CN114518981A - eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 - Google Patents
eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114518981A CN114518981A CN202210021369.5A CN202210021369A CN114518981A CN 114518981 A CN114518981 A CN 114518981A CN 202210021369 A CN202210021369 A CN 202210021369A CN 114518981 A CN114518981 A CN 114518981A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- emmc
- steady
- write
- state performance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 142
- 238000011056 performance test Methods 0.000 claims abstract description 92
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 12
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 10
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2268—Logging of test results
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本发明公开一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果，以容量为测试维度进行测试，既能够测试eMMC芯片的稳态性能是否正常，也能够准确知道稳态性能是否下跌，并且相较于以时间为测试维度的测试方法更加便捷，降低了测试的繁琐程度，从而能够提高稳态性能测试的便捷性。
Description
技术领域
本发明涉及存储器技术领域，尤其涉及一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。
背景技术
eMMC芯片(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒体卡)广泛应用于各种移动电子设备中，常用Androbench(一个基准测试应用程序)测试其性能。eMMC芯片作为单体存储设备使用时，如果按照传统的单体稳态性能测试方法，即待测试到达稳态后以一定时间(常设置为6小时)为测试时长来测试这段时间内的带宽、时延、IOPS(Input/OutputOperations Per Second，每秒进行读写操作的次数)，对于仅仅想知道稳态性能是否有下跌的用户来说，该测试方法过于繁琐，浪费大量测试资源。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够提高稳态性能测试的便捷性。
为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：
一种eMMC测试方法，包括：
接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
一种eMMC测试装置，包括：
请求接收模块，用于接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
区域划分模块，用于根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
测试模块，用于对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
结果确定模块，用于基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种eMMC测试方法中的各个步骤。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种eMMC测试方法中的各个步骤。
本发明的有益效果在于：根据接收的稳态性能测试请求按照第一预设容量对待测eMMC芯片进行区域划分，对划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存数据读写操作对应的数据读写结果，基于数据读写结果确定稳态性能测试结果，不再像现有技术中，以时间为测试维度进行稳态性能测试，而是以容量为测试维度进行测试，既能够测试eMMC芯片的稳态性能是否正常，也能够准确知道稳态性能是否下跌，并且相较于以时间为测试维度的测试方法更加便捷，降低了测试的繁琐程度，从而能够提高稳态性能测试的便捷性。
附图说明
图1为本发明实施例的一种eMMC测试方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例的一种eMMC测试装置的结构示意图；
图3为本发明实施例的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
请参照图1，本发明实施例提供了一种eMMC测试方法，包括：
接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
从上述描述可知，本发明的有益效果在于：根据接收的稳态性能测试请求按照第一预设容量对待测eMMC芯片进行区域划分，对划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存数据读写操作对应的数据读写结果，基于数据读写结果确定稳态性能测试结果，不再像现有技术中，以时间为测试维度进行稳态性能测试，而是以容量为测试维度进行测试，既能够测试eMMC芯片的稳态性能是否正常，也能够准确知道稳态性能是否下跌，并且相较于以时间为测试维度的测试方法更加便捷，降低了测试的繁琐程度，从而能够提高稳态性能测试的便捷性。
进一步地，所述根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分之前包括：
根据所述稳态性能测试请求按照第一预设测试数据对所述待测eMMC芯片进行预设次数的顺序写，得到处于稳态的待测eMMC芯片。
由上述描述可知，通过对待测eMMC芯片全盘进行预设次数的顺序写，以此确保待测eMMC芯片进入稳态，排除了由于eMMC芯片未处于稳态而导致稳态性能测试失败的情况，进而提高了稳态性能测试结果的可靠性。
进一步地，所述稳态性能测试请求包括测试指标；
所述对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果包括：
根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型；
根据所述测试模型对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并按照所述测试指标保存所述数据读写操作对应的数据读写结果。
由上述描述可知，根据不同的测试指标确定不同的测试模型，再根据测试模型对划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，以实现灵活的eMMC稳态性能测试。
进一步地，所述测试模型包括顺序读写模型和/或随机读写模型；
所述根据所述测试模型对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作包括：
根据所述顺序读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中顺序选取第二预设容量，对所述顺序选取的第二预设容量进行顺序读写操作；
根据所述随机读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中随机选取第二预设容量，对所述随机选取的第二预设容量进行随机读写操作。
由上述描述可知，测试模型包括顺序读写模型和/或随机读写模型，根据顺序读写模型从划分后的待测eMMC芯片的每一第一预设容量中顺序选取第二预设容量，对顺序选取的第二预设容量进行顺序读写操作，根据随机读写模型从划分后的待测eMMC芯片的每一第一预设容量中随机选取第二预设容量，对随机选取的第二预设容量进行随机读写操作，能够对eMMC芯片进行分区测试，提高了稳态性能测试的有效性。
进一步地，所述测试指标包括运行时间指标；
所述根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型包括：
根据所述运行时间指标确定与所述运行时间指标对应的第一顺序读写模型和第一随机读写模型。
由上述描述可知，当测试指标包括运行时间指标时，则确定其对应的第一顺序读写模型和第一随机读写模型，后续根据第一顺序读写模型和第一随机读写模型进行稳态性能测试，实现了以容量为测试维度、以运行时间为测试指标的稳态性能测试，能够简单、有效地实现稳态性能测试。
进一步地，所述测试指标包括带宽指标；
所述根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型包括：
根据所述带宽指标确定与所述带宽指标对应的第二顺序读写模型。
由上述描述可知，当测试指标包括带宽指标时，可确定其对应的第二顺序读写模型，后续按照第二顺序读写模型进行测试，以此实现了以容量为测试维度、以带宽为测试指标的稳态性能测试，同样能够实现简单、有效地稳态性能测试。
进一步地，所述测试指标包括IOPS指标或时延指标；
所述根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型包括：
根据所述IOPS指标确定与所述IOPS指标对应的第二随机读写模型；
根据所述时延指标确定与所述时延指标对应的第三随机读写模型。
由上述描述可知，测试指标除了可以是运行时间和带宽外，还可以是IOPS(每秒进行读写操作的次数)和时延，能够从多个角度实现对eMMC的稳态性能测试，提高了测试的适用性和灵活性，测试人员可根据实际情况进行灵活选择，从而提高稳态性能测试的有效性。
请参照图2，本发明另一实施例提供了一种eMMC测试装置，包括：
请求接收模块，用于接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
区域划分模块，用于根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
测试模块，用于对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
结果确定模块，用于基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
本发明另一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种eMMC测试方法中的各个步骤。
请参照图3，本发明另一实施例提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种eMMC测试方法中的各个步骤。
本发明上述的一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备能够适用于eMMC芯片的测试场景中，以下通过具体实施方式进行说明：
实施例一
请参照图1，本实施例的一种eMMC测试方法，包括：
S0、根据所述稳态性能测试请求按照第一预设测试数据对所述待测eMMC芯片进行预设次数的顺序写，得到处于稳态的待测eMMC芯片；
其中，所述预设次数可根据实际情况进行设置，只要保证待测eMMC芯片能进入稳态即可，本实施例中，所述预设次数为2次；
具体的，将所述待测eMMC芯片放入读卡器，连接至PC(该PC为ubuntu系统)，根据所述稳态性能测试请求按照第一预设测试数据使用FIO工具(I/O工具)对所述待测eMMC芯片进行2次全盘顺序写，得到处于稳态的待测eMMC芯片；
S1、接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
其中，所述稳态性能测试请求包括测试指标；
所述测试指标包括运行时间指标、带宽指标、IOPS指标或时延指标；
S2、根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
其中，所述第一预设容量可根据实际情况进行设置，本实施例中，所述第一预设容量为1G；
比如，所述待测eMMC芯片的容量为64G，按照1G对所述待测eMMC芯片进行区域划分，顺序划分为64个1G容量，得到划分后的待测eMMC芯片；
S3、对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果，具体包括：
S31、根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型；
其中，所述测试模型包括顺序读写模型和/或随机读写模型；
S32、根据所述测试模型对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并按照所述测试指标保存所述数据读写操作对应的数据读写结果，具体包括：
S321、根据所述顺序读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中顺序选取第二预设容量，对所述顺序选取的第二预设容量进行顺序读写操作；
其中，所述第二预设容量可参考Androbench的测试模型，本实施例中，所述第二预设容量为512M；
S322、根据所述随机读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中随机选取第二预设容量，对所述随机选取的第二预设容量进行随机读写操作；
S323、按照所述测试指标保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
S4、基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果；
在一种可选的实施方式中，所述S3可重复执行多次，保证充足的测试采样数量，进而提高稳态性能测试结果的可靠性。
实施例二
请参照图1，本实施例与实施例一的不同之处在于根据运行时间指标实现稳态性能测试，具体为：
所述S31具体包括：
根据所述运行时间指标确定与所述运行时间指标对应的第一顺序读写模型和第一随机读写模型；
当所述测试指标为所述运行时间指标时，所述S32包括所述S321、所述S322和所述S323：其中，所述第一顺序读写模型为512k顺序读写模型，所述第一随机读写模型为4k随机读写模型；
所述S321具体为：
根据所述第一顺序读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中顺序选取第二预设容量，对所述顺序选取的第二预设容量进行顺序读写操作；
具体的，从所述划分后的待测eMMC芯片的每1G容量中按照LBA地址(Logic BlockAddress，逻辑块地址)顺序选取512M，对64个的512M分别进行512k顺序读，然后再对64个的512M分别进行512k顺序写；
所述S322具体为：
根据所述第一随机读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中随机选取第二预设容量，对所述随机选取的第二预设容量进行随机读写操作；
具体的，从所述划分后的待测eMMC芯片的每1G容量中随机选取512M，对64个的512M分别进行4k随机读，然后再对64个的512M分别进行4k随机写；
所述S323具体为：
按照所述运行时间指标保存所述数据读写操作对应的数据读写时间结果；
具体的，在512k顺序读完每个512M后，保存顺序读时间，共有64笔顺序读时间，在512k顺序写完每个512M后，保存顺序写时间，共有64笔顺序写时间，在4k随机读完每个512M后，保存随机读时间，共有64笔随机读时间，在4k随机写完每个512M后，保存随机写时间，共有64笔随机写时间；
所述S4具体包括：
S41、根据所述数据读写时间结果生成时间曲线图；
具体的，根据64笔顺序读时间生成顺序读时间曲线图，根据64笔顺序写时间生成顺序写时间曲线图，根据64笔随机读时间生成随机读时间曲线图，根据64笔随机写时间生成随机写时间曲线图；
S42、基于所述时间曲线图确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果；
具体的，确定每一所述时间曲线图中的最大时间和最小时间，判断每一所述时间曲线图中的最大时间和最小时间的差值是否均不超过第一预设比例，若是，则稳态性能测试通过，若否，则稳态性能测试不通过；
其中，所述第一预设比例为10％。
实施例三
请参照图1，本实施例与实施例一或二的不同之处在于根据带宽指标实现稳态性能测试，具体为：
所述S31具体包括：
根据所述带宽指标确定与所述带宽指标对应的第二顺序读写模型；
所述第二顺序读写模型为队列深度8，512K顺序读写；
其中，通过测试工具FIO里的参数iodepth来给队列深度赋值为8；
当所述测试指标为带宽指标时，所述S32包括所述S321和所述S323：
所述S321具体为：
根据所述第二顺序读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中顺序选取第二预设容量，对所述顺序选取的第二预设容量进行顺序读写操作；
具体的，按照队列深度8从所述划分后的待测eMMC芯片的每1G容量中按照LBA地址顺序选取512M，对64个的512M分别进行512k顺序读，然后再对64个的512M分别进行512k顺序写；
所述S323具体为：
按照所述带宽指标保存所述数据读写操作对应的数据读写带宽结果；
具体的，在512k顺序读完每个512M后，保存顺序读带宽，共有64笔顺序读带宽，在512k顺序写完每个512M后，保存顺序写带宽，共有64笔顺序写带宽；
所述S4具体包括：
S41、根据所述数据读写带宽结果生成带宽曲线图；
具体的，根据64笔顺序读时间生成顺序读带宽曲线图，根据64笔顺序写时间生成顺序写带宽曲线图；
S42、基于所述带宽曲线图确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果；
具体的，确定每一所述带宽曲线图中的最大带宽和最小带宽，判断每一所述带宽曲线图中的最大带宽和最小带宽的差值是否均不超过第二预设比例，若是，则稳态性能测试通过，若否，则稳态性能测试不通过；
其中，所述第二预设比例为10％。
实施例四
请参照图1，本实施例与实施例一、二或三的不同之处在于根据IOPS指标实现稳态性能测试，具体为：
所述S31具体包括：
根据所述IOPS指标确定与所述IOPS指标对应的第二随机读写模型；
所述第二随机读写模型为队列深度8，4K随机读写；
当所述测试指标为所述IOPS指标时，所述S32包括所述S322和所述S323：
所述S322具体为：
根据所述第二随机读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中随机选取第二预设容量，对所述随机选取的第二预设容量进行随机读写操作；
具体的，按照队列深度8从所述划分后的待测eMMC芯片的每1G容量中随机选取512M，对64个的512M分别进行4k随机读，然后再对64个的512M分别进行4k随机写；
所述S323具体为：
按照所述IOPS指标保存所述数据读写操作对应的数据读写IOPS结果；
具体的，在4k随机读完每个512M后，保存随机读IOPS，共有64笔随机读IOPS，在4k随机写完每个512M后，保存随机写IOPS，共有64笔随机写IOPS；
所述S4具体包括：
S41、根据所述数据读写IOPS结果生成IOPS曲线图；
具体的，根据64笔随机读IOPS生成随机读IOPS曲线图，根据64笔随机写IOPS生成随机写IOPS曲线图；
S42、基于所述IOPS曲线图确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果；
具体的，确定每一所述IOPS曲线图中的最大IOPS和最小IOPS，判断每一所述IOPS曲线图中的最大IOPS和最小IOPS的差值是否均不超过第三预设比例，若是，则稳态性能测试通过，若否，则稳态性能测试不通过；
其中，所述第三预设比例为10％。
实施例五
请参照图1，本实施例与实施例一、二、三或四的不同之处在于根据时延指标实现稳态性能测试，具体为：
所述S31具体包括：
根据所述时延指标确定与所述时延指标对应的第三随机读写模型；
所述第三随机读写模型为队列深度1，4k随机读写；
当所述测试指标为所述时延指标时，所述S32包括所述S322和所述S323：
所述S322具体为：
根据所述第三随机读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中随机选取第二预设容量，对所述随机选取的第二预设容量进行随机读写操作；
具体的，按照队列深度1从所述划分后的待测eMMC芯片的每1G容量中随机选取512M，对64个的512M分别进行4k随机读，然后再对64个的512M分别进行4k随机写；
所述S323具体为：
按照所述时延指标保存所述数据读写操作对应的数据读写时延结果；
具体的，在4k随机读完每个512M后，保存随机读时延，共有64笔随机读时延，在4k随机写完每个512M后，保存随机写时延，共有64笔随机写时延；
所述S4具体包括：
S41、根据所述数据读写时延结果生成时延曲线图；
具体的，根据64笔随机读时延生成随机读时延曲线图，根据64笔随机写时延生成随机写时延曲线图；
S42、基于所述时延曲线图确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果；
具体的，确定每一所述时延曲线图中的最大时延和最小时延，判断每一所述时延曲线图中的最大时延和最小时延的差值是否均不超过第四预设比例，若是，则稳态性能测试通过，若否，则稳态性能测试不通过；
其中，所述第四预设比例为10％。
实施例六
请参照图2，一种eMMC测试装置，包括：
请求接收模块，用于接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
区域划分模块，用于根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
测试模块，用于对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
结果确定模块，用于基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
实施例七
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现实施例一、实施例二、实施例三、实施例四或实施例五中eMMC测试方法的各个步骤。
实施例八
请参照图3，一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现实施例一、实施例二、实施例三、实施例四或实施例五中eMMC测试方法的各个步骤。
综上所述，本发明提供的一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的待测eMMC芯片的稳态性能测试请求按照第一预设容量对待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；其中，稳态性能测试请求包括测试指标，测试指标包括运行时间指标、带宽指标、IOPS指标或时延指标，根据测试指标确定测试模型，测试模型包括顺序读写模型和/或随机读写模型，根据测试模型对划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并按照测试指标保存数据读写操作对应的数据读写结果，基于数据读写结果确定稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果；根据不同的测试指标确定不同的测试模型，再根据测试模型对划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，能够对eMMC芯片进行分区测试，且实现了灵活的eMMC稳态性能测试；以容量为测试维度进行测试，既能够测试eMMC芯片的稳态性能是否正常，也能够准确知道稳态性能是否下跌，并且相较于以时间为测试维度的测试方法更加便捷，降低了测试的繁琐程度，从而能够提高稳态性能测试的便捷性。
在本申请所提供的上述实施例中，应该理解到，所揭露的方法、装置、计算机可读存储介质以及电子设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个组件或模块可以结合或者可以集成到另一个装置，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或组件或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的组件可以是或者也可以不是物理上分开的，作为组件显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部组件来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个组件单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种eMMC测试方法，其特征在于，包括：
接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种eMMC测试方法，其特征在于，所述根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分之前包括：
根据所述稳态性能测试请求按照第一预设测试数据对所述待测eMMC芯片进行预设次数的顺序写，得到处于稳态的待测eMMC芯片。
3.根据权利要求1或2所述的一种eMMC测试方法，其特征在于，所述稳态性能测试请求包括测试指标；
所述对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果包括：
根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型；
根据所述测试模型对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并按照所述测试指标保存所述数据读写操作对应的数据读写结果。
4.根据权利要求3所述的一种eMMC测试方法，其特征在于，所述测试模型包括顺序读写模型和/或随机读写模型；
所述根据所述测试模型对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作包括：
根据所述顺序读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中顺序选取第二预设容量，对所述顺序选取的第二预设容量进行顺序读写操作；
根据所述随机读写模型从所述划分后的待测eMMC芯片的每一所述第一预设容量中随机选取第二预设容量，对所述随机选取的第二预设容量进行随机读写操作。
5.根据权利要求4所述的一种eMMC测试方法，其特征在于，所述测试指标包括运行时间指标；
所述根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型包括：
根据所述运行时间指标确定与所述运行时间指标对应的第一顺序读写模型和第一随机读写模型。
6.根据权利要求4所述的一种eMMC测试方法，其特征在于，所述测试指标包括带宽指标；
所述根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型包括：
根据所述带宽指标确定与所述带宽指标对应的第二顺序读写模型。
7.根据权利要求4所述的一种eMMC测试方法，其特征在于，所述测试指标包括IOPS指标或时延指标；
所述根据所述测试指标确定与所述测试指标对应的测试模型包括：
根据所述IOPS指标确定与所述IOPS指标对应的第二随机读写模型；
根据所述时延指标确定与所述时延指标对应的第三随机读写模型。
8.一种eMMC测试装置，其特征在于，包括：
请求接收模块，用于接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；
区域划分模块，用于根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；
测试模块，用于对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；
结果确定模块，用于基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的一种eMMC测试方法中的各个步骤。
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的一种eMMC测试方法中的各个步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210021369.5A CN114518981A (zh) | 2022-01-10 | 2022-01-10 | eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210021369.5A CN114518981A (zh) | 2022-01-10 | 2022-01-10 | eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114518981A true CN114518981A (zh) | 2022-05-20 |
Family
ID=81596428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210021369.5A Pending CN114518981A (zh) | 2022-01-10 | 2022-01-10 | eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114518981A (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115547396A (zh) * | 2022-11-30 | 2022-12-30 | 合肥康芯威存储技术有限公司 | 一种针对eMMC的测试方法和装置 |
| CN117012266A (zh) * | 2023-06-30 | 2023-11-07 | 珠海妙存科技有限公司 | 基于emmc的性能测试方法、装置及其存储介质 |
| CN117935893A (zh) * | 2024-03-21 | 2024-04-26 | 成都佰维存储科技有限公司 | 一种eMMC四角测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3223515A1 (en) * | 2016-03-21 | 2017-09-27 | Thomson Licensing | Method for testing performance of a storage device and corresponding device |
| CN112133357A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-25 | 深圳市宏旺微电子有限公司 | 一种eMMC的测试方法及装置 |
| CN113035259A (zh) * | 2021-03-05 | 2021-06-25 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | Dram测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
| CN113297023A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-08-24 | 东莞市小精灵教育软件有限公司 | 一种emmc验证方法、系统及存储介质 |
-
2022
- 2022-01-10 CN CN202210021369.5A patent/CN114518981A/zh active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3223515A1 (en) * | 2016-03-21 | 2017-09-27 | Thomson Licensing | Method for testing performance of a storage device and corresponding device |
| CN112133357A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-25 | 深圳市宏旺微电子有限公司 | 一种eMMC的测试方法及装置 |
| CN113035259A (zh) * | 2021-03-05 | 2021-06-25 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | Dram测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
| CN113297023A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-08-24 | 东莞市小精灵教育软件有限公司 | 一种emmc验证方法、系统及存储介质 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115547396A (zh) * | 2022-11-30 | 2022-12-30 | 合肥康芯威存储技术有限公司 | 一种针对eMMC的测试方法和装置 |
| CN117012266A (zh) * | 2023-06-30 | 2023-11-07 | 珠海妙存科技有限公司 | 基于emmc的性能测试方法、装置及其存储介质 |
| CN117935893A (zh) * | 2024-03-21 | 2024-04-26 | 成都佰维存储科技有限公司 | 一种eMMC四角测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN112331253B (zh) | 一种芯片的测试方法、终端和存储介质 | |
| CN114518981A (zh) | eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 | |
| CN108133732B (zh) | 闪存芯片的性能测试方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN110221983B (zh) | 测试方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 | |
| CN110718264A (zh) | 测试固态硬盘信息的方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
| CN111863111B (zh) | Dram的测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备 | |
| CN113035259A (zh) | Dram测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 | |
| CN111540400B (zh) | 一种写放大系数测试方法、装置及电子设备和存储介质 | |
| CN108039190A (zh) | 一种测试方法及装置 | |
| CN112133357B (zh) | 一种eMMC的测试方法及装置 | |
| CN113160876A (zh) | Dram测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备 | |
| CN110504002B (zh) | 一种硬盘数据一致性测试方法与装置 | |
| CN114283868A (zh) | 闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| CN115757066A (zh) | 硬盘性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 | |
| CN110990207B (zh) | 基于Whitley平台的BPS内存测试方法、系统、终端及存储介质 | |
| CN117012268B (zh) | 一种对ufs最大性能的测试方法、控制器、系统和介质 | |
| CN110727399A (zh) | 存储阵列管理方法及装置 | |
| CN117476086A (zh) | 存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 | |
| CN116028327B (zh) | 文件系统读写性能测试方法、装置、可读存储介质及设备 | |
| CN117076337B (zh) | 一种数据传输方法、装置、电子设备及可读存储介质 | |
| CN116415534A (zh) | 集成电路中减少测试电路面积的方法、设备及存储介质 | |
| CN117009196A (zh) | 一种企业级固态硬盘的性能测试方法、测试装置和测试平台 | |
| CN112306954B (zh) | 一种文件系统的测试方法和装置 | |
| US10330728B2 (en) | Method and apparatus for obtaining a maximally compressed verification test set | |
| US20160077942A1 (en) | Storage system and test method for testing pci express interface |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |