VDD。根据上述驱动电流I的公式，当显示数据电压Vdata与电源电压VDD不相等时，驱动电流I不为零，即，有驱动电流流入有机发光元件中，因此，在显示面板周围出现裂纹的情形中，与第一数据线120连接的(例如一列)第一子像素110发光。
本实施例提供的显示面板，通过第一子像素的发光情况可以有效判断周边区是否出现裂纹，从而提高周边区裂纹的检出率。
例如，本实施例提供的第二子像素也包括图3A所示的像素驱动电路以及有机发光元件，由于与第二子像素电连接的第二数据线不会与检测电路走线电连接(例如，形成闭合回路)，因此，显示面板周边的裂纹不会影响第二子像素的发光状态。
图4A为本公开实施例的一示例提供的显示面板的局部结构示意图，图4A的示例具体实现了图1A或图2所示的简化结构，以及可应用图1B和图1C，以及图3A和图3B所示的原理检测周边区是否出现裂纹。
例如，如图4A所示，显示面板的周边区200包括绑定区(位于图中显示区的下方的周边区)，该绑定区例如可以用于柔性电路板焊盘、IC电路板焊盘250的绑定等。例如，该IC电路可以为数据驱动芯片。
例如，检测电路走线211的第一端位于显示区100的远离绑定区的一侧，第一数据线120的第一端位于显示区100的远离绑定区的一侧，第一数据线120的第二端位于显示区100的靠近绑定区的一侧。
例如，如图4A所示，检测电路走线211在周边区200中至少部分围绕显示区100设置。
例如，检测电路走线211可以包括沿Y方向延伸的部分以及沿X方向延伸的部分。
例如，如图4A所示，显示面板包括沿Y方向延伸的中心线300，检测电路走线211包括位于中心线300两侧且对称分布的两部分走线，即，检测电路走线211分布在显示区100在X方向上的两侧，以及显示区100的远离绑定区的一侧。
例如，如图4A所示，位于中心线300左右两侧的两部分检测电路走线211分别为两条没有电连接关系的检测电路走线，如此可以提高检测准确性，便于定位显示面板上发生微裂纹的区域。但是本实施例不限于此，例如，位于中心线300左右两侧的两部分检测电路走线211也可以为同一条检测电路走线211(即两部分检测电路走线211具有电连接关系)。
例如，根据需要，还可以设置更多的检测电路走线211，每条检测电路走线对应于显示面板的周边区域的一部分。例如，对于图1A所示的情形，分别为显示面板的左侧周边区、右侧周边区和上侧周边区分别提供一条检测电路走线，由此在出现微裂纹的情况下，可以通过检测结果确定微裂纹出现在左侧周边区、右侧周边区和上侧周边区中哪一个。
例如，如图4A所示，分别位于中心线300左右两侧的，且与检测电路走线211电连接的第一数据线120的数量可以相同，也可以不同。
例如，如图4A所示，分别位于中心线300左右两侧且与检测电路走线211电连接的第一数据线120的位置，可以相对于中心线300对称分布，也可以不对称分布，本实施例对此不作限制。
例如，图4A所示的示例中，电压施加部220和开关信号施加部230均为电学信号测试垫，该显示面板的裂纹检测在显示面板的电学测试阶段进行。此时，显示面板中的柔性印刷电路绑定垫260与裂纹检测电路结构210没有电连接关系。
例如，如图4A所示，本示例提供的显示面板包括位于中心线300左右两侧的两个电学信号测试垫，每个电学信号测试垫分别为位于中心线300两侧的两部分检测电路走线211施加检测电压。本实施例不限于此，也可以仅设置一个电学信号测试垫。
例如，如图4A所示，第一检测开关电路212包括至少一个薄膜晶体管2121，薄膜晶体管2121的栅极(即为第一检测开关电路212的控制端)与开关信号施加部230电连接，薄膜晶体管2121的源极和漏极之一与第一数据线120电连接，另一个与检测电路走线211的第二端电连接。
例如，示意性地，图4A所示的示例中的第一检测开关电路212包括分别于用于检测显示面板的周边区是否出现裂纹的第一数据线120对应的六组薄膜晶体管，每组薄膜晶体管包括第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，其中，每组薄膜晶体管中的第一薄膜晶体管的栅极与位于中心线300的左侧的电学信号测试垫电连接，第二薄膜晶体管的栅极与位于中心线300的右侧的电学信号测试垫电连接，第一薄膜晶体管的源极与第一数据线120电连接，第一薄膜晶体管的漏极与第二薄膜晶体管的源极以及检测电路走线211电连接，第二薄膜晶体管的漏极与另一条第一数据线120电连接。
例如，在电学检测过程中，第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管可以同时处于打开状态，也可以其中一个或一组处于打开状态以实现第一检测开关电路212处于导通状态，本实施例对此不作限制。
本公开实施例的示例以薄膜晶体管2121为P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOS)为例进行描述。如图4A所示的具体示例中，在电学测试阶段，电学信号测试垫作为开关信号施加部230，为薄膜晶体管2121的栅极施加低电平信号，从而控制第一检测开关电路212导通；电学信号测试垫作为电压施加部220，为检测电路走线211施加高电平信号以作为检测电压。本公开实施例的示例不限于此，薄膜晶体管也可以为NMOS薄膜晶体管，此时电学信号测试垫作为开关信号施加部，为NMOS薄膜晶体管施加高电平以控制第一检测开关电路导通；同理，电学信号测试垫作为电压施加部220，可仍然为检测电路走线211施加高电平信号以作为检测电压。
例如，在图4A所示的显示面板中，在电学测试阶段，电学信号测试垫控制第一检测开关电路212导通，且同时电学信号测试垫为检测电路走线211、第一数据线120施加检测电压(例如，该检测电压等于电源电压VDD)，第二数据线被施加显示黑色画面的第一数据信号，显示面板在显示黑色画面的情况下，若与第一数据线120电连接的第一子像素发光，则说明周边区出现裂纹；若与第一数据线120电连接的第一子像素没有发光，则说明周边区没有出现裂纹，此时整个显示面板只显示黑色画面。
例如，在第一子像素为绿色子像素，且第一数据线120与同一列绿色子像素连接时，若在显示面板显示黑色画面，且对与第一数据线120电连接的第一子像素施加的显示数据电压Vdata为VDD的情况下，显示面板上出现绿色的亮线，这说明周边区出现裂纹。本示例不限于此，第一子像素也可以为其他颜色的子像素。
例如，在图4A所示的显示面板中，在电学测试阶段，电学信号测试垫控制第一检测开关电路212导通，且同时电学信号测试垫为检测电路走线211、第一数据线120施加检测电压(例如，该检测电压等于电源电压VDD)，第二数据线被施加显示白色画面的第二数据信号，显示面板在显示白色画面的情况下，若第一子像素发光，则说明周边区出现裂纹，此时整个显示面板只显示白色画面；若第一子像素没有发光，则说明周边区没有出现裂纹。
例如，在第一子像素为绿色子像素，且第一数据线120与同一列绿色子像素连接时，若在显示面板显示白色画面，且对与第一数据线120电连接的第一子像素施加的显示数据电压Vdata为VDD的情况下，显示面板上出现紫色的亮线，说明周边区没有出现裂纹。
图4B-图4F为本公开实施例的其他示例提供的显示面板的局部结构示意图，图4B-图4F的示例分别具体实现了图1A或图2所示的简化结构，以及可应用图1B和图1C，以及图3A和图3B所示的原理检测周边区是否出现裂纹。
例如，如图4B所示，与图4A所示的示例不同的是：图4B所示的示例中，检测电路走线211包括蛇形结构(例如S形走线、Z形走线、W形走线等)，可以提高对于周边区200的覆盖率，从而能够更好的检测显示面板的周边区是否出现裂纹。此外，本示例中的其他结构设计与图4A所示的示例中的其他结构设计相同，在此不再赘述。
例如，如图4C所示，与图4A所示的示例不同的是：图4C所示的示例中，电压施加部220和开关信号施加部230均为柔性印刷电路绑定垫，该显示面板的裂纹检测在显示面板的模组测试阶段进行。因此，在模组测试阶段，柔性印刷电路绑定垫既作为电压施加部220，又作为开关信号施加部230。而电学信号测试垫270与裂纹检测电路结构210没有电连接关系。
例如，本示例提供的显示面板的柔性印刷电路绑定垫包括位于中心线(图4A中的中心线300)左右两侧的两个输入端口，从而为位于中心线两侧的两部分检测电路走线211施加检测电压。本示例不限于此，本示例中的柔性印刷电路绑定垫也可以仅包括一个输入端口。
在模组测试阶段，柔性印刷电路绑定垫的工作原理与电学信号测试垫相同，这里不再赘述。此外，本示例中的其他结构设计与图4A所示的示例中的其他结构设计相同，在此不再赘述。
例如，如图4D所示，与图4A所示的示例不同的是：图4D所示的示例中，在电学测试阶段，电学信号测试垫既包括电压施加部220，又包括开关信号施加部230；在模组测试阶段，柔性印刷电路绑定垫既包括电压施加部220，又包括开关信号施加部230。因此，在图4D所示的示例中，该显示面板中的裂纹检测电路结构既可以在电学测试阶段检测出显示面板周边的微小裂纹，也可以在模组测试阶段检测出显示面板周边的微小裂纹。
对于图4D所示的实施例，电压施加部220同时包括电学信号测试垫和柔性印刷电路绑定垫，则对应的裂纹测试既可以在显示面板的电学测试阶段进行，也可以在显示面板的模组测试阶段进行，两种裂纹测试方式彼此不干扰、抵触。
因此，该实施例的显示面板中的裂纹检测电路结构既可以用于在电学测试阶段，也可以用于在模组测试阶段，由此可检测出显示面板周边的微小裂纹，及时将显示面板中不良品挑选出来，从而既可以有效防止不良的显示面板在后续使用过程中由于外界的水汽进入其内部，而导致显示器件的金属线路被腐蚀，进而造成显示面板失效；又不会出现用户使用载有这种不良显示面板的移动产品一段时间后，由于裂纹逐渐扩大，而造成机械性的损伤，导致显示屏失效。
该示例中的显示面板无论在电学测试阶段，还是模组测试阶段中，裂纹检测实现的原理均与图4A所示的显示面板的裂纹检测实现的原理相同，这里不再赘述。
上述各示例中，在电学测试阶段，电学信号测试垫包括电压施加部，又包括开关信号施加部；在模组测试阶段，柔性印刷电路绑定垫既包括电压施加部，又包括开关信号施加部。
例如，如图4E所示，与图4A所示的示例不同的是：图4E所示的示例中，电压施加部220为电学信号测试垫，开关信号施加部230为柔性印刷电路绑定垫。因此，电学信号测试垫用于为检测电路走线211施加检测电压，柔性印刷绑定垫用于向第一检测开关电路212施加开关信号以控制第一检测开关电路212的导通或者截止。
例如，如图4F所示，与图4A所示的示例不同的是：图4F所示的示例中，电压施加部220为柔性印刷电路绑定垫，开关信号施加部230为电学信号测试垫。因此，柔性印刷电路绑定垫用于为检测电路走线211施加检测电压，电学信号测试垫用于向第一检测开关电路212施加开关信号以控制第一检测开关电路212的导通或者截止。
图4E和图4F所示的示例中，电学信号测试垫和柔性印刷电路绑定垫可以分别作为电压施加部和开关信号施加部，以实现对显示面板周边区裂纹的检测。
图5A为本公开另一实施例的一示例提供的显示面板的裂纹检测方法的检测过程示意图，本实施例中的显示面板为上述任一示例提供的显示面板。如图5A所示，具体步骤包括：
S201：导通第一检测开关电路和第二检测开关电路。
S202：在检测电路走线的第二端施加检测电压。
S203：对第二数据线施加用于显示黑色画面的第一数据信号。
例如，本示例通过首先导通第二检测开关电路，然后对显示面板上的第二数据线施加用于显示黑色画面的第一数据信号使显示面板显示黑色画面。
例如，在显示面板显示黑色画面的情况下，若第一子像素发光，则判断周边区出现裂纹。例如，在第一子像素为绿色子像素时，且第一数据线与同一列绿色子像素连接时，若在显示面板显示黑色画面的情况下，显示面板上出现绿色的亮线，则判断周边区出现裂纹。
例如，在显示面板显示黑色画面的情况下，若第一子像素不发光，则判断周边区没有出现裂纹，此时，整个显示面板只显示黑色画面。
例如，本示例提供的裂纹检测方法既可以在电学测试阶段检测显示面板的周边区是否出现裂纹，也可以在模组测试阶段检测显示面板的周边区是否出现裂纹，本示例不限于此。
本示例中，在显示面板显示黑色画面的情况下，可以通过第一子像素的发光情况判断显示面板的周边区是否出现裂纹。
图5B为本公开另一实施例的一示例提供的显示面板的裂纹检测方法的检测过程示意图，本实施例中的显示面板为上述任一示例提供的显示面板。如图5B所示，具体步骤包括：
S211：导通第一检测开关电路和第二检测开关电路。
S212：在检测电路走线的第二端施加检测电压。
S213：对第二数据线施加用于显示白色画面的第二数据信号。
例如，本示例通过首先导通第二检测开关电路，然后对显示面板的第二数据线施加用于显示白色画面的第二数据信号，以使显示面板显示白色画面。
例如，在显示面板显示白色画面的情况下，若第一子像素不发光，则判断周边区没有出现裂纹。例如，在第一子像素为绿色子像素时，且第一数据线与同一列绿色子像素连接时，若在显示面板显示白色画面的情况下，显示面板上出现紫色的亮线，则判断周边区没有出现裂纹。
例如，在显示面板显示白色画面的情况下，若第一子像素发光，则判断周边区出现裂纹，此时，整个显示面板只显示白色画面。
例如，本示例提供的裂纹检测方法既可以在电学测试阶段检测显示面板的周边区是否出现裂纹，也可以在模组测试阶段检测显示面板的周边区是否出现裂纹，本示例不限于此。
本示例中，在显示面板显示白色画面的情况下，可以通过第一子像素的发光情况判断显示面板的周边区是否出现裂纹。
本公开的另一实施例提供一种显示装置，该显示装置包括上述任一示例提供的显示面板。本实施例提供的显示装置既可以在电学测试阶段，也可以在模组测试阶段检测出其周边的微小裂纹，及时将不良品挑选出来，从而既可以有效防止不良的显示装置在后续使用过程中由于外界的水汽进入其内部，而导致其内部的金属线路被腐蚀，进而造成显示装置失效；又不会出现用户使用载有这种不良显示装置一段时间后，由于裂纹逐渐扩大，而造成机械性的损伤，导致显示屏失效。
例如，该显示装置为有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示装置等显示器件以及包括该显示装置的电视、数码相机、手机、手表、平板电脑、笔记本电脑、导航仪等任何具有显示功能的产品或者部件，本实施例不限于此。
有以下几点需要说明：
(1)本公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
(2)在不冲突的情况下，本公开同一实施例及不同实施例中的特征可以相互组合。
以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区的周边区，其中，所述显示区设置有第一子像素以及与所述第一子像素电连接的第一数据线，所述周边区设置有裂纹检测电路结构，所述裂纹检测电路结构包括检测电路走线和第一检测开关电路，
其中，所述第一数据线的第一端与所述检测电路走线的第一端电连接，所述第一数据线的第二端通过所述第一检测开关电路与所述检测电路走线的第二端电连接，所述检测电路走线的第二端用于接收检测电压；
所述显示面板还包括开关信号施加部和电阻元件，所述开关信号施加部与所述第一检测开关电路的控制端电连接，且用于向所述第一检测开关电路施加开关信号以控制所述第一检测开关电路的导通或截止，所述电阻元件连接在所述第一数据线的第二端和所述第一检测开关电路之间；
所述检测电路走线的第一端位于所述显示区远离所述第一检测开关电路的一侧，所述检测电路走线的第二端位于所述显示区远离所述检测电路走线的第一端的一侧，
所述显示区还设置有第二子像素以及与所述第二子像素电连接的第二数据线，所述显示面板还包括第二检测开关电路，所述开关信号施加部与所述第二检测开关电路的控制端连接，所述第二数据线与所述第二检测开关电路电连接且可通过所述第二检测开关电路接收所述显示面板用于显示黑色画面或者白色画面的数据信号；
所述第一子像素和所述第二子像素中的每个包括像素驱动电路以及有机发光元件，且所述像素驱动电路被配置为在接收的显示数据电压与电源电压相等时不输出驱动电流。
2.根据权利要求1所述的显示面板，还包括电压施加部，其中，所述电压施加部与所述检测电路走线的第二端电连接且用于向所述检测电路走线施加所述检测电压。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述电压施加部包括设置在所述周边区中的第一接触垫，
所述第一接触垫被配置为与检测探针接触或者与驱动电路板电连接。
4.根据权利要求1-3任一项所述的显示面板，其中，所述开关信号施加部包括设置在所述周边区的第二接触垫，
所述第二接触垫被配置为与检测探针接触或者与驱动电路板电连接。
5.根据权利要求1-3任一项所述的显示面板，其中，所述第一检测开关电路包括至少一个薄膜晶体管，
所述薄膜晶体管的栅极与所述开关信号施加部电连接，
所述薄膜晶体管的源极和漏极之一与所述第一数据线电连接，另一个与所述检测电路走线的第二端电连接。
6.根据权利要求1-3任一项所述的显示面板，其中，所述检测电路走线围绕所述显示区设置。
7.根据权利要求1-3任一项所述的显示面板，其中，所述检测电路走线包括蛇形结构。
8.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述第一子像素和所述第二子像素的发光颜色不同。
9.一种显示装置，包括权利要求1-8任一项所述的显示面板。
10.一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板为权利要求1-8任一项所述的显示面板，所述方法包括：
使得所述显示面板显示黑色画面，其中，导通所述第一检测开关电路，且在所述检测电路走线的第二端施加所述检测电压；或者，
使得所述显示面板显示白色画面，其中，导通所述第一检测开关电路，且在所述检测电路走线的第二端施加所述检测电压。
11.根据权利要求10所述的裂纹检测方法，其中，在显示所述黑色画面的情况下，若所述第一子像素发光，则判断所述周边区出现裂纹；或者，
在显示所述白色画面的情况下，若所述第一子像素不发光，则判断所述周边区未出现裂纹。
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