CN114846320A - 长条光学层叠体的检查方法以及检查系统 - Google Patents

Abstract

能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在长条光学层叠体的第二识别信息双方。包括：第一工序，其检查第一长条光学膜(F1)而取得第一缺陷信息；第二工序，其在第一长条光学膜打印第一识别信息(M)；第三工序，其将第一缺陷信息与第一识别信息关联地存储；第四工序，其检查层叠有第一长条光学膜的长条光学层叠体(F2)而取得第二缺陷信息；第五工序，其在长条光学层叠体打印第二识别信息；第六工序，其将第二缺陷信息与第二识别信息关联地存储；第一识别信息以及第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

Description

长条光学层叠体的检查方法以及检查系统

技术领域

本发明涉及一种层叠有第一长条光学膜(例如，保护膜)和第二长条光学膜(例如，偏振片)的长条光学层叠体(例如，偏光膜)的检查方法以及检查系统。本发明尤其涉及一种长条光学层叠体的检查方法以及检查系统，所述长条光学层叠体通过能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二识别信息双方，能够适当地关联缺陷信息和识别信息。

背景技术

作为长条光学层叠体，例如已知用于液晶显示装置的偏光膜。从长条的偏光膜到冲裁出与用途对应的尺寸的偏光膜的工序例如如下所述。

首先，检查以卷对卷方式输送的长条的偏光膜，检测在偏光膜存在的缺陷。在检测出缺陷的情况下，对缺陷的位置实施标记，卷绕偏光膜。

在作为最终制品的偏光膜(冲裁后的偏光膜)中，根据用户的规格存在各种尺寸，但作为长条的偏光膜(偏光膜原卷)可以通用的情况较多，因此预先大量制造偏光膜原卷，日后根据需要，从偏光膜原卷冲裁需要的尺寸的偏光膜制品。在冲裁偏光膜制品时，必须避开存在缺陷的位置，或者将在冲裁后对存在缺陷的位置实施了标记的偏光膜制品作为不合格品除去。

因此，在检查长条的偏光膜时，需要检测缺陷，将该缺陷的位置等作为缺陷信息事先存储。

为了适当地管理缺陷信息，提高偏光膜制品的成品率，在专利文献1中，提出了在偏光膜的宽度方向端部打印识别信息(至少确定偏光膜的长度方向的位置的信息)，使缺陷信息与识别信息关联的偏光膜的检查方法。

根据专利文献1所记载的检查方法，能够适当地管理在偏光膜的状态下产生的缺陷的缺陷信息。

但是，在偏光膜中，不仅存在在层叠有保护膜和偏振片的偏光膜的状态下产生的缺陷，还存在在保护膜单体(与偏振片层叠之前的保护膜)的状态下产生的缺陷。而且，即使在偏光膜的状态下检查，有时也难以检测出在保护膜单体的状态下产生的缺陷。

因此，有时即使保护膜单体也进行检查，但以往，通过该检查检测出的缺陷的缺陷信息未被适当地管理。具体而言，不进行在保护膜单体打印识别信息并与缺陷信息关联。

另外，在卷绕保护膜时，为了防止卷绕偏移、卷绕松弛、粘连、暴筋等产生，有时对保护膜的宽度方向端部实施通过激光刻印形成微小的凹凸的滚花加工(例如，参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第5925609号公报

专利文献2：日本特许第5578759号公报

发明内容

发明要解决的课题

本发明是为了解决上述那样的现有技术的问题点而完成的，其课题在于，提供一种长条光学层叠体的检查方法以及检查系统，所述长条光学层叠体通过能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜(例如，保护膜)的第一识别信息和打印在第二长条光学膜(例如，偏振片)或长条光学层叠体(例如，偏光膜)的第二识别信息双方，能够适当地关联缺陷信息和识别信息。

用于解决课题的方案

为了解决所述课题，本发明人等进行了深入研究，结果发现，通过以喷墨方式打印在第一长条光学膜打印的第一识别信息和在第二长条光学膜或长条光学层叠体打印的第二识别信息中的任一方，以激光刻印打印另一方，或者以使用透明墨的喷墨方式打印任一方，以使用有色墨的喷墨方式打印另一方，即使假设第一识别信息和第二识别信息重叠，也能够区别地读取两者，从而完成了本发明。

即，为了解决所述课题，本发明提供一种长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，包括：第一工序，其检查第一长条光学膜而取得作为所述第一长条光学膜的缺陷信息的第一缺陷信息；第二工序，其在所述第一长条光学膜的宽度方向端部，每隔所述第一长条光学膜的长度方向的规定间隔打印第一识别信息；第三工序，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第一识别信息关联地存储；第四工序，其检查第二长条光学膜，或者检查层叠有所述第一长条光学膜和所述第二长条光学膜的长条光学层叠体，取得作为所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的缺陷信息的第二缺陷信息；第五工序，其在所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的宽度方向端部，每隔所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的长度方向的规定间隔打印第二识别信息；第六工序，其将所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二缺陷信息与所述第二识别信息关联地存储；在所述第二工序中打印的所述第一识别信息以及在所述第五工序中打印的所述第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

在本发明中，“缺陷信息”是指至少包含缺陷的位置的信息。另外，“第一识别信息”是指至少包含确定第一长条光学膜的长度方向的位置的信息的信息。另外，“第二识别信息”是指至少包含确定第二长条光学膜或长条光学层叠体的长度方向的位置的信息的信息。

根据本发明，在第一工序中取得第一长条光学膜的第一缺陷信息，在第二工序中打印第一长条光学膜的第一识别信息，在第三工序中将第一缺陷信息与第一识别信息关联地存储。另外，在第四工序中取得第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二缺陷信息，在第五工序中打印第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二识别信息，在第六工序中将第二缺陷信息与第二识别信息关联地存储。

以喷墨方式打印第一识别信息以及第二识别信息中的任一方，以激光刻印打印另一方，或者以使用透明墨的喷墨方式打印任一方，以使用有色墨的喷墨方式打印另一方。透明墨是通过照射光而发出荧光的墨，可以例示通过照射紫外线而发出荧光的UV墨。

即，根据本发明，以下面的打印图案一～六的任一个图案打印第一识别信息以及第二识别信息。

(1)打印图案一

第一识别信息：使用透明墨的喷墨方式，第二识别信息：激光刻印

(2)打印图案二

第一识别信息：使用有色墨的喷墨方式，第二识别信息：激光刻印

(3)打印图案三

第一识别信息：激光刻印，第二识别信息：使用透明墨的喷墨方式

(4)打印图案四

第一识别信息：激光刻印，第二识别信息：使用有色墨的喷墨方式

(5)打印图案五

第一识别信息：使用透明墨的喷墨方式，第二识别信息：使用有色墨的喷墨方式

(6)打印图案六

第一识别信息：使用有色墨的喷墨方式，第二识别信息：使用透明墨的喷墨方式

因此，如本发明者们发现的那样，即使第一识别信息和第二识别信息重叠，也能够区别地读取两者。即，能够适当地将缺陷信息与识别信息关联(将第一缺陷信息与第一识别信息关联，将第二缺陷信息与第二识别信息关联)。

因此，例如，通过读取第一识别信息，使用在第三工序中存储的第一缺陷信息与第一识别信息的关联，能够避开在第一长条光学膜的状态下产生的缺陷的位置，冲裁制品。另外，例如，通过读取第二识别信息，使用在第六工序中存储的第二缺陷信息与第二识别信息的关联，能够避开在第二长条光学膜或长条光学层叠体的状态下产生的缺陷的位置，冲裁制品。需要说明的是，在本发明中，第一工序～第六工序不一定要按此顺序执行，例如，也可以在执行了第二工序之后执行第一工序。另外，也可以在执行了第五工序之后执行第四工序。

在本发明中，优选的是，在所述第二工序中，以使用透明墨的喷墨方式打印所述第一识别信息，在所述第五工序中，以激光刻印打印所述第二识别信息。

如前所述，作为第一识别信息以及第二识别信息的打印方法，可以使用打印图案一～六的任一个图案。但是，根据本发明者们研究的结果，以使用透明墨的喷墨方式打印打印图案一、即第一识别信息，以激光刻印打印第二识别信息，最容易区别地读取第一识别信息和第二识别信息。

因此，根据上述优选的方法，能够更加适当地将缺陷信息与识别信息关联(将第一缺陷信息与第一识别信息关联，将第二缺陷信息与第二识别信息关联)。

在本发明中，优选还包括第七工序，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二识别信息关联地存储。

根据上述优选的方法，第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二识别信息不仅与第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二缺陷信息关联，还与第一长条光学膜的第一缺陷信息关联地存储。换而言之，能够基于第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二识别信息，对第一缺陷信息以及第二缺陷信息进行一元化管理。

因此，在执行了第七工序之后，通过切断构成长条光学层叠体的第一长条光学膜的宽度方向端部(例如，切断保护膜的滚花加工部)，即使第一识别信息被除去，也能够适当地将缺陷信息与识别信息关联(将第一缺陷信息以及第二缺陷信息与第二识别信息关联)。

另外，例如，通过读取第二识别信息，使用在第六工序中存储的第二缺陷信息与第二识别信息的关联，并且使用在第七工序中存储的第一缺陷信息与第二识别信息的关联，能够避开在第一长条光学膜的状态下产生的缺陷的位置以及在第二长条光学膜或长条光学层叠体的状态下产生的缺陷的位置，冲裁制品。即，在冲裁制品时，能够节省读取第一识别信息的功夫。

在本发明中，优选还包括第八工序，其基于所述第一长条光学膜的所述第一识别信息以及所述第一缺陷信息、和所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二识别信息以及所述第二缺陷信息，对所述长条光学层叠体的缺陷的位置实施标记。

根据上述优选的方法，由于对缺陷的位置实施标记，因此即使目视也能够确定缺陷的位置。

本发明可以适用于所述第一长条光学膜为保护膜、所述第二长条光学膜为偏振片、所述长条光学层叠体为偏光膜的情况。

另外，本发明也可以在所述第一长条光学膜为相位差膜或涂布有液晶材料的基材、所述第二长条光学膜为偏光膜的情况下使用。作为由涂布在基材的液晶材料形成的液晶层，例如可以举出1/4波长板、1/2波长板等作为相位差板发挥功能的液晶层。

另外，本发明也可以在所述第一长条光学膜为反射型偏振片、所述第二长条光学膜为偏光膜的情况下使用。

根据本发明者们的见解，在第一长条光学膜的宽度方向端部形成滚花加工部的情况下，即使在相当于滚花加工部的部位(形成有滚花加工部的部位、或者供滚花加工部形成的预定的部位)以喷墨方式打印第一识别信息，也有可能无法与滚花加工部的凹凸区别地读取第一识别信息。另一方面，如果在相当于滚花加工部的部位以激光刻印打印第一识别信息，则有时难以与滚花加工部的凹凸区别地读取第一识别信息。

因此，在本发明中，优选在所述第一长条光学膜的宽度方向端部形成滚花加工部的情况下，在所述第二工序中，在所述第一长条光学膜的相当于所述滚花加工部的部位以喷墨方式打印所述第一识别信息。由此，第一长条光学膜的有效宽度不会因打印第一识别信息而变窄，能够提高成品率。

另外，在本发明中，优选在所述第一长条光学膜的宽度方向端部形成有滚花加工部，在所述第五工序中，在位于比所述第一长条光学膜的滚花加工部更靠宽度方向内侧的所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的部位打印所述第二识别信息。由此，能够可靠地与滚花加工部的凹凸区别地读取第二识别信息。

另外，为了解决所述课题，本发明还提供一种长条光学层叠体的检查系统，其特征在于，具备：第一检查装置，其检查第一长条光学膜而取得作为所述第一长条光学膜的缺陷信息的第一缺陷信息；第一打印装置，其在所述第一长条光学膜的宽度方向端部，每隔所述第一长条光学膜的长度方向的规定间隔打印第一识别信息；第一运算存储装置，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第一识别信息关联地存储；第二检查装置，其检查第二长条光学膜，或者检查层叠有所述第一长条光学膜和所述第二长条光学膜的长条光学层叠体，取得作为所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的缺陷信息的第二缺陷信息；第二打印装置，其在所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的宽度方向端部，每隔所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的长度方向的规定间隔打印第二识别信息；第二运算存储装置，其将所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二缺陷信息与所述第二识别信息关联地存储；所述第一打印装置打印的所述第一识别信息以及在所述第二打印装置打印的所述第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

发明效果

根据本发明，通过能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在第二长条光学膜或长条光学层叠体的第二识别信息双方，能够适当地关联缺陷信息和识别信息。

附图说明

图1是示出本发明的第一实施方式的长条光学层叠体的检查方法的概略工序的流程图。

图2是示意性地示出用于执行图1所示的第一工序S2～第三工序S4的检查系统的概略结构的立体图。

图3是示意性地示出用于执行图1所示的第四工序S6～第六工序S8的检查系统的概略结构的立体图。

图4是示意性地示出用于执行图1所示的第七工序S9的检查系统的概略结构的立体图。

图5是示意性地示出图4所示的第一读取装置9以及第二读取装置10的概略结构例的侧视图(从长条光学层叠体F2的宽度方向观察的侧视图)。

图6是示意性地示出用于执行图1所示的读取工序S10、第二次的第四工序S11以及第六工序S12(第七工序S9执行后的第四工序以及第六工序)的检查系统的概略结构的立体图。

图7是示出基于本发明的第一实施方式的长条光学层叠体的检查方法的第一识别信息M以及第二识别信息N的打印例的图。

图8示出由第一读取装置9读取图7所示的长条光学层叠体F2的第一识别信息M的结果的一例。

图9示出由第二读取装置10读取图7所示的长条光学层叠体F2的第二识别信息N的结果的一例。

图10是部分地示出本发明的第二实施方式的检查方法的概略工序的流程图。

图11是示出本发明的第三实施方式的检查方法的概略工序(在第一长条光学膜F1的制造工序中执行的概略工序)的流程图。

图12是示出本发明的第三实施方式的检查方法的概略工序(在第二长条光学膜F2的制造工序中执行的概略工序)的流程图。

图13是示出本发明的第三实施方式的检查方法的概略工序(在长条光学层叠体的制造工序中执行的概略工序)的流程图。

图14是示意性地示出图11所示的第一长条光学膜F1的制造工序中的各膜的状态的剖视图。

图15是示意性地示出图12所示的第二长条光学膜F2的制造工序中的各膜的状态的剖视图。

图16是示意性地示出图13所示的长条光学层叠体的制造工序中的各膜的状态的剖视图。

图17是说明本发明的第四实施方式的长条光学层叠体的检查方法中的打印图案的说明图。

具体实施方式

<第一实施方式>

以下，适当参照附图，对本发明的第一实施方式的长条光学层叠体的检查方法(以下，适当简称为“检查方法”)以及长条光学层叠体的检查系统(以下，适当简称为“检查系统”)进行说明。

作为第一实施方式的检查方法的检查对象的长条光学层叠体是层叠有第一长条光学膜和第二长条光学膜的膜。在第一实施方式中，举了第一长条光学膜为保护膜、第二长条光学膜为偏振片、长条光学层叠体为偏光膜、检查长条光学层叠体而取得第二缺陷信息、在长条光学层叠体打印第二识别信息的情况为例进行说明。首先，对长条光学层叠体(偏光膜)的具体例进行说明。

[长条光学层叠体]

通过包括(A)使实施了染色处理、交联处理以及拉伸处理的聚乙烯醇系膜干燥来制造作为第二长条光学膜的偏振片的工序、(B)在第二长条光学膜(偏振片)的单侧或两侧贴合作为第一长条光学膜的保护膜的工序、(C)贴合后进行加热处理的工序的制造方法来制造作为长条光学层叠体的偏光膜。

聚乙烯醇系膜的染色处理、交联处理、拉伸处理的各处理不一定必须分别实施，也可以同时实施，另外，各处理的顺序也可以是任意的。需要说明的是，作为聚乙烯醇系膜，也可以使用实施了溶胀处理的聚乙烯醇系膜。通常，将聚乙烯醇系膜浸渍在含有碘或二色性色素的溶液中，吸附碘或二色性色素进行染色后洗涤，在含有硼酸或硼砂等的溶液中以拉伸倍率3倍～7倍进行单轴拉伸后，进行干燥。在含有碘或二色性色素的溶液中拉伸后，在含有硼酸或硼砂等的溶液中进一步拉伸(二段拉伸)后，通过干燥，碘的取向变高，偏振度特性变好，因此特别优选。

作为构成上述聚乙烯醇系膜的聚乙烯醇系聚合物，例如可以举出将乙酸乙烯酯聚合后皂化的聚乙烯醇系聚合物、在乙酸乙烯酯中共聚少量的不饱和羧酸、不饱和磺酸、阳离子性单体等可共聚单体的聚乙烯醇系聚合物等。聚乙烯醇系聚合物的平均聚合度没有特别限制，可以使用任意的聚合度，优选为1000以上，更优选为2000～5000。另外，聚乙烯醇系聚合物的皂化度优选为85摩尔％以上，更优选为98～100摩尔％。

所制造的第二长条光学膜(偏振片)的厚度通常为5～80μm，但并不限定于此，另外，关于调整第二长条光学膜(偏振片)的厚度的方法，也没有特别限定，可以使用拉幅机、卷拉伸或压延等通常的方法。

第二长条光学膜(偏振片)与第一长条光学膜(保护膜)的贴合没有特别限定，例如可以通过由乙烯醇系聚合物构成的粘接剂、或者至少由硼酸或硼砂、戊二醛或三聚氰胺、草酸等乙烯醇系聚合物的水溶性交联剂构成的粘接剂等进行。将第二长条光学膜(偏振片)与第一长条光学膜(保护膜)贴合的粘接层作为水溶液的涂布干燥层等而形成，在该水溶液的制备时，根据需要，还可以配合其他添加剂、酸等催化剂。

作为在第二长条光学膜(偏振片)的单侧或两侧贴合的第一长条光学膜(保护膜)，可以使用适当的透明膜。其中，优选使用由透明性和机械强度、热稳定性和水分屏蔽性等优异的聚合物构成的膜。作为其聚合物，可以举出三乙酰纤维素等乙酸酯系树脂、聚碳酸酯系树脂、聚芳酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯等聚酯系树脂、聚酰亚胺系树脂、聚砜系树脂、聚醚砜系树脂、聚苯乙烯系树脂、聚乙烯、聚丙烯等聚烯烃系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚氯乙烯系树脂、聚降冰片烯系树脂、(甲基)丙烯酸系树脂、聚甲基丙烯酸甲酯系树脂、液晶聚合物等。膜可以通过流延法、压延法、挤出法中的任一种来制造。

另外，可以举出日本特开2001-343529号公报(WO01/37007)所记载的聚合物膜，例如含有(A)在侧链具有取代和/或未取代酰亚胺基的热塑性树脂和(B)在侧链具有取代和/或未取代苯基以及腈基的热塑性树脂的树脂组合物。作为具体例，可以举出含有由异丁烯和N-甲基马来酰亚胺构成的交替共聚物和丙烯腈·苯乙烯共聚物的树脂组合物的膜。作为膜，可以使用由树脂组合物的混合挤出品等构成的膜。这些膜由于相位差小、光弹性系数小，因此能够消除由长条光学层叠体(偏光膜)的变形引起的不均等不良情况，另外由于透湿度小，因此加湿耐久性优异。

另外，第一长条光学膜(保护膜)优选尽可能不带颜色。因此，优选使用利用Rth＝[(nx+ny)/2-nz]·d(其中，nx、ny是膜平面内的主折射率，nz是膜厚度方向的折射率，d是膜厚度)表示的膜厚度方向的相位差值为-90nm～+75nm的第一长条光学膜(保护膜)。通过使用厚度方向的相位差值(Rth)为-90nm～+75nm的第一长条光学膜(保护膜)，可以大致消除由第一长条光学膜(保护膜)引起的长条光学层叠体(偏光膜)的着色(光学着色)。厚度方向的相位差值(Rth)进一步优选为-80nm～+60nm，特别优选为-70nm～+45nm。

作为第一长条光学膜(保护膜)，从偏振特性、耐久性等观点出发，优选(甲基)丙烯酸系树脂。另外，优选三乙酰纤维素等乙酸酯系树脂，特别优选表面用碱等进行了皂化处理的三乙酰纤维素膜。需要说明的是，在第二长条光学膜(偏振片)的两侧贴合第一长条光学膜(保护膜)的情况下，也可以使用在其表面和背面由不同的聚合物构成的第一长条光学膜(保护膜)。

第一长条光学膜(保护膜)的厚度是任意的，但通常以长条光学层叠体(偏光膜)的薄型化等为目的，设为500μm以下，优选设为1～300μm，特别优选设为5～200μm。

只要不损害本发明的目的，第一长条光学膜(保护膜)也可以实施硬涂处理或防反射处理、以粘连的防止或漫射乃至防眩等为目的的处理等表面处理。硬涂处理是以防止长条光学层叠体(偏光膜)的表面的损伤等为目的而实施的处理，例如可以通过在第一长条光学膜(保护膜)的表面附加由硅酮系等适当的紫外线固化型树脂形成的硬度、光滑性等优异的固化被膜的方式等来形成。

另一方面，防反射处理是以防止在长条光学层叠体(偏光膜)的表面的外部光的反射为目的而实施的处理，可以通过基于以往的防反射膜等的形成来实现。另外，防粘连处理是为了防止与邻接层的密合而实施的，防眩处理是为了防止长条光学层叠体(偏光膜)的表面反射外部光而阻碍长条光学层叠体(偏光膜)透过光的目视确认等而实施的，例如可以通过利用喷砂方式或压花加工方式等的粗面化方式或透明微粒的配合方式等适当的方式在第一长条光学膜(保护膜)的表面赋予微细凹凸构造而形成。

上述的透明微粒例如可以举出平均粒径为0.5～20μm的二氧化硅或氧化铝、二氧化钛或氧化锆、氧化锡或氧化铟、氧化镉或氧化锑等，可以使用具有导电性的无机系微粒，另外，可以使用由交联或未交联的聚合物粒状物等构成的有机系微粒等。透明微粒的使用量相对于透明树脂100质量份通常为2～70质量份，特别通常为5～50质量份。

进而，配合透明微粒的防眩层可以作为透明保护层本身、或者作为对透明保护层表面的涂布层等来设置。防眩层也可以兼作用于漫射长条光学层叠体(偏光膜)的透过光而扩大视角的漫射层(视角补偿功能等)。需要说明的是，上述的防反射层、防粘层、漫射层、防眩层等也可以作为由设置有这些层的片材等构成的光学层与透明保护层分体地设置。

[第一实施方式的检查方法]

以下，对第一实施方式的检查方法进行说明。

图1是示出第一实施方式的检查方法的概略工序的流程图。如图1所示，第一实施方式的检查方法包括：在第一长条光学膜(保护膜)的制造工序中执行的工序S1～S4；在长条光学层叠体(偏光膜)的制造工序中执行的工序S5～S12。以下，对各工序依次进行说明。

[在第一长条光学膜的制造工序中执行的工序]

在第一长条光学膜的制造工序中，执行第一工序S2～第三工序S4。另外，在第一实施方式中，执行滚花加工工序S1。

(滚花加工工序S1)

在滚花加工工序S1中，对第一长条光学膜的宽度方向端部实施滚花加工而形成滚花加工部。关于滚花加工的具体内容，例如专利文献2所记载的那样是公知的，因此在此省略详细的说明。

(第一工序S2)

图2是示意性地示出用于执行第一工序S2～第三工序S4的检查系统的概略结构的立体图。

如图2所示，在第一工序S2中，检查系统100所具备的第一检查装置1对由输送辊R以卷对卷方式输送(沿图2中粗线箭头所示的方向输送)的第一长条光学膜F1进行检查，取得作为第一长条光学膜F1的缺陷信息的第一缺陷信息。

第一检查装置1具备：摄像单元1a，其与第一长条光学膜F1的表面对置配置；图像处理单元1b，其与摄像单元1a电连接，对由摄像单元1a取得的第一长条光学膜F1的表面的摄像图像实施适当的图像处理。作为摄像单元1a，可以使用沿着第一长条光学膜F1的宽度方向将摄像元件配置成直线状的线传感器、或将摄像元件配置成矩阵状的区域传感器。摄像单元1a的视野设为第一长条光学膜F1的有效宽度(制品中使用的宽度)以上。图像处理单元1b通过对摄像图像实施二值化等公知的图像处理，提取相当于在第一长条光学膜F1存在的缺陷的像素区域。而且，图像处理单元1b确定摄像图像中的缺陷的位置(相当于缺陷的像素区域的坐标)，取得至少包含确定的缺陷的位置的信息作为第一缺陷信息。所取得的第一缺陷信息被输入到检查系统100所具备的第一运算存储装置4。

(第二工序S3)

在第二工序S3中，检查系统100所具备的第一打印装置2在第一长条光学膜F1的宽度方向端部(优选为滚花加工部)每隔第一长条光学膜F1的长度方向的规定间隔(例如，1m的等间隔)打印第一识别信息M。在图2中，图示了从第一长条光学膜F1的前端侧(输送方向下游侧)依次打印有第一识别信息M1～M3的例子。

第一识别信息M是至少包含确定第一长条光学膜F1的长度方向的位置的信息的信息。第一识别信息M例如是从第一长条光学膜F1的前端侧开始依次增加或减少的数值(通过该数值确定第一长条光学膜F1的长度方向的位置)由二维码或条形码表示。在第一识别信息M中，除了确定第一长条光学膜F1的长度方向的位置的信息之外，还可以包含打印的日期时间、第一长条光学膜F1的制造编号、打印的工序的类别等各种附带信息。

在第一实施方式中，由第一运算存储装置4控制第一打印装置2进行的第一识别信息M的打印。具体而言，通过使用了旋转编码器等的测长器3，测定第一长条光学膜F1向输送方向的移动量，并输入到第一运算存储装置4。第一运算存储装置4基于从测长器3输入的移动量，每隔规定间隔对第一打印装置2发送控制信号，使第一打印装置2每隔规定间隔打印第一识别信息M。

需要说明的是，在第一实施方式中，以第一运算存储装置4还具有控制第一打印装置2的功能的情况为例进行了说明，但本发明并不限于此，也可以采用与第一运算存储装置4不同的控制装置控制第一打印装置2的结构。

第一实施方式的第一打印装置2以喷墨方式打印第一识别信息M。第一实施方式的第一打印装置2作为优选的方式，以使用透明墨的喷墨方式打印第一识别信息M。具体而言，在第一实施方式中，以使用通过照射紫外线而发出荧光的UV墨作为透明墨的喷墨方式打印第一识别信息M。

作为第一打印装置2，例如可以使用Videojet公司制造的喷墨打印机“VJ1000系列”、日立产机公司制造的喷墨打印机“Gravis UX系列”。

(第三工序S4)

在第三工序S4中，第一运算存储装置4将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M关联地存储。具体而言，如下所述。

例如，假设第一检查装置1检测图2所示的缺陷D1，确定摄像图像中的缺陷D1的位置(相当于缺陷D1的像素区域的坐标)，将其作为第一缺陷信息输入到第一运算存储装置4。由于从测长器3将第一长条光学膜F1向输送方向的移动量输入到第一运算存储装置4，因此第一运算存储装置4能够在检测到缺陷D1的时刻(确定了摄像图像中的相当于缺陷D1的像素区域的坐标的时刻)和通过第一打印装置2打印了第一识别信息M的时刻之间掌握第一长条光学膜F1向输送方向移动了多少。基于这两个时间点之间的第一长条光学膜F1的移动量和摄像图像中的相当于缺陷D1的像素区域的坐标，第一运算存储装置4能够计算从规定的第一识别信息M(在图2所示的例子中为第一识别信息M3)到缺陷D1的距离(沿着第一长条光学膜F1的长度方向的距离)X1。另外，第一运算存储装置4能够基于与摄像图像中的相当于缺陷D1的像素区域的坐标，计算从第一长条光学膜F1的宽度方向的边缘到缺陷D1的距离(沿着第一长条光学膜F1的宽度方向的距离)Y1。第一运算存储装置4至少将该第一识别信息M(M3)与以第一识别信息M(M3)为基准的缺陷D1的坐标(X1、Y1)关联地存储。

[在长条光学层叠体的制造工序中执行的工序]

在上述的制造工序中制造的第一长条光学膜F1(在滚花加工部以喷墨方式打印有第一识别信息M的第一长条光学膜)被卷绕成卷状，作为料卷。作为料卷的第一长条光学膜F1被输送到长条光学层叠体的制造工序。在长条光学层叠体的制造工序中，使用所输送的第一长条光学膜F1的料卷。

如图1所示，第一实施方式的长条光学层叠体的制造工序包括No.1工序和No.2工序。在第一实施方式的长条光学层叠体的制造工序中，在No.1工序中执行第四工序S6～第七工序S9之后，再次在No.2工序中执行第四工序S11以及第六工序S12。另外，在第一实施方式的长条光学层叠体的制造工序中，在No.1工序中执行贴合工序S5，在No.2工序中执行读取工序S10。

(贴合工序S5)

在No.1工序中，将第一长条光学膜F1(保护膜)的料卷送出，将第二长条光学膜(偏振片)的料卷送出。然后，在贴合工序S5中，在第二长条光学膜的单侧或两侧，如上所述经由粘接剂等贴合第一长条光学膜F1，得到层叠有第一长条光学膜F1和第二长条光学膜的长条光学层叠体F2(偏光膜)。

(第四工序S6)

图3是示意性地示出用于执行第四工序S6～第六工序S8的检查系统的概略结构的立体图。

如图3所示，在第四工序S6中，检查系统100所具备的第二检查装置5对由输送辊R以卷对卷方式输送(沿图3中粗线箭头所示的方向输送)的长条光学层叠体F2进行检查，取得作为长条光学层叠体F2的缺陷信息的第二缺陷信息。

第二检查装置5与图2所示的第一检查装置1同样，具备摄像单元5a以及图像处理单元5b，具有与第一检查装置1同样的功能，因此在此省略详细的说明。第二检查装置5确定摄像图像中的缺陷的位置(相当于缺陷的像素区域的坐标)，取得至少包含确定的缺陷的位置的信息作为第二缺陷信息。所取得的第二缺陷信息被输入到检查系统100所具备的第二运算存储装置8。

(第五工序S7)

在第五工序S7中，检查系统100所具备的第二打印装置6在长条光学层叠体F2的宽度方向端部(优选为位于比第一长条光学膜F1的滚花加工部更靠宽度方向内侧的长条光学层叠体F2的部位)每隔长条光学层叠体F2的长度方向的规定间隔(例如，1m的等间隔)打印第二识别信息N。在图3中，图示了从长条光学层叠体F2的前端侧(输送方向下游侧)依次打印有第二识别信息N1～N3的例子。需要说明的是，实际上，在构成长条光学层叠体F2的第一长条光学膜F1打印有第一识别信息M，但在图3中为了方便，省略了第一识别信息M的图示。

第二识别信息N至少包含确定长条光学层叠体F2的长度方向的位置的信息，这一点与至少包含确定第一长条光学膜F1的长度方向的位置的信息的第一识别信息M不同，其他点与第一识别信息M相同，因此在此省略详细的说明。

需要说明的是，在第一实施方式中，打印在长条光学层叠F2的第二识别信息N打印在与打印有第一识别信息M的第一长条光学膜F1相同的第一长条光学膜F1，但不限于此。

例如，在第二长条光学膜(偏振片)的两侧贴合第一长条光学膜F1(保护膜)而形成长条光学层叠体F2(偏光膜)的情况下，也可以在一方的第一长条光学膜F1(保护膜)打印第一识别信息M，在未打印第一识别信息M的另一方的第一长条光学膜F1(保护膜。也可以兼作相位差膜)打印第二识别信息N。

另外，例如，在第二长条光学膜(偏振片)的两侧贴合第一长条光学膜F1(保护膜)，进而在一方的第一长条光学膜贴合相位差膜而形成长条光学层叠体F2(带相位差功能的偏光膜)的情况下，也可以在另一方的第一长条光学膜F1(保护膜)打印第一识别信息M，在相位差膜打印第二识别信息N。

与由第一运算存储装置4控制第一打印装置2进行的第一识别信息M的打印同样地，由第二运算存储装置8控制第二打印装置6进行的第二识别信息N的打印。关于具体的控制内容，由于与第一打印装置2进行的第一识别信息M的打印的控制相同，因此在此省略详细的说明。

第一实施方式的第二打印装置6与第一打印装置2不同，以激光刻印打印第二识别信息N。作为第二打印装置6，例如能够应用具有使用CO2激光通过激光刻印进行打印的功能的公知的各种打印装置，因此在此省略详细的说明。

(第六工序S8)

在第六工序S8中，第二运算存储装置8将长条光学层叠体F2的第二缺陷信息与第二识别信息N关联地存储。具体而言，由于第一运算存储装置4是与将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M关联地存储的情况相同的步骤，因此省略详细的说明，但第二运算存储装置8使用从具有与测长器3相同的结构的测长器7输入的长条光学层叠体F2向输送方向的移动量，至少将第二识别信息N(在图3所示的例子中为第二识别信息N3)和以第二识别信息N(N3)为基准的缺陷D2的坐标(X2、Y2)关联地存储。

(第七工序S9)

图4是示意性地示出用于执行第七工序S9的检查系统的概略结构的立体图。

在第七工序S9中，第二运算存储装置8将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与长条光学层叠体F2的第二识别信息关联地存储。具体而言，配置用于读取第一识别信息M(在图4中，示出第一识别信息M1～M3)的第一读取装置9和用于读取第二识别信息N(在图4中，示出第二识别信息N1～N3)的第二读取装置10，由第一读取装置9读取的第一识别信息M和由第二读取装置10读取的第二识别信息N被输入到第二运算存储装置8。在此，在第二运算存储装置8中，预先输入并存储有存储于第一运算存储装置4的第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M的关联(第一识别信息M与以第一识别信息M为基准的缺陷的坐标的关系)。第一缺陷信息与第一识别信息M的关联的输入可以将第一运算存储装置4和第二运算存储装置8电连接，从第一运算存储装置4发送到第二运算存储装置8，也可以从第一运算存储装置4下载，手动输入到第二运算存储装置8。另外，从具有与测长器3相同的结构的测长器11向第二运算存储装置8输入长条光学层叠体F2向输送方向的移动量。

第二运算存储装置8基于从测长器11输入的长条光学层叠体F2向输送方向的移动量，能够掌握在由第一读取装置9读取到第一识别信息M的时刻(第一识别信息M输入到第二运算存储装置8的时刻)和由第二读取装置10读取到第二识别信息N的时刻(第二识别信息N输入到第二运算存储装置8的时刻)之间长条光学层叠体F2向输送方向移动了多少。基于这两个时刻之间的长条光学层叠体F2的移动量，第二运算存储装置8能够计算第一识别信息M和第二识别信息N的沿着长条光学层叠体F2的长度方向的位置偏移(在图4所示的例子中为第一识别信息M3和第二识别信息N3的位置偏移dX)。

因此，第二运算存储装置8能够基于预先存储的第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M的关联和计算出的第一识别信息M与第二识别信息N的位置偏差，将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与长条光学层叠体F2的第二识别信息N关联地存储。换而言之，能够将第二识别信息N与以第二识别信息N为基准的缺陷的坐标关联地存储。这样，通过执行第七工序S9，能够基于长条光学层叠体F2的第二识别信息N，对第一缺陷信息以及第二缺陷信息进行一元化管理。

执行了第七工序S9后的长条光学层叠体F2卷绕成卷状，被输送到No.2工序。

图5是示意性地示出第一读取装置9以及第二读取装置10的概略结构例的侧视图(从长条光学层叠体F2的宽度方向观察的侧视图)。图5(a)示出第一读取装置9的概略结构例，图5(b)示出第二读取装置10的概略结构例。

如图5(a)所示，第一读取装置9具备射出紫外线的UV照明91和摄像单元(区域传感器)92。通过将从UV照明91射出的紫外线照射到长条光学层叠体F2的表面，用透明墨(UV墨)打印的第一识别信息M发出荧光。由此，在由相对于长条光学层叠体F2的表面配置在与UV照明91相同的一侧(在图5(a)所示的例子中为上侧)的摄像单元92取得的摄像图像中，相当于第一识别信息M的像素区域变亮(相当于第二识别信息N的像素区域与背景同样地变暗)，能够与第二识别信息N区别地读取第一识别信息M。

需要说明的是，作为UV照明91，例如可以使用射出波长200～400nm左右的紫外线、优选波长365nm左右的紫外线的UV照明。另外，作为摄像单元92，例如可以使用快门速度(曝光时间)为30～150μsec左右的带高速快门的区域传感器。

如图5(b)所示，第二读取装置10具备：照明101，其相对于长条光学层叠体F2的表面配置在一侧(在图5(b)所示的例子中为下侧)，射出平行光束；摄像单元(区域传感器)102，其相对于长条光学层叠体F2的表面配置在另一侧(在图5(b)所示的例子中为上侧)，接受透过长条光学层叠体F2的光。从照明101射出并照射到长条光学层叠体F2的表面的平行光束被以激光刻印打印的第二识别信息N散射。由此，在由摄像单元102取得的摄像图像中，相当于第二识别信息N的像素区域变暗(相当于第一识别信息M的像素区域与背景同样地变亮)，能够与第一识别信息M区别地读取第二识别信息N。

需要说明的是，虽然省略详细的说明，但在使用通常的有色墨打印第一识别信息M的情况下，通过将照射漫射光的照明代替图5(b)所示的照明101的读取装置用作读取第一识别信息M的读取装置，在由摄像单元102取得的摄像图像中，相当于第一识别信息M的像素区域变暗(相当于第二识别信息N的像素区域与背景同样地变亮)，能够与第二识别信息N区别地读取第一识别信息M。

(读取工序S10)

在No.2工序中，卷绕成卷状的长条光学层叠体F2被送出。然后，首先执行读取工序S10。

图6是示意性地示出用于执行读取工序S10、第二次的第四工序S11以及第六工序S12(第七工序S9执行后的第四工序以及第六工序)的检查系统的概略结构的立体图。需要说明的是，实际上，在构成长条光学层叠体F2的第一长条光学膜F1打印有第一识别信息M，但在图6中为了方便，省略了第一识别信息M的图示。

如图6所示，在读取工序S10中，利用具有与检查系统100所具备的第二读取装置10(参照图4、图5(b))相同的结构的第二读取装置12读取第二识别信息N。读取到的第二识别信息N被输入到第二运算存储装置8。

(第四工序(第二次)S11)

在第二次的第四工序S11中，具有与检查系统100所具备的第二检查装置5相同的结构的第二检查装置13(摄像单元13a以及图像处理单元13b)对由输送辊R以卷对卷方式输送(沿图6中粗线箭头所示的方向输送)的长条光学层叠体F2进行检查，取得作为长条光学层叠体F2的缺陷信息的第二缺陷信息。所取得的第二缺陷信息被输入到第二运算存储装置8。

(第六工序(第二次)S12)

在第二次的第六工序S12中，第二运算存储装置8将由第二检查装置13取得的长条光学层叠体F2的第二缺陷信息与由第二读取装置12读取到的第二识别信息N关联地存储。具体而言，第二运算存储装置8使用从具有与测长器3同样的结构的测长器14输入的长条光学层叠体F2向输送方向的移动量，在由第二读取装置12读取到第二识别信息N的时刻和由第二检查装置13检测出缺陷的时刻(确定了相当于摄像图像中的缺陷的像素区域的坐标的时刻)之间，掌握长条光学层叠体F2在输送方向上移动了多少，至少将第二识别信息N和以第二识别信息N为基准的缺陷的坐标关联地存储。

在第一实施方式中，以在长条光学层叠体F2的制造工序中执行两次检查(第二检查装置5进行的检查、第二检查装置13进行的检查)的情况为例进行了说明，但在检查三次以上的情况下，在第二次以后的检查中重复执行读取工序S10、第四工序S11以及第六工序S12即可。

根据以上说明的第一实施方式的检查方法，由于第一识别信息M以喷墨方式打印，第二识别信息N以激光刻印打印，因此如本发明者们发现的那样，即使第一识别信息M和第二识别信息N重叠，也能够区别地读取两者。即，能够适当地将缺陷信息与识别信息关联(将第一缺陷信息与第一识别信息M(进而第二识别信息N)关联，将第二缺陷信息与第二识别信息N关联)。

另外，例如，通过读取第二识别信息N，使用在第六工序S8、S12中存储的第二缺陷信息与第二识别信息N的关联，并且使用在第七工序S9中存储的第一缺陷信息与第二识别信息N的关联，能够避开在第一长条光学膜F1的状态下产生的缺陷的位置以及在长条光学层叠体F2的状态下产生的缺陷的位置，冲裁制品。

但是，本发明的检查方法不限定于第一识别信息M以喷墨方式打印、第二识别信息N以激光刻印打印的方式。即使以喷墨方式打印第一识别信息M以及第二识别信息N中的任一方，以激光刻印打印另一方，或者以使用透明墨的喷墨方式打印任一方，以使用有色墨的喷墨方式打印另一方，也能够区别地读取第一识别信息M和第二识别信息N。

需要说明的是，作为优选的方式，第一实施方式的检查方法还可以包括基于第一长条光学膜F1的第一识别信息M(进而长条光学层叠体F2的第二识别信息N)以及第一缺陷信息的关联、长条光学层叠体F2的第二识别信息N以及第二缺陷信息的关联，对长条光学层叠体F2的缺陷的位置实施标记的第八工序(在图1中省略图示)。具体而言，也可以读取第二识别信息N，在第一缺陷信息以及第二缺陷信息所包含的缺陷的位置实施喷墨方式的标记、或使用与专利文献1所记载相同的万能笔的标记。通过包括实施标记的第八工序，在缺陷的位置实施标记，因此即使目视也能够确定缺陷的位置。

图7是示出基于第一实施方式的检查方法的第一识别信息M以及第二识别信息N的打印例的图。图7所示的例子是使用三乙酰纤维素(TAC)制的保护膜和丙烯酸制的保护膜作为第一长条光学膜F1，在作为第二长条光学膜的偏振片的两侧贴合这些第一长条光学膜F1而形成的长条光学层叠体F2(偏光膜)。在图7所示的例子中，在以透明墨(UV墨)的喷墨方式将第一识别信息M打印在丙烯酸制保护膜之后，将该丙烯酸制保护膜和TAC制保护膜分别贴合在偏振片的两侧，之后，对TAC制的保护膜侧以激光刻印打印第二识别信息N。图7所示的圆形的凹凸是在丙烯酸制保护膜的宽度方向端部形成的滚花加工部，菱形的凹凸是在TAC制保护膜的宽度方向端部形成的滚花加工部。

需要说明的是，图7所示的摄像图像是在同时使用第一读取装置9所具备的UV照明91和第二读取装置10所具备的照明101双方对长条光学层叠体F2进行照明的情况下得到的摄像图像。

图8示出由第一读取装置9读取图7所示的长条光学层叠体F2的第一识别信息M的结果的一例。如图8所示，在由第一读取装置9取得的摄像图像中，相当于第一识别信息M的像素区域变亮(相当于第二识别信息N的像素区域与背景同样地变暗)，可知能够与第二识别信息N区别地读取第一识别信息M。

图9示出由第二读取装置10读取图7所示的长条光学层叠体F2的第二识别信息N的结果的一例。如图9所示，在由第二读取装置10取得的摄像图像中，相当于第二识别信息N的像素区域变暗(相当于第一识别信息M的像素区域与背景同样地变亮)，可知能够与第一识别信息M区别地读取第二识别信息N。

需要说明的是，在第一实施方式中，对在执行滚花加工工序S1之后(在第一长条光学膜F1形成滚花加工部之后)，在第二工序S3中在第一长条光学膜F1打印第一识别信息M的例子进行了说明，但本发明不限于此。也可以在形成滚花加工部之前在供滚花加工部形成的预定的部位打印第一识别信息M(即，在打印第一识别信息M之后形成滚花加工部)。

另外，在第一实施方式中，举了多次执行长条光学层叠体F2的检查的情况为例进行了说明，但本发明不限于此，也可以仅执行一次长条光学层叠体F2的检查。在该情况下，不需要图1所示的读取工序S10、第四工序(第二次)S11以及第六工序(第二次)S12。但是，在避开在第一长条光学膜F1的状态下产生的缺陷的位置以及在长条光学层叠体F2的状态下产生的缺陷的位置而冲裁制品时、或执行对长条光学层叠体F2的缺陷的位置实施标记的第八工序的情况下，需要读取工序S10。

另外，在第一实施方式中，举了仅执行一次第一长条光学膜F1的检查的情况为例进行了说明，但本发明不限于此，也可以与长条光学层叠体F2的检查同样地执行多次。在该情况下，在第二次以后的检查中，在图1所示的第三工序S4之后，需要反复执行读取第一识别信息M的读取工序、与第一工序S2同样地取得第一缺陷信息的工序、以及与第三工序S4同样地将第一缺陷信息与第一识别信息M关联地存储的工序。

另外，在第一实施方式中，举了通过执行第七工序S9，基于长条光学层叠体F2的第二识别信息N，对第一缺陷信息以及第二缺陷信息进行一元化管理的情况为例进行了说明，但本发明并不限定于此。也可以不执行第七工序S9，而基于第一识别信息M管理第一缺陷信息，基于第二识别信息N管理第二缺陷信息。具体而言，例如，通过读取第一识别信息M，使用在第三工序S4中存储的第一缺陷信息与第一识别信息M的关联，避开在第一长条光学膜F1的状态下产生的缺陷的位置而冲裁制品，读取第2识别信息N，通过使用在第6工序S8中存储的第二缺陷信息与第二识别信息N的关联，也能够避开在长条光学层叠体F2的状态下产生的缺陷的位置而冲裁制品。

另外，在第一实施方式中，举了第一长条光学膜F1是保护膜、第二长条光学膜是偏振片、长条光学层叠体F2是偏光膜的情况为例进行了说明，但本发明不限于此。例如，第一长条光学膜F1也可以是相位差膜，第二长条光学膜也可以是偏振片。另外，第一长条光学膜F1可以是相位差膜、反射型偏振片、防反射膜、ITO膜等导电性膜，例如由聚酰亚胺等制造的窗薄膜等，第二长条光学膜可以是偏光膜(偏振片和保护膜的层叠体)。

<第二实施方式>

本发明的第二实施方式的长条光学层叠体的检查方法与第一实施方式的不同点在于，对作为第一长条光学膜F1的保护膜实施防眩处理等表面处理，在表面处理的前后分别进行检查。以下，对于第二实施方式的检查方法，主要说明与第一实施方式的不同点，对于与第一实施方式相同的点适当省略说明。

图10是部分地示出第二实施方式的检查方法的概略工序的流程图。具体而言，图10示出对图1所示的第一实施方式的检查方法以第二实施方式的检查方法附加的工序。

第二实施方式的检查方法除了第一实施方式的检查方法所包含的工序S1～S12之外，如图10所示，在第一长条光学膜F1的制造工序中执行的第三工序S4与贴合工序S5之间，还包括用虚线包围的工序S20。具体而言，第二实施方式的检查方法包括工序S21～S24。以下，对各工序依次进行说明。

(表面处理工序S21)

在表面处理工序S21中，在执行第三工序S4后，将卷绕成卷状的第一长条光学膜F1(保护膜)的料卷送出，实施表面处理。作为在表面处理工序S21中实施的表面处理，除了防眩处理以外，还可以例示硬涂处理、防反射处理、防粘处理等。

(读取工序S22)

在读取工序S22中，在具有与第一实施方式的第一读取装置9相同的结构的读取装置中，读取由输送辊以卷对卷方式输送的表面处理后的第一长条光学膜F1的第一识别信息M。读取到的第一识别信息M被输入到第一运算存储装置4。

(第一工序(第二次)S23)

在第二次的第一工序S23中，具有与第一实施方式的第一检查装置1(摄像单元1a以及图像处理单元1b)相同的结构的检查装置对由输送辊以卷对卷方式输送的表面处理后的第一长条光学膜F1进行检查，取得作为表面处理后的第一长条光学膜F1的缺陷信息的第一’缺陷信息。所取得的第一’缺陷信息被输入到第一运算存储装置4。

(第三工序(第二次)S24)

在第二次的第三工序S24中，第一运算存储装置4将在第二次的第一工序S23中取得的表面处理后的第一长条光学膜F1的第一’缺陷信息与在读取工序S22中读取到的第一识别信息M关联地存储。在第一运算存储装置4中，通过第三工序S4，将表面处理前的第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M关联地存储，因此第一运算存储装置4将表面处理后的第一长条光学膜F1的第一’缺陷信息覆盖于第一缺陷信息，并与第一识别信息M关联地存储。

具体而言，第一运算存储装置4使用从具有与测长器3同样的结构的测长器输入的表面处理后的第一长条光学膜F1向输送方向的移动量，在由读取装置读取到第一识别信息M的时刻和由检查装置检测出缺陷的时刻(确定了相当于摄像图像中的缺陷的像素区域的坐标的时刻)之间，掌握表面处理后的第一长条光学膜F1在输送方向上移动了多少，至少将第一识别信息M和以第一识别信息M为基准的缺陷的坐标关联地存储。

在以上说明的第二实施方式的检查方法中，也以上述的打印图案一～六的任一个图案打印第一识别信息M以及第二识别信息N。因此，根据第二实施方式的检查方法，与第一实施方式同样地，即使第一识别信息M和第二识别信息N重叠，也能够区别地读取两者。即，能够适当地将缺陷信息与识别信息关联(将第一缺陷信息与第一识别信息M(进而第二识别信息N)关联，将第二缺陷信息与第二识别信息N关联)。

另外，例如，通过读取第二识别信息N，使用在第六工序S8、S12中存储的第二缺陷信息与第二识别信息N的关联，并且使用在第七工序S9中存储的第一缺陷信息与第二识别信息N的关联，能够避开在第一长条光学膜F1(表面处理前后的双方的第一长条光学膜)的状态下产生的缺陷的位置以及在长条光学层叠体F2的状态下产生的缺陷的位置，冲裁制品。

<第三实施方式>

本发明的第三实施方式的长条光学层叠体的检查方法与第一实施方式的不同点在于，第一长条光学膜F1是涂布液晶材料的基材，在向第一长条光学膜F1涂布液晶材料的前后进行检查，第二长条光学膜是偏光膜，检查第二长条光学膜而取得第二缺陷信息，在第二长条光学膜打印第二识别信息N。以下，对于第三实施方式的检查方法，主要说明与第一实施方式的不同点，对于与第一实施方式相同的点适当省略说明。需要说明的是，在第一实施方式中，作为长条光学层叠体的参照附图标记使用F2，但在第三实施方式中，作为第二长条光学膜的参照附图标记使用F2。

图11～图13是示出第三实施方式的检查方法的概略工序的流程图。图11是示出在第一长条光学膜F1的制造工序中执行的概略工序的流程图。图12是示出在第二长条光学膜F2的制造工序中执行的概略工序的流程图。图13是示出在长条光学层叠体的制造工序中执行的概略工序的流程图。

另外，图14是示意性地示出图11所示的第一长条光学膜F1的制造工序中的各膜的状态的剖视图。图15是示意性地示出图12所示的第二长条光学膜F2的制造工序中的各膜的状态的剖视图。图16是示意性地示出图13所示的长条光学层叠体的制造工序中的各膜的状态的剖视图。需要说明的是，应当注意的是，图14～图16所示的结构要素的尺寸、比例以及形状有时与实际不同。

第三实施方式的检查方法包括：如图11所示，在第一长条光学膜F1的制造工序中执行的工序S31～S38；如图12所示，在第二长条光学膜F2的制造工序中执行的工序S41～S45；如图13所示，在长条光学层叠体的制造工序中执行的工序S51～S57。以下，对各工序依次进行说明。

[在第一长条光学膜F1的制造工序中执行的工序]

(基材制造工序S31)

在图11所示的基材制造工序S31中，制造图14(a)所示的第一长条光学膜F1(基材)。第一长条光学膜F1例如通过将树脂材料熔融挤出而将树脂膜制膜，并对其进行拉伸而制造。

作为形成第一长条光学膜F1的树脂材料，例如可以举出聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯等聚酯；聚乙烯、聚丙烯等聚烯烃；降冰片烯系聚合物等环状聚烯烃；二乙酰纤维素、三乙酰纤维素等纤维素系聚合物；丙烯酸系聚合物；苯乙烯系聚合物；聚碳酸酯、聚酰胺、聚酰亚胺等。作为树脂材料，优选使用降冰片烯系聚合物等环状聚烯烃。

(第一工序S32)

在第一工序S32中，与第一实施方式相同的第一检查装置1(摄像单元1a以及图像处理单元1b)对由输送辊以卷对卷方式输送的第一长条光学膜F1进行检查，取得作为第一长条光学膜F1的缺陷信息的第一缺陷信息。所取得的第一缺陷信息被输入到与第一实施方式相同的第一运算存储装置4。

需要说明的是，如后所述，作为基材的第三实施方式的第一长条光学膜F1在与第二长条光学膜F2贴合后被剥离除去。但是，如果在第一长条光学膜存在缺陷，则第一长条光学膜的缺陷被转印到在第一长条光学膜涂布液晶材料而形成的液晶层，或者在输送中第一长条光学膜断裂，有可能在制造工序中产生障碍。因此，在第三实施方式中，也有检查第一长条光学膜F1的意义。

(第二工序S33)

在第二工序S33中，与第一实施方式相同的第一打印装置2在第一长条光学膜F1的宽度方向端部每隔第一长条光学膜F1的长度方向的规定间隔以喷墨方式(优选为使用透明墨的喷墨方式)打印图14(b)所示的第一识别信息M。

(第三工序S34)

在第三工序S34中，第一运算存储装置34将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M关联地存储。具体而言，第一运算存储装置4使用从测长器3输入的第一长条光学膜F1向输送方向的移动量，在由第一检查装置1检测出缺陷的时刻和由第一打印装置2打印了第一识别信息M的时刻之间，掌握第一长条光学膜F1在输送方向上移动了多少，至少将第一识别信息M和以第一识别信息M为基准的缺陷的坐标关联地存储。

(涂布工序S35)

在涂布工序S35中，在第一长条光学膜F1涂布液晶材料(液晶性组合物)，在第一长条光学膜F1上形成图14(c)所示的液晶层F11(取向液晶层)。如图14(c)所示，液晶材料涂布在第一长条光学膜F1的与打印有第一识别信息M的面相反侧的面，在该相反侧的面形成取向液晶层F11。

涂布在第一长光学膜F1的液晶性组合物含有液晶化合物。将液晶性组合物涂布在第一长条光学膜F1后，使液晶化合物在规定方向上取向，通过固定该取向状态，在第一长条光学膜F1上形成取向液晶层F11。

作为液晶化合物，例如可以举出棒状液晶化合物和圆盘状液晶化合物。由于通过第一长光学膜F1(基材)的取向控制力容易进行均匀取向，因此优选使用棒状液晶化合物作为液晶化合物。棒状液晶化合物可以是主链型液晶或侧链型液晶。棒状液晶化合物可以是液晶聚合物，也可以是聚合性液晶化合物的聚合物。如果聚合前的液晶化合物(单体)显示液晶性，则聚合后也可以不显示液晶性。

液晶化合物优选为通过加热而显现液晶性的热致液晶。热致液晶伴随温度变化，产生结晶相、液晶相、各向同性相的相转移。液晶性组合物中所含的液晶化合物可以是向列型液晶、近晶型液晶、胆甾醇型液晶的任一种。也可以对向列型液晶添加手性剂而使其具有胆甾醇取向性。

在液晶性组合物中所含的液晶化合物为热致液晶的情况下，在第一长条光学膜F1上涂布液晶性组合物，加热以使液晶化合物作为液晶状态取向，形成液晶性组合物层。然后，通过加热液晶性组合物层形成液晶相，形成液晶化合物取向的取向液晶层F11。取向液晶层F11的光学特性没有特别限定，例如作为1/4波长板或1/2波长板发挥功能。优选地，取向液晶层F11是作为正A板的1/4波长板发挥功能的均匀取向液晶层。

(读取工序S36)

在读取工序S36中，在具有与第一实施方式的第一读取装置9相同的结构的读取装置中，读取由输送辊以卷对卷方式输送的液晶材料涂布后(取向液晶层F11形成后)的第一长条光学膜F1的第一识别信息M。读取到的第一识别信息M被输入到第一运算存储装置4。

(第一工序(第二次)S37)

在第二次的第一工序S37中，具有与第一实施方式的第一检查装置1(摄像单元1a以及图像处理单元1b)相同的结构的检查装置对由输送辊以卷对卷方式输送的液晶材料涂布后(取向液晶层F11形成后)的第一长条光学膜F1进行检查，取得作为液晶材料涂布后的第一长条光学膜F1的缺陷信息的第一’缺陷信息。所取得的第一’缺陷信息被输入到第一运算存储装置4。

(第三工序(第二次)S38)

在第二次的第三工序S38中，第一运算存储装置4将在第二次的第一工序S37中取得的液晶材料涂布后的第一长条光学膜F1的第一’缺陷信息与在读取工序S36中读取到的第一识别信息M关联地存储。在第一运算存储装置4中，通过第三工序S34，将液晶材料涂布前的第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M关联地存储，因此第一运算存储装置34将液晶材料涂布后的第一长条光学膜F1的第一’缺陷信息覆盖于第一缺陷信息，并与第一识别信息M关联地存储。

具体而言，第一运算存储装置4使用从具有与测长器3同样的结构的测长器输入的液晶材料涂布后的第一长条光学膜F1向输送方向的移动量，在由读取装置读取到第一识别信息M的时刻和由检查装置检测出缺陷的时刻(确定了相当于摄像图像中的缺陷的像素区域的坐标的时刻)之间，掌握液晶材料涂布后的第一长条光学膜F1在输送方向上移动了多少，至少将第一识别信息M和以第一识别信息M为基准的缺陷的坐标关联地存储。

[在第二长条光学膜F2的制造工序中执行的工序]

(保护膜制造工序S41)

在图12所示的保护膜制造工序S41中，制造图15(a)所示的保护膜F21。作为保护膜F21，可以使用与第一实施方式的第一长条光学膜F1相同的保护膜。即，作为保护膜F21，例如优选使用由三乙酰纤维素等乙酸酯系树脂、聚碳酸酯系树脂、聚芳酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯等聚酯系树脂、聚酰亚胺系树脂、聚砜系树脂、聚醚砜系树脂、聚苯乙烯系树脂、聚乙烯、聚丙烯等聚烯烃系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚氯乙烯系树脂、聚降冰片烯系树脂、(甲基)丙烯酸系树脂、聚甲基丙烯酸甲酯系树脂、液晶聚合物等聚合物构成的膜。

保护膜F21可以通过流延法、压延法、挤出法中的任一种来制造。所制造的保护膜F21被卷绕成卷状，作为料卷。

需要说明的是，在第三实施方式中，与第一实施方式的第一长条光学膜F1不同，在保护膜F21不打印识别信息。

(贴合工序S42)

在第二长条光学膜F2的制造工序中，将保护膜F21的料卷送出，并且将另行制造的偏振片F22的料卷送出。然后，在贴合工序S42中，在偏振片F22的单侧或两侧，经由粘接剂等贴合保护膜F21，如图15(b)所示，得到层叠有保护膜F21和偏振片F22的第二长条光学膜F2(偏光膜)。

作为偏振片F22，可以使用与第一实施方式的第二长条光学膜相同的偏振片。即，作为偏振片F22，可以使用将实施了染色处理、交联处理以及拉伸处理的聚乙烯醇系薄膜干燥而制造的偏振片。

(第四工序S43)

在第四工序S43中，与第一实施方式相同的第二检查装置5(摄像单元5a以及图像处理单元5b)对由输送辊以卷对卷方式输送的第二长条光学膜F2进行检查，取得作为第二长条光学膜F2的缺陷信息的第二缺陷信息。所取得的第二缺陷信息被输入到与第一实施方式相同的第二运算存储装置8。

(第五工序S44)

在第五工序S44中，与第一实施方式相同的第二打印装置6在第二长条光学膜F2的宽度方向端部每隔第二长条光学膜F2的长度方向的规定间隔以激光刻印打印图15(c)所示的第二识别信息N。具体而言，在构成第二长条光学膜F2的保护膜F21打印第二识别信息N。

(第六工序S45)

在第六工序S45中，第二运算存储装置8将第二长条光学膜F2的第一缺陷信息与第二识别信息N关联地存储。具体而言，第二运算存储装置8使用从测长器7输入的第二长条光学膜F2向输送方向的移动量，在由第二检查装置5检测出缺陷的时刻和由第二打印装置6打印了第二识别信息N的时刻之间，掌握第二长条光学膜F2在输送方向上移动了多少，至少将第二识别信息N和以第二识别信息N为基准的缺陷的坐标关联地存储。

[在长条光学层叠体的制造工序中执行的工序]

在上述的第一长条光学膜F1的制造工序中制造的第一长条光学膜F1(在作为基材的第一长条光学膜F1的一个面形成有取向液晶层F11，在另一个面以喷墨方式打印有第一识别信息M的层叠体)被卷绕成卷状，作为料卷。另外，在上述的第二长条光学膜F2的制造工序中制造的第二长条光学膜F2(层叠有保护膜F21和偏振片F22，在保护膜F21以激光刻印打印有第二识别信息N的偏光膜)被卷绕成卷状，作为料卷。作为料卷的第一长条光学膜F1以及第二长条光学膜F2被输送到长条光学层叠体的制造工序。在长条光学层叠体的制造工序中，使用所输送的第一长条光学膜F1以及第二长条光学膜F2的料卷。

如图13所示，第三实施方式的长条光学层叠体的制造工序包括No.1工序和No.2工序。需要说明的是，图13所示的“A”是指图11以及图12所示的“去往A”之后的工序。

(贴合工序S51)

在No.1工序中，将第一长条光学膜F1(第一长条光学膜F1与取向液晶层F11的层叠体)的料卷送出，将第二长条光学膜F2(偏光膜)的料卷送出。然后，在贴合工序S51中，以第一长条光学膜F1的取向液晶层F11侧与第二长条光学膜F2的偏振片F22侧对置的方式，经由粘合剂20(例如，丙烯酸类粘接剂)贴合第一长条光学膜F1和第二长条光学膜F2，如图16(a)所示，得到层叠有第一长条光学膜F1和第二长条光学膜F2的长条光学层叠体。在构成该长条光学层叠体的第一长条光学膜F1打印第一识别信息M，在第二长条光学膜F2的保护膜F21打印第二识别信息N。

(第七工序S52)

在第七工序S52中，第二运算存储装置8将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第二长条光学膜F2的第二识别信息N关联地存储。具体而言，对于由输送辊以卷对卷方式输送的长条光学层叠体，由与第一实施方式相同的第一读取装置9读取到的第一识别信息M和由第二读取装置10读取到的第二识别信息N被输入到第二运算存储装置8(其中，与图4所示的方式不同，第一读取装置9能够读取打印在长条光学层叠体的最下表面的第一识别信息M，第二读取装置10被配置成能够读取打印在长条光学层叠体的最上表面的第二识别信息N)。在此，在第二运算存储装置8中，与第一实施方式同样地，预先输入并存储有存储于第一运算存储装置4的第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M的关联(第一识别信息M与以第一识别信息M为基准的缺陷的坐标的关系)。另外，从具有与第一实施方式相同的测长器11向第二运算存储装置8输入长条光学层叠体F2向输送方向的移动量。

第二运算存储装置8基于从测长器11输入的长条光学层叠体向输送方向的移动量，能够掌握在由第一读取装置9读取到第一识别信息M的时刻(第一识别信息M输入到第二运算存储装置8的时刻)和由第二读取装置10读取到第二识别信息N的时刻(第二识别信息N输入到第二运算存储装置8的时刻)之间长条光学层叠体向输送方向移动了多少。基于这两个时刻之间的长条光学层叠体的移动量，第二运算存储装置8能够计算第一识别信息M和第二识别信息N的沿着长条光学层叠体的长度方向的位置偏移。

因此，第二运算存储装置8能够基于预先存储的第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第一识别信息M的关联和计算出的第一识别信息M与第二识别信息N的位置偏差，将第一长条光学膜F1的第一缺陷信息与第二长条光学膜F2的第二识别信息N关联地存储。换而言之，能够将第二识别信息N与以第二识别信息N为基准的缺陷的坐标关联地存储。这样，通过执行第七工序S52，能够基于第二长条光学膜F2的第二识别信息N，对第一缺陷信息以及第二缺陷信息进行一元化管理。

(第三缺陷信息取得工序S53)

在第三缺陷信息取得工序S53中，具有与第一实施方式的第二检查装置5(摄像单元5a以及图像处理单元5b)相同的结构的检查装置对由输送辊以卷对卷方式输送的图16(a)所示的长条光学层叠体进行检查，取得作为长条光学层叠体的缺陷信息的第三缺陷信息。所取得的第三缺陷信息被输入到第二运算存储装置8。

(存储工序S54)

在存储工序S54中，第二运算存储装置8将在第三缺陷信息取得工序S53中取得的长条光学层叠体的第三缺陷信息与在第七工序S52中读取到的第二识别信息N关联地存储。具体而言，第二运算存储装置8使用从具有与测长器11同样的结构的测长器输入的长条光学层叠体向输送方向的移动量，在由第二读取装置10读取到第二识别信息N的时刻和由检查装置检测出缺陷的时刻(确定了相当于摄像图像中的缺陷的像素区域的坐标的时刻)之间，掌握长条光学层叠体在输送方向上移动了多少，至少将第二识别信息N和以第二识别信息N为基准的缺陷的坐标关联地存储。通过执行该存储工序S54，能够基于第二长条光学膜F2的第二识别信息N，对第一缺陷信息、第二缺陷信息以及第三缺陷信息进行一元化管理。

执行了存储工序S54后的长条光学层叠体卷绕成卷状，被输送到No.2工序。

(读取工序S55)

在No.2工序中，将卷绕成卷状的长条光学层叠体送出，首先，将构成图16(a)所示的长条光学层叠体的第一长条光学膜F1(基材)剥离除去。然后，例如，经由紫外线固化型粘接剂30，在构成长条光学层叠体的取向液晶层F11，液晶分子相对于基材面(剥离除去前的第一长条光学膜F1的面)垂直取向(Homeotropic orientation)，形成作为正C板发挥功能的取向液晶层40。进而，在该取向液晶层40涂布与粘接剂20相同的粘接剂50。通过以上工序，形成图16(b)所示的长条光学层叠体。

图16(b)所示的长条光学层叠体在作为偏光膜的第二长条光学膜F2上依次层叠有取向液晶层F11(优选作为正A板的1/4波长板发挥功能的均匀取向液晶层)和作为正C板发挥功能的取向液晶层40，因此，可以作为对来自倾斜方向的外部光也能够遮蔽反射光的圆偏振光板发挥功能。需要说明的是，在第三实施方式中，制造在作为偏光膜的第二长光学膜F2上依次层叠有取向液晶层F11、取向液晶层40的长光学层叠体，但也可以调换顺序，制造在第二长光学膜F2上依次层叠有取向液晶层40、取向液晶层F11的长光学层叠体。在该情况下，在第一长条光学膜F1(基材)上形成取向液晶层40。

图16(b)所示的长条光学层叠体由于打印有第一识别信息M的第一长条光学膜F1被剥离除去，因此仅存在打印在第二长条光学膜F2的保护膜F21的第二识别信息N。然后，在No.2工序中，对该长条光学层叠体执行读取工序S55。

在读取步骤S55中，由与第一实施方式相同的第二读取装置12读取第二识别信息N。读取到的第二识别信息N被输入到第二运算存储装置8。

(第三缺陷信息取得工序(第二次)S56)

在第二次的第三缺陷信息取得工序S56中，与第一实施方式相同的第二检查装置13(摄像单元13a以及图像处理单元13b)对由输送辊以卷对卷方式输送的长条光学层叠体(图16(b))进行检查，取得作为长条光学层叠体的缺陷信息的第三缺陷信息。所取得的第三缺陷信息被输入到第二运算存储装置8。

(存储工序(第二次)S57)

在第二次的存储工序S57中，第二运算存储装置8将由第二检查装置13取得的长条光学层叠体的第二缺陷信息与由第二读取装置12读取到的第二识别信息N关联地存储。具体而言，第二运算存储装置8使用从与第一实施方式相同的测长器14输入的长条光学层叠体向输送方向的移动量，在由第二读取装置12读取到第二识别信息N的时刻和由第二检查装置13检测出缺陷的时刻(确定了相当于摄像图像中的缺陷的像素区域的坐标的时刻)之间，掌握长条光学层叠体在输送方向上移动了多少，至少将第二识别信息N和以第二识别信息N为基准的缺陷的坐标关联地存储。

在以上说明的第三实施方式的检查方法中，以喷墨方式打印第一识别信息M，以激光刻印打印第二识别信息N(但是，不限于此，只要以上述的打印图案一～六的任一个图案打印第一识别信息M以及第二识别信息N即可)。因此，根据第三实施方式的检查方法，与第一实施方式同样地，即使第一识别信息M和第二识别信息N在上下方向上观察时重叠，也能够区别地读取两者。即，能够适当地将缺陷信息与识别信息关联(将第一缺陷信息与第一识别信息M(进而第二识别信息N)关联，将第二缺陷信息与第二识别信息N关联，将第三缺陷信息与第二识别信息N关联)。

另外，例如，通过读取第二识别信息N，使用在第六工序S45中存储的第二缺陷信息与第二识别信息N的关联，使用在第七工序S52中存储的第一缺陷信息与第二识别信息N的关联，使用在存储工序S54、S57中存储的第三缺陷信息与第二识别信息N的关联，能够避开在第一长条光学膜F1的状态下产生的缺陷的位置、在第二长条光学膜F2的状态下产生的缺陷的位置以及在长条光学层叠体的状态下产生的缺陷的位置，冲裁制品。

需要说明的是，在第三实施方式中，举了打印有第一识别信息M的第一长条光学膜F1是供液晶材料涂布的基材(供取向液晶层F11形成的基材)，取向液晶层F11作为1/4波长板发挥功能的情况为例进行了说明，但不限于此。作为第一长条光学膜F1，也可以采用使用作为1/4波长板发挥功能的树脂膜的拉伸膜(相位差膜)，在该拉伸膜打印第一识别信息M的方式(该情况下的第一长条光学膜F1在与第二长条光学膜F2贴合后也不被剥离除去)。作为这样的树脂膜的材料，例如可以举出聚碳酸酯系树脂、聚酯碳酸酯系树脂、聚酯系树脂、聚乙烯醇缩醛树脂、聚芳酯系树脂、环状烯烃系树脂、纤维素系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚酰胺系树脂、聚酰亚胺系树脂、聚醚系树脂、聚苯乙烯系树脂、丙烯酸系树脂。这些树脂可以单独使用，也可以组合(例如，使其共混、共聚)使用。

<第四实施方式>

本发明的第四实施方式的长条光学层叠体的检查方法是第一实施方式的检查方法和第三实施方式的检查方法的组合、或者第二实施方式的检查方法和第三实施方式的检查方法的组合。

具体而言，在第四实施方式的检查方法中，与第一以及第二实施方式的检查方法同样地，在保护膜打印识别信息，与第一～第三实施方式的检查方法同样地，在偏光膜(保护膜和偏振片的层叠体)打印识别信息，与第三实施方式的检查方法同样地，在基材或相位差膜打印识别信息。

图17是说明第四实施方式的长条光学层叠体的检查方法中的打印图案的说明图。图17(a)是示意性地示出与在第三实施方式的贴合工序S51中得到的长条光学层叠体(剥离除去图16(a)所示的基材F1之前的长条光学层叠体)对应的长条光学层叠体的状态的剖视图。图17(a)示出第四实施方式中的优选的打印图案。

如图17(a)所示，将打印在基材F1(或相位差膜)的识别信息设为第一识别信息M，将打印在偏光膜F2(具体而言，保护膜F21)的识别信息设为第二识别信息N，将打印在保护膜F21的识别信息设为第三识别信息P。此时，根据本发明者们的见解，优选以图17(b)所示的打印图案一～六的任一个图案打印第一识别信息M、第二识别信息N以及第三识别信息P。即，优选在第一识别信息M、第二识别信息N以及第三识别信息P中，以激光刻印打印的仅有一个识别信息，以使用有色墨的喷墨方式打印的也仅有一个识别信息。通过以图17(b)所示的打印图案一～六的任一个图案打印第一识别信息M、第二识别信息N以及第三识别信息P，即使第一识别信息M、第二识别信息N以及第三识别信息P在上下方向上观察时重叠，也能够区别地读取它们。即，能够适当地将缺陷信息与识别信息关联。

附图标记说明

1第一检查装置

2第一打印装置

3、7、11、14测长器

4第一运算存储装置

5、13第二检查装置

6第二打印装置

8第二运算存储装置

9第一读取装置

10、12第二读取装置

100检查系统

F1第一长条光学膜

F2长条光学层叠体、第二长条光学膜

M第一识别信息

N第二识别信息

Claims (10)

1.一种长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，包括：第一工序，其检查第一长条光学膜而取得作为所述第一长条光学膜的缺陷信息的第一缺陷信息；

第二工序，其在所述第一长条光学膜的宽度方向端部，每隔所述第一长条光学膜的长度方向的规定间隔打印第一识别信息；

第三工序，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第一识别信息关联地存储；

第四工序，其检查第二长条光学膜，或者检查层叠有所述第一长条光学膜和所述第二长条光学膜的长条光学层叠体，取得作为所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的缺陷信息的第二缺陷信息；

第五工序，其在所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的宽度方向端部，每隔所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的长度方向的规定间隔打印第二识别信息；

第六工序，其将所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二缺陷信息与所述第二识别信息关联地存储；

在所述第二工序中打印的所述第一识别信息以及在所述第五工序中打印的所述第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

2.如权利要求1所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，在所述第二工序中，以使用透明墨的喷墨方式打印所述第一识别信息，

在所述第五工序中，以激光刻印打印所述第二识别信息。

3.如权利要求1或2所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，还包括第七工序，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二识别信息关联地存储。

4.如权利要求1至3中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，还包括第八工序，其基于所述第一长条光学膜的所述第一识别信息以及所述第一缺陷信息、和所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二识别信息以及所述第二缺陷信息，对所述长条光学层叠体的缺陷的位置实施标记。

5.如权利要求1至4中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，所述第一长条光学膜为保护膜，

所述第二长条光学膜为偏振片，

所述长条光学层叠体为偏光膜。

6.如权利要求1至4中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，所述第一长条光学膜是相位差膜或供液晶材料涂布的基材，

所述第二长条光学膜为偏光膜。

7.如权利要求1至4中任一项所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，所述第一长条光学膜为反射型偏振片，

所述第二长条光学膜为偏光膜。

8.如权利要求5所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，在所述第一长条光学膜的宽度方向端部形成滚花加工部，

在所述第二工序中，在所述第一长条光学膜的相当于所述滚花加工部的部位以喷墨方式打印所述第一识别信息。

9.如权利要求5所述的长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，在所述第一长条光学膜的宽度方向端部形成滚花加工部，

在所述第五工序中，在位于比所述第一长条光学膜的滚花加工部更靠宽度方向内侧的所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的部位打印所述第二识别信息。

10.一种长条光学层叠体的检查方法，其特征在于，具备：第一检查装置，其检查第一长条光学膜而取得作为所述第一长条光学膜的缺陷信息的第一缺陷信息；

第二打印装置，其在所述第一长条光学膜的宽度方向端部，每隔所述第一长条光学膜的长度方向的规定间隔打印第一识别信息；

第一运算存储装置，其将所述第一长条光学膜的所述第一缺陷信息与所述第一识别信息关联地存储；

第二检查装置，其检查第二长条光学膜，或者检查层叠有所述第一长条光学膜和所述第二长条光学膜的长条光学层叠体，取得作为所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的缺陷信息的第二缺陷信息；

第二打印装置，其在所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的宽度方向端部，每隔所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的长度方向的规定间隔打印第二识别信息；

第二运算存储装置，其将所述第二长条光学膜或所述长条光学层叠体的所述第二缺陷信息与所述第二识别信息关联地存储；

所述第一打印装置打印的所述第一识别信息以及在所述第二打印装置打印的所述第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

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