CN103941929B - 触摸屏的侦测位置的方法与装置 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种触摸屏的侦测位置的方法与装置，本发明侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，并且依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，以分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值或四个值产生一坐标数据。

Description

触摸屏的侦测位置的方法与装置

技术领域

本发明是有关于一种触摸屏的位置侦测的方法与装置，特别是一种提高线性的触摸屏的位置侦测的方法与装置。

背景技术

现有习知的的电容式触摸屏(capacitive touch screen)，包括绝缘表层、第一导电层、介电层、第二导电层、其中第一导电层与第二导电层分别具有多条第一导电条与第二导电条，这些导电条可以是由多个导电片与串联导电片的连接线构成。

对应由前述的第一导电条或第二导电条可以取得触摸屏中多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合的变化量。当外部导电对象接近或触碰触摸屏时，所述的电容性耦合的变化量中会呈现对应每一个外部物件的轮廓，如图1A所示。依据对应于单一外部物件的轮廓的部分或全部的值可计算出对应的外部物件的一坐标数据(位置)。例如，以最大的三个值或是全部的值计算出质心位置(centroid)。

在一轮廓中，最大值对坐标位置的影响最大。例如在图1A中，是以最大值与两侧的值(在前一个值与在后一个值)来计算出坐标数据，由于轮廓中的峰(会称为相对高点)位于第三个值，坐标数据将位于第三值的坐标附近。

然而在外部物件的移动过程中，峰会由一值移向相邻的另一值，如图1B与图1C所示。由于最大值影响坐标数据较大，最造成相对于外部物件的移动位置，坐标数据是由慢变快再由快变慢，因此会造成如图1D所示的线性不佳的状况。

由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的在于，提供侦测位置的方法与装置，可于产生坐标数据时减少最大值的影响，以降低线性不佳的问题。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的触摸屏的位置侦测的方法，其包括：侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中坐标数据为

其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的四个值。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中C1与C3分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C2与C4分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中C2与C4分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C1与C3分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中坐标数据的产生包括：在对应于每一个外部物件的轮廓中依据最大值的在前一个值与最大值的在后一个值计算出第一质心坐标，重设为最大值对应的坐标；在对应于每一个外部物件的轮廓中依据第二大值的在前一个值与第二大值的在后一个值计算出第二质心坐标，重设为第二大值对应的坐标；以及在对应于每一个外部物件的轮廓中，依据最大值与第二大值计算出坐标数据，其中坐标数据是依据第一质心坐标与第二质心坐标计算出来。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中第一质心坐标为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，并且第二质心坐标为(C2×X2+C4×X4)/(C2+C4)，其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2与C3为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的前一个值、最大值、最大值的后一个值，并且C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的第二大值的前一个值、第二大值、第二大值的后一个值。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中坐标数据为(((C1×X1+C3×X3)/(C1+C3))×C2+((C2×X2+C4×X4)/(C2+C4))×C3)/(C2+C3)。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中第一质心坐标为(C2×X2+C4×X4)/(C2+C4)，并且第二质心坐标为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的前一个值、最大值、最大值的后一个值，并且C1、C2与C3为对应每一个外部物件的轮廓中的第二大值的前一个值、第二大值、第二大值的后一个值。

本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的触摸屏的位置侦测的方法，其包括：侦测多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值产生一坐标数据。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中坐标数据为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1与X3分别为C1的坐标与C3的坐标，并且C1与C3分别为对应每一个外部物件的轮廓中的两个值。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中所述的两个值分别为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的在前一个值与最大值的在后一个值。

前述的触摸屏的位置侦测的方法，其中所述的两个值不包括对应于每一个外部物件的轮廓中的最大值。

本发明的目的及解决其技术问题另外再采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的触摸屏的位置侦测的装置，其包括：侦测单元，侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及控制单元，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的触摸屏的位置侦测的装置，其中坐标数据为

其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的四个值。

前述的触摸屏的位置侦测的装置，其中C1与C3分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C2与C4分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

前述的触摸屏的位置侦测的装置，其中C2与C4分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C1与C3分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

本发明的目的及解决其技术问题另外还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的触摸屏的位置侦测的装置，其包括：侦测单元，侦测多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及控制单元，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值产生一坐标数据。

前述的触摸屏的位置侦测的装置，其中坐标数据为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1与X3分别为C1的坐标与C 3的坐标，并且C1与C3分别为对应每一个外部物件的轮廓中的两个值。

前述的触摸屏的位置侦测的装置，其中所述的两个值分别为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的在前一个值与最大值的在后一个值。

前述的位置侦测的装置，其中所述的两个值不包括对应于每一个外部物件的轮廓中的最大值。

借由上述技术方案，本发明触摸屏的侦测位置的方法与装置至少具有下列优点及有益效果：在产生坐标数据时减少最大值的影响，可降低线性不佳的问题。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图,详细说明如下。

附图说明

图1A至图1D为先前技术计算坐标数据的示意图。

图2A与2B为电容式感测器的示意图。

图3为依据本发明的第一实施例的流程示意图。

图4为依据本发明的第一实施例的范例。

图5为依据本发明的第二实施例的流程示意图。

图6为依据本发明的第二实施例的范例。

图7为依据本发明的一种产生坐标数据的流程示意图。

【主要元件符号说明】

100：位置侦测装置 110：显示器

120：触摸屏 120A：第一感测层

120B：第二感测层 130：驱动/侦测单元

140：导电条 140A：第一导电条

140B：第二导电条 160：控制器

161：处理器 162：内存

170：主机 171：中央处理单元

173：储存单元

具体实施方式

本发明将详细描述一些实施例如下。然而，除了所揭露的实施例外，本发明亦可以广泛地运用在其它的实施例施行。本发明的范围并不受该些实施例的限定，乃以权利要求书的范围为准。而为提供更清楚的描述及使熟悉该项技艺者能理解本发明的发明内容，图示内各部分并没有依照其相对的尺寸而绘图，某些尺寸与其它相关尺度的比例会被突显而显得夸张，且不相关的细节部分亦未完全绘出，以求图示的简洁。

请参阅图2A，本发明提出一种位置侦测装置100，包括触摸屏120，与驱动/侦测单元130。触摸屏120具有感测层。在本发明的一范例中，该感测层可包括第一感测层120A与第二感测层120B，第一感测层120A与第二感测层120B分别有多个导电条140，其中第一感测层120A的多个第一导电条140A与第二感测层120B的多个第二导电条140B交叠。在本发明的另一范例中，多个第一导电条140A与第二导电条140B可以配置在共平面的感测层中。驱动/侦测单元130依据多个导电条140的信号产生感测信息。例如在自电容式侦测时，是侦测被驱动的导电条140，并且在互电容式侦测时，侦测的是没有被驱动/侦测单元130直接驱动的部分导电条140。此外，触摸屏120可以是配置在显示器110上，触摸屏120与显示器110间可以是有配置屏蔽层(shielding layer)(未显于图标)或没有配置屏蔽层。在本发明的一较佳范例中，为了让触摸屏120的厚度更薄，触摸屏120与显示器110间没有配置屏蔽层。

前述第一导电条与第二导电条可以是以行或列排列的多条行导电条与列导电条，亦可以是以第一维度与第二维度排列的多条第一维度导电条与第二维度导电条，或是沿第一轴与第二轴排列的多条第一轴导电条与第二轴导电条。此外，前述第一导电条与第二导电条彼此间可以是以正交交叠，亦可以是以非正交交叠。例如在一极坐标系统中，所述第一导电条或第二导电条之一可以是放射状排列，而所述第一导电条或第二导电条之另一可以是环状排列。再者，所述第一导电条或第二导电条之一可以为驱动导电条，且所述第一导电条或第二导电条之另一可以为侦测导电条。所述的“第一维度”与“第二维度”、“第一轴”与“第二轴”、“驱动”与“侦测”、“被驱动”与“被侦测”导电条皆可用来表示前述的“第一”与“第二”导电条，包括但不限于构成正交网格(orthogonal grids)，亦可以是构成其它具有第一维度与第二维度交叠(intersecting)导电条的几何架构(geometric configurations)。

本发明的位置侦测装置100可以是应用于计算器系统中，如图2B所示的一范例，包括控制器160与主机170。控制器包含驱动/侦测单元130，以操作性地耦合触摸屏120(未显于图示)。此外，控制器160可包括处理器161，控制驱动/侦测单元130产生感测信息，感测信息可以是储存在内存162中，以供处理器161存取。另外，主机170构成计算系统的主体，主要包括中央处理单元171，以及供中央处理单元171存取的储存单元173，以及显示运算结果的显示器110。

在本发明的另一范例中，控制器160与主机170间包括传输界面，控制单元通过传输界面传送数据至主机，本技术领域的普通技术人员可推知传输界面包括但不限于UART、USB、I2C、Bluetooth、WiFi、IR等各种有线或无线的传输界面。在本发明的一范例中，传输的数据可以是位置(如坐标)、辨识结果(如手势代码)、命令、感测信息或其它控制器160可提供的信息。

在本发明的一范例中，感测信息可以是由处理器161控制所产生的初始感测信息(initial sensing information)，交由主机170进行位置分析，例如位置分析、手势判断、命令辨识等等。在本发明的另一范例中，感测信息可以是由处理器161先进行分析，再将判断出来的位置、手势、命令等等递交给主机170。本发明包括但不限于前述的范例，本技术领域的普通技术人员可推知其它控制器160与主机170之间的互动。

在每一个导电条的交叠区，在上与在下的导电条构成两极。每一个交叠区可视为一影像(image)中的一像素(pixel)，当有一个或多个外部导电对象接近或触碰时，所述的影像可视为拍摄到触碰的影像(如手指触碰于感测装置的态样(pattern))。

在一被驱动导电条被提供一驱动信号时，被驱动导电条本身构成一自电容(selfcapacitance)，并且被驱动导电条上的每个交叠区构成一互电容(mutual capacitance)。前述的自电容式侦测是侦测所有导电条的自电容，特别适用于判断单一外部导电对象的接近或接触。

前述的互电容式侦测，是在一被驱动导电条被提供一驱动信号时，由与被驱动导电条不同维度排列的所有被感测导电条侦测驱动导电条上所有交叠区的电容量或电容变化量，以视为影像中的一列像素。据此，汇集所有列的像素即构成所述影像。当有一个或多个外部导电对象接近或触碰时，所述影像可视为拍摄到触碰的影像，特别适用于判断多个外部导电对象的接近或接触。

这些导电条(第一导电条与第二导电条)可以是由透明或不透明的材质构成，例如可以是由透明的氧化铟锡(ITO)构成。在结构上可分成单层结构(SITO;Single ITO)与双层结构(DITO;Double ITO)。本技术领域的普通人员可推知其它导电条的材质，在不再赘述。例如，纳米碳管。

在本发明的范例中，是以横向作为第一方向，并以纵向作为第二方向，因此横向的导电条为第一导电条，并且纵向的导电条为第二导电条。本技术领域的普通技术人员可推知上述说明为发明的范例之一，并非用来限制本发明。例如，可以是以纵向作为第一方向，并以横向作为第二方向。此外，第一导电条与第二导电条的数目可以是相同，也可以是不同，例如，第一导电条具有N条，第二导电条具有M条。

在进行二维度互电容式侦测时，交流的驱动信号依序被提供给每一条第一导电条，并经由所述的第二导电条的信号取得对应于每一条被提供驱动信号的导电条的一维度感测信息，集合对应于所有第一导电条的感测信息则构成二维度感测信息。所述的一维度感测信息可以是依据所述的第二导电条的信号产生，也可以是依据所述的第二导电条的信号与基准的差异量来产生。此外，感测信息可以是依据信号的电流、电压、电容性耦合量、电荷量或其它电子特性来产生，并且可以是以模拟或数字的形式存在。

在实际上没有外部导电对象接近或覆盖触摸屏时，或系统没有判断出外部导电对象接近或覆盖触摸屏时，位置侦测装置可以由所述的第二导电条的信号产生一基准，基准呈现的是触摸屏上的杂散电容。感测信息可以是依据第二导电条的信号产生，或是依据第二导电条的信号减去基准所产生。

请参阅图3，为依据本发明的第一实施例提出的一种触摸屏的位置侦测的方法。如步骤310所示，侦测多个触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标。接下来，如步骤320所示，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值产生一坐标数据。

所述的每一个外部物件的轮廓中的两个值可以是包括最大值在内的两个值，或是不包括最大值在内的两个值。此外，所述的每一个外部物件的轮廓中的两个值可以是相邻的，或是不相邻的。

在本发明的一范例中，坐标数据为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1与X3分别为C1的坐标与C3的坐标，并且C1与C3分别为对应每一个外部物件的轮廓中的两个值。

请参阅图4，为依据本发明的第一实施例提出的范例示意图。在本范例中，是依据不包括最大值在内的两个不相邻的值来产生坐标数据，如依据最大值(第3值)的在前一个值(第2值)与在最大值(第3值)的在后一个值(第4值)。

据此，本发明提出一种触摸屏的位置侦测的装置，包括侦测单元与控制单元。侦测单元可以是如图2A的驱动/侦测单元所示，侦测多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标。控制单元可以是如图2B的控制器160所示，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值产生一坐标数据。请参照图5，为依据本发明的第二实施例提出的一种触摸屏的位置侦测的方法。如步骤510所示，侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标。接下来，如步骤520所示，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。

在本发明的一范例中，坐标数据为

其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的四个值。

请参照图6，为依据最佳模式的本发明的第二实施例提出的范例示意图。在本范例中，是依据最大值(第3值)的在前一个值(第2值)与在后一个值(第4值)、与最大值(第3值)相邻的一个值(第4值)的在前一个值(第3值)与在后一个值(第4值)来产生坐标数据。

在本发明的一范例中，最大值与次大值相邻，坐标资料是依据最大值(第3值)的在前一个值(第2值)与在后一个值(第4值)、与第二大值(第3值)的在前一个值(第3值)与在后一个值(第4值)来产生。例如，前述的C1与C3分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且前述的C2与C4分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。又例如，前述的C2与C4分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且前述的C1与C3分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

据此，本发明提出一种触摸屏的位置侦测的装置，包括侦测单元与控制单元。侦测单元可以是如图2A的驱动/侦测单元所示，侦测多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标。控制单元可以是如图2B的控制器160所示，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。

在本发明的一范例中，是依据最大值的在前一个值与在后一个值计算出一质心坐标，重设为最大值对应的坐标。此外，是依据第二大值的在前一个值与在后一个值计算出一质心坐标，重设为第二大值对应的坐标。据此，再依据最大值与第二大值计算出一质心位置。

请参照图7所示，为依据本发明的一种产生坐标数据的流程示意图。首先，如步骤710所示，在对应于每一个外部物件的轮廓中依据最大值的在前一个值与最大值的在后一个值计算出第一质心坐标，重设为最大值对应的坐标。并且，如步骤720所示，在对应于每一个外部物件的轮廓中依据第二大值的在前一个值与第二大值的在后一个值计算出第二质心坐标，重设为第二大值对应的坐标。接下来，如步骤730所示，在对应于每一个外部物件的轮廓中，依据最大值与第二大值计算出坐标数据，其中坐标数据是依据第一质心坐标与第二质心坐标计算出来。

例如，当最大值位于第二大值前面时，第一质心坐标为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，并且第二质心坐标为(C2×X2+C4×X4)/(C2+C4)，其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2与C3为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的前一个值、最大值、最大值的后一个值，并且C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的第二大值的前一个值、第二大值、第二大值的后一个值。

又例如，当最大值位于第二大值后面时，第一质心坐标为(C2×X2+C4×X4)/(C2+C4)，并且第二质心坐标为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2与C3为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的前一个值、最大值、最大值的后一个值，并且C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的第二大值的前一个值、第二大值、第二大值的后一个值。

据此，坐标数据为(((C1×X1+C3×X3)/(C1+C3))×C2+((C2×X2+C4×X4)/(C2+C4))×C3)/(C2+C3)。

在前述说明中，坐标X1、X2、X3与X4可以是一维度的坐标或二维度的坐标。例如是一维度的纵向坐标x、一维度的横向坐标y或二维度的纵向于横向坐标(x,y)。因此，产生前述的坐标数据时，可以是分别产生纵向的坐标与横向的坐标，构成前述的坐标数据。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (20)

1.一种触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于其包括：

侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及

依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。

2.根据权利要求1所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于坐标数据为

其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的四个值。

3.根据权利要求2所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于C1与C3分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C2与C4分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

4.根据权利要求2所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于C2与C4分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C1与C3分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

5.根据权利要求1所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于坐标数据的产生包括：

在对应于每一个外部物件的轮廓中依据最大值的在前一个值与最大值的在后一个值计算出第一质心坐标，重设为最大值对应的坐标；

在对应于每一个外部物件的轮廓中依据第二大值的在前一个值与第二大值的在后一个值计算出第二质心坐标，重设为第二大值对应的坐标；以及

在对应于每一个外部物件的轮廓中，依据最大值与第二大值计算出坐标数据，其中坐标数据是依据第一质心坐标与第二质心坐标计算出来。

6.根据权利要求5所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于当最大值位于第二大值前面时，第一质心坐标为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，并且第二质心坐标为(C2×X2+C4×X4)/(C2+C4)，其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2与C3为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的前一个值、最大值、最大值的后一个值，并且C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的第二大值的前一个值、第二大值、第二大值的后一个值。

7.根据权利要求6所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于坐标数据为(((C1×X1+C3×X3)/(C1+C3))×C2+((C2×X2+C4×X4)/(C2+C4))×C3)/(C2+C3)。

8.根据权利要求5所述的触摸屏的位置侦测的方法，当最大值位于第二大值后面时，其特征在于第一质心坐标为(C2×X2+C4×X4)/(C2+C4)，并且第二质心坐标为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的前一个值、最大值、最大值的后一个值，并且C1、C2与C3为对应每一个外部物件的轮廓中的第二大值的前一个值、第二大值、第二大值的后一个值。

9.一种触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于其包括：

侦测多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及

依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值产生一坐标数据。

10.根据权利要求9所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于坐标数据为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1与X3分别为C1的坐标与C3的坐标，并且C1与C3分别为对应每一个外部物件的轮廓中的两个值。

11.根据权利要求10所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于所述的两个值分别为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的在前一个值与最大值的在后一个值。

12.根据权利要求10所述的触摸屏的位置侦测的方法，其特征在于所述的两个值不包括对应于每一个外部物件的轮廓中的最大值。

13.一种触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于其包括：

侦测单元，侦测触摸屏的多个侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及

控制单元，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的四个值产生一坐标数据。

14.根据权利要求13所述的触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于坐标数据为

其中X1、X2、X3与X4分别为C1、C2、C3与C4的坐标，其中C1、C2、C3与C4为对应每一个外部物件的轮廓中的四个值。

15.根据权利要求14所述的触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于C1与C3分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C2与C4分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

16.根据权利要求14所述的触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于C2与C4分别为最大值的在前一个值与在后一个值，并且C1与C3分别为第二大值的在前一个值与在后一个值。

17.一种触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于其包括：

侦测单元，侦测多个触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量，其中每一个电容性耦合变化量对应一坐标；以及

控制单元，依据所述触摸屏的侦测位置的电容性耦合变化量分别判断出对应于每一个外部物件的轮廓，并且分别依据对应每一个外部物件的轮廓中的两个值产生一坐标数据。

18.根据权利要求17所述的触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于坐标数据为(C1×X1+C3×X3)/(C1+C3)，其中X1与X3分别为C1的坐标与C3的坐标，并且C1与C3分别为对应每一个外部物件的轮廓中的两个值。

19.根据权利要求18所述的触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于所述的两个值分别为对应每一个外部物件的轮廓中的最大值的在前一个值与最大值的在后一个值。

20.根据权利要求18所述的触摸屏的位置侦测的装置，其特征在于所述的两个值不包括对应于每一个外部物件的轮廓中的最大值。