CN103873117A - 近场多输入多输出无线传送功率测量测试系统、架构以及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供对于多输入多输出(MIMO)无线设备的近场传送功率测量的系统、方法和架构，例如是为了任何的产品开发、产品验证和/或产品测试。测试信号，例如包括脉冲序列信号，被提供给MIMO被测设备（DUT），其中测试信号的一部分是可控制地被操纵，并被顺序从每一个天线传送到一个或多个被放置于接近MIMO DUT的测试天线。接收到的测试信号的近场功率被测量，以快速并且高效地确定MIMO DUT的一个或多个数据流是否有问题。
Description
技术领域
本发明涉及对于无线或者RF（无线射频）通讯系统的测试架构与方法。特别地，本发明涉及提供对于多输入多输出无线设备和系统的近场传送功率测量的架构和方法。
背景技术
单输入单输出（SISO）无线设备被开发与使用多年，用于向其他组件发送和/或从其他组件接收需要的信号，在无线设备之间，例如无线PAN（个人区域网络）、无线LAN（局域网络）、无线WAN（广域网络）、蜂窝网络或者其他任何实质上的无线电网络或系统，提供无线连接和通信。此类单输入单输出设备可以在广泛的不同频段上操作，例如但不限于2.4GHz以及5.0GHz频段。对于单输入单输出设备的测试系统以及标准测试模型同样也发展并且被使用了多年。
然而，不断增长的对于更高带宽的需求，即更多数据传输的需求，推动了多输入多输出（MIMO）设备的开发。
在生产测试环境中，因为测试每一个单元的时间减少了，因此每一个单元的总成本降低了。然而，测试每一个单元的时间的减少不应该危害到测试结果的质量，这会在另一方面导致更高的产品不合格率，导致产品的退货或者产品的维修。
对于单输入单输出设备的测试而开发的设备与标准模型有许多，然而，目前并没有能够充分地测试构成多输入多输出（MIMO）设备性能的所有参数范围性能的标准系统与模型。
例如，目前并没有高效测试多输入多输出（MIMO）设备的近场传送功率测量的标准系统和模型。
提供一种能够提供对于多输入多输出设备在多种操作条件下提供充分的近场传送功率测量的系统、架构以及方法是非常有益的。这样的系统以及方法可以形成巨大的技术进步。
发明内容
提供对于多输入多输出(MIMO)无线设备的近场传送功率测量的系统、方法和架构，例如是为了任何的产品开发、产品验证和/或产品测试。测试信号，例如包括脉冲序列信号，被提供给MIMO被测设备（DUT），其中测试信号的一部分是可以控制的被操纵，并被顺序从每一个天线传送到一个或多个被放置于接近MIMO DUT的测试天线。接收到的测试信号的近场功率没测量，以快速并且高效地确定MIMO DUT的一个或多个数据流是否有问题。
附图说明
图1是示例SISO系统的示意图。
图2是示例MIMO系统的示意图。
图3是测量SISO设备的输出功率的示例设备的简易示意图。
图4是测量MIMO设备的输出功率的示例设备的简易示意图。
图5是MIMO设备的近场功率测量的示例测试脉冲序列信号的简易示意图。
图6是对于MIMO设备近场功率测试的示例方法的流程图。
图7表示对于MIMO设备近场功率测试的第一信号的接收示例。
图8表示对于MIMO设备近场功率测试的第二信号的接收示例。
图9表示对于MIMO设备近场功率测试的第三信号的接收示例。
图10表示在功率过低或者没有的情况下，从MIMO设备传送的第三信号的有问题的接收。
图11是对于MIMO设备的输出功率进行测量的功率测量装置的替代实施例的简易示意图。
图12是示例增强近场MIMO无线测试系统的示意图。
图13是近场MIMO无线测试系统的示例射频衰减单元的示意图。
图14是位于能够和一条通道或者Tx通道天线相连接的进口与能够和黄金被测单元（GUT）相连接的出口之间的射频衰减单元中的一条通道的详细部分示意图。
图15是近场MIMO无线测试系统的示例校准模块的示意图。
图16是近场MIMO无线测试系统的示例GUT模块的示意图。
图17是示例增强MIMO测试室的部分剖视图。
具体实施方式
图1是示例单输入单输出（SISO）系统10的简易示意图。第一设备12，例如发射器12，将无线信号16从天线14发射出去。无线信号16在与第二接收设备20相关联的天线18处被接收，所述第二接收设备处理信号16，例如使用信号处理电路以及微处理器。在如图1所示的SISO系统10中的发送设备12与接收设备16都具有单一的天线14、18。并且被操作用来发送或者接收信号16。
在如图1所示的示例SISO系统10中，设备12、20中的一个或者二者可以相对于另一个设备20,12被移动，这样，在天线14与18之间的距离22可以不同，例如在传输无线信号16的时机之间，或者在传输无线信号16的过程中。当距离22改变了无线信号16飞行的时间，第二设备20仍然可以接收并且处理信号16，只要信号16不丢失的话，例如因为但是不限于路径损耗，即路径衰减。路径损耗可以是因为很多种不同的情况而产生的，例如但是不限于距离、反射、折射、衍射和/或吸收。
不同SISO设备的实施例已经被使用多年，例如在设计、开发以及生产中的任何一个过程中。此类测试可以在任何距离22下被准备执行，例如在近场和远场之间的任何范围。因为SISO设备12、20包括单一SISO通道24，以发送和/或接收单一无线信号16，所以除了常规的信号衰减之外，并没有因为距离产生什么不同。
与如图1所示的SISO系统10对比，图2是示例多输入多输出（MIMO）系统40的简易示意图。第一MIMO设备42从各个天线44，例如44a-44d,发送多个无线信号46，例如46a-46d。无线信号46，例如46a-46d，通常在对应的多个天线48处,例如48a-48d，被接收。所述天线48与第二MIMO设备50相关联，所述设备50处理信号46a-46n，例如使用信号处理电路64以及至少一个微处理器60。如图2所示的MIMO系统40中的MIMO设备42、50都具有多个天线44、48，其中这些设备被设置为发送或者接收多个信号46，比如46a-46d。
在如图2所示的示例MIMO系统40中，设备42、50的其中一个或两者可以相对于另一个设备50、42移动，这样天线44、48之间的距离52,52a-52d，可以不同。例如在传送无线信号46的时机之间，和/或在传送无线信号46的过程中。当距离52改变了无线信号46飞行的时间，接收设备50仍然可以接收并且处理信号46，例如46a-46n。只要信号46不丢失，例如是因为但是不限于路径损耗，即路径衰减。路径损耗可能是应为很多种不同的情况产生的，例如但不限于距离、反射、折射、衍射和/或吸收。
与SISO设备，例如12、20，不同，MIMO设备，例如42、50，的性能唯一取决于通过多个MIMO传送（Tx）通道或链路54，例如54a-54d,在距离52上，例如52a-52d，同时对于多个信号46的传送。例如，在一个具有两个Tx通道54a和54d的简易MIMO系统中，每一个设备42、50包括两个相互独立的无线电Tx通道54。然而，在接收端，天线48a和48d接收到复合信号46a和46d，其中包括了信号46a和46d两者的数据，例如第一信号46a的“数据A”以及第二信号46d的“数据B”被接收到，并且“数据A加B”在天线48a以及48d处。因此，需要接收器50来处理信号46a和46d以分开数据，在每一个相应Tx通道54a和54d的基础上，重新获取数据，例如在第一Tx通道54a处获取“数据A”，在第二Tx通道54d处获取“数据B”，并且防止Tx通道54a和54d间的干扰。
因为多个信号46a和46d在MIMO系统40中被同时传送，所以带宽被增加了，例如与相当的SISO系统10相比，带宽翻倍了。类似地，另外的更多Tx通道，例如3×3或4×4MIMO系统40，提供了增加的带宽，与此同时，进一步需要为多个Tx通道54a-54d分割被合并以及相加的信号。
避免Tx通道54a-54d间的干扰和/或消除是很重要的，因为信号46a-46d通常具有相同的频率和振幅。同时，因为接收设备，例如50，同时接收多个信号，例如46a以及46d。接收设备，例如50，无法侦别哪一个信号46是从哪一个天线44，例如44a或者44d，发出的。
对于MIMO信号46的传送和/或接收的信号处理通常是由一个或多个的处理器60（图2）完成的，即在MIMO设备42、50中的芯片组60，其中独立芯片组供应商，通常提供芯片组以及所有内部组件。
近场SISO功率测量架构、系统和方法
图3是测量示例单输入单输出（SISO）被测无线通讯设备（DUT），例如12，的示例功率测量装置70的简易示意图68。
如图3所示，示例SISO设备12可以被放置在测试室或者区域84中，并放置74，这样SISO天线14会非常相近地相对于SISO测试天线76对齐并具有间隔22。例如，SISO被测设备12的天线14与测试天线76具有间隔22在10mm之内。SISO测试天线76被连接到近场SISO测试接收器78。
SISO被测设备（DUT）12的近场功率124（图5）可以被测量，例如以确定SISO DUT12中是否由问题。测试信号72被输入到SISO DUT12中，其中测试信号72可以包括信号脉冲。测试信号72通过SISO DUT12被处理，而且从SISO DUT天线14传送16。
传送的SISO信号16通过测试天线76以及SISO测试接收器78被接收，其中接收的信号16的功率在被测量为80。基于被传送的信号16的接收，或不接收，以及被测量的功率80，例如与阈值水平相比，SISODUT12通过，例如，如果信号被接收并且功率水平80满足或者超过可接受的阈值水平82，或者不通过，例如如果信号16不被接收，或者被接收但是功率水平80在可接受的阈值水平82之下。
例如，SISO DUT12可以通常被设置为在+10分贝（dB）传送输出信号16，这样被传送的信号16可以通常在0分贝时被接收。然而，如果SISO DUT12有内部问题，例如但不限于设备12内的断开连接或者电缆损坏，SISO DUT12可能不能够传送信号16或者接收的信号16的功率80可能被很大程度上衰减，例如由接收的功率水平-20dB所指示。在这个例子中，被存储的示例的大约-10dB的阈值水平82可以被用来与被测试到的近场功率水平相比较，以指示SISO DUT12不能通过近场功率测量测试。
近场功率测量测试可以被快速并且高效地执行，以确定SISO设备的多种可能的问题，例如12，如果测试系统或者其他操作环境补偿10到20dB给路径损耗，可能被其他多系统测试忽视而掩盖掉类似问题。
近场MIMO功率测量架构、系统及方法。
图4是测试示例多输入多输出（MIMO）被测无线通讯设备（DUT），例如42，的近场输出功率的示例MIMO测试系统100，例如100a，的简易视图96。图5是测试示例MIMO被测设备（DUT）42的近场功率所用的示例测试信号脉冲序列128的示意图120。
如图4所示，示例多输入多输出（MIMO）设备42可以被放置于DUT测试区域104内，例如104a（图12），例如与测试室302（图12）相关联，并且定位多输入多输出天线44，例如44a-44c，以使其非常相近地相对于一个或多个对应MIMO测试天线110，例如110a-110c，对齐并且具有间隔52，例如52a-52c。测试天线110a-110c的矩阵108被连接到近场MIMO测试接收器102。在目前的测试系统100的实施例中，被测MIMO设备42的天线44a-44c与对应的测试天线110a-110c之间具有10mm以内的间隔52，52a-52c。
测试信号112被输入MIMO DUT12，其中MIMO测试信号112可以最好包括信号脉冲序列112（图5），具有多个信号脉冲126，例如126a-126c。如图5所示的示例信号脉冲序列128包括顺序的多个信号脉冲126a-126a,关于时间122作为功率124的函数。例如，脉冲126a-126a具有特征功率水平130，起始时间132，例如132a-132c，以及持续时间134，例如134a-134c。
测试信号112通过MIMO DUT42被处理，其中对应部分，例如126a、126b或者126c，被操控并从DUT天线44a-44c中的一个发送46举例来说，对应的部分，例如第一脉冲126a，可以最好被从第一天线44a在第一时间122被传送，第二脉冲126b最好从第二天线44b在第二时间122被传送，以及第三脉冲126c最好从第三天线44c在第三时间122被传送。
在以上的例子中，当第一脉冲126a被从第一天线44a传送，因为信号衰减174的原因，例如174b、174c（图7），接收到的第一脉冲126a的近场功率水平124在对应的测试天线110上，例如110a，比相邻测试天线110的，例如110b和110c，功率水平124高。
传送的MIMO信号46通过测试天线110被接收，例如110a-110c，以及对于每一个MIMO Tx通道54，例如54a-54c，近场MIMO测试接收器102，其中接收到的信号46的功率被测量为114。急于被传送的信号46的近场接收，例如46a，或者不接收，被测量的功率114，与阈值水平116相比的话，MIMO DUT42通过，例如如果信号被接收到，而且功率水平符合或者超过可接受的阈值水平116的话，或者不通过，例如如果信号不被接收到，或者被接收到，但是功率水平在可接受的阈值水平116以下。被测MIMO设备（DUT）42的近场功率124（图5）因此被测量，例如以确定MIMO DUT42是否有问题。
举例来说，MIMO DUT42可以通常被设置为在+10分贝（dB）,从MIMO天线44中的一个，例如44a，传送输出信号46，这样传送的信号46通常可以0dB从的测试天线110，例如110a被接收到，并同样在进一步衰减后在其他测试天线110，例如110b以及110c被接收到。然而，如果MIMO DUT42有内部问题，例如但不限于设备内部断开连接或者电缆损坏，MIMO DUT42可能不能够传送信号46，或者在对应的测试天线110接收到的信号的功率可能被大幅度衰减，例如由接收到的信号功率水平为-20dB。在本例中，被存储的示例阈值水平116，大约为-10dB，可以被用来与测量到的近场功率水平比较，以指示MIMO DUT不能够通过近场功率测量测试。由于该失败，MIMO DUT46最好被拒绝或者重做及重测。
近场功率测量测试可以被快速而高效地执行，以确定MIMO设备42内部存在的多种问题，而这些是在其他多系统测试中被忽略的，从而会掩盖类似问题。
例如，多系统测试，其他操作环境也同样滴，可能对于路径损耗进行10到20dB的补偿。如果MIMO设备或系统的一个Tx通道或者链路54损坏或者发生故障，其他通道或者链路54通常会补偿。在许多操作环境下，这样的错误会不被探测到。然而，在需要全负荷的环境下，例如有问题的MIMO设备，例如长距离操作和/或高流量，由问题的MIMO设备经常会被探测到。
图6是对示例被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的示例方法140的流程图。在步骤142，增强MIMO测试系统100，例如100a（图4）或者100b（图11）被提供，被设置为接收并且测量从一个或多个被测MIMO设备（DUT）42发出的上行链路信号46的近场功率。
在步骤144，被测MIMO设备DUT42被放置于DUT区域104a，例如在测试室302（图12）中，并且被连接到电源以及其他导线，例如但不限于测试信号输入和/或信号输出。在步骤146，测试信号112，例如脉冲序列行信号126，被发送到MIMO DUT42。对于每一个MIMO DUT42的Tx通道54，例如54a-54c，MIMO DUT46被操作以传送输出，即从MIMO天线44，例如44a，发出的上行链路MIMO信号46，其中输出信号46代表了测试信号112的一部分，例如脉冲序列行信号128的单一脉冲126a，被操纵到对应MIMO天线46的一个。
当前Tx通道54的，例如54a，MIMO信号46在一个或多个测试天线110，例如110a-110c的矩阵108被接收，其中当前Tx通道54的，例如54a，近场功率124被测量为148。在步骤150，系统100确定MIMODUT46被测量的近场功率是否是可接受的，例如，通过将被测量的近场功率与阈值116（图4）比较。
如果性能确定150是否定的152，例如如果被测量的被测试的Tx通道54的近场功率124不符合及格标准，那么系统100可以提供输出154以表示失败，例如但不限于打印的输出、显示输出、声音、DUT检查器与测试结果间相关联的数据库或者其他表示方法。
在一些系统实施例100中，例如原型设计和/或产品开发或故障维修，不能通过测试140的设备46被需要在150继续164以让其他的Tx通道54被测试，或者被修改或修理及重测。在生产中，如果DUT46不能通过任何测试，那么进一步的测试将会被终结，其中所述单元可以是被转移、标记、重做或者拒绝。
如果被测Tx通道54，例如54a，的性能确定150是正面的158，例如如果被测量的近场功率124满足了及格标准，是否由其他剩余的需要在DUT46上被执行的测试或者Tx通道54，例如54b和/或54c的确定160被做出。如果所有的测试都完成166，系统100会提供输出168以表示成功，例如但不限于打印的输出、显示输出、声音、数据库输入或者其他表示方法。
图7表示对于示例被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的第一信号46，例如46a，的示例接收170，例如对应于脉冲序列行信号128的第一脉冲126a。图8表示对于示例被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的第二信号46，例如46b，的示例接收180，例如对应于脉冲序列行信号128的第二脉冲126b。图9表示对于示例被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的第三信号46，例如46c，的示例接收190，例如对应于脉冲序列行信号128的第一脉冲126c。
每一个对应DUT天线44的传送功率130如图7到图9所示。举例来说，如图7所示，对应于信号脉冲序列128的第一脉冲126a的传送的信号46a是从具有传送功率水平130的第一DUT天线44a输出的。在传送的信号46a从第一DUT天线44a被输出时，其他的天线44，例如44b和44c是不活动的。
同样如图7所示，被传送的信号46s在对应的天线110，例如110a处，与被测量的近场功率水平172a一起被接收。如图7进一步所示，被测量的近场功率水平172a比被系统确定或者存储的阈值水平176更高，这样被测试的Tx通道54a可以被确定为158（图6）以通过近场性能测试。
如图7进一步所示，被接收到的其他相邻Tx通道54的功率水平，如54b、54c可以被测量，例如与当前被测Tx通道54a的近场功率做比较。例如第二Tx通道54b（Tx通道B）的近场功率水平172b可能比阈值水平176低，这是因为衰减174b。相似地，第三Tx通道54c（Tx通道C）的近场功率水平172c可能比阈值水平176低，这是因为衰减174c。这样的衰减通常被期望并确定为是可接受的，只要主要被测试的Tx通道54a的功率水平172a被确定为可接受的158（图6）。
图8表示对于示例被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的第二信号46，例如46b，的示例接收180。如图8所示，对应于信号脉冲序列128的第二脉冲126b的传送的信号46b是从具有传送功率水平130的第二DUT天线44b输出的。同样如图8所示，被传送的信号46b在具有对应的天线110，例如110b处，与被测量的近场功率水平172b，与衰减174b相对应，一起被接收。如图8进一步所示，被测量的近场功率水平172b比被系统确定或者存储的阈值水平176更高，这样被测试的Tx通道54b可以被确定为158（图6）以通过近场性能测试。
如图8进一步所示，被接收到的其他相邻Tx通道54的功率水平，如54a、54c可以被测量，例如与当前被测Tx通道54b的近场功率做比较。例如第一Tx通道54a（Tx通道A）的近场功率水平172a可能比阈值水平176低，这是因为衰减174a。相似地，第三Tx通道54c（Tx通道C）的近场功率水平172c可能比阈值水平176低，这是因为衰减174c。这样的衰减通常被期望并确定为是可接受的，只要主要被测试的Tx通道54b的功率水平172b被确定为可接受的158（图6）。
图9表示对于示例被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的第三信号46，例如46c，的示例接收190。如图9所示，对应于信号脉冲序列128的第三脉冲126c的传送的信号46c是从具有传送功率水平130的第三DUT天线44c输出的。同样如图9所示，被传送的信号46c在具有对应的天线110，例如110c处，与被测量的近场功率水平172c，与衰减174c相对应，一起被接收。如图9进一步所示，被测量的近场功率水平172c比被系统确定或者存储的阈值水平176更高，这样被测试的Tx通道54c可以被确定为158（图6）以通过近场性能测试。
如图9进一步所示，被接收到的其他相邻Tx通道54的功率水平，如54a、54b可以被测量，例如与当前被测Tx通道54c的近场功率做比较。例如第一Tx通道54a（Tx通道A）的近场功率水平172a可能比阈值水平176低，这是因为衰减174a。相似地，第二Tx通道54b（Tx通道B）的近场功率水平172b可能比阈值水平176低，这是因为衰减174b。这样的衰减通常被期望并确定为是可接受的，只要主要被测试的Tx通道54c的功率水平172c被确定为可接受的158（图6）。
图10表示了替代的被测MIMO设备（DUT）42的近场功率测量的第三信号46，例如46c，的示例接收200，该信号反映了近场MIMO功率水平172，例如172c，太低或者丢失。例如，如图10所示，被传送的信号46c，对应于信号脉冲序列128的第三脉冲126c，被从具有传送功率水平130的第三DUT天线44c处输出。同样如图10所示，被传送的信号46c与被测的近场功率水平172c，对应于衰减172c，一起，在对应的测试天线110，例如110c，处被接收。同样如图10所示，被测量的近场功率水平172c比被系统100确定或储存的阈值水平176低，这样被测Tx通道54c可以被确定为152（图9）以不通过近场功率测量测试。
如图10进一步所示，被接收到的其他相邻Tx通道54的功率水平，如54a、54b可以被测量，例如与当前被测Tx通道54c的近场功率做比较。如图10所示的第一Tx通道54a（Tx通道A）的近场功率水平172a可能同样比阈值水平176低，这是因为衰减174a。相似地，如图10所示的第二Tx通道54b（Tx通道B）的近场功率水平172b可能比阈值水平176低，这是因为衰减174b。因为当前被测Tx通道54c的功率水平172c被确定为不可接受的152，另外的次要的额外的衰减，即相邻的Tx通道54、54a、54b可能提供进一步的失败的确认，并且可能提供额外的信息，例如为了DUT故障修复。同样如图9和图10所示，在次要的Tx通道54，例如54a、54b所测量的增加的衰减可以被用来与一个或更多的次要阈值202比较，例如表示次要的Tx通道是否可以补偿主要Tx通道，例如54c，的失败。
图11是用于测量示例多输入多输出（MIMO）无线通信被测设备（DUT），例如42，的输出功率的替代功率测量系统100，例如100b，的简易示意图。
如图11所示，示例多输入多输出（MIMO）设备42可以被放置于DUT测试区域104内，例如104a（图12），例如与测试室302（图12）相关联，并且设置这样多输入多输出天线44，例如44a-44c，非常相近地相对于单个对应MIMO测试天线110对齐并且具有间隔52，例如52a-52c。测试天线110被连接到近场MIMO测试接收器102。在目前的测试系统100的实施例中，被测MIMO设备42的天线44a-44c与对应的测试天线110之间具有10mm以内的间隔52，52a-52c。
测试信号112被输入MIMO DUT12，其中MIMO测试信号112可以最好包括脉冲序列信号112（图5），具有多个信号脉冲126，例如126a-126c，例如对应于每一个被检测的MIMO Tx通道54，例如54a-54c，以及天线44，例如44a-44c。测试信号112通过MIMO DUT42被处理，其中对应部分，例如126a、126b或者126c被操纵并顺序从DUT天线44a-44c中的一个传送46。例如，对应部分，例如第一脉冲126a最好从第一天线44a在第一时间122a被传送，第二脉冲126b最好从第二天线44b在第二时间122b被传送，以及第三脉冲126c在第三时间122c从第三天线44c被传送。
被传送的MIMO信号44a、44b、44c通过测试天线110以及近场MIMO测试接收器102被接收，其中对于每一个MIMO Tx通道54，例如54a-54c,接收到的信号443的功率被测量为114。基于每一个被传送的信号44，例如44a，的近场接收或者不被接收，和/或被测量的功率114，例如与阈值水平116相比，MIMO DUT42通过158，例如如果信号被接收并且功率水平114满足或者超过可接受的阈值水平116，或者失败，例如如果信号没有被接收，或者被接收但是功率水平114在可接受的阈值水平116之下。被测MIMO设备（DUT）42的近场功率124（图5）因此被测量，例如以确定MIMO DUT42内部是否存在问题。
近场功率测量测试可以被快速而高效地执行，以确定MIMO设备42内部的种类广泛的问题，这些问题在其他多系统测试中被忽略，从而会掩盖类似问题。例如，如果测试系统或者其他操作环境对路径损耗补偿大约10到20dB。
在如图11所示的替代系统100b中，单一天线110被设置为从每一个天线44那里，例如44a-44c，接收传送46。替代系统100b同样最好对近场衰减作补偿。
近场MIMO功率测量系统100，例如100a，100a,因此随时提供对于MIMO设备有效的测试，例如以随时探测到MIMO设备的一个或多个Tx通道54的问题。因为测试室在近场环境中被固有地执行的，测试区域104a的需求被最小化。此外，传统3×3或4×4MIMO设备42的所有Tx通道54的测试可以在1分钟之内被执行。与近场MIMO功率测量系统100形成鲜明对比的是，对于这样一个MIMO设备的所有近场以及远场点的测试的时间需要最少是5到10分钟。因此，近场MIMO功率测量系统100提供了巨大价值，特别是在大批量生产的情况下。
图12是可以被设置为近场MIMO功率测量测试系统100或者可以与近场MIMO功率测量测试系统100一起使用的示例增强近场MIMO无线测试系统300的示意图。测试室302包括第一区域104a，第二区域104b，以及第三区域104c。被测设备（DUT）42被放置于第一区域104a中。第一区域104a最好包括射频屏蔽，例如但不限于双层金属、网格、织物、涂料和/或泡沫。
在一些实施例中，近场MIMO无线测试系统300可以包括与近场MIMO功率测量系统100相同的架构，而在其他近场MIMO无线测试系统300中，测试架构可以包括与近场MIMO功率测量系统100不同的架构。
增强近场MIMO无线测试系统300提供了标准系统以及模拟模型以充分地测试MIMO设备42的性能，所述性能既是近场性能也是远场性能。例如，在一些实施例300中，MIMO设备46的远场性能最好在近场MIMO测试系统300中被模拟。增强近场MIMO无线测试系统300可以最好被设置为进行近场MIMO功率测量测试140。
天线矩阵108包括一个或多个测试天线110，例如110a-110d,这些天线被置于第一测试室104a中并从中延伸出318。天线矩阵108通过318与射频衰减单元320相连接。进一步，参考天线（REF）312被放置于第一测试区域104a中并从中延伸出316，并且被连接到在射频衰减单元中的仪表322。在目前的系统实施例中，仪表322包括射频与微波功率计322，为增强近场MIMO无线测试系统300的自校准提供同时多通道扫描测量。
天线矩阵108中的天线110中的每一个，例如110a-110d最好包括时分双工（TDD）天线110，可以应用时分多路复用，例如分离向外（上行链路）信号46和返回（下行链路）信号46。
例如，在4×4的设置中，每一个DUT42包括四个时分多路复用（TDM）天线44，其中设备天线44a-44d中的每一个被设置为既传送上行链路信号46也接收被合并的下行链路信号46。对于这样的一个4×4的设置而言，测试DUT42的MIMO性能，测试系统300中的四个测试天线110a-110d中的每一个被设置为同时接收被合并的上行链路信号46，以及传送下行链路信号46，最好是被衰减的并且被合并以模拟一个或多个测试天线110和设备天线44a-44d的距离52。测试天线110a-110d包括测试系统300的部分以及通常包括在DUT测试区域104a中的标准MIMO天线。
天线矩阵108提供了输入通道318（图14），例如4×4DUT42与4×4MIMO测试系统300的四条通道318a-318d，所述通道被连接到信号处理电路321，例如通过输入信号处理组件323，其中信号处理电路321包括可编程的衰减器组件324。
可编程衰减器组件324通常包括多个可编程衰减器，例如324-324d(图13、图14)，对应于多个天线通道318中的每一个。
可编程衰减器324中的每一个被设置为为多个天线通道318a-318d中的每一个模拟现实时间中的距离。例如，在目前的MIMO测试系统实施例300中，可编程衰减器324最好被设置为从0米到1千米或更多的范围中的任何距离。
可编程衰减器324被连接到至少一个巴特勒矩阵(Butlermatrix)326，被设置为合并多个MIMO信号，以模拟一个或多个现实世界的情况，例如模拟多个距离52上的合并的MIMO信号。一些系统实施例300被设置为提供在巴特勒矩阵组件326以及没有巴特勒矩阵的直接或者同一条通道间可选择的切换，例如在2.4千兆赫组件126a（图13、图14）与5.0千兆赫组件326b（图13、图14）间。
因此系统300最好被设置为调节衰减，模拟被测设备42与测试天线110之间的距离52，例如52a、52b。衰减最好是被电子编程的，并且最好是不同的，例如独立的或者串联的。
巴特勒矩阵组件326的输出，例如通过输出信号处理组件330，被连接到输出口436（图13），可以连接的350、346到校准模块338，或者到GUT模块340，例如被放置于第三测试区域104c中。
连续波信号源336，例如被放置于射频衰减单元320中，同样是可连接337到校准模块338。在一些目前的系统实施例300中，示例信号源336具有范围从20MHz到6GHz的频率。为了校准，信号源336被设置为在需要的频率上产生连续波（CW）信号，并被输送入天线矩阵318，即天线链318，并且接下来相应地使用功率计392、322。
如图12所示的示例测试系统300,包括4×4QC测试基站300，用以测试4Tx通道MIMO设备42的近场性能。增强系统300提供了在模拟显著更大，即远场，环境下，在小，即近场，形状因数中的测试，其中系统300准确地确定DUT42在现实世界MIMO环境中的性能。
在图12所示的示例测试系统300中，在组件间的，例如316、318、337、346等，一根或多根电缆最好包括同轴射频同轴电缆，具有合适的连接器，例如但是不限于小型版本A（SMA）连接器。其他电连接，例如但不限于在位于测试室302的第三区域104c中的组件之间的信号连接，可以包括RJ45连接线和连接器。
图13是示例射频衰减单元320的示意图380，例如是针对于近场MIMO无线测试系统300的。如图13所示的射频衰减单元320被安装在外壳381内。图14是位于能够和天线矩阵108连接的进口383与能够和校准模块338和GUT模块340连接的出口436之间的，射频衰减单元320中的一条通道318的具体部分示意图440。
如图13所示，信号源336的输入被388连接到USB接口390。信号源336的输出被连接到射频放大器382，流入功率分离器/组合器（PS）组件384。在目前的示例系统300中，射频放大器382包括宽带功率放大器382。PS组件384被连接到输出386，输出386可以通过337连接到校准模块338（图12、图15）。PS组件384同样可以连接到功率计392，被394连接到相应的USB接口396。
同样如图13所示，参考天线电缆316是可以连接到参考输入接口398，该接口198被连接到参考信号功率计322。参考信号功率计322同样通过400被连接到相应的USB接口402。在目前的系统实施例中，功率计322以及392包括射频与微波功率计。
如图13和图14所示的示例信号处理电路321包括位于输入口383与可编程衰减器324之间的输入信号处理组件323。在一些实施例中，输入信号处理组件323包括相应于测试天线矩阵108的每一个天线110的，例如110a-110d，垫442以及直流锁（DC block）444，被连接到相应的每一个信号通道318，例如318a，的衰减模块。在一些目前的实施例中，可编程衰减器324，例如324a-324d，包括固态可编程衰减器。
如图13和图14所示的示例信号处理电路321同样也包括位于可编程衰减组件324，例如324a，与一个或多个相应的巴特勒矩阵模块326之间的后衰减处理组件325。在一些实施例中，后衰减处理组件325包括直流锁446、垫448以及8个射频切换组件450。在一些目前的实施例中，射频切换组件450包括单极多投（SPnT）射频开关。
如图13与图14所示，在信号处理电路321中的每一个信号通道318，例如318a，可以包括一个或多个巴特勒矩阵模块326，例如326a、326b。例如如图14所示的第一巴特勒矩阵模块326a包括用于2G操作的4×4模块。在当前的RF衰减模块320的示例实施例中第一巴特勒模块326a包括BC44-30型模块，能够通过蒙大拿州贝尔格莱德的EmhiserTele-Tech,Incorporated公司得到。同时，如图14所示的第二巴特勒矩阵模块326b最好包括用于5G操作的4×4模块，在一个目前的实施例中包括BC44-31型模块，同样能够通过Emhiser Tele-Tech,Incorporated公司得到。此外，信号处理电路321可以进一步包括射频衰减垫组件452和/或矩阵支路或同一连接453。
如图13和图14所示的示例信号处理电路321同样包括输出信号处理组件330，位于巴特勒矩阵组件326与输出口436之间，例如包括但不限于8个射频切换组件454、垫组件456以及PS组件458。在一些目前的实施例中，射频切换组件454包括单极多投（SPnT）射频开关。垫组件456通常包括射频衰减垫，这样可以将输出信号的等级降低到可以接受的等级，用以输入到任何校准模块338或者GUT模块340中。
射频切换组件450与454允许如图13和图14所示的示例实施例300对于每一个天线通道318而言，在每一个天线通道的巴特勒矩阵组件326的模块之间，例如在第一巴特勒矩阵模块326a、第二巴特勒矩阵模块326b、射频衰减垫组件452或者矩阵支路连接453中任何两个之间，可以控制地切换。
如图13进一步所示，射频衰减模块320进一步包括控制板430，具有一个或多个电源输入432，例如5伏直流电源432a、24伏直流电源432b和/或12伏直流电源432c。控制板430控制多个射频衰减模块324内的模块，例如包括继电器、可编程衰减器324和在组件与通道318之间需要的任何切换组件中的任何一个或几个。
在一些系统实施例300中，控制板430被设置为提供在巴特勒矩阵组件326之间的可选择的切换，例如在2.4千兆赫组件326a（图13、图14）以及5千兆赫组件326b（图13、图14）之间。同样的，控制板430最好可以被设置为提供在多个频率上同时操作，例如同时的2.4千兆赫以及5千兆赫操作。
图15是用于近场MIMO无线测试系统300的示例校准模块338的示意图480，通常包括金属外壳482。4路功率分配器484，即功率梳484，被安装在外壳482内部，并被337连接到射频衰减模块320的信号源336。在目前的示例系统实施例300中，4路功率分配器484包括射频功率分配器/组合器，额定频率在2GHz到8GHz之间。输出486，例如4×4系统的486a-486d，从功率分配器484延伸出来到对应的分离器/组合器模块488，例如488a-488d。在目前的系统实施例300中，分离器/组合器模块488a-488d包括射频功率分配器/组合器。
校准模块338允许对于增强测试系统300的自动校准，使用从频率源336得到的已知的样本信号。已知的信号通过功率梳484以及分离器/组合器488被传送到346、350进入所有的四条通道318，例如318a-318d。射频开关450和454（图14）被控制以停用或关闭除了一个以外的所有通道318。例如，3条通道318b-318d被“关闭”以终止相应的信号，而通道318a仍然保持“开启”。被选中的“开启”通道318，例如318a，载有从频率源336得到的信号，通过在测试室104a中的开关450、巴特勒矩阵326、垫448、相应的衰减器324，例如324a，以及向上到达相应的天线110，例如110a。
利用功率计392（图13），信号在通过337进入校准模块338的信号源处被测量。利用同一个功率计392，或者第二功率计322，信号在测试室104a的参考天线312处被测量。这两个测量方法，当被加入时，提供了被测试通道318的，例如318a,路径损耗。因为信号已经已知了，被发送以及接收的信号可以被与被用来作为参考的原始信号比较。
同样的方法对于其他三条通道318，例如318b-318的，被重复，通过调节频率源336到需要的Tx通道频率，选择要被校准的通道318。
图16是近场MIMO无线测试系统300的示例GUT模块340的示意图500，包括金属外壳502，具有被确定的内部区域504。黄金受测单元（GUT）506包括无线MIMO设备506，一致可以满足所有需要的性能参数，因此能够提供吞吐量屏蔽，包括每一个数案件或范围层级的最小的以Mbps为单位的允许的吞吐量，通过该屏蔽可以比较被测设备42的性能。
如图16所示，黄金受测单元（GUT）506被放置在GUT模块外壳的内部区域504。信号电缆508被连接到GUT506，比如将346，例如通过8个SMA连接器346，连接到射频衰减模块320。在一些实施例中，信号电缆508包括射频电缆508，例如射频干扰电缆。其他连接也被实施到GUT设备506，例如功率连接510，例如12伏特DC、RJ45连接器512以及USB连接514。
增强MIMO测试系统300可以被设置为很多种大小，例如但不限于测试3×3或4×4MIMO设备42。举例来说，被设置为涉及和/或开发的增强MIMO测试系统300可以拥有相对大的第一区域104a，例如具有约27立方米的体积，例如，具有3米的边长。增强MIMO测试系统300可以随时模拟现实世界环境，并同样也可以补偿测试环境中的不同。因此，对于生产测试来说，增强MIMO测试系统300可以随时被设置具有较小的，即近场，形状因数，以降低所述室的成本和/或复杂程度。
增强MIMO测试系统300的每一个实施例提供在干扰被降低的物理环境中，足够的多部分功能以最大化对于被测设备42的性能检验。
增强近场MIMO无线测试系统300可以在一个相对小的形状因数中被呈现，被设置为测试很多种MIMO设备42，对多个无线电Tx通道54a-54d的每一个,一直到其执行上行和下行操作的最大带宽。Tx通道的操作最好是持续活跃的，这样每一个被传送的信号可以在他们的目的地被合理地接收。
增强近场MIMO无线测试系统300被设置为在近场测试环境中操作，当模拟性能和/或提供与提供反映被测设备（DUT）42在真实事件环境下的性能的结果的关联。因此增强系统300提供了在小，即近场，形状因数中，而模拟非常大，即远场，环境的测试环境。其中系统准确地确定DUT在真实MIMO环境下的性能。
增强近场MIMO无线测试系统300最好被设置为提供一下任何的近场测试：
·产品开发；
·产品检验；和/或
·产品生产和运输，例如质量控制。
同样的，近场MIMO无线测试系统300的相对形状因数，即尺寸，可以被适当地调整以适合进行测试的类型。例如，产品开发测试最好在较大的测试室中进行，比如但不限于：
·较大的测试天线110；
·对于不同或者额外的仪器和/或传感器的空间；
·对于工程师和/技术人员的空间；
·对于较大原型设备的空间；和/或
·增加的到DUT42、天线、110、322、电缆或连接中任何东西的连接。
为了产品生产和运输的MIMO设备42的测试可以最好在一个或多个设备提供商处进行，例如与一个或多个原始设备制造商（ODM）一起，例如合约制造商和/或芯片组提供商。近场MIMO无线测试系统300的相对形状因数，即尺寸，是与在生产环境中对DUT42进行测试相适应的，例如，在ODM厂商处，其中空间、成本以及测试速度变得更加重要。在这样的测试环境下，小规模测试室302可以被使用，具有相对小的DUT区域104a，其中近场MIMO无线测试系统300可以提供在DUT42的全频带宽度上的性能测试，其利用了与可以精确地反映DUT42对于不同程度的路径损耗的下行链路和/或上行链路的性能，即反映在不同距离52上DUT的性能有关的信号模拟以及数据。
对于特定的DUT42的集合来说，近规模MIMO性能追踪最好使用不同的测试室302，例如既在较大的近规模室302也在较小的近规模室302，其中性能结果可以在两个不同的室302间比较。举例来说，已知的被测设备DUT42的性能可以被用来与在不同的室302中的同样的设备DUT42的性能比较，例如为了确认新的近规模室302对于接下来的测试，例如140，的适用性。在一些实施例中，比较最好是在一个或多个数据点之间，和/或在全部性能图表。
在另一个例子中，一个或多个无线MIMO DUT42的性能，比如新的MIMO产品系列的代表，可以在第一，即已知并且信任的，较大的近场室302中测试，例如为了建立产品系列的基准规范，同时建立上行链路和/或下行链路吞吐量在不同路径损耗上可以接受的容忍限度，其中路径损耗与设备在不同距离上，即范围，的衰减有关。
接着，质量控制测试可以在任何相同的或者不同的测试系统300上执行，例如被设置为用于有时间和成本效率生产测试，其中产品DUT42的性能被检验并且被用来与一个或多个之前确立的值和容忍度相比较。
因此，在产品开发中，无线MIMO设备42可以在一开始在全规模室被测试。在之后的开发阶段或者之后的阶段，即批量生产，测试可以在增强，即小规模，测试系统300中进行，这样会提供对于质量控制测试优化的组织，以及较少的时间和成本。
图17是增强MIMO测试系统100、300的示例测试室302的部分剖面图600。在一些测试室302的实施例中，DUT42或者天线110的矩阵108，例如110a-110d，中的任一，相对于对方而言是可移动的604。例如，如图17所示，移动机构606最好提供被测设备DUT42在一个或多个方向602上的可控制的移动604，例如包括在x轴向上的602x、在y轴向上的602y和/或在z轴向上的602z。
如图17所示的天线110，例如110a-110d，的矩阵108，最好是基于特定的MIMO测试系统100、300进行的测试类型而确定的。例如，在被设置为用于最初产品开发的大规模系统100、300，天线110的选择的尺寸和/或花费的限制较少，而在需要的精准度和/或灵敏度上有更多限制。在目前的被设置为进行这种测试的系统中，测试天线费用为将近每一个$10,000。相反，对于被设置为用于之后的质量控制的较小规模的系统，例如100、300，其天线110在尺寸和/或花费的选择上有更多的限制。在当前被设置为用于这些质量控制测试的系统中，测试天线110的花费将近每一个$100。
一些组件被选择以降低一些增强测试系统100、300的成本，例如为了需要，在有限数量的衰减水平上的吞吐量、其他部分和组件，例如但不限于任何一个标准部分、电缆、仪器、处理器、控制器或存储，的性能的基本确认。
如图17所示，测试天线110a-110d的矩阵108包括增强MIMO测试系统100、300的一部分，以及通常包括在DUT测试区域104a内部的标准MIMO天线。天线连接318（图15，通常包括电缆，例如SMA电缆，所述电缆从DUT测试区域延伸出来，例如直接，或通过接头，例如同轴电缆接头，所述接头能够连接到一个或多个向射频衰减模块320延伸的电缆连接，例如通过连接区域104。
相似地，被测设备DUT42，例如通过DUT测试区域内的接头，可连接到任何电源，同样也到输入和输出信号连接334（图12）。在测试中，一个或者多个输入信号334，例如从控制器332（图12）得到的，被发送到DUT42，为了测试方法以及上行链路性能。相似地，接收到的MIMO无线MIMO下行链路信号被DUT42接收并且处理，其中结果下行链路信号334被传送334并在测试过程中被分析。
如同样在图17中所示一样，测试天线110的矩阵108，例如110a-110d，最好可以被设置在靠近彼此，例如在他们之间具有一致的距离612。在一个目前系统实施例300中，天线距离612是1cm，允许天线110在近场环境104a中操作，当在自由空间中模拟任何需要的范围是，这个环境可以从近场到长距离。
如图17进一步所示，DUT测试区域104a较佳地可以包括吸收组件610，例如以显著地降低或者消除反射的射频信号，例如可以位于DUT区域104的所有内表面上，例如顶部、底部、边，以及包括进入门614。
一旦DUT42被放置于DUT测试区域104a内部并被连接到电源和信号连接334，进入门614被关闭，而且系统300启动DUT42，以检查和测试DUT42的所有被测参数和/或模式。
当如图17所示的示例DUT测试区域104a包括门614，DUT测试区域104a的入口614最好是被设置于相对于内区域104a的任意位置。例如，在一些为执行生产测试，例如140，的系统设置100、300中，入口,614可以被设置在DUT区域104a的顶部，其中被测试的DUT42在DUT区域104a的脚底的位置，例如在包括快速电源、输入以及输出信号连接的测试夹具上，例如RJ45连接器。在这样的设置中，一旦DUT42连接并启动，进入门614就被关闭，那么测试就能够开始。
如图12和图17所示，一大部分的与多输入多输出（MIMO）有关的控制、硬件和连接可以最好位于远离DUT区域104a的地方，例如在中间区域104b和/或后端控制区域104c内。举例来说，测试天线矩阵108的后端和天线电缆318最好被规划为穿过中间区域，例如通过板侧舱壁314激活室。无线信号的发送和接收是混合的，这是与真实世界的被测设备42的操作一致的，这是为了实施恰当地反映设备42被需要如何操作的近场MIMO测试。MIMO测试的测试结构和方法的设计是可以扩展适用到不同的系统实施例100、300中，甚至可能被要求做生产测试的小形状因数中。
因此，增强近场MIMO无线测试系统300被设置为既实施上行链路测试也实施下行链路测试，以模拟不同距离上的多通路操作，针对于多个模式和/或步骤，例如确定被测设备42的作为路径损耗（以dB为单位）的函数的吞吐量（以兆每秒为单位）。
在一些系统实施例300中，例如为了产品开发，测试可以在广泛的上行链路和/或下行链路路径损耗下被实施，这样所有的曲线都指向吞吐量归为0的点。在另一些实施例300中，例如为了产品质量控制，测试可以在特定的范围内实施，例如为了确定性能在一部分范围内符合所期望的及格标准。此类测试可以不要求测试远的范围，即，所有的曲线都指向吞吐量归为0的点，因为此类测试会花费过多的时间并不能够得出对于生产环境而言有用的信息。
一些增强MIMO无线测试系统300于此被描述以进行对MIMO设备的近场测试，应当了解许多结构和方法可以优先被用来进行组件的远场测试，例如为了测试天线。举例来说，增强无线测试系统300可以最好被设置为提供远场测量，例如为了被动天线测试。此类系统300最好提供二维图、模拟性能和/或正视图，例如从一个或多个天线处得到频谱效率。
虽然本发明引用最佳实施例在此被描述，本领域技术人员会注意到其他的应用在不背离本发明的精神和范围的情况下，可以被用来替代这里已经被描述的应用。相应地，本发明应当仅被包括的权利要求限制。
Claims (24)
1.一种方法，包括以下步骤：
将多输入多输出（MIMO）设备相对于至少一个测试天线放置，其中所述MIMO设备包括多个传送（Tx）通道，其中多个Tx通道中的每一个具有与之相应的MIMO天线，以及其中所述MIMO设备被放置，这样所述MIMO天线被置于与至少一个测试天线相近的位置；
启动所述MIMO设备；
向所述MIMO设备提供脉冲序列信号，其中所述脉冲序列信号包括相应与每一个所述Tx通道的脉冲；以及
对于所述多个Tx通道中的每一个，
发送与从所述当前被测试的Tx通道对应的所述MIMO天线得到的相应脉冲有关的上行链路信号，
通过所述至少一个测试天线接收从相应MIMO天线得到的上行链路信号，
测量所述接收到的上行链路信号的功率，以及
在所述测量到的所述当前被测试的Tx通道的功率的基础上，提供输出。
2.如权利要求1所述的方法，进一步包括步骤：
将所述测量到的所述多个Tx通道的接收到的上行链路信号的功率与阈值水平相比较；
其中所述被提供的输出是基于所述比较的。
3.如权利要求2所述的方法，其中阈值水平包括被存储的阈值或者被确定的阈值之中任一。
4.如权利要求2所述的方法，其中如果所述多个Tx通道中的一个或多个的所述被接收到的信号的被测量出的功率小于所述阈值水平，所述被提供的输出包括所述MIMO设备有问题的指示。
5.如权利要求4所述的方法，其中所述指示包括了所述MIMO设备的Tx通道具有比所述阈值水平低的输出功率水平的鉴定。
6.如权利要求4所述的方法，进一步包括步骤：
将所述MIMO设备从生产线转移。
7.如权利要求6所述的方法，其中所述MIMO设备的转移包括将所述设备转移到拒绝区域或者重做区域。
8.如权利要求1所述的方法，其中所述MIMO天线被放置在距离至少一个测试天线10mm以内的位置。
9.如权利要求1所述的方法，其中至少一个测试天线包括多个测试天线。
10.如权利要求8所述的方法，其中所述测试天线的熟练与MIMO天线的数量相匹配，并且其中所述MIMO天线以及所述测试天线被设置为提供在相应天线对之间相似的间隔。
11.一种系统，包括：
测试天线矩阵，包括至少一个测试天线；
MIMO测试室，被设置为接收相近于所述测试天线矩阵的MIMO设备，其中所述MIMO设备包括多个传送（Tx）通道，其中所述多个Tx通道的每一个具有对应的与之相关的MIMO天线；
启动所述MIMO设备的机构；
提供一系列被顺序从所述MIMO设备的所述单一天线传送的脉冲的机构；
至少一个处理器，其中所述至少一个处理器被设置为
测量所述接收到的上行链路信号的所述功率，以及
在所测量当前被测Tx通道的功率的基础上提供输出。
12.如权利要求11所述的系统，其中所述至少一个处理器被进一步设置为，将所测量的所述接收到的所述多个Tx通道中的每一个的上行链路信号的功率与阈值水平相比较；
其中所述被提供的输出是基于所述比较的。
13.如权利要求12所述的系统，其中所述阈值水平包括被存储的而与之或者被确定的阈值中的任一。
14.如权利要求12所述的系统，其中如果所述被测量出的所述多个Tx通道中的一个或多个的接收到的上行链路信号的功率比所述阈值水平低，那么所述被提供的输出包括所述MIMO设备有问题的指示。
15.如权利要求14所述的系统，其中所述指示包括所述MIMO设备的哪一条Tx通道具有比所述阈值水平低的功率水平的鉴定。
16.如权利要求14所述的系统，进一步包括：
将所述MIMO设备从生产线移除的机构。
17.如权利要求16所述的系统，其中所述用于移除所述MIMO设备的机构包括以下任一：
用于将所述MIMO设备转移到拒绝区域的机构，或
用于将所述MIMO设备转移到重做区域的机构。
18.如权利要求11所述的系统，其中所述MIMO天线被放置于与至少一个测试天线相距10mm之内的位置。
19.如权利要求11所述的系统，其中所述至少一个测试天线包括多个测试天线。
20.如权利要求19所述的系统，其中所述测试天线的数量与MIMO天线的数量相匹配，并且其中所述MIMO天线以及所述测试天线被设置为提供在对应的天线对之间相似的间隔。
21.一种设备，包括：
测试天线矩阵，包括至少一个测试天线；
用于接收与测试天线矩阵相近的MIMO设备的机构，其中所述MIMO设备包括多个传送（Tx）通道，其中所述多个Tx通道的每一个具有相应的与之相关的MIMO天线；
用于将测试信号发送到所述MIMO设备的机构；
用于单一操控所述测试信号的至少部分至所述MIMO设备的单一Tx通道的机构，其中所述被操控的部分通过所述相应的MIMO天线被单独从单一的Tx通道传送；
用于接收通过所述测试天线矩阵得到的所述被操控的测试信号的被传送的部分的机构；
至少一个处理器，其中所述至少一个的处理器被设置为测量所述被接收到的被操控的测试信号的部分的功率，以及
在所述被接收到的所述被操控的测试信号的被传送的部分的被测量到的功率的基础上提供输出。
22.如权利要求21所述的设备，其中至少一个处理器被进一步设置为将被测量到的所述被接收到的所述被操控的测试信号的所述被传送的部分的功率与阈值水平相比较；
其中所述被提供的输出是基于所述比较的。
23.如权利要求22所述的设备，其中所述阈值水平包括被存储的阈值或者被确定的阈值中的任一。
24.如权利要求22所述的设备，其中如果所述被测量出的所述被操控的测试信号的所述被接收的被传送部分的功率比所述阈值水平低，那么所述被提供的输出包括所述MIMO设备有问题的指示。
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