CN101496102B - 记录工作控制装置、集成电路、光盘记录再现装置及记录工作控制方法 - Google Patents

Abstract

信息记录精度计算部(104)以多种记录功率对光盘(200)进行记录工作，基于以预定再现激光强度再现各记录信息时得到的再现RF信号来计算与各记录功率对应的信息记录精度。关系信息取得部(140)基于由信息记录精度计算部(104)计算的信息记录精度来取得表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系信息。关系信息存储部(130)存储由关系信息取得部(140)取得的关系信息。激光器控制部(150)基于存储于关系信息存储部(130)的关系信息来求出与目标信息记录精度对应的记录功率，并控制光拾取器(101)以按所求出的记录功率对光盘(200)进行信息记录。关系信息修正部(180)基于光盘记录再现装置(100)的状态来修正存储于关系信息存储部(130)的关系信息。

Description

记录工作控制装置、集成电路、光盘记录再现装置及记录工作控制方法

技术领域

本发明涉及例如对DVD+R/RW/R DL(Dual Layer)、DVD-R/RW/R DL、DVD-RAM或者下一代光盘等光盘进行数据的记录和再现的光盘记录再现装置的激光强度控制技术，尤其涉及调整记录时的激光强度的技术。

背景技术

光盘存在多种记录标准，但无论哪一种标准，在生成与应记录的信息相对应的记录图案信号(具有与用于形成预定长度的坑的记录激光照射时间相对应的脉冲宽度的信号)方面是共同的。光盘记录装置为了生成适应光盘的记录图案信号，对旋转的光盘一边改变记录功率一边照射激光，从而进行坑的形成和擦除。在该记录功率不适当时，不能进行正确的坑的形成和擦除，无法读出应记录的数据。

另外，即使是相同标准的光盘，所对应的记录速度也各不相同。由于有时使用与记录的速度相应的记录图案信号，因此，也存在即使是相同标准的光盘所使用的记录图案信号也不同的情况。需要分别设定各光盘的记录速度和与记录图案信号相应的记录功率。

于是，专利文献1中记载了以调制度为指标而使记录功率最佳化的OPC(Optimum Power Control：最佳功率控制)这样的处理。在该文献记载的光盘装置中，以16阶的记录功率在光盘的测试区域记录测试数据，根据再现所记录的测试数据时的再现RF信号来计算出每个记录功率的调制度。计算出的调制度与记录功率相关联地进行存储。并且，根据所存储的记录功率和调制度之间的关系来选择与目标调制度对应的最佳记录功率，使用所选择的最佳记录功率来记录数据。

在对如DVD-RW等光盘标准那样的、以擦除已记录的数据为前提的标准的光盘进行记录的光盘装置中，为了擦除已记录的数据而使用擦除功率。最佳擦除功率Per被预先存储于光盘装置内置的存储器等中，或使用作为LPP(Land Pre-Pit：岸台预制凹坑)信息而记录在光盘中的系数εo(擦除/记录功率比)通过利用Pre＝εo·Pbt进行计算来设定。

专利文献1：日本特开2003-303416号公报

发明内容

但是，即使在记录1张光盘的期间，有时也会切换记录速度，或者装置内的温度发生变化等这样的装置状态发生变化而需要重新求出最佳记录功率。因此，在每次装置状态发生变化时，当通过以16阶的记录功率进行测试数据的记录来重新求出最佳记录功率时，用于OPC测量的区域、即用于记录测试数据的区域变大。

因此，在使用OPC测试用的测试区域被限于外周部分的光盘时，需要减小一次求出最佳记录功率所使用的区域。

另外，在每次装置状态发生变化时，当为了重新求出最佳记录功率而以16阶的记录功率进行测试数据的记录时，OPC测试所需的时间也变长。

本发明是鉴于上述问题而作出的，其目的在于减小导出最佳记录功率所使用的光盘区域、并缩短导出最佳记录功率所需的时间。

本发明是对光盘记录再现装置中的记录工作时的记录功率进行控制的记录工作控制，其特征在于，基于通过在以多种记录功率对光盘进行记录工作、并以预定的再现激光强度再现各记录信息时测量反射光强度而得到的再现RF信号，算出与各记录功率相对应的信息记录精度，基于算出的信息记录精度来取得表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系信息，将取得的关系信息存储于关系信息存储部，基于存储于关系信息存储部的关系信息来求出与目标信息记录精度对应的记录功率，并控制光拾取器以按所求出的记录功率对光盘进行信息记录，基于光盘记录再现装置的状态来修正存储于关系信息存储部的关系信息。

由此，基于光盘记录再现装置的状态来修正存储于关系信息存储部的关系信息，因此在光盘记录再现装置的状态发生变化时，不需再次进行基于多种记录功率的记录工作，就能够取得新的关系信息。因此，能够减小用于求出记录功率所使用的光盘的区域，能够缩短求出记录功率所需时间。

根据本发明，在光盘记录再现装置的状态发生变化时，不会再次进行基于多种记录功率的记录工作，就能够取得新的关系信息。因此，能够减小导出最佳记录功率所使用的光盘的区域、并缩短导出最佳记录功率所需的时间。

附图说明

图1是表示本发明实施方式的光盘记录再现装置100的结构的框图。

图2是例示出该实施方式的、按每个扇区对光盘一边改变记录功率一边进行数据记录时的各扇区的数据调制度的关系的说明图。

图3是表示该实施方式的、信号控制部110的结构的框图。

图4是表示该实施方式的、激光器控制部150的结构的框图。

图5是表示该实施方式的、用事先求出的公式表示的调制度m的修正前曲线、和修正了该修正前曲线的修正曲线的说明图。

图6是表示该实施方式的、光盘记录再现装置100的工作的流程图。

图7是表示该实施方式的、光盘记录再现装置100的工作的流程图。

图8是表示该实施方式的、进行了某理想化变化后的调制度m、和基于该调制度的调制度微分效率γ的图表。

图9是表示该实施方式的、在测定调制度m中发生了一些偏差时的调制度m、和此时的微分效率γ的图表。

图10是表示该实施方式的、在测定中发生了一些偏差时的调制度m和与该调制度m对应的微分效率γ、以及根据调制度m求出的近似式的近似曲线和与该近似曲线的各点对应的微分效率γ的图表。

标记的说明

100光盘记录再现装置

101光拾取器

102主轴电动机

103记录工作控制装置

104调制度计算部(信息记录精度计算部)

110信号控制部

111RF调整部

112LPF

113EQ调整部

114二值化处理部

115PLL电路

116峰值检测部

117底部检测部

120信号质量运算部

130存储器(关系信息存储部)

140关系式计算部(关系信息取得部)

150激光器控制部

151发光强度控制部

152记录图案生成部

160电动机控制部

170中断部

180关系式修正部(关系信息修正部)

190系统控制器

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明的实施方式。

《发明的实施方式》

<光盘记录再现装置100的结构>

图1是表示本发明实施方式的光盘记录再现装置100的结构的框图。

本实施方式的光盘记录再现装置100在实际数据记录之前进行称为OPC的记录功率的最佳化处理。OPC是如下这样的处理：使记录功率多阶地变化来进行测试数据的记录，再现利用各记录功率所记录的测试数据来分别评价信号质量，从而得到最佳记录功率。本实施方式的光盘记录再现装置100针对作为设置于光盘上预定位置的测试区域的16扇区，使激光的记录功率以16阶发生变化来进行测试数据的记录。以对应的1阶的记录功率对各扇区进行记录。然后，再现记录于各扇区的测试数据来分别评价信号质量，得到最佳记录功率。在此，记录功率是指用于向光盘记录数据的激光输出水平(强度)。在本实施方式中，使用调制度m作为评价再现信号质量的值。在此，调制度m是利用公式m＝(pk-btm)/pk由含有DC(Direct Current：直流)成分的再现RF信号(Radio Frequency信号：射频信号)的包络线的峰值电压(pk)和底部电压(btm)计算出的参数，在该值为预定值时，再现信号的质量视为最佳。

另外，作为进行OPC的方法，有ROPC(Running Optimum PowerControl：运行最佳功率控制)这样的方法。ROPC是指比较OPC时和数据记录时的激光器的反射光强度并随时修正最佳记录功率以使反射光强度维持恒定的方法。本实施方式的光盘记录再现装置100与该ROPC同样，观测数据记录时的激光器反射光强度，在激光器反射光强度超出规定值之外时中断记录，重新计算记录功率。在本实施方式中，通过测定中断即将进行前的记录部分的信号质量来修正关系式，基于修正后的关系式计算记录功率。本实施方式的光盘记录再现装置100中，在用所得到的最佳记录功率对光盘200记录OPC信息(OPC执行时的记录再现装置和光盘表面的温度、线速度、所使用的光盘与记录再现装置的固有编号等表示OPC执行时工作状况的信息、以及导出的最佳记录功率等)时，通过测定激光器反射光强度来得到上述规定值。

图2是与一边以16阶改变记录功率一边以扇区为单位进行记录的数据相对应的调制度的例子。在该图中，记录功率自低记录功率向高记录功率发生变化。通常，以低记录功率进行的记录面的调制度测量为较低，以高记录功率记录的调制度测量为较高。但是，在使记录功率线性地增加或减少的情况下，调制度的变化也不是线性变化的(调制度的斜率非恒定)。相对于一定值以上的记录功率，调制度以逐渐接近特定值的方式发生变化。

如图1所示，本实施方式的光盘记录再现装置100具有光拾取器101、主轴电动机102以及记录工作控制装置103。记录工作控制装置103由被称为LSI(Large-Scale Integrated Circuit：大规模集成电路)的集成电路构成。

光拾取器101向利用主轴电动机102所产生的动力而旋转的光盘200照射激光，从而向光盘200记录数据。并且，光拾取器101接受所照射的激光的反射光，通过测量接受到的发射光的强度来得到再现RF信号。由此，再现光盘200的数据。另外，光拾取器101在记录时也接受所照射的记录激光的反射光，由接受到的反射光得到表示反射光量的信号。

记录工作控制装置103包括：调制度计算部104(信息记录精度计算部)、存储器130(关系信息存储部)、关系式计算部140(关系信息取得部)、激光器控制部150、电动机控制部160、中断部170、关系式修正部180(关系信息修正部)以及系统控制器190。调制度计算部104具有信号控制部110和信号质量运算部120。

信号控制部110接收由利用光拾取器101接受到的反射光而得到的再现RF信号，并转换为再现数据将其输出。

图3是表示信号控制部110的结构的框图。

信号控制部110包括：RF调整部111、LPF112(Low Pass Filter：低通滤波器)、EQ调整部113(Equalizer调整部：均衡器调整部)、二值化处理部114、PLL电路115(Phase Locked Loop：锁相环)、峰值检测部116以及底部检测部117。

RF调整部111调整由再现激光的反射光得到的再现RF信号的波形。

LPF112除去由RF调整部111调整了波形的信号的噪声。

EQ调整部113对由LPF112除去了噪声的信号的波形进行整形。

二值化处理部114基于由EQ调整部113整形后的波形而输出二值化数据。

PLL电路115生成与上述二值化数据同步的同步时钟。

未图示的解调部使用上述同步时钟从上述二值化数据中抽取再现数据并将其解调。

在OPC工作时再现以16阶的记录功率记录于测试区域的16个扇区的测试数据时，信号控制部110输出用于测定信号质量的数据。

在测试数据再现时，峰值检测部116(峰值检测器)和底部检测部117(底部检测器)基于由EQ调整部113整形后的波形而取得信号质量的运算所必需的数据。更详细而言，基于由EQ调整部113整形后的波形，取得表示峰值电压(pk)的数据和表示底部电压(btm)的数据。针对各扇区的测试数据取得这些数据，并发送至信号质量运算部120。

信号质量运算部120使用由峰值检测部116和底部检测部117取得的表示峰值电压(pk)的数据和表示底部电压(btm)的数据，来计算调制度m。更详细而言，在再现测试数据时，计算各扇区的测试数据的调制度m。在此，调制度m是根据公式m＝(pk-btm)/pk计算的参数。

存储器130(关系式存储部)将由信号质量运算部120计算的各扇区的测试数据的调制度与所对应的记录功率相关联地存储。存储器130还存储由后述的关系式计算部140计算的关系式的参数。另外，在记录OPC信息时，将由光拾取器101测定的反射光量作为基准反射光量而存储。

在16个扇区的测试数据的再现结束时，关系式计算部140根据存储于存储器130中的16扇区的测试数据的调制度、即与16种各记录功率对应的调制度来计算表示记录功率与调制度的关系的关系式的参数。作为关系式，例如使用近似的4次多项式。另外，也可以除偏差较大的测定点之外而近似。

激光器控制部150控制记录和再现所使用的激光。在OPC工作后的实际的数据记录时控制光拾取器101，使得将目标调制度代入到用存储于存储器130的参数表示的关系式而得到最佳记录功率，以该最佳记录功率向光盘200进行信息记录。

图4是表示激光器控制部150的结构的框图。

激光器控制部150包括发光强度控制部151和记录图案生成部152。

发光强度控制部151控制记录和再现所使用的激光器功率(激光的发光强度)。在再现处理时，以制造装置时所设定的预定的再现用激光器功率来控制再现激光。在数据记录之前将激光器的记录功率最佳化的OPC处理时、和将实际要记录的数据记录于光盘200上的通常记录时，进行记录处理。在进行测试数据的记录时，使记录激光变化为预定的16阶的记录功率。另外，在记录OPC信息时和通常记录时控制记录激光以按所得到的最佳记录功率进行记录。

记录图案生成部152基于应向光盘200记录的信息来生成记录图案信号。

电动机控制部160进行主轴电动机102的控制处理。

在通常记录时，当由光拾取器101测定的反射光量与存储于存储器130的基准反射光量产生差异时，中断部170使光盘记录再现装置100中断记录工作。记录工作的中断例如通过由激光器控制部150使光拾取器101进行的记录激光的照射中断而进行。

在由中断部170中断了记录时，关系式修正部180基于上述中断之前记录的信息的调制度来修正存储于存储器130的关系式的参数，将修正后的参数存储于存储器130中。另外，在光盘200的线速度发生变化时，按照线速度如何变化来修正存储于存储器130的关系式的参数，将修正后的关系式的参数存储于存储器130中。

例如，通过增减存储于存储器130的关系式的参数来进行修正。

参照图5说明由中断部170中断了记录时的关系式修正部180的修正方法的例子。

图5是表示事先求出的公式所表示的调制度m的修正前曲线和将该修正前曲线修正后的修正曲线的说明图。

在已经求出表示图5所示的修正前曲线(近似曲线)的关系式并将其参数存储于存储器130时，能够不需再次进行测试数据的记录而得到新的公式。以下，基于图5所示名称进行说明。由中断部170进行的记录中断即将进行前，以将目标调制度m_tgt代入到表示修正前曲线的公式而计算出的记录功率来进行记录。将该记录功率设为测定功率Pmsr。若取得修正前曲线和现在记录条件的匹配，则根据以测定功率Pmsr进行记录的数据得到的调制度m应与图5中的点201所示的目标调制度m_tgt(作为目标的调制度)为相同值。但是，由于记录条件的变化，如图5中的点202所示那样，根据由中断部170进行的记录中断即将进行前所记录的数据得到的调制度m成为与目标调制度m_tgt不同的实测调制度m_msr。这意味着在使用测定功率Pmsr进行记录时，记录品质与目标调制度m_tgt同实测调制度m_msr的差分量成比例地降低。此外，根据由中断部170进行的记录中断即将进行前所记录的数据得到的调制度m，可通过在中断后由光盘记录再现装置100将中断即将进行前所记录的数据进行再现并由信号质量运算部120进行计算而得到。

在本实施方式中，关系式修正部180将用存储于存储器130的参数表示的公式修正为表示修正曲线的公式。修正曲线是使修正前曲线向记录功率的正或负的方向移动而成的曲线，且穿过纵轴坐标为实测调制度m_msr、横轴坐标为测定功率Pmsr的点。在图5的例子中，修正曲线是使修正前曲线向记录功率的正方向移动而成的曲线，是穿过纵轴坐标为实测调制度m_msr、横轴坐标为测定功率Pmsr的点202的曲线。即，用存储于存储器130的参数表示的公式被修正为表示该修正曲线的公式。

当通过求出修正曲线而求出将用存储于存储器130的参数表示的关系式修正后的公式时，容易根据目标调制度m_tgt求出最佳功率Pbt。

另外，在光盘200的线速度发生了变化时，存储于存储器130的关系式的参数按照线速度如何发生变化而进行相加或相减预定修正系数的修正。上述预定修正系数在制造装置时被预先设定。

系统控制器190控制调制度计算部104、存储器130、关系式计算部140、激光器控制部150以及电动机控制部160。

<光盘记录再现装置100的工作>

在如上述那样构成的光盘记录再现装置100中，进行以下说明的工作。

以下，参照图6和图7说明本实施方式的光盘记录再现装置100的工作。

在图6中，(S1001)～(S1005)是OPC处理。

(S1001)针对测试区域的16个扇区一边改变记录功率一边以1个扇区为单位进行测试数据的记录，再现所记录的数据。调制度计算部104根据由再现激光的反射光测定的再现RF信号来计算出各记录区域(各扇区)的调制度。

(S1002)对各区域(各扇区)进行记录时的记录功率作为Pow[0～15]被存储于存储器130。另外，与各记录功率对应的调制度作为Mod[0～15]被存储于存储器130。

(S1003)关系式计算部140使用在(S1002)中存储于存储器130的记录功率和调制度来计算利用最小二乘法的近似曲线的公式f(m)的参数。另外，该近似曲线的公式的参数由存储器130存储。

(S1004)使用所求出的近似曲线的公式f(m)的参数和作为目标的目标调制度m_tgt来求出最佳记录功率Pbt。

(S1005)使用在(S1004)求出的最佳记录功率将OPC信息记录于光盘200上。此时，光拾取器101测定反射光量RF_ref。所测定的反射光量RF_ref作为了解信息记录精度变化的基准保持在存储器130。

(S1006)开始向光盘进行记录。

(S1007)判断记录处理是否结束，在未结束的情况下进入(S1008)。

反复进行(S1008)以后的工作，直到记录处理结束为止。

(S1008)确认是否进行了线速度的切换，若进行了切换则进入(S1012)，若未进行切换则进入(S1009)。

定期进行确认(S1008)是否进行了线速度的切换。

(S1009)光拾取器101测定此时的反射光量RF_ref。

(S1010)比较(S1009)所测定的反射光量RF_crnt和(S1005)所测定的基准反射光量RF_ref。在RF_crnt与RF_ref不同时、即反射光量变化了预定以上时，视为记录精度恶化。

(S1011)在不进行线速度的切换、且也未发现反射光量的变化时，继续数据的记录。

(S1012)关系式修正部180在切换了线速度时使用在(S1003)求出的公式f(m)的参数来计算修正了公式f(m)而成的公式fz(m)的参数。

(S1013)激光器控制部150使用在(S1012)计算的公式fz(m)的参数和目标调制度来求出相对于切换后线速度的最佳记录功率。

(S1014)将在(S1012)计算的近似曲线的公式fz(m)的参数保持于存储器130。

(S1015)以在(S1013)求出的最佳记录功率再开始进行记录。

(S1016)光拾取器101测定此时的反射光量。所测定的发射光量作为了解信息记录精度变化的基准RF_ref而由存储器130进行保持。对于该切换后的线速度，(S1010)中的比较使用该新的反射光量RF_ref。然后，返回(S1007)。

(S1017)中断部170在反射光量发生了变化时使光盘记录再现装置100中断记录处理。于是，对在光盘200的中断即将进行前所记录的部分进行再现。然后，信号质量运算部120计算基于再现中断即将进行前所记录的数据时的反射光强度的调制度m_msr。

(S1018)比较在(S1017)计算的调制度m_msr和目标调制度m_tgt，若存在差异则进入(S1019)的处理，若不存在差异，则再开始数据的记录处理。

(S1019)关系式修正部180使用近似曲线的公式f(m)的参数和在(S1017)计算的测定调制度m_msr并根据近似曲线的公式f(m)求出假定的记录功率Pcrnt。记录功率Pcrnt是通过将测定调制度m_msr代入公式f(m)而求出的。

(S1020)关系式修正部180求出在(S1019)所求出的记录功率Pcrnt与所设定的最佳记录功率Pbt之差Pdf。

(S1021)关系式修正部180使用在(S1020)所求出的差Pdf来修正近似曲线的公式f(m)，求出修正后的近似曲线(修正曲线)的公式fadj(m)的参数。

(S1022)关系式修正部180使用修正后的近似曲线fadj(m)的参数和目标调制度来计算最佳记录功率。即，将目标调制度代入修正后的近似曲线fadj(m)来求出新的最佳记录功率Pbt。

(S1023)将在(S1021)求出的修正曲线fadj(m)的参数保持于存储器130。

(S1024)使用在(S1022)算出的记录功率Pbt再次开始数据记录。

在数据记录结束之前定期进行(S1007)～(S1024)的处理。

此外，由光盘记录再现装置100进行的数据的记录和再现的工作是通过由记录工作控制装置103控制光拾取器101和主轴电动机102而进行的。

在(S1001)～(S1024)说明的工作中的各种运算处理和判断处理也可以由记录工作控制装置103的任一模块进行。

在1张盘的记录中记录条件未变化时，能够用由一次作成的关系式得出的记录功率进行整个盘的记录，但在记录条件发生变化时，则由一个关系式得出的记录功率未必是适于在各种记录条件下的记录的高精度的记录功率。然而，多数情况下根据变化的记录条件而新计算的关系式与一次计算的关系式接近。在这种情况下，如本实施方式这样，通过修正一次作成的关系式，即使在记录条件发生变化的情况下，也能够得到更高精度的测定结果。

<关于评价指标>

在本实施方式的光盘记录再现装置100中，通过求出调制度与记录功率的关系式的参数来求出最佳记录功率，但也可以取代调制度而使用其他表示信息记录精度的值。

例如，作为用于求出最佳记录功率的评价指标，除了调制度m之外，也可以使用表示RF信号的非对称性的β。RF信号的非对称性的β是基于上述峰值电压(pk)、底部电压(btm)和RF信号的DC值(dc)、利用β＝(pk+btm-2dc)/(pk-btm)而计算的参数。可以说，该值越接近0，RF信号越具有以DC值为中心的对称性，即与RF信号相对应的坑图案为上下对称。因此，能够将RF信号的非对称性的β作为最佳记录功率的评价指标。

另外，也可以使用调制度的微分效率γ作为评价指标来调整最佳记录功率。调制度的微分效率γ是根据调制度的增加量(dm)和记录功率(P)的增加量(dP)并利用公式γ＝(dm/dP)/(m/P)计算的参数。调制度的微分效率γ也与调制度同样，在该值处于预定范围内时视为再现信号质量适当，用作确定最佳记录功率的指标。

在此，对将微分效率γ用作评价指标的方法进行说明。

图8是表示进行某种理想变化的调制度m和基于该调制度的调制度的微分效率γ的图表。

由于调制度m规律性增加，因此作为其微分效率的γ也规律性发生变化。此时的调制度的微分效率γ是指根据调制度的增加量(dm)和记录功率(P)的增加量(dP)并利用γ＝(dm/dP)/(m/P)计算的参数。将微分效率γ作为评价指标时，确定作为目标的γ的值，找到目标γ值与微分效率γ曲线的交点，根据所求出的交点确定记录功率。

图9是表示调制度m的测定中发生了一些偏差时的调制度m和此时的微分效率γ的图表。

对于调制度m，如图8所示那样的是理想的，但由于记录时的条件、再现的精度等的关系，未必形成如图8所示那样的平缓的曲线。如图9所示，考虑到有时调制度m的增加量相对于记录功率的增加量并不是规律性的。与将调制度m作为评价指标的情况相比，在将微分效率γ作为评价指标时，只要含有一点偏差就无法求出结果的可能性较高。这是由于，当如图9的微分效率γ那样反复进行增减时，有时与确定为目标的目标γ值的交点并非确定1点，即使在确定的情况下，其可靠性显著降低。

因此，存在这样的方法：根据已算出的调制度m求出多项近似式，对该近似式测定微分效率γ。

图10是表示在测定中发生了一些偏差时的调制度m和与该调制度m对应的微分效率γ、以及根据调制度m求出的近似式的近似曲线和与该近似曲线的各点对应的微分效率γ的图表。

如上所述，在根据产生了偏差的调制度m直接求出微分效率γ的方法中，无法得到确保装置工作的充分可靠性的结果。因此，求出调制度m的近似曲线。近似的方法有各种方法，但在此示出的是对调制度m进行4次多项式的近似的例子。也能够基于在此求出的4次多项式所表示的近似曲线来求出微分效率γ的近似曲线。

根据由测定值计算的未进行近似的调制度求出的微分效率γ在一系列变化中反复进行增减的情况较多。因此，通过将该微分效率γ用作评价指标而得到适当记录功率是较困难的。然而，根据基于调制度m的近似曲线而求出的微分效率γ的近似曲线，能够对于事先确定好的目标γ值确定一个记录功率。因此，基于调制度m的近似曲线而求出的微分效率γ的近似曲线能够用作更高精度的评价指标。

《其他实施方式》

(1)在上述实施方式中，在记录开始时进行OPC来求出关系式，但也可以不是将与一次求出的关系式相关的信息保存于装置的存储器130、即系统上的存储器上，而是记录于光盘上的例如写入(lead-in)区域，在第2次以后的记录开始时，在驱动信息等与之前求出关系式时相符合的情况下调用记录于光盘200上的关系式信息。由此，能够更高效率地调整记录功率。

(2)在上述实施方式中，在记录开始时进行OPC来求出关系式，但也可以通过使驱动器上的系统存储关系式来缩短最初的OPC所需要的处理。

(3)在上述实施方式中，在由光拾取器101测定的反射光量与基准反射光量产生差异时，以及光盘200的线速度发生变化时，进行由关系式修正部180进行的修正。但是，也可以在其他任意定时进行修正。另外，也可以只在由光拾取器101测定的反射光量与基准反射光量产生差异时或光盘200的线速度发生变化时进行修正。另外，也可以在除了反射光量和线速度以外的光盘记录再现装置100的状态发生变化时进行修正。例如，可以在除了线速度以外的光盘记录再现装置100的对信息记录精度有影响的工作条件发生变化时进行修正。在工作条件改变时，多数情况下最适于记录的记录功率也发生变化，因此，可以说，在工作条件改变时重新计算记录功率对用于正确记录数据尤为重要。

具体而言，例如可以在随着记录速度的改变而光盘200的角速度、即旋转速度发生变化时进行修正。

对于在线速度或角速度发生变化时进行修正，在采用以因光盘200上的记录位置的不同而不同的记录速度进行记录的记录方式的情况下尤为有用。这样的记录方式有CLV(Constant Linear Velocity：恒线速)方式、ZCLV(Zoned Constant Linear Velocity：区域恒定线速度)方式、CAV(Constant Angular Velocity：恒定角速度)方式、PCAV(Partial Constant Angular Velocity：局部恒定角速度)方式等。这些是在内周以低速度进行记录，随着越接近外周，越以更高速进行记录的方式，用于多种介质的记录。

另外，能够用于以OPC测定的区域本来是最内周或最外周。在以往公知的OPC中，在进行最内周的OPC的区域，以在最内周进行记录的速度、或以其为基准的速度进行OPC，从而得到在内周的最佳记录功率。与内周以后的进行数据记录的区域的记录速度对应的记录功率是如下这样求出的：基于最内周的OPC结果来推测中周和外周的记录功率，或在进行最外周的OPC的区域以在最外周进行记录的速度或以其为基准的速度进行OPC，测量外周的最佳记录功率，基于内周的OPC结果和外周的OPC结果来推测中周的记录功率。

如此，通过根据由内周或内外周的OPC结果得出的记录功率来推测求出中周的记录功率时，按照记录速度修正在内周或内外周得到的关系式，根据修正后的公式求出记录功率，从而得到与以其记录速度进行了OPC的结果相近的记录功率。

另外，也可以在测定到光盘记录再现装置100的温度、或光盘200的表面温度的变化时进行修正。光盘记录再现装置100的温度的测定例如由为了测定LSI温度而设置在含有记录工作控制装置103的LSI内部的温度测定部来进行。另外，光盘200的表面温度的测定例如由设置于该LSI外部且直接测定光盘200表面温度的温度测定部来进行。被认为从光拾取器101照射的激光的发光强度会因光盘记录再现装置100工作的环境温度、光盘200自身的表面温度而发生较大变化。例如，在光盘记录再现装置100工作的环境温度较高时，即使记录功率等激光器发光强度的设定与低温条件下相同，从光拾取器101照射的激光的发光强度也通常会变低。因此，在确定记录功率时的环境温度、表面温度与以前进行OPC时发生变化了时，通过修正关系式，能够得到更适于记录的高精度记录功率。

(4)在上述实施方式中，光盘200的线速度变化了时，进行与线速度如何变化相应的修正。但是，也可以进行基于由线速度变化后最初记录的数据得到的调制度的修正。同样，在除了线速度以外的工作条件变化了时进行修正的情况下，既可以进行与工作条件如何变化相应的修正，也可以进行基于由工作条件变化后最初记录的数据得到的调制度的修正。

例如，在如ZCLV方式的记录那样，将光盘200上的记录区域分为几个区域，对每一区域改变记录条件的记录中，可以对切换了记录区域的最初记录求出调制度m，将此时的记录功率设为上述测定功率Pmsr，将与该记录相对的调制度设为测定调制度m_msr，如图5例子说明那样地进行关系式的修正。在ZCLV记录中，在光盘200上的每一记录位置(ZONE)线速度恒定，若切换记录中的ZONE，则光盘200的线速度也发生改变，因此，需要随时设定记录功率。

另外，可以如CAV(Constant Angular Velocity)记录那样，在预先特定记录中线速度发生变化的光盘200上的部位或记录中线速度保持恒定的光盘200上的间隔的情况下，每次在测定光盘200上的特定部位或特定间隔记录数据时测定调制度，根据此时的记录功率与调制度之间关系修正关系式，再次进行记录功率的调整。

(5)另外，对于具有记录条件不同的多个记录区域的1张光盘，以通过将目标调制度分别代入各种关系式而得出的多种记录功率进行记录，且与各存储区域相对应的关系式的参数记录于存储器130中的情况下，若修正其中的一个关系式的参数，则也可以对与除此之外的其他关系式对应的参数也进行同样修正。由此，能够进行质量精度较高的记录。

(6)另外，上述实施方式的光盘记录再现装置100通过将目标调制度代入基于与16种记录功率对应的16个调制度而计算出的关系式，来求出最佳记录功率。但是，也可以不求出关系式，而选择存储于存储器130中的16个调制度中接近目标调制度的调制度所对应的记录功率作为最佳记录功率。在这种情况下，调制度计算部104发挥关系信息取得部的功能。并且，也可以是，在线速度等光盘200的状态发生了变化时，存储于存储器130的16个调制度按照光盘200的状态如何变化而被修正，修正后的16个调制度存储于存储器130中。具体而言，可以取代关系式修正部180而设置修正部，在线速度变化了预定量时，该修正部以预定倍增或预定量增减调制度来进行修正，并将修正后的16个调制度存储在存储器130中。

即，为了求出最佳记录功率而使用的信息不限于关系式的参数，只要是表示多个记录功率与所对应的调制度之间关系的信息即可。

工业上的实用性

本发明的记录工作控制装置、集成电路、光盘记录再现装置以及记录工作控制方法具有能减小用于导出最佳记录功率的光盘区域且缩短导出最佳记录功率所需时间这样的效果，作为对例如DVD+R/RW/R DL(Dual Layer)、DVD-R/RW/R DL、DVD-RAM或者下一代光盘等光盘进行数据的记录和再现的光盘记录再现装置的控制激光强度的技术等是有用的。

Claims (12)

1.一种记录工作控制装置，对光盘记录再现装置中的记录工作时的记录功率进行控制，其特征在于，包括：

信息记录精度计算部，其基于再现RF信号来计算与各记录功率相对应的信息记录精度，上述再现RF信号是通过在以多种记录功率对光盘进行记录工作并以预定的再现激光强度来再现各记录信息时测量反射光强度而得到的；

关系信息取得部，其基于由上述信息记录精度计算部计算出的信息记录精度来取得表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系信息；

关系信息存储部，其存储由上述关系信息取得部取得的关系信息；

激光器控制部，其基于存储在上述关系信息存储部中的关系信息来求出与目标信息记录精度对应的记录功率，并控制光拾取器以按所求出的记录功率对上述光盘进行信息记录；

关系信息修正部，其基于上述光盘记录再现装置的状态来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息；以及

中断部，其在记录工作中使上述光盘记录再现装置中断记录工作，其中，

上述信息记录精度计算部还计算在上述中断即将进行前记录的信息的信息记录精度，

上述关系信息修正部基于在上述中断即将进行前记录的信息的信息记录精度来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息。

2.根据权利要求1所述的记录工作控制装置，其特征在于：

上述中断部在记录工作中测量到记录精度恶化时使上述光盘记录再现装置中断记录工作，

上述关系信息修正部在上述记录工作中测量到记录精度恶化时，基于上述中断即将进行前记录的信息的信息记录精度来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息，

上述关系信息修正部在影响上述光盘记录再现装置的信息记录精度的工作条件发生变化时，基于上述光盘记录再现装置的上述工作条件如何变化来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息。

3.根据权利要求2所述的记录工作控制装置，其特征在于：

影响上述光盘记录再现装置的信息记录精度的工作条件是上述光盘记录再现装置的温度或上述光盘的表面温度。

4.根据权利要求2所述的记录工作控制装置，其特征在于：

影响上述光盘记录再现装置的信息记录精度的工作条件是上述光盘的角速度。

5.根据权利要求2所述的记录工作控制装置，其特征在于：

影响上述光盘记录再现装置的信息记录精度的工作条件是上述光盘的线速度。

6.根据权利要求1所述的记录工作控制装置，其特征在于：

上述中断部在记录工作中测量到记录精度恶化时使上述光盘记录再现装置中断记录工作。

7.根据权利要求1所述的记录工作控制装置，其特征在于：

上述关系信息是表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系式的参数。

8.根据权利要求1所述的记录工作控制装置，其特征在于：

上述关系信息是使由上述信息记录精度计算部算出的信息记录精度与对应的记录功率相关联而表示的信息。

9.一种集成电路，对光盘记录再现装置中的记录工作时的记录功率进行控制，其特征在于：包括：

信息记录精度计算部，其基于再现RF信号来计算与各记录功率相对应的信息记录精度，上述再现RF信号是通过在以多种记录功率对光盘进行记录工作并以预定的再现激光强度来再现各记录信息时测量反射光强度而得到的；

关系信息取得部，其基于由上述信息记录精度计算部计算出的信息记录精度来取得表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系信息；

关系信息存储部，其存储由上述关系信息取得部取得的关系信息；

激光器控制部，其基于存储在上述关系信息存储部中的关系信息来求出与目标信息记录精度对应的记录功率，并控制光拾取器以按所求出的记录功率对上述光盘进行信息记录；

关系信息修正部，其基于上述光盘记录再现装置的状态来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息；以及

中断部，其在记录工作中使上述光盘记录再现装置中断记录工作，其中，

上述信息记录精度计算部还计算在上述中断即将进行前记录的信息的信息记录精度，

上述关系信息修正部基于在上述中断即将进行前记录的信息的信息记录精度来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息。

10.一种光盘记录再现装置，其具有权利要求9所述的集成电路。

11.一种记录工作控制方法，使用对光盘记录再现装置中的记录工作时的记录功率进行控制的记录工作控制装置，其特征在于：包括：

信息记录精度计算步骤，其基于再现RF信号来计算与各记录功率相对应的信息记录精度，上述再现RF信号是通过在以多种记录功率对光盘进行记录工作并以预定的再现激光强度来再现各记录信息时测量反射光强度而得到的；

关系信息取得步骤，其基于在上述信息记录精度计算步骤中计算出的信息记录精度来取得表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系信息；

关系信息存储步骤，其将在上述关系信息取得步骤中取得的关系信息存储在关系信息存储部中；

激光器控制步骤，其基于存储在上述关系信息存储部中的关系信息来求出与目标信息记录精度对应的记录功率，并控制光拾取器以按所求出的记录功率对上述光盘进行信息记录；

关系信息修正步骤，其基于上述光盘记录再现装置的状态来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息；

中断步骤，其在记录工作中使上述光盘记录再现装置中断记录工作；以及

中断即将进行前记录精度计算步骤，其计算在上述中断即将进行前记录的信息的信息记录精度，其中，

上述关系信息修正步骤基于在上述中断即将进行前记录精度计算步骤中计算出的信息记录精度来修正存储在上述关系信息存储部中的关系信息。

12.根据权利要求11所述的记录工作控制方法，其特征在于：

上述关系信息是表示记录功率与信息记录精度之间关系的关系式的参数。

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