CN118275744A - 光器件测试保护电路及光器件测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电气元件技术领域，具体公开了一种光器件测试保护电路及光器件测试系统，该光器件测试保护电路包括控制单元、连接检测单元、开关使能单元、负载切换单元，所述控制单元分别与所述连接检测单元、所述负载切换单元电连接，所述开关使能单元分别与所述连接检测单元、所述负载切换单元电连接，所述负载切换单元选择性地接通光器件负载或放电负载；所述开关使能单元配置有用于连接电源的接口，所述连接检测单元用于检测光器件与测试板的接续状态，控制单元根据所述接续状态控制所述开关使能单元接通或断开所述电源，以及控制负载切换单元接通光器件负载或者放电负载。通过本发明可以有效保护光器件不因带电插拔而损伤以及提高测试效率。

Description

光器件测试保护电路及光器件测试系统

技术领域

本发明涉及光器件技术领域，具体涉及一种光器件测试保护电路及光器件测试系统。

背景技术

光器件在生产过程中，为了保证出厂的性能，需要对光器件进行多功能的测试，需要将光器件频繁的接入测试板，再从测试板取出的操作。通常的做法时，将光器件的柔性电路板FPC通过压接方式直接接入到测试板上，或是通过快速接头接入到测试板中，测试完成后，断开与测试板的连接，取出光器件。然后继续接入下一颗光器件，如此重复操作，实现批量性测试作业。

正常情况下，插/拔光器件之前，需要将测试板完全断电停止工作，即测试板完全无电的情况下才进行光器件的连接与断开操作，但实践应用中发现，由于测试板上电容存在，即使测试完成，测试板供电回路切断，实际测试板上仍然有部份残留电压，此时拔插光器件时，由于瞬时的冲击电流会造成光器件的软损伤。而这种损伤又是偶然发生的，很难被发现。为了避免这种情况发生，可以断电后等待较长时间让测试电路板完全放电结束，才进行拔插器件的操作，这种操作虽然安全，但增加了等待时间，影响测试效率。

发明内容

本发明的第一目的在于改善测试板断电后仍有残余电压而损伤光器件的问题，提供一种光器件测试保护电路，不仅可以保护光器件不因带电插拔而损伤，而且还可以提高光器件的测试效率。

本发明的第二目的在于改善由于软件异常或人为误操作导致带电插拔光器件导致光器件损伤的问题，对光器件测试保护电路进一步改进优化。

为了实现上述目的，本发明提供了以下技术方案：

一种光器件测试保护电路，包括控制单元、连接检测单元、开关使能单元、负载切换单元，所述控制单元分别与所述连接检测单元、所述负载切换单元电连接，所述开关使能单元分别与所述连接检测单元、所述负载切换单元电连接，所述负载切换单元选择性地接通光器件负载或放电负载；所述开关使能单元配置有用于连接电源的接口，所述连接检测单元用于检测光器件与测试板的接续状态，所述控制单元根据所述接续状态控制所述开关使能单元接通或断开所述电源，以及控制所述负载切换单元接通光器件负载或者放电负载。

上述方案中，通过设置连接检测单元和负载切换单元，当连接检测单元检测到光器件与测试板连接时，控制单元控制负载切换单元接通光器件负载，同时控制开关使能单元接通电源，使得电源可为后级负载切换单元及光器件负载供电，实现光器件正常测试；当测试结束后，光器件与测试板断开，此时连接检测单元检测到光器件与测试板断开后，控制单元控制负载切换单元接通放电负载以加速放电，同时控制开关使能单元断开电源，电源不再供电。通过放电负载加速放电，可以使得测试板中残留电压能够尽快释放，一方面可以保障当前光器件是在无电状态下取下，避免因带电插拔而损伤，另一方面可以加快连接下一个光器件进行测试，即提高了测试效率。

所述连接检测单元包括与第一逻辑检测模块和第二逻辑检测模块，所述第一逻辑检测模块的输出端连接开关使能单元，所述第一逻辑检测模块的输入端连接控制单元，所述第二逻辑检测模块的输出端连接控制单元，所述第二逻辑检测模块的输入端连接测试板。

上述方案中，第二逻辑检测模块主要用于检测光器件与测试板的接续状态，第一逻辑检测模块主要用于在控制单元的控制下输出相应触发信号，触发开关使能单元接通或断开电源。由于是硬件逻辑检测方式，即使是SOFT异常导致带电作业，只要FPC的焊盘一旦检测到脱离测试板，由硬件快速切断电源，达到保护目的，可靠性高，且响应时间短。

所述第二逻辑检测模块为或非门模块，所述或非门模块的输出端同时连接所述第一逻辑检测模块的一个输入端、通过隔离电阻连接控制单元的第二GPIO端口、负载切换单元的输入端，所述或非门模块的四个输入端分别连接测试板的四个焊盘。

上述方案中，第二逻辑检测模块采用或非门电路实现，只要四个输入端中有一个输入端为断开状态，检测结果都会被认为是断开状态，继而触发开关使能单元断开电源，整个电路处于断电状态，第二逻辑检测模块是硬件电路，所以这种异常的响应时间极短，从而有效断开测试板电源。达到保护目的。

所述第一逻辑检测模块为包括两个输入端的与门模块，所述与门模块的另一个输入端连接控制单元的第一GPIO端口。

上述方案中，双输入的与门模块，只要其中一个输入为低输出即为低，实现方式简单，降低电路的复杂度及成本。

所述开关使能单元包括PMOS管、NMOS管和第一电阻，所述PMOS管的栅极与所述NMOS管的漏极连接，PMOS管的源极用于与电源连接，PMOS管的漏极连接负载切换单元，NMOS管的源极接地，NMOS管的栅极与第一逻辑检测模块的输出端连接，所述第一电阻的两端分别与PMOS管的源极、NMOS管的漏极连接。

所述负载切换单元包括开关、第一二极管、三极管和第四电阻，所述开关的一端与所述开关使能单元连接，开关的另一端选择性地接通光器件负载或放电负载，所述第一二极管的负极端连接开关的正极引脚，第一二极管的正极端连接开关的负极引脚及所述三极管的集电极，三极管的发射极接地，三极管的基极通过所述第四电阻连接第二逻辑检测模块的输出端。

控制单元的第二GPIO端口被配置为双向输入输出口，三极管的基极通过所述第四电阻还连接控制单元的第二GPIO端口，控制单元根据第二逻辑检测模块的输入信号通过第二GPIO端口输出控制信号给三极管持续断开或关闭；

或者，三极管的基极通过所述第四电阻连接控制单元的第三GPIO端口，且三极管的基极通过第二二级管连接第二逻辑检测模块的输出端，控制单元根据第二逻辑检测模块的输入信号通过第三GPIO端口输出控制信号给三极管持续断开或关闭。

上述两个方案中，通过将控制单元的第二GPIO端口被配置为双向输入输出口，或者将三极管的基极通过所述第四电阻连接控制单元的第三GPIO端口，当检测到接续状态为断开时可以从软件角度使三极管持续断开，继而保护光器件负载，解决因软件异常或人为误操作导致带电插拔光器件导致光器件损伤的问题。

还包括放电检测单元和状态指示单元，所述放电检测单元分别与所述控制单元、所述开关使能单元电连接，所述状态指示单元与所述控制单元电连接，所述放电检测单元用于检测放电结束状态，所述控制单元根据所述放电结束状态控制所述状态指示单元输出第一指示信号。

上述方案中，通过放电检测单元检测放电结束状态，并通过状态指示单元进行相应显示，方便于操作者及时且准确地确定是否可以取消当前光器件以及连接下一个待测试的光器件，提升光器件保护的可靠性，以及辅助测试效率进一步提高。

所述放电检测单元包括第二电阻和第三电阻，所述第二电阻的一端连接开关使能单元，第二电阻的另一端连接所述第三电阻的一端，第三电阻的另一端接地，第二电阻与第三电阻的交点连接控制单元的一个ADC接口。

所述状态指示单元包括第一指示模块和第二指示模块，所述第一指示模块用于指示放电结束状态，所述第二指示模块用于指示异常断开锁定状态。

上述方案中，放电结束状态与异常断开锁定状态分别用不同的指示模块进行指示，相互不干扰，也避免识别错误，提高指示效果的有效性。

一种光器件测试系统，包括测试板，还包括所述的光器件测试保护电路，所述测试板提供第一焊盘和第二焊盘，所述第一焊盘用于与光器件负载电连接，所述第二焊盘用于与连接检测单元连接，放电负载安装于测试板。

本发明所能达到的有益效果有：

本发明主要解决了光器件在测试过程中异常带电拆装的问题。当连接检测单元检测到光器件与测试板连接时，控制单元控制负载切换单元接通光器件负载，同时控制开关使能单元接通电源，使得电源可为后级负载切换单元及光器件负载供电，实现光器件正常测试；当测试结束后，光器件与测试板断开，此时连接检测单元检测到光器件与测试板断开后，控制单元控制负载切换单元接通放电负载以加速放电，同时控制开关使能单元断开电源，电源不再供电。通过放电负载加速放电，可以使得测试板中残留电压能够尽快释放，一方面可以保障当前光器件是在无电状态下取下，避免因带电插拔而损伤，另一方面可以加快连接下一个光器件进行测试，即提高了测试效率。

本发明最大的特点是在不改变原来测试方案的前提下，只是将测试板的部份焊盘分解出检测点出来，可灵活实现多点同时检测，电路在切断供电回路的同时，设计了快速放电回路，有效节约了放电时间，达到快速释放残留电源的目的，时效性及安全性极高。

附图说明

图1为实施例中提供的光器件测试保护电路的组成框图。

图2a、图2b、图2c、图2d分别为实施例中提供的光器件测试保护电路的电气原理图的局部图。

图3为实施例中提供的另一种光器件测试保护电路中三极管Q3与MCU、或非门模块U2的连接示意图。

图4为原有测试板的焊盘与FPC的焊盘对应关系图。

图5为改进后的测试板的焊盘与FPC的焊盘对应关系图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图1，本实施例中提供的光器件测试保护电路，包括控制单元、连接检测单元、开关使能单元、负载切换单元、放电检测单元和状态指示单元，控制单元分别与连接检测单元、负载切换单元、放电检测单元和状态指示单元电连接，开关使能单元分别与连接检测单元、负载切换单元电连接。

在应用时，本光器件负载通过柔性电路板与测试板连接，连接检测单元用于检测柔性电路板与测试板的接续状态，将柔性电路板与测试板的接续状态作为开关使能单元的输入信号，开关使能单元根据该输入信号断开或接通电源，柔性电路板与测试板的此接续状态同时传送给控制单元，由控制单元主动控制负载切换单元切换连接放电负载或是光器件负载。

图2a、图2b、图2c、图2d分别为实施例中提供的光器件测试保护电路的电气原理图的局部图，组合后即构成完整的电气原理图。参阅图2a、图2b、图2c，本实施例中控制单元采用MCU实现，连接检测单元包括与门模块U1和或非门模块U2，与门模块U1的输出端（引脚4）连接开关使能单元（NMOS管Q2的栅极），与门模块U1的一个输入端连接MCU的第一GPIO端口GPIO1，或非门模块U2的输出端同时连接与门模块U1的另一个输入端、通过隔离电阻R11连接MCU的第二GPIO端口GPIO2、负载切换单元（三极管Q3的基极），或非门模块U2的四个输入端分别连接测试板的四个焊盘，且每个输入端还通过一个电阻（分别为第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9）连接电源VCC。隔离电阻R11可以避免当GPIO2的电平信号与或非门模块U2的输出电平信号不一致时导致端口被烧坏。

参阅图2a、图2b，本实施例中开关使能单元包括PMOS管Q1、NMOS管Q2和第一电阻R1，PMOS管Q1的栅极与NMOS管Q2的漏极连接，PMOS管Q1的源极用于连接电源PWR，PMOS管Q1的漏极连接负载切换单元，NMOS管Q2的源极接地，NMOS管Q2的栅极与连接检测单元中与门模块U1的输出引脚连接。第一电阻R1的两端分别与PMOS管Q1的源极、NMOS管Q2的漏极连接。

需要说明的是，图2b中示出PMOS管Q1的漏极连接有PWBA，实际上这仅是表示测试板PWBA整个电路中存在电容，该电容会通过这条路线放电，而不是代表此处连接测试板。电源PWR也可以不归属于本测试保护电路，而是外接的电源，以提供电压供测试所用。

请参阅图2a、图2d，本实施例中负载切换单元包括开关RLY1、第一二极管D1、三极管Q3和第四电阻R10，开关RLY1的一端与开关使能单元（PMOS管Q1的漏极）连接，开关RLY1的另一端选择性地连接光器件负载R4或放电负载R5。第一二极管D1为开关RLY1的续流二极管，用于吸收开关RLY1开启与关闭时线圈产生的反向电压，第一二极管D1的负极端连接开关RLY1的正极引脚，第一二极管D1的正极端连接开关RLY1的负极引脚及（NPN型）三极管Q3的集电极，三极管Q3的发射极接地，三极管Q3的基极通过第四电阻R10连接MCU的第二GPIO端口GPIO2，此时的MCU的第二GPIO端口GPIO2为双向输入输出端口。

请参阅图3，在另一种结构中，三极管Q3的基极通过第四电阻R10连接MCU的第三GPIO端口GPIO3，同时通过第二二极管D2连接或非门模块U2的输出端，且三极管Q3的基极连接第二二极管D2的正极端，此时第二逻辑检测模块U2的输出信号被MCU的第二GPIO端口GPIO2接收后，由MCU的第三GPIO端口GPIO3输出控制信号给三极管Q3。即此方案中，GPIO1作为输出端口输出电平信号给与门模块U1，GPIO2作为输入端口或非门模块U2的输出信号通过GPIO2输入MCU，GPIO3作为输出端口输出电平信号给三极管Q3。当或非门模块U2输出低电平信号逻辑0时，通过隔离电阻R11和第二二极管D2使三极管Q3断开，GPIO2检测到与门模块U1为0，GPIO3输出低电平信号逻辑0使得三极管Q3持续断开。当或非门模块U2输出高电平信号逻辑1时，第二二极管D2截止，GPIO2检测到与门模块U1为高电平，GPIO3输出高电平信号逻辑1使三极管Q3接通。

此处需要说明的是，光器件负载R4只是在需要测试时才接入光器件测试保护电路中，不需要测试时不接入光器件测试保护电路中；放电负载R5是安装于测试板中的，用于对测试板断电后残留的电压进行快速释放。

请参阅图2a、图2b、图2d，本实施例中放电检测单元包括相互串联的第二电阻R2和第三电阻R3，第二电阻R2的一端连接开关使能单元（PMOS管Q1的漏极），第二电阻R2的另一端连接第三电阻R3的一端，第三电阻R3的另一端接地。第二电阻R2与第三电阻R3的交点连接MCU的ADC接口。

MCU的第二GPIO端口GPIO2被配置为双向输入输出口，或与门模块U2的输出既能作为输入信号通过第二GPIO端口GPIO2输入MCU，MCU又能根据所述输入信号输出控制信号给三极管Q3使其断开或关闭，当操作者或是软件SOFT异常时使三极管Q3断开，使整个电路处于异常断开锁定状态，达到保护光器件的目的。

为了不影响测试板的正常使用，又可以将本光器件测试保护电路接入测试板中，因此将测试板上原来的四个焊盘进行改进。如图4所示，测试板的焊盘未变更之前，柔性电路板焊盘与测试板的焊盘为1对1的方式，正常测试时，将柔性电路板FPC的焊盘覆盖到测试板PWBA的焊盘上，然后通电测试。测试完成后，FPC脱离PWBA。变更后设计如图5所示，将测试板PWBA上的独立焊盘分解为2个或多个，其中1个作为接续状态测试用，如图2c示中的PD1、PD2、PD3、PD4，此焊盘可称为第一焊盘，其余焊盘PD5、PD6、PD7、PD8可称为第二焊盘，保持原来的网络特性。当PD1、PD2、PD3、PD4没有与柔性电路板FPC的焊盘接续时，由于上拉电阻的原因，连接检测单元检测到的是1，当柔性电路板FPC焊盘接续到测试板时，连接检测单元检测到的是0，并且完全不影响原来的焊盘功能。通过设计分解至少两个焊盘，即可保证整排焊盘的接续状态得到检测，如果FPC的接续有倾斜或时虚断的情况，则测试板不通电，达到保护目的。

请参考图2c，PD1、PD2、PD3、PD4为测试板上原来的焊盘分解出来的独立检测焊盘，当光器件负载柔性电路板的焊盘覆盖到测试板焊盘上时，PD1与PD5导通，PD2与PD6导通，PD3与PD7导通，PD4与PD8导通，由于PD5、PD6、PD7、PD8均接地，因此此时或非门模块U2的第1引脚、第2引脚、第3引脚、第4引脚分别为低电平，或非门模块U2的逻辑判断为0输入，由于或非门模块U2是“或非门”功能（有1出0，全0出1），因此此时或非门模块U2的输出端Q\（第6引脚）输出为1，表示所有测试点接续状态良好。此时，MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到1时，控制状态指示单元STS输出状态指示信号，表明柔性电路板与测试板连接良好。作为一种举例，状态指示单元可以包括指示灯，当MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到1时，控制指示灯点亮，当MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到0时，控制指示灯熄灭。

图2a、图2b、图2c、图2d所示结构中，MCU的第二GPIO端口GPIO2为双向输入输出端口，当MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到1时，输出高电平，使三极管Q3保持导通，继而开关RLY1得电，开关RLY1的触点3脚与触点4脚接通，切换到光器件负载R4，电源PWR输出的电压经过开关RLY1流向光器件负载R4，为其供电。并且MCU的第二GPIO端口GPIO2(或图3所示结构中MCU的第三GPIO端口GPIO3)的高电平输出到与门模块U1的第2引脚，与门模块U1是双输入“与门”电路，即“有0出0，全1出1”，此时与门模块U1的第4引脚（输出端）状态只决定于第1引脚，由MCU的第一GPIO端口GPIO1的输出信号决定。当与门模块U1的第1引脚为高电平（输出1）时，与门模块U1的第4脚输出1，由于NMOS管Q2的Vgs>0，因此NMOS管Q2导通，此时NMOS管Q2的漏极与源极接通，所以NMOS管Q2的Vds几乎为0，因此PMOS管Q1的栅极电压为0，因为PMOS管Q1的源极电压为VCC1，所以PMOS管Q1的Vgs<0，约等于-VCC1，所以PMOS管Q1导通，VCC2有电，由于开关RLY1接通光器件负载R4，光器件负载R4连接测试板PWBA，因此测试板PWBA通电。当与门模块U1的第1引脚为低电平（输出0）时，与门模块的U1第4引脚输出0，由于NMOS管Q2的栅极电压等于源极电压，即NMOS管Q2的Vgs=0，所以NMOS管Q2断开，即NMOS管Q2的漏极与源极断开。由于第一电阻R1的作用，此时PMOS管Q1的源极电压与栅极电压也相等，即PMOS管Q1的Vgs=0，所以PMOS管Q1也是断开的，VCC1不能通过PMOS管Q1传输到VCC2，即VCC2无电，后级整个电路无电，测试板无电。

当PD1、PD2、PD3、PD4中的任何一个焊盘接续不良时，对于或非门模块U2来说，输入电平变为1，或非门模块U2的第6引脚输出0，此时MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到0，输出低电平信号0给三极管Q3和与门模块U1，三极管Q3断开，开关RLY1断开，同时，与门模块U1的第4引脚输出0，PMOS管Q1断开，VCC2无电，整个测试板断电。此时即为异常断开锁定状态，可以通过状态指示电路发出相应的指示信号。

当第二GPIO端口GPIO2检测到0时，输出低电平，或是VCC2无电时，开关RLY1失电，触点3脚与触点2脚接通，切换到放电负载R5，放电负载R5加速测试板的快速放电。与此同时，由于触点3脚与触点4脚断开，光器件负载R4将没有电。

放电检测单元中，VCC3=R3/(R2+R3)*VCC2,VCC3与MCU的ADC接口连接，当MCU的ADC接口检测到VCC3为0时，即表示VCC2为0，此时整个测试板无残留电压，此时MCU可以通过状态指示电路发出相应的指示信号，例如控制对应的指示灯点亮，继而提示操作者可以取下当前光器件负载R4，继而保障当前光器件负载R4的取下以及下一个待测试光器件负载的连接都是在无电状态下操作，保护光器件避免损伤。当ADC检测到VCC3不为0时，说明测试板有残留电压存在，此时MCU可以通过状态指示电路发出相应的指示信号，例如控制对应的指示灯熄灭。

为了便于区分，在具体实现时，状态指示电路包括第一指示模块和第二指示模块，第一指示模块用于指示放电结束状态，第二指示模块用于指示异常断开锁定状态。

动作原理：如上述内容所描述的各单元电路的功能，正常情况下，FPC的焊盘接续到PWBA，或非门模块U2的所有输入信号都为逻辑0电平，此时或非门模块U2的第6引脚输出逻辑1(高电平信号)，该高电平信号输入至三极管Q3的基极，三极管Q3导通，开关RLY1接通到光器件负载R4。同时，或非门模块U2的第6引脚输出的逻辑1传输到MCU的第二GPIO端口GPIO2，MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到1时，输出逻辑1，使三极管Q3持续保持闭合。此时，与门模块U1的第4引脚的输出由MCU的第一GPIO端口GPIO1的电平决定，当MCU的第一GPIO端口GPIO1输出逻辑1时，PMOS管Q1导通，测试板通电，MCU的第一GPIO端口GPIO1输出逻辑0时，PMOS管Q1断开，测试板无电。当MCU检测到测试结束时，MCU的第一GPIO端口GPIO1输出逻辑0，PMOS管Q1断开，测试板无电，同时MCU的第二GPIO端口GPIO2输出逻辑0，开关RLY1切换到接通放电负载R5，加速测试残留电压释放，当MCU的ADC接口检测到逻辑0时，说明测试板放电完成，状态指示单元STS输出对应的指示信号，提示操作者可以进行FPC的拆装作业。此时的操作，一定时在无电状态进行的，因此可以确保光器件负载不会存在电流冲击的问题。

当操作者误操作(例如放电未完成就开始拔光器件负载R4)或是软件SOFT异常时，导致带电拆装FPC，此时PD1、PD2、PD3、PD4中，只要有1路FPC焊盘脱离测试板，或非门模块U2的输入即检测为逻辑1，此时或非门模块U2的第6脚输出逻辑0，输入至三极管Q3的基极，此时三极管Q3断开，开关RLY1失电切换到放电负载R5，从硬件上保护光器件负载R4。同时MCU的第二GPIO端口GPIO2检测到逻辑0，此时MCU的第一GPIO端口GPIO1、MCU的第二GPIO端口GPIO2均输出低电平信号0，MCU的第二GPIO端口GPIO2(或图3所示结构中MCU的第三GPIO端口GPIO3)输出的逻辑0输出给三极管Q3的基极，使得使三极管Q3持续断开，继而整个光器件测试保护电路处于异常断开锁定状态，防止信号跳变。并且状态指示单元STS输出异常提示信号，提醒操作者作进行异常处理。由于或非门模块U2的逻辑检测是硬件电路，所以这种异常的响应时间极短，从而可以有效断开测试板电源，达到保护目的。

需要说明的是，上述各个单元的电路是最佳实施方式，在实现相同功能的情况下允许有其他电路设计方式。在更简陋的设计中，放电检测单元和状态指示单元也可以作为可选组成单元。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光器件测试保护电路，其特征在于，包括控制单元、连接检测单元、开关使能单元、负载切换单元，所述控制单元分别与所述连接检测单元、所述负载切换单元电连接，所述开关使能单元分别与所述连接检测单元、所述负载切换单元电连接，所述负载切换单元选择性地接通光器件负载或放电负载；所述开关使能单元配置有用于连接电源的接口，所述连接检测单元用于检测光器件与测试板的接续状态，所述控制单元根据所述接续状态控制所述开关使能单元接通或断开所述电源，以及控制所述负载切换单元接通光器件负载或者放电负载。

2.根据权利要求1所述的光器件测试保护电路，其特征在于，所述连接检测单元包括与第一逻辑检测模块和第二逻辑检测模块，所述第一逻辑检测模块的输出端连接开关使能单元，所述第一逻辑检测模块的输入端连接控制单元，所述第二逻辑检测模块的输出端连接控制单元，所述第二逻辑检测模块的输入端连接测试板。

3.根据权利要求2所述的光器件测试保护电路，其特征在于，所述第二逻辑检测模块为或非门模块，所述或非门模块的输出端同时连接所述第一逻辑检测模块的一个输入端、通过隔离电阻连接控制单元的第二GPIO端口、负载切换单元的输入端，所述或非门模块的四个输入端分别连接测试板的四个焊盘。

4.根据权利要求3所述的光器件测试保护电路，其特征在于，所述第一逻辑检测模块为包括两个输入端的与门模块，所述与门模块的另一个输入端连接控制单元的第一GPIO端口。

5.根据权利要求2所述的光器件测试保护电路，其特征在于，所述开关使能单元包括PMOS管、NMOS管和第一电阻，所述PMOS管的栅极与所述NMOS管的漏极连接，PMOS管的源极用于与电源连接，PMOS管的漏极连接负载切换单元，NMOS管的源极接地，NMOS管的栅极与第一逻辑检测模块的输出端连接，所述第一电阻的两端分别与PMOS管的源极、NMOS管的漏极连接。

6.根据权利要求3所述的光器件测试保护电路，其特征在于，所述负载切换单元包括开关、第一二极管、三极管和第四电阻，所述开关的一端与所述开关使能单元连接，开关的另一端选择性地接通光器件负载或放电负载，所述第一二极管的负极端连接开关的正极引脚，第一二极管的正极端连接开关的负极引脚及所述三极管的集电极，三极管的发射极接地，三极管的基极通过所述第四电阻连接第二逻辑检测模块的输出端。

7.根据权利要求6所述的光器件测试保护电路，其特征在于，控制单元的第二GPIO端口被配置为双向输入输出口，三极管的基极通过所述第四电阻还连接控制单元的第二GPIO端口，控制单元根据第二逻辑检测模块的输入信号通过第二GPIO端口输出控制信号给三极管持续断开或关闭；

或者，三极管的基极通过所述第四电阻连接控制单元的第三GPIO端口，且三极管的基极通过第二二级管连接第二逻辑检测模块的输出端，控制单元根据第二逻辑检测模块的输入信号通过第三GPIO端口输出控制信号给三极管持续断开或关闭。

8.根据权利要求1-7任一项所述的光器件测试保护电路，其特征在于，还包括放电检测单元和状态指示单元，所述放电检测单元分别与所述控制单元、所述开关使能单元电连接，所述状态指示单元与所述控制单元电连接，所述放电检测单元用于检测放电结束状态，所述控制单元根据所述放电结束状态控制所述状态指示单元输出第一指示信号。

9.根据权利要求8所述的光器件测试保护电路，其特征在于，所述放电检测单元包括第二电阻和第三电阻，所述第二电阻的一端连接开关使能单元，第二电阻的另一端连接所述第三电阻的一端，第三电阻的另一端接地，第二电阻与第三电阻的交点连接控制单元的一个ADC接口。

10.一种光器件测试系统，包括测试板，其特征在于，还包括权利要求1-9任一项所述的光器件测试保护电路，所述测试板提供第一焊盘和第二焊盘，所述第一焊盘用于与光器件负载电连接，所述第二焊盘用于与连接检测单元连接，放电负载安装于测试板。