CN102478624A - 电路板测试分析报告自动生成系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电路板测试技术。本发明针对现有技术电路板测试报告生成方法工作量大,容易出错的缺点,公开了一种电路板测试分析报告自动生成系统及方法。本发明的电路板测试报告生成系统由器件引脚参数输入单元、测试数据检入单元、数据解析单元及测试报告生成单元构成。本发明的电路板测试分析报告自动生成方法,能够根据电路板信号测试用例、测试数据,自动分析测试结果并生成电路板测试报告。本发明用于电路板信号测试,能够提高测试数据分析的效率,同时保证测试数据统计的精确性。
Description
技术领域
本发明涉及电路板测试技术,特别涉及通信系统中单板信号测试分析报告自动生成的技术。
背景技术
电路板(或称为单板),通常指由印刷电路板(PCB)及安装的器件组成的,执行某种功能的电路部件。在单板开发过程中,单板信号测试是一个重要环节。在完成电路板测试之后,需要对电路板信号质量测试的结果进行分析,并统计测试结果、输出测试报告。
现有技术中,电路板测试结果分析报告生成的方法是:首先,由测试工程师依据测试用例进行测试,并将测试数据按照特定的命名规范命名存储。其次,再将已经测试完了的测试数据填入测试报告中。然后,依据测试用例和芯片手册判断测试数据是否满足要求。通常一张电路板需要测试1000条~2000条信号线的信号质量,主要是信号电压的幅度特性和时间特性,其测试数据将多达2000~4000项以上。现有技术是依靠测试工程师手动完成数据的统计和分析,如果一项数据分析时间和统计时间需要2分钟,那么电路板测试工程师完成数据的分析和统计的时间是4000分钟~8000分钟以上。电路板信号质量测试结果分析和报告生成的工作量非常巨大,而且大量的数据需要填写、比对和统计分析,出现差错的概率相当大,测试分析报告的精确性大大降低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题,就是针对现有技术电路板测试报告生成方法工作量大,容易出错的缺点,提供一种能够根据电路板信号测试用例、测试数据,自动分析测试结果并生成电路板测试报告的系统及测试报告生成方法,从而提高测试数据分析的效率,同时保证测试数据统计的精确性。
本发明的电路板测试分析报告自动生成系统,包括:
器件引脚参数输入单元,用于输入器件引脚信号判断依据;
测试数据检入单元,用于检入电路板信号测试数据;
数据解析单元,与测试数据检入单元和器件引脚参数输入单元连接,将测试数据与判断依据进行比较,判断测试数据是否符合要求;
测试报告生成单元,与数据解析单元连接,根据数据解析单元的判断结果,按照输出规范输出测试结果分析报告。
所述测试数据包括电压幅度特性和电压时间特性,所述判断依据包括电压幅度特性和电压时间特性是否符合要求。
所述电压幅度特性包括:电压最小值、电压最大值,电压峰值、电压谷值。
所述电压时间特性包括:上升时间、下降时间、周期、频率、占空比、时间抖动。
本发明的电路板测试分析报告自动生成方法,包括以下步骤:
步骤a:检入被测试信号的实际测试数据;
步骤b:输入需要测试信号的判断依据;
步骤d:建立实际测试数据与判断依据的关联;
步骤f:根据步骤d建立的关联,判断实际测试的数据是否满足判断依据的要求;
步骤h:按照既定规范输出测试报告。
进一步的,步骤b之后还包括步骤c:
检查测试数据和判断依据是否为同一电路板的数据,是则进入步骤d;否则返回步骤a。
进一步的,步骤d之后还包括步骤e:
检查是否所有实际测试数据都已经完成了与判断依据的关联,是则进入步骤f,否则返回步骤d。
进一步的,步骤f之后还包括:
步骤g:判断是否所有需要测试信号均已经测试,是则进入步骤h,否则返回步骤a。
具体的,所述测数据包括电压幅度特性和电压时间特性。
具体的,步骤h中所述按照既定规范输出测试报告,是指输出包含如下内容的表格:
测试数据、判断依据、分析结果、是否完成测试。
本发明的有益效果是,能够提高电路板测试分析报告生成的效率,排除人为因数(失误)的影响,提高测试分析报告的科学性和精确性。
附图说明
图1是系统结构示意图;
图2是电路板测试分析报告生成流程图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例,详细描述本发明的技术方案。
如图1所示,本发明的电路板测试报告生成系统由器件引脚参数输入单元10、测试数据检入单元11、数据解析单元12及测试报告生成单元13构成。
器件引脚参数输入单元10可以存在于本地计算机中,也可以是系统中专门的数据库。主要用于输入器件引脚信号判断依据,这些判断依据数据可以从相关的元器件手册中导入,也可以由相关软件中导入,如电路板绘图软件等。
测试数据检入单元11,用于检入电路板信号测试数据。主要包括电压幅度特性和电压时间特性数据,电压幅度特性包括电压最小值、电压最大值,电压峰值、电压谷值;电压时间特性包括上升时间、下降时间、周期、频率、占空比、时间抖动。
数据解析单元12为本发明的运算处理中心,由计算机中央处理系统构成,与测试数据检入单元11和器件引脚参数输入单元10连接,将测试数据与判断依据进行比较,判断测试数据是否符合要求,其判断的主要依据是电压幅度特性和电压时间特性是否符合要求。
测试报告生成单元13与数据解析单元12连接,根据判断结果,按照输出规范输出测试分析报告。本发明的测试分析报告是包含测试数据、判断依据、分析结果、是否完成测试等内容的表格。
实施例
本发明的电路板测试报告生成方法,实现步骤如图2所示,包括:
步骤1:通过测试数据检入单元检入被测试信号的电压幅度特性和电压时间特性的实际测试数据。
步骤2:通过器件引脚参数输入单元输入需要测试信号的电压幅度特性和电压时间特性的判断依据。
步骤3:判断测试数据检入单元和器件引脚参数输入单元输入的数据是否为同一电路板的数据,是则进入步骤4,不是则跳转到步骤1。
步骤4:建立实际测试数据和判断依据的关联。
步骤5:检查是否所有实际测试数据都已经完成了与判断依据的关联,是则进入步骤6否则跳转到步骤4。
步骤6:根据步骤4建立的关联,判断实际测试的数据是否满足判断依据的要求。
步骤7:检查是否完成了所有关联数据的分析,是则进入步骤8,否则跳转到步骤6。
步骤8:检查是否所有需要测试信号均已经测试,是则进入步骤9,否则返回步骤1。
步骤9:将测试数据、判断依据、分析结果、是否测试等内容,以表格的形式输出测试报告。
下面以交换机主控板信号测试分析报告的生成过程为例进行详细描述:
通过测试数据检入单元,检入如下信息:
文件名:PCI_CLK_U14_V.cvs
参数有:电压最小值Vmin=-0.298V,电压最大值Vmax=3.58V,电压峰值Vtop=3.28V,电压谷值Vbase=-0.11V
文件名:PCI_CLK_U14_T.cvs
参数有:上升时间Rise time=1.88ns,下降时间Fall time=0.912ns,周期period=30.313ns,频率Frequency=32.989MHz,占空比Duty cycle=48.5%
文件名:PCI_CLK_U14_J.cvs
参数有:时间抖动TJ=0.849ns
通过器件引脚参数输入单元,输入如下信息:
测试芯片:U14
管脚号:1
网络名:PCI_CLK
参数要求:
Vmin>-0.7V
Vmax<4V
Vtop>2V
Vbase<0.8V
Rise time<4ns
Fall time<4ns
32.9835MHz<Frequency<33.0165MHz
45%<Duty cycle<55%
TJ<3ns
解析过程:
第一步,从测试数据文件名提取出被测试信号的信号名、位号以及参数类型。在此前,测试数据文件名应该按照既定的规则命名,命名规则如下:信号名_位号_参数类型。参数类型分为T:时间特性,V:电压特性,J:抖动特性,E:眼图特性。
第二步,将信号名和位号均相同的测试数据文件信息导入,该信号的测试数据有:Vmin,Vmax,Vtop,Vbase,Rise time,Fall time,period,Frequency,Duty cycle,TJ。
第三步,从器件引脚参数文件中提取器件引脚电气参数要求,该信号的要求有:Vmin,Vmax,Vtop,Vbase,Rise time,Fall time,Frequency,Duty cycle,TJ。
第四步,将测试数据和管脚要求按照如下格式的表格存储:
要求 | 实测 | |
Vmin | -0.7V(min) | -0.298V |
Vmax | 4V(max) | 3.58V |
Vtop | 2V(min) | 3.28V |
Vbase | 0.8V(max) | -0.11V |
Rise time | 4ns(max) | 1.88ns |
Fall time | 4ns(max) | 0.912ns |
period | 30.313ns | |
Frequency | 32.9835MHz(min)33.0165MHz(max) | 32.989MHz |
Duty cycle | 45%(min)55%(max) | 48.5% |
TJ | 3ns(max) | 0.849ns |
第五步,逐行判断各参数是否符合要求:对于上表“要求”栏中的信息是min的,那么“实测”栏的值如果大于该值就是合格,对于“要求”栏中的信息是max的,那么“实测”栏的值如果小于该值就是合格,对于“要求”栏中的信息同时有max和min的,那么“实测”栏的值如果小于max值并且大于min值就是合格,如果“要求”栏中的信息为空,那么不必判断“实测”栏中的信息。
第六步,如果出现不合格的项目,那么就将相应的测试信号的是否合格标志位设置为不合格标志。
第七步,按照测试报告规范,输出电路板信号测试报告。
Claims (10)
1.电路板测试分析报告自动生成系统,包括:
器件引脚参数输入单元,用于输入器件引脚信号判断依据;
测试数据检入单元,用于检入电路板信号测试数据;
数据解析单元,与测试数据检入单元和器件引脚参数输入单元连接,将测试数据与判断依据进行比较,判断测试数据是否符合要求;
测试报告生成单元,与数据解析单元连接,根据数据解析单元的判断结果,按照输出规范输出测试结果分析报告。
2.根据权利要求1所述的电路板测试分析报告自动生成系统,其特征在于,所述测试数据包括电压幅度特性和电压时间特性,所述判断依据包括电压幅度特性和电压时间特性是否符合要求。
3.根据权利要求2所述的电路板测试分析报告自动生成系统,其特征在于,所述电压幅度特性包括:电压最小值、电压最大值,电压峰值、电压谷值。
4.根据权利要求2所述的电路板测试分析报告自动生成系统,其特征在于,所述电压时间特性包括:上升时间、下降时间、周期、频率、占空比、时间抖动。
5.电路板测试分析报告自动生成方法,包括以下步骤:
步骤a:检入被测试信号的实际测试数据;
步骤b:输入需要测试信号的判断依据;
步骤d:建立实际测试数据与判断依据的关联;
步骤f:根据步骤d建立的关联,判断实际测试的数据是否满足判断依据的要求;
步骤h:按照既定规范输出测试报告。
6.根据权利要求5所述的电路板测试分析报告自动生成方法,其特征在于,步骤b之后还包括步骤c:
检查测试数据和判断依据是否为同一电路板的数据,是则进入步骤d;否则返回步骤a。
7.根据权利要求5所述的电路板测试分析报告自动生成方法,其特征在于,步骤d之后还包括步骤e:
检查是否所有实际测试数据都已经完成了与判断依据的关联,是则进入步骤f,否则返回步骤d。
8.根据权利要求5所述的电路板测试分析报告自动生成方法,其特征在于,步骤f之后还包括:
步骤g:判断是否所有需要测试信号均已经测试,是则进入步骤h,否则返回步骤a。
9.根据权利要求5~8任意一项所述的电路板测试分析报告自动生成方法,其特征在于,所述测数据包括电压幅度特性和电压时间特性。
10.根据权利要求5~8任意一项所述的电路板测试分析报告自动生成方法,其特征在于,步骤h中所述按照既定规范输出测试报告,是指输出包含如下内容的表格:
测试数据、判断依据、分析结果、是否完成测试。
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