[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

CN101857186B - 用于三维微力测量的石英光纤微探针 - Google Patents

用于三维微力测量的石英光纤微探针 Download PDF

Info

Publication number
CN101857186B
CN101857186B CN2010101707562A CN201010170756A CN101857186B CN 101857186 B CN101857186 B CN 101857186B CN 2010101707562 A CN2010101707562 A CN 2010101707562A CN 201010170756 A CN201010170756 A CN 201010170756A CN 101857186 B CN101857186 B CN 101857186B
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
optical fiber
feeler lever
silica optical
microprobe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2010101707562A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101857186A (zh
Inventor
赵玉龙
王伟忠
蒋庄德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Jiaotong University
Original Assignee
Xian Jiaotong University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Jiaotong University filed Critical Xian Jiaotong University
Priority to CN2010101707562A priority Critical patent/CN101857186B/zh
Publication of CN101857186A publication Critical patent/CN101857186A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101857186B publication Critical patent/CN101857186B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

用于三维微力测量的石英光纤微探针,由探针底座、探杆和探头组成,探针底座由有机玻璃制成,探针底座为一带盲孔的圆柱体,探杆为一底端大、由底端往上依次变小的圆柱形阶梯式石英光纤结构,探杆底端与探针底座盲孔成紧密配合;探杆的顶端配置有探头,探头由探杆顶端的石英光纤纤芯拉制而成,具有精度高、成本低、加工简单、寿命长、抗干扰能力强的特点。

Description

用于三维微力测量的石英光纤微探针
技术领域
本发明属于微力测试技术领域,特别涉及一种用于三维微力测量的石英光纤微探针。
背景技术
近几年来,随着微机电系统(MEMS)技术的不断发展,越来越多的学者与研究机构开始对微观世界进行深入研究。利用MEMS探针式接触传感器对微力进行监测,是深入了解微观世界的一种有效的科学方法。目前MEMS微力传感器探针主要分为两种:1.利用MEMS技术加工的硅微探针:这种探针整体是一根探杆,没有探头,测量误差相对较大;由于硅材料塑性差,而且探针直径很小,因此为了保证探针的正常使用,探针做得很短,使用环境受到了限制。2.金属探针:这种探针由金属探杆与红宝石探头组成,具有较好的刚性。红宝石探头耐磨性能好,但价格昂贵难加工,与金属探杆黏合性能差,易松动,寿命短。金属探杆易受磁场干扰,抗干扰能力弱,误差较大。
发明内容
针对目前现有技术存在的问题,本发明的目的是提供一种用于三维微力测量的精度高、成本低、加工简单、寿命长、抗干扰能力强的阶梯式石英光纤微探针。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:
用于三维微力测量的石英光纤微探针,由探针底座1、探杆3和探头4组成,探针底座1由有机玻璃制成,探针底座1为一带盲孔2的圆柱体,探杆3为一底端大、由底端往上依次变小的圆柱形阶梯式石英光纤结构,探杆3底端与探针底座盲孔2成紧密配合;探杆3的顶端配置有探头4,探头4由探杆3顶端的石英光纤纤芯拉制而成。
探针加工材料为石英光纤,探针底座1的圆柱体直径为1.6mm,高为1mm。
盲孔2直径为0.9mm,深0.8mm。
探杆3底端直径为0.9mm。
探头4为直径小于或等于40μm的石英球。
探头4由探杆3顶端直径为125μm的石英光纤纤芯拉制而成。
探杆3的圆柱形阶梯式石英光纤结构为三节,其直径依次为900μm、250μm、125μm。
由于加工完成的探针8要安装在传感器敏感单元上,为了降低探针8的自身重量对传感器的干扰,因此,采用比重小,强度大的有机玻璃加工探针底座1;有机玻璃是一种高分子透明材料,它的化学名称叫聚甲基丙烯酸甲酯,英文简称PMMA,是由甲基丙烯酸甲酯聚合而成的,具有表面光滑,透明性好,比重小,强度较大,耐腐蚀,耐湿,耐晒,绝缘性能好,隔声性好,抗干扰强等优点。在传感器封装时可以通过透明的有机玻璃底座实时监测探针的固定安装情况。底座由激光雕刻机加工,成品精度高。
探针的探杆在设计时,两个因素相互限制:为保证被测力通过探针完整的传递到传感器敏感元件上,必须提高探针的刚度,减小探杆的变形;但提高传感器的测量灵敏度和在微尺度下的精确操作,要增加探杆的长度和减小探头的尺度,结果降低了探针的刚度。因此在探杆设计中必须综合考虑这两种约束,优化探杆的相关参数。
为了提高探针的抗干扰能力,增大探针的长度,利用石英光纤加工传感器探杆3。石英光纤具有优良的光学与机械性能:光纤是玻璃纤维,比重小,使它具有直径小、重量轻的特点,安装十分方便;抗干扰能力强,因为光纤的基本成分是石英,只传光,不导电,不受电磁场的作用,对电磁干扰、工业干扰有很强的抵御能力;由于制作光纤的材料(石英)来源十分丰富,光纤成本低;耐腐蚀性好,制作光纤的材料(石英)不易被工业中的酸碱物质所腐蚀。
球形的探头4减小了对被测物的损坏,提高了测量精度。
附图说明
图1为本发明的探针底座的立体图。
图2为本发明的探针探杆与探头的立体图。
图3为本发明在传感器上的安装结构图。
图中:1…探针底座;2…探针底座盲孔;3…探杆;4…探头;5…传感器敏感元件;6…敏感元件悬臂梁;7…敏感元件平台;8…探针。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作详细说明。
如图1,2所示,本发明的探针8由探针底座1、探杆3和探头4组成,探针底座1由有机玻璃制成,探针底座1为一带盲孔2的圆柱体,盲孔2直径为0.9mm,深0.8mm,探杆3为一底端大、由底端往上依次变小的圆柱形阶梯式石英光纤结构,探杆3底端直径为0.9mm,由于石英光纤外层有一定的弹性,因此探杆3底端可以与探针底座盲孔2紧密配合;将底端涂有环氧树脂的探杆3装配到盲孔2中,并在60℃环境下烘干一个小时,使其固定形成图3中的探针8;探头4为直径小于或等于40μm的石英球,由探杆3顶端直径为125μm的石英光纤纤芯拉制而成。
如图3所示,基于激光定位法结合黏贴法将探针8安装到传感器敏感元件平台7上,外界被测力作用到探头4上,经探针8传递到传感器敏感元件平台7上,使敏感元件悬臂梁6产生变形,引起悬臂梁6上的压敏电阻变化,输出电压,测得作用力。

Claims (7)

1.用于三维微力测量的石英光纤微探针,由探针底座(1)、探杆(3)和探头(4)组成,其特征在于:探针底座(1)由有机玻璃制成,探针底座(1)为一带盲孔(2)的圆柱体,探杆(3)为一底端大、由底端往上依次变小的圆柱形阶梯式石英光纤结构,探杆(3)底端与探针底座盲孔(2)成紧密配合,探杆(3)的顶端配置有探头(4),探头(4)由探杆(3)顶端的石英光纤纤芯拉制而成。
2.根据权利要求1所说的石英光纤微探针,其特征在于:探针底座(1)的圆柱体直径为1.6mm,高为1mm。
3.根据权利要求1所说的石英光纤微探针,其特征在于:盲孔(2)直径为0.9mm,深0.8mm。
4.根据权利要求1所说的石英光纤微探针,其特征在于:探杆(3)底端直径为0.9mm。
5.根据权利要求1所说的石英光纤微探针,其特征在于:探头(4)为直径小于或等于40μm的石英球。
6.根据权利要求1或5所说的石英光纤微探针,其特征在于:探头(4)由探杆(3)顶端直径为125μm的石英光纤纤芯拉制而成。
7.根据权利要求1所说的石英光纤微探针,其特征在于:探杆(3)的圆柱形阶梯式石英光纤结构为三节,其直径依次为900μm、250μm、125μm。
CN2010101707562A 2010-05-12 2010-05-12 用于三维微力测量的石英光纤微探针 Expired - Fee Related CN101857186B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010101707562A CN101857186B (zh) 2010-05-12 2010-05-12 用于三维微力测量的石英光纤微探针

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010101707562A CN101857186B (zh) 2010-05-12 2010-05-12 用于三维微力测量的石英光纤微探针

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101857186A CN101857186A (zh) 2010-10-13
CN101857186B true CN101857186B (zh) 2012-05-23

Family

ID=42943384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010101707562A Expired - Fee Related CN101857186B (zh) 2010-05-12 2010-05-12 用于三维微力测量的石英光纤微探针

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101857186B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104142225B (zh) * 2014-08-06 2016-11-09 中国科学院电子学研究所 强流电子注微小截面光纤yag探头探测装置
CN105953714B (zh) * 2016-06-30 2018-07-17 安徽理工大学 一种变刚度并联柔性约束微纳测头
CN107957230A (zh) * 2017-12-27 2018-04-24 河北银隆新能源有限公司 一种锂离子电池浆料涂布尺寸测量装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0752601A1 (en) * 1994-03-24 1997-01-08 Kanagawa Academy Of Science And Technology Optical fiber and its manufacture
CN1975322A (zh) * 2006-12-04 2007-06-06 天津大学 基于纳米测量机和微触觉测头的微几何量测量装置
CN101308051A (zh) * 2008-07-01 2008-11-19 西安交通大学 三维微力硅微传感器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0752601A1 (en) * 1994-03-24 1997-01-08 Kanagawa Academy Of Science And Technology Optical fiber and its manufacture
CN1975322A (zh) * 2006-12-04 2007-06-06 天津大学 基于纳米测量机和微触觉测头的微几何量测量装置
CN101308051A (zh) * 2008-07-01 2008-11-19 西安交通大学 三维微力硅微传感器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
W.Z.Wang et al.An Integrated MEMS Tactile Tri-axial Micro-force Probe Sensor for Minimally Invasive Surgery.《Proceedings of the 2009 IEEE 3rd International Conference on Nano/Molecular Medicine and Engineering》.2009,第71-76页. *

Also Published As

Publication number Publication date
CN101857186A (zh) 2010-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108519175B (zh) 基于布拉格光纤光栅的可变量程的土体压力测量方法
CN203824907U (zh) 一种表面等离子体共振光纤pH传感芯片及检测系统
CN203287311U (zh) 一种基于双锥型细芯单模光纤的透射式光纤湿度传感器
CN113109592B (zh) 一种悬臂梁式三维fbg加速度传感器
CN102778200A (zh) 磁流变脂磁致伸缩效应的光杠杆测量方法及其测量装置
CN106595479B (zh) 一种光纤式三维触发测头装置及测量方法
CN107505477B (zh) 一种三维光纤布拉格光栅风速风向传感器及系统
CN102353494B (zh) 一种基于光学传感的冲量测试方法及装置
CN106124088B (zh) 一种内置式电缆接头温度光纤在线监测传感器
CN102410850A (zh) 一种反射式光纤传感器装置
CN101857186B (zh) 用于三维微力测量的石英光纤微探针
CN105547201A (zh) 平面度测量装置
CN101923028B (zh) 高温涂层结构蠕变/热变形和内部裂纹检测装置
CN112212797B (zh) 一种显微视觉应变传感器
CN204359817U (zh) 基于双光纤Bragg光栅高频加速度传感器
CN110608946B (zh) 基于fbg及全流触探的软黏土早期触变强度测试及装置
CN206311247U (zh) 一种基于分布式光纤感测的力和位移测量的传感器装置
CN204405509U (zh) 数字输出位移传感式高频往复试验机
CN110514138A (zh) 一种基于探针自身重力的形貌测量系统及方法
CN110763620A (zh) 一种用于钢材腐蚀监测的光纤法珀传感器
CN105371815A (zh) 一种便携式岩石侧向变形测量装置
CN109186823B (zh) 基于fbg传感器检测螺栓连接结合面面压的标定方法
CN103759853A (zh) 一种半导体光纤温度传感器的探头装置
CN202582503U (zh) 透射式光栅应变计
CN207570491U (zh) 一种电子式球形件直径检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20120523

Termination date: 20150512

EXPY Termination of patent right or utility model