移位寄存器
技术领域
本发明涉及一种寄存器,尤其涉及一种移位寄存器。
背景技术
低温多晶硅(LTPS)制作技术的成熟,使众多集成电路在玻璃基板上实现变为可行,在显示面板上若可将驱动电路设计于其中,则可省下周边IC的成本,简化面板生产过程、并提高合格率。
已知的移位寄存器(Shift Register),在1971年Robert、Stamford等人有相似的设计(如美国专利第3610951号),如图8所示,此设计有六个元件,分成二级相同的构架,由不同相位(phase)的二个时脉clk1、clk2将数据输入作时间的移位再由数据输出端输出。图9-1、9-2为此构架所模拟出的节点电压波形图,图10为原专利所描述的控制时脉及输出入关系波形,比较图9-1与图10,可发现在相同的控制时脉Clk1、Clk2及输入讯号下,所得的输出波形却与专利所附的输出波形不同(如图9-1圈起来的地方所示),若使用图9-2的控制时脉也仅能得部分相同输出(Data-out,图9-2左边圈起来的地方所示);根据此一节点模拟,虽然对输入讯号有移位的作用,但时脉二(Clk2)在每一次电位变化时,数据输出端也跟着变化,从实际应用于面板显示器而言,此构架应该不能称为移位寄存器。其中若将元件换为NMOS(N沟道金属氧化物半导体),也得到同样的结果。
另外,在1976又有一相似的设计(如美国专利第3937984号),如图11所示,它的电容C一端是接到输出点B点,且接输出端的MOS(金属氧化物半导体)栅极是接在一个参考电位Vd1,此参考电位是当输出端无讯号输出时,用来维持一高或低准位电压;以PMOS(P沟道金属氧化物半导体)设计为例,Vd1须设为低电位,使输出在非触发讯号的状态时,维持在高准位电压,因此Vd1的电位若太低,则因PMOS的源极(source)端是接正电源端Vdd,会使输出讯号无法达到理想的低电位,如图12的实线圈所示,若Vd1电位不够低,则输出讯号虽可达较低准位,却易受控制时脉干扰,如图12的圆圈虚线所示,所以使用另一个时脉来取代参考电位Vd1,则可改善此项缺陷。
发明内容
本发明的主要目的,在于解决上述传统的缺陷,为避免该缺陷的存在,本发明在于简化元件的使用数目,而同样达到电路功能的运作,区别于其它复杂的电路设计。
为达到上述的目的,本发明的移位寄存器,至少包括有:第一、二、三时脉控制信号控制各开关,可将输入的讯号储存在电容上并顺序地传递到下一级,传递到下一级的同时也用来激活面板显示器中的每一列像素开关,以接收数据端送出的信息,显示在像素上;此控制时脉的特性是第一、二、三时脉控制信号不能同时为低电位,以防每一级电路的开关(第二、三开关)形成直流路径(DC path)而烧毁。
附图说明
图1是本发明的移位寄存器的一、二级电路示意图。
图2是为图1的实际电路线路示意图。
图3-1是本发明的控制信号与输入信号示意图。
图3-2是本发明的输入信号第一、二级输出信号示意图。
图4是本发明的又一实施例示意图。
图5是为图4构架下的输入与第一至第七级输出波形示意图。
图6是本发明的再一实施例示意图。
图7是图6构架下的输入与第一至第七级输出波形示意图。
图8是传统二级移位电路示意图。
图9-1、9-2是图8所模拟的节点电压波形示意图。
图10是图8先前设计(prior art)节点电压波形示意图。
图11是另一传统移位电路示意图。
图12是图11的节点电压波形示意图。
发明详述
现将有关本发明的详细内容及技术说明,参照附图说明如下:
请参阅图1、2所示,是本发明的第一、二级移位寄存器及图1的实际电路线路示意图,以此设计可组成任意级数的移位寄存器电路,如图所示:本发明的移位寄存器,至少包括有:第一级电路1,承接输入讯号做时间移位后送出讯号给下一级,并同时启动面板显示器中的一列像素开关,以接收数据端送出的信息,显示在像素上。
上述所提到的第一级电路1在输入端上具有一第一开关11,该第一开关11的输出端16做为第二开关12的输出端16,第一开关11的输出端16也接有第一储存元件15的一端以储存第一级电路1的输入讯号,而第二开关12的一输出端18与第三开关13的一输出端18连接,做为本级的讯号输出端18的节点(node);前述第一开关11的输入端8输入有一输入信号14,而第一开关11的控制端10有一第一时脉控制信号(CLK1)3;另外,前述的第二开关12的另一控制端19有一第二时脉信号(CLK2)4;而且,前述的第三开关13的控制端6有一第三时脉控制信号(CLK3)5;此第三开关13的另一输入端17接一固定电源。复制该第一级电路1作为第二级电路2,第一控制讯号(CLK1)3改接于第五开关22的一输入端26,第二控制讯号(CLK2)4改接于此级的第四开关21的控制端20。
上述的各开关皆以MOS(PMOS、NMOS、CMOS)元件作为开关,配合适当的时脉控制信号,来传递移位讯号。
请参阅图1、2、3-1、3-2所示,是本发明的二级输出移位寄存器及图1的实际电路线路,与输入信号及第一、二、三时脉控制信号示意图。如图所示:上述所提到的各开关以PMOS做开关为例,由第一时脉控制信号(CLK1)3、第二时脉控制信号(CLK2)4、第三时脉控制信号(CLK3)5组成有二级输出的移位寄存器电路,更后级的电路也相同,只是每级相邻电路第一时脉控制信号(CLK1)3、第二时脉控制信号(CLK2)4所控制的节点10、20及连接的控制端19、26位置要互换,以达到将输入讯号移位的效果,又,MOS元件的栅极(Gate)与源极(Source)或漏极(Drain)之间有一寄生(Parasitic)电容,若此电容值足够储存输入讯号,则可省略外加的储存元件15、24,以图2为例,已省略储存元件15、24。
此PMOS移位寄存器电路的操作是,输入讯号(S_IN)14为低电位(LOW)时,控制第一开关11的CLK1需在输入信号(S_IN)14转为高电位(HIGH)之前,完成低电位(LOW)、高电位(HIGH)动作,使输入信号(S_IN)14流经第一开关11,储存于储存元件15中,并致使第二关关12的控制端16为低电位,而呈导通状态。当CLK1使第一开关11导通前控制端10、26节点为高电位(HIGH),第三控制时脉(CLK3)5的低电位(LOW)使第三开关13与第六开关23导通,第一级与第二级输出端18、25节点维持在接近节点17的高电位Vdd(HIGH),输出端18、25、26的高电位(HIGH)使第五开关22呈断路(OFF)状态,当CLK1讯号为低电位时,第二级的控制端26维持原电位状态(无讯号输出)。第二时脉控制信号(CLK2)4产生高低高电位(HIGH LOW HIGH)变化时,由于第二开关12为导通状态,而第三时脉控制信号(CLK3)5为高电位(CLK3 HIGH),第一级输出端18随CLK2同步产生高低高电位变化,完成第一级电路1讯号移位的动作。
此控制时脉的特性是第一时脉控制信号(CLK1)3、第二时脉控制信号(CLK2)4、第三时脉控制信号(CLK3)5不能同时为低电位,以防第二开关12及第三开关13等开关形成直流路径(DCpath)而烧毁。当输入讯号(S_IN)14为高电位(HGH)时,第二开关12会成OFF(截止)状态,而第二时脉控制信号(CLK2)4不会出现在输出端18节点。以下各级的动作重复上述的动作。
请参阅图4、5所示,是本发明的又一实施例及图4的输入与第一至第七级输出波形。如图所示:本实施例与上述图1、2相同,所不同之处在于各开关乃是利用NMOS所作成的开关或传输闸。其控制原理与图1、2相同,在此不多言述。
请参阅图6、7所示,是本发明的再一实施例及图6的输入与第一至第七级输出波形。如图所示:本实施例与上述图1、2相同,所不同之处在于各开关乃是利用CMOS作为开关或传输闸。其控制原理与图1、2相同,在此不多言述。
进一步,在于可获得较佳的讯号输出准位,及较低的时脉干扰,并正确地将输入讯号做时间的移位。
上述仅为本发明的较佳实施例而已,并非用来限定本发明实施的范围。即凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰,皆为本发明权利要求所涵盖。